JISC5101-3:2010 電子機器用固定コンデンサ－第３部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（ＭｎＯ２）電解コンデンサ

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

1 一般事項 ························································································································· 1

1.1 適用範囲 ······················································································································ 1

1.2 目的 ···························································································································· 1

1.3 引用規格 ······················································································································ 2

1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2

1.5 用語及び定義 ················································································································ 3

1.6 表示 ···························································································································· 4

2 推奨特性及び定格 ············································································································· 5

2.1 推奨特性 ······················································································································ 5

2.2 推奨定格値 ··················································································································· 5

3 品質評価手順 ··················································································································· 6

3.1 製造の初期工程 ············································································································· 6

3.2 構造的に類似なコンデンサ······························································································· 6

3.3 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 6

3.4 品質認証試験 ················································································································ 6

3.5 品質確認検査 ················································································································ 7

4 試験及び測定手順 ············································································································· 8

4.1 予備乾燥 ······················································································································ 8

4.2 測定条件 ······················································································································ 8

4.3 取付け ························································································································· 8

4.4 外観及び寸法 ················································································································ 8

4.5 電気的性能 ··················································································································· 8

4.6 はんだ耐熱性 ················································································································ 9

4.7 はんだ付け性 ··············································································································· 10

4.8 固着性 ························································································································ 10

4.9 耐プリント板曲げ性 ······································································································ 10

4.10 温度急変 ···················································································································· 10

4.11 一連耐候性（形状1のコンデンサだけに適用） ································································· 11

4.12 高温高湿（定常）（形状1のコンデンサだけに適用） ·························································· 11

4.13 高温及び低温特性 ········································································································ 11

4.14 サージ ······················································································································· 12

4.15 耐久性 ······················································································································· 12

4.16 逆電圧（個別規格に規定がある場合） ············································································· 13

4.17 部品の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合） ································································· 13

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

（3）

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まえがき

この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって，JIS C 5101-3:1998は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許

権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責

任はもたない。

JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 5101-1 第1部：品目別通則

JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体 (MnO2) 電解コンデンサ

JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体 (MnO2) 電解コンデンサ

評価水準EZ

JIS C 5101-4 第4部：品種別通則：アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解コンデンサ

JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体 (MnO2) 電解コンデンサ−評価水準

JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ

JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2

JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ

JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ評価水準E

JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準D

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006) 目次

（4）

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JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ安全性を要求

する試験

JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準DZ

JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価

水準E

JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準

JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準E

JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ評価水準E及びEZ

JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解コン

デンサ

JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解コン

デンサ−評価水準EZ

JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準EZ

JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1

JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水

準EZ

JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2

JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水

準EZ

JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ評価水準EZ

JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ

JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解

コンデンサ−評価水準EZ

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日本工業規格 JIS

C 5101-3：2010

(IEC 60384-3：2006)

電子機器用固定コンデンサ−

第3部：品種別通則：

表面実装用固定タンタル固体 (MnO2)

電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment−

Part 3: Sectional specification−

Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with

manganese dioxide solid electrolyte

序文

この規格は，2006年に第3版として発行されたIEC 60384-3を基に，技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，主に電子機器用の直流回路に用いる表面

実装用固定タンタル固体 (MnO2) 電解コンデンサ（以下，コンデンサという。）について規定する。

この規格は，ハイブリッド回路又はプリント配線板に直接取り付けるコンデンサを範囲とし，次の二つ

の形状に適用する。

形状1：外装したコンデンサ (Protected capacitors)

形状2：外装なしのコンデンサ (Unprotected capacitors)

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 60384-3:2006，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 3: Sectional specification:

Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with manganese dioxide solid electrolyte

(IDT)

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。

1.2

目的

この規格の目的は，推奨する定格及び特性を規定するとともに，JIS C 5101-1から適切な品質評価手順，

試験方法及び測定方法を選定し，一般的要求性能を規定する。この品種別通則に基づいた個別規格に規定

する個々の試験の厳しさ及び要求性能は，この規格と同等又は高い水準とする。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

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1.3

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 0025:1988 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法

JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記対応国際規格：IEC 60062:2004，Marking codes for resistors and capacitors (MOD)

JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記対応国際規格：IEC 60063:1963，Preferred number series for resistors and capacitors，Amendment

1:1967及びAmendment 2:1977 (IDT)

JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則

注記対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification (IDT)

JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則

注記対応国際規格：IEC 60068-1:1988，Environmental testing−Part 1: General and guidance及び

Amendment 1:1992 (IDT)

JIS Z 8601 標準数

注記対応国際規格：ISO 3:1953，Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜

取検査方式

注記対応国際規格：IEC 60410:1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求性能と同等又は高い水準とする。よ

り厳しい要求性能を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に記載し，更に，試験計画の中に，例え

ば，アステリスク（*）を付けて明示する。

各個別規格に次の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区分が容易にできるように図示する。コンデンサ

の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，すべての寸法値は，

ミリメートル (mm) で規定する。

注記寸法及び寸法許容差は，一覧表で示してもよい。

寸法は，本体の長さ，幅及び高さ並びに端子の幅，長さ及び端子間隔とする。一つの個別規格で複数の

外形寸法記号を範囲とする場合など，必要に応じて，外形図の下に表を付けて寸法及び寸法許容差を記載

する。

形状が上記のコンデンサと異なる場合は，個別規格にそのコンデンサを適切に示す寸法を規定する。

1.4.2

取付け

個別規格には，通常使用する場合の取付方法を規定する。コンデンサは，その規定した方法で取り付け

る。試験及び測定のための取付方法（適用する場合）は，4.3による。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

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1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。

1.4.3.1

公称静電容量範囲

公称静電容量の範囲は，2.2.1による。

注記 IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は，個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範

囲とが異なるとき，次の文章を追加する。

“各定格電圧での公称静電容量の範囲は，品質認証書 (Qualification approval certificate) によ

る。”

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合は，その規定を追加してもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法，厳しさ及び要求性能は，個別規格の規定によ

る。

1.4.4

表示

コンデンサ及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6と異なる場合は，その項目を個別

規格に明記する。

注記対応国際規格が参照している細分箇条 (1.5) は，明らかな誤記である。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1の2.2（用語及び定義）によるほか，次による。

1.5.1

表面実装用コンデンサ (surface mount capacitors)

小さな寸法で端子の種類又は形状が，ハイブリッド回路及びプリント配線板での使用に適した固定コン

デンサ。

1.5.2

定格電圧，UR (rated voltage)

JIS C 5101-1の2.2.25（定格電圧）による。

注記1 コンデンサに印加する直流電圧と重畳する交流電圧のピーク値との和は，定格電圧以下であ

る。

注記2 短時間の場合は，印加電圧が定格電圧を超えてもよい（2.2.5及び4.14参照）。

1.5.3

等級1 (class 1)

低い損失角の正接及び高い容量安定性をもつ，低いCV積のタンタル粉末を用いたコンデンサ。

1.5.4

等級2 (class 2)

低い損失角の正接及び高い容量安定性をもつが，おおむね重要な機器の用途に用いるものではなく，中

間のCV積のタンタル粉末を用いたコンデンサ。

1.5.5

等級3 (class 3)

小形で大容量が必要で，かつ，高い損失角の正接及び容量安定性が低くても許容できる用途に用いるも

ので，高いCV積のタンタル粉末を用いたコンデンサ。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

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1.6

表示

表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。

1.6.1

コンデンサ本体及び包装への表示

コンデンサ本体及び包装への表示は，次の項目から選定する。その表示の優先順位は，記載の順とする。

a) 端子の極性（構造によって，極性が判別できない場合）

b) 公称静電容量

c) 定格電圧（直流電圧を表す記号d.c.は，記号又はで表してもよい。）

d) 公称静電容量許容差

e) 形状（1.1による形状）

製造年月（又は年週）

g) 製造業者名又は商標（略号を含む。）

h) 耐候性カテゴリ

製造業者の形名

引用個別規格

1.6.2

コンデンサ本体への表示

コンデンサ本体へは，通常，表示しない。ただし，表示を行う場合は，端子の極性だけは必ず表示し，

その他の項目は，1.6.1に規定する項目の中から，必要な項目をできるだけ多く，明りょうに表示する。ま

た，コンデンサ本体への表示項目は，重複を避けることが望ましい。

コンデンサ本体の表示場所に制限がある場合は，JIS C 5062に基づく，次のa) 及びb) の記号を表示す

ることが望ましい。

a) 静電容量記号公称静電容量を2文字で表示し，静電容量記号は，次による。第1文字は，ピコファ

ラッドの単位で表した公称静電容量の有効数字2けたを用い，第2文字は，有効数字に対する乗数の

10のべき数を用いて表す。

第1文字

容量値

1.0

1.2

1.5

1.8

2.2

2.7

3.3

3.9

4.7

5.6

6.8

8.2

第2文字

乗数

10−1

100

101

102

103

104

105

106

107

108

b) 電圧記号電圧記号は，個別規格に規定する。

1.6.3

表示の要求性能

いずれの表示も，明りょうであり，指でこすった場合に，にじんだり又は消えたりしてはならない。

1.6.4

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装への表示は，1.6.1のすべての項目を明りょうに表示する。極性は，包装方法によって

適用できる場合を除き，表示しない。

1.6.5

表示の追加

1.6.1に規定する以外の表示項目を追加する場合は，混乱しないように表示する。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性は，次の中から選定することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは，JIS C 60068-1の8.（部品耐候性カテゴリー）によ

って分類する。

カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。

カテゴリ下限温度：

−55 ℃

カテゴリ上限温度：

＋85 ℃及び＋125 ℃

高温高湿（定常）の試験期間：形状1：21日及び56日

形状2：（検討中）

注記高温高湿（定常）の試験条件は，温度40 ℃，相対湿度90 %〜95 %である。

低温及び高温の試験温度は，カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

公称静電容量 (CN)

公称静電容量は，JIS C 5063に規定するE6の標準数列（1.0，1.5，2.2，3.3，4.7及び6.8）及びそれら

の10n倍（×10n，nは整数）から選定する。

2.2.2

公称静電容量許容差

公称静電容量許容差は，±10 %及び±20 %とする。

2.2.3

定格電圧 (UR)

定格電圧は，JIS Z 8601に規定するR5の標準数列（1.0，1.6，2.5，4.0及び6.3）及びそれらの10n倍（×

10n，nは整数）から選定することが望ましい。その他の数値が必要な場合は，R10の標準数列及びR20の

標準数列から選定してもよい。

注記 R5の標準数列のもの：2.5 V，4.0 V，6.3 V，10 V，16 V，25 V，40 V，63 V及び100 V

R10の標準数列のもの：20 V及び50 V

R20の標準数列のもの：35 V

2.2.4

カテゴリ電圧 (UC)

カテゴリ上限温度が125 ℃のコンデンサのカテゴリ電圧は，表1による。

表1−カテゴリ電圧

UR V

2.5

6.3

100

UC V

1.6

2.5

6.3

注記対応国際規格に明らかな記載漏れがあるため，定格電圧 (UR) 20 V，35 V及び50 V，並びにそ

れらに対するカテゴリ電圧 (UC) 13 V，22 V及び32 Vを追加した。

2.2.5

サージ電圧

サージ電圧は，定格電圧の1.3倍又はカテゴリ電圧の1.3倍に最も近い値（有効数字2けた）に丸めた電

圧とする。

2.2.6

定格温度

定格温度は，個別規格に規定がない場合には，85 ℃とする。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

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2.2.7

等級1，等級2及び等級3の特性（損失角の正接）への要求性能

個別規格には，損失角の正接 (tan δ) の最大値を規定する。次の値を用いることが望ましい。

等級1： ≦0.08

等級2： ≦0.12

等級3： ≦0.24

注記タンタル粉末の種類，定格電圧及び外形寸法によって，要求性能が異なる。外形寸法記号，公

称静電容量値及び定格電圧の等級ごとの代表的な組合せ例を，次に示す。

等級

外形寸法記号a) 3216-18で，

定格電圧6.3 Vに対応する

公称静電容量値

定格電圧6.3 Vで，
公称静電容量10 μF

に対応する外形寸法記号a)

等級ごとのタンタル粉末

(μFV/g)

等級1

15 μF

3216-18

＜30 000

等級2

33 μF

2012-12

＜70 000

等級3

68 μF

1608-09

＜1 000 000

注a) 外形寸法記号は，3方向を“LW-H”で表す。

ここに， L ：0.1 mm単位で表す長さ寸法の公称値

W ：0.1 mm単位で表す幅寸法の公称値

H ：0.1 mm単位で表す高さ寸法の最大値

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は，酸化皮膜の化成工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，本質的に同じ製造工程及び材

料で製造した範囲のコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書

個別規格に規定がある場合で，かつ，購入者から要求がある場合は，JIS C 5101-1のQ.9（出荷ロット

成績証明書）によって，出荷者が，出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要

求する性能値は，静電容量値の変化，損失角の正接 (tan δ) 及び漏れ電流とする。

3.4

品質認証試験

品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1のQ.5（品質認証手順）による。

ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は，3.5による。定数抜取手順は，3.4.1

及び3.4.2による。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

品質保証の定数抜取手順は，JIS C 5101-1のQ.5.3（品質認証用試験手順）のb) による。試料は，認証

を得ようとするコンデンサのすべての範囲を代表し，個別規格に規定するすべての範囲であっても，又は

その一部でもよい。

抜取試料は，定格電圧が最低及び最高のもので，それぞれの電圧における外形寸法の最小及び最大のも

のによる4組合せを選定する。

なお，外形寸法が5種類以上ある場合は，それぞれの電圧における中間の外形寸法のものによる2組合

せを加えた6組合せとする。これらの外形寸法と定格電圧とによるそれぞれの組合せにおいて，二つ以上

の公称静電容量のものがある場合には，最大の公称静電容量を選定する。したがって，範囲認証の場合，

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

試験は，4組合せ又は6組合せの試料を用いて行う。認証範囲の試料を4組合せ未満で構成する場合には，

試料数は，4組合せの場合と同数とする。

予備試料は，次による。

予備試料は，製造業者の責任でない事故による不適合品の置き換え用として，1組合せごとに2個（6

組合せの場合）又は3個（4組合せの場合）とする。

群0に規定する試料数は，すべての群の試験を適用する場合の試料数であり，すべての試験を適用しな

い場合は，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に，群を追加する場合の群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。

表A.1に，品質認証試験の場合の各群及び各副群の試料数並びに合格判定数を示す。

3.4.2

試験

表A.1及び附属書Bに規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証にとって必要

な試験であり，各群の試験は，記載の順に従って行う。

すべての試料は，群0の試験を行った後，その他の群に分割する。群0で発生した不適合品は，その他

の群に用いない。

不適合品数が0の場合，品質認証は合格とする。

注記1 表A.1及び表B.1は，定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。附属書Aは，

各試験及び各試験群に対する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方，附属書B

は，箇条4の試験の詳細を規定しており，また，試験条件及び要求性能の要点の一覧を示す

とともに個別規格に選定する試験方法，試験条件などを規定している。

注記2 定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する

品質確認検査と同じであることが望ましい。

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

3.5.1.1

群A及び群B検査

この検査は，表A.2に規定する評価水準EZの試験計画によって，ロットごとに行う。

製造業者は，次の条件で，製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。

2a) 試験する試料は，検査ロットの中で定格値（定格電圧及び公称静電容量）と外形寸法とによる組合せ

を代表とし，次の事項を考慮する。

− 試料数

− 1組合せ当たり5個以上

2b) IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は，1組合せ当たりの試料数が4個以下のとき，製造業者

は，国内監督検査機関の承認が必要となる。

3.5.1.2

群C検査

この検査は，表A.3に規定する評価水準EZの試験計画によって，定期的に行う。

試料は，規定する期間に製造工程に流れている製品を代表とし，かつ，外形寸法を小，中及び大に分類

したものの中から選定する。どの期間でも認証の範囲を対象とするために，外形寸法の小，中及び大の寸

法群ごとに一つの定格電圧の試料を試験する。

その後の期間では，製造のすべての範囲を対象とするために，その他の外形寸法及び／又は定格電圧の

試料を試験する。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

3.5.2

品質確認検査の試験計画

ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は，JIS C 5101-3-1の表7（品質確認検査の試験計画−評

価水準EZ）に規定する。

注記この細分箇条は，対応国際規格では，“品質認証試験計画は，附属書Bによる。”と記述されて

いるが，ここでは品質確認検査の試験計画を規定すべきであり，明らかな誤記として修正した。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1のQ.10（長期保管後の出荷）の規定によって，はんだ付け性，静電容量及び漏れ電流につ

いて群A及び群Bの再検査を行う。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は，表A.2及び表A.3に規定する評価水準EZを用いることが望

ましい。

試験及び測定手順

注記この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足する。

4.1

予備乾燥

形状2のコンデンサで個別規格に規定がある場合は，JIS C 5101-1の4.3（乾燥）の規定によって乾燥を

行う。

4.2

測定条件

形状2のコンデンサは，相対湿度25 %〜75 %の下で測定する。

4.3

取付け

取付けは，JIS C 5101-1の4.33［取付け（表面実装用コンデンサに適用）］による。

4.3.1

取付条件

はんだ付け方法は，個別規格に規定する。

4.3.2

最終測定及び要求性能

コンデンサは，外観検査及び規定の測定を行い，附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.4

外観及び寸法

外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）によるほか，次による。

4.4.1

外観

外観は，倍率約10倍の拡大鏡並びに供試品及び要求する品質水準に適切な照明を用いて検査する。

注記作業者には，適切な拡大鏡に加えて，直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。

4.4.2

要求性能

コンデンサは，材料，設計，構造，物理的な寸法及びでき栄え（ワークマンシップ）が，個別規格に規

定する要求性能を満足することを証明するために検査する。

4.5

電気的性能

4.5.1

漏れ電流

漏れ電流は，JIS C 5101-1の4.9（漏れ電流）によるほか，次による。

4.5.1.1

測定条件

コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し，その両端に定格電圧を印加する。

保護抵抗器は，1 000 Ωとする。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.5.1.2

要求性能

漏れ電流は，20 ℃で0.02 CNUR μA / (μF×V) 又は1 μAのうちいずれか大きい値以下とする。

4.5.2

静電容量

静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，次による。

4.5.2.1

測定条件

静電容量の測定周波数は，個別規格の規定によって100 Hz又は120 Hzとする。実際のコンデンサ端子

間に印加する交流電圧は，0.5 V（実効値）以下とする。

測定の間，直流バイアス電圧は印加してもよい。

注記過電圧又は逆電圧の印加によって測定値に疑義が生じないように，0.7 V〜1.0 Vの範囲の直流

バイアス電圧を印加してもよい。

測定器の確度は，絶対値又は静電容量の変化の規定値の±2 %以下とする。

4.5.2.2

要求性能

静電容量は，公称値及びその許容差の範囲とする。

4.5.3

損失角の正接 (tan δ)

損失角の正接 (tan δ) は，JIS C 5101-1の4.8.1［誘電正接（損失角の正接）］によるほか，次による。

4.5.3.1

測定条件

測定は，4.5.2の条件で行う。測定器の確度は，絶対値で0.01以下とする。

4.5.3.2

要求性能

損失角の正接 (tan δ)（20 ℃の値）は，個別規格の規定値以下とする。

4.5.4

インピーダンス（個別規格に規定がある場合）

インピーダンスは，JIS C 5101-1の4.10（インピーダンス）によるほか，次による。

4.5.4.1

測定条件

周囲温度は，20 ℃±2 ℃とする。測定電圧は，0.5 V（実効値）以下とする。測定周波数は，100 kHz

とする。

測定器の確度は，インピーダンスの規定値の±10 %以下とする。

4.5.4.2

要求性能

インピーダンスは，個別規格の要求性能を満足する。

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR)（個別規格に規定がある場合）

等価直列抵抗 (ESR) は，JIS C 5101-1の4.8.2［等価直列抵抗 (ESR)］によるほか，次による。

4.5.5.1

測定条件

周囲温度は，20 ℃±2 ℃とする。測定電圧は，0.5 V（実効値）以下とする。

測定中，0.7 V〜1.0 Vの直流バイアス電圧を印加してもよい。測定周波数は，100 kHzとする。

測定器の確度は，等価直列抵抗 (ESR) の規定値の±10 %以下とする。

4.5.5.2

要求性能

等価直列抵抗 (ESR) は，個別規格の要求性能を満足する。

4.6

はんだ耐熱性

はんだ耐熱性は，JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，次による。

4.6.1

初期測定

静電容量を，4.5.2によって測定する。また，損失角の正接 (tan δ) を4.5.3によって測定する。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.6.2

試験条件

個別規格には，適用する試験方法及び試験条件を規定する。

a) はんだ槽法の場合はんだ槽への浸せき方法並びにはんだ槽の温度及び浸せき時間を個別規格に規定

する。

b) リフロー炉法の場合リフロー温度プロファイルを個別規格に規定する。

4.6.3

最終測定及び要求性能

試験後，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，次の要求性能を満足する。

コンデンサを，適切な照明の下で，倍率約10倍の拡大鏡を用いて観察し，クラックなどの損傷がない。

静電容量及び損失角の正接 (tan δ) は，個別規格の要求性能を満足する。

4.7

はんだ付け性

はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，次による。

4.7.1

試験条件

個別規格には，適用する試験方法及び試験条件を規定する。

a) はんだ槽法の場合はんだ槽の温度及び浸せき時間を個別規格に規定する。

b) リフロー炉法の場合リフロー温度プロファイルを個別規格に規定する。

4.7.2

最終測定及び要求性能

コンデンサを，適切な照明の下で，倍率約10倍の拡大鏡を用いて観察し，破損のこん（痕）跡がない。

個別規格で検査を規定した端子の表面部分は，新しいはんだで覆われていて，わずかに点在する部分以

外に，ピンホール若しくはぬれなし又は，はんだはじきがない。鉛入りはんだ合金の場合，はんだの表面

は滑らか，かつ，輝いている。

注記対応国際規格は“滑らかで光沢のあるはんだで覆われていて”と記述しているが，鉛フリーは

んだでは，はんだ表面に光沢がないため，“新しいはんだで覆われていて”とした。

4.8

固着性

固着性は，JIS C 5101-1の4.34（固着性）による。

4.8.1

初期測定

初期測定は，行わない（群3での測定値を用いる。）。

4.8.2

最終測定及び要求性能

コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.9

耐プリント板曲げ性

個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには，適用しない。

耐プリント板曲げ性は，JIS C 5101-1の4.35（耐プリント板曲げ性）によるほか，次による。

4.9.1

初期測定

初期測定は，行わない（群3での測定値を用いる。）。

4.9.2

試験条件

個別規格には，たわみ量及び曲げ回数を規定する。

4.9.3

最終測定及び要求性能

コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.10 温度急変

温度急変は，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，次による。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.10.1 初期測定

初期測定は，行わない（群3での測定値を用いる。）。

4.10.2 試験条件

コンデンサをJIS C 0025の2.（試験Na：温度急変）に基づき5回行う。

各温度にさら（曝）す時間は，30分間とする。後処理時間は，1時間〜2時間とする。

4.10.3 最終測定及び要求性能

後処理後，コンデンサの電気的性能を測定し，附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.11 一連耐候性（形状1のコンデンサだけに適用）

一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，次による。

4.11.1 初期測定

初期測定は，行わない。

4.11.2 高温

高温は，JIS C 5101-1の4.21.2（高温）による。

4.11.3 温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル

温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（試験Db），最

初のサイクル］による。

4.11.4 低温

低温は，JIS C 5101-1の4.21.4（低温）による。

4.11.5 温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル

温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（試験Db），残

りのサイクル］による。

4.11.5.1 後処理

後処理時間は，1時間〜2時間とする。

4.11.6 最終測定及び要求性能

コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.12 高温高湿（定常）（形状1のコンデンサだけに適用）

高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，次による。

コンデンサは，4.3によって取り付ける。

4.12.1 初期測定

初期測定は，行わない（群3での測定値を用いる。）。

4.12.2 試験条件

電圧は，印加しない。

4.12.3 最終測定及び要求性能

1時間〜2時間の後処理後に，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，附属書Bに規定

する要求性能を満足する。

4.13 高温及び低温特性

高温及び低温特性は，JIS C 5101-1の4.29（高温及び低温特性）によるほか，次による。

コンデンサは，4.3によって取り付ける。

4.13.1 測定及び要求性能

コンデンサは，電気的性能の測定を行い，附属書Bに規定する要求性能を満足する。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.14 サージ

サージは，JIS C 5101-1の4.26（サージ）によるほか，次による。

4.14.0A 初期測定

初期測定は，行わない（群3での測定値を用いる。）。

注記対応国際規格IEC 60384-3の4.14に初期測定の規定が明らかに抜けているため，この細分箇条

を追加した。

4.14.1 試験条件

コンデンサは，次の充電に続く5分30秒間の放電のサイクルを，1 000回行う。

充電は，サージ電圧に等しい電圧を電源の内部抵抗を含めた総抵抗値が1 000 Ω±100 Ωとなる抵抗器を

通して30秒間印加する。

試験は，表2の試験温度で行う。

表2−試験温度

カテゴリ上限温度

試験温度

85 ℃

カテゴリ上限温度

125 ℃

試料の半数は，85 ℃，
残りの試料の半数は，カテゴリ上限温度

サージ試験は，コンデンサに30秒間の充電後，約1 000 Ωの抵抗器を通して放電することを1サイクル

とする。

試験は，サイクルの放電段階で終わる。

4.14.2 最終測定及び要求性能

コンデンサは，電気的性能の測定を行い，附属書Bに規定する要求性能を満足する。

4.15 耐久性

耐久性は，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，次による。

コンデンサは，4.3によって取り付ける。

4.15.1 初期測定

初期測定は，行わない（群3での測定値を用いる。）。

4.15.2 試験条件

試験時間：2 000時間

試験温度：カテゴリ上限温度

印加電圧：個別規格に規定がない場合は，カテゴリ電圧とする。

注記カテゴリ電圧が定格電圧と異なる場合，試料を2分割し，定格温度で定格電圧を，カテゴリ上

限温度でカテゴリ電圧をそれぞれ印加する。

試験電圧は，印加電圧を緩やかに上昇する又はコンデンサを5分間以下で放電できる抵抗器を通して，

徐々に（2分間以上かつ5分間以下。）印加する。それぞれのコンデンサからみた電源インピーダンスは，

3 Ω以下とする。

コンデンサが短絡した場合は，1 A以上の電流を供給できる能力がある電池又は電源を用いる。

4.15.3 最終測定及び要求性能

1時間〜2時間の後処理後に，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，附属書Bに規定

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

する要求性能を満足する。

4.16 逆電圧（個別規格に規定がある場合）

4.16.1 初期測定

初期測定は，行わない（群3での測定値を用いる。）。

4.16.2 試験条件

コンデンサは，a) の試験を行い，続いてb) の試験を行う。

a) 試験温度：カテゴリ上限温度

印加電圧：個別規格に規定がない場合は，3 V（直流）又は定格電圧の0.1倍のうちいずれか小さい値

を極性と逆方向に印加する。

時間：125 h

b) 試験温度：カテゴリ上限温度

印加電圧：カテゴリ電圧を正極性の方向に印加する。

時間：125 h

4.16.3 最終測定及び要求性能

後処理後に，コンデンサは，外観検査及び電気的性能の測定を行い，附属書Bに規定する要求性能を満

足する。

4.17 部品の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合）

部品の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）による。

4.18 表示の耐溶剤性（個別規格に規定がある場合）

表示の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）による。

4.19 大電流サージ（個別規格に規定がある場合）

大電流サージは，JIS C 5101-1の4.39（大電流サージ）によるほか，次による。

4.19.1 初期測定

初期測定は，行わない。

4.19.2 最終測定及び要求性能

最終測定及び要求性能は，群0又は個別規格の群Aの大電流サージ後に行う試験の要求性能を満足する。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表A.1−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数（許容不適合数）−評価水準EZ

群

細分箇条番号及び試験項目a)

試料数 (n) 及び

合格判定数 (c)

n d)

（群ごと）

（合計）

4.19

大電流サージc)

4.4

外観

4.4

寸法

4.5.1

漏れ電流

4.5.2

静電容量

4.5.3

損失角の正接 (tan δ)

4.5.4

インピーダンスc)

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR) c)

124

予備試料

4.6

はんだ耐熱性

4.17

部品の耐溶剤性c)

4.7

はんだ付け性

4.18

表示の耐溶剤性c)

4.9

耐プリント板曲げ性e)

4.3

取付けb)

4.4

外観

4.5.1

漏れ電流

4.5.2

静電容量

4.5.3

損失角の正接 (tan δ)

4.5.4

インピーダンスc)

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR) c)

3.1

4.8

固着性

4.10

温度急変

4.11

一連耐候性（形状1に適用）

3.2

4.12

高温高湿（定常）（形状1に適用）

3.3

4.15

耐久性

3.4

4.13

高温及び低温特性

3.5A

4.14

サージ

3.5B

4.16

逆電圧c)

注記対応国際規格では，予備試料が16個に規定されていたが，明らかな誤記のため，12個に変更した。
注a) 箇条4による。

b) 取付け後，不適合品として見つかった試料は，続く試験の許容不適合品数を算出するときに用いてはならな

い。その不適合品は，予備品と置き換える。

c) 個別規格に規定がある場合に適用する。

d) 公称静電容量と定格電圧との組合せは，3.4.1を参照する。

e) 個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには，適用しない。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

A.2 ロットごとの検査

評価水準EZのロットごとの検査を，表A.2に示す。

表A.2−ロットごとの検査−評価水準EZ

検査
副群

細分箇条番号及び試験項目a)

検査水準

試料数

合格判定数

4.19

大電流サージe)

4.5.1

漏れ電流

4.5.2

静電容量

4.5.3

損失角の正接 (tan δ)

4.5.4

インピーダンスe)

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR) e)

100 % b)

4.4

外観

4.4

寸法c)

S-3

4.7

はんだ付け性

4.18

表示の耐溶剤性e)

S-3

注a) 箇条4による。

b) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水

準は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に，抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，品質

水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は，累積した検査データによって算出する。

c) 寸法検査は，部品製造業者が寸法測定又は許容限度を超えない構造でSPCを導入している場合，工程内検査

データで代用してもよい。

d) 試料数 (n) は，JIS Z 9015-1に規定する付表1［サンプル（サイズ）文字］の検査水準 (IL) とロットサイズ

とで割り当てるサンプル文字に従い，付表2-A［なみ検査の1回抜取方式（主抜取表）］のサンプル文字に対
応する試料数とする。

e) 個別規格に規定がある場合に適用する。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

A.3 定期的な検査

評価水準EZの定期的な検査を，表A.3に示す。

表A.3−定期的な検査−評価水準EZ

検査
副群

細分箇条番号及び試験項目a)

検査周期

（月）

試料数

合格判定数

4.6

はんだ耐熱性

4.17

部品の耐溶剤性d)

4.9

耐プリント板曲げ性e)

4.3

取付けc)

4.4

外観

4.5.1

漏れ電流

4.5.2

静電容量

4.5.3

損失角の正接 (tan δ)

4.5.4

インピーダンスd)

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR) d)

78 b)

C3.1

4.8

固着性

4.10

温度急変

4.11

一連耐候性（形状1に適用）

C3.2

4.12

高温高湿（定常）（形状1に適用）

C3.3

4.15

耐久性

C3.4

4.13

高温及び低温特性

C3.5A

4.14

サージ

C3.5B

4.16

逆電圧d)

注a) 箇条4による。

b) これらの測定値は，各副群試験の初期値とする。

c) 取付け後，不適合品として見つかった試料は，続く試験の許容不適合品数を算出するときに用いてはならな

い。その不適合品は，予備品と置き換える。

d) 個別規格に規定がある場合に適用する。

e) 個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには，適用しない。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書B

（規定）

評価水準EZの試験計画

この附属書は，3.4.2に規定する品質認証試験計画について規定する。

B.1 品質認証計画

評価水準EZの品質認証計画（試験項目，試験条件，試料数及び合格判定数並びに要求性能）を，表B.1

に示す。

表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ

細分箇条番号

及び試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

試料数 (n) 及び

合格判定数 (c) b)

要求性能a)

群0

4.19 大電流サージe)

4.4 外観

4.4 寸法（詳細）

4.5.1 漏れ電流

4.5.2 静電容量

4.5.3 損失角の正接
(tan δ)

4.5.4 インピーダンスe)

4.5.5 等価直列抵抗
(ESR) e)

保護抵抗器：1 000 Ω

周波数：... Hz d)
バイアス：... V d), e)

周波数：... Hz d)
バイアス：... V d), e)

周波数：100 kHz

周波数：100 kHz

表A.1による。

4.4.2による。
表示は，明りょうとし，個別規格

の規定による。

個別規格の規定（表1）による。

0.02 CNUR μA / (μF×V) 又は1 μA

のうちいずれか大きい値以下

規定の許容差以内
個別規格の規定による。

等級1≦0.08
等級2≦0.12
等級3≦0.24

個別規格の規定による。

個別規格の規定による。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ（続き）

細分箇条番号

及び試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

試料数 (n) 及び

合格判定数 (c) b)

要求性能a)

群1A

4.6.1 初期測定

4.6 はんだ耐熱性

4.17 部品の耐溶剤性e)

4.6.3 最終測定

静電容量
損失角の正接 (tan δ)

方法：... d)

溶剤：... d)
溶剤の温度：... d)
方法2
後処理時間：... d)

外観

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

表A.1による。

個別規格の規定による。

4.6.3による。

個別規格の規定による。

個別規格の規定による。

群1B

4.7 はんだ付け性

4.18 表示の耐溶剤性e)

4.7.2 最終測定

温度：... d)
時間：... d)

溶剤：... d)
溶剤の温度：... d)
方法1
ラビング材料：綿毛
後処理時間：... d)

外観

表A.1による。

表示は，明りょうとする。

4.7.2による。

群2

4.9 耐プリント板曲げ

性c)

4.9.3 最終測定

静電容量
（プリント板を曲げた状

態）

曲げ深さD：... mm d)
曲げ回数：... d)

外観

表A.1による。

個別規格の規定による。

外観に損傷がない。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ（続き）

細分箇条番号

及び試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

試料数 (n) 及び

合格判定数 (c) b)

要求性能a)

群3

4.3 取付け

外観

漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

インピーダンスe)

等価直列抵抗 (ESR) e)

表A.1による。

外観に損傷がない。

4.5.1による。

個別規格の規定による。

4.5.3による。

4.5.4による。

個別規格の規定による。

群3.1

4.8 固着性

4.10.1 初期測定

4.10 温度急変

4.10.3 最終測定

外観

行わない（群3での測定値

を用いる。）。

TA：カテゴリ下限温度
TB：カテゴリ上限温度

回数：5回
試験時間t：30 min
後処理時間：1 h〜2 h

漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

表A.1による。

外観に損傷がない。

4.5.1による。

個別規格の規定による。

4.5.3による。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ（続き）

細分箇条番号

及び試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

試料数 (n) 及び

合格判定数 (c) b)

要求性能a)

群3.1（続き）

4.11 一連耐候性
（形状1に適用）

4.11.1 初期測定

4.11.2 高温

4.11.3 温湿度サイクル

（試験Db），最初の
サイクル

4.11.4 低温

4.11.5 温湿度サイクル

（試験Db），残りの
サイクル

4.11.6 最終測定

行わない。

温度：カテゴリ上限温度
試験時間：16 h

温度：カテゴリ下限温度
試験時間：2 h

後処理時間：1 h〜2 h

外観

漏れ電流

静電容量

損失角の正接（tan δ）

表A.1による。

外観に損傷がなく，表示は，明り

ょうとする。

4.5.1による。

群3の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %

4.5.3の規定値に対して1.2倍以下

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ（続き）

細分箇条番号

及び試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

試料数 (n) 及び

合格判定数 (c) b)

要求性能a)

群3.2

4.12 高温高湿（定常）
（形状1に適用）

4.12.1 初期測定

4.12.3 最終測定

後処理時間：1 h〜2 h

行わない（群3での測定値

を用いる。）。

外観

漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

表A.1による。

外観に損傷がなく，表示は，明り

ょうとする。

4.5.1による。

群3の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %

4.5.3の規定値に対して1.2倍以下

群3.3

4.15 耐久性

4.15.1 初期測定

4.15.3 最終測定

試験時間：2 000 h
試験温度：... ℃ d)
（適用する温度）
印加電圧：... V d)
後処理時間：1 h〜2 h

行わない（群3での測定値

を用いる。）。

外観

漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

インピーダンスe)
又は等価直列抵抗 (ESR)

表A.1による。

外観に損傷がなく，表示は，明り

ょうとする。

4.5.1の規定値の2倍以下

個別規格の規定による。

4.5.3の規定値の1.5倍以下

個別規格の規定による。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ（続き）

細分箇条番号

及び試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

試料数 (n) 及び

合格判定数 (c) b)

要求性能a)

群3.4

4.13 高温及び低温特

性

コンデンサを各温度段階

で測定する。

段階1：20 ℃
漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

段階2：カテゴリ下限温度
静電容量

損失角の正接 (tan δ)

段階3：20 ℃
漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

段階4：85 ℃
漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

段階5：125 ℃
（適用する場合）
漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

段階6：20 ℃
漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

表A.1による。

4.5.1による。

比較用の値

4.5.3による。

個別規格の規定による。

個別規格の規定による。

4.5.1による。

段階1の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦5 %

4.5.3による。

0.2 CNUR μA / (μF×V) 又は10 μA

のうちいずれか大きい値以下

個別規格の規定による。

個別規格の規定による。

0.25 CNUR μA / (μF×V) 又は12.5

μAのうちいずれか大きい値以
下

個別規格の規定による。

個別規格の規定による。

段階3による。

段階3による。

段階3による。

C 5101-3：2010 (IEC 60384-3：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表B.1−品質認証試験計画−評価水準EZ（続き）

細分箇条番号

及び試験項目a)

又は

ND b)

試験条件a)

試料数 (n) 及び

合格判定数 (c) b)

要求性能a)

群3.5A

4.14 サージ

4.14.0A 初期測定

4.14.2 最終測定

サイクル数：1 000回
試験温度：... ℃ d)
印加電圧：1.3 UR
及び／又は1.3 UC
保護抵抗：1 000 Ω±100 Ω
充電時間：30 s
放電時間：5 min 30 s

行わない（群3での測定値

を用いる。）。

漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

表A.1による。

4.5.1による。

群3の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %

4.5.3による。

群3.5B

4.16 逆電圧e)

4.16.1 初期測定

4.16.3 最終測定

試験時間：逆極性に125

h，... V d) をカテゴリ上

限温度で，引き続いて正
極に125 hカテゴリ電圧
をカテゴリ上限温度で
印加する。

行わない（群3での測定値

を用いる。）。

漏れ電流

静電容量

損失角の正接 (tan δ)

表A.1による。

4.5.1による。

群3の測定値に対して
｜ΔC/C｜≦10 %

4.5.3の規定値に対して1.15倍以下

注記対応国際規格では，D：破壊試験，ND：非破壊試験の区分の欄が表B.1にはなく，試験条件の欄に区分を記

載しているが，その他の品種別通則と整合させ，見やすくなるように追加した。

注a) 箇条4による。

b) n：試料数，c：合格判定数（許容不適合数），D：破壊試験，ND：非破壊試験

c) 個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには，適用しない。

d) 個別規格の規定による。

e) 個別規格に規定がある場合に適用する。