C 5402-11-11：2004 (IEC 60512-11-11：2002)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経
済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60512-11-11:2002，Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-11: Climatic tests - Test 11k: Low air pressureを基礎とし
て用いた。
この規格の一部が，技術的性格をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
C 5402-11-11：2004 (IEC 60512-11-11：2002)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 準備 ······························································································································ 2
3.1 試料の準備 ··················································································································· 2
3.2 試料の配線 ··················································································································· 2
3.3 前処理 ························································································································· 2
4. 試験方法 ························································································································ 2
4.1 供試条件 ······················································································································ 2
5. 測定 ······························································································································ 2
5.1 初期測定 ······················································································································ 2
5.2 試験中の測定 ················································································································ 2
5.3 最終測定 ······················································································································ 2
6. 個別規格に規定する事項 ··································································································· 2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-11-11：2004
(IEC 60512-11-11：2002)
電子機器用コネクタ―
試験及び測定―第11-11部：耐候性試験―
試験11k：減圧
Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 11-11: Climatic tests -
Test 11k: Low air pressure
序文 この規格は，2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-11，Connectors for electronic equipment
- Tests and measurements - Part 11-11: Climatic tests - Test 11k: Low air pressureを翻訳し，技術的内容及び規格
票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲 この規格は，規定する減圧条件下（例：高高度）で，規定の方法によって保存及び／又は
機能する電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）の能力を評価するための試験方法について規定す
る。この試験方法は，類似の部品に用いてもよい。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-11-11:2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-11:
Climatic tests - Test 11k: Low air pressure (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，
その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0029 環境試験方法−電気・電子−減圧試験方法
備考 IEC 60068-2-13: 1983，Environmental testing - Part 2: Tests - Test M: Low air pressure が，この
規格と一致している。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
備考 IEC 60512-1-1: 2002，Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:
General examination - Test 1a: Visual examinationが，この規格と一致している。
IEC 60512-4-1:2003 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-1: Voltage stress
tests - Test 4a: Voltage proof
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C 5402-11-11：2004 (IEC 60512-11-11：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3. 準備
3.1
試料の準備 標準のアクセサリを備えた試料を，個別規格の規定によって取り付ける。
個別規格で要求する場合には，試料を試験前に規定回数，挿入及び引抜きをする。
各試験を行うに当たって，個別規格にはコネクタの条件（例えば，結合又は非結合）を規定する。
3.2
試料の配線 試料は，個別規格の要求事項の規定によって配線する。
3.3
前処理 前処理は，個別規格に規定がない場合には，少なくとも1時間は行う。
参考 前処理の内容は，JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部：品目別通則−能力認証 4.1.2前
処理の規定による。
4. 試験方法
4.1
供試条件 この試験は，個別規格で規定する厳しさを用いてJIS C 0029に従って行う。
暴露時間は，個別規格に規定がない場合には5分間とする。
5. 測定
5.1
初期測定 初期測定は，個別規格の規定による。
5.2
試験中の測定 個別規格で要求する場合には，この試験の終了時，試料がまだ個別規格で規定する
減圧状態にある間に次の試験を行う。
−耐電圧：IEC 60512-4-1，試験 4a
5.3
最終測定 試料は，個別規格に規定がない場合には次の試験を行い，個別規格で規定する要求事項
を満足しなければならない。
−外観：JIS C 5402-1-1，試験 1a
6. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料の取付方法及び配線方法
b) 供試条件の厳しさ（気圧）
c) 初期測定
d) 測定に対する要求事項
e) 暴露時間（必要とする場合）
f)
この試験方法との相違
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。