C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 1
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 3
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 4
3 品質評価手順 ··················································································································· 6
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 6
3.2 構造的に類似なコンデンサ ······························································································ 6
3.3 出荷ロットの成績証明書 ································································································· 6
3.4 品質認証 ······················································································································ 6
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 10
4 試験及び測定手順 ············································································································ 11
4.1 一般 ··························································································································· 11
4.2 特殊な前処理 ··············································································································· 11
4.3 外観及び寸法 ··············································································································· 12
4.4 電気的試験 ·················································································································· 12
4.5 静電容量の温度特性 ······································································································ 14
4.6 端子強度 ····················································································································· 14
4.7 はんだ耐熱性 ··············································································································· 14
4.8 はんだ付け性 ··············································································································· 15
4.9 温度急変 ····················································································································· 15
4.10 振動 ·························································································································· 15
4.11 バンプ（繰返しのある衝撃） ························································································· 16
4.12 衝撃（繰返しのない衝撃） ···························································································· 16
4.13 一連耐候性 ················································································································· 17
4.14 高温高湿（定常） ········································································································ 18
4.15 耐久性 ······················································································································· 19
4.16 部品の耐溶剤性 ··········································································································· 20
4.17 表示の耐溶剤性 ··········································································································· 20
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015) 目次
（2）
ページ
附属書A（参考）固定磁器コンデンサ種類2の静電容量エージング··············································· 21
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
（3）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子
情報技術産業協会（JEITA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって，JIS C 5101-9:2008は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1 第1部：品目別通則
JIS C 5101-2 第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
デンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3 第3部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（MnO2）電解コンデン
サ 評価水準EZ
JIS C 5101-4 第4部：品種別通則：アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4-1部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-4-2 第4-2部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（MnO2）電解コンデンサ−評価水
準EZ
JIS C 5101-8 第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9 第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11 第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
JIS C 5101-11-1 第11-1部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく
直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-13 第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14 第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015) 目次
（4）
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-15 第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16 第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17 第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
デンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18 第18部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）及び非固体電解コ
ンデンサ
JIS C 5101-18-1 第18-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（MnO2）電解コ
ンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-18-2 第18-2部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
−評価水準EZ
JIS C 5101-20 第20部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21 第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22 第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23 第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル
ム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24 第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-25 第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
（5）
JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ−評価水準EZ
JIS C 5101-26 第26部：品種別通則：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ
JIS C 5101-26-1 第26-1部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデ
ンサ 評価水準EZ
日本工業規格 JIS
C 5101-9：2018
(IEC 60384-9：2015)
電子機器用固定コンデンサ−
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
Fixed capacitors for use in electronic equipment-
Part 9: Sectional specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 2
序文
この規格は，2015年に第4版として発行されたIEC 60384-9を基に，技術的内容及び対応国際規格の構
成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，電子機器用固定磁器コンデンサ 種類2（高
誘電率系）について規定する。この規格は，電子機器に用いる，種類2に分類する磁器誘電体の固定コン
デンサ（以下，コンデンサという。）に適用する。また，この種類2のリードレスのコンデンサにも適用す
るが，表面実装用固定積層磁器コンデンサ 種類2（高誘電率系）は，JIS C 5101-22を適用する。
電磁障害用防止用固定コンデンサは，この規格を適用しないでJIS C 5101-14を適用する。
注記1 リードレスのコンデンサとは，“丸形，外装なし，引出し端子なし，電極反対方向”，“丸形，
金属ケース，ラグ端子，1端接地，取付構造付き”などの形状をいう。ただし，“円筒形（チ
ップ）”は除く。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-9:2015，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 9: Sectional specification:
Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 2（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
1.2
目的
この規格の目的は，コンデンサの推奨する定格及び特性について規定するとともに，JIS C 5101-1から
適切な品質評価手順，試験方法及び測定方法を選定し，一般要求事項を規定することである。この品種別
通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求事項は，この規格と同等又は高い水準とする。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）
2
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
注記 対応国際規格：IEC 61193-2:2007，Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages（IDT）
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1:2008，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification（IDT）
JIS C 60063:2018 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記1 対応国際規格：IEC 60063:1963，Preferred number series for resistors and capacitors並びに
Amendment 1:1967及びAmendment 2:1977（IDT）
注記2 対応国際規格IEC 60063は2015年に改正されており，この最新版のIEC規格に基づくJIS
を採用した。
JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部：通則及び指針
注記 対応国際規格：IEC 60068-1:2013，Environmental testing−Part 1: General and guidance（IDT）
JIS Z 8601:1954 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3:1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers（MOD）
1.4
個別規格に規定する事項
1.4.1
一般
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格には，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を
規定してはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9に記載し，更に，
試験計画の中に，例えば，アステリスク（*）を付けて明示する。
1.4.2の外形図及び寸法は，一覧表で示してもよい。
個別規格に1.4.2〜1.4.5の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定すること
が望ましい。
1.4.2
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。
コンデンサの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，全ての
寸法は，ミリメートル（mm）で規定する。
一般的に，寸法表示は，本体の長さ，幅，高さ及び端子間距離とし，円筒形の場合は，本体の直径及び
長さ並びに端子の長さ及び直径を規定する。多数のコンデンサ（定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲）
を一つの個別規格に規定する場合など必要な場合は，寸法及び寸法許容差を図面の下に表で示す。
形状が上記と異なる場合は，そのコンデンサを適切に表す寸法を個別規格に規定する。
コンデンサがプリント配線板用でない場合は，個別規格にそのことを明記する。
1.4.3
取付け
通常の取付方法，並びに振動及びバンプ又は衝撃試験を行う場合の取付方法を，個別規格に規定する。
コンデンサによっては，特別な取付具を用いる設計のものがある。この場合は，個別規格にその取付具の
ことを記載し，振動及びバンプ又は衝撃試験を行う場合には，この取付具を用いる。
1.4.4
定格及び特性
1.4.4.1
一般
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
3
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
1.4.4.2
公称静電容量範囲
2.2.4.1による。
IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範囲とが
異なるとき，次の文章を追加する。“各定格電圧での公称静電容量の範囲は，品質認証電子部品一覧表
（QPL）による。”
1.4.4.3
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合には，それを追加してもよい。
1.4.4.4
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法，厳しさ及び要求事項は，個別規格の規定によ
る。
1.4.5
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は，個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合は，
その事項を個別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1によるほか，次による。
1.5.1
固定磁器コンデンサ 種類2（fixed capacitors, ceramic dielectric, Class 2）
電子機器の側路用及び回路の結合用のように，低い損失及び静電容量の安定性があまり必要でない回路
に用いる高誘電率の磁器を誘電体としたコンデンサ。
注記 この磁器の誘電体は，カテゴリ温度範囲では非直線の静電容量変化特性をもっている（表2参
照）。
1.5.2
サブクラス（subclass）
カテゴリ温度範囲内での20 ℃の静電容量値に対する最大変化率による区分。
注記 サブクラスは，記号によって表示してもよい（表2参照）。
1.5.3
定格電圧，UR（rated voltage, UR）
定格温度でコンデンサの端子に連続して印加してもよい最高直流電圧。
注記1 最高直流電圧は，コンデンサに印加する直流電圧と，交流電圧のピーク値又はパルス電圧の
ピーク値との和である。
注記2 この定義は，JIS C 5101-1の2.2.25（定格電圧）の定義“定格温度でコンデンサに連続して印
加してもよい最高直流電圧”に対し，“コンデンサ”の後に“の端子”を付加し規定した。
1.6
表示
1.6.1
一般
表示は，JIS C 5101-1の2.4（表示）によるほか，次による。
表示事項は，一般的に，次の項目から選定する。表示の優先順位は，記載の順とする。
a) 公称静電容量
b) 定格電圧（直流電圧は，記号 又は で表してもよい。）
c) 公称静電容量許容差
d) 誘電体のサブクラス（表2参照）
4
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
e) 製造年月（又は年週）
f)
製造業者名又はその商標
g) 耐候性カテゴリ
h) 製造業者の形名
i)
引用個別規格
b)及びd)で要求する情報は，製造業者又は製造国によって指定する形式若しくは形名による記号によっ
て表してもよい。
1.6.2
コンデンサ本体への表示
コンデンサには，1.6.1のa)，b)，c)及び必要な項目をできるだけ多く，明瞭に表示する。コンデンサの
表示内容の重複は，避けることが望ましい。
1.6.3
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には，1.6.1の全ての項目を明瞭に表示する。
1.6.4
表示の追加
表示項目を追加する場合は，混乱しないように表示する。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
この規格に規定するコンデンサは，JIS C 60068-1の附属書A（部品の耐候性カテゴリー）に規定する一
般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。
− カテゴリ下限温度：−55 ℃，−40 ℃，−25 ℃及び−10 ℃
− カテゴリ上限温度：＋70 ℃，＋85 ℃，＋100 ℃及び＋125 ℃
− 高温高湿（定常）（温度40 ℃，相対湿度93 %）の試験期間：4日，10日，21日及び56日
低温及び高温試験の厳しさは，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2
推奨定格値
2.2.1
定格温度
この規格に規定するコンデンサの定格温度は，カテゴリ上限温度と等しい。
2.2.2
定格電圧（UR）
定格電圧の推奨値は，JIS Z 8601に規定するR5標準数列に従って，次による。
R5標準数列を適用した推奨電圧：25 V，40 V，63 V，100 V，160 V，250 V，400 V，630 V，1 000 V，
1 600 V，2 500 V，4 000 V及び6 300 V
ただし，その他の値が必要な場合は，R10標準数列を用いてもよい。
R10標準数列を適用した推奨電圧：50 V，200 V，500 V，2 000 V，3 150 V及び5 000 V
コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は，定格電圧以下とする。また，交流電圧
のピーク値は，コンデンサの許容電流で決定される値以下とする。
注記 この“許容電流”は，対応国際規格では“permissible reactive power”となっているが，磁器コ
ンデンサでは，高い周波数域では自己発熱量で制限され，すなわち，許容電流で交流電圧のピ
ーク値は決定されると説明できるため，“許容電流”に読み替えることができる（図0A参照）。
5
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
許
容
印
加
電
圧
周波数
図0A−周波数と許容電圧との関係
2.2.3
カテゴリ電圧（UC）
定格温度がカテゴリ上限温度と同じであるため，JIS C 5101-1の2.2.5（カテゴリ電圧）によって，カテ
ゴリ電圧は，定格電圧と等しい。
2.2.4
公称静電容量及びその許容差の推奨値
2.2.4.1
公称静電容量の推奨値
公称静電容量値は，JIS C 60063に規定するE3，E6及びE12の標準数列から選定することが望ましい。
2.2.4.2
公称静電容量許容差の推奨値
公称静電容量許容差の推奨値を，表1に示す。
表1−公称静電容量許容差の推奨値
標準数列
許容差
%
記号
E3及びE6
−20/＋80
Z
−20/＋50
S
E6
±20
M
E6及びE12
±10
K
2.2.5
静電容量の温度特性
直流電圧印加なし及び印加ありのときの静電容量の温度特性の推奨値を表2に示す。また，サブクラス
の記号も表に示す。例えば，直流電圧印加なしで温度範囲−55 ℃〜＋125 ℃の静電容量変化率±20 %の
コンデンサのサブクラス記号は，2C1とする。
表2−静電容量温度特性の推奨値
サブ
クラス
記号
電圧印加なしの20 ℃の静電容量値に対す
るカテゴリ温度範囲内の直流電圧印加あ
り・なしの静電容量の最大変化率 %
カテゴリ温度範囲及びその数字記号
−55 ℃/
＋125 ℃
−55 ℃/
＋85 ℃
−40 ℃/
＋85 ℃
−25 ℃/
＋85 ℃
−10 ℃/
＋85 ℃
電圧印加なし
直流電圧印加ありa)
1
2
3
4
6
2B
±10
−
×
×
×
−
2C
±20
×
×
×
−
−
2D
＋20/−30
個別規格の規定による。
−
−
−
×
−
2E
＋22/−56
−
×
×
×
×
2F
＋30/−80
−
×
×
×
×
2R
±15
×
−
−
−
−
2X
±15
＋15/−25
×
−
−
−
−
注記 表中の“×”は適用を示し，“−”は不適用を示す。
注a) 印加電圧は，直流定格電圧又は個別規格に規定された電圧とする。
せん（尖）頭電圧の和（Peak-to-peak volt
又はZero-to-peak volt）
自己発熱での規制
静電容量による自己発熱の差
6
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
誘電体の温度特性での温度範囲は，カテゴリ温度範囲と等しい。
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
単板形のコンデンサの製造の初期工程は，誘電体表面への電極形成工程とする。また，積層形のコンデ
ンサでは，誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，類似の工程及び類似の材料で
製造したコンデンサとする。
3.3
出荷ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは，JIS C 5101-1のQ.9（出荷ロット成績証明
書）によって出荷ロットの成績証明書を提出する。耐久性試験後の要求する性能値は，静電容量の変化，
誘電正接（tan δ）及び絶縁抵抗とする。
3.4
品質認証
3.4.1
一般
品質認証の手順は，JIS C 5101-1のQ.5（品質認証手順）による。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は，3.5による。定数抜取手順は，3.4.2
及び3.4.3による。
3.4.2
定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は，JIS C 5101-1のQ.5.3（品質認証用試験手順）のb)の規定による。試料は，認証を得よ
うとする全てのコンデンサの範囲を代表し，個別規格に規定する全ての範囲，又はその一部でもよい。
試料は，定格電圧の最低値及び最高値と，それぞれの最小公称静電容量及び最大公称静電容量との組合
せでできる4組合せ（定格電圧と公称静電容量との組合せ）で構成する。定格電圧が5種類以上の場合は，
中間の定格電圧のものも追加試験する。このように一つの認証範囲の試験には，4組合せ又は6組合せの
ものを試料とする。認証範囲からの試料数が3組合せ以下の場合の試料数は，4組合せと同じとする。
予備試料は，次による。
予備試料は，製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個（6組合
せの場合）又は3個（4組合せの場合）とする。
群0に規定する試料数は，全ての群の試験を適用する場合の試料数であり，全ての試験を適用しない場
合は，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に群を追加する場合，群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験における各群又は副群で試験する試料数は，合格判定数とともに表3に示す。
3.4.3
試験
表3及び表4に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順に従って行う。
全ての試料は，群0の試験を行った後，その他の群に分割する。
群0で発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが，一つの群内で全て又は一部の項目で不適合となったとき，“1個の不適合品”と数
える。
不適合品数がゼロの場合，品質認証は合格とする。
7
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
表3及び表4は，定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表3は，各試験群に対するサン
プリング及び合格判定数の詳細を規定している。一方，表4は，箇条4に規定する試験の詳細と合わせて，
試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定する試験方法，試験条件などを規定
している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は，個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表3−品質認証試験のサンプリング計画及び合格判定数 評価水準EZ
群
試験項目
この規格の
細分箇条番号
試料数
n b)
合格判定数
c d)
0
外観
4.3
108
0
寸法
4.3
静電容量
4.4.1
誘電正接
4.4.2
絶縁抵抗
4.4.3
耐電圧
4.4.4
予備試料
−
8
1A
端子強度
4.6
12
0
はんだ耐熱性
4.7
部品の耐溶剤性c)
4.16
1B
はんだ付け性
4.8
24
0
表示の耐溶剤性c)
4.17
温度急変a)
4.9
振動
4.10
バンプ又は衝撃a)
4.11又は4.12
1
一連耐候性
4.13
36
0
2
高温高湿（定常）
4.14
24
0
3
耐久性
4.15
36
0
4
静電容量の温度特性
4.5
12
0
注a) 個別規格の規定による。
b) 公称静電容量と定格電圧との組合せで3.4.2による。
c) 個別規格に規定がある場合に適用する。
d) 合否判定の許容不適合品を示し，この数以下の場合を合格とする。
8
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
表4−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）c)
要求事項a)
群0
ND
表3による。
4.3 外観
4.3による。
表示は，明瞭とする。その他
は個別規格の規定による。
4.3 寸法（詳細）
個別規格の規定による。
4.4.1 静電容量
周波数：… kHz又はMHz
測定電圧：… V
規定の許容差による。
4.4.2 誘電正接（tan δ）
周波数及び測定電圧は，4.4.1に
同じ。
4.4.2.4による。
4.4.3 絶縁抵抗（Ri）
方法は，個別規格の規定による。
4.4.3.3による。
4.4.4 耐電圧
方法は，個別規格の規定による。
絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。
群1A
D
表3による。
4.6 端子強度
外観
損傷がない。
4.7.3 初期測定
静電容量
4.7 はんだ耐熱性
特殊な前処理は，4.2による。
方法は，個別規格の規定による。
4.7.5 最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.7.5による。
4.16 部品の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法2
後処理：…
個別規格の規定による。
群1B
D
表3による。
4.8 はんだ付け性
方法は，個別規格の規定による。
端子にはんだが良好に付着し
ているか，又は，平衡法の場
合は，個別規格による。
4.17 表示の耐溶剤性
（適用する場合）
溶剤：…
溶剤の温度：…
方法1
ラビングの材料：脱脂綿
後処理：…
表示は，明瞭とする。
4.9 温度急変
特殊な前処理は，4.2による。
4.9.3 初期測定
静電容量
TA＝カテゴリ下限温度
TB＝カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1＝30 min
後処理：24 h±2 h
外観
異常がない。
4.10 振動
取付方法は，個別規格の規定に
よる。
周波数範囲：… Hz〜… Hz
振幅：0.75 mm又は加速度100
m/s2（いずれか緩い方）
総試験時間：6 h
9
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
表4−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）c)
要求事項a)
群1B（続き）
D
表3による。
4.10.3 中間測定
外観
異常がない。
4.11 バンプ
（又は4.12衝撃）
取付方法は，個別規格の規定に
よる。
バンプ回数：…
ピーク加速度：… m/s2
作用時間：… ms
4.12 衝撃
（又は4.11バンプ）
取付方法は，個別規格の規定に
よる。
ピーク加速度：… m/s2
作用時間：… ms
4.11.4又は4.12.4
最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.12.4による。
群1
D
表3による。
4.13 一連耐候性
特殊な前処理は，4.2による。
4.13.3 初期測定
静電容量
4.13.4 高温
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
4.13.5 温湿度サイクル，
試験Db，最初のサイクル
4.13.6 低温
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
外観
異常がない。
4.13.7 減圧（個別規格に
規定がある場合）
気圧：8 kPa
4.13.7.4 中間測定
外観
絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。
4.13.8 温湿度サイクル
（試験Db），
残りのサイクル
後処理：24 h±2 h
4.13.8.4 最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.13.8.4による。
誘電正接
4.13.8.4による。
絶縁抵抗
4.13.8.4による。
群2
D
表3による。
4.14 高温高湿（定常）
特殊な前処理は，4.2による。
4.14.3 初期測定
静電容量
後処理：24 h±2 h
4.14.6 最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.14.6による。
誘電正接
4.14.6による。
絶縁抵抗
4.14.6による。
10
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
表4−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
試験項目a)
D又は
ND b)
試験条件a)
試料数（n）
及び合格判
定数（c）c)
要求事項a)
群3
D
表3による。
4.15 耐久性
特殊な前処理は，4.2による。
試験電圧：… V
試験時間：… h
4.15.3 初期測定
静電容量
後処理：24 h±2 h
4.15.6 最終測定
外観
異常がない。
表示は，明瞭とする。
静電容量
ΔC/Cは，4.15.6による。
誘電正接
4.15.6による。
絶縁抵抗
4.15.6による。
群4
ND
表3による。
4.5 静電容量の温度特
性
特殊な前処理は，4.2による。
ΔC/Cは，4.5.3による。
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は，箇条4による。
b) この表でDは破壊試験，NDは非破壊試験を表す。
c) 合否判定の許容不適合品数を示し，この数を超えない場合を合格とする。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
3.5.1.1
群A及び群B検査
これらの検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
b) 群Aの検査試料は，検査ロットに含まれる定格値（定格電圧及び公称静電容量）及び外形寸法の代表
値で構成する。
− 定格値（定格電圧及び公称静電容量）及び外形寸法の数
− 1組合せ当たり5個以上
副群B2の検査試料は，ロットの中の全温度特性のコンデンサを含む。
c) IEC電子部品品質認証制度（IECQ）の場合は，1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき，製造業者
は，認証機関（CB）の承認を必要とする。
3.5.1.2
群C検査
この検査は，定期的に行う。
試料は，定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので，かつ，公称静電容量の大，中及び小
に分類する。引き続き，次の期間内の試料は，認証範囲を包含するために，別の定格電圧と公称静電容量
とのものを抜取検査する。
3.5.2
試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は，ブランク個別規格
の箇条2の表5による。
11
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10（長期保管後の出荷）に従い，はんだ付け性及び静電容量について群A及び群Bの
再検査を行う。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，表5及び表6から選定するのが望ましい。
表5−ロットごとの品質確認検査
検査副群c)
EZ
IL
n
c
A0
100 % a)
A1
S-4
b)
0
A2
S-3
b)
0
B1
S-3
b)
0
B2
S-2
b)
0
IL＝検査水準
n＝試料数
c＝合格判定数
注a) この検査は，工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で
ある。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するために，抜取試料を全
て検査する。抜取水準は，製造業者が選定する。その場合JIS C 5005-2の附属書A［信頼水準60 %
における100万個当たりの不適合品率（ppm）で示す統計的工程品質限界（SVQL）の推定］によ
ることが望ましい。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には，このロットは不合格とす
るが，品質水準を算出するために，不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は，JIS C
5005-2の6.2（SVQLの算出）に規定する方法によって，累積した検査データから算出する。
b) 試料数（n）は，JIS C 5005-2の4.3.2（なみ検査による抜取検査方式）によって決定する。
c) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
表6−定期的品質確認検査
検査副群a)
EZ
p
n
c
C1A
6
9
0
C1B
6
18
0
C1
6
27
0
C2
6
15
0
C3
3
15
0
C4
12
9
0
p＝周期（月）
n＝試料数
c＝合格判定数
注a) 検査副群の内容は，関連するブランク個別規格の箇条2による。
4
試験及び測定手順
4.1
一般
この箇条は，JIS C 5101-1の箇条4（試験及び測定手順）に規定する事項を補足する。
4.2
特殊な前処理
前処理を適用する項目で，個別規格に条件の規定がない場合は，この特殊な前処理を試験前又は試験に
12
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
続いて行う。コンデンサをカテゴリ上限温度又は個別規格に規定する高温度に1時間放置し，その後，標
準状態に24時間±1時間放置する。
注記 種類2のコンデンサは，時間経過に従い静電容量が指数的に減少するものである（これをエー
ジングという。）。ただし，誘電体のキュリー点以上の温度で熱した場合（ディエージング），失
われた静電容量が回復し増加する。コンデンサは，再度冷やされたときからエージングが始ま
る。
特殊な前処理を行うことは，コンデンサの前歴の影響を与えない状態にすることを目的とし
ている（詳細はA.4参照）。
4.3
外観及び寸法
外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4（外観検査及び寸法検査）による。
4.4
電気的試験
4.4.1
静電容量
4.4.1.1
一般
静電容量は，JIS C 5101-1の4.7（静電容量）によるほか，4.4.1.2及び4.4.1.3による。
4.4.1.2
測定条件
測定条件は，表7によるほか，次による。
表7−測定条件
サブクラス
測定電圧
判定電圧a)
2B，2C，2X
1.0 V±0.2 V
1.0 V±0.02 V
2D，2E，2F，2R
0.3 V±0.2 V
又は個別規格の規定による。
0.3 V±0.02 V
又は個別規格の規定による。
注a) 判定電圧は，測定結果に疑義が生じた場合に適用する。
− 測定周波数：公称静電容量が100 pF未満の場合の測定周波数は，個別規格に規定がない場合は，1
MHzとする。公称静電容量が100 pF以上の場合の測定周波数は，1 kHz±20 %とする。
4.4.1.3
要求事項
静電容量の値は，公称静電容量値に対して，規定の許容差内とする。静電容量値の判定は，個別規格に
規定がない場合，1 000時間のエージング後を想定して行う（附属書A参照）。
1 000時間以外のエージングを適用する場合には，静電容量値の判定は，個別規格に規定してもよい。
4.4.2
誘電正接（tan δ）
4.4.2.1
一般
誘電正接は，JIS C 5101-1の4.8［誘電正接（損失角の正接）及び等価直列抵抗（ESR）］によるほか，
4.4.2.2〜4.4.2.4による。
4.4.2.2
測定条件
測定条件は，4.4.1による。
4.4.2.3
確度
測定装置の確度は，測定誤差が1×10−3以下とする。
4.4.2.4
要求事項
誘電正接は，0.035以下又は，個別規格に規定する値以下とする。
13
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
4.4.3
絶縁抵抗（Ri）
4.4.3.1
一般
絶縁抵抗は，JIS C 5101-1の4.5（絶縁抵抗）によるほか，4.4.3.2及び4.4.3.3による。
4.4.3.2
測定条件
測定条件は，JIS C 5101-1の4.5.2（測定条件）によるほか，次による。
定格電圧が100 V未満の場合の測定電圧は，定格電圧以下とする。判定に疑義が生じた場合の測定電圧
は，定格電圧とする。
電圧は，規定の電圧を直接印加し，品質認証試験及び定期的品質確認検査（群C）では，60秒±5秒間
後の値を測定する。また，ロットごとの品質確認検査（群A）では，絶縁抵抗の値が規定値を超えた時点
で判定し，時間を短縮してもよい。
電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は，個別規格に規定がない場合は，1秒以下とする。
充電電流は，0.05 A以下とする。
絶縁抵抗（Ri）は，1分間後に測定する。
4.4.3.3
要求事項
絶縁抵抗（Ri）は，表8に規定する要求事項を満足しなければならない。
表8−絶縁抵抗の要求事項
形状
測定箇所
CN≦25 nF
CN＞25 nF
Ri
Ri×CN
絶縁形
1a及び1c
≧4 000 MΩ
≧100 s
非絶縁形
1a
4.4.4
耐電圧
4.4.4.1
一般
耐電圧は，JIS C 5101-1の4.6（耐電圧）によるほか，4.4.4.2〜4.4.4.4による。
4.4.4.2
試験条件
電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は，1秒以下とする。
充電電流は，0.05 A以下とする。
4.4.4.3
試験電圧
表9の試験電圧を，JIS C 5101-1の表3（測定箇所）に規定する測定箇所に印加し，品質認証試験及び定
期的品質確認検査では1分間，ロットごとの品質確認検査では1秒間の印加時間とする。
表9−試験電圧
タイプ
定格電圧
V
試験電圧
V
リード付き積層磁器
コンデンサ
UR≦100
2.5 UR
100＜UR≦200
1.5 UR＋100
200＜UR≦500
1.3 UR＋100
500＜UR
1.3 UR
その他
UR≦500
2.5 UR
UR＞500
1.5 UR＋500
注記 定格電圧が500 Vを超える場合の試験C（端子外装間）の試験
電圧は，1.5 UR＋500 V又は個別規格の要求事項に従っている。
14
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
4.4.4.4
要求事項
試験中に絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。
4.5
静電容量の温度特性
4.5.1
特殊な前処理
特殊な前処理は，4.2による。
4.5.2
測定条件
測定条件は，JIS C 5101-1の4.24.1.2（試験手順）及び4.24.1.3（測定方法）によるほか，表10による。
表10−測定条件の詳細
測定段階
温度
℃
直流電圧（UR）の印加
1
20±2
−
2
TA a)±3
−
3
20±2
−
4
TB b)±2
−
5
TB b)±2
×
6
20±2
×
7
TA a)±3
×
8
20±2
−
注記1 “−”は，直流電圧の印加なしを表す。
“×”は，直流電圧の印加を表す（個別規格に規定する場合）。
注記2 中間の温度の測定値は，2.2.5を満足するものとする。
注記3 基準となる静電容量値は，測定段階3での測定値である。
注記4 4.2の注記に記載する影響のため，測定段階5〜7での直流電圧印加時の測定値は，時間に依
存するということである。この時間依存性を含め規定する静電容量変化内とする。測定段階
1及び8の静電容量の変化は，経時変化に伴う値を示す。直流電圧印加時の測定結果に疑義
が生じた場合は，測定段階5及び7での保持時間［温度安定（熱平衡）に達する時間］を決
めておくことを推奨する［測定方法は，JIS C 5101-1の4.24.1.3（測定方法）参照］。
注a) TA＝カテゴリ下限温度
b) TB＝カテゴリ上限温度
4.5.3
要求事項
静電容量の変化は，JIS C 5101-1の4.24.3.1（静電容量の温度特性）によって算出する。
直流電圧を印加した場合及び印加しない場合の温度特性は，表2に規定する要求事項を満足しなければ
ならない。
4.6
端子強度
端子強度は，JIS C 5101-1の4.13（端子強度）による。
4.7
はんだ耐熱性
4.7.1
一般
はんだ耐熱性は，JIS C 5101-1の4.14（はんだ耐熱性）によるほか，4.7.2〜4.7.5による。
4.7.2
特殊な前処理
特殊な前処理は，4.2による。
4.7.3
初期測定
静電容量を4.4.1に従って測定する。
15
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
4.7.4
後処理
後処理は，24時間±2時間放置とする。
4.7.5
最終測定及び要求事項
コンデンサの外観検査を行い，外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
静電容量を4.4.1に従って測定し，その変化は表11に規定する要求事項を満足しなければならない。
表11−最大静電容量変化
サブクラス
要求事項
2B，2C及び2X
±10 %
2D及び2R
±15 %
2E及び2F
±20 %
注記 サブクラスの記号は，2.2.5による。
4.8
はんだ付け性
4.8.1
一般
はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15（はんだ付け性）によるほか，4.8.2及び4.8.3による。
4.8.2
試験条件
はんだ小球法を適用する場合は，個別規格に規定する。はんだ槽法及びはんだ小球法のいずれも適用で
きない場合は，はんだこて法（はんだこて寸法A）で試験する。
4.8.3
最終測定及び要求事項
目視検査で，はんだが良好に付着していることを端子部がはんだにぬれていることによって確認する。
ただし，平衡法の場合は，個別規格の規定による。
4.9
温度急変
4.9.1
一般
温度急変は，適用する場合，JIS C 5101-1の4.16（温度急変）によるほか，4.9.2〜4.9.5による。
4.9.2
特殊な前処理
特殊な前処理は，4.2による。
4.9.3
初期測定
静電容量を4.4.1に従って測定する。
4.9.4
試験条件
サイクル数は，5サイクルとする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に放置する時間は，30分間とする。
4.9.5
後処理
コンデンサを，24時間±2時間放置とする。
4.10 振動
4.10.1 一般
振動は，JIS C 5101-1の4.17（振動）によるほか，4.10.2及び4.10.3による。
4.10.2 試験条件
試験Fcの厳しさは，次による。
振幅0.75 mm又は加速度100 m/s2のいずれか緩い方で，周波数は，次のうち一つとする。
10 Hz〜55 Hz，10 Hz〜500 Hz，10 Hz〜2 000 Hz
16
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
試験時間は，6時間とする。
個別規格に，周波数範囲及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）
のコンデンサで，リード線端子だけで取り付ける場合，本体と取付点との距離を6 mm±1 mmとする。
4.10.3 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.11 バンプ（繰返しのある衝撃）
4.11.1 一般
バンプは，JIS C 5101-1の4.18（バンプ）によるほか，4.11.2〜4.11.4による。
個別規格に，バンプ（繰返しのある衝撃）又は繰返しのない衝撃のいずれで試験するかを規定する。
注記 ここで引用しているJIS C 5101-1の2010年版では，バンプの試験手順で“JIS C 60068-2-29（環
境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法）に規定する試験Ebを行う。”とあるが，JIS C
60068-2-29は廃止され，JIS C 60068-2-27［環境試験方法−電気・電子−第2-27部：衝撃試験
方法（試験記号：Ea）］へ移行されている。
4.11.2 初期測定
適用しない。
4.11.3 試験条件
個別規格には，次の推奨する厳しさのいずれかを規定する。
バンプ合計回数： 1000 又は4 000
ピーク加速度 ：
400 m/s2
100 m/s2
又は
パルス作用時間：
6 ms
16 ms
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデン
サで，リード線端子だけで取り付ける場合，本体と取付点との距離を6 mm±1 mmとする。
4.11.4 最終測定及び要求事項
コンデンサは，外観及び電気的性能を測定し，4.12.4に規定する要求事項を満足しなければならない。
4.12 衝撃（繰返しのない衝撃）
4.12.1 一般
衝撃は，JIS C 5101-1の4.19（衝撃）によるほか，4.12.2〜4.12.4による。
個別規格に，繰返しのない衝撃又はバンプ（繰返しのある衝撃）のいずれで試験するかを規定する。
4.12.2 初期測定
適用しない。
4.12.3 試験条件
試験条件は，表12に規定する推奨する厳しさのいずれかを個別規格に規定する。
パルス波形は，正弦半波とする。
表12−繰返しのない衝撃試験の推奨する厳しさ
ピーク加速度
m/s2
作用時間
ms
300
18
500
11
1000
6
17
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデン
サで，リード線端子だけで取り付ける場合，本体と取付点との距離を6 mm±1 mmとする。
4.12.4 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
静電容量を4.4.1に従って測定し，その変化は，表13に規定する要求事項を満足しなければならない。
表13−最大静電容量変化
サブクラス
要求事項
2B，2C及び2X
±10 %
2D及び2R
±15 %
2E及び2F
±20 %
注記 サブクラスの記号は，2.2.5による。
4.13 一連耐候性
4.13.1 一般
一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21（一連耐候性）によるほか，4.13.2〜4.13.8による。
4.13.2 特殊な前処理
特殊な前処理は，4.2による。
4.13.3 初期測定
静電容量を4.4.1に従って測定する。
4.13.4 高温
高温は，JIS C 5101-1の4.21.2（高温）による。
4.13.5 温湿度サイクル（試験Db），最初のサイクル
温湿度サイクルの最初のサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.3［温湿度サイクル（試験Db），最初のサイク
ル］による。
4.13.6 低温
低温は，JIS C 5101-1の4.21.4（低温）によるほか，次による。
コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.13.7 減圧
4.13.7.1 一般
減圧は，JIS C 5101-1の4.21.5（減圧）によるほか，4.12.7.2〜4.12.7.4による。
4.13.7.2 試験条件
試験は，個別規格に規定する場合に適用し，温度15 ℃〜35 ℃，気圧8 kPaで行う。試験時間は1時間
とする。
4.13.7.3 試験手順
規定の気圧に到達した後，直ちに定格電圧（UR）を1分〜2分間印加する。
4.13.7.4 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.13.8 温湿度サイクル（試験Db），残りのサイクル
4.13.8.1 一般
温湿度サイクルの残りのサイクルは，JIS C 5101-1の4.21.6［温湿度サイクル（試験Db），残りのサイク
18
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
ル］によるほか，4.13.8.2〜4.13.8.4による。
4.13.8.2 試験条件
試験条件を，表14に示す。
電圧は，印加しない。
表14−温湿度サイクル，残りのサイクル数
耐候性カテゴリ
残りの24時間のサイクル数
−/−/56
5
−/−/21
1
−/−/10
1
−/−/04
0
4.13.8.3 後処理
コンデンサを，24時間±2時間放置とする。
4.13.8.4 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
コンデンサの電気的性能を測定し，表15に規定する要求事項を満足しなければならない。試験後の静電
容量値が規定の最低値よりも低い場合は，その他の性能を測定後に4.2に規定する特殊な前処理を行い，
その後に静電容量を再測定したとき，表15に規定する要求事項を満足しなければならない。
表15−最終測定及び要求事項
測定項目
測定条件
要求事項
サブクラス
2B，2C，2X
サブクラス
2D，2R
サブクラス
2E
サブクラス
2F
静電容量
4.4.1
ΔC/C≦±10 %
ΔC/C≦±15 %
ΔC/C≦±20 %
ΔC/C≦±30 %
誘電正接
4.4.2
4.4.2.3での規定値の2倍以下
絶縁抵抗
4.4.3
Ri≧1 000 MΩ又はRi×CN≧25 s
（いずれか小さい方）
注記 サブクラスの記号は，2.2.5による。
4.14 高温高湿（定常）
4.14.1 一般
高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22［高温高湿（定常）］によるほか，4.14.2〜4.14.6による。
4.14.2 特殊な前処理
特殊な前処理は，4.2による。
4.14.3 初期測定
静電容量を4.4.1に従って測定する。
4.14.4 試験条件
個別規格に規定がない場合は，電圧は印加しない。
試験の厳しさは，表16及び個別規格に規定する試験条件から選定することが望ましい。
試験期間は，2.1に従って選定することが望ましく，個別規格に規定する。
19
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
表16−高温高湿（定常）の試験条件
厳しさ
温度
℃
相対湿度
%
1
＋85±2
85±3
2
＋60±2
93±3
3
＋40±2
93±3
電圧印加が規定されている場合は，試料の半数は定格電圧を印加し，その他の半数は印加しない。
4.14.5 後処理
コンデンサを，24時間±2時間放置する。
4.14.6 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
コンデンサの電気的性能を測定し，表17に規定する要求事項を満足しなければならない。試験後の静電
容量値が規定の最低値よりも低い場合は，その他の性能を測定後に4.2に規定する特殊な前処理を行い，
その後に静電容量を再測定したとき，表17に規定する要求事項を満足しなければならない。
注記 対応国際規格には，表16となっていたが，明らかな誤記のため，表17に修正した。
表17−最終測定及び要求事項
測定項目
測定条件
要求事項
サブクラス
2B，2C，2X
サブクラス
2D，2R
サブクラス
2E
サブクラス
2F
静電容量
4.4.1
ΔC/C≦±10 %
ΔC/C≦±15 %
ΔC/C≦±20 %
ΔC/C≦±30 %
誘電正接
4.4.2
4.4.2.3での規定値の2倍以下
絶縁抵抗
4.4.3
Ri≧1 000 MΩ又はRi×CN≧25 s
（いずれか小さい方）
注記 サブクラスの記号は，2.2.5による。
4.15 耐久性
4.15.1 一般
耐久性は，JIS C 5101-1の4.23（耐久性）によるほか，4.15.2〜4.15.6による。
4.15.2 特殊な前処理
特殊な前処理は，4.2による。
4.15.3 初期測定
静電容量を4.4.1に従って測定する。
4.15.4 試験条件
試験条件を，表18に示す。
表18−耐久性試験条件
タイプ
温度
定格電圧
V
試験電圧
V
時間
h
リード付き積層セラ
ミックコンデンサ
カテゴリ上限温度
UR≦200
1.5 UR
1 000
200＜UR≦500
1.3 UR
1 500
500＜UR
1.2 UR
2 000
その他
カテゴリ上限温度
UR
1.5 UR
1 000
20
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
4.15.5 後処理
コンデンサを，24時間±2時間放置する。
4.15.6 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく，表示は明瞭でなければならない。
コンデンサの電気的性能を測定し，表19に規定する要求事項を満足しなければならない。試験後の静電
容量値が規定の最低値よりも低い場合は，その他の性能を測定後に4.2に規定する特殊な前処理を行い，
その後に静電容量を再測定したとき，表19に規定する要求事項を満足しなければならない。
注記 対応国際規格には，表18となっていたが，明らかな誤記のため，表19に修正した。
表19−最終測定及び要求事項
測定項目
測定条件
要求事項
サブクラス
2B，2C，2X
サブクラス
2D，2R
サブクラス
2E
サブクラス
2F
静電容量
4.4.1
ΔC/C≦±20 %
ΔC/C≦±20 %
ΔC/C≦±20 %
ΔC/C≦±30 %
誘電正接
4.4.2
4.4.2.3での規定値の2倍以下
絶縁抵抗
4.4.3
Ri≧2 000 MΩ又はRi×CN≧50 s（いずれか小さい方）
注記 サブクラスの記号は，2.2.5による。
4.16 部品の耐溶剤性
部品の耐溶剤性は，適用する場合，JIS C 5101-1の4.31（部品の耐溶剤性）による。
4.17 表示の耐溶剤性
表示の耐溶剤性は，適用する場合，JIS C 5101-1の4.32（表示の耐溶剤性）による。
21
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
附属書A
（参考）
固定磁器コンデンサ種類2の静電容量エージング
A.1 一般事項
磁器コンデンサ種類2の磁器誘電体は，強誘電体特性をもち，キュリー温度（Curie temperature）をもつ。
このキュリー温度を超える高温では，立方晶形構造を示し，キュリー温度未満では非対称結晶構造となる。
単結晶ではこの晶形の移行が急激であるのに対し，実際の誘電体は，ある温度範囲内では緩やかに移行す
る。この移行は，静電容量対温度カーブのピークと関連している。
熱振動の影響で結晶中のイオンは，誘電体がキュリー温度未満で冷却されてから，長時間継続的により
低いポテンシャルエネルギーに移行する。静電容量のエージング現象は，このようにして起こり，これに
よってコンデンサの静電容量が連続的に減少する。ただし，コンデンサをキュリー温度を超える温度で熱
すると，例えば，エージングで減少した静電容量が回復し，脱エージングが起こる。コンデンサが冷やさ
れると，そのときから，エージングが再度始まる。
A.2 静電容量エージングの法則
キュリー温度未満まで冷却した最初の1時間は，静電容量の減少を定義することはできないが，この時
間以降は，静電容量は対数的に減少することからこれをエージング定数として表すことができる（K.W.
Plessner, Proc. Phys. Soc., vol. 69B, p1261, 1956参照）。
エージング定数kは，対数目盛の1ディケード，例えば，1時間から10時間までと10倍の時間経過で
のエージングによる静電容量の減少を，百分率で定義する。
静電容量の減少の規則が対数的となることから，静電容量の変化率は，1時間から100時間までは2k，1
時間から1 000時間までは3kとなる。このことは次の式で表すことができる。
−
=
t
k
C
C
log
100
1
1
t
ここに，
Ct： エージング開始t時間後の静電容量
C1： エージング開始1時間後の静電容量
k： エージング定数
t： エージング経過時間
エージング定数は，それぞれの磁器誘電体について製造業者が提示するか，又はコンデンサの脱エージ
ング後の2点の経過時間での静電容量を測定することによって求めるかの，いずれでもよい。
エージング定数kは，次の式によって算出する。
(
)
1
t2
2
t1
t2
t1
log
log
100
t
C
t
C
C
C
k
−
−
=
静電容量の測定を経過時間の3点以上で行った場合は，log tに対してプロットしたCtのグラフの傾斜か
らエージング定数kを求めることができる。
エージング中のコンデンサの測定は，温度特性による静電容量の変化が測定に悪影響を与えることを避
けるために一定の温度に保持して行う。
22
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
A.3 静電容量の測定及び静電容量許容差（4.4.1参照）
エージング特性があるため，静電容量許容差に標準エージング時間を規定する必要があり，1 000時間と
定めている。これは，1 000時間以上での静電容量の減少は小さいためである。
1 000時間後の静電容量C1 000を算出するには，エージング定数は既知であるか，又はA.2によって求め
ておく必要があり，次の式を用いて計算できる。
(
)
−
−
=
t
k
C
C
log
3
100
1
t
000
1
製造業者の検査測定時には，1 000時間後の容量減少量が計算可能なため，検査時にこの容量減少分を補
正した検査用の容量許容基準を用いることで，標準エージング時間での静電容量許容差に対応した検査を
行うことができる。例えば，静電容量の減少が5 %と既知のとき，規格値が±20 %の場合では，それに代
わって−15 %〜＋25 %で検査してもよい。
静電容量は，通常20 ℃での値を用いるため，20 ℃で測定するか，又はこの温度の値に補正する必要が
ある。手を通して伝わる温度によって誤差が生じるので，コンデンサは常にピンセットで取り扱うことが
望ましい。
A.4 特殊な前処理条件（4.2の注記参照）
この規格の中の試験の多くは，与えられた条件（例えば，一連耐候性）によって生じる静電容量変化を
測定する。エージングによる悪影響を避けるために，判定前にコンデンサはカテゴリ上限温度に1時間放
置し，引き続いて標準状態で24時間放置するという，特殊な前処理を行う。
これによって，カテゴリ上限温度未満のキュリー点をもつコンデンサに脱エージングを起こし，引き続
き24時間のエージングを行うわけである。これによってエージングによる静電容量値の変化とばらつきを
最小にできる。
熱処理の脱エージングで静電容量が回復することもあるので，その後の24時間のエージングによって，
製造後からの静電容量変化を実用上，最小限とみなすことができる。
誘電体のキュリー温度がカテゴリ上限温度よりも高い場合，この特殊な前処理条件ではコンデンサの完
全な脱エージングを行うことができないが，処理されたコンデンサの静電容量値は過去の来歴を事実上受
けない状態とすることができるため，エージングによる悪影響を避けるという目的に対して完全な脱エー
ジングと同じ効果が達成される。
このようなコンデンサを完全に脱エージングするためには最大160 ℃の放置温度が必要な場合があり，
この温度が外装樹脂に悪影響を与えることがある。したがって，コンデンサを完全に脱エージングする必
要がある場合は，個別規格に詳細事項及び必要な注意事項を考慮して規定する。
23
C 5101-9：2018 (IEC 60384-9：2015)
参考文献 JIS C 5101-14 電子機器用固定コンデンサ−第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コ
ンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 60384-14，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:
Sectional specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains（IDT）
JIS C 5101-22 電子機器用固定コンデンサ−第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コ
ンデンサ 種類2
注記 対応国際規格：IEC 60384-22，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 22:
Sectional specification−Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric,
Class 2（IDT）
K.W. Plessner: Ageing of the Dielectric Properties of Barium Titanate Ceramics, Proceedings of the
Physical Society, Section B, Volume 69, Issue 12, p.1261 to 1268 (1956)