C 5953-1:2016 (IEC 62149-1:2011)
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 性能標準の準備 ················································································································ 4
4.1 総則 ···························································································································· 4
4.2 製品定義 ······················································································································ 4
4.3 試験 ···························································································································· 4
4.4 詳細 ···························································································································· 4
4.5 要求事項 ······················································································································ 4
4.6 試料数 ························································································································· 4
4.7 グループ化又はシーケンス ······························································································ 4
4.8 合格又は不合格の基準 ···································································································· 4
4.9 参照製品の定義 ············································································································· 5
4.10 性能標準試験報告書 ······································································································ 5
4.11 環境的側面 ·················································································································· 5
附属書A(規定)性能標準のための試験及びその条件 ································································· 6
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まえがき
この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって,JIS C 5953-1:2007は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 5953の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 5953-1 第1部:総則
JIS C 5953-3 第3部:2.5 Gbit/s変調器集積形半導体レーザモジュール
JIS C 5953-4 第4部:1 300 nmギガビットイーサネット用光トランシーバ
JIS C 5953-5 第5部:半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ATM-PON用光トラン
シーバ
JIS C 5953-6 第6部:650 nm,250 Mbit/sプラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバ
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日本工業規格 JIS
C 5953-1:2016
(IEC 62149-1:2011)
光伝送用能動部品−性能標準−第1部:総則
Fiber optic active components and devices-Performance standards-
Part 1: General and guidance
序文
この規格は,2011年に第2版として発行されたIEC 62149-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格である。
性能標準は,規定する条件の下での一組の光伝送用能動部品の標準電気光学性能を定義するものであり,
明確に定義された条件及び合格又は不合格の基準とともに,一連又は一組の試験及び測定(特定のスケジ
ュールにグループ化する場合又はそうでない場合がある。)を含んでいる。
これらの試験は,特定のアプリケーション,市場分野又はユーザグループの要件を満たす製品の機能を
証明するために,最初の設計の確認として実施することを目的としている。
この規格に続く個別の性能標準を定めた規格は,国際的な使用のために標準化された特定のアプリケー
ションのための性能基準を規定する。ある性能標準の条件の全てを満たす製品は,その性能標準を定めた
規格に従うことが要求される。
性能標準に基づいて試験する製造業者の製品は,その性能標準によって決められた基準の範囲内で動作
する。ただし,製造業者が供給した製品と同じ標準インタフェースをもち,その性能標準に従って独自に
試験された異なった製造業者の製品が,それぞれ互いを組み合わせたときに同レベルの光学特性を示すと
いう保証はない。
性能標準への適合とは,その製品が本質的に設計確認試験に合格したことを示すものであって,性能寿
命及び信頼性の保証ではない。耐用年数試験及び信頼度試験は,両方とも,これらの試験プログラムの要
求を真に代表するように選ばれた試験項目及び試験条件の下で行われる別々の試験スケジュールの対象で
あることが望ましい。製造業者の一貫性は,その製品の信頼性がJIS C 5948及びIEC 62005規格群で推薦
する手順を用いて評価し,承認された品質保証プログラムを用いて維持することが望ましい。
試験及び測定は,可能な限りJIS C 61300規格群及びIEC 61300規格群から選択することが望ましい。
不可能な場合は,必要な試験方法は附属書Aに示している内容に基づいて個別の性能標準を定めた規格の
附属書として添付する。
1
適用範囲
この規格は,光伝送用能動部品の性能標準の総則について規定する。この規格は,性能標準を定めた規
格を作成するための引用規格,定義及び規定を含む。また,規定である附属書Aでは,適切な関連情報を
含む。
これに続く個別の性能標準を定めた規格は,連続して番号付けし,特定のアプリケーションのための性
能基準を規定する。各性能標準を定めた規格は,国際的な使用のために標準化されるように順次追加され
2
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る。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 62149-1:2011,Fibre optic active components and devices−Performance standards−Part 1:
General and guidance(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 61300-2-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-1部:正弦
波振動試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)(MOD)
JIS C 61300-2-4 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-4部:光フ
ァイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-4,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-4: Tests−Fibre/cable retention(IDT)
JIS C 61300-2-5 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-5部:光フ
ァイバクランプ強度試験(ねじり)
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-5,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-5: Tests−Torsion(IDT)
JIS C 61300-2-9 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-9部:衝撃
試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-9,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock(MOD)
JIS C 61300-2-12 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-12部:落
下衝撃試験
JIS C 61300-2-17 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-17部:低
温試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-17,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-17: Tests−Cold(MOD)
JIS C 61300-2-18 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-18部:高
温試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-18,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance
(IDT)
JIS C 61300-2-19 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-19部:高
温高湿試験(定常状態)
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-19,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
3
C 5953-1:2016 (IEC 62149-1:2011)
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Basic test and measurement procedures−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state)(MOD)
JIS C 61300-2-21 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-21部:混
合温湿度サイクル試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-21,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-21: Tests−Composite temperature/humidity cyclic
test(MOD)
JIS C 61300-2-22 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-22部:温
度サイクル試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-22,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature(IDT)
JIS C 61300-2-26 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-26部:塩
水噴霧試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-26,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-26: Tests−Salt mist(MOD)
JIS C 61300-2-27 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-27部:ダ
スト試験(層流)
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-27,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-27: Tests−Dust−Laminar flow(IDT)
JIS C 61300-2-45 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-45部:浸
水試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-45,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-45: Tests−Durability test by water immersion(IDT)
JIS C 61300-2-46 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-46部:湿
熱サイクル試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-46,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-46: Tests−Damp heat,cyclic(IDT)
JIS C 61300-2-48 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-48部:温
湿度サイクル試験
注記 対応国際規格:IEC 61300-2-48,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 2-48: Tests−Temperature-humidity cycling(IDT)
IEC 61300-2-28,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-28: Tests−Industrial atmosphere (sulphur dioxide)
IEC 61300-2-42,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-42: Tests−Static side load for strain relief
IEC 61300-2-44,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 2-44: Tests−Flexing of the strain relief of fibre optic devices
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
4
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3.1
性能標準試験報告書(performance standard test report)
性能標準に基づいた試験を完了したとき作成する報告書。
4
性能標準の準備
4.1
総則
性能標準を定めた規格は,次の項目を考慮し,それらに関係する指示も含む。
− 製品定義
− 試験
− 詳細
− 要求事項
− 試料数
− グループ化又はシーケンス
− 合格又は不合格の基準
− 参照製品の定義
4.2
製品定義
性能標準が関連している製品は,明確に定義する。
4.3
試験
性能標準に合致するために,製品について遂行する試験は,明確に定義する。曖昧性及び任意選択は許
容しない。
試験条件又は持続時間,グループ化又はシーケンス,使用した方法,及び合格又は不合格基準の組合せ
から選択した試験は,サービス環境内の定義された製品の設置場所を示さなければならない。
使用する試験方法は,各試験のために明確に定義する。可能な限り試験方法は,JIS C 61300規格群又は
IEC 61300規格群が参照する試験から選択する。それが可能でない場合,他の試験方法を定義する。未定
義の試験方法を使用する場合,試験方法及び明確にしなければならない詳細は,附属書Aに規定する内容
に基づいて個別の性能標準を定めた規格の附属書に含める。
4.4
詳細
考慮される試験条件,持続期間及び詳細は,性能標準で規定する全ての試験及び測定に対して必要であ
る。これらは性能標準が対応するように意図されているサービス環境内の製品の場所を指定する条件と直
接に関連している。曖昧性及び任意選択は許容しない。
4.5
要求事項
製品が性能標準に従うための要求事項は,各試験及び/又は測定を行うために指定しなければならない。
曖昧性は許容しない。
4.6
試料数
各試験のための試料数は,個別の性能標準を定めた規格の附属書で定義する。偏差は許容しない。
4.7
グループ化又はシーケンス
試験グループ及び試験のシーケンスは,ユーザ,ユーザグループ又は製造業者の必要に応じて,個別の
性能標準を定めた規格の附属書で指定する。各試験グループのための試料数は,個別の性能標準を定めた
規格の附属書で指定する。費用が著しく高額な能動部品の場合は,試料数を減らしてもよい。
4.8
合格又は不合格の基準
5
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合格又は不合格の基準は,性能標準を定めた規格内の各試験のために明確に示す。偏差又は例外は,許
容しない。
4.9
参照製品の定義
性能標準を定めた規格の中で行われる試験及び測定方法のいずれかで参照製品が必要な場合,その参照
製品は個別の性能標準を定めた規格の附属書で明確に指定する。
4.10 性能標準試験報告書
性能標準への適合は,試験報告書によって立証する。試験報告書は独立した試験機関によって準備する
場合もある。試験報告書は,試験が性能標準の条件によって遂行され,合格又は不合格の申告とともに試
験の全詳細を提供していることを明確に示す。
特定の試験又はシーケンスで不合格となった製品は,性能標準試験報告書で報告しなければならない。
その障害の原因を明確にし,全ての是正処置を記載しなければならない。製品への設計変更を行っていな
い場合は,障害が生じた試験又は試験シーケンスを再実施し,両方の試験の結果を報告する。
性能標準試験報告書内では,どのような設計変更でも,特定するのがよい。この場合においては,性能
試験の全てを再実施し,結果を報告しなければならない。
4.11 環境的側面
製品の全ライフサイクルに関わる不利な環境的影響の低減に関する要求は,この仕様の目的とするとこ
ろではない。環境的側面は,IEC Guide 109のガイドラインに従って,適宜実行する。
6
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附属書A
(規定)
性能標準のための試験及びその条件
この附属書は,光伝送用能動部品が取り付けられている一般的なシステムの設置場所について,望まし
い試験及びそれら試験に関連する推奨試験条件を含んでいる(表A.2〜表A.5を参照)。試験をグループ化
している箇所は,製品がさらされる特定の環境条件を模擬するため,記載の順序で一つのグループとして
実施することを意味としている。
性能標準で規定する一般のシステム設置場所を表A.1に示す。
表A.1−一般動作環境及び定義
カテゴリ
環境
温度範囲
℃
相対湿度
%
典型的な場所
C
屋内環境
−10〜+60
5〜93
オフィス,機械室,電話局又
はビルディングの内部。
結露状態下ではない。
U
屋外環境
−25〜+70
0〜95
屋外だが,何かに囲われた状
態。小屋,ロフト,電話ボッ
クス,街頭キャビネットなど
の中。結露状態下又はある程
度の風雨にさらされる状態。
すぐ傍らに砂又は粉じんが
ある環境。
O
厳しい屋外環境
−40〜+75
0〜95
屋外だが,何かに囲われた状
態。ガレージ,地下室,ビル
ディングの入り口及び手入
れされていない機材ステー
ション。結露状態下。
E
劣悪環境
−40〜+85
0〜95
何にも覆われていない屋外。
直接に,工業原料の化学排出
物の影響下にある屋外気候
にさらされている。
表A.1は,様々な環境カテゴリの下での光通信ネットワーク装置の環境温度範囲を示しており,動作中
の光伝送用能動部品の動作温度範囲を示すものではない。各々の光伝送用能動部品のための動作温度範囲
を,ケース温度によって規定する。特記しない場合は,光伝送用能動部品は,表A.1で規定している特定
の環境カテゴリの下で作動するように,各性能標準を定めた規格で指定する。システム設計者は,組み込
んだ光伝送用能動部品のケース温度を仕様範囲内で維持するように装置の熱流を設計しなければならない。
各々の光伝送用能動部品のための性能試験は,指定ケースの温度範囲内で実施しなければならない。
7
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表A.2−カテゴリC−屋内環境
試験項目・参照規格
試験条件
低温
JIS C 61300-2-17
−10 ℃±2 ℃
96時間保持
高温
JIS C 61300-2-18
+60 ℃±2 ℃
96時間保持
高温高湿(定常状態)
JIS C 61300-2-19
+40 ℃±2 ℃
相対湿度 (93±2) %
96時間保持
振動(正弦波)
JIS C 61300-2-1
10 Hz〜55 Hz
15掃引(10 Hz−55 Hz−10 Hz) 1オクターブ/mm
3軸
振幅0.75 mm
温度サイクル
JIS C 61300-2-22
−10 ℃±2 ℃〜+60 ℃±2 ℃
最高温度及び最低温度で60分間保持
変化率1 ℃/min
5サイクル
表A.3−カテゴリU−屋外環境
試験項目・参照規格
試験条件
振動(正弦波)
JIS C 61300-2-1
10 Hz〜55 Hz
15掃引(10 Hz−55 Hz−10 Hz) 1オクターブ/min
振幅0.75 mm
低温
JIS C 61300-2-17
−25 ℃±2 ℃
96時間保持
高温
JIS C 61300-2-18
+70 ℃±2 ℃
96時間保持
高温高湿(定常状態)
JIS C 61300-2-19
+40 ℃±2 ℃
相対湿度 (93±2) %
96時間保持
温度サイクル
JIS C 61300-2-22,試験Nb
−25 ℃±2 ℃〜+70 ℃±2 ℃
最高温度及び最低温度で60分間保持
変化率1 ℃/min
12サイクル
ダスト(層流)
JIS C 61300-2-27
粉じんのサイズ d<150 μm
粉じん状タルク
+35 ℃ 相対湿度60 % 10分間保持
湿熱サイクル
JIS C 61300-2-46
+25 ℃±2 ℃〜+55 ℃±2 ℃,相対湿度>95 %
(方法1)
96時間保持
8
C 5953-1:2016 (IEC 62149-1:2011)
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表A.4−カテゴリO−厳しい屋外環境
試験項目・参照規格
試験条件
高温高湿(定常状態)
JIS C 61300-2-19
+75 ℃±2 ℃
相対湿度 (90±5) %
168時間
振動(正弦波)
JIS C 61300-2-1
10 Hz〜55 Hz
2時間/軸,1オクターブ/min
3軸
振幅1.52 mm
温度サイクル
JIS C 61300-2-22,試験Nb
−40 ℃±2 ℃〜+75 ℃±2 ℃
最高温度及び最低温度で1時間保持
変化率>1 ℃/min
10サイクル
最高・最低温度の間に,+23 ℃での保持時間を許可
温湿度サイクル
JIS C 61300-2-48,方法A
(GR-326の試験方法に対応する場合は
方法Bを追加する必要あり)
−40 ℃±2 ℃〜+85 ℃±2 ℃
最大温度で相対湿度(85±5) %
最大温度及び最小温度で最短1時間保持
変化率1 ℃/min以上
42サイクル
96時間保持
光ファイバクランプ強度(繰返し曲げ)
IEC 61300-2-44
光ファイバコードに対しては5 N
30サイクル ±90°
光ファイバクランプ強度(ねじり)
JIS C 61300-2-5
光ファイバコードに対して0.1 N/sで5 N
10サイクル ±180°
光ファイバクランプ強度(横方向引張り)
IEC 61300-2-42
光ファイバコードに対して5 N,5秒間保持
光ファイバ心線に対して2.3 N,5秒間保持
互いに直行した2方向
光ファイバクランプ強度(軸方向引張り)
JIS C 61300-2-4
光ファイバコードに対して0.5 N/sで10 N±1 N,120
秒間保持
光ファイバ心線に対して0.5 N/sで5 N±0.5 N,60秒間
保持
衝撃試験
JIS C 61300-2-9(光受動部品質量≦0.125
kg)
ピーク加速度5 000 m/s2 a),3軸,2方向
軸当たり2衝撃,全12衝撃
1 ms保持,半正弦パルス
落下衝撃試験b)
JIS C 61300-2-12 c)(方法C,自由落下)
M<10の場合,h=100
10 d)≦M<25の場合,h=75
ここに,M:供試品の質量(kg)
h:落下高さ(mm)
注a) 対応国際規格には500 gnと記載しているが,単位系の間違いであるため,修正した。
b) 対応国際規格にはShockと記載しているが,Impactの間違いであるため,JIS C 61300-2-12
に従って落下衝撃試験と記載した。
c) 対応国際規格にはIEC 60068-2-27を記載しているが,IEC 61300-2-12のMethod Cの間違い
であるため,対応JIS番号を記載した。
d) 対応国際規格の間違いであるため,JIS C 61300-2-12に従って修正した。
9
C 5953-1:2016 (IEC 62149-1:2011)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表A.5−カテゴリE−劣悪環境
試験項目・参照規格
試験条件
振動(正弦波)
JIS C 61300-2-1
10 Hz〜55 Hz
15掃引(10 Hz−55 Hz−10 Hz) 1オクターブ/min
3軸
振幅0.75 mm
低温
JIS C 61300-2-17
−40 ℃±2 ℃
96時間保持
高温
JIS C 61300-2-18
+85 ℃±2 ℃
96時間保持
高温高湿(定常状態)
JIS C 61300-2-19
+40 ℃±2 ℃
相対湿度 (93±3) %
96時間保持
温度サイクル
JIS C 61300-2-22,試験Nb
−40 ℃±2 ℃〜+85 ℃±2 ℃
最高温度及び最低温度で60分間保持
変化率1 ℃/min
12サイクル
ダスト(層流)
JIS C 61300-2-27
粉じんのサイズ d<150 μm
粉じん状タルク
+35 ℃ 相対湿度60 % 10分間保持
混合温湿度サイクル
JIS C 61300-2-21
Z/ADプロファイル −10 ℃±2 ℃〜+65 ℃±2 ℃
最高温度で相対湿度 (93±3) %
最高温度及び最低温度で3時間保持
腐食性大気
IEC 61300-2-28
二酸化硫黄 SO2 25×10−6(体積比)
+25 ℃±2 ℃かつ相対湿度 75 %
96時間暴露
塩水噴霧
JIS C 61300-2-26
塩水 5 % NaCl
pH 6.5〜7.2
96時間暴露
浸水(任意選択)
JIS C 61300-2-45
浸水深さ(該当する性能標準で定義)
水温(該当する性能標準で定義)
浸水時間(該当する性能標準で定義)
参考文献 JIS C 5948 光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法
注記 対応国際規格:IEC 61751,Laser modules used for telecommunication−Reliability
assessment(IDT)
JIS C 61300規格群 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順
IEC 61300 (all parts),Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures
IEC 62005 (all parts),Reliability of fibre optic interconnecting devices and passive components
IEC Guide 109,Environmental aspects−Inclusion in electrotechnical product standards