JISC5401-3-001:2005 電子機器用コネクタ－第３－００１部：角形コネクタ－品質評価付

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日

本工業規格である。

制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 61076-3-001:1999，Connectors for

use in d.c.， low-frequency analogue and digital high-speed applications−Part3-001:Rectangular connectors with

assessed quality−Blank detail specficationを基礎として用いた。

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。

JIS C 5401-3-001には，次に示す附属書がある。

附属書A（規定）新規試験及び追加試験設備段階

JIS C 5401の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 5401-1 第1部：品目別通則−能力認証

JIS C 5401-2 第2部：品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-2 第2-001部：丸形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-3 第3部：品種別通則−角形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-3 第3-001部：角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-4 第4部：品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-4 第4-001部：プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-5 第5部：品種別通則−インラインソケット−品質評価付（予定）

JIS C 5401-5 第5-001部：インラインソケット−品質評価付−ブランク個別規格（予定）

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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ページ

序文 ··································································································································· 1

1. 一般情報 ························································································································ 3

1.1 適用範囲 ······················································································································ 3

1.2 推奨する取付方法 ·········································································································· 3

1.3 定格及び特性 ················································································································ 3

1.4 引用規格 ······················································································································ 4

1.5 表示 ···························································································································· 4

1.6 形名 ···························································································································· 6

1.7 発注情報 ······················································································································ 6

2. 技術情報 ························································································································ 8

2.1 定義 ···························································································································· 8

2.2 形状（Style）及び類似品（Variant）の調査 ········································································· 8

2.3 使用に関する情報 ·········································································································· 8

2.4 コンタクトアレンジメント ····························································································· 10

3. 寸法情報 ······················································································································· 12

3.1 一般事項 ····················································································································· 12

3.2 等角投影図及び共通の機構 ····························································································· 12

3.3 総合情報 ····················································································································· 16

3.4 固定形コネクタ ············································································································ 16

3.5 可動形コネクタ ············································································································ 18

3.6 アクセサリ ·················································································································· 18

3.7 固定形コネクタに関する取付情報····················································································· 18

3.8 可動形コネクタに関する取付情報····················································································· 20

3.9 ゲージ ························································································································ 20

4. 特性 ····························································································································· 24

4.1 耐候性カテゴリ ············································································································ 24

4.2 電気的特性 ·················································································································· 24

4.3 機械的特性 ·················································································································· 26

5. 試験計画 ······················································································································· 30

5.1 一般 ··························································································································· 30

5.2 試験計画 ····················································································································· 32

6. 品質評価手順 ················································································································· 50

6.1 品質認証試験 ··············································································································· 50

6.2 品質確認試験 ··············································································································· 52

6.3 定期試験 ····················································································································· 54

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日本工業規格 JIS

C 5401-3-001：2005

(IEC 61076-3-001：1999)

電子機器用コネクタ−

第3-001部：角形コネクタ−品質評価付−

ブランク個別規格

Connectors for use in d.c.,low-frequency analogue and digital high-speed

applications−Part 3−001: Rectangular connectors with assessed quality−

Blank detail specification

序文この規格は，1999年に第1版として発行されたIEC 61076-3-001，Connectors for use in d.c.，

low-frequency analogue and digital high-speed applications-Part3-001:Rectangular connectors with assessed

quality-Blank detail specficationを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工

業規格である。

なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格このブランク個別規格は，品種別通則 JIS C 5401-3の補足規格であり，角形コネクタ

の個別規格のブランク様式及び手引きを備え，個別規格の表現を統一するために用いる。

なお，個別規格は，品目別通則−能力認証 JIS C 5401-1及び品種別通則−角形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-3に基づいたブランク個別規格を用いて作成する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

次頁に個別規格に関する推奨レイアウトを示す。この頁には，個別規格の冒頭頁に記載することが望ま

しい情報についての手引を，適宜，記載する（IEC Guide 102 参照）。

適用範囲及び個別規格の定義については，JIS C 5401-1の1.2.3による。

個別規格の冒頭頁となるこの規格の次頁の表にある括弧内の番号は，次に示す情報と対応している。

個別規格の識別

(1) 個別規格案を管理する国内標準化機関の名称。

(2) 個別規格の日本工業規格（以下，JISという。）番号及び発効年

(3) 品目別通則のJIS番号及び発効年

(4) ブランク個別規格のJIS番号及び版

コネクタの識別

(5) コネクタ形式についての要約説明

(6) コネクタの代表的な構造を示す情報（例当該コネクタがプリント配線板の取付けに適しているか否

かを明記する。）

(7) コネクタを明確に識別しうる外形図（等角投影図又は同様な投影図が望ましい。）

(8) 個別規格書に規定する性能水準及び評価水準に関する情報

(9) 異なる形式のコネクタについて対比ができる最重要特性に関する参考データ

備考これらの情報の中には，表形式にすると都合のよいものがある。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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(1)

個別規格番号
(2)

品目別通則番号
（電子部品品質評価用）
(3)

ブランク個別規格番号
(4)

外形図
(7)

製品説明
(5)

(6)

(8)
性能水準：
評価水準：
性能水準と評価水準との組合せ：

(9)この個別規格で認証された部品の入手に関する情報を品質認証電子部品一覧表に示す。

1. 一般情報

1.1

適用範囲この規格は，JIS C 5401-3を品種別通則とするブランク個別規格で，電子及び電子機器に

使用する角形コネクタについて規定する。

備考この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

IEC 61076-3-001:1999，Connectors for use in d.c.，low-frequency analogue and digital high-speed data

applications - Part 3-001: Rectangular connectors with assessed quality - Blank detail specification

(IDT)

1.2

推奨する取付方法機械構造物にこれらのコネクタを使用する場合の手引きは，JIS C 6010の附属

書Aによる。

1.2.1

コンタクト数又はコンタクトキャビティ数

1.3

定格及び特性

定格電圧

70℃での定格電流

絶縁抵抗

耐候性カテゴリ

コンタクトスペーシング

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

1.6

形名この形名は，JIS C 5401-4の2.5（形名）に従って決定する。

例：

JISC540131XX L N N N L N L

個別規格番号

コネクタ形状を
表す文字

コンタクト数
又は
コンタクトキャビティ数

コンタクト形式
又は
コンタクト列を表す文字

コンタクトアレンジメントを表す数字
（ 3文字で表す場合もある）

1.7

発注情報この個別規格に従ってコネクタを発注する場合は，1.6に規定した形名を用いる。

−

001

002

…

999

評価水準を表す文字

性能水準を表す数字

ターミネーションの任意

の拡張を表す数字

ターミネーションの基本形式を
表す文字

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

2. 技術情報個別規格には，コネクタの適切な使用に役立つ情報を規定する。個別規格をより深く理解

するため更に詳細な情報も規定する。

2.1

定義個別規格で用いる用語は，JIS C 5401-3の2.1（定義）に規定の用語であり，規定するコネク

タに特有な用語の定義は，個別規格に規定することを推奨する。

2.2

形状（Style）及び類似品（Variant）の調査個別規格がある範囲の形状及び／又は類似品に対して

適用する場合には，その範囲にある調査結果を表形式で個別規格に規定する。表1は，形状及び類似品の

規定に適用する場合は，追加及び／又は代替の詳細を含めるために修正してもよい。

備考個別規格で用いる表は一連番号にする。この規格における番号付けは，事例である。

2.3

使用に関する情報必要とする場合，コネクタの使用に関する規則及び推奨事項，寸法情報が3.に

十分に規定されていない場合には，個別規格に次の事項を規定する。

2.3.1

部品を完全に備えたコネクタ（対）

2.3.2

固定形コネクタ

2.3.3

可動形コネクタ

備考可動形コネクタの分類には，可動形カプラコネクタを含む。これらのコネクタは，カップリン

グ又はラッチング機構をコネクタの必す部品としてもつ。カップリング機構の情報は，必要に

応じて2.，3.及び5.に規定する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

2.3.4 アクセサリコネクタを使用する上でアクセサリを必要とする場合は，その特徴と使用法の概要を，

個別規格に，適宜，規定する。

2.3.4.1

特殊コンタクト個別規格に規定するコンタクトと一緒に特殊コンタクトを使用する場合は，特

殊コンタクトに関する情報は，これらの特殊コンタクトに関する個別規格が未発行である旨の事実を示し

た上で，“参考用”として規定する。

通常特殊コンタクトとは，高電流，高電圧，高周波，フィルタ又は光ファイバ用のリムーバブルコンタ

クトをいう。

2.3.4.2

コーディングデバイスコネクタにとって必す部品ではないコーディングデバイスを使用する

場合は，個別規格に個々の情報を記載する。

2.3.4.3

取付用デバイスコネクタにとって必す部品ではない取付用デバイスを推奨する場合は，これら

のデバイスに関する情報は，参考のためにだけ個別規格に規定する。

2.3.4.4

シールディリング・グランディングコネクタ又はアクセサリとみなすことのできないシールデ

ィング及び・又はグランディング機構がある場合は，その情報は個別規格に規定する。

2.3.4.5

ターミネーションの基本形式各種のターミネーションがある場合は，それらの使用に関する情

報を，表形式で個別規格に規定する。

より詳細な寸法情報は，個別規格において固定形プリント配線板用コネクタ及び可動形プリント配線板

用コネクタの寸法を記載している箇所に規定してもよい。

固定形配線板用コネクタと可動形配線板用コネクタとのターミネーションに大幅な相違がない場合には，

その情報をこの箇条に規定した方がよい。

2.4

コンタクトアレンジメントコネクタインサートに対して各種のコンタクトの装着が可能で，それ

がコネクタの使用に影響を及ぼす場合は，個別規格にその情報を図面又は表形式で規定する。

これらのアレンジメントは，個別規格の1.5に規定する形名の適切な組合せによって規定する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

3. 寸法情報各種規格の比較を容易にするために，JIS C 5401-1の2.7.1（図面及び寸法）に基づく図面

情報の統一表現を推奨する。

図面及び寸法には，次の事項を含める。

a) 関連コネクタとの共通特性を含む基本設計が分かる等角投影図

b) 固定形コネクタ

c) 可動形コネクタ及び・又はプリント配線板のエッジ

d) 結合情報

e) アクセサリ

固定形コネクタに関する取付情報

g) 可動形コネクタに関する取付情報（適用する場合）

h) アクセサリ付きコネクタに関する取付情報

試験ゲージ，プローブ及び試験パネル

3.1

一般事項オリジナル寸法がミリメートル又はインチであるかを個別規格に規定する。

図面が第一角法又は第三角法で描かれているかを個別規格に規定する。

レタリング方式は， JIS C 5401-1の2.7.1.1（レタリング方式）に規定するとおりとする。

次の文言を個別規格に規定する。

“コネクタの形状は，規定する寸法が影響を受けない場合は，次に示す図面と相違してもよい。”

実行可能な場合は，固定形コネクタと可動形コネクタとの寸法が対応するように同一の図面文字を使用

する。

3.2

等角投影図及び共通の機構等角投影図には，共通の機構を含む設計上の主要特性を盛り込み，ま

たその主要特性を示すことが望ましい（適用する場合）。

寸法参照記号，寸法及び共通の機構に関する規定は，表形式で表すと便利である（表2参照）。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

3.2.1

共通の機構個別規格には，規定するコネクタの形状に関連するすべての共通の機構について規定

したものを含める。

規定可能なデータには，次の事項を含む。

a) データムに対するデータム点又はデータム線

b) 固定形コネクタの取付孔の位置

c) 固定形コネクタのターミネーションの位置

d) 可動形コネクタ又はエッジソケットコネクタの位置

e) 可動形コネクタの取付孔の位置又はエッジソケットコネクタターミネーションの位置

プリント配線板の位置

g) プリント配線板のグリッドの位置

3.2.2

引用方式個別規格には，コネクタ部品のアレンジメント（モジュラー）を可能にするために整

合寸法を規定する。引用方式が機械的構造物に関する指針に基づいている場合は，こうした情報を引用す

ることを推奨する。

3.2.3

高さ寸法多極コネクタ又はコネクタモジュールを，プリント配線板上に取り付ける場合は，バッ

クプレーン及びサブラックのデータム線までの高さ寸法を，個別規格に規定する。

3.2.4

幅寸法機械的構造物の一部である，バックプレーンのデータム線に関連する個々のプリント配線

板の幅の位置決めを示すために，当該幅寸法は，個別規格に規定する。

3.2.5

奥行寸法プリント配線板のエッジの位置又は固定形コネクタと可動形コネクタとの相対位置に

ついては，必要不可欠な情報を提供するために，奥行寸法を個別規格に規定する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

3.3

総合情報制限する因子の詳細は，正しい結合を保証する範囲内で，次に示す寸法データと関連

している。

3.3.1

結合方向規定する接触抵抗値が挿入方向に対して保証される範囲

3.3.1.1

コンタクトの高さ及びシーケンス異なったコンタクト高さ及びそれらのシーケンスに関する

寸法のパラメータ（適用する場合。）

3.3.2

結合方向に対する垂直性心ずれを吸収しうる垂直方向における最大許容変位

3.3.3

傾斜角適切な図面又は表の形で表した縦軸及び横軸に対する最大許容傾斜角

備考明確さが保証される場合は，個別規格には図面を補助的に使ってもよい。

3.4

固定形コネクタ

3.4.1

寸法個別規格には，主要寸法及び関連する幾何公差を示す固定形コネクタの外形図を含める。

寸法を明確にするため，すべての形状，類似品に共通な寸法と形状及び類似品に特有の寸法とに分けて表

として規定してもよい。

コンタクト位置に関する表示の詳細；一列の中は数字及び各列については文字によってコンタクト位置

を図面中に表示する。

3.4.2

ターミネーション個別規格には，該当する場合，ターミネーション長さ，幅，厚さ及び対角線寸

法を含める。

ターミネーションの寸法詳細（長さ，厚さ，対角線など）及びねらいとする用途は，個別規格の1.5

に規定する形名の適切な組合せによって規定することができる。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

3.5

可動形コネクタ

3.5.1

寸法個別規格には，主要寸法及び幾何公差を含む外形図を規定する。

3.5.2

ターミネーション個別規格には，適用するターミネーションの寸法詳細（長さ，幅，厚さ，対角

寸法など）を規定する。

3.6

アクセサリコネクタとともにアクセサリを使用する場合には，主要寸法を記入した外形図を個別

規格に規定する。

アクセサリは，通常，コネクタに取り付けられて供給されるものではないが，選択可能な取付用ハード

ウェア，コーディングデバイス，シールドコンタクト，大電流用コンタクトなどの形態をとる。

アクセサリに関する情報は，コネクタの詳細寸法情報に用いた表と類似した表形式データを盛り込んだ

外形図として表してもよい。

3.7

固定形コネクタに関する取付情報

3.7.1

プリント配線板上の孔パターン個別規格には，コネクタの取付けに必要な取付孔の位置と寸法及

びプリント配線板に必要とする孔パターンを概略図で示す。

図がプリント配線板のいずれの面から見て描かれているかを規定する。

寸法表を必ず規定する。

概略図は，その寸法表示に関して3.4.1で用いたものと同じ寸法基準を使用する。

公差付きの孔寸法を，ターミネーション及び取付孔の両方に関し，適切な幾何公差とともに規定する。

プレスインターミネーション用めっき付スルーホール寸法は，IEC 60352-5による。

寸法表には，記載可能な場所に，3.4.1で用いたものと同じ順序で寸法を規定する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

3.7.2

パネルへの取付け個別規格には，必要とするパネル開口形状及び取付孔の位置と寸法を概略図

で示す。

パネル開口寸法の最小寸法を，取付孔に対するパネル開口の相対位置とともに規定する。

寸法基準が該当する場合は，3.4.1で用いた基準と同一とする。

3.8

可動形コネクタに関する取付情報個別規格には，プリント配線板に必要とする孔パターン及び取

付孔の位置と寸法を概略図で示す。

− 孔パターンとプリント配線板のエッジとの相対関係を明確にする（該当する場合。）。

− 図がプリント配線板のいずれの面から見て描かれているかを記述する。

− 寸法表を必ず規定する。

− 概略図は，その寸法表示に関して 3.5.1で使用したものと同じ寸法基準を使用する。

− 公差付きの孔寸法を，ターミネーション及び取付孔の両方に関し，適切な幾何公差とともに規定する。

− プレスインターミネーション用めっき付スルーホール寸法は，IEC 60352-5による。

− 寸法表を作成し，その表には，記載可能な場所に，3.5.1で用いたものと同じ順序で，寸法を規定する。

3.9

ゲージ

3.9.1

サイジングゲージ及び保持力ゲージ弾性コンタクトのサイジングを行い，保持力を測定するため

に必要なゲージ図面を個別規格に含める。

ゲージ図面には，ゲージの材料，ゲージの最小硬度値，JIS B 0031による表面の肌及び適用する表面仕

上げを規定する（該当する場合）。

寸法及び公差は，摩耗の許容差を考慮して規定する。

サイジングゲージは最大条件を，また，保持力ゲージは，最小条件をシミュレートする。

保持力ゲージの質量を規定する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

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作成の手引き

3.9.2

機械的動作，結合力，離脱力及び挿入力及び引抜力ゲージ該当する場合は，機械的動作試験及び

結合力・離脱力又は挿入力・引抜力を測定するために必要なゲージ図面を個別規格に含める。

ゲージ図面にゲージの材質，JIS B 0031による表面の肌及び適用する表面仕上げを規定する。

ゲージは，公称条件をシミュレートする。

3.9.3

プローブプローブダメージ試験は，めすコンタクトだけに適用する。

試験プローブは，JIS C 5402-1-100 試験16aの要求事項に従って個別規格に規定する。

3.9.4

接触抵抗ゲージエッジソケットコネクタ及びその他のワンパートコネクタの接触抵抗測定は，最

小厚さの銅合金製（又は他の適切な材料）ゲージ又は個別規格に規定する適切なプリント配線板を用いて

行う。

JIS B 0031による表面の条件及び試験するコネクタのコンタクトに対応する適切な表面仕上げを規定す

る。

3.9.5

試験パネル（耐電圧試験用）試験パネルの図面には，パネル開口の最小許容値，取付孔の位置，

サイズ及びパネル厚さを示す。

試験パネルは，適切な表面仕上げが施された導電性材料で製作する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

4. 特性規定する電気的及び機械的基本特性に関する情報を提示するために，試験及び測定の推奨方法

を表にし，必要に応じて追加特性を個別規格に加えてもよい（例試験群HP）。JIS C 5401-4の4.（試験

及び試験計画）参照。

4.1

耐候性カテゴリコネクタの耐候性カテゴリを JIS C 5401-4の 2.2（耐候性カテゴリによる分類）

に従って個別規格に規定する。

個別規格には，耐候性カテゴリに関連した二つ以上の性能水準を含めてもよい。

耐候性カテゴリと性能水準との関係は，次に示す表形式でその詳細を明らかにしてもよい。

表 3 性能水準

性能水準

耐候性カテゴリ

温度

高温高湿（定常）

（日数）

低温

℃

高温

℃

55/125/56

−55

125

25/85/10

−25

4.2

電気的特性

4.2.1

沿面及び空間距離これらのパラメータを，例として，表4に示す。

これらの寸法がコネクタの形状ごとに異なる場合は，その形状に対する参考値を規定する。沿面及び空

間距離の減少がコネクタの使用中に生じる可能性がある場合には，次に示す注記を個別規格に規定する。

使用上の注意事項許容定格電圧は，使用条件又は規定する安全性要求事項に依存する。沿面及び空間距

離は，使用するプリント配線板又は配線によって減少する場合があるので，十分に留

意する。

定格電圧は，動作及び性能特性を参考にコネクタ製造業者が規定した電圧値である。この値を表に追加

してもよい。

4.2.2

耐電圧個別規格に次の事項を規定する。

a) 3.9.5に規定するコネクタの試験パネルへの取付け

b) 適用する試験方法（A，B又はCのいずれか）

c) コンタクト対コンタクト間及びコンタクト対試験パネル間に印加する直流電圧又は交流電圧（実効値）

この情報は，表形式で示してもよい。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

特性

4.1

耐候性カテゴリ

表3 性能水準

性能水準

耐候性カテゴリ

温度

高温高湿（定常）

（日数）

低温

℃

高温

℃

4.2

電気的特性

4.2.1

沿面及び空間距離

表 4 沿面及び空間距離

コネクタの形状及びコンタクト数

形状を表す文字

沿面及び空間距離の最小値

使用に関する情報許容定格電圧は，使用条件又は規定する安全性要求事項に依存する。沿面及び空間距

離は，使用するプリント配線板又は配線によって減少する場合があるので，十分に留意する。

4.2.2

耐電圧試験は，標準大気条件下で，JIS C 5402-1-100 試験4aによる。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

4.2.3

電流容量個別規格には， JIS C 5402-5-2 試験5bの試験手順に従って求めたコネクタ電流容量曲

線を規定する。

試料の準備，ケーブル，電線束の形式及びサイズは，5.1.4に規定のとおりに準備する。

電流容量曲線の代わりに，最大動作温度とともに，電流容量曲線上に規定された温度での電流値を個別

規格に規定してもよい。

周囲温度及び最高温度を含む2点以上の温度が与えられる場合は，軽減値を表形式で示してもよい。

重要な値（例 70 ℃における電流値）を軽減グラフに規定する。

4.2.4

接触抵抗個別規格には，結合したコネクタで測定するか又は3.9.4に規定する接触抵抗ゲージで

測定するかを規定する。

個別規格にmΩ単位で接触抵抗の最大許容値を規定する。初期抵抗，試験後の抵抗及びターミネーショ

ンを含む抵抗を規定する（適用する場合）。測定点は，5.1.1の規定による。

4.2.5

絶縁抵抗個別規格に次に示す事項を規定する。

a) 3.9.5に規定するコネクタの試験パネルへの取付け

b) 適用する試験方法（A，B又はCのいずれか）

c) コンタクト対コンタクト間及びコンタクト対試験パネル間に印加する直流電圧値

d) 初期及び試験後の絶縁抵抗の最小許容値（単位 MΩ）

情報は，適切な順序で番号付けして表形式で示してもよい。

4.3

機械的特性

4.3.1

機械的動作個別規格に次の事項を規定する。

a) 単位時間当たりの動作回数

b) 動作速度

c) 機械的動作回数

d) 休止時間，結合又は非結合（標準の試験方法との相違）

個別規格に動作回数と関連ある二つ以上の性能水準を含める場合は，機械的動作回数と性能水準との関

係は，表にその詳細を示すことによって理解しやすくなる。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

4.3.2

結合力及び離脱力（又は挿入力及び引抜力）個別規格には，次の事項を規定する。

a) 結合力（又は挿入力）の最大許容値

b) 離脱力（又は引抜力）の最小許容値

c) 結合及び離脱の速度

コネクタが結合及び離脱動作を補助する機構をもつ場合は，通常，JIS C 5402-1-100 試験13a（結合力

及び離脱力の測定）を適用する。

ロッキング機構又は類似機構の影響がない状態で測定を実施する場合は，通常，JIS C 5402-1-100 試験

13b（挿入力及び引抜力の測定）を適用する。

個別規格に試験13a又は試験13bのいずれを規定するかは，コネクタの設計による。

4.3.3

インサート内のコンタクト保持通常の使用中に発生する機械的ストレスに耐えるコンタクト保

持機構（存在する場合）の能力を評価するために，コンタクト保持力試験を実施する。

加える力及びその力を除去した後の軸方向の最大変位量を個別規格に規定する。

4.3.4

極性試験誤結合防止機構の能力を評価するため，間違った組合せのコネクタの誤結合を誤結合

防止機構によって防止できるか否かを確認する（適用する場合。）。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

5. 試験計画

5.1

一般基本試験計画，中間試験計画又は全項目試験計画，試験段階番号及び試験の追加に関する指

針は，JIS C 5401-3の4.5（試験計画）による。

5.2による試験群に属する試験段階の順序が，特定の形式又は形状に対して全く適さない場合には，規定

する順序を変更してもよいが［JIS C 5401-3の4.5（試験計画）参照］，その順序については，個別規格に

規定する。

他に規定がない場合は，すべての試験は，JIS C 0010及び JIS C 5402-1の該当する規格に規定する標準

大気条件下で実施する。

個別規格には，コネクタ形状がどの試験順序に適用できるかを規定する。

ほとんどの試験計画は，シェル（ハウジング）がないコネクタには適用できない。

すべての試験順序を実施する上で必要な試料数は，6.1.1の表による。

5.1.1 接触抵抗測定の準備個別規格には，接触抵抗の測定点を示す結合したコネクタの実体図を含める。

5.1.2

動的ストレス試験の準備個別規格には，取付具に対する取付方法，プリント配線板の寸法，電線

クランプの詳細などの実体図を含める。

5.1.3

静的な力（軸方向）試験の準備個別規格には，固定形コネクタの取付方法，試験ツールの寸法及

びコネクタに関連する試験ツールの位置の詳細を規定する。

5.1.4

試料の配線個別規格には，選択された試験方法で絶縁抵抗，耐電圧及び電流容量が実施できるよ

うに試料の配線方法を規定する。電線サイズ（又は定格）及びその絶縁体の種類を規定する。

無はんだによる接続の試験に用いる試料の配線に関しては，個別規格には，IEC 60352の該当する規格

に従ってターミネーションの配線方法を規定する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5. 試験計画

5.1

一般この試験計画には，満足すべき要求事項だけでなく実施する試験及び順序も示す。

他に規定がない場合は，結合したコネクタで試験を実施する。試験順序が完了するまでの間，コネクタ

の特定の組合せを変えないよう注意する（例ある試験に関してコネクタを非結合にする必要がある場合

は，次の試験でも同じコネクタ同士を結合する。）。

以下，結合したコネクタを試料という。

5.1.1

接触抵抗測定の準備試験は，JIS C 5402-1-100 試験2aによる。

接触抵抗の測定は，規定するコンタクト数に対して実施する。以後実施する接触抵抗の測定も，同じコ

ンタクトで行う。

5.1.2

動的ストレス試験の準備試験は，JIS C 5402-1-100 試験6a，試験6b，試験6c又は試験6dによ

る。

5.1.3

静的な力（軸方向）試験の準備試験は，JIS C 5402-1-100 試験8bによる。

5.1.4

試料の配線

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

5.2

試験計画個別規格が二つ以上の性能水準（PL）をもつコネクタに適用できる場合には，異なった

試験の厳しさ・条件及び・又は要求事項を，適切な試験段階の下で，当該試験計画表に記入する。

例：

試験

測定

要求事項

試験
段階

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの

形状

BP5

機械的動作

速度： 2 mm/s以下
休止：結合した状態で
10秒

250回

125回

75回

BP6

5.2.1

基本試験計画基本試験計画を適用する場合は，全項目試験計画と同様に，次に示す試験，厳し

さ・条件を各々の試験段階に適用する。

試験段階

試験1a及び試験1bを適用するため，個別規格には，次の項目を規定する。

− 検査する特性

− ゲージの詳細（適用する場合）

− 測定機器の形式及び測定倍率

− 欠陥の基準

2.1 試験 2.1又は試験 2.2の選択は，コネクタの設計に依存する。

又は

2.2 結合・離脱動作を補助する機構がある場合は，試験 2.1を選択する。この試験に対して最大速度を“A”

と規定する。

2 mm/s がこの測定の現実的な値である。

測定するコンタクト数を“B”と規定する。4.2.4で示すとおり，初期接触抵抗の最大許容値を“C”

と規定する。

4.2.5で定めるとおり，絶縁抵抗を測定するために印加する電圧値を“D”と規定する。適用する試験

方法を“E”，試料当たりのコンタクト数を“F”と規定する。4.2.5で示すとおり，初期絶縁抵抗の許容最

小値を“G”と規定する。

試験方法“H”は，試料当たり“J”コンタクトを試験するために用いる。コンタクト対コンタクト間，

コンタクト対試験パネル間に印加する耐電圧試験電圧を各々“K”及び“L”と規定する。

6.1 該当する場合，他の適切な接続試験を，

又は

6.2 この試験計画の試験群GPのように規定する試験（例 JIS C 5401-4又はIEC 60352で該当する規格

群による試験）に追加するか又は規定する試験と置き代える。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2

試験計画

5.2.1

基本試験計画

表 5 基本試験

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタ形状

一般試験

結合していないコネクタ外観

寸法及び質量

正常な動作を阻害する
欠陥がないこと。
沿面及び空間距離を含
む寸法は各々の規定値
に適合すること。

2.1

2.2

速度“A”mm/s 以下

結合力及び
離脱力
又は
挿入力及び
引抜力

13a

13b

4.3.2参照

4.3.2参照

5.1.1に示す測定点
試料当たりのコンタクト
数“B”

接触抵抗

2a又は2b

“C”mΩ 以下

4.2.4参照

試験電圧“D”V d.c.
試験方法“E”
試料当たりのコンタクト
数“F”

絶縁抵抗

“G”MΩ 以上

4.2.5参照

試験方法“H”
試料当たりのコンタクト
数“J”
コンタクト間“K”V d.c.
又はV r.m.s.
又は
コンタクト対試験パネル
間“L”V d.c.又はV r.m.s.

耐電圧

絶縁破壊又はフラッシ
ュオーバがないこと。

6.1

6.2

はんだ付け
又は
他の適切
な接続方
法

シリーズ

ターミネーシ
ョンを含む
接触抵抗

2a又は2b

4.2.4参照

注(1) コネクタがはんだ付による接続の場合には，適切な試験及び条件をJIS C 5402-1-100から選択する。無はんだによ

る接続の場合には，他の適切な接続試験を本試験計画の試験群GPのように規定する試験（例 JIS C 5401-3又は
IEC60352で該当する規格群による試験）に追加するか又は規定する試験と置き換える。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2.2

本試験計画

5.2.2.1 試験群P−予備試験すべての試料は，次の試験を実施する。

表 6 試験群P

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は

条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの形状

一般試験

試験段階1参照

外観

寸法及び

質量

1a
1b

試験段階1参照

P2(2)

極性試験

13e

加える力 “M” N

試験段階3参照

接触抵抗

試験段階3参照

試験段階4参照

絶縁抵抗

試験段階4参照

試験段階5参照

耐電圧

試験段階5参照

注(2) 適用する場合

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

5.2.2.2

試験群AP−動的・耐候性

AP1.1又はAP1.2

試験段階2.1又は2.2参照。

AP2 この試験は，接触を確実にする弾性機構をもち，丸形おすコンタクトとともに使用する弾性コンタ

クトだけに適用できる。適用する場合は，加える曲げモーメント値を“N”と規定する。

この試験は，試料当たり“P”コンタクトについて実施し，その後にゲージ保持力を測定する。

この試験が適用できない場合でも，ゲージ保持力を測定する。

AP3 はんだ付け性試験は，コネクタのターミネーションの設計に適したはんだ付け工程に基づいて選択

する。

AP3.1 はんだバス法に基づくはんだ接続方法。ターミネーションを溶けたはんだに浸せきするまでの深さ

を“Q”と規定する。

又は，

はんだごてに基づくはんだ接続方法。はんだごてのサイズを“R”とする。

AP3.2 他に“S”秒と規定がない限り，10秒間の浸せき中にはんだ耐熱性試験を実施する。

又は，

サイズ“R”のはんだごてを用いて，はんだ耐熱性試験を実施する。

又は，

AP3.3 基本試験計画の試験段階6.2参照。

AP4 試験段階5参照。

AP5 コンタクトに加える軸方向の力を“T”，その力を除去した（適用する場合）後のコンタクトの許

容変位を“V”と規定する。

この試験の直後に外観検査を実施する。

AP6 試験中に加える加速度を“W”，試験中， 3軸に等分に加えるバンプの総数を“X”と規定する。

ディスターバンスの最大時間を“Y”μsと規定する。

この試験の直後に外観検査を実施し，接触抵抗を測定する（4.2.4参照）。

試料を必要な試験群に分ける（6.1による。）。

各試験群のすべてのコネクタは，関連する試験群のために規定した試験を実施する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2.2.2

試験群AP−動的・耐候性

表 7 試験群AP

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL すべてのコネクタの形状

AP1.1

AP1.2

試験段階2.1参照

試験段階2.2参照

結合力及び
離脱力
又は
挿入力及び
引抜力

13a

13b

4.3.2参照

AP2 (3)

プローブ
ダメージ

16a

曲げモーメント
“N”Nm
試料当たりのコンタク
トの数 “P”

ゲージ保持
力（弾性コ
ンタクト）

16e

試料当たり同じPコン
タクト，ゲージは保持
していること。

AP3.1

AP3.2

AP3.3(4)

はんだ付け性
又は
はんだ耐熱性
又は
未確定

12a又は12b

12d又は12e

未確定

浸せき深さ
“Q”mm
又ははんだごての
サイズ“R”
浸せき時間“S”秒
未確定

外観

試験段階1参照

AP4 (5)

試験段階5参照

耐電圧

試験段階5参照

AP5

インサート内
のコンタクト
保持

15a

軸方向の力“T”N

力を除去した時の
変位の許容量
“V” mm以下

外観

試験段階1参照

AP6

バンプ

“W”m/s2
バンプの総数“X”
試験の準備については
5.1.2による。

コンタクト
ディスター
バンス

ディスターバンスの
時間
“Y”μs以下

外観

試験段階1参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

注(3) 適用する場合（適用できない場合，ゲージ保持力を測定する。）。

(4) 他の適用可能なターミネーション試験は，別な試験順序で規定してもよい。
(5) コンタクトを取り付けた状態で，はんだ付け性試験を行う場合に限り，実施する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

5.2.2.2 試験群AP−動的・耐候性（続き）

AP7 コネクタが受ける周波数範囲の最小値及び最大値を，各々“Z”及び“A1”，変位振幅値及び加速度

振幅値を，各々“B1”及び“C1”と規定する。また，耐久性の場合には，各方向に対する掃引サ

イクル数を“D1”ディスターバンスの最大時間を“Y”μsと規定する。

なお，この試験の直後に外観検査を実施し，接触抵抗を測定する。（4.2.4参照）

AP8 正弦半波パルスの加速度値を“E1”，印加時間を“F1”及びディスターバンスの最大時間を“Y”μs

と規定する。

なお，この試験の直後に外観検査を実施し，接触抵抗を測定する（4.2.4参照）。

AP9 正弦半波パルスの加速度値を“G1”，印加時間を“H1”及びディスターバンスの最大時間を“Y”

μsと規定する。

なお，この試験の直後に外観検査を実施し，接触抵抗を測定する（4.2.4参照）。

AP10 低温カテゴリ及び高温カテゴリの温度を，各々“J1”， “K1”とし，また，各温度での暴露時間

t1＝L1分，低温及び高温の両方に対するサイクル数“M1”も規定する。

なお，この試験の後に，絶縁抵抗，耐電圧及び外観検査を実施する。

AP11 一連耐候性試験は，JIS C 5402-1-100 試験11aに規定するとおりの試験数及び適切な測定方法で構

成し，結合したコネクタで実施する。

AP11.1 高温を“N1”と規定し，また暴露後の絶縁抵抗の最小許容値を 4.2.5に規定する。

AP11.2 この試験の実施温度を“P1”及び，使用する試験条件は“Q1”と規定する。

なお，この試験の後に，外観検査を実施する。

AP11.3 低温を“R1”と規定し，この試験後に，外観検査を実施する。

AP11.4 試験を実施する槽の圧力を“S1”，供試条件の時間（5分以外の場合）を“T1”と規定し，この

試験の後に，耐電圧試験を実施する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2.2.2

試験群AP−動的・耐候性（続き）

表7 試験群AP（続き）

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの形状

AP7

正弦波振動

“Z”Hz 〜“A1”Hz
“B1”mm
“C1”m/s2
全期間，各方向“D1”
サイクル掃引による耐
久性。準備については
5.1.2による。

コンタクト
ディスターバンス

ディスターバンスの
時間
“Y”μs以下

外観

試験段階1参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

AP8

衝撃

正弦半波
“E1”m/s2
“F1”ms

コンタクト
ディスターバンス

ディスターバンスの
時間
“Y”μs以下

外観

試験段階1参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

AP9(6)

加速度

（定常）

正弦半波
“G1”m/s2
“H1”ms

外観

試験段階1参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

AP10

温度急変

11d

“J1”℃ 〜 “K1”℃
“t1＝L1”分，
“M1”サイクル，
結合したコネクタ

絶縁抵抗

試験段階4参照

耐電圧

試験段階5参照

外観

試験段階1参照

AP11

一連耐候性

11a

結合したコネクタ

AP11.1

高温

11i

“N1”℃

高温時の
絶縁抵抗

試験段階4参照

AP11.2

温湿度サイ
クル（最初
のサイク
ル）

11m

“P1”℃
試験条件“Q1”

外観

試験段階1参照

AP11.3

低温

11j

“R1”℃

外観

試験段階1参照

AP11.4

減圧

11k

“S1”kPa
“t2＝T1”分

耐電圧

試験段階5参照

注(6) 適用する場合。

備考試験段階 AP6， AP7及び AP8を実施した後， JIS C 5402-1-100の第14部に規定する封止（気密性）試験も同様に実

施するとよい。

なお，同試験は，プリント配線板用コネクタには適用できないと思われる。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2.2.2 試験群AP−動的・耐候性（続き）

表7 試験群AP (続き)

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの形状

AP11.5

温湿度サイ
クル（残り
のサイク
ル）

11m

“P1”℃
試験条件“Q1”

絶縁抵抗

試験段階4参照

耐電圧

試験段階5参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

AP12.1

AP12.2

試験段階2.1参照

試験段階2.2参照

結合力及び
離脱力
又は
挿入力及び
引抜力

13a

13b

4.3.2参照

AP13

外観

試験段階1参照

5.2.2.3

試験群BP−機械的耐久性

表 8 試験群BP

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの形状

BP1

ゲージ保持
力（弾性コン
タクト）

16e

試験条件については
3.9.1による。
ゲージを保持すること。

BP2

機械的動作
（規定サイ
クル数の半
分）

動作回数“V1”
速度“W1” mm/s
休止時間“X1” 秒

外観

試験段階1参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

絶縁抵抗

試験段階4参照

耐電圧

試験段階5参照

極性試験(7)

13e

4.3.4参照

注(7) BP2終了後に測定する（適用する場合。）。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

5.2.2.3

試験群BP−機械的耐久性（続き）

BP3.1

試験時間をY1（時間）と規定する。

BP3.2

供試条件を適用する期間を“Z1”とする。また，試料は半数を結合とし，残りの半数を非結合

とする。

又は，

BP3.3

試験段階AP11参照。

又は，

BP3.4

供試条件を適用する期間を“B2”と規定する。また，プリント配線板用コネクタの場合は，“A2”

の極性電圧は適用しない。

又は，

BP3.5

試験段階 AP11.5参照。

又は，

BP3.6

試験段階 AP11.1参照。

BP4

試験段階BP2参照。総規定動作回数から試験した動作回数を差し引き，その残りの動作回数を“C2”

と規定する。

BP5

試験段階 AP2参照。

JIS C 5402-1-100 試験16a（プローブダメージ）が適用できない場合には，ゲージ保持力を測定す

る。

BP6

試験を受ける試料数を“D2”，加える力の増加率を“E2”とし，また加える力，力を加えている

時間及び試料の許容する曲がりを，各々“F2”，“G2”及び“H2”と規定する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2.2.3

試験群BP−機械的耐久性（続き）

表8 試験群BP（続き）

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの

形状

BP3

BP3.1

BP3.2

BP3.3

BP3.4

BP3.5

BP3.6

耐候性試験
腐食，
塩水噴霧
又は
混合ガス流
腐食
又は
一連耐候性
又は
高温高湿
（定常）
又は
温湿度サイ
クル
又は
高温

11f

11g

11a

11c

11m

11i

試験時間“Y1”時間

“Z1”日（試料の半分
を結合，残りの半分を
非結合とする。）
AP11参照
配線された試料
極性電圧“A2”V
“B2”日
AP11.5参照

AP11.1参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

BP4

機械的動作
（規定動作
回数の残り
半分）

BP2参照。ただし，
動作回数“C2”

外観

試験段階1参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

絶縁抵抗

試験段階4参照

耐電圧

試験段階5参照

極性試験

13e

4.3.4参照

BP5

プローブ
ダメージ(8)

16a

AP2参照

ゲージ
保持力

16e

AP2参照

BP6

静的な力
（軸方向）

試料数“D2”
準備については 5.1.3
による。
加える力の最大増加率
“E2”N/s
加える力“F2”N
力を加えている時間
“G2”秒

外観

試験段階1参照
許容する曲がり
“H2”以下

注(8) 適用する場合；適用できない場合でも，測定（ゲージ保持力）は実施する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

5.2.2.4

試験群CP−耐湿性

CP1

試験段階BP3.4に関する手引書参照。ただし，試験期間は“J2”とし，この試験の後に，次の試

験を実施する。

− 絶縁抵抗

− 耐電圧

− 接触抵抗

− 結合力及び離脱力又は挿入力及び引抜力

− 結合しないコネクタの外観

5.2.2.5

試験群DP−電気的負荷

DP1

試験段階BP2の諸条件参照。ただし，動作回数は，“K2”とする。

DP2

供試条件の時間を“L2”，最大負荷電流を“M2”と規定し，試験槽の温度は，コネクタの規定最

大動作温度の70 ％±5 ％に維持する。

また，電流を印加して増加した後に試料の測定温度“N2”は，規定最大動作温度の105 ％以下で

なければならない。

なお，この試験の後，4.2.5に従って絶縁抵抗（高温時）を測定する。

耐電圧も実施する。

外観検査は，結合しないコネクタについて実施する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2.2.4

試験群CP−耐湿性

表 9 試験群CP

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの

形状

CP1

高温高湿
（定常）

11c

BP3.4参照。
ただし，試験期間
“J2”日

絶縁抵抗

試験段階4参照

耐電圧

試験段階5参照

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

結合力及び
離脱力
又は
挿入力及び
引抜力

13a

13b

4.3.2参照

外観

試験段階1参照

5.2.2.5

試験群DP−電気的負荷

表 10 試験群DP

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの

形状

DP1

機械的動作
（BP2の
規定数と同
一回数）

BP2参照。ただし，動作
回数 “K2”

DP2

電気的負荷
及び温度

“L2” 時間
コンタクト負荷電流
“M2”A以下
後処理時間 2時間以上
試料の中心部に温度セン
サを取り付ける。

“N2”℃

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

絶縁抵抗

試験段階4参照

耐電圧

試験段階5参照

外観

試験段階1参照

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2.2.6

試験群EP−機械的特性

表 11 試験群EP

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの

形状

EP1.1

EP1.2(9)

ターミネーシ
ョン強度

又は
無はんだター
ミネーション
の機械的試験

16f

審議中

試験Ua1及びUa2
試料当たり 6ターミネ
ーション
“P2” N

外観

試験段階1参照

EP2

インサート内
のコンタクト
保持

15a

AP5参照

外観

試験段階1参照

EP3(10)

プローブ
ダメージ

16a

AP2参照

ゲージ保
持力（弾性
コンタク
ト）

16e

AP2参照
ゲージは保持している
こと。

EP4

絶縁抵抗

試験段階4参照

EP5(11)

かびの成長

11e

“Q2” 日

絶縁抵抗

試験段階4参照

外観

試験段階1参照

EP6(11)

ニードルフレ
ーム（注射針
バーナ）

20a

試料数 “R2”
接炎時間 “S2” 秒

許容最大燃焼時間
“T2”秒
ティッシュペーパが発
火しないこと。

注(9) IECにて審議中。

例試験16x−機械的強度（配線済みターミネーション）。

(10) 適用する場合；この試験は，この試験群順序の最後に実施する。
(11) コネクタの製造に用いる材料が規定する試験を事前に行い，既に合格していることを示す証拠書類が，IECで規定す

る国内監督検査機関（NSI）に提示できる場合には，試験段階EP5及びEP6を省略してもよい。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

5.2.2.7

試験群FP−耐薬品性

FP1

汚染された液体（特に洗浄用として広く使用されている溶剤）に対するコネクタの耐液抵抗性を立

証するには，極めて適切な試験である。JIS C 5402-1-100で該当する試験手順が入手できるまでは，

適切な試験方法を選択し，附属書 Aに示すようにこれを個別規格に追加することが可能である。

FP2

4.3.2参照。

FP2

4.2.4参照。

FP4

詳細については試験段階4を参照し，要求事項については試験段階AP13による。

5.2.2.8

試験群GP−ターミネーション無はんだによる接続の形式に応じて，IEC 60352の該当する規

格から試験順序を選択する（適用する場合）。

コネクタに用いる接続方法が IEC 60352に規定する試験をあらかじめ受け，既に合格していることを示

す証拠書類が，IECで規定の国内監督検査機関に提示できる場合には，試験段階GP1からGPXまでを省

略してもよい。

5.2.2.9

試験群HP−追加試験この試験群は，既定の試験群PからGPに試験段階を追加するために使

用する。

例コネクタが高速デジタルデータ伝送用として適していることを証明するための試験。

なお，追加試験は，附属書Aに規定する。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

5.2.2.7

試験群FP−耐薬品性

表 12 試験群FP

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの形状

FP1

耐液性

審議中

FP2.1

FP2.2

結合力及び
離脱力
又は
挿入力及び
引抜力

13a

13b

4.3.2参照

FP3

接触抵抗

2a又は2b

試験段階3参照

FP4

絶縁抵抗

試験段階4参照

FP5

一般試験

試験段階1参照

外観

試験段階1参照

5.2.2.8

試験群GP−ターミネーション

表 13 試験群GP

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの形状

GP1

GPX(12)

IEC 60352及びJIS C 5402-1-100による接続方法の適用可能な試験

無はんだによる接続／接続方法の形式に応じて（適用する場合）， IEC 60352の該当する規格から試験順序を選択
する。

注(12) コネクタに用いる接続方法がIEC 60352に規定する試験をあらかじめ受け，既に合格していることを確認する証拠書

類がIECで規定の国内監督検査機関に提示できる場合には，試験段階GP1からGPXまでを省略してもよい。

5.2.2.9

試験群HP−追加試験

表 14 試験群HP

試験
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

すべてのコネクタの形状

HP1

既定の試験群及び試験段階がコネクタにおける特定の試験に対して対応できない場合には，この試験群に追加
試験として規定する。附属書Aに規定する新しい試験。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

作成の手引き

6. 品質評価手順 JIS C 5401-1の 3.6（品質認証・品質評価システム）及びJIS C 5401-4の3.（品質評価

の手順）による。

6.1

品質認証試験

6.1.1

方法1 表には3段階の性能水準を示す。個別規格がより多い又はより少ない性能水準を含む場合

には，表はそのことを考慮して拡張又は縮小してもよい。

表に記入するデータを次に示す。

“V2”（適宜，“W2”，“X2”）関連する性能水準を示すために選択したアラビア数字。

“n”（ 5か所）（適宜，“n1”，“n2”）試験群APから EPまでを受ける試料数。

“m”（適宜，“m1”，“m2”）試験段階FPを受ける試料数。

“p”（適宜，“p1”，“p2”）試験段階GPを受ける試料数。

“q”（適宜，“q1”，“q2”）試験段階HPを受ける試料数。

“c1”〜“c8”（適宜，“c1a”〜“c8a”，“c1b”〜“c8b”）試験群ごとに許容される各々の不良品数。

“cT”（適宜，“cTa”，“cTb”）試験群全体の許容不良品数。

これは，通常，試験群ごとに許容される不良品の総数より少ない。

6.1.2

方法2 方法1の代わりに，JIS C 5401-1の 3.3.3（品質認証の認可）に示す第2の方法による品質

認証手順を用いてもよい。

品質認証試験には，次の検査を含める。

a) 連続する3ロットを対象とする 6.2.1に従うロットごとの試験

b) その内の1ロットから選出した1個のサンプルを対象とする 6.2.2に従う定期試験

c) 6.2.2の検査群D2に関わる補足的な品質認証試験

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6. 品質評価手順 JIS C 5401-1の 3.6（品質認証・品質評価システム）及びJIS C 5401-4の 3（品質評価

の手順）による。

6.1

品質認証試験

6.1.1

方法1 JIS C 5401-1の 3.3.3（品質認証の認可）に示す第1の方法に従う品質認証手順。

次の試料数が5に規定する条件の試験を受ける。

試料は，表15に基づく許容不良品数以下でその要求事項を満たさなければならない。

表 15 品質認証試験

5.2の試験群

5.2の試験段階

性能水準 V2

性能水準 W2

性能水準 X2

AP
BP
CP
DP

EP
FP

GP
HP

P1−5

AP1―13

BP1―6

CP1-

DP1―2

EP1―6
FP1―5

GP1
HP1

5n＋m＋p＋q

n
n
n
n
n

p
q

c1
c2
c3
c4
c5
c6
c7
c8

5n1 + m1 + p1 +q1

n1
n1
n1
n1
n1

p1
q1

c1a
c2a
c3a
c4a
c5a
c6a
c7a
c8a

5n2＋m2＋p2＋q2

n2
n2
n2
n2
n2

p2
q2

c1b
c2b
c3b
c4b
c5b
c6b
c7b
c8b

試験群全体の許容不良品総数

cTa

cTb

注 n：最少試料数
注 c：試験群ごとの許容不良品数

m：試験群 FPを受ける最少試料数
p：試験群 GPを受ける最少試料数

注 q：試験群 HPを受ける最少試料数

6.1.2

方法2 方法1の代わりに，JIS C 5401-1の 3.3.3（品質認証の認可）に示す第2の方法による品質

認証手順を用いてもよい。

なお，品質認証試験には次の検査を含める。

a) 連続する3ロットを対象とする 6.2.1に従うロットごとの試験

b) その内の1ロットから選出したサンプルを対象とする 6.2.2に従う定期試験

c) 6.2.2の検査群D2にかかわる補足的な品質認証試験

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6.2 品質確認試験

6.2.1 ロットごと試験一つの検査ロットの中にまとめてもよい構造的に類似なコネクタ［JIS C 5401-1

の 3.1.2（構造的に類似なコネクタ）参照］は，（対応する形式又は形状認識名を記入）である。

性能水準と評価水準との適用可能な組合せを次の表に示す（適切な組合せを記入する。）。

表 16 ロットごと試験

検査群

5.2の試験段階

5.2の要求事項及び厳しさに

よる試験又は測定

JIS C 5402-1-00

試験番号

評価水準 Y2

評価水準 Z2

IL(14)

AQL(14)

IL(14)

AQL(14)

外観

寸法及び質量(13)

絶縁抵抗

耐電圧

AP2

AP1.1
AP1.2

ゲージ保持力（弾性コンタク
ト）
結合力及び離脱力
又は
挿入力及び引抜力

16e

13a

13b

備考（出荷対象ロットの成績証明書）与えられる情報：検査群B1 及びB2の結果

注(13) 当該ロットを製造するために用いた単体部品に関する検査結果記録は，この要求事項のすべて又は一部を満たすため

に用いてもよい。

(14) JIS Z 9015-1による。

C 5401-3-001：2005 (IEC 61076-3-001：1999)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6.2.2 定期試験完全な試験群（検査群D1及びD2）での定期試験は，試験P1〜P5に合格し，かつ，ロ

ットごと試験（6.2.1参照）に合格したロットから抽出した試料に対して実施する。

単一の試験段階（検査群C1， C2及びC3）での定期試験は，ロットごと試験（6.2.1参照）に既に合格

している試料に対して実施する。性能水準及び評価水準の適用可能な組合せを次の表に示す（適切な組合

せを記入する。）。

表 17 定期試験

検査群

5.2の試験段階

5.2の要求事項及び厳しさ

による試験又は測定

JIS C

5402-1-100

試験番号

評価水準 Y2

評価水準 Z2

AP4.1

はんだ付け性

12a

ターミナ

ル数“a”

ターミナ

ル数“a”

ターミナ

ル数“a”

ターミナ
ル数“a”

接触抵抗

AP4.2

はんだ耐熱性

12d

AP1.1
AP1.2

AP5
AP1

AP11-

AP13

CP1

品質認証の維持

結合力及び離脱力

又は

挿入力及び引抜力

耐電圧

13a

13b

抜け

AP1.2

AP5

AP1-13

BP1-6

CP1

DP1-2

EP1-6
FP1-5

GP1
HP1

初期品質認証試験（6.1.2

を適用する場合）

挿入力及び引抜力

耐電圧

13b

−

備考出荷対象ロットの保証数量に対し与えられる情報：認証試験成績書

注 p：周期（月）
注 n：最小試料数
注 c：試験群ごとの許容不良品数