JIS C 5003:1974 本文1
電子部品の故障率試験方法通則
JIS C 5005-2:2010 本文1
品質評価システム-第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
JIS C 5010:1994 本文1
プリント配線板通則
JIS C 5012:1993 本文1
プリント配線板試験方法
JIS C 5013:1996 本文1
片面及び両面プリント配線板
JIS C 5014:1994 本文1
多層プリント配線板
JIS C 5016:1994 本文1
フレキシブルプリント配線板試験方法
JIS C 5017:1994 本文1
フレキシブルプリント配線板-片面・両面
JIS C 5062:2008 本文1
抵抗器及びコンデンサの表示記号
JIS C 5064:2009 本文1
電子機器及び通信機器用固定インダクタ-表示記号
JIS C 5070:2009 本文1
表面実装技術-表面実装部品(SMD)の輸送及び保管条件-指針
JIS C 5101-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第1部:品目別通則
JIS C 5101-2-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第2-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-2:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第2部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-3-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第3-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-3:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第3部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第4-1部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ-評価水準EZ
JIS C 5101-4-2:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第4-2部:ブランク個別規格:アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ-評価水準EZ
JIS C 5101-4:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第4部:品種別通則:アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-8-1:2008 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第8-1部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-8:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第8部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-9-1:2008 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第9-1部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-9:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第9部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-11-1:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第11-1部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-11:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第11部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第13-1部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-13:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第13部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-14-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第14-1部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第14-2部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求する試験
JIS C 5101-14-3:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第14-3部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
JIS C 5101-14:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-15-1:1998 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第15部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-15-2:1998 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-15-3:1998 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-15:1998 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-16-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第16-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-16:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第16部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-17-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第17-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第17部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ
JIS C 5101-18-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第18-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ-評価水準EZ
JIS C 5101-18-2:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第18-2部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ-評価水準EZ
JIS C 5101-18:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第18部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-20-1:2010 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第20-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-20:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第20部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-21-1:2006 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第21-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-21:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第21部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-22-1:2006 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第22-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-22:2014 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第22部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-23-1:2008 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第23-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-23:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第23部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-24-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第24-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ-評価水準EZ
JIS C 5101-24:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第24部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ
JIS C 5101-25-1:2009 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第25-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ-評価水準EZ
JIS C 5101-25:2018 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第25部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ
JIS C 5101-26-1:2012 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第26-1部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-26:2012 本文1
電子機器用固定コンデンサ-第26部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ
JIS C 5160-1:2018 本文1
電気及び電子機器用固定電気二重層コンデンサ-第1部:品目別通則
JIS C 5160-2-1:2009 本文1
電子機器用固定電気二重層コンデンサ-第2-1部:ブランク個別規格-パワー用電気二重層コンデンサ-評価水準EZ
JIS C 5160-2:2009 本文1
電子機器用固定電気二重層コンデンサ-第2部:品種別通則-パワー用電気二重層コンデンサ
JIS C 5201-1:2011 本文1
電子機器用固定抵抗器-第1部:品目別通則
JIS C 5201-2-1:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器-第2部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-2:2014 本文1
電子機器用固定抵抗器-第2部:品種別通則:低電力皮膜固定抵抗器
JIS C 5201-4-1:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器-第4部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-4:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器-第4部:品種別通則:電力形固定抵抗器
JIS C 5201-5-1:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器-第5部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器 評価水準E
JIS C 5201-5:1998 本文1
電子機器用固定抵抗器-第5部:品種別通則:精密級固定抵抗器
JIS C 5201-6-1:1999 本文1
電子機器用固定抵抗器-第6部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及び同一定格電力 評価水準E
JIS C 5201-6:1999 本文1 本文2
電子機器用固定抵抗器-第6部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
JIS C 5201-8-1:2014 本文1
電子機器用固定抵抗器-第8-1部:ブランク個別規格:一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器,製品性能水準G
JIS C 5201-8:2014 本文1
電子機器用固定抵抗器-第8部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器
JIS C 5201-9-1:2006 本文1
電子機器用固定抵抗器-第9-1部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器-評価水準EZ
JIS C 5201-9:2006 本文1
電子機器用固定抵抗器-第9部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器
JIS C 5260-1:2014 本文1
電子機器用可変抵抗器-第1部:品目別通則
JIS C 5260-2-1:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器-第2部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器-第2部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-2:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器-第2部:品種別通則:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-3-1:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器-第3部:ブランク個別規格:回転形精密級可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-3:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器-第3部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器
JIS C 5260-4-1:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器-第4部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-4-2:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器-第4部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-4:2000 本文1
電子機器用可変抵抗器-第4部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器
JIS C 5260-5-1:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器-第5部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器-第5部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-5:2000 本文1 本文2
電子機器用可変抵抗器-第5部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5270:2011 本文1
電子機器用コンデンサ及び抵抗器-軸操作形部品の操作軸,取付ねじ及び取付孔の形状並びに推奨寸法
JIS C 5310:1997 本文1
電子機器用電源変圧器品目別通則
JIS C 5311:1994 本文1
電子機器用電源変圧器試験方法
JIS C 5320:1994 本文1
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則
JIS C 5321:1997 本文1
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法
JIS C 5381-11:2014 本文1
低圧サージ防護デバイス-第11部:低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
JIS C 5381-12:2014 本文1
低圧サージ防護デバイス-第12部:低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの選定及び適用基準
JIS C 5381-21:2014 本文1
低圧サージ防護デバイス-第21部:通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス(SPD)の要求性能及び試験方法
JIS C 5381-22:2018 本文1
低圧サージ防護デバイス-第22部:通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス(SPD)の選定及び適用基準
JIS C 5381-311:2016 本文1
低圧サージ防護デバイス用部品-第311部:ガス入り放電管(GDT)の要求事項及び試験回路
JIS C 5381-312:2016 本文1
低圧サージ防護デバイス用部品-第312部:ガス入り放電管(GDT)の選定及び適用基準
JIS C 5381-321:2004 本文1
低圧サージ防護デバイス用アバランシブレークダウンダイオード(ABD)の試験方法
JIS C 5381-331:2006 本文1
低圧サージ防護デバイス用金属酸化物バリスタ(MOV)の試験方法
JIS C 5381-341:2005 本文1
低圧サージ防護デバイス用サージ防護サイリスタ(TSS)の試験方法
JIS C 5401-1:2015 本文1
電子機器用コネクタ-製品要求事項-第1部:品目別通則
JIS C 5401-2-001:2005 本文1
電子機器用コネクタ-第2-001部:丸形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格
JIS C 5401-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ-第2部:品種別通則-丸形コネクタ-品質評価付
JIS C 5401-3-001:2005 本文1
電子機器用コネクタ-第3-001部:角形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格
JIS C 5401-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ-第3部:品種別通則-角形コネクタ-品質評価付
JIS C 5401-4-001:2005 本文1
電子機器用コネクタ-第4-001部:プリント配線板用コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格
JIS C 5401-4:2005 本文1
電子機器用コネクタ-第4部:品種別通則-プリント配線板用コネクタ-品質評価付
JIS C 5402-1-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-1部:一般試験-試験1a:外観
JIS C 5402-1-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-2部:一般試験-試験1b:寸法及び質量
JIS C 5402-1-3:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-3部:一般検査-試験1c:電気的接触長
JIS C 5402-1-4:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-4部:一般検査-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)
JIS C 5402-1-100:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-100部:一般-試験方法規格一覧
JIS C 5402-1:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1部:一般
JIS C 5402-2-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-1部:導通及び接触抵抗試験-試験2a:接触抵抗-ミリボルトレベル法
JIS C 5402-2-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-2部:導通及び接触抵抗試験-試験2b:接触抵抗-規定電流法
JIS C 5402-2-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ―試験及び測定-第2-3部:導通及び接触抵抗試験-試験2c:接触抵抗の変動
JIS C 5402-2-5:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-5部:導通及び接触抵抗試験-試験2e:コンタクトディスターバンス
JIS C 5402-2-6:2005 本文1
電子機器用コネクタ―試験及び測定-第2-6部:導通及び接触抵抗試験-試験2f:ハウジング(シェル)の導通性
JIS C 5402-3-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第3-1部:絶縁試験-試験3a:絶縁抵抗
JIS C 5402-4-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-1部:電圧ストレス試験-試験4a:耐電圧
JIS C 5402-4-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電
JIS C 5402-4-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-3部:電圧ストレス試験-試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル)
JIS C 5402-5-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第5-1部:電流容量試験-試験5a:温度上昇
JIS C 5402-5-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第5-2部:電流容量試験-試験5b:電流・温度の軽減
JIS C 5402-6-1:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-1部:動的ストレス試験-試験6a:加速度(定常)
JIS C 5402-6-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-2部:動的ストレス試験-試験6b:バンプ
JIS C 5402-6-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-3部:動的ストレス試験-試験6c:衝撃
JIS C 5402-6-4:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-4部:動的ストレス試験-試験6d:正弦波振動
JIS C 5402-7-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第7-1部:衝撃試験(可動形コネクタ)-試験7a:自由落下(繰返し)
JIS C 5402-8-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第8-1部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8a:静的な力,横方向
JIS C 5402-8-2:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第8-2部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8b:静的な力,軸方向
JIS C 5402-8-3:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第8-3部:静的な力試験(固定形コネクタ)-試験8c:操作レバーの強度
JIS C 5402-9-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第9-1部:耐久試験-試験9a:機械的動作
JIS C 5402-10-4:2006 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第10-4部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験-試験10d:電気的過負荷(コネクタ)
JIS C 5402-11-1:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性
JIS C 5402-11-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-2部:耐候性試験-試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス
JIS C 5402-11-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-3部:耐候性試験-試験11c:高温高湿(定常)
JIS C 5402-11-4:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-4部:耐候性試験-試験11d:温度急変
JIS C 5402-11-5:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-5部:耐候性試験-試験11e:かびの成長
JIS C 5402-11-6:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-6部:耐候性試験-試験11f:腐食,塩水噴霧
JIS C 5402-11-7:2006 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食
JIS C 5402-11-8:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん
JIS C 5402-11-9:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-9部:耐候性試験-試験11i:高温
JIS C 5402-11-10:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-10部:耐候性試験-試験11j:低温
JIS C 5402-11-11:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-11部:耐候性試験-試験11k:減圧
JIS C 5402-11-12:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-12部:耐候性試験-試験11m:温湿度サイクル
JIS C 5402-11-13:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-13部:耐候性試験-試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続
JIS C 5402-11-14:2006 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食
JIS C 5402-12-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-1部:はんだ付け試験-試験12a:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだ槽法
JIS C 5402-12-2:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-2部:はんだ付け試験-試験12b:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだこて法
JIS C 5402-12-4:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-4部:はんだ付け試験-試験12d:はんだ耐熱性,はんだ槽法
JIS C 5402-12-5:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-5部:はんだ付け試験-試験12e:はんだ耐熱性,はんだこて法
JIS C 5402-12-6:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止
JIS C 5402-12-7:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-7部:はんだ付け試験-試験12g:はんだ付け性,平衡法
JIS C 5402-13-1:2015 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力
JIS C 5402-13-2:2012 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-2部:機械的動作試験-試験13b:挿入力及び引抜力
JIS C 5402-13-5:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-5部:機械的動作試験-試験13e:極性及びキーイング
JIS C 5402-14-2:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-2部:封止(気密性)試験-試験14b:封止(気密性)-微小エアリーク
JIS C 5402-14-4:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-4部:封止(気密性)試験-試験14d:浸せき-防水
JIS C 5402-14-5:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-5部:封止(気密性)試験-試験14e:浸せき(減圧)
JIS C 5402-14-6:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-6部:封止(気密性)試験-試験14f:インタフェーシャルシーリング
JIS C 5402-14-7:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水
JIS C 5402-15-1:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-1部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15a:インサート内のコンタクト保持
JIS C 5402-15-2:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-2部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15b:ハウジング内のインサート保持(軸方向)
JIS C 5402-15-3:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-3部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15c:ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向)
JIS C 5402-15-4:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-4部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15d:コンタクトの挿入,解放及び引抜力
JIS C 5402-15-5:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-5部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15e:インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation)
JIS C 5402-15-6:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-6部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15f:コネクタカップリング機構の効果
JIS C 5402-15-8:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性
JIS C 5402-16-1:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-1部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16a:プローブダメージ
JIS C 5402-16-2:2012 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16b:リストリクテッドエントリ
JIS C 5402-16-3:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-3部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16c:コンタクト曲げ強度
JIS C 5402-16-4:2012 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-4部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16d:引張強度(圧着接続)
JIS C 5402-16-5:2012 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-5部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16e:ゲージ保持力(弾性コンタクト)
JIS C 5402-16-6:2014 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-6部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16f:ターミネーション強度
JIS C 5402-16-7:2012 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-7部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16g:圧着後のコンタクトの変形測定
JIS C 5402-16-8:2015 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-8部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16h:インシュレーショングリップの有効性(圧着接続)
JIS C 5402-16-9:2015 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-9部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16i:接地コンタクトスプリングの保持力
JIS C 5402-16-13:2015 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-13部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16m:ラッピングの巻き戻し,無はんだラッピング接続
JIS C 5402-16-20:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)
JIS C 5402-17-1:2015 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第17-1部:ケーブルクランプ試験-試験17a:ケーブルクランプ強度
JIS C 5402-17-2:2015 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第17-2部:ケーブルクランプ試験-試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)
JIS C 5402-17-3:2018 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第17-3部:ケーブルクランプ試験-試験17c:ケーブルクランプ強度(ケーブルの引張り)
JIS C 5402-17-4:2015 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第17-4部:ケーブルクランプ試験-試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)
JIS C 5402-19-3:2002 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性
JIS C 5402-20-2:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第20-2部:耐火性試験-試験20b:耐火性
JIS C 5402-22-1:2016 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第22-1部:静電容量試験-試験22a:静電容量
JIS C 5402-23-3:2005 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第23-3部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果
JIS C 5402-23-4:2006 本文1
電子機器用コネクタ-試験及び測定-第23-4部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23d:時間領域での伝送線路の反射
JIS C 5402:2014 本文1 本文2
電子機器用コネクタ試験方法
JIS C 5410:1991 本文1
高周波同軸コネクタ通則
JIS C 5411:1995 本文1
高周波同軸C01形コネクタ
JIS C 5412:1995 本文1
高周波同軸C02形コネクタ
JIS C 5413:1995 本文1
高周波同軸C03形コネクタ
JIS C 5414:1995 本文1
高周波同軸C04形コネクタ
JIS C 5415:1995 本文1
高周波同軸C05形コネクタ
JIS C 5419:1995 本文1
高周波同軸C11形コネクタ
JIS C 5432:1994 本文1
電子機器用丸形R01コネクタ
JIS C 5442:1996 本文1
制御用小形電磁リレーの試験方法
JIS C 5445:2012 本文1
電子機器用スイッチ-第1部:通則
JIS C 5502:1991 本文1
マイクロホン
JIS C 5504:2016 本文1
ホーンスピーカ
JIS C 5512:2015 本文1
補聴器
JIS C 5516:2015 本文1
音声に近い試験信号による補聴器の信号処理特性の測定方法
JIS C 5532:2014 本文1
音響システム用スピーカ
JIS C 5533-1:2008 本文1
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器-デジタルオーディオ部-音響特性の基本測定方法-第1部:一般事項
JIS C 5533-2:2008 本文1
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器-デジタルオーディオ部-音響特性の基本測定方法-第2部:一般消費者用機器
JIS C 5533-4:2008 本文1
オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器-デジタルオーディオ部-音響特性の基本測定方法-第4部:パーソナルコンピュータ
JIS C 5562:1996 本文1
磁気テープ録音再生システム 第1部 一般条件及び要求事項
JIS C 5563:1996 本文1
磁気テープ録音再生システム 第2部 キャリブレーションテープ
JIS C 5564:1991 本文1
磁気テープ録音再生システム 第3部 磁気テープ録音再生機器の特性測定方法
JIS C 5565:1996 本文1
磁気テープ録音再生システム 第4部 磁気テープの機械的特性
JIS C 5566:1997 本文1
磁気テープ録音再生システム 第5部 磁気テープの電気的特性
JIS C 5567:1989 本文1
磁気テープ録音再生システム 第6部 リール・ツー・リールシステム
JIS C 5568:1997 本文1
磁気テープ録音再生システム 第7部 テープレコード用及び民生用カセット
JIS C 5569:1991 本文1
録音再生機器における速さ変動の測定方法
JIS C 5581:1987 本文1
VHS方式12.65mm(0.5in)磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム
JIS C 5583:1992 本文1
8mmビデオ-8mm磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム
JIS C 5600:2006 本文1
電子技術基本用語
JIS C 5601:1975 本文1
電子通信用語(無線通信編その1)
JIS C 5602:1986 本文1
電子機器用受動部品用語
JIS C 5603:1993 本文1
プリント回路用語
JIS C 5610:1996 本文1
集積回路用語
JIS C 5630-1:2017 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第1部:マイクロマシン及びMEMSに関する用語
JIS C 5630-2:2009 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第2部:薄膜材料の引張強さ試験方法
JIS C 5630-3:2009 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第3部:薄膜材料の標準試験片
JIS C 5630-6:2011 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第6部:薄膜材料の軸荷重疲労試験方法
JIS C 5630-12:2014 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第12部:MEMS構造体の共振振動を用いた薄膜材料の曲げ荷重疲労試験方法
JIS C 5630-13:2014 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第13部:MEMS構造体のための曲げ及びせん断試験による接合強度試験方法
JIS C 5630-18:2014 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第18部:薄膜曲げ試験方法
JIS C 5630-19:2014 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第19部:電子コンパス
JIS C 5630-20:2015 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第20部:小型ジャイロ
JIS C 5630-26:2017 本文1
マイクロマシン及びMEMS-第26部:マイクロトレンチ構造及びマイクロニードル構造の寸法,形状表示及び計測法
JIS C 5750-1:2010 本文1
ディペンダビリティ マネジメント-第1部:ディペンダビリティ マネジメントシステム
JIS C 5750-2:2010 本文1
ディペンダビリティ マネジメント-第2部:ディペンダビリティ マネジメントのための指針
JIS C 5750-3-1:2006 本文1
ディペンダビリティ管理-第3-1部:適用の指針-ディペンダビリティ解析手法の指針
JIS C 5750-3-2:2008 本文1
ディペンダビリティ管理-第3-2部:適用の指針-フィールドからのディペンダビリティデータの収集
JIS C 5750-3-3:2008 本文1
ディペンダビリティ管理-第3-3部:適用の指針-ライフサイクル コスティング
JIS C 5750-3-4:2011 本文1
ディペンダビリティ マネジメント-第3-4部:適用の指針-ディペンダビリティ要求事項仕様書作成の指針
JIS C 5750-3-5:2006 本文1
ディペンダビリティ管理-第3-5部:適用の指針-信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則
JIS C 5750-3-6:2003 本文1
ディペンダビリティ管理-第3-6部:適用の指針-ディペンダビリティにおけるソフトウェアの側面
JIS C 5750-3-7:2003 本文1
ディペンダビリティ管理-第3-7部:適用の指針-電子ハードウェアの信頼性ストレススクリーニング
JIS C 5750-4-1:2008 本文1
ディペンダビリティ管理-第4-1部:適用の指針-リユース部品を含む製品のディペンダビリティ-機能性及び試験に関する要求事項
JIS C 5750-4-3:2011 本文1
ディペンダビリティ マネジメント-第4-3部:システム信頼性のための解析技法-故障モード・影響解析(FMEA)の手順
JIS C 5750-4-4:2011 本文1
ディペンダビリティ マネジメント-第4-4部:システム信頼性のための解析技法-故障の木解析(FTA)
JIS C 5860:2012 本文1
空間ビーム光用受動部品通則
JIS C 5870:2009 本文1
干渉フィルタ通則
JIS C 5871:2011 本文1
干渉フィルタ試験方法
JIS C 5876-1:2009 本文1
位相子通則
JIS C 5877-1:2015 本文1
偏光子-第1部:通則
JIS C 5877-2:2012 本文1
偏光子試験方法
JIS C 5900:2013 本文1
光伝送用受動部品通則
JIS C 5910-1:2019 本文1
波長選択性のない光ブランチングデバイス-第1部:通則
JIS C 5910-3:2015 本文1
波長選択性のない光ブランチングデバイス-第3部:シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N光ブランチングデバイス
JIS C 5912:2006 本文1
波長スイッチ通則
JIS C 5914-3:2017 本文1
光伝送用サーキュレータ-第3部:シングルモード光ファイバピッグテール形光サーキュレータ
JIS C 5914:2013 本文1
光サーキュレータ通則
JIS C 5916-3:2013 本文1
光ファイバ形分散補償器
JIS C 5916:2012 本文1
光伝送用分散補償器通則
JIS C 5920-1:2015 本文1
光伝送用パワー制御受動部品-第1部:通則
JIS C 5920-3:2017 本文1
光伝送用パワー制御受動部品-第3部:シングルモード光ファイバピッグテール形電気制御式可変光減衰器
JIS C 5921:2009 本文1
シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器
JIS C 5925-1:2016 本文1
光伝送用WDMデバイス-第1部:通則
JIS C 5925-3:2011 本文1
シングルモード光ファイバピッグテール形C/LバンドWDMデバイス
JIS C 5925-4:2011 本文1
シングルモード光ファイバピッグテール形980/1550nmWWDMデバイス
JIS C 5925-5:2013 本文1
シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス
JIS C 5926-1:2014 本文1
光伝送用光フィルタ-第1部:通則
JIS C 5930-1:2016 本文1
光伝送用スイッチ-第1部:通則
JIS C 5931:1988 本文1
光スイッチ試験方法
JIS C 5932-3:2018 本文1
光アイソレータ-第3部:シングルモード光ファイバピッグテール形光アイソレータ
JIS C 5932:2012 本文1
光アイソレータ通則
JIS C 5933:2012 本文1
光アイソレータ試験方法
JIS C 5934:1999 本文1
光伝送用レンズ通則
JIS C 5935:2005 本文1
光伝送用レンズ試験方法
JIS C 5940:1997 本文1 本文2
光伝送用半導体レーザ通則
JIS C 5941:1997 本文1 本文2
光伝送用半導体レーザ測定方法
JIS C 5942:2010 本文1
再生用及び記録用半導体レーザ通則
JIS C 5943:2010 本文1
再生用及び記録用半導体レーザ測定方法
JIS C 5944:2005 本文1
光伝送用半導体レーザモジュール通則
JIS C 5945:2005 本文1
光伝送用半導体レーザモジュール測定方法
JIS C 5946:2005 本文1
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則
JIS C 5947:2005 本文1
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法
JIS C 5948:2017 本文1
光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法
JIS C 5950:1997 本文1 本文2
光伝送用発光ダイオード通則
JIS C 5951:1997 本文1 本文2
光伝送用発光ダイオード測定方法
JIS C 5952-1:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第1部:総則
JIS C 5952-2:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第2部:MT-RJ(F19形)コネクタ付10ピンSFF形光トランシーバ
JIS C 5952-3:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第3部:MT-RJ(F19形)コネクタ付20ピンSFF形光トランシーバ
JIS C 5952-4:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第4部:PNコネクタ付1×9ピンプラスチック光ファイバ光トランシーバ
JIS C 5952-5:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第5部:SC(F04形)コネクタ付1×9ピン光送信・受信モジュール及び光トランシーバ
JIS C 5952-6:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第6部:ATM-PON用光トランシーバ
JIS C 5952-7:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第7部:LCコネクタ付10ピンSFF形光トランシーバ
JIS C 5952-8:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第8部:LCコネクタ付20ピンSFF形光トランシーバ
JIS C 5952-9:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第9部:MU(F14形)コネクタ付10ピンSFF形光トランシーバ
JIS C 5952-10:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第10部:MU(F14形)コネクタ付20ピンSFF形光トランシーバ
JIS C 5952-11:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第11部:14ピン変調器集積形半導体レーザ送信モジュール
JIS C 5952-12:2008 本文1
光伝送用能動部品-パッケージ及びインタフェース標準-第12部:同軸形高周波コネクタ付半導体レーザ送信モジュール
JIS C 5953-1:2016 本文1
光伝送用能動部品-性能標準-第1部:総則
JIS C 5953-3:2019 本文1
光伝送用能動部品-性能標準-第3部:40 Gbit/s帯変調器集積形半導体レーザモジュール
JIS C 5953-4:2008 本文1
光伝送用能動部品-性能標準-第4部:1300nmギガビットイーサネット用光トランシーバ
JIS C 5953-5:2008 本文1
光伝送用能動部品-性能標準-第5部:半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路内蔵ATM-PON用光トランシーバ
JIS C 5953-6:2009 本文1
光伝送用能動部品-性能標準-第6部:650nm,250Mbit/sプラスチック光ファイバ伝送用光トランシーバ
JIS C 5953-7:2017 本文1
光伝送用能動部品-性能標準-第7部:GPON用光トランシーバ
JIS C 5954-1:2008 本文1
光伝送用能動部品-試験及び測定方法-第1部:総則
JIS C 5954-2:2008 本文1
光伝送用能動部品-試験及び測定方法-第2部:ATM-PON用光トランシーバ
JIS C 5954-3:2013 本文1
光伝送用能動部品-試験及び測定方法-第3部:単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
JIS C 5954-4:2017 本文1
光伝送用能動部品-試験及び測定方法-第4部:GPON用光トランシーバ
JIS C 5955-1:2016 本文1
光伝送用能動部品-性能標準テンプレート-第1部:単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
JIS C 5961:2009 本文1 本文2
光ファイバコネクタ試験方法
JIS C 5962:2018 本文1
光ファイバコネクタ通則
JIS C 5964-4-100:2018 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第4-100部:SC形光ファイバコネクタ類-SC-PC簡易レセプタクル(F16形)
JIS C 5964-4:2014 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第4部:SC形光ファイバコネクタ類(F04形)
JIS C 5964-5:2012 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第5部:MTコネクタ類(F12形)
JIS C 5964-6-100:2018 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第6-100部:MU形光ファイバコネクタ類-MU-PC簡易レセプタクル(F17形)
JIS C 5964-6:2014 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第6部:MU形光ファイバコネクタ類(F14形)
JIS C 5964-7:2010 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第7部:MPOコネクタ類(F13)
JIS C 5964-13:2015 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第13部:FC-PC形光ファイバコネクタ類(F01形)
JIS C 5964-18:2014 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第18部:MT-RJコネクタ類(F19形)
JIS C 5964-20:2015 本文1
光ファイバコネクタかん合標準-第20部:LC形光ファイバコネクタ類
JIS C 5965-1:2009 本文1
光ファイバコネクタ光学互換-第1部:シングルモード(1310nmゼロ分散形)光ファイバ用光学互換標準の通則
JIS C 5965-2-1:2011 本文1
光ファイバコネクタ光学互換-第2-1部:シングルモード直角PC端面光ファイバ光学互換標準の指針
JIS C 5965-2-2:2011 本文1
光ファイバコネクタ光学互換-第2-2部:シングルモード斜めPC端面光ファイバ光学互換標準の指針
JIS C 5965-2-4:2016 本文1
光ファイバコネクタ光学互換標準-第2-4部:基準接続用シングルモード直角PC端面光ファイバの接続パラメータ
JIS C 5965-2-5:2016 本文1
光ファイバコネクタ光学互換標準-第2-5部:基準接続用シングルモード斜めPC端面光ファイバの接続パラメータ
JIS C 5965-3-1:2011 本文1
光ファイバコネクタ光学互換-第3-1部:シングルモード光ファイバ用直径2.5mm及び1.25mm円筒形全ジルコニア直角PC端面フェルール光学互換標準
JIS C 5965-3-2:2011 本文1
光ファイバコネクタ光学互換-第3-2部:シングルモード光ファイバ用直径2.5mm及び1.25mm円筒形全ジルコニア8度斜めPC端面フェルール光学互換標準
JIS C 5965-3-31:2018 本文1
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-光ファイバコネクタ光学互換標準-第3-31部:シングルモード光ファイバ用1列多心角形ポリフェニレンスルフィド(PPS)8度斜めPC端面フェルールの接続部パラメータ
JIS C 5970:2015 本文1
F01形単心光ファイバコネクタ(FCコネクタ)
JIS C 5971:1998 本文1
F02形単心光ファイバコネクタ
JIS C 5973:2014 本文1
F04形光ファイバコネクタ(SCコネクタ)
JIS C 5974:1998 本文1
F05形単心光ファイバコネクタ
JIS C 5975:1998 本文1
F06形単心光ファイバコネクタ
JIS C 5976:2001 本文1
F07形2心光ファイバコネクタ
JIS C 5977:1998 本文1
F08形2心光ファイバコネクタ
JIS C 5980:1998 本文1
F11形光ファイバコネクタ
JIS C 5981:2012 本文1
F12形多心光ファイバコネクタ(MTコネクタ)
JIS C 5982:2010 本文1
F13形多心光ファイバコネクタ(MPOコネクタ)
JIS C 5983:2014 本文1
F14形光ファイバコネクタ(MUコネクタ)
JIS C 5984:2001 本文1
F15形光ファイバコネクタ
JIS C 5985:2018 本文1 本文2
F16形光ファイバコネクタ(SC-SRコネクタ)
JIS C 5986:2018 本文1 本文2
F17形光ファイバコネクタ(MU-SRコネクタ)
JIS C 5987:2005 本文1
F18形光ファイバコネクタ
JIS C 5988:2014 本文1
F19形光ファイバコネクタ(MT-RJコネクタ)
JIS C 5990:1997 本文1 本文2
光伝送用フォトダイオード通則
JIS C 5991:1997 本文1 本文2
光伝送用フォトダイオード測定方法