JISC5954-2:2008 光伝送用能動部品－試験及び測定方法－第２部：ＡＴＭ

C 5954-2：2008

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲 ························································································································· 1

2 引用規格 ························································································································· 1

3 略号及び記号 ··················································································································· 2

3.1 略号 ···························································································································· 2

3.2 記号 ···························································································································· 2

4 標準環境条件 ··················································································································· 2

5 装置······························································································································· 3

5.1 測定用電源 ··················································································································· 3

5.2 光パワーメータ ············································································································· 3

5.3 可変光減衰器 ················································································································ 3

5.4 パルスパターン発生器 ···································································································· 3

5.5 光スプリッタ ················································································································ 3

5.6 オシロスコープ ············································································································· 3

5.7 光ファイバコード ·········································································································· 3

5.8 BER測定器 ·················································································································· 4

5.9 基準Tx及び基準Rx ······································································································· 4

5.10 光スペクトラムアナライザ ····························································································· 4

5.11 ローパスフィルタ ········································································································· 4

5.12 光／電気 (O/E) 変換器 ·································································································· 4

6 試験サンプル ··················································································································· 4

7 試験及び測定方法 ············································································································· 4

7.1 Rxアラーム機能 ············································································································ 4

7.2 Txシャットダウン機能 ··································································································· 6

7.3 平均出力：Pmean ············································································································· 7

7.4 中心波長及びスペクトル幅······························································································· 9

7.5 消光比及び波形マスク試験······························································································ 10

7.6 受信感度 (S) 及び最大受信入力 (SO) ················································································ 10

8 試験結果 ························································································································ 14

8.1 必す（須）情報 ············································································································ 14

8.2 その他の情報 ··············································································································· 14

附属書JA（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ································································ 15

C 5954-2：2008

（2）

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まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会 (OITDA) 及び

財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日

本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許

権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は

もたない。

JIS C 5954の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 5954-1 第1部：総則

JIS C 5954-2 第2部：ATM-PON用光トランシーバ

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日本工業規格 JIS

C 5954-2：2008

光伝送用能動部品−試験及び測定方法−

第2部：ATM-PON用光トランシーバ

Fiber optic active components and devices-Test and measurement

procedures-Part 2 : ATM-PON transceivers

序文

この規格は，2004年に第1版として発行されたIEC 62150-2を基に作成した日本工業規格であるが，明

らかな間違いが認められたため，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。

適用範囲

この規格は，JIS C 5954規格群の一部であり， ITU-T Recommendation G.983.1で推奨される非同期転

送モードパッシブ光ネットワーク (ATM-PON) システムで使用する光トランシーバの電気光学性の試験

及び測定手順について規定する。ATM-PON用光トランシーバのパッケージインタフェース及び電気光学

性能は，JIS C 5952-6及びJIS C 5953-5の中でそれぞれ規定している。

これらの試験方法は，ATM-PON用光トランシーバがJIS C 5953-5の規定を満たすかどうかを試験する

方法である。また，この測定方法は，ATM-PON用光トランシーバの精密な測定方法に相当する。これら

のATM-PON用光トランシーバの受信部は，バースト信号を扱うことができる。したがって，この規格で

規定する幾つかの手順は，バースト信号伝送の評価に適用できる。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 62150-2 : 2004，Fibre optic active components and devices−Test and measurement procedures−

Part 2 : ATM-PON transceivers (MOD)

なお，対応の程度を表す記号 (MOD) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，修正していることを

示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 5952-6 光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第6部：ATM-PON用光トラ

ンシーバ

注記対応国際規格：IEC 62148-6，Fibre optic active components and devices−Package and interface

standards−Part 6 : ATM-PON transceivers (IDT)

C 5954-2：2008

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JIS C 5953-5 光伝送用能動部品−性能標準−第5部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生

回路内蔵ATM-PON用光トランシーバ

注記対応国際規格：IEC 62149-5，Fibre optic active components and devices−Performance standards

−Part 5 : ATM-PON transceivers with LD driver and CDR ICs (MOD)

IEC 61280-1-3 : 1998 Fibre optic communication subsystem basic test procedures−Part 1-3 : Test procedures

for general communication subsystems−Central wavelength and spectral width measurement

IEC 61280-2-2 : 1998 Fibre optic communication subsystem basic test procedures−Part 2-2 : Test procedures

for digital systems−Optical eye pattern, waveform, and extinction ratio

ITU-T Recommendation G.983.1 Broadband optical access systems based on Passive Optical Networks

(PON)

略号及び記号

3.1

略号

この規格で用いる主な略号は，次による。

3.1.1

BER (Bit error ratio)：ビット誤り率

3.1.2

NRZ (Non return to zero)：エヌアールゼット符号，非ゼロ復帰符号

3.1.3

PRBS (Pseudo random bit sequence)：擬似ランダムビットパターン

3.1.4

Tx：ATM-PON用光トランシーバの送信器及び／又は送信部

3.1.5

Rx：ATM-PON用光トランシーバの受信器及び／又は受信部

3.1.6

SLM-LD (Single longitudinal mode-laser diode)：単一縦モード半導体レーザ

3.1.7

MLM-LD (Multi longitudinal mode-laser diode)：多縦モード半導体レーザ

3.2

記号

この規格で用いる主な記号は，次による。

PTH

受光強度に関するアラームしきい（閾）値

VSUP

電源電圧

VALL

低レベルアラーム出力電圧

VALH

高レベルアラーム出力電圧

PSH

トランスミッタ入力がない場合の光出力

VSDH

高レベルシャットダウン入力電圧

VSDL

低レベルシャットダウン入力電圧

Pmean

ITU-T Recommendation G.983.1で規定する平均出力

Pave

バーストモード動作時の平均出力

受信器最大受信入力

フレーム長

1フレーム内のバースト信号数

バースト信号長

バースト信号パターン1のバースト信号長

バースト信号パターン2のバースト信号長

標準環境条件

C 5954-2：2008

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設備の中で行う試験及び測定から得られるデータの適切な相関性を保証するためには，標準大気条件を

一定範囲内に規制する必要がある。試験及び測定方法は，特に指定がない限り，次の環境条件の下で行う。

特別な環境条件が必要な場合は，性能標準の中で指定することができる。試験及び測定を行うための周囲

の条件を，表1に示す。

なお，周囲の温度及び湿度の変動は，一連の測定の間は最小限に抑えるものとする。

表1−試験及び測定のための標準環境条件

気温

℃

相対湿度

気圧

kPa

18〜28

25〜75

86〜106

装置

5.1

測定用電源

直流電源はリプル含有率3 %以下，交流電源は高調波含有率5 %以下のものとする。ただし，商用周波

数の場合は，高調波含有率10 %以下とする。

なお，特に交流出力を測定する試験では，直流電源のリプル含有率，交流電源の高調波含有率及び交流

の流れる直流電源回路の交流インピーダンスは，測定に影響を与えないように小さい値とする。また，サ

ージの侵入に対する十分な防護措置を施さなければならない。

5.2

光パワーメータ

測定に使用する光パワーメータは，該当する波長及びダイナミックレンジで校正し，分解能0.1 dB以下

とする。

5.3

可変光減衰器

可変光減衰器は，0.25 dB以下のステップで可変できるものとし，減衰量は，システムの利得より5〜10

dB大きいものとする。Txへの反射戻り光がないように注意しなければならない。

5.4

パルスパターン発生器

パルスパターン発生器は，Tx装置の電気的なシステム入力インタフェースに要求される信号フォーマッ

ト（パルス波形，振幅など）と一致したシステムPRBS信号及びプログラム可能なワードパターンを発生

することができるものとする。

5.5

光スプリッタ

光スプリッタ（カプラ）は，適切な光コネクタを装備し，一つの入力ポート及び二つの出力ポートを備

える。出力ポートの分岐比率は，特に指定がない限り，約50 %とする。ATM-PON用光トランシーバは

WWDM（Wide WDM, 1.3/1.55 μm波長分割多重）を採用するため，スプリッタの分岐比率は波長依存性が

ないものを使用しなければならない。

5.6

オシロスコープ

光学及び／又は電気的なアイパターンを表示するオシロスコープは，測定システムの帯域幅を制限しな

いように，低域フィルタの帯域幅より広い帯域幅を備えるものを使用する。オシロスコープは，光及び／

若しくは電気アイパターンに同期した局所クロック信号，又は光信号から再生した同期信号に同期できる

ものとする。

5.7

光ファイバコード

適切なコネクタ付きシングルモード光ファイバコードを使用する。

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5.8

BER測定器

BER測定器は，様々な信号フォーマット（プログラム可能なワードパターン，PRBSなど）を備え，シ

ステムのBER性能を評価する。

5.9

基準Tx及び基準Rx

Tx及び／又はRxは，測定系において，被試験Tx及び／又は被試験Rxと組み合わせて使用する。

基準Tx及び／又はRxは，ATM-PON用光トランシーバの光電気特性の試験及び測定する上で，十分に

高い性能でなければならない。特に基準Txは，155.52 Mbit/s以上の広い帯域幅及び10 dB以上の消光比を

備えることが重要である。

5.10 光スペクトラムアナライザ

試験装置は，光スペクトルを分散分光分析法によって測定するものを使用する。波長分解能は，測定す

る50 nmの範囲において，MLM-LDに対しては0.2 nm，SLM-LDに対しては0.1 nmよりも良いものとす

る。

5.11 ローパスフィルタ

再現性及び正確さを保証するため，オシロスコープの前の信号経路に次の特性のローパスフィルタを挿

入する。

ローパスフィルタ特性:

特性インピーダンス:

50 Ω

−3 dBの帯域幅:

0.75 /T Hz 。Tは，データ信号のビット間隔時間。

フィルタ・タイプ:

第4次ベッセル・トムソン

詳細なフィルタの規定は，IEC 61280-2-2の3.1.3による。

5.12 光／電気 (O/E) 変換器

O/E変換器は，電気的な増幅器を後段に接続した高速フォトダイオードであり，光学波形を十分忠実に

再生できるものを用いる。詳細な規定は，IEC 61280-2-2の3.1.1による。

試験サンプル

試験サンプルは，JIS C 5953-5で規定する性能のATM-PON用光トランシーバとする。

この規格の図に示すように，被試験ATM-PON用光トランシーバは，各試験及び／又は測定系に組み込

む。

試験及び測定方法

7.1

Rxアラーム機能

7.1.1

目的

入射光信号強度が，しきい（閾）値（PTH：クラスB ATM-PON用光トランシーバの場合は−30 dBm，

クラスC ATM-PON用光トランシーバの場合は−33 dBm）以下になったとき，アラーム出力電圧は高レ

ベルから低レベルに変わらなければならない。ここでは，ATM-PON用光トランシーバのRxアラーム機能

の試験及び測定方法について規定する。

7.1.2

試験及び測定系

特に指定がない限り，被試験ATM-PON用光トランシーバ及び基準Txは，図1に示す試験及び測定系

で測定する。

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7.1.3

光スプリッタの校正

a) 試験及び測定の前に，光スプリッタは，次に規定する方法で校正する。

b) 基準Txを通常の動作条件で動作し，信号入力端子に155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信号（マーク率

50 %）を入力する。

c) 基準Txの光出力ポートを光ファイバコードと可変光減衰器を通し，光スプリッタの入力ポートに接

続する。

d) 光スプリッタの出力ポートAを光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに接続する。

e) 可変光減衰器を，ポートAの光出力が約PTHとなるように調節し，その値 (PA) を記録する。

光スプリッタの出力ポートBを光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに接続し，ポ

ートBの光出力 (PB) を記録する。

g) 光スプリッタの出力ポートAを，光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに再び接続

する。光スプリッタの出力ポートBを，試験対象のATM-PON用光トランシーバに図1に示すように

接続する。

h) PB/PAを計算し，その値を入射光強度 (PB) と光パワーメータの表示 (PA) との校正係数として使用す

る。

図1−Rxアラーム機能の試験及び測定系

7.1.4

測定方法

a) 試験対象のATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で駆動し，アラーム出力電圧がJIS C 5953-5

で規定しているVALLの範囲内であることを確認する。

b) 試験対象のATM-PON用光トランシーバと基準Txを，図1に示すように設置する。

c) 155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信号（マーク率50 %）を信号入力端子に入力する。

d) PBがPTHより十分小さくなるように可変光減衰器を調節し，そのPBの値をPILとして記録する。

e) PBがPTHより大きくなるように可変光減衰器を調節し，アラーム出力電圧を記録する。

アラーム出力電圧がPBの値がPTH近傍でJIS C 5953-5で規定しているVALLからVALHに変わることを

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確認する。

g) PBの値がSOとなるように可変光減衰器を調節し，アラーム出力電圧を記録する。アラーム出力電圧

がJIS C 5953-5で規定しているVALHの範囲内であることを確認する。

h) PBの値がPILとなるように可変光減衰器を調節し，アラーム出力電圧を記録する。

アラーム出力電圧がPBの値がPIL以下で，VALHからVALLに変わることを確認する。

この方法の結果として，PBとアラーム出力電圧の関係を表す図2で示されるようなヒステリシス曲線が

得られる。このヒステリシス曲線が，受光器アラーム機能の測定データである。

図2−受光器光入力強度とアラーム出力電圧との関係

7.1.5

試験方法

a) 試験対象のATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で駆動し，アラーム出力電圧がVALLの範囲

内であることを確認する。

b) 試験対象のATM-PON用光トランシーバと基準Txを，図1に示すように設置する。

c) 155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信号（マーク率50 %）を信号入力端子に入力する。

d) PBがPTHと一致するように可変光減衰器を調節し，アラーム出力電圧がVALHの範囲内にあることを確

認し，VALHの値を記録する。

e) PBがPTHより十分小さくなるよう可変光減衰器を調節し，アラーム出力電圧がVALLの範囲内にあるこ

とを確認し，VALLの値を記録する。

7.2

Txシャットダウン機能

7.2.1

目的

光出力は，シャットダウン端子の電圧が高レベルから低レベルに変わったとき，入力信号がない状態の

光出力PTH又はPSH（クラスB：ATM-PON用光トランシーバの場合は−40 dBm，クラスC：ATM-PON用

光トランシーバの場合は−43 dBm）以下にしなければならない。ここでは，ATM-PON用光トランシーバ

のTxシャットダウン機能の試験方法について規定する。

7.2.2

測定系

特に指定がない限り，被試験ATM-PON用光トランシーバは，図3に示すような測定系で測定する。

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図3−送信機シャットダウン機能の試験及び測定系

7.2.3

試験方法

a) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で動作させ，シャットダウン端子に高レベル電

圧VSDH（2.0 V〜VSUP＋0.3 V）を加える。

b) 155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信号（マーク率50 %）を信号入力端子に入力し，被試験ATM-PON用

光トランシーバの平均出力がPmeanの規定値（JIS C 5953-5参照：クラスB ATM-PON用光トランシ

ーバの場合−4〜＋2 dBm，クラスC ATM-PON用光トランシーバの場合−2〜＋4 dBm）の範囲内に

あることを確認する。

c) 電圧を高レベル電圧VSDHから低レベル電圧VSDL（−0.3〜0.8 V）に変化させ，被試験ATM-PON用光

トランシーバの平均出力がPTH又はPSH以下であることを確認する。

d) 電圧を低レベル電圧VSDLから高レベル電圧VSDHに変化させ，被試験ATM-PON用光トランシーバの平

均出力がPmeanの規定値（クラスB ATM-PON用光トランシーバの場合−4〜＋2 dBm，クラスC

ATM-PON用光トランシーバの場合−2〜＋4 dBm）の範囲内にあることを確認する。

7.3

平均出力：Pmean

7.3.1

目的

ATM-PON用光トランシーバの平均出力の測定方法について規定する。

7.3.2

試験及び測定系

特に指定がない限り，被試験ATM-PON用光トランシーバは，図4に示すような試験及び測定系で測定

する。

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図4−平均出力の試験及び測定系

7.3.3

測定方法

a) 図5に示すフレーム長A，バースト信号長B，1フレーム内のバースト信号数nで規定されたバースト

信号を使用する。ATM-PON用光トランシーバにおいて，Bは56バイトである。

注記 1フレーム内のバースト信号数n。この図はn＝3の場合を表す。

図5−バースト信号パターン

b) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で動作し，その設計したバースト信号パターン

をパターン発生器から信号入力端子に入力する。

c) 平均光信号強度又はPaveを光パワーメータで測定し，その値を記録する。

d) Pmeanを次の式で計算する。

ave

mean

······································································· (1)

7.3.4

試験方法

a) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で動作し，155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1 信号

（マーク率50 %）を信号入力端子に入力する。このPRBS信号は式 (1) においてPmean＝Paveとなる場

合のバースト信号である。

b) 平均光信号出力Paveを光パワーメータで測定し，その値をPmeanとして記録する。

c) 測定したPmean値がPmeanの規定値範囲内にあることを確認する。

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7.4

中心波長及びスペクトル幅

7.4.1

目的

ATM-PON用光トランシーバの，中心波長 (λave) 及びスペクトル幅の試験及び測定方法について規定す

る。

7.4.2

試験及び測定系

特に指定がない限り，被試験ATM-PON用光トランシーバは，図6に示す試験及び測定系で測定する。

図6−平均光出力の試験及び測定系

7.4.3

測定方法

a) 図5に示すフレーム長A，バースト信号長B及び1フレーム内のバースト信号数nで規定されたバー

スト信号を設計する。ATM-PON用光トランシーバにおいて，Bは56バイトである。

b) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で動作させ，パルスパターン発生器から信号入

力端子に設計されたバースト信号を入力する。

c) 光信号のスペクトルを光スペクトラムアナライザの画面に表示させる。

d) IEC 61280-1-3の5.6に従い，光スペクトラムアナライザの分解能，中心波長，測定波長範囲及び平均

化回数（10回以上の測定結果を平均することが望ましい。）を調整し，画面上にピークから20 dB低

下した位置のスペクトルの幅が表示されるようにする。

e) ピークから20 dB低下した位置を含む画面上のスペクトルの各縦モードのピーク波長及びピーク光強

度を記録する。IEC 61280-1-3の6.2及び6.4に従い，λave及びスペクトル幅を計算する。

7.4.4

試験方法

a) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で駆動させ，155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信

号（マーク率50 %）を信号入力端子に入力する。このPRBS信号は，7.3.3の式 (1) においてPmean＝

Paveとなる場合のバースト信号である。

b) 光信号のスペクトルを光スペクトラムアナライザの画面に表示させる。

c) IEC 61280-1-3の5.6に従い，光スペクトラムアナライザの分解能，中心波長，測定波長範囲及び平均

化回数（10回以上の測定結果を平均することが望ましい。）を調整し，画面上にピークから20 dB低

下した位置のスペクトルの幅が表示されるようにする。

d) ピークから20 dB低下した位置を含む画面上のスペクトルの各縦モードのピーク波長とピーク光強度

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とを記録する。IEC 61280-1-3の6.2及び6.4に従い，λave及びスペクトル幅を計算する。

e) 計算で得られたλaveが仕様の範囲内（1 260 nm以上，1 360 nm以下）であることを確認する。

7.5

消光比及び波形マスク試験

7.5.1

目的

ATM-PON用光トランシーバの，消光比及び波形マスク試験の試験及び測定方法について規定する。

7.5.2

試験及び測定系

特に指定がない限り，被試験ATM-PON用光トランシーバは，図7に示す試験及び測定系で測定する。

必要に応じて，被試験ATM-PON用光トランシーバとO/E変換器との間に光減衰器を挿入する。

図7−消光比及びマスク試験の試験及び測定系

7.5.3

測定方法

a) 図5に示すフレーム長A，バースト信号長B及び1フレーム内のバースト信号数nで規定されたバー

スト信号を設計する。ATM-PON用光トランシーバにおいて，Bは56バイトである。

b) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で動作させ，パルスパターン発生器から信号入

力端子に設計されたバースト信号を入力する。タイミングジッタを抑えるため，オシロスコープのト

リガとしてはバースト信号自体又はそのエンベロープ信号を用いるのが望ましい。

c) 光信号波形をO/E変換器によって電気波形に変換し，画面上に表示させる。

d) IEC 61280-2-2に従い消光比を計算し，ITU-T Recommendation G983.1のFig.7のマスクを適用する。

e) 上記の計算とマスク試験とを，フレーム内の各バースト信号に対して繰り返し行う。

7.5.4

試験方法

a) 被試験ATM-PON用光トランシーバを通常の動作条件で駆動させ，155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 223−1信

号（マーク率50 %）を信号入力端子に入力する。このPRBS信号は，式 (1) においてPmean＝Paveとな

る場合のバースト信号に相当する。

b) オシロスコープのトリガとしては，パルスパターン発生器からのクロック信号を使用する。

c) O/E変換器によって電気波形化された光信号波形を画面上に表示させる。

d) IEC 61280-2-2に従い消光比を計算し，ITU-T Recommendation G983.1のFig.6のマスクを適用する。

e) マスク試験に合格しているかを確認し，更に，計算で得られた消光比が仕様の範囲内（5.8 dB〜10 dB

以下）であることを確認する。

7.6

受信感度 (S) 及び最大受信入力 (SO)

C 5954-2：2008

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

7.6.1

目的

ATM-PON用光トランシーバの受信感度（S：クラスB ATM-PON用光トランシーバの場合は−30 dBm，

クラスC ATM-PON用光トランシーバの場合は−33 dBm），及び最大受信入力（SO：クラスB ATM-PON

用光トランシーバの場合は−8 dBm，クラスC ATM-PON用光トランシーバの場合は−11 dBm）の試験及

び測定方法について規定する。

7.6.2

試験及び測定系

特に指定がない限り，被試験ATM-PON用光トランシーバは，図8に示す試験及び測定系で測定する。

この系では，7.1.3で規定する方法に従って校正係数を評価した光スプリッタを用いる。

図8−受信感度及び最大受信入力の試験及び測定系

7.6.3

測定方法

a) 図9a及び図9bに，それぞれバースト信号-1，バースト信号-2として示す二つのバースト信号を設計

する。これらの信号は，フレーム長A及び1フレーム内のバースト信号数nが同じである。さらに，

ATM-PON用光トランシーバの場合には，バースト信号長B1及びB2も56バイトで同じである。

b) 基準Tx-1及びTx-2を通常の動作条件で動作させ，バースト信号-1を基準Tx-1から，バースト信号-2

を基準Tx-2からそれぞれ出力する。

c) 光スプリッタ-1からの光出力信号を，（図8に点線で示したように）O/E変換器を通じてオシロスコー

プに接続してモニタし，パルスパターン発生器の信号遅延を調整してこれらのバースト信号間のタイ

ミング差 (T) が1ビットより大きくなるようにする（図9c参照）。

d) 光スプリッタ-1からの光出力信号を，光スプリッタ-2に再度入力する。

e) バースト信号-2を止める，又は可変光減衰器によって40 dB以上の減衰が得られる場合には，減衰量

を最大に設定する。

C 5954-2：2008

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

光パワーメータの値を読み取り，光スプリッタの校正係数及び式 (1) を用いてATM-PON用光トラン

シーバのバースト信号-1の光パワーを計算する。

g) 可変光減衰器-1を調整し，バースト信号-1の光パワーの計算結果が，クラスBで−9 dBm，クラスC

で−12 dBmになるようにする。調整した減衰量を記録しておく。

h) バースト信号-1を止める，又は可変光減衰器によって40 dB以上の減衰が得られる場合には，減衰量

を最大に設定する。次に，バースト信号-2の送信を始める。

可変光減衰器-2を調整し，バースト信号-2の光パワーの計算結果が，受信感度又は最大受信入力の仕

様に近い値にする。

再度バースト信号-1の送信を始める，又は可変光減衰器によって40 dB以上の減衰が得られる場合に

は，可変光減衰器-1の値をg) で記録した減衰量に戻す。

k) バースト信号-2のBERを式 (2) で得られる時間より長い間測定する。

（秒） ···························································· (2)

ここに， D：データレート

C：保証するBER

N：定数。N＞10を推奨。

h) 〜k) を繰り返して，バースト信号-2の光パワーの計算結果と各光パワーにおけるBERを記録する。

m) バースト信号-2の光パワーとBERとの関係をプロットし，BERが1×10−10での受信感度及び最大受

信入力を求める。

図9a−測定用のバースト信号パターン，バースト信号-1：（基準Tx-1からの出力）

図9b−測定用のバースト信号パターン，バースト信号-2：（基準Tx-2からの出力）

C 5954-2：2008

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図9c−測定用のバースト信号パターン，被試験ATM-PON用光トランシーバ信号からの光信号

7.6.4

試験方法

a) 図9a及び図9bに，それぞれバースト信号-1，バースト信号-2として示す二つのバースト信号を設計

する。これらの信号は，フレーム長A及び1フレーム内のバースト信号数nが同じである。さらに，

ATM-PON用光トランシーバの場合には，バースト信号長B1及びB2は56バイトで同じである。

b) 基準Tx-1及びTx-2を通常の動作条件で動作させ，バースト信号-1を基準Tx-1から，バースト信号-2

を基準Tx-2からそれぞれ出力する。

c) 光スプリッタ-1からの光出力信号を，（図8に点線で示したように）O/E変換器を通じてオシロスコー

プに接続してモニタし，パルスパターン発生器の信号遅延を調整してこれらのバースト信号間のタイ

ミング差 (T) が1ビットより大きくなるようにする（図9c参照）。

d) 光スプリッタ-1からの光出力信号を，光スプリッタ-2に再度入力する。

e) バースト信号-2を止める，又は可変光減衰器によって40 dB以上の減衰が得られる場合には，可変光

減衰器-2の減衰量を最大に設定する。

光パワーメータの値を読み取り，光スプリッタの校正係数及び式 (1) を用いてATM-PON用光トラン

シーバのバースト信号-1の光パワーを計算する。

g) 可変光減衰器-1を調整し，バースト信号-1の光パワーの計算結果が，クラスB ATM-PON用光トラ

ンシーバで−9 dBm，クラスC ATM-PON用光トランシーバで−12 dBmになるようにする。調整し

た減衰量を記録しておく。

h) バースト信号-1を止める，又は可変光減衰器によって40 dB以上の減衰が得られる場合には，可変光

減衰器-1の減衰量を最大に調整する。次に，バースト信号-2の送信を始める。

可変光減衰器-2を調整し，バースト信号-2の光パワーの計算結果が，受信感度の仕様より大きい値に

する。

再度バースト信号-1の送信を始める，又は可変光減衰器によって40 dB以上の減衰が得られる場合に

は，可変光減衰器-1の値をg) で記録した減衰量に戻す。

k) バースト信号-2のBERを式 (2) で得られる時間より長い間モニタし，バースト信号-2のBERが，1

×10−10よりも小さいことを確認する。

バースト信号-1を止める，又は可変光減衰器によって40 dB以上の減衰が得られる場合には，可変光

減衰器-1の減衰量を最大に調整する。

m) 可変光減衰器-2を調整し，バースト信号-2の光パワーの計算結果が，最大受信入力の仕様より小さい

値にする。

C 5954-2：2008

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

n) 再度バースト信号-1の送信を始める，又は可変光減衰器によって40 dB以上の減衰が得られる場合に

は，可変光減衰器-1の値をg) で記録した減衰量に戻す。

o) バースト信号-2のBERを式 (2) で得られる時間より長い間モニタし，バースト信号-2のBERが，1

×10−10よりも小さいことを確認する。

試験結果

8.1

必す（須）情報

− 試験の日付及び試験名

− ATM-PON用光トランシーバの正常動作条件

− 周囲温度又は参照ポイント温度，及び湿度を含む試験結果

− 光パワーメータの校正方法

− 被試験ATM-PON用光トランシーバの平均出力パワーの測定方法

8.2

その他の情報

− 使用される試験装置及び光パワーメータの精度，並びに分解能に起因する測定誤差

− 光ファイバコード及びコネクタの仕様

− 光パワー測定器の誤差

− 試験従事者の氏名

− 供給電圧及び／又は電流

− データ速度及び入力信号特性

− 入力及び出力測定条件：波長，基準Tx及び基準Rxの接続コネクタモデル番号，Rx感度，並びに最

大受信入力光パワー

− 基準Tx及び基準Rx，並びに被試験ATM-PON用光トランシーバの推奨の試験前通電時間

− 拡張動作条件（適用可能な場合）

− 送信器の反射戻り光耐性（JIS C 5953-5の5.5 図5を参照。）

参考文献 JIS C 0617規格群電気用図記号

JIS C 5953-1 光伝送用能動部品−性能標準−第1部：総則

JIS C 5952-1 光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第1部：総則

JIS C 5954-1 光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第1部：総則

IEC 60793 (all parts), Optical fibres

IEC 60794 (all parts), Optical fibre cables

IEC 60874 (all parts), Connectors for optical fibres and cables

IEC 61280 (all parts), Fibre optic communication subsystem basic test procedures

IEC 61300 (all parts), Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures

IEC 61315 : 1995, Calibration of fibre-optic power meters

IEC/TR 61930 : 1998, Fibre optic graphical symbology

IEC/TR 61931 : 1998, Fibre optic−Terminology

ISO 1101 : 2004, Geometrical Product Specifications (GPS)−Geometrical tolerancing−Tolerances of

form, orientation, location and run-out

C 5954-2：2008

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書JA

（参考）

JISと対応する国際規格との対比表

JIS C 5954-2 : 2008 光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第2部：
ATM-PON用光トランシーバ

IEC 62150-2 : 2004，Fibre optic active components and devices−Test and measurement
procedures−Part 2: ATM-PON transceivers

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ)
国際規
格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び名称

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

3 略号及
び記号

3.2 記号

3.2

なし

追加

VSUPの定義を追加。

IEC規格ではVCCが未定義であっ
たため，性能標準IEC 62149-5に合
わせてVSUPとし，電源電圧として
記号を定義した。

7 試験及
び測定方
法

7.1 Rxアラーム
機能

7.1

Rxアラーム機能

変更

図1の図記号をJIS C 0617に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが，レセプタクル形に
対しても適用可能。

7.2 Txシャット
ダウン機能

7.2

Txシャットダウン機能

変更

図3の図記号をJIS C 0617に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが，レセプタクル形に
対しても適用可能。

7.2.3 a) VCC

変更

VCCをVSUPに変更

技術的な差異はない。

IEC規格ではVCCが未定義であっ
たため，性能標準IEC 62149-5に合
わせてVSUPとした。

7.2.3 c) 被試験ATM-PON用
光トランシーバの平均出力
がPSH以下であることを確
認する。

追加

被試験ATM-PON用光トランシーバ
の平均出力がPTH又はPSH以下であ
ることを確認する。

7.2.1 目的の内容に合わせ，修正し
た。

7.3 平均出力：

Pmean

7.3

平均出力：Pmean

変更

図4の図記号をJIS C 0617に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが，レセプタクル形に
対しても適用可能。

7.4 中心波長及
びスペクトル幅

7.4

中心波長及びスペクトル幅

変更

図6の図記号をJIS C 0617に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが，レセプタクル形に
対しても適用可能。

-2

：

-2

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 5954-2：2008

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ)
国際規
格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び名称

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

7.5 消光比及び
波形マスク試験

7.5

7.5.3 e) フレーム内の各ビ
ットに対して繰り返し行
う。

変更

1フレーム内の各バースト信号に対
して繰り返し行う。

技術的誤記であり修正した。IEC
に対して修正を提案する。

図7の図記号をJIS C 0617に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが，レセプタクル形に
対しても適用可能。

7.6 受信感度
(S) 及び最大受信
入力 (SO)

7.6

受信感度 (S) 及び最大受信
入力 (SO)

変更

図8の図記号をJIS C 0617に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが，レセプタクル形に
対しても適用可能。

図8にクロック・データ再生回路を
内蔵しないバースト用光トランシー
バの測定も考慮して，図だけにバー
スト信号用BER測定器へのクロッ
クをバースト信号用パルスパターン
発生器から直接接続する場合の接続
線を点線で示してある。

JISではクロック・データ再生回路
をもつATM-PON用光トランシー
バについて適用するため，点線の
クロック接続線を図8から削除し
た。

7.6.4 i)“受信感度又は最大受信入力
の仕様に近い値にする”とあるとこ
ろを“受信感度の仕様より大きい値
にする”に変更。
7.6.4 m)“最大受信入力の仕様より大
きい値にする”とあるところを“最
大受信入力の仕様より小さい値にす
る”に変更。

編集上の誤記及び推測

8 試験結
果

8.2 その他の情
報

8.2

送信器の反射戻り光耐性
（IEC 62149-5 5.6 Fig. 5参
照）

変更

送信器の反射戻り光耐性（JIS C
5953-5の5.5 図5を参照）

編集上の誤記としてIECに対して
修正を提案する。

-2

：

-2

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

C 5954-2：2008

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 62150-2 : 2004，MOD

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。

− 追加 ·············· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ·············· 国際規格の規定内容を変更している。

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。

− MOD·············· 国際規格を修正している。

-2

：

-2

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。