JISC5402-11-9:2005 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１１－９部：耐候性試験

C 5402-11-9：2004 (IEC 60512-11-9：2002)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-11-9:2002，Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-9: Climatic tests - Test 11i: Dry heatを基礎として用いた。

この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。

JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。

C 5402-11-9：2004 (IEC 60512-11-9：2002)

（2）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 引用規格 ························································································································ 1

3. 準備 ······························································································································ 2

3.1 試料の準備 ··················································································································· 2

3.2 試料の配線 ··················································································································· 2

3.3 前処理 ························································································································· 2

4. 試験方法 ························································································································ 2

4.1 供試条件 ······················································································································ 2

5. 測定 ······························································································································ 2

5.1 初期測定 ······················································································································ 2

5.2 試験中の測定 ················································································································ 2

5.3 最終測定 ······················································································································ 2

6. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 3

JIS C 0068：1995

(1)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

C 5402-11-9：2004

(IEC 60512-11-9：2002)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―第11-9部：耐候性試験―

試験11i：高温

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-9: Climatic tests -

Test 11i: Dry heat

序文この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-9，Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-9: Climatic tests - Test 11i: Dry heatを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を

変更することなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格では点線の下線を施してある参考は，原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲この規格は，規定する高温条件下で，規定の方法によって保存及び／又は機能する電子機

器用コネクタ（以下，コネクタという。）の能力を評価するための試験方法について規定する。この試験方

法は，類似の部品に用いてもよい。

備考この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

IEC 60512-11-9:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-9:

Climatic tests - Test 11i: Dry heat (IDT)

2. 引用規格次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構

成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定

を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，

その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 0021 環境試験方法−電気・電子−高温（耐熱性）試験方法

備考 IEC 60068-2-2:1974，Environmental testing - Part 2: Tests - Test B: Dry heatがこの規格と一致

している。

JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観

備考 IEC 60512-1-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:

General examination - Test 1a: Visual examinationが，この規格と一致している。

JIS C 5402-2-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部：導通及び接触抵抗試験−試験2a：接

触抵抗−ミリボルトレベル法

C 5402-11-9：2004 (IEC 60512-11-9：2002)

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

備考 IEC 60512-2-1:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:

Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level

methodが，この規格と一致している。

IEC 60512-5:1992 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and

measuring methods - Part 5: Impact tests (free components), static load tests (fixed components),

endurance test and overload tests

IEC 60512-7:1993 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and

measuring methods - Part 7: Mechanical operating tests and sealing tests

IEC 60512-8:1993 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and

measuring methods - Part 8: Connector tests (mechanical) and Mechanical tests on contacts and

termination

3. 準備

3.1

試料の準備標準のアクセサリを備えた試料を，個別規格の規定によって取り付ける。

個別規格で要求する場合には，試料を試験前に規定回数，挿入及び引抜きをする。

各試験を行うに当たって，個別規格には，コネクタの条件（例えば，結合又は非結合）を規定する。

3.2

試料の配線試料は，個別規格の規定によって配線する。

3.3

前処理前処理は，個別規格に規定がない場合には，少なくとも1時間は行う。

参考前処理の内容は，JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則−能力認証 4.1.2前

処理の規定による。

4. 試験方法

4.1

供試条件この試験は，個別規格で規定する厳しさを用いてJIS C 0021の次の試験に従って行う。

−試験Ba：発熱がない供試品に対する急激な温度変化を伴う高温試験（試験中に測定を必要としない場合）

−試験Bb：発熱がない供試品に対する緩やかな温度変化を伴う高温試験（試験中に測定を必要とする場合）

5. 測定

5.1

初期測定初期測定は，個別規格の規定による。

5.2

試験中の測定個別規格で要求する場合には，測定は，この試験の終了時，試料が個別規格で規定

する高温状態にある間に行う。

5.3

最終測定試料は，個別規格に規定がない場合には次の試験を行い，個別規格で規定する要求事項

を満足しなければならない。

−接触抵抗−ミリボルトレベル法：JIS C 5402-2-1，試験2a

−挿入力及び引抜力：IEC 60512-7，試験13b

−外観：JIS C 5402-1-1，試験1a

−静的な力，軸方向：IEC 60512-5，試験8b

−ハウジング内のインサート保持（軸方向）：IEC 60512-8，試験15b

−浸せき，防水：IEC 60512-7，試験14d

供試条件終了後，接触抵抗を測定する前に試料にストレスを加えてはならない。