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C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

これによって JIS C 5101-10-1:1999 は廃止され,

JIS C 5101-21-1

及び JIS C 5101-22-1 に置き換えられる。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60384-21-1:2004,Fixed capacitors for

use in electronic equipment

―  Part 21: Blank detail specification : Fixed surface mount multilayer capacitors of

ceramic dielectric, Class 1

―  1 Assessment level EZ を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5101-1 

第 1 部:品目別通則

JIS C 5101-2 

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流

コンデンサ

JIS C 5101-2-1 

第 2 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ評価水準 E

JIS C 5101-3 

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS C 5101-3-1 

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ評価水準 E

JIS C 5101-4 

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS C 5101-4-1 

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS C 5101-4-2 

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS C 5101-8 

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 1

JIS C 5101-8-1 

第 8 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 1 評価水準 E

JIS C 5101-9 

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 2

JIS C 5101-9-1 

第 9 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 2 評価水準 E

JIS C 5101-11 

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS C 5101-11-1 

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ評価水準 E

JIS C 5101-13 

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C 5101-13-1 

第 13 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

評価水準 E

JIS C 5101-14 

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ


 
C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

(2)

JIS C 5101-14-1 

第 14 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準 D

JIS C 5101-15 

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS C 5101-15-1 

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水

準 E

JIS C 5101-15-2 

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS C 5101-15-3 

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS C 5101-16 

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS C 5101-16-1 

第 16 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ

ンサ評価水準 E

JIS C 5101-17 

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS C 5101-17-1 

第 17 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ

ルスコンデンサ評価水準 E

JIS C 5101-18 

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(Mno2)及び非固体電解チップコン

デンサ

JIS C 5101-18-1 

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(Mno2)電解チップコンデン

サ評価水準 E

JIS C 5101-18-2 

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ評価水

準 E

JIS C 5101-20 

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS C 5101-20-1 

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ評価水準 EZ

JIS C 5101-21 

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS C 5101-21-1 

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1 評価水準

EZ

JIS C 5101-22 

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS C 5101-22-1 

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2 評価水準

EZ


C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

(3)

目  次

ページ

序文 

1

1.

  一般事項

3

1.0

  適用範囲 

3

1.1

  推奨する取付方法(実装する場合) 

3

1.2

  寸法

3

1.3

  定格及び特性 

3

1.4

  引用規格 

4

1.5

  表示

4

1.6

  発注情報 

4

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8

  追加情報(非検査目的) 

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項

4

2.

  検査要求事項 

5

2.1

  手順

5

 


日本工業規格

JIS

 C

5101-21-1

:2006

(IEC 60384-21-1

:2004

)

電子機器用固定コンデンサ―

第 21 部:ブランク個別規格:

表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

評価水準 EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment ―

Part 21-1: Blank detail specification :

Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1―

Assessment level EZ

序文  この規格は,2004 年に第 1 版として発行された IEC 60384-21-1,Fixed capacitors for use in electronic

equipment

−  Part 21-1: Blank detail specification : Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric,

Class 1

− Assessment level EZ を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本

工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格  ブランク個別規格は,品種別通則 JIS C 5101-21 の補足規格で,個別規格の様式及び

最小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求を満足しない個別規格は,日本工業規格に基

づいていないものとみなし,そのことを個別規格で記載する。

個別規格は,JIS C 5101-21 の 1.4(個別規格に規定する事項)に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表の片括弧の数字は,指定の位置に記入する次の

事項と対応している。

個別規格の識別

1)

個別規格を管理する国内の標準化機関又の名称

2)

個別規格の日本工業規格番号,発効年及び国内で要求される追加事項

3)

品目別通則の日本工業規格番号及び発効年又は

4)

ブランク個別規格の日本工業規格番号又

コンデンサの識別

5)

コンデンサの品種についての要約説明

6)

代表的な構造の説明(適用する場合)

参考  コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格でこの欄にそのことを

明記する。

7)

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は,外形に関する国内規格若しくは国際規



C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

格の引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。

8)

適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準

9)

重要な特性に関する参照データ

例  電子情報技術産業協会          1)

 
個別規格番号          2)

例  JIS C 5101-21-1(ブランク個別規格番号)    4)

例  電子機器用固定コンデンサ      3)

第 1 部:品目別通則

JIS C 5101-1 : 1998

表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1      5) 

構造の説明  6)

外形図(

表 参照)                  7)

(

第三角法)

(

規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。)

評価水準: EZ 8)

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,品証認証      9)                     
電子部品一覧表(QPL)に示されている。*

注*

この記載は,IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)の場合に適用する。


3

C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

1.

一般事項

1. 

適用範囲  この規格は,JIS C 5101-21 を品種別通則とするブランク個別規格で,電子機器用の表面

実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水準 EZ について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD(修

正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60384-21-1:2004

,Fixed capacitors for use in electronic equipment ― Part 21-1: Blank detail

specification : Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1

Assessment level EZ (IDT)

1.1 

推奨する取付方法(実装する場合)

JIS C 5101-21 の 1.4.2(取付け)参照]

1.2 

寸法

  1  外形寸法記号及び寸法

寸法(ミリメートル)

外形寸法記号

L

1

 W  H L

2

 

L

3

 

L

4

 

備考1.  外形寸法記号がない場合は,表 は削除し,寸法は表 に記載して,それを表 とする。

2.

寸法は,最大寸法又は公称寸法とその許容差で表す。

1.3 

定格及び特性

定格静電容量範囲

表 による。)

定格静電容量許容差

定格電圧

表 による。)

カテゴリ電圧(適用する場合)

表 による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

カテゴリ温度(適用する場合)

誘電正接

絶縁抵抗

温度係数  α:

  .

.10

-6

/K

  2  外形寸法と定格電圧及び定格静電容量との組合せ

定格電圧                    (V)

カテゴリ電圧  (

1

)      (V)

外形寸法

外形寸法

外形寸法

外形寸法

定格静電容量

(pF

及び/又は nF)

(

1

)

定格電圧と異なる場合。



C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

1.4 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規

格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。

JIS C 5101-1:1998

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

備考 IEC 60384-1:1999   Fixed capacitors for use in electronic equipment −  Part 1: Generic

specification

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

参考  JIS C 5101-1:1998 は,原国際規格 IEC 60384-1:1999,Fixed capacitors for use in electronic

equipment

―  Part 1: Generic specification の最新版として制定されておらず,該当する事項

の項番は,JIS C 5101-1 の該当事項とものと一致しない場合がある。

JIS C 5101-21:2004

  電子機器用固定コンデンサ−第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コ

ンデンサ種類 1

備考 IEC 

60384-21:2004

  Fixed capacitors for use in electronic equipment ― Part 21: Sectional

specification: Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric, Class 1

からの引用事

項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 9015-1:1999

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標

型抜取検査方式

備考 IEC 

60410:1973

  Sampling plans and procedures for inspection by attribute からの引用事項は,こ

の規格の該当事項と同等である。

1.5 

表示  適用する場合,コンデンサ及び包装への表示は,JIS C 5101-21 の 1.6(表示)による。

備考  コンデンサ及び包装への表示は,個別規格で規定する。

1.6 

発注情報  この規格のコンデンサの発注情報には,少なくとも次の事項を,明りょうな文字又は記

号によって示す。

a)

定格静電容量

b)

定格静電容量許容差

c)

定格電圧

d)

温度係数

e)

個別規格の番号及び版又は発行年並びに形状

1.7 

出荷対象ロットの成績証明書  要求する。又は要求しない。

1.8 

追加情報(非検査目的)

1.9 

品目別通則及び/又は,品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項

備考  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合にだけ規定する。

  3  その他の特性

この表は,JIS C 5101-21 への追加,又はより厳しい特性を規定
するために使用する。


5

C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

2. 

検査要求事項

2.1 

手順

2.1.1 

品質認証の手順は,JIS C 5101-21 の 3.4(品質認証)による。

2.1.2 

品質確認検査の試験計画  表 は,サンプリング,周期,厳しさ及び要求性能を示す。検査ロット

の構成は,JIS C 5101-21 の 3.5.1(検査ロットの構成)による。

  4  ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画

試料数及び

合格判定個数

(

備考 2.参照)

項目番号及び試験項目

(

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

(

備考 1.参照)

IL

n c 

要求性能

(

備考 1.参照)

群 検査(ロットごと) 
副群 A0 
4.5.1

静電容量

4.5.2

誘電正接

4.5.3

絶縁抵抗

4.5.4

耐電圧

ND

周波数:.

.Hz

測定電圧:.

.V r.m.s.

周波数及び測定電圧は,4.5.1 
よる。

方法は,個別規格の規定による。

方法は,個別規格の規定による。

100

(

備考 3.参照)

規定の許容差による。

4.5.2

による。

4.5.3.3

による。

絶縁破壊又はフラッシ

ュオーバがない。

副群 A1 
4.4  

外観

ND

 S–4

(

備考 4.

参照)

0

4.4.2

による。

表示は明りょうで,この

規格の 1.5 による。

副群 A2 
4.4

寸法

          (

備考 5.参照)

ND

 S–3

(

備考 4.

参照)

0

この規格の

表 による。

備考1.  試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5101-21 及びこの規格の 1.  による。 
    2.  この表の記号は,次による。 

  p=検査周期  (月単位),n=試料数,c=合格判定個数(許容不適合数),

  D=破壊試験,ND=非破壊試験,IL=検査水準

    3. 100

%検査とは,工程で不適合品を取り除いた後に,ppm で示す出荷品質水準を監視するために,抜取り

による

副群 A0 の検査をすべて行うことをいう。100  %検査での抜取水準は,部品製造業者が設定する。ど

のような特性不適合も,不適合として扱い,不適合品のすべてを数える。ppm 値は,これらの不適合品の

累計を用いて算出する。また,抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合
格とする。

    4.  試料数(n)は,JIS Z 9015-1:1999 に規定する付表 の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル

文字に従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

    5.  製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の

仕組みを取り入れている場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。



C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

  4  ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定個数

(備考 2.参照)

項目番号及び試験項目

(備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

(備考 1.参照)

IL

n c

要求性能

(備考 1.参照)

群 検査(ロットごと) 
副群 B1 
4.10  

はんだ付け性

4.10.3  

最終測定

4.17  

表示の耐溶剤性

            (

適用する場合)

            (

備考 6.参照)

D

方法は,個別規格の規定による。

外観

溶剤:.

溶剤の温度:.

方法 1 
ラビングの材料:脱脂綿

後処理:.

S–3

(

備考 4.

参照)

0

4.10.3

による。

表示は明りょうである。

副群 B2 
4.6  

温度係数  及び

温度サイクルによ

る静電容量のずれ

          (

備考 7.参照)

ND

予備乾燥:16 h∼24 h

S–2

(

備考 4.

参照)

0

Δ

C/C

4.6.3 による。

備考6.  この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。 
        7.

この副群は,誘電体材料の調合ロットごとに実施した場合は省略してもよい。


7

C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

  4  ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定個数

(備考 2.参照)

項目番号及び試験項目

(備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

(備考 1.参照)

p n  c

要求性能

(備考 1.参照)

群 検査(定期的) 
副群 C1 
4.15  

端子強度

            (

適用する場合)

4.9.1  

初期測定

4.9  

はんだ耐熱性

4.9.4  

最終測定

4.16  

部品の耐溶剤性

            (

適用する場合)

D

試験 Ua

1

力:2.5 N

試験 Ub

方法 1  

力:2.5 N,

        曲げ回数:1 回

外観

静電容量

方法は,個別規格の規定による。

外観 
静電容量

溶剤:.

溶剤の温度:.

方法 2 
後処理:.

3

12

0

(

備考 8.

参照)

損傷がない。

4.9.4

による。

4.9.4

による。

個別規格の規定による。

副群 C2 
4.8  

耐プリント板曲げ

          (

備考 9.参照)

4.8.1  

初期測定

4.8.2  

最終測定

D

たわみ量:.

曲げ回数:.

静電容量

静電容量(プリント板を曲げた状
態で) 
外観

3

12 0

(

備考 8.

参照)

個別規格の規定による。

Δ

C/C 

≦5  %

損傷がない。

副群 C3 
4.3  

取付け

          (

備考 10.参照)

D

基板材質:.

外観 
静電容量 
誘電正接

絶縁抵抗 
耐電圧

4.4.2

による。

規定の許容差による。

4.5.2

による。

4.5.3.3

による。

絶縁破壊又はフラッシ
ュオーバがない。

備考8.  不適合品が 1 個発生した場合,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い,新たな不適合品が発

生しないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。

    9.  個別規格にアルミナ基板だけに装着することを規定してあるコンデンサには適用しない。 
    10.  取付後に発見された取付けに起因する不適合品は,判定の計算には入れてはならない。これらの不適合品

は,予備試料と交換する。



C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

  4  ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定個数

(備考 2.参照)

項目番号及び試験項目

(備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

(備考 1.参照)

p n  c

要求性能

(備考 1.参照)

副群 C3.1 
4.7  

固着性

          (

備考 11.参照)

4.11.2  

初期測定

4.11  

温度急変

4.11.4  

最終測定

4.12  

一連耐候性

4.12.1  

初期測定

4.12.2  

高温

4.12.3  

温湿度サイクル

(12+12

時間サイクル),

最初のサイクル

4.12.4  

低温

4.12.5  

温湿度サイクル

(12+12

時間サイクル),

残りのサイクル

4.12.6  

最終測定

D

外観

静電容量

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

5

サイクル

t

1

の時間=30 min

後処理:6 h∼24 h

外観 
静電容量

静電容量

温度:カテゴリ上限温度 
時間:16 h

温度:カテゴリ下限温度 
時間:2 h 
外観

後処理:6 h∼24 h

外観

静電容量 
誘電正接

絶縁抵抗

6 27  0

(

備考 8.

参照)

損傷がない。

損傷がない。

Δ

C/C 

は 4.11.4 による。

損傷がない。

損傷がなく表示は明り

ょうである。

Δ

C/C 

は 4.12.6 による。

4.12.6

による。

4.12.6

による。

備考11.  板端子をもつコンデンサには適用しない。


9

C 5101-21-1:2006 (IEC 60384-21-1:2004)

  4  ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定個数

(備考 2.参照)

項目番号及び試験項目

(備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

(備考 1.参照)

p n  c

要求性能

(備考 1.参照)

副群 C3.2 
4.13  

高温高湿(定常)

4.13.1  

初期測定

4.13.4  

最終測定

D

静電容量 
後処理:6 h∼24 h

外観

静電容量 
誘電正接 
絶縁抵抗

6 15  0

(

備考 8.

参照)

損傷がなく表示は明り
ょうである。

Δ

C/C 

は 4.13.4 による。

4.13.4

による。

4.13.4

による。

副群 C3.3 
4.14  

耐久性

4.14.1  

初期測定

4.14.4  

最終測定

D

時間:.

.h

温度:.

.℃

電圧:.

.V

静電容量 
後処理:6 h∼24 h

外観

静電容量 
誘電正接 
絶縁抵抗

3 15  0

(

備考 8.

参照)

損傷がなく表示は明り
ょうである。

Δ

C/C 

は 4.14.4 による。

4.14.4

による。

4.14.4

による。

副群 C3.4 
4.18  

加速耐湿性

            (

定常状態)

            (

適用する場合)

4.18.1  

初期測定

4.18.4  

最終測定

D

時間:.

.h

温度:85  ℃±2  ℃ 
湿度:(85±3)%

絶縁抵抗 
後処理:6 h∼24 h 
絶縁抵抗

6 15  0

(

備考 8.

参照)

4.18.1

による。

4.18.4

による。

副群 C4 
4.6  

温度係数  及び

温度サイクルによ

る静電容量のずれ

ND

予備乾燥:16 h∼24 h

6 9  0

(

備考 8.

参照)

Δ

C/C 

は 4.6.3 による。