JIS C 5003:1974 本文01 
電子部品の故障率試験方法通則
General Test Procedure of Failure Rate for Electronic Components
JIS C 5005-2:2010 本文01 
品質評価システム−第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
Quality assessment systems-Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection of electronic components and packages
JIS C 5010:1994 本文01 
プリント配線板通則
General rules for printed wiring boards
JIS C 5012:1993 本文01 
プリント配線板試験方法
Test methods for printed wiring boards
JIS C 5013:1996 本文01 
片面及び両面プリント配線板
Single and double sided printed wiring boards
JIS C 5014:1994 本文01 
多層プリント配線板
Multilayer printed wiring boards
JIS C 5016:1994 本文01 
フレキシブルプリント配線板試験方法
Test methods for flexible printed wiring boards
JIS C 5017:1994 本文01 
フレキシブルプリント配線板−片面・両面
Flexible printed wiring boards-Single-sided, Double-sided
JIS C 5062:2008 本文01 
抵抗器及びコンデンサの表示記号
Marking codes for resistors and capacitors
JIS C 5063:1997 本文01 
抵抗器及びコンデンサの標準数列
Preferred number series for resistors and capacitors
JIS C 5064:2009 本文01 
電子機器及び通信機器用固定インダクタ−表示記号
Fixed inductors for use in electronic and telecommunication equipment- Marking codes
JIS C 5070:2009 本文01 
表面実装技術−表面実装部品(SMD)の輸送及び保管条件−指針
Surface mounting technology - Part 2: Transportation and storage conditions of surface mounting devices (SMD) -Application guide
JIS C 5101-1:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第1部:品目別通則
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 1: Generic specification
JIS C 5101-2-1:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第2−1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 2-1:Sectional specification: Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors Assessment levels E and EZ
JIS C 5101-2:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第2部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 2: Sectional specification: Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors
JIS C 5101-3-1:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第3−1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 3-1: Blank detail specification-Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with manganese dioxide solid electrolyte-Assessment level EZ
JIS C 5101-3:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第3部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 3: Sectional specification-Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with manganese dioxide solid electrolyte
JIS C 5101-4-1:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第4−1部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 4-1:Blank detail specification-Fixed aluminium electrolytic capacitors with non-solid electrolyte-Assessment level EZ
JIS C 5101-4-2:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第4−2部:ブランク個別規格:アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 4-2:Blank detail specification-Fixed aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) electrolyte-Assessment level EZ
JIS C 5101-4:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第4部:品種別通則:アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 4: Sectional specification-Aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) and non-solid electrolyte
JIS C 5101-8-1:2008 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第8−1部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 8-1: Blank detail specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 1 Assessment level EZ
JIS C 5101-8:2008 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第8部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類1
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 8: Sectional specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 1
JIS C 5101-9-1:2008 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第9−1部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 9-1: Blank detail specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 2 Assessment level EZ
JIS C 5101-9:2008 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第9部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類2
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 9: Sectional specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 2
JIS C 5101-11-1:2014 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第11−1部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 11-1: Blank detail specification-Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil d.c. capacitors-Assessment level EZ
JIS C 5101-11:2014 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第11部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 11: Sectional specification-Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil d.c. capacitors
JIS C 5101-13-1:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第13−1部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 13-1: Blank detail specification - Fixed polypropylene film dielectric metal foil d.c. capacitors - Assessment levels E and EZ
JIS C 5101-13:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第13部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment -Part 13: Sectional specification- Fixed polypropylene film dielectric metal foil d.c. capacitors
JIS C 5101-14-1:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第14−1部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 14-1: Blank detail specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the supply mains-Assessment level D
JIS C 5101-14-2:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第14−2部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求する試験
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 14-2: Blank detail specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the supply mains-Safety tests only
JIS C 5101-14-3:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第14−3部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 14-3: Blank detail specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the supply mains-Assessment level DZ
JIS C 5101-14:2014 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 14: Sectional specification-Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the supply mains
JIS C 5101-15-1:1998 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第15部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E
Fixed capacitors for use in electronic equipmentPart 15 : Blank detail specification :Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrodeAssessment level E
JIS C 5101-15-2:1998 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E
Fixed capacitors for use in electronic equipmentPart 15 : Blank detail specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and porous anodeAssessment level E
JIS C 5101-15-3:1998 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
Fixed capacitors for use in electronic equipmentPart 15 : Blank detail specification : Fixed tantalum capacitors with solid electrolyte and porous anodeAssessment level E
JIS C 5101-15:1998 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipmentPart 15 : Sectional specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte
JIS C 5101-16-1:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第16−1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 16-1: Blank detail specification: Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors Assessment levels E and EZ
JIS C 5101-16:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第16部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 16: Sectional specification: Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors
JIS C 5101-17-1:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第17−1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 17-1: Blank detail specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors - Assessment levels E and EZ
JIS C 5101-17:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第17部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 17: Sectional specification: Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors
JIS C 5101-18-1:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第18−1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 18-1: Blank detail specification-Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid (MnO2) electrolyte-Assessment level EZ
JIS C 5101-18-2:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第18−2部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 18-2: Blank detail specification-Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with non-solid electrolyte-Assessment level EZ
JIS C 5101-18:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第18部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 18: Sectional specification-Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid (MnO2) and non-solid electrolyte
JIS C 5101-20-1:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第20−1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 20-1:Blank detail specification-Fixed metallized polyphenylene sulfide film dielectric surface mount d.c. capacitors-Assessment level EZ
JIS C 5101-20:2010 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第20部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 20: Sectional specification-Fixed metallized polyphenylene sulfide film dielectric surface mount d.c. capacitors
JIS C 5101-21-1:2006 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第21−1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part21-1:Blank detail specification:Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric,Class1-Asseessment level EZ
JIS C 5101-21:2014 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第21部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 21: Sectional specification-Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1
JIS C 5101-22-1:2006 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第22−1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part22-1:Blank detail specification:Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric,Class2-Asseessment level EZ
JIS C 5101-22:2014 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第22部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 22: Sectional specification-Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 2
JIS C 5101-23-1:2008 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第23−1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 23-1: Blank detail specification-Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film dielectric DC capacitors-Assessment level EZ
JIS C 5101-23:2008 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第23部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 23: Sectional specification - Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film dielectric DC capacitors
JIS C 5101-24-1:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第24−1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 24-1: Blank detail specifcation - Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte - Assessment level EZ
JIS C 5101-24:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第24部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment- Part 24: Sectional specification-Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte
JIS C 5101-25-1:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第25−1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ−評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 25-1: Blank detail specification - Surface mount fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte - Assessment level EZ
JIS C 5101-25:2009 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第25部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 25: Sectional specification - Surface mount fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte
JIS C 5101-26-1:2012 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第26−1部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ 評価水準EZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 26-1: Blank detail specification-Fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte-Assessment level EZ
JIS C 5101-26:2012 本文01 
電子機器用固定コンデンサ−第26部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 26: Sectional specification-Fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte
JIS C 5160-1:2009 本文01 
電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第1部:品目別通則
Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment- Part 1: Generic specification
JIS C 5160-2-1:2009 本文01 
電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第2−1部:ブランク個別規格−パワー用電気二重層コンデンサ−評価水準EZ
Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment- Part 2-1: Blank detail specification- Electric double-layer capacitors for power application- Assessment level EZ
JIS C 5160-2:2009 本文01 
電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第2部:品種別通則−パワー用電気二重層コンデンサ
Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment- Part 2: Sectional specification- Electric double-layer capacitors for power application
JIS C 5201-1:2011 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第1部:品目別通則
Fixed resistors for use in electronic equipment-Part 1: Generic specification
JIS C 5201-2-1:1998 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第2部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E
Fixed resistors for use in electronic equipment Part 2 : Blank detail specification :Fixed low-power non-wirewound resistors Assessment level E
JIS C 5201-2:2014 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第2部:品種別通則:低電力皮膜固定抵抗器
Fixed resistors for use in electronic equipment-Part 2: Sectional specification: Leaded fixed low-power film resistors
JIS C 5201-4-1:1998 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第4部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器 評価水準E
Fixed resistors for use in electronic equipment Part 4 : Blank detail specification : Fixed power resistorsAssessment level E
JIS C 5201-4:1998 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第4部:品種別通則:電力形固定抵抗器
Fixed resistors for use in electronic equipmentPart 4 : Sectional specification : Fixed power resistors
JIS C 5201-5-1:1998 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第5部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器 評価水準E
Fixed resistors for use in electronic equipment Part 5 : Blank detail specification: Fixed precision resistors Assessment level E
JIS C 5201-5:1998 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第5部:品種別通則:精密級固定抵抗器
Fixed resistors for use in electronic equipment Part 5 : Sectional specification : Fixed precision resistors
JIS C 5201-6-1:1999 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第6部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及び同一定格電力 評価水準E
Fixed resistors for use in electronic equipment Part 6 : Blank detail specification : Fixed resistor networks with individually measurable resistors, all of equal value and equal dissipation Assessment level E
JIS C 5201-6:1999 本文01 本文02 
電子機器用固定抵抗器−第6部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
Fixed resistors for use in electronic equipment Part 6 : Sectional specification :Fixed resistor networks with individually measurable resistors
JIS C 5201-8-1:2014 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第8−1部:ブランク個別規格:一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器,製品性能水準G
Fixed resistors for use in electronic equipment-Part 8-1: Blank detail specification: Fixed surface mount (SMD) low power film resistors for general electronic equipment, classification level G
JIS C 5201-8:2014 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第8部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器
Fixed resistors for use in electronic equipment-Part8:Sectional specification-Fixed surface mount resistors
JIS C 5201-9-1:2006 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第9−1部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−評価水準EZ
Fixed resistors for use in electronic equipment- Part9-1:Blank detail specification:Fixed surface mount resistor networks with individually measurable resistors - Assessment level EZ
JIS C 5201-9:2006 本文01 
電子機器用固定抵抗器−第9部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器
Fixed resistors for use in electronic equipment-Part9:Sectional specification:Fixed surface mount resistor networks with individually measurable resistors
JIS C 5260-1:2014 本文01 
電子機器用可変抵抗器−第1部:品目別通則
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 1: Generic specification
JIS C 5260-2-1:2000 本文01 本文02 
電子機器用可変抵抗器−第2部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 2 : Blank detail specification : Lead-screw actuated and rotary preset potentiometersAssessment level E
JIS C 5260-2-2:2000 本文01 本文02 
電子機器用可変抵抗器−第2部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 2 : Blank detail specification :Lead-screw actuated and rotary preset potentiometers Assessment level F
JIS C 5260-2:2000 本文01 本文02 
電子機器用可変抵抗器−第2部:品種別通則:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 2:Sectional specification: Lead-screw actuated and rotary preset potentiometers
JIS C 5260-3-1:2000 本文01 
電子機器用可変抵抗器−第3部:ブランク個別規格:回転形精密級可変抵抗器 評価水準E
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 3 : Blank detail specification :Rotary precision potentiometers Assessment level E
JIS C 5260-3:2000 本文01 
電子機器用可変抵抗器−第3部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 3 : Sectional specification : Rotary precision potentiometers
JIS C 5260-4-1:2000 本文01 
電子機器用可変抵抗器−第4部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器 評価水準E
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 4 : Blank detail specification : Single-turn rotary powerpotentiometers Assessment level E
JIS C 5260-4-2:2000 本文01 
電子機器用可変抵抗器−第4部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 4 : Blank detail specification : Single-turn rotary powerpotentiometers Assessment level F
JIS C 5260-4:2000 本文01 
電子機器用可変抵抗器−第4部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 4 : Sectional specification : Single-turn rotary power potentiometers
JIS C 5260-5-1:2000 本文01 本文02 
電子機器用可変抵抗器−第5部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 5 : Blank detail specification : Single-turn rotary low-power potentiometers Assessment level E
JIS C 5260-5-2:2000 本文01 本文02 
電子機器用可変抵抗器−第5部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 :Blank detail specification : Single-turn rotary low-powerpotentiometers Assessment level F
JIS C 5260-5:2000 本文01 本文02 
電子機器用可変抵抗器−第5部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
Potentiometers for use in electronic equipment-Part 5 : Sectional specification : Single-turn rotary low-power wirewound and non-wirewound potentiometers
JIS C 5270:2011 本文01 
電子機器用コンデンサ及び抵抗器−軸操作形部品の操作軸,取付ねじ及び取付孔の形状並びに推奨寸法
Capacitors and resistors for use in electronic equipment-Preferred dimensions of shaft ends, bushes and for the mounting of single-hole, bush-mounted, shaft-operated electronic components
JIS C 5310:1997 本文01 
電子機器用電源変圧器品目別通則
Generic specification of transformers for electronic equipment
JIS C 5311:1994 本文01 
電子機器用電源変圧器試験方法
Testing methods of power transformers for electronic equipment
JIS C 5320:1994 本文01 
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則
General rules of high frequency coils and intermediate frequency transformers for electronic equipment
JIS C 5321:1997 本文01 
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法
Methods of test for high frequency inductors andintermediate frequency transformers for electronic equipment
JIS C 5381-11:2014 本文01 
低圧サージ防護デバイス−第11部:低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
Low-voltage surge protective devices-Part 11:Surge protective devices connected to low-voltage power systems-Requirements and test methods
JIS C 5381-12:2014 本文01 
低圧サージ防護デバイス−第12部:低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの選定及び適用基準
Low-voltage surge protective devices-Part 12:Surge protective devices connected to low-voltage power distribution systems - Selection and application principles
JIS C 5381-21:2014 本文01 
低圧サージ防護デバイス−第21部:通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス(SPD)の要求性能及び試験方法
Low-voltage surge protective devices-Part 21:Surge protective devices connected to telecommunications and signalling networks - Performance requirements and testing methods
JIS C 5381-22:2007 本文01 
通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準
Low-voltage surge protective devices -Part 22: Surge protective devices connected to telecommunications and signalling networks - Selection and application principles
JIS C 5381-311:2016 本文01 
低圧サージ防護デバイス用部品−第311部:ガス入り放電管(GDT)の要求事項及び試験回路
Components for low-voltage surge protective devices-Part 311: Performance requirements and test circuits for gas discharge tubes (GDT)
JIS C 5381-312:2016 本文01 
低圧サージ防護デバイス用部品−第312部:ガス入り放電管(GDT)の選定及び適用基準
Components for low-voltage surge protective devices-Part 312: Selection and application principles for gas discharge tubes
JIS C 5381-321:2004 本文01 
低圧サージ防護デバイス用アバランシブレークダウンダイオード(ABD)の試験方法
Components for low-voltage surge protective devices - Specifications for avalanche breakdown diode (ABD)
JIS C 5381-331:2006 本文01 
低圧サージ防護デバイス用金属酸化物バリスタ(MOV)の試験方法
Components for low-voltage surge protective devices-Part 331:Specification for metal oxide varistors (MOV)
JIS C 5381-341:2005 本文01 
低圧サージ防護デバイス用サージ防護サイリスタ(TSS)の試験方法
Components for low-voltage surge protective devices - Part 341:Specification for thyristor surge suppressors (TSS)
JIS C 5401-1:2015 本文01 
電子機器用コネクタ−製品要求事項−第1部:品目別通則
Connectors for electronic equipment-Product requirements-Part 1: Generic specification
JIS C 5401-2-001:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−第2−001部:丸形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格
Connectors for electronic equipment-Part2-001:Circular connectors - Blank detail specification
JIS C 5401-2:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−第2部:品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付
Connectors for electronic equipment - Part2:Circular connectors with assessed quality - Sectional specification
JIS C 5401-3-001:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−第3−001部:角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格
Connectors for use in d.c.,low-frequency analogue and digital high-speed applications-Part3-001:Rectangular connectors with assessed quality-Blank detail specification
JIS C 5401-3:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−第3部:品種別通則−角形コネクタ−品質評価付
Connectors for use in d.c.,low-frequency analogue and digital high-speed data applications - Part3: Rectangular connectors with Rectangular connectors with assessed quality -Sectional specification
JIS C 5401-4-001:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−第4−001部:プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格
Connectors for electronic equipment - Part 4-001: Printed Board Connectors with assessed quality - Blank Detail specification
JIS C 5401-4:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−第4部:品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付
Connectors for electronic equipment - Part 4: Printed board connectors with assessed quality - Sectional specification
JIS C 5402-1-1:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1−1部:一般試験−試験1a:外観
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1: General examination - Test 1a: Visual examination
JIS C 5402-1-2:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1−2部:一般試験−試験1b:寸法及び質量
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-2: General examination - Test 1b: Examination of dimension and mass
JIS C 5402-1-3:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1−3部:一般検査−試験1c:電気的接触長
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-3 : General examination−Test 1c : Electrical engagement length
JIS C 5402-1-4:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1−4部:一般検査−試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-4 : General examination−Test 1d : Contact protection effectiveness (scoop-proof)
JIS C 5402-1-100:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1−100部:一般−試験方法規格一覧
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 1-100: General-Applicable publications
JIS C 5402-1:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1部:一般
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1 : General
JIS C 5402-2-1:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2−1部:導通及び接触抵抗試験−試験2a:接触抵抗−ミリボルトレベル法
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a : Contact resistance - Millivolt level method
JIS C 5402-2-2:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2−2部:導通及び接触抵抗試験−試験2b:接触抵抗−規定電流法
Connectors for electrical equipment-Tests and measurements-Part2-2:Electrical continuity and contact resistance-Test 2b:Contact resistance-Specified test method
JIS C 5402-2-3:2005 本文01 
電子機器用コネクタ—試験及び測定−第2−3部:導通及び接触抵抗試験−試験2c:接触抵抗の変動
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-3: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2c: Contact resistance variation
JIS C 5402-2-5:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2−5部:導通及び接触抵抗試験−試験2e:コンタクトディスターバンス
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 2-5: Electrical continuity and contact resistance tests-Test 2e: Contact disturbance
JIS C 5402-2-6:2005 本文01 
電子機器用コネクタ—試験及び測定−第2−6部:導通及び接触抵抗試験−試験2f:ハウジング(シェル)の導通性
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-6: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2f: Housing (shell) electrical continuity
JIS C 5402-3-1:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第3−1部:絶縁試験−試験3a:絶縁抵抗
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance
JIS C 5402-4-1:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第4−1部:電圧ストレス試験−試験4a:耐電圧
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 4-1: Voltage stress tests-Test 4a: Voltage proof
JIS C 5402-4-2:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第4−2部:電圧ストレス試験−試験4b:部分放電
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2: Voltage stress test - Test 4b: Partial discharge
JIS C 5402-4-3:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第4−3部:電圧ストレス試験−試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル)
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-3: Voltage stress tests - Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels
JIS C 5402-5-1:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第5−1部:電流容量試験−試験5a:温度上昇
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-1: Current-carrying capacity tests - Test 5a: Temperature rise
JIS C 5402-5-2:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第5−2部:電流容量試験−試験5b:電流・温度の軽減
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-2: Current-carrying capacity tests - Test 5b: Current-temperature derating
JIS C 5402-6-1:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第6−1部:動的ストレス試験−試験6a:加速度(定常)
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-1: Dynamic stress tests - Test 6a: Acceleration, steady state
JIS C 5402-6-2:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第6−2部:動的ストレス試験−試験6b:バンプ
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-2: Dynamic stress tests - Test 6b: Bump
JIS C 5402-6-3:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第6−3部:動的ストレス試験−試験6c:衝撃
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-3: Dynamic stress tests - Test 6c: Shock
JIS C 5402-6-4:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第6−4部:動的ストレス試験−試験6d:正弦波振動
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-4: Dynamic stress tests - Test 6d: Vibration (sinusoidal)
JIS C 5402-7-1:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第7−1部:衝撃試験(可動形コネクタ)−試験7a:自由落下(繰返し)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 7-1: Impact tests (free connectors)-Test 7a: Free fall (repeated)
JIS C 5402-8-1:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第8−1部:静的な力試験(固定形コネクタ)−試験8a:静的な力,横方向
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 8-1: Static load tests (fixed connectors)-Test 8a: Static load, transverse
JIS C 5402-8-2:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第8−2部:静的な力試験(固定形コネクタ)−試験8b:静的な力,軸方向
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 8-2: Static load tests (fixed connectors)-Test 8b: Static load, axial
JIS C 5402-8-3:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第8−3部:静的な力試験(固定形コネクタ)−試験8c:操作レバーの強度
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 8-3: Static load tests (fixed connectors)-Test 8c: Robustness of actuating lever
JIS C 5402-9-1:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第9−1部:耐久試験−試験9a:機械的動作
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 9-1: Endurance tests-Test 9a: Mechanical operation
JIS C 5402-10-4:2006 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第10−4部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験−試験10d:電気的過負荷(コネクタ)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part10-4:Impact tests(free components),static load tests (fixed components),endurance tests and overload tests-Test10d:Electrical overload(connectors)
JIS C 5402-11-1:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−1部:耐候性試験−試験11a:一連耐候性
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 11-1 : Climatic tests−Test 11a : Climatic sequence
JIS C 5402-11-2:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−2部:耐候性試験−試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2: Climatic tests - Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat
JIS C 5402-11-3:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−3部:耐候性試験−試験11c:高温高湿(定常)
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady state
JIS C 5402-11-4:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−4部:耐候性試験−試験11d:温度急変
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-4: Climatic tests - Test 11d: Rapid change of temperature
JIS C 5402-11-5:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−5部:耐候性試験−試験11e:かびの成長
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-5: Climatic tests - Test 11e: Mould growth
JIS C 5402-11-6:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−6部:耐候性試験−試験11f:腐食,塩水噴霧
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-6: Climatic tests - Test 11f: Corrosion, salt mist
JIS C 5402-11-7:2006 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−7部:耐候性試験−試験11g:混合ガス流腐食
Connectors for electronic equipment-Test and measurements-Part 11-7:Climatic tests-Test 11g:Flowing mixed gas corrosion tests
JIS C 5402-11-8:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−8部:耐候性試験−試験11h:砂じん
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 11-8 : Climatic tests−Test 11h : Sand and dust
JIS C 5402-11-9:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−9部:耐候性試験−試験11i:高温
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-9: Climatic tests - Test 11i: Dry heat
JIS C 5402-11-10:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−10部:耐候性試験−試験11j:低温
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-10: Climatic tests - Test 11j: Cold
JIS C 5402-11-11:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−11部:耐候性試験−試験11k:減圧
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-11: Climatic tests - Test 11k: Low air pressure
JIS C 5402-11-12:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−12部:耐候性試験−試験11m:温湿度サイクル
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-12: Climatic tests - Test 11m: Damp heat, cyclic
JIS C 5402-11-13:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−13部:耐候性試験−試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-13: Climatic tests - Test 11n: Gas tightness, solderless wrapped connections
JIS C 5402-11-14:2006 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−14部:耐候性試験−試験11p:単一ガス流腐食
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part11-14:Climatic tests-test 11p:Flowing single gas corrosion test
JIS C 5402-12-1:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12−1部:はんだ付け試験−試験12a:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだ槽法
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 12-1: Soldering tests-Test 12a: Solderability, wetting, solder bath method
JIS C 5402-12-2:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12−2部:はんだ付け試験−試験12b:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだこて法
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 12-2: Soldering tests-Test 12b: Solderability, wetting, soldering iron method
JIS C 5402-12-4:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12−4部:はんだ付け試験−試験12d:はんだ耐熱性,はんだ槽法
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 12-4: Soldering tests-Test 12d: Resistance to soldering heat, solder bath method
JIS C 5402-12-5:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12−5部:はんだ付け試験−試験12e:はんだ耐熱性,はんだこて法
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 12-5: Soldering tests-Test 12e: Resistance to soldering heat, soldering iron method
JIS C 5402-12-6:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12−6部:はんだ付け試験−試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 12-6 : Soldering tests−Test 12f : Sealing against flux and cleaning solvents in machine soldering
JIS C 5402-12-7:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12−7部:はんだ付け試験−試験12g:はんだ付け性,平衡法
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 12-7: Soldering tests - Test 12g: Solderability, wetting balance method
JIS C 5402-13-1:2015 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第13−1部:機械的動作試験−試験13a:結合力及び離脱力
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 13-1: Mechanical operation tests-Test 13a: Engaging and separating forces
JIS C 5402-13-2:2012 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第13−2部:機械的動作試験−試験13b:挿入力及び引抜力
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 13-2: Mechanical operation tests-Test 13b: Insertion and withdrawal forces
JIS C 5402-13-5:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第13−5部:機械的動作試験−試験13e:極性及びキーイング
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 13-5: Mechanical operation tests-Test 13e: Polarizing and keying method
JIS C 5402-14-2:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14−2部:封止(気密性)試験−試験14b:封止(気密性)−微小エアリーク
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 14-2: Sealing tests-Test 14b: Sealing-Fine air leakage
JIS C 5402-14-4:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14−4部:封止(気密性)試験−試験14d:浸せき−防水
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 14-4: Sealing tests-Test 14d: Immersion-Waterproof
JIS C 5402-14-5:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14−5部:封止(気密性)試験−試験14e:浸せき(減圧)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 14-5: Sealing tests-Test 14e: Immersion at low air pressure
JIS C 5402-14-6:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14−6部:封止(気密性)試験−試験14f:インタフェーシャルシーリング
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 14-6: Sealing tests-Test 14f: Interfacial sealing
JIS C 5402-14-7:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14−7部:封止(気密性)試験−試験14g:噴射水
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 14-7 : Sealing tests−Test 14g : Impacting water
JIS C 5402-15-1:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15−1部:コネクタ試験(機械的試験)−試験15a:インサート内のコンタクト保持
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-1: Connector tests (mechanical)-Test 15a: Contact retention in insert
JIS C 5402-15-2:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15−2部:コネクタ試験(機械的試験)−試験15b:ハウジング内のインサート保持(軸方向)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-2: Connector tests (mechanical)-Test 15b: Insert retention in housing (axial)
JIS C 5402-15-3:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15−3部:コネクタ試験(機械的試験)−試験15c:ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-3: Connector tests (mechanical)-Test 15c: Insert retention in housing (torsional)
JIS C 5402-15-4:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15−4部:コネクタ試験(機械的試験)−試験15d:コンタクトの挿入,解放及び引抜力
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-4: Connector tests(mechanical tests)-Test 15d: Contact insertion, release and extraction force
JIS C 5402-15-5:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15−5部:コネクタ試験(機械的試験)−試験15e:インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-5: Connector tests (mechanical)-Test 15e: Contact retention in insert, cable nutation
JIS C 5402-15-6:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15−6部:コネクタ試験(機械的試験)−試験15f:コネクタカップリング機構の効果
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-6:Connector tests (mechanical tests)-Test 15f: Effectiveness of connector coupling devices
JIS C 5402-15-8:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15−8部:コネクタ試験(機械的試験)−試験15h:コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 15-8 : Connector tests (mechanical) −Test 15h : Contact retention system, resistance to tool application
JIS C 5402-16-1:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−1部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16a:プローブダメージ
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations-Tests16a: Probe damage
JIS C 5402-16-2:2012 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16b:リストリクテッドエントリ
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-2: Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16b: Restricted entry
JIS C 5402-16-3:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−3部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16c:コンタクト曲げ強度
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-3:Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16c:Contact-bending strength
JIS C 5402-16-4:2012 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−4部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16d:引張強度(圧着接続)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-4:Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16d:Tensile strength(crimped connections)
JIS C 5402-16-5:2012 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−5部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16e:ゲージ保持力(弾性コンタクト)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-5: Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16e: Gauge retention force (resilient contacts)
JIS C 5402-16-6:2014 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−6部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16f:ターミネーション強度
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-6: Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16f: Robustness of terminations
JIS C 5402-16-7:2012 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−7部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16g:圧着後のコンタクトの変形測定
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-7:Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16g:Measurement of contact deformation after crimping
JIS C 5402-16-8:2015 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−8部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16h:インシュレーショングリップの有効性(圧着接続)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-8: Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16h: Insulating grip effectiveness (crimped connections)
JIS C 5402-16-9:2015 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−9部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16i:接地コンタクトスプリングの保持力
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-9: Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16i: Grounding contact spring holding force
JIS C 5402-16-13:2015 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−13部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16m:ラッピングの巻き戻し,無はんだラッピング接続
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-13: Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16m: Un-wrapping, solderless wrapped connections
JIS C 5402-16-20:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16−20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-20 : Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16t : Mechanical strength (wired termination of solderless connections)
JIS C 5402-17-1:2015 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第17−1部:ケーブルクランプ試験−試験17a:ケーブルクランプ強度
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 17-1: Cable clamping tests-Test 17a: Cable clamp robustness
JIS C 5402-17-2:2015 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第17−2部:ケーブルクランプ試験−試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 17-2: Cable clamping tests-Test 17b: Cable clamp resistance to cable rotation
JIS C 5402-17-4:2015 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第17−4部:ケーブルクランプ試験−試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 17-4: Cable clamping tests-Test 17d: Cable clamp resistance to cable torsion
JIS C 5402-19-3:2002 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第19−3部:耐化学薬品試験−試験19c:耐液性
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 19-3 : Chemical resistance tests−Test 19c : Fluid resistance
JIS C 5402-20-2:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第20−2部:耐火性試験−試験20b:耐火性
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 20-2: Flammability tests - Test 20b: Fireproofness
JIS C 5402-22-1:2016 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第22−1部:静電容量試験−試験22a:静電容量
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 22-1: Capacitance tests-Test 22a: Capacitance
JIS C 5402-23-3:2005 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第23−3部:スクリーニング及びフィルタリング試験−試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 23-3: Screening and filtering test - Test 23c: Shielding effectiveness of connectors and accessories
JIS C 5402-23-4:2006 本文01 
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第23−4部:スクリーニング及びフィルタリング試験−試験23d:時間領域での伝送線路の反射
Connectors for ekectronic equipment-Test and measurements-Part23-4:Screening and filtering tests-Test23d:Transmission line reflections in the time domain
JIS C 5402:2014 本文01 本文02 
電子機器用コネクタ試験方法
Method for test of connectors for use in electronic equipment
JIS C 5410:1991 本文01 
高周波同軸コネクタ通則
General rules of connectors for radio frequency coaxial cables
JIS C 5411:1995 本文01 
高周波同軸C01形コネクタ
C01 type connectors for radio frequency coaxial cables
JIS C 5412:1995 本文01 
高周波同軸C02形コネクタ
C 02 type connectors for radio frequency coaxial cables
JIS C 5413:1995 本文01 
高周波同軸C03形コネクタ
C 03 type connectors for radio frequency coaxial cables
JIS C 5414:1995 本文01 
高周波同軸C04形コネクタ
C 04 type connectors for radio frequency coaxial cables
JIS C 5415:1995 本文01 
高周波同軸C05形コネクタ
C 05 type connectors for radio frequency coaxial cables
JIS C 5419:1995 本文01 
高周波同軸C11形コネクタ
C 11 type connectors for radio frequency coaxial cables
JIS C 5432:1994 本文01 
電子機器用丸形R01コネクタ
Type R01 cylindrical connectors for use in electronic equipment
JIS C 5442:1996 本文01 
制御用小形電磁リレーの試験方法
Test methods of low power electromagnetic relaysfor industrial control circuits
JIS C 5445:2012 本文01 
電子機器用スイッチ−第1部:通則
Electromechanical switches for use in electrical and electronic equipment-Part 1: Generic specification
JIS C 5502:1991 本文01 
マイクロホン
Microphones
JIS C 5504:2016 本文01 
ホーンスピーカ
Horn type loudspeakers
JIS C 5512:2015 本文01 
補聴器
Hearing aids
JIS C 5516:2015 本文01 
音声に近い試験信号による補聴器の信号処理特性の測定方法
Methods for characterising signal processing in hearing aids with a speech-like signal
JIS C 5532:2014 本文01 
音響システム用スピーカ
Loudspeakers for sound system equipment
JIS C 5533-1:2008 本文01 
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器−デジタルオーディオ部−音響特性の基本測定方法−第1部:一般事項
Audio and audiovisual equipment - Digital audio parts - Basic measurement methods of audio characteristics - Part 1: General
JIS C 5533-2:2008 本文01 
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器−デジタルオーディオ部−音響特性の基本測定方法−第2部:一般消費者用機器
Audio and audiovisual equipment - Digital audio parts - Basic measurement methods of audio characteristics - Part 2: Consumer use
JIS C 5533-4:2008 本文01 
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器−デジタルオーディオ部−音響特性の基本測定方法−第4部:パーソナルコンピュータ
Audio and audiovisual equipment - Digital audio parts - Basic measurement methods of audio characteristics - Part 4: Personal computer
JIS C 5562:1996 本文01 
磁気テープ録音再生システム 第1部 一般条件及び要求事項
Magnetic tape sound recording and reproducing systems Part 1 : General conditions and requirements
JIS C 5563:1996 本文01 
磁気テープ録音再生システム 第2部 キャリブレーションテープ
Magnetic tape sound recording and reproducing systemsPart 2 : Calibration tapes
JIS C 5564:1991 本文01 
磁気テープ録音再生システム 第3部 磁気テープ録音再生機器の特性測定方法
Magnetic tape sound recording and reproducing systems Part 3:Methods of measuring the characteristics of recording and reproducing equipment for sound on magnetic tape
JIS C 5565:1996 本文01 
磁気テープ録音再生システム 第4部 磁気テープの機械的特性
Magnetic tape sound recording and reproducing systems Part 4 : Mechanical magnetic tape properties
JIS C 5566:1997 本文01 
磁気テープ録音再生システム 第5部 磁気テープの電気的特性
Magnetic tape sound recordingand reproducing systemsPart 5 : Electrical magnetic tape properties
JIS C 5567:1989 本文01 
磁気テープ録音再生システム 第6部 リール・ツー・リールシステム
Magnetic Tape Sound Recording and Reproducing Systems Part 6 : Reel−to−Reel Systems
JIS C 5568:1997 本文01 
磁気テープ録音再生システム 第7部 テープレコード用及び民生用カセット
Magnetic tape sound recording and reproducing systemsPart 7 : Cassette for commercial tape records and domestic use
JIS C 5569:1991 本文01 
録音再生機器における速さ変動の測定方法
Method of measurement of speed fluctuations in sound recording and reproducing equipment
JIS C 5581:1987 本文01 
VHS方式12.65mm(0.5in)磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム
Helical-Scan Video Tape Cassette System Using 12.65mm (0.5in) Magnetic Tape on Type VHS
JIS C 5583:1992 本文01 
8mmビデオ−8mm磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム
Helical-scan video tape cassette system using 8mm magnetic tape-8mm Video
JIS C 5600:2006 本文01 
電子技術基本用語
Glossary of basic terms used in electrotechnology
JIS C 5601:1975 本文01 
電子通信用語(無線通信編その1)
Glossary of Terms Used in Electronics and Telecommunications (Radiotelecommunications No.1)
JIS C 5602:1986 本文01 
電子機器用受動部品用語
Glossary of Passive Components for Electronic Equipment
JIS C 5603:1993 本文01 
プリント回路用語
Terms and definitions for printed circuits
JIS C 5610:1996 本文01 
集積回路用語
Glossary of terms used in integrated circuits
JIS C 5630-1:2008 本文01 
マイクロマシン及びMEMSに関する用語
Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices-Part 1: Terms and definitions
JIS C 5630-2:2009 本文01 
マイクロマシン及びMEMS−第2部:薄膜材料の引張強さ試験方法
Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices-Part 2: Tensile testing method of thin film materials
JIS C 5630-3:2009 本文01 
マイクロマシン及びMEMS−第3部:薄膜材料の標準試験片
Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices-Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
JIS C 5630-6:2011 本文01 
マイクロマシン及びMEMS−第6部:薄膜材料の軸荷重疲労試験方法
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6 : Axial fatigue testing methods of thin film materials
JIS C 5630-12:2014 本文01 
マイクロマシン及びMEMS−第12部:MEMS構造体の共振振動を用いた薄膜材料の曲げ荷重疲労試験方法
Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices-Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
JIS C 5630-13:2014 本文01 
マイクロマシン及びMEMS−第13部:MEMS構造体のための曲げ及びせん断試験による接合強度試験方法
Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices-Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
JIS C 5630-18:2014 本文01 
マイクロマシン及びMEMS−第18部:薄膜曲げ試験方法
Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices-Part 18: Bend testing methods of thin film materials
JIS C 5630-19:2014 本文01 
マイクロマシン及びMEMS−第19部:電子コンパス
Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices-Part 19: Electronic compasses
JIS C 5630-20:2015 本文01 
マイクロマシン及びMEMS−第20部:小型ジャイロ
Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices-Part 20:Gyroscopes
JIS C 5750-1:2010 本文01 
ディペンダビリティ マネジメント−第1部:ディペンダビリティ マネジメントシステム
Dependability management-Part 1: Dependability management systems
JIS C 5750-2:2010 本文01 
ディペンダビリティ マネジメント−第2部:ディペンダビリティ マネジメントのための指針
Dependability management-Part 2: Guidelines for dependability management
JIS C 5750-3-1:2006 本文01 
ディペンダビリティ管理−第3−1部:適用の指針−ディペンダビリティ解析手法の指針
Dependability management - Part 3-1: Application guide -Analysis techniques for dependability - Guide on methodology
JIS C 5750-3-2:2008 本文01 
ディペンダビリティ管理−第3−2部:適用の指針−フィールドからのディペンダビリティデータの収集
Dependability management-Part 3-2: Application guide-Collection of dependability data from the field
JIS C 5750-3-3:2008 本文01 
ディペンダビリティ管理−第3−3部:適用の指針−ライフサイクル コスティング
Dependability management-Part 3-3: Application guide-Life cycle costing
JIS C 5750-3-4:2011 本文01 
ディペンダビリティ マネジメント−第3−4部:適用の指針−ディペンダビリティ要求事項仕様書作成の指針
Dependability management-Part 3-4: Application guide-Guide to the specification of dependability requirements
JIS C 5750-3-5:2006 本文01 
ディペンダビリティ管理−第3−5部:適用の指針−信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則
Dependability management
JIS C 5750-3-6:2003 本文01 
ディペンダビリティ管理−第3−6部:適用の指針−ディペンダビリティにおけるソフトウェアの側面
Dependability management - Part 3-6 : Application guide - Software aspects of dependability
JIS C 5750-3-7:2003 本文01 
ディペンダビリティ管理−第3−7部:適用の指針−電子ハードウェアの信頼性ストレススクリーニング
Dependability management-Part 3-7:Application guide-Reliability stress screening of electronic hardware
JIS C 5750-4-1:2008 本文01 
ディペンダビリティ管理−第4−1部:適用の指針−リユース部品を含む製品のディペンダビリティ−機能性及び試験に関する要求事項
Dependability management-Parts 4-1: Application guide-Dependability of products containing reused parts-Requirements for functionality and test
JIS C 5750-4-2:2008 本文01 
ディペンダビリティ管理−第4−2部:適用の指針−ソフトウェア ライフサイクル プロセスにおけるソフトウェア ディペンダビリティ
Dependability management-Part 4-2 : Software dependability through the software life-cycle processes-Application guide
JIS C 5750-4-3:2011 本文01 
ディペンダビリティ マネジメント−第4−3部:システム信頼性のための解析技法−故障モード・影響解析(FMEA)の手順
Dependability management-Part 4-3 : Analysis techniques for system reliability-Procedure for failure mode and effects analysis (FMEA)
JIS C 5750-4-4:2011 本文01 
ディペンダビリティ マネジメント−第4−4部:システム信頼性のための解析技法−故障の木解析(FTA)
Dependability management-Part 4-4: Analysis techniques for system reliability-Fault Tree Analysis (FTA)
JIS C 5860:2012 本文01 
空間ビーム光用受動部品通則
General rules of passive devices for light beam transmission
JIS C 5870:2009 本文01 
干渉フィルタ通則
General specifications of interference filters
JIS C 5871:2011 本文01 
干渉フィルタ試験方法
Test methods of interference filters
JIS C 5876-1:2009 本文01 
位相子通則
General specifications of retarder
JIS C 5877-1:2015 本文01 
偏光子−第1部:通則
Polarizer-Part 1: General rule
JIS C 5877-2:2012 本文01 
偏光子試験方法
Test methods of polarizer
JIS C 5900:2013 本文01 
光伝送用受動部品通則
General rules of passive devices for fiber optic transmission
JIS C 5901:2009 本文01 本文02 
光伝送用受動部品試験方法
Test methods of passive devices for fiber optic transmission
JIS C 5910-1:2014 本文01 
波長選択性のない光ブランチングデバイス−第1部:通則
Fibre optic interconnecting devices and passive components-Non-wavelength-selective fibre optic branching devices-Part 1: Generic specification
JIS C 5910-3:2015 本文01 
波長選択性のない光ブランチングデバイス−第3部:シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデバイス
Non-wavelength-selective fiber optic branching devices-Part 3: Non-connectorised single-mode 1xN and 2xN non-wavelength-selective branching devices
JIS C 5912:2006 本文01 
波長スイッチ通則
General rules of wavelength switches
JIS C 5914:2013 本文01 
光サーキュレータ通則
General rules of optical circulator
JIS C 5915:2009 本文01 
シングルモード光ファイバピッグテール型光サーキュレータ
Single-mode fibre, pigtailed-style optical circulators
JIS C 5916-3:2013 本文01 
光ファイバ形分散補償器
Fiber optic chromatic dispersion compensator using single-mode dispersion compensating fiber
JIS C 5916:2012 本文01 
光伝送用分散補償器通則
General rules of dispersion compensators for fiber optic transmission
JIS C 5920-1:2015 本文01 
光伝送用パワー制御受動部品−第1部:通則
Fiber optic passive power control devices-Part 1:Generic specification
JIS C 5921:2009 本文01 
シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器
Single-mode fibre, pigtailed-style fixed optical attenuators
JIS C 5925-1:2016 本文01 
光伝送用WDMデバイス−第1部:通則
Fiber optic WDM devices-Part 1: Generic specification
JIS C 5925-3:2011 本文01 
シングルモード光ファイバピッグテール形C/LバンドWDMデバイス
Non-connectorized single-mode fiber optic C-band/L-band WDM devices
JIS C 5925-4:2011 本文01 
シングルモード光ファイバピッグテール形980/1550nmWWDMデバイス
Non-connectorized single-mode fiber optic 980/1 550 nm WWDM devices
JIS C 5925-5:2013 本文01 
シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス
Non-connectorized single-mode fibre optics middle-scale 1xN DWDM devices
JIS C 5926-1:2014 本文01 
光伝送用光フィルタ−第1部:通則
Fibre optic filters-Part 1: General rule
JIS C 5930-1:2016 本文01 
光伝送用スイッチ−第1部:通則
Fiber optic switches-Part 1:Generic specification
JIS C 5931:1988 本文01 
光スイッチ試験方法
Test Methods for Optical Switches
JIS C 5932:2012 本文01 
光アイソレータ通則
General rules of optical isolator
JIS C 5933:2012 本文01 
光アイソレータ試験方法
Test methods of optical isolators
JIS C 5934:1999 本文01 
光伝送用レンズ通則
General rules of lenses for fiber optic transmission
JIS C 5935:2005 本文01 
光伝送用レンズ試験方法
Measurement methods of lenses for optic transmission
JIS C 5936-3:2011 本文01 
シングルモード光ファイバピッグテール形光アイソレータ
Single-mode fiber, pigtailed-style optical isolators
JIS C 5940:1997 本文01 本文02 
光伝送用半導体レーザ通則
General rules of laser diodes for fiber optic transmission
JIS C 5941:1997 本文01 本文02 
光伝送用半導体レーザ測定方法
Measuring methods of laser diodesfor fiber optic transmission
JIS C 5942:2010 本文01 
再生用及び記録用半導体レーザ通則
General rules of laser diodes used for recording and playback
JIS C 5943:2010 本文01 
再生用及び記録用半導体レーザ測定方法
Measuring methods of laser diodes used for recording and playback
JIS C 5944:2005 本文01 
光伝送用半導体レーザモジュール通則
General rules of laser diode modules for fiber optic transmission
JIS C 5945:2005 本文01 
光伝送用半導体レーザモジュール測定方法
Measuring methods of laser diode modules for fiber optic transmission
JIS C 5946:2005 本文01 
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則
General rules of laser diode modules for optical fibre amplifier
JIS C 5947:2005 本文01 
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法
Measuring methods of laser diode modules for optical fibre amplifier
JIS C 5948:2007 本文01 
光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法
Laser modules used for telecommunication-Reliability assessment
JIS C 5950:1997 本文01 本文02 
光伝送用発光ダイオード通則
General rules of light emitting diodes for fiber optic transmission
JIS C 5951:1997 本文01 本文02 
光伝送用発光ダイオード測定方法
Measuring methods of light emitting diodes for fiber optic transmission
JIS C 5952-1:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第1部:総則
Fiber optic active components and devices-Package and interface standards-Part 1: General and guidance
JIS C 5952-2:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第2部:MT-RJ(F19形)コネクタ付10ピンSFF形光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 2: SFF MT-RJ 10-pin transceivers
JIS C 5952-3:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第3部:MT−RJ(F19形)コネクタ付20ピンSFF形光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 3: SFF MT-RJ 20-pin transceivers
JIS C 5952-4:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第4部:PNコネクタ付1×9ピンプラスチック光ファイバ光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 4:PN 1x9 plastic optical fibre transceivers
JIS C 5952-5:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第5部:SC(F04形)コネクタ付1×9ピン光送信・受信モジュール及び光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 5: SC 1x9 fibre optic modules
JIS C 5952-6:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第6部:ATM−PON用光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 6: ATM-PON transceivers
JIS C 5952-7:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第7部:LCコネクタ付10ピンSFF形光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 7: SFF LC 10-pin transceivers
JIS C 5952-8:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第8部:LCコネクタ付20ピンSFF形光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 8: SFF LC 20-pin transceivers
JIS C 5952-9:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第9部:MU(F14形)コネクタ付10ピンSFF形光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 9: SFF MU duplex 10-pin transceivers
JIS C 5952-10:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第10部:MU(F14形)コネクタ付20ピンSFF形光トランシーバ
Fibre optic active components and devices-Package and interface standards-Part 10: SFF MU duplex 20-pin transceivers
JIS C 5952-11:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第11部:14ピン変調器集積形半導体レーザ送信モジュール
Fibre optics active components and devices-Package and interface standards-Part 11: 14-pin modulator-integrated laser diode transmitters
JIS C 5952-12:2008 本文01 
光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第12部:同軸形高周波コネクタ付半導体レーザ送信モジュール
Fiber optics active components and devices-Package interface standards-Part 12: Laser transmitters with a coaxial RF connector
JIS C 5953-1:2016 本文01 
光伝送用能動部品−性能標準−第1部:総則
Fiber optic active components and devices-Performance standards-Part 1: General and guidance
JIS C 5953-3:2007 本文01 
光伝送用能動部品−性能標準−第3部:2.5 Gbit/s変調器集積形半導体レーザモジュール
Fibre optic active components and devices-Performance standards-Part 3: 2.5 Gbit/s modulator-integrated laser diode transmitters
JIS C 5953-4:2008 本文01 
光伝送用能動部品−性能標準−第4部:1300nmギガビットイーサネット用光トランシーバ
Fiber optic active components and devices-Performance standards-Part 4: 1 300 nm fiber optic transceivers for gigabit Ethernet application
JIS C 5953-5:2008 本文01 
光伝送用能動部品−性能標準−第5部:半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ATM−PON用光トランシーバ
Fiber optic active components and devices-Performance standards-Part 5: ATM-PON transceivers with LD driver and CDR ICs
JIS C 5953-6:2009 本文01 
光伝送用能動部品−性能標準−第6部:650nm,250Mbit/sプラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバ
Fiber optic active components and devices-Performance standards-Part 6:650-nm 250-Mbit/s plastic optical fibre transceivers
JIS C 5954-1:2008 本文01 
光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第1部:総則
Fiber optic active components and devices-Test and measurement procedures-Part 1: General and guidance
JIS C 5954-2:2008 本文01 
光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第2部:ATM−PON用光トランシーバ
Fiber optic active components and devices-Test and measurement procedures-Part2:ATM-PON transceivers
JIS C 5954-3:2013 本文01 
光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第3部:単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
Fiber optic active components and devices-Test and measurement procedures-Part 3: Optical transmitting and/or receiving modules for single fiber serial transmission link
JIS C 5955-1:2016 本文01 
光伝送用能動部品−性能標準テンプレート−第1部:単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
Fiber optic active components and devices-Performance standard template-Part 1: Transmitting and/or receiving modules for single fiber serial transmission link
JIS C 5961:2009 本文01 本文02 
光ファイバコネクタ試験方法
Test methods of connectors for optical fiber cables
JIS C 5962:2001 本文01 
光ファイバコネクタ通則
General rules of connectors for optical fiber cables
JIS C 5963:2001 本文01 
光ファイバコード付き光コネクタ通則
General rules of connectors with optical fiber cables
JIS C 5964-4-1:2014 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第4−1部:SC形光ファイバコネクタ類−SC−PC簡易レセプタクル(F16形)
Fiber optic connector interfaces-Part 4-1: Type SC connector family-Simplified receptacle SC-PC connector interfaces (F16 type)
JIS C 5964-4:2014 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第4部:SC形光ファイバコネクタ類(F04形)
Fiber optic connector interfaces-Part 4: Type SC connector family (F04 Type)
JIS C 5964-5:2012 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第5部:MTコネクタ類(F12形)
Fiber optic connector interfaces-Part 5: Type MT connector family (F12 type)
JIS C 5964-6-1:2014 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第6−1部:MU形光ファイバコネクタ類−MU−PC簡易レセプタクル(F17形)
Fiber optic connector interfaces-Part 6-1: Type MU connector family-Simplified receptacle MU-PC connector interfaces (F17 type)
JIS C 5964-6:2014 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第6部:MU形光ファイバコネクタ類(F14形)
Fiber optic connector interfaces-Part 6: Type MU connector family (F14 Type)
JIS C 5964-7:2010 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第7部:MPOコネクタ類(F13)
Fiber optic connector interfaces-Part 7: Type MPO connector family (F13)
JIS C 5964-13:2015 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第13部:FC−PC形光ファイバコネクタ類(F01形)
Fiber optic connector interfaces-Part 13: Type FC-PC connector family (F01 Type)
JIS C 5964-18:2014 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第18部:MT−RJコネクタ類(F19形)
Fiber optic connector interfaces-Part 18: Type MT-RJ connector family (F19 type)
JIS C 5964-20:2015 本文01 
光ファイバコネクタかん合標準−第20部:LC形光ファイバコネクタ類
Fiber optic connector interfaces-Part 20: Type LC connector family
JIS C 5965-1:2009 本文01 
光ファイバコネクタ光学互換−第1部:シングルモード(1310nmゼロ分散形)光ファイバ用光学互換標準の通則
Fiber optic connector optical interfaces-Part 1: Optical interfaces for single mode non-dispersion shifted fibers-General and guidance
JIS C 5965-2-1:2011 本文01 
光ファイバコネクタ光学互換−第2−1部:シングルモード直角PC端面光ファイバ光学互換標準の指針
Fiber optic connector optical interfaces-Part 2-1: Optical interface standard single mode non-angled physically contacting fibers
JIS C 5965-2-2:2011 本文01 
光ファイバコネクタ光学互換−第2−2部:シングルモード斜めPC端面光ファイバ光学互換標準の指針
Fiber optic connector optical interfaces-Part 2-2: Optical interface standard single mode angled physically contacting fibers
JIS C 5965-2-4:2016 本文01 
光ファイバコネクタ光学互換標準−第2−4部:基準接続用シングルモード直角PC端面光ファイバの接続パラメータ
Fiber optic connector optical interfaces-Part 2-4: Connection parameters of single mode physically contacting fibers-Non-angled for reference connection applications
JIS C 5965-2-5:2016 本文01 
光ファイバコネクタ光学互換標準−第2−5部:基準接続用シングルモード斜めPC端面光ファイバの接続パラメータ
Fiber optic connector optical interfaces-Part 2-5: Connection parameters of single mode physically contacting fibers-Angled for reference connection applications
JIS C 5965-3-1:2011 本文01 
光ファイバコネクタ光学互換−第3−1部:シングルモード光ファイバ用直径2.5mm及び1.25mm円筒形全ジルコニア直角PC端面フェルール光学互換標準
Fiber optic connector optical interfaces-Part 3-1: Optical interface, 2.5 mm and 1.25 mm diameter cylindrical full zirconia PC ferrule, single mode fiber
JIS C 5965-3-2:2011 本文01 
光ファイバコネクタ光学互換−第3−2部:シングルモード光ファイバ用直径2.5mm及び1.25mm円筒形全ジルコニア8度斜めPC端面フェルール光学互換標準
Fiber optic connector optical interfaces-Part 3-2: Optical interface, 2.5 mm and 1.25 mm diameter cylindrical full zirconia ferrules for 8 degrees angled-PC single mode fibers
JIS C 5970:2015 本文01 
F01形単心光ファイバコネクタ(FCコネクタ)
F01 Type connectors for optical fiber cables (Type FC connector)
JIS C 5971:1998 本文01 
F02形単心光ファイバコネクタ
F02 Type connectors for optical fiber cables
JIS C 5973:2014 本文01 
F04形光ファイバコネクタ(SCコネクタ)
F04 Type connectors for optical fiber cables (Type SC connector)
JIS C 5974:1998 本文01 
F05形単心光ファイバコネクタ
F05 Type connectors for optical fiber cables
JIS C 5975:1998 本文01 
F06形単心光ファイバコネクタ
F06 Type connectors for optical fiber cables
JIS C 5976:2001 本文01 
F07形2心光ファイバコネクタ
F07 Type connectors for optical fiber cables
JIS C 5977:1998 本文01 
F08形2心光ファイバコネクタ
F08 Type connectors for optical fiber cables
JIS C 5980:1998 本文01 
F11形光ファイバコネクタ
F11 Type connectors for optical fiber cables
JIS C 5981:2012 本文01 
F12形多心光ファイバコネクタ(MTコネクタ)
F12 Type connectors for optical fiber ribbons (MT connectors)
JIS C 5982:2010 本文01 
F13形多心光ファイバコネクタ(MPOコネクタ)
F13 type connectors for optical fiber ribbons
JIS C 5983:2014 本文01 
F14形光ファイバコネクタ(MUコネクタ)
F14 Type connectors for optical fiber cables (Type MU connector)
JIS C 5984:2001 本文01 
F15形光ファイバコネクタ
F15 Type connectors for optical fiber cables
JIS C 5985:2014 本文01 
F16形光ファイバコネクタ(SC−SRコネクタ)
F16 Type connectors for optical fiber cables (Type SC-SR connector)
JIS C 5986:2014 本文01 
F17形光ファイバコネクタ(MU−SRコネクタ)
F17 Type connectors for optical fiber cables (Type MU-SR connector)
JIS C 5987:2005 本文01 
F18形光ファイバコネクタ
F18 type connectors for optical fiber cables
JIS C 5988:2014 本文01 
F19形光ファイバコネクタ(MT−RJコネクタ)
F19 Type connectors for optical fiber cables
JIS C 5990:1997 本文01 本文02 
光伝送用フォトダイオード通則
General rules of photodiodes for fiber optic transmission
JIS C 5991:1997 本文01 本文02 
光伝送用フォトダイオード測定方法
Measuring methods of photodiodes for fiber optic transmission