C 5260-4-2 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，通
商産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権（平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。）又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，
実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5260-4-2には，次に示す附属書がある。
附属書（参考） JISと対応する国際規格の対比表
部編成規格 この規格の部編成規格は，次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部：品目別通則
JIS C 5260-2 第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
JIS C 5260-3-1 第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4 第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
JIS C 5260-4-1 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4-2 第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-5 第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
C 5260-4-2 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
ブランク個別規格 ················································································································· 1
個別規格の識別 ···················································································································· 1
可変抵抗器の識別 ················································································································· 1
第1章 一般事項
1. 一般事項 ························································································································ 3
1.0 適用範囲 ······················································································································ 3
1.1 推奨する取付方法（挿入用） ···························································································· 3
1.2 寸法 ···························································································································· 3
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.3.1 負荷軽減 ···················································································································· 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 3
1.5 表示 ···························································································································· 4
1.6 発注情報 ······················································································································ 4
1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4
1.8 追加事 ························································································································· 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項 ······································ 4
第2章 検査要求事項
2. 検査及び要求事項 ············································································································ 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表 ································································· 11
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5260-4-2 : 2000
電子機器用可変抵抗器−
第4部：ブランク個別規格：
単回転電力形可変抵抗器
評価水準 F
Potentiometers for use in electronic equipment−
Part 4 : Blank detail specification : Single-turn rotary power
potentiometers Assessment level F
序文 この規格は，1992年に第1版として発行されたIEC 60393-4-2，Potentiometers for use in electronic
equipment−Part 4 : Blank detail specification : Single-turn rotary power potentiometers Assessment level Fを元に，
規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが，技術的内容については，製品の現状に
即して変更している。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。また，IEC規格番号
は，1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり，これより前に発行された規格に
ついても，規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは，番号だけの切替えであり，内容は同一
である。
ブランク個別規格 この規格は，品種別通則 (JIS C 5260-4) の補足規格で，個別規格の様式，配列及び
最小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格
に基づいていないものとみなす。
個別規格を作成する場合には，JIS C 5260-4の1.4（個別規格に規定する事項）の内容を考慮に入れる。
個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の丸括弧の数字は，指定の位置に記入する次の事項と
対応する。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC : International electrotechnical
commission) の名称。
(2) 個別規格の日本工業規格番号，発効年及び国内制度で要求される事項，又はIEC規格の番号，版及び
発行年。
(3) 品目別通則の日本工業規格の名称，番号及び発効年，又はIEC規格の番号，版及び発行年。
(4) ブランク個別規格の日本工業規格番号又はIEC規格番号。
可変抵抗器の識別
(5) 可変抵抗器の品種についての要約説明。
2
C 5260-4-2 : 2000
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(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）。例えば，巻線，単回転形。
備考 可変抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのことを
明記する。
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図，及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲，及び／又は評価水準。
備考 個別規格に適用する評価水準は，JIS C 5260-4の3.3.3（評価水準）から選択する。このブラン
ク個別規格の試験の群構成と同じであれば，個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(9) 異なる品種の可変抵抗器について，対比できる重要な特性に関する参照データ。
（例 日本工業標準調査会）
(1)
個別規格の番号
(2)
(4)
電子機器用可変抵抗器
第1部：品目別通則
JIS C 5260-1 : 1999
(3)
例 JIS C 5260-4-2
（ブランク個別規格番号）
単回転電力形可変抵抗器
(5)
外形図（表1参照）
(7)
（第三角法）
（必要がある場合，寸法を個別規格の附属書に規
定してもよい。）
端子の接続
代表的な構造：
例 巻線，単回転形
(6)
評価水準：F
安定性クラス：...%
(8)
この個別規格で認証された可変抵抗器の詳しい
内容は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) に示さ
れている。
参考 この記載は，IECQの場合に適用する。
(9)
表1 定格及び特性
形状
定格電力W
素子最高電圧V
（直流又は交流の
実効値）
アイソレーション電圧V
直流又は交流ピーク値
20℃
70℃
大気圧下
減圧下
3
C 5260-4-2 : 2000
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第1章 一般事項
1. 一般事項
1.0
適用範囲 この規格は，JIS C 5260-4を品種別通則とするブランク個別規格で，単回転電力形可変抵
抗器 評価水準F（以下，可変抵抗器という。）について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60393-4-2 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 4 : Blank detail
specification : Single-turn rotary power potentiometers Assessment level F (MOD)
1.1
推奨する取付方法（挿入用） ［JIS C 5260-4の1.4.2（取付け）を参照］
1.2
寸法 （必要がある場合には，寸法は，個別規格の附属書に規定してもよい。）すべての寸法は，ミ
リメートル (mm) で示す。
1.3
定格及び特性
定格抵抗値範囲*
各抵抗変化特性ごと及び各形状ごとの範囲の値を品質認証電
子部品一覧表で示す。
定格抵抗値の許容差
±...%
抵抗変化特性
...
耐候性カテゴリ
−／−／−
抵抗値の許容変化（端子aとcとの間） ± (...%R＋...Ω)
（電気的耐久性試験1 000 h後）
始動トルク
...mN･m〜...mN･m
全機械的操作範囲
≧...゜
有効電気的操作範囲
≧...゜
無効操作範囲（時計方向）
≦...゜
無効操作範囲（反時計方向）
≦...゜
しゅう動接点許容電流
...mA
端子間抵抗値
...Ω
終端残留抵抗値（適用する場合）
...Ω
最小有効抵抗値
...Ω
注* 定格抵抗値の推奨値は，JIS C 5063のEシリーズ及び／又は1，2，5シリーズである。
参考 抵抗値の許容変化の%Rは，定格抵抗値に対する百分率を示す。
1.3.1
負荷軽減 この規格を適用する可変抵抗器は，次の軽減曲線によって負荷を軽減する。
（適切な軽減曲線は，個別規格に規定する。）
備考 JIS C 5260-4の2.2.3（定格電力）を参照。
1.4
引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで，発効年又は発行年を付記してあるものは，記載の版だけがこの規格を
構成するものであって，その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年又は発行年を付記し
ていない引用規格は，その最新版（追補・Amendmentを含む。）を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
4
C 5260-4-2 : 2000
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備考 IEC 60063 : 1963 Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が，この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部：品種別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification
及びAmendment 1 : 1992からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5260-4 電子機器用可変抵抗器−第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
備考 IEC 60393-4 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 4 : Sectional
specification : Single-turn rotary power potentiometersからの引用事項は，この規格の該当事
項と同等である。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 IEC 60410 : 1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は，こ
の規格の該当事項と同等である。
1.5
表示 可変抵抗器及び包装への表示は，JIS C 5260-4の1.5（表示）による。
備考 可変抵抗器及び包装への表示の詳細は，個別規格による。
1.6
発注情報 この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には，少なくとも次の事項を明確に示す
か，又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性（直線形以外の場合）
c) 個別規格の番号，発効年及び形状
d) 形状の情報で分からない場合には，操作軸及び取付ねじの寸法
1.7
出荷対象ロットの成績証明書 要求する又は要求しない。
1.8
追加事項（検査目的以外のもの） （個別規格には，内容をよく理解させるために回路図，軽減曲
線，図面及び備考による情報を含めてもよい。）
温度こう配の違いのため，軸受及び密閉に重大な影響がある可変抵抗器を取り付ける場合には，情報が
与えられなければならない。
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加，又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合だけに規定する。
第2章 検査要求事項
2. 検査及び要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証のための手順は，JIS C 5260-4の3.2（品質認証）による。
2.1.2
品質確認検査のための試験計画（表2）には，サンプリング，周期，厳しさ及び要求事項を規定す
る。検査ロットの構成は，JIS C 5260-4の3.3.1（検査ロットの構成）による。
品質確認検査では，承認された抵抗値範囲を代表するものを1年以内に検査する（群A，群B及び群C
だけに適用）。
備考 乾燥が要求される場合には，JIS C 5260-1の4.3（乾燥）の手順Iによる。
表2 品質確認検査のための試験計画
5
C 5260-4-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は，JIS C 5260-1による。ただし，環境試験の厳しさ及び抵抗値
又は出力電圧比の許容限界は，JIS C 5260-4の関連項目から選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は，JIS Z 9015-1から選択する。
3. この表2で
参考 表中の“
ac
ab
U
U
⊿”は，全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
表中の “△R” は，抵抗値の変化量を示す。
表中 “%R” は，定格抵抗値に対する百分率を示す。
表2 品質確認検査のための試験計画（続き）
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
（備考2.参照）
群A検査（ロットごと）
副群A1
4.4.1 外観
ND
S−3
4.0%
4.4.1による。
副群A2
4.4.1 表示
4.6 素子抵抗値
ND
S−3
1.5%
表示が明りょうで，この規格
の1.5による。
4.6.3による。
副群A3
4.5 連続性
ND
S−3
2.5%
適用する場合4.5.1及び4.5.2
による。
群B検査（ロットごと）
副群B1
4.12 耐電性
4.32 はんだ付け性
（適用する場合）
4.4.5 表示の耐溶剤性
（適用する場合）
ND
（絶縁形可変抵抗器だけに適用）
（取付方法は，この規格の1.1
及び備考8.による。）
大気圧下
はんだこて：サイズA
温度：350℃±10℃
時間：2s±0.5s
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法1
ラビング材質：脱脂綿
後処理：...
S−2
1.5%
4.12.5による。
端子には，はんだが良好に付
着している。
表示が明りょうである。
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C 5260-4-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
IL
AQL
要求性能
（備考1.参照）
（備考2.参照）
副群B2
4.9 抵抗変化特性
ND
（直線的変化特性の場合は，
適切な試験条件及び要求性
能を規定する。）
直線的変化特性
有効電気的操作範囲の割合：
(50±1) %
出力電圧比
S−2
2.5%
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
群C検査（定期的）
副群C1
4.4.2 寸法（ゲージ法）
4.18 始動トルク
4.30 端子強度
D
端子の種類に適応した試験を
行う。
外観
素子抵抗値
3
5
1
個別規格の規定による。
個別規格の規定による。
4.30.8による
△R≦± ( ...%R＋...Ω）
副群C2
4.43.1 室温での電気的耐
久性
D
（取付方法は，備考9.参照。）
試験時間：1 000h
48h，500h及び1 000hでの検
査：
外観
素子抵抗値
1 000hでの検査：
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，こ
の規格の1.1及び備考8.参
照。）
6
8
1
4.43.1.6a)による。
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
R≧1GΩ
4.18 始動トルク
室温での電気的耐久性の測定
終了後4h以内
室温
...mN･m〜...mN･m
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
副群C3
4.40 機械的耐久性（可変
抵抗器）
D
操作サイクル数：...
操作速度：5サイクル／min〜10
サイクル／min又はしゅう
動接点の移動範囲を最大
80mm/s
外観
素子抵抗値
始動トルク
連続性
12
5
1
4.40.6による。
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
...mN･m〜...mN･m
適用する場合4.5.1及び4.5.2
による。
副群C4
4.21 操作軸固定トルク
（適用する場合）
4.20 回転止強度
4.22 操作軸の押し及び引
張り
D
出力電圧比
外観
外観
−試料数2個
4.22.2連続性を適用
−試料数2個
4.22.3出力電圧比を適用
−試料数1個
4.22.4外観を適用
12
5
1
4.21.3による。
4.20.1による。
4.22.2による。
△ac
ab
U
U≦...%
4.22.4による。
群D検査（定期的）
副群D1
4.39 高温高湿（定常）
D
1) 4.39.2.1
第1のグループ：試料数1
個
第2のグループ：試料数2
個
第3のグループ：試料数2
個
12
5
1
2) 4.39.2.2
第1のグループ：試料数2個
第2のグループ：試料数3個
直流負荷（備考7.による。）
アイソレーション電圧（備考
7.による。）（取付方法は，
この規格の1.1及び備考8.
による。）
4.39.4による。
最終測定
外観
素子抵抗値
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗
器だけに適用）（取付方法
は，この規格の1.1及び備
考8.による。）
4.39.6.1による。
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
R≧100MΩ
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
始動トルク
耐電圧（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）
（取付方法は，この規格の
1.1及び備考8.参照。）
...mN･m〜...mN･m
4.39.6.8による。
副群D2
4.4.3 寸法（詳細）
4.4.4 全機械的操作範囲
4.4.6 有効電気的操作範囲
4.7 端子間抵抗値
ND
有効電気的回転角度
無効回転角度（反時計方向）
無効回転角度（時計方向）
端子aとbとの間の抵抗値
端子bとcとの間の抵抗値
12
5
1
個別規格の規定による。
個別規格の規定による
θ≧...゜
θ≦...゜
θ≦...゜
R≦...Ω
R≦...Ω
副群D3A
副群D3の半分の試料
4.33 はんだ耐熱性
（適用する場合）
4.44 本体の耐溶剤性
（適用する場合）
試験Tb，方法2
はんだこて：サイズA
温度：350℃±10℃
時間：10s±1s
素子抵抗値
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法2
後処理：...
24
4
1
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
個別規格の規定による。
副群D3B
副群D3の残りの試料
4.34 温度変化
4.35 振動（正弦波）
（備考6.参照）
D
備考4参照
TA＝カテゴリ下限温度(1)
TB＝カテゴリ上限温度(1)
放置時間t1＝30min
定格電力≦100W：試験Na
定格電力＞100W：試験Nb
温度変化速度：5℃/min±1℃
/min
外観
出力電圧比（半固定可変抵抗
器だけに適用）
素子抵抗値
取付方法：この規格の1.1に
よる。
4.34.5による。
ac
ab
U
U
⊿≦...%
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
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項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
掃引耐久試験
振動数範囲：...Hz〜...Hz
振幅：0.75mm又は加速度
98m/s2（いずれかゆるい方）
総試験時間：6h
備考4.による。
試験中の測定
電気的連続性（4.35.4を適
用）
最終測定
外観
出力電圧比（半固定可変抵
抗器だけに適用）
素子抵抗値
100μsを超える不連続があっ
てはならない。
4.35.5による。
ac
ab
U
U
⊿
≦...%
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
副群D3
副群D3A及びD3Bの全試料
4.30 端子強度
4.36 バンプ（又は4.37衝
撃）（備考5.参照）
4.37 衝撃（又は4.36バン
プ）（備考5.参照）
4.38 一連耐候性
−高温（耐熱性）
−温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル）の最初のサ
イクル
−低温
−温湿度サイクル（12＋12
時間サイクル）の残りのサ
イクル
−直流負荷
−アイソレーション電圧
最終測定
D
端子の種類に適応した試験を
行う。
外観
素子抵抗値
取付方法：この規格の1.1に
よる。
ピーク加速度：4 00m/s2(2)
バンプ回数：4 000
外観
素子抵抗値
取付方法：この規格の1.1に
よる。
パルス波形：正弦半波
ピーク加速度：500m/s2(3)
作用時間：11ms
外観
素子抵抗値
外観
始動トルク
備考7.による。
備考7.による。
外観
素子抵抗値
24
8
2
4.30.8による。
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
4.36.3による。
△R≦± (...%R＋...Ω)
4.37.3による。
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
4.38.2.2による。
...mN･m〜...mN･m
4.38.8による。
4.38.10.1による。
△R≦± ( ...%R＋...Ω)
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C 5260-4-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
項目番号及び試験
（備考1.参照）
D
又は
ND
試験条件
（備考1.参照）
試料数及び
合格判定個数
（備考3.参照）
要求性能
（備考1.参照）
p
n
c
絶縁抵抗（絶縁形可変抵抗器
だけに適用）（取付方法は，
この規格の1.1及び備考8.
による。）
連続性
始動トルク
耐電圧（絶縁形可変抵抗器だ
けに適用）（取付方法は，こ
の規格の1.1及び備考8.に
よる。）
R≧100MΩ
4.5.1による。
...mN･m〜...mN･m
4.38.10.7による。
注(1) 原国際規格では，温度を表す記号としてθA及びθBを用いているが，JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に
合わせてTA及びTBに変更した。
注(2) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
(3) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
備考4. 適用する場合は，半固定抵抗器の要求事項も適用する。
5. バンプと衝撃試験は，いずれか一方を選択する。個別規格には，いずれの試験を適用するかを規定する。
6. この試験は，耐候性カテゴリが25/−/−，40/−/−，55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適用する。
7. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は，いずれか一方を選択する。個別規格には，いずれの試験を
適用するかを規定する。
8. 取付方法は，JIS C 5260-1の4.12（耐電圧）及び4.13（絶縁抵抗）の該当する方法によるほか，次による。
a) 本体で取り付けるように設計されている可変抵抗器は，JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは，本体で取付孔があっても，端子でプリント配線板に取り
付ける。
9. JIS C 5260-1の4.43.1（室温での電気的耐久性）の試験は，可変抵抗器を次の方法で取り付ける。
各供試品は，可変抵抗器の取付ねじ又は操作軸（適切な）に対してすきまのある中心取付孔をもつ厚さ4mm
の鋼板に取り付ける。鋼板は，可変抵抗器の本体径の4倍又は300mmの正方形で，いずれか小さい方以下
とする。
感温プローブは，試験中取付ねじ又は操作軸（適切な）の取付孔の上に直接置く。温度は，試験中いかな
る場合もカテゴリ上限温度を超えてはならない。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法（電気・電子）減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
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C 5260-4-2 : 2000
11
C
5
2
6
0
-4
-2
:
2
0
0
0
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書（参考） JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 5260-4-2 : 2000 電子機器用可変抵抗器−第4部：ブランク個別規格：
単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
IEC 60393-4-2 : 1992 電子機器用可変抵抗器−第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器
評価水準F
対比項目
規定項目
(I) JISの規定内容
(II) 国際規格
番号
(III) 国際規格の規定
内容
(IV) JISと国際規格との相違点
(V) JISと国際規格との整合が困難
な理由及び今後の対策
(1)適用範囲
IEC 60393-4-2
JISと同等。
IDT
(2)一般事項
1.3 定格抵抗値の推奨値
1.4 引用規格
Eシリーズ及び／又は1，2，5シ
リーズとする。
JIS Z 9015-1
IEC 60393-4-2
Eシリーズとする。
IEC 60415
MOD／
追加
MOD／
変更
IECの規定値以外に市場で多
く使用されている1，2，5シ
リーズを追加。
JIS Z 9015-1
理由：市場で多く使用されている。
今後の対策：改正提案予定
対応国際規格が引用しているIEC
60415の改正によって，JIS Z 9015
が廃止され新たにJIS Z 9015-0〜3
が制定された。整合させるため内容
的に類似のJIS Z 9015-1を採用し
た。
(3)検査要求事項
4.36 バンプ
4.37 衝撃
ピーク加速度：400m/s2
ピーク加速度：500m/s2
IEC 60393-4-2
ピーク加速度：390m/s2
ピーク加速度：490m/s2
理由：IEC 60115-1及びIEC 60384-1
が改訂され，また引用しているJIS
も改正されており，整合させるため
改正内容を採用した。
今後の対策：改正提案予定
MOD／
変更
390m/s2を400m/s2に変更
MOD／
変更
490m/s2を500m/s2に変更
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− IDT……技術的差異がない。
− MOD／追加……国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− MOD／変更……国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− MOD……国際規格を修正している。
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C 5260-4-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学名誉教授
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁装備局
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進
財団法人日本規格協会
窪 田 明
通商産業省
橋 爪 邦 隆
通商産業省
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 巳
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
新 井 謙 一
日本電気株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
伊 高 篤 己
三菱電機株式会社
中 村 之 大
株式会社緑測器
松 本 眞 弓
セイデンテクノ株式会社
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司
アルプス電気株式会社
秦 考 生
松下電子部品株式会社
石 井 勝
第一電子工業株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 名 法 明
株式会社村田製作所
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志
TDK株式会社
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会
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C 5260-4-2 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5260-4分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
松 本 眞 弓
セイデンテクノ株式会社
（委員）
江 口 正 則
東京コスモス電機株式会社
吉 田 實
東北アルプス株式会社
本 田 義 夫
KOA株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
山 本 克 巳
ソニー株式会社
林 里 史
ツバメ無線株式会社
野 原 明
帝国通信工業株式会社
三 本 久 明
日本電気株式会社
中 山 孝 之
北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治
松下電子部品株式会社
吉 田 松 二
福井松下電器株式会社
中 村 之 大
株式会社緑測器
一 木 義 和
株式会社村田製作所
（客員）
曽我部 浩 二
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美
社団法人日本電子機械工業会