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C 5402-3-1

:2004 (IEC 60512-3-1:2002)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-3-1:2002,Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance

を基礎と

して用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。


C 5402-3-1

:2004 (IEC 60512-3-1:2002)

(2) 

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  試料の取付け  

1

3.

  試験方法  

1

3.1

  方法 A  

1

3.2

  方法 B  

1

3.3

  方法 C  

2

4.

  個別規格に規定する事項  

2

 


     

日本工業規格

JIS

 C

5402-3-1

:2004

(IEC 60512-3-1

:2002

)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―第 3-1 部:絶縁試験―

試験 3a:絶縁抵抗

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests -

Test 3a: Insulation resistance

序文  この規格は,2002 年に第 1 版として発行された IEC 60512-3-1,Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance

を翻訳し,技術的内容及び規格

票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1. 

適用範囲  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の絶縁抵抗を評価するための

試験方法について規定する。この試験方法は,類似の部品に用いてもよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-3-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:

Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance (IDT)

2. 

試料の取付け  試料を個別規格に従って取り付ける。

3. 

試験方法  絶縁抵抗は,個別規格に方法 A,方法 B 又は方法 C のいずれかを規定し,閉回路直流電圧

10 V

±1 V,100 V±15 V 又は 500 V±50 V で測定する。

絶縁抵抗は,安定した読みが得られるときだけ測定する。安定状態に達しない場合には,絶縁抵抗の読

みは電圧印加後 60 s±5 s 以内に記録する。

絶縁抵抗は,個別規格に規定する値以上でなければならない。

3.1 

方法 A  絶縁抵抗は,試験する一つのターミネーションと一括接続した残りのすべてのターミネー

ション    (ハウジング及び/又は取付け板に接続)との間に,規定する試験電圧を印加し,測定する。測

定後,ターミネーションを変えて,順次測定する。

3.2 

方法 B  ターミネーションを互い違いに一括接続し,二つのグループを作る。絶縁抵抗は,試料に

規定の試験電圧を次のとおり印加し,測定する。

a)

第一グループのターミネーションとハウジング(及び/又は取付け板)に接続した第二グループのタ


2

C 5402-3-1

:2004 (IEC 60512-3-1:2002)

     

ーミネーションとの間,並びに

b)

第二グループのターミネーションとハウジング(及び/又は取付け板)に接続した第一グループのタ

ーミネーションとの間。

備考  ターミネーションが 2 列以上の場合には,隣接するターミネーションの各対の絶縁抵抗を測定

するために他の組合せで二つのグループを作る必要がある。

3.3 

方法 C  絶縁抵抗は,最小のスペーシングをもつ二つの隣接するターミネーション間に規定の試験

電圧を印加し,測定する。

4. 

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

使用する測定方法

b)

試験電圧の値

c)

絶縁抵抗の最小値

d)

試験するコンタクト

e)

この試験方法との相違