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C 5402-11-3

:2004 (IEC 60512-11-3:2002)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-11-3:2002,Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady state

を基礎

として用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。


C 5402-11-3

:2004 (IEC 60512-11-3:2002)

(2) 

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  引用規格  

1

3.

  準備  

2

3.1

  試料の準備  

2

3.2

  試料の配線  

2

3.3

  前処理  

2

4.

  試験方法  

2

4.1

  供試条件  

2

4.2

  極性電圧  

2

5.

  測定  

2

5.1

  初期測定  

2

5.2

  試験期間中の測定  

2

5.3

  最終測定  

2

6.

  個別規格に規定する事項  

3

 


JIS C 0068

:1995

(1) 

日本工業規格

JIS

 C

5402-11-3

:2004

(IEC 60512-11-3

:2002

)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―

第 11-3 部:耐候性試験―

試験 11c:高温高湿(定常)

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests -

Test 11c: Damp heat, steady state

序文  この規格は,2002 年に第 1 版として発行された IEC 60512-11-3,Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady state

を翻訳し,技術的内容及び

規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格では点線の下線を施してある参考は,原国際規格にはない事項である。

1. 

適用範囲  この規格は,高い相対湿度条件下において,規定の方法により保存及び/又は機能する電

子機器用コネクタ(以下,コネクタという。

)の能力を評価するための試験方法について規定する。この試

験方法は,類似の部品に用いてもよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-11-3:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-3:

Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady state (IDT)

2. 

引用規格  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構

成する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定

を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,

その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0022

  環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法

備考 IEC 

60068-2-3:1969

,Environmental Testing - Part 2: Tests - Test Ca: Damp heat steady state がこ

の規格と一致している。

JIS C 5402-1-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-1 部:一般試験−試験 1a:外観

備考 IEC 

60512-1-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:

General examination - Test 1a: Visual examination

がこの規格と一致している。

JIS C 5402-2-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-1 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2a:接

触抵抗−ミリボルトレベル法


C 5402-11-3

:2004 (IEC 60512-11-3:2002)

(4) 

備考 IEC 

60512-2-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:

Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level

method

がこの規格と一致している。

JIS C 5402-3-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 3-1 部:絶縁試験−試験 3a:絶縁抵抗

備考 IEC 

60512-3-1: 2003

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:

Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance

がこの規格と一致している。

IEC 60512-4-1:2003

  Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-1: Voltage stress

tests

−Test 4a: Voltage proof がこの規格と一致している。

IEC 60512-7:1993

  Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and

measuring methods - Part 7: Mechanical operating tests and sealing tests

3. 

準備

3.1 

試料の準備  標準のアクセサリを備えた試料を,個別規格の規定によって取り付ける。

個別規格で要求する場合には,試験の前に試料を規定回数,挿入及び引抜きをする。

各試験を行うに当たって個別規格には,コネクタの条件(例えば,結合又は非結合)を規定する。

3.2 

試料の配線  試料は,個別規格の規定によって配線する。

極性電圧を印加する試料は互い違いのターミネーション同士を接続し,二つのグループを形成するよう

に配線する。

3.3 

前処理  前処理は,個別規格に規定がない場合には,少なくとも 1 時間行う。

参考  前処理の内容は,JIS C 5401-1  電子機器用コネクタ−第 1 部:品目別通則−能力認証  4.1.2 

処理の規定による。

4. 

試験方法

4.1 

供試条件  この試験は,個別規格に規定する厳しさを用い,JIS C 0022  に従って行う。

4.2 

極性電圧  個別規格で規定する場合には,試験期間中,二つの試料に極性電圧を印加する。試料 No.1

では,第 1 グループのターミネーションとハウジング(シェル)及び/又は取付け板に接続した第 2 グル

ープのターミネーションとの間に極性電圧を印加する。試料 No.2 では,第 2 グループのターミネーション

とハウジング(シェル)及び/又は取付け板に接続した第 1 グループのターミネーションとの間に極性電

圧を印加する。

5. 

測定

5.1 

初期測定  初期測定は,個別規格の規定による。

5.2 

試験期間中の測定  個別規格が要求する場合にはこの試験の終了時,試料が個別規格で規定する高

湿度状態にある間に次の試験を行う。

−絶縁抵抗  JIS C 5402-3-1,試験 3a

5.3 

最終測定  試料は,個別規格に規定がない場合には次の試験を行い,個別規格に規定する要求条件

を満足しなければならない。

−絶縁抵抗:JIS C 5402-3-1,試験 3a(後処理の直後)

−耐電圧:IEC 60512-4-1,試験 4a(後処理の直後)

−接触抵抗−ミリボルトレベル法:JIS C 5402-2-1,試験 2a


   

−挿入力及び引抜力:IEC 60512-7,試験 13b

−外観:JIS C 5402-1-1,試験 1a

6. 

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

試料の取付方法及び配線方法

b)

供試条件の厳しさ(日数)

c)

極性電圧値(適用する場合)

d)

測定に対する要求事項

e)

この試験方法との相違