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C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 一般事項 1 

1.1 適用範囲  1 

1.2 目的  1 

1.3 引用規格  1 

1.4 個別規格に規定する事項  2 

1.5 用語及び定義  3 

1.6 表示  3 

2 推奨特性及び定格  3 

2.1 推奨特性  3 

2.2 推奨定格値  4 

3 品質評価手順  4 

3.1 製造の初期工程  4 

3.2 構造的に類似なコンデンサ  4 

3.3 出荷対象ロットの成績証明書  4 

3.4 初期認証のための試験計画及び要求事項 5 

3.5 品質確認検査  11 

4 試験及び測定方法  12 

4.1 予備乾燥  12 

4.2 測定条件  12 

4.3 取付け  12 

4.4 外観検査及び寸法確認  12 

4.5 電気的試験  13 

4.6 はんだ耐熱性  14 

4.7 はんだ付け性  14 

4.8 固着性(要求がある場合)  14 

4.9 耐プリント板曲げ性(要求がある場合) 14 

4.10 温度急変  15 

4.11 一連耐候性  15 

4.12 高温高湿(定常)  16 

4.13 高温及び低温特性  16 

4.14 サージ電圧  16 

4.15 耐久性  17 

4.16 高温貯蔵  17 

4.17 充放電(要求がある場合)  17 


 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 目次 

(2) 

ページ 

4.18 部品の耐溶剤性(要求がある場合)  18 

4.19 表示の耐溶剤性(要求がある場合)  18 

4.20 大電流サージ(要求がある場合)  18 

 


 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

(3) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。これによって,JIS C 5101-25:2009は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 5101の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 5101-1 第1部:品目別通則 

JIS C 5101-2 第2部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ 

JIS C 5101-2-1 第2-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-3 第3部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ 

JIS C 5101-3-1 第3-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデン

サ 評価水準EZ 

JIS C 5101-4 第4部:品種別通則:アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ 

JIS C 5101-4-1 第4-1部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ 

JIS C 5101-4-2 第4-2部:ブランク個別規格:アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ−評価水

準EZ 

JIS C 5101-8 第8部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類1 

JIS C 5101-8-1 第8-1部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ 

JIS C 5101-9 第9部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類2 

JIS C 5101-9-1 第9-1部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ 

JIS C 5101-11 第11部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ 

JIS C 5101-11-1 第11-1部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく

直流コンデンサ 評価水準EZ 

JIS C 5101-13 第13部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ 

JIS C 5101-13-1 第13-1部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-14 第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 

JIS C 5101-14-1 第14-1部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D 

JIS C 5101-14-2 第14-2部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求

する試験 


 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 目次 

(4) 

JIS C 5101-14-3 第14-3部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ 

JIS C 5101-15 第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ 

JIS C 5101-15-1 第15部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価

水準E 

JIS C 5101-15-2 第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準

JIS C 5101-15-3 第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E 

JIS C 5101-16 第16部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 

JIS C 5101-16-1 第16-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-17 第17部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ 

JIS C 5101-17-1 第17-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-18 第18部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コ

ンデンサ 

JIS C 5101-18-1 第18-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)電解コ

ンデンサ−評価水準EZ 

JIS C 5101-18-2 第18-2部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準EZ 

JIS C 5101-20 第20部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ 

JIS C 5101-20-1 第20-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ 

JIS C 5101-21 第21部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 

JIS C 5101-21-1 第21-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水

準EZ 

JIS C 5101-22 第22部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 

JIS C 5101-22-1 第22-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水

準EZ 

JIS C 5101-23 第23部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ 

JIS C 5101-23-1 第23-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ 

JIS C 5101-24 第24部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ 

JIS C 5101-24-1 第24-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準EZ 

JIS C 5101-25 第25部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ 


 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

(5) 

JIS C 5101-25-1 第25-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準EZ 

JIS C 5101-26 第26部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ 

JIS C 5101-26-1 第26-1部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ 評価水準EZ 

 


 

 

日本工業規格          JIS 

 

C 5101-25:2018 

 

(IEC 60384-25:2015) 

電子機器用固定コンデンサ− 

第25部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム

固体(導電性高分子)電解コンデンサ 

Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 25: Sectional 

specification-Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with 

conductive polymer solid electrolyte 

 

序文 

この規格は,2015年に第2版として発行されたIEC 60384-25を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある事項は,対応国際規格にはない事項である。 

 

一般事項 

1.1 

適用範囲 

この規格は,JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で,表面実装用のアルミニウム固体(導電性

高分子)電解コンデンサ(以下,コンデンサという。)について規定する。 

この規格は,ハイブリッド回路又はプリント配線板に直接取り付けるコンデンサに適用する。 

コンデンサの特殊用途への適用がある場合,その個別要求を満足する規定を別途設けてもよい。 

二酸化マンガン(MnO2)固体電解質を使用したコンデンサには,JIS C 5101-18を適用する。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 60384-25:2015,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 25: Sectional specification

−Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with conductive polymer solid electrolyte

(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ

とを示す。 

1.2 

目的 

この規格の目的は,この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1

から適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求事項を規定することである。 

この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求事項は,この規格よりも低い水準

であってはならず,この規格と同等又は高い水準とする。 

1.3 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)


C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順) 

注記 対応国際規格:IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of 

sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT) 

JIS C 5101-1: 2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部:品目別通則 

注記 対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: 

Generic specification(IDT) 

JIS C 60063 抵抗器及びコンデンサの標準数列 

注記 対応国際規格:IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors(IDT) 

JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部:通則及び指針 

注記 対応国際規格:IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT) 

JIS Z 8601 標準数 

注記 対応国際規格:ISO 3,Preferred numbers−Series of preferred numbers(MOD) 

1.4 

個別規格に規定する事項 

1.4.1 

一般事項 

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。 

個別規格は,品目別通則,品種別通則及びブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を規

定してはならない。より厳しい要求事項を規定する場合には,その内容を個別規格の1.9(品目別通則及び

/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項)に記載し,更に,試験計画の中に,例えば,アステ

リスク(*)を付けて明示する。 

1.4.2に規定する外形図及び寸法は,一覧表に示してもよい。 

個別規格には1.4.2〜1.4.5の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。 

1.4.2 

外形図及び寸法 

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。 

コンデンサの互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,全ての

寸法値は,ミリメートル(mm)で規定する。 

本体寸法は,次のように規定する。 

− 一般形状の本体:幅,長さ及び高さ 

− 円筒形の本体:直径及び長さ 

端子寸法は,次のように規定する。 

− 端子:幅,長さ及び間隔 

形状が上記と異なる場合は,そのコンデンサを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。 

1.4.3 

取付け 

試験及び測定のための取付方法は,4.3による。 

通常用いる取付方法を個別規格に規定する。 

1.4.4 

定格及び特性 

1.4.4.1 

一般事項 

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,1.4.4.2〜1.4.4.4による。 


C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

1.4.4.2 

公称静電容量範囲 

公称静電容量範囲は,2.2.1による。 

IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範囲とが

異なるとき,次の文章を追加することが望ましい。“各電圧範囲での公称容量範囲はIEC電子部品品質認

証制度(IECQ)のオンライン認証システムが利用できる認証登録による。” 

1.4.4.3 

特殊な特性 

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加規定をしてもよい。 

1.4.4.4 

はんだ付け 

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験に適用する試験方法,厳しさ及び要求事項は,個別規格の規定によ

る。 

1.4.5 

表示 

コンデンサの本体及びその包装への表示項目は,個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合に

は,その事項を個別規格に明記する。 

1.5 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1による。 

1.6 

表示 

1.6.1 

一般事項 

表示は,JIS C 5101-1の2.4(表示)によるほか,1.6.2〜1.6.4による。 

1.6.2 

表示の内容 

表示の内容は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。 

a) 端子の極性(構造によって極性を示す場合を除く。) 

b) 定格電圧(直流電圧を表す記号d.c.は,記号   又は   で表してもよい。) 

c) 公称静電容量 

d) 耐候性カテゴリ 

e) 公称静電容量許容差 

f) 

製造年月(又は年週) 

g) 製造業者名又はその商標(略号含む。) 

h) 製造業者の形名 

i) 

適用する個別規格 

1.6.3 

コンデンサ本体への表示 

コンデンサ本体には,極性表示を行う。極性表示以外の項目は必要に応じて表示してもよい。 

全ての表示は,明瞭であり,指でこすっても,不鮮明になったり又は消えたりしてはならない。 

1.6.4 

コンデンサの包装への表示 

コンデンサの包装には,必要に応じて1.6.2の項目の内容を明瞭に表示する。 

 

推奨特性及び定格 

2.1 

推奨特性 

推奨耐候性カテゴリは,推奨特性によって付与される。 

この規格に規定するコンデンサは,JIS C 60068-1の附属書A(部品の耐候性カテゴリー)に規定する一

般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。 


C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度は,次の中から選定する。 

− カテゴリ下限温度:−55 ℃ 

− カテゴリ上限温度:+105 ℃又は+125 ℃ 

低温及び高温の試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。 

2.2 

推奨定格値 

2.2.1 

公称静電容量(CN) 

公称静電容量の推奨値は,マイクロファラド(

の単位で表す。 

公称静電容量の推奨値は,JIS C 60063に規定するE12の標準数列(1.0,1.2,1.5,1.8,2.2,2.7,3.3,

3.9,4.7,5.6,6.8及び8.2)及びそれらの10n倍(nは整数とする。)とする。 

2.2.2 

公称静電容量許容差 

公称静電容量許容差の推奨値は,−20 %〜+20 %とする。 

2.2.3 

定格電圧(UR) 

定格直流電圧の推奨値は,JIS Z 8601に規定するR10,及びR20の標準数列から選定し,次の値及びそ

れらの10n倍(nは整数とする。)とする。 

− R10標準数列:1.0,1.25,1.6,2.0,2.5,3.15,4.0,5.0,6.3,8.0 

− R20標準数列:3.5,4.5 

注記 JIS Z 8601では,R20標準数列として3.55が示されている。 

2.2.4 

カテゴリ電圧(UC) 

カテゴリ電圧は,定格電圧に同じとする。 

2.2.5 

サージ電圧(URS) 

サージ電圧は,定格電圧の1.15倍に最も近い値(有効数字2桁)に丸めた電圧とする(表1参照)。 

 

表1−定格電圧及びサージ電圧 

単位 V 

定格電圧 

2.0 

2.5 

4.0 

5.0 

6.3 

8.0 

10 

12.5 

16 

20 

25 

35 

50 

サージ電圧 

2.3 

2.9 

4.6 

5.8 

7.2 

9.2 

12 

14 

18 

23 

29 

40 

58 

 

2.2.6 

定格温度 

定格温度は,+105 ℃又は+125 ℃とする。 

 

品質評価手順 

3.1 

製造の初期工程 

製造の初期工程は,酸化皮膜の化成済はくの製造業者による検査工程とする。 

3.2 

構造的に類似なコンデンサ 

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値(公称静電容量及び定格電圧)が異なっていても,

本質的に同じ生産工程及び材料で製造したコンデンサとする。 

3.3 

出荷対象ロットの成績証明書 

個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1のQ.9(出荷ロット

成績証明書)によって,出荷者が,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要

求する特性値は,耐久性試験後の静電容量変化率,損失角の正接,等価直列抵抗及び漏れ電流とする。 


C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

3.4 

初期認証のための試験計画及び要求事項 

3.4.1 

一般事項 

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1のQ.5(品質認証手順)による。 

ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,3.5による。 

定数抜取手順は,3.4.2及び3.4.3による。 

3.4.2 

定数抜取手順に基づく品質認証 

定数抜取手順は,JIS C 5101のQ.5.3(品質認証用試験手順)のb) による。 

試料は,認証を得ようとするコンデンサの全ての範囲を代表し,認証範囲は,個別規格に規定する全て

の範囲又はその一部でもよい。 

試料は4組合せとし,定格電圧の最高電圧及び最低電圧について,それぞれの電圧での,外形寸法の最

大寸法及び最小寸法で構成する。外形寸法が4種類を超える場合には,中間の外形寸法のものも試験する。

これらの定格電圧と外形寸法とのそれぞれの組合せにおいて,公称静電容量の最大の定格を選定する。こ

のように,一つの範囲の認証試験には,4組合せ(定格電圧と外形寸法とによる組合せ)又は6組合せに

ついて試験する。認証範囲を4組合せ未満で構成する場合には,試験する試料数は,4組合せの場合と同

じとする。 

予備試料は,製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個(6組

合せの場合)又は3個(4組合せの場合)とする。 

表2及び表3に示す群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数であり,全ての

試験を適用しない場合には,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。 

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。 

品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料数及び合格判定数を,表2に示す。 

3.4.3 

試験 

表2及び表3に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,

各群の試験は,記載の順に従って行う。 

全ての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に配分する。群0の試験の中で発生した不適合品は,

その他の群に用いてはならない。 

品質認証は,不適合数がゼロの場合に,合格とする。 

表2及び表3は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表2は,各試験群に対する試

料数及び合格判定数の詳細を規定している。表3は,試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに,

個別規格に選定する試験方法,試験条件などを規定している。 

定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検

査と同じとすることが望ましい。 

 


C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

表2−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数 評価水準EZ 

群 

試験項目 

この規格の細分箇

条番号 

試料数 

n d) 

合格判定数 

大電流サージc) 

4.20 

120+12f) 

外観 

4.4 

寸法 

4.4 

漏れ電流 

4.5.1 

静電容量 

4.5.2 

損失角の正接(tan δ) 

4.5.3 

等価直列抵抗(ESR)c) 

4.5.4 

予備試料 

− 

 

1A 

はんだ耐熱性 

4.6 

 

12 

部品の耐溶剤性c) 

4.18 

1B 

はんだ付け性 

4.7 

12 

表示の耐溶剤性c) 

4.19 

耐プリント板曲げ性e) 

4.9 

12 

3 a) 

取付け 

4.3 

84 

0 b) 

外観 

4.4 

漏れ電流 

4.5.1 

静電容量 

4.5.2 

損失角の正接(tan δ) 

4.5.3 

等価直列抵抗(ESR)c) 

4.5.4 

 

3.1 

固着性c) 

4.8 

 

12 

温度急変 

4.10 

一連耐候性 

4.11 

3.2 

高温高湿(定常) 

4.12 

12 

3.3 

高温及び低温特性 

4.13 

12 

充放電c) 

4.17 

3.4 

耐久性 

4.15 

36 

3.5 

高温貯蔵 

4.16 

12 

サージ電圧 

4.14 

注a) これらの測定値は,群3.1〜群3.5の初期値とする。 

b) 取付け後に発見された取付けに起因する不適合品は,判定には入れない。これらの不適合品は,

予備試料と交換する。 

c) 要求がある場合。 

d) 外形寸法と定格電圧との組合せは,3.4.2による。 

e) 個別規格によってアルミナ基板だけに実装するコンデンサには,適用しない。 

f) 予備の試料。 

 


C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

表3−品質認証の試験計画 

細分箇条番号, 

試験及び検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群0 

ND 

 

表2による。 

4.20 大電流サージ e) 

JIS C 5101-1の4.39による。 

個別規格の規定による。 

4.4 寸法(詳細) 

4.4.2による。 

個別規格の規定による。 

4.4.2 外観 

4.4.2による。 

表示は明瞭とし,個別規格の
規定による。 

4.5.1 漏れ電流 

4.5.1.2による。 

0.2CNUR又は500 μAのいずれ
か大きい値以下(+20 ℃±
2 ℃)d) 

4.5.2 静電容量 

4.5.2.2による。 

個別規格の規定による。 

4.5.3 損失角の正接 
 (tan δ) 

4.5.3.2による。 

個別規格の規定による。 

4.5.4 等価直列抵抗 
 (ESR)e) 

4.5.4.2による。 

個別規格の規定による。 

群1A 

 

表2による。 

4.6 はんだ耐熱性 

4.6.3による。 

 

4.6.2 初期検査 
 

静電容量 

 
4.5.2.2による。 

 

4.6.4 後処理 

4.6.4による。 

 

4.6.5 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に著しい損傷がない。 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

個別規格に規定による。 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

個別規格に規定による。 

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

個別規格に規定による。 

 

等価直列抵抗 

 

(ESR)e) 

4.5.4.2による。 

個別規格の規定による。 

4.18 部品の耐溶剤性e) 

JIS C 5101-1の4.31による。 

JIS C 5101-1の4.31による。 

群1B 

 

表2による。 

4.7 はんだ付け性 

JIS C 5101-1の4.15による。 

 

4.7.2 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に著しい損傷がない。 
端子のはんだ付け領域は,ピ
ンホールなどによる欠点が,1
か所に集中せず,新しいはん
だで被覆されている。 
めっきされていない端子の端
部などは,評価しない。 

4.19 表示の耐溶剤性c) e) 

JIS C 5101-1の4.32による。 

JIS C 5101-1の4.32による。 

群2 

 

表2による。 

4.9 耐プリント板曲げ
性e) 

4.9.3による。 

 

4.9.2 初期検査 

 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

4.9.4 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に損傷がない。 

 

静電容量変化率 

4.5.2.2による。 

個別規格の規定による。 

 


C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

表3−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号, 

試験及び検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群3 

 

表2による。 

4.3 取付け 

4.3.3による。 

 

4.3.2 初期検査 

 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

4.3.4 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に損傷がない。 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

0.2CNUR又は500 μAのいずれ
か大きい値以下(+20 ℃±
2 ℃)d) 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

個別規格の規定による。 

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

個別規格の規定による。 

 

等価直列抵抗 

 

(ESR)e) 

4.5.4.2による。 

個別規格の規定による。 

群3.1 

 

表2による。 

4.8 固着性e) 

JIS C 5101-1の4.34による。 

 

4.10 温度急変 

4.10.3による。 

 

4.10.2 初期検査 

 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

4.10.4 後処理 

4.10.4による。 

 

4.10.5 最終検査 

 

 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

初期規定値以下 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

4.10.2の測定値に対して 
 |

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

初期規定値以下 

4.11 一連耐候性 

JIS C 5101-1の4.21による。 

 

4.11.2 初期検査 

 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

4.11.3 高温 

4.11.3による。 

 

4.11.4 温湿度サイクル 
(試験Db),最初のサイ
クル 

JIS C 5101-1の4.21.3による。 

 

4.11.5 低温 

4.11.5による。 

 

4.11.6 温湿度サイクル 
(試験Db),残りのサイ
クル 

JIS C 5101-1の4.21.6による。 

 

4.11.7 後処理 

4.11.7による。 

 

4.11.8 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に損傷がなく,表示は明
瞭とする。 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

4.11.2の測定値に対して 
 |

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

初期規定値以下 

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

初期規定値の1.5倍以下 

 


C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

表3−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号, 

試験及び検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群3.2 

 

表2による。 

4.12 高温高湿(定常) 

4.12.3による。 

 

4.12.2 初期検査 
 

静電容量 

 
4.5.2.2による。 

 

4.12.4 後処理 

4.12.4による。 

 

4.12.5 最終検査 
 

外観検査 

 
4.4.2による。 

外観に損傷がなく,表示は明
瞭とする。 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

初期規定値の5倍以下 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

個別規格の規定による。 

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

初期規定値の1.5倍以下 

群3.3 

 

表2による。 

4.13 高温及び低温特性 

JIS C 5101-1の4.29による。 

 

段階1:+20 ℃ 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

インピーダンスe) 

4.5.5.2による。 

 

段階2:カテゴリ下限温
度 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

段階1の測定値に対して 
 |

インピーダンスe) 

4.5.5.2による。 

段階1の測定値の1.5倍以下 

損失角の正接(tan δ)

(要求がある場合)

4.5.3.2による。 

初期規定値の2倍以下 

段階3:カテゴリ上限温
度 

 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

105 ℃(UR)で 
4.5.1の規定値の12.5倍以下 

静電容量 

4.5.2.2による。 

段階1の測定値に対して 
 |

損失角の正接(tan δ)

(要求がある場合)

4.5.3.2による。 

UR≦4 

 初期規定値の3倍以下 

UR>4 

 初期規定値の2倍以下 

4.17 充放電e) 

4.17.3による。 

 

4.17.2 初期検査 

 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

4.17.4 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に損傷がなく,表示は明
瞭とする。 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

初期規定値以下 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

4.17.2の測定値に対して 
 |

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

初期規定値の1.5倍以下 

 

等価直列抵抗 

 

(ESR)e) 

4.5.4.2による。 

初期規定値の2倍以下 

 


10 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

表3−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号, 

試験及び検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群3.4 

 

表2による。 

4.15 耐久性 

4.15.3による。 

 

4.15.2 初期検査 

 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

4.15.4 後処理 

4.15.4による。 

 

4.15.5 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に損傷がなく,表示は明
瞭とする。 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

初期規定値の2倍以下 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

4.15.2の測定値に対して 
 |

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

初期規定値の1.5倍以下 

 

等価直列抵抗 

 

(ESR)e) 

4.5.4.2による。 

初期規定値の2倍以下 

群3.5 

 

表2による。 

4.16 高温貯蔵 

4.16.3による。 

 

4.16.2 初期検査 

 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

4.16.4 後処理 

4.16.4による。 

 

4.16.5 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に損傷がなく,表示は明
瞭とする。 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

初期規定値の2倍以下 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

4.16.2の測定値に対して 
 |

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

初期規定値以下 

4.14 サージ電圧 

4.14.3による。 

 

4.14.2 初期検査 

 

 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

 

4.14.4 後処理 

4.14.4による。 

 

4.14.5 最終検査 

 

 

 

外観検査 

4.4.2による。 

外観に損傷がない。 

 

漏れ電流 

4.5.1.2による。 

初期規定値以下 

 

静電容量 

4.5.2.2による。 

4.14.2の測定値に対して 
 |

 

損失角の正接 

 

(tan δ) 

4.5.3.2による。 

初期規定値の1.5倍以下 

注記 対応国際規格の不明瞭及び誤記の次の箇所を修正した。 

群0の外観では,寸法及び外観の記載順を細分箇条番号順に修正した。 
群3.5の4.16.5の最終検査の番号に誤記があったため修正した。 

注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求事項は,この規格の箇条4による。 

b) この表で,Dは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。 

c) この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で行ってもよい。 

d) CN:公称静電容量(

,UR:定格電圧(V)を示す。 

e) 要求がある場合。 


11 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

3.5 

品質確認検査 

3.5.1 

検査ロットの構成 

3.5.1.1 

群A及び群B検査 

これらの検査は,ロットごとに行う。 

製造業者は,次の条件で,製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。 

a) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。 

b) 試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法との組合せを代

表し,次の事項を考慮する。 

− 組合せ数 

− 1組合せ当たり5個以上 

c) IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1組合せ当たりの試料数が4個以下の場合には,製造

業者は,認証機関(CB)からの承認が必要となる。 

3.5.1.2 

群C検査 

これらの試験は,定期的に行う。 

試料は,ある一定の期間に工程で流れている製品を代表とし,かつ,高,中及び低電圧のものに分類し

たものを選定する。いずれの期間でも,認証の範囲を対象とするために,各電圧群から一つの外形寸法を

試験する。その後の期間では,全ての範囲を対象とするために,その他の外形寸法及び/又は定格電圧の

試料を試験する。 

3.5.2 

試験計画 

ロットごと及び定期的な品質確認検査の計画は,ブランク個別規格による。 

3.5.3 

長期保管後の出荷 

JIS C 5101-1のQ.10(長期保管後の出荷)の規定によって,静電容量,損失角の正接(tan δ),漏れ電流

及びはんだ付け性について群A及び群Bの再検査を行う。 

3.5.4 

評価水準 

ブランク個別規格に規定する評価水準は,表4及び表5から選定することが望ましい。 

 

表4−ロットごとの検査 

検査副群a) 

IL b) 

n b) 

c b) 

A0 

100 % c) 

A1 

S-3 

d) 

A2 

S-3 

d) 

B1 

S-3 

d) 

注a) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2(検査要求事項)による。 

b) この表の記号は次による。IL=検査水準,n=試料数,c=合格判定数 

c) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査であ

る。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全て検
査する。抜取水準は,製造業者が選定する。その場合JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %におけ
る100万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]による。 

抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とするが,品質水準を算

出するために,不適合品の数を全て数える。 

ppmで示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2の6.2(SVQLの算出)に規定する方法によって,累積し

た検査データから算出する。 

d) 試料数(n)は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)によって決定する。 

 


12 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

表5−定期的な検査 

検査副群a) 

p b) 

n b) 

c b) 

C1 

12 

C2 

12 

C3.1 

12 

C3.2 

24 

C3.3A 

12 

C3.3B 

12 

C3.4 

36 

C3.5 

12 

注a) 検査副群の内容は,ブランク個別規格の箇条2(検査要求事項)による。 

b) この表の記号は次による。p=検査周期(月),n=試料数,c=合格判定数 

 

試験及び測定方法 

注記 この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足するものである。 

4.1 

予備乾燥 

予備乾燥は,JIS C 5101-1の4.3(乾燥)による。 

4.2 

測定条件 

JIS C 5101-1の4.2.1[測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)]による。 

4.3 

取付け 

4.3.1 

一般事項 

取付けは,JIS C 5101-1の4.33[取付け(表面実装用コンデンサに適用)]によるほか,次による。 

4.3.2 

初期検査 

表3による。 

4.3.3 

試験条件 

リフロー方法及びリフロー温度プロファイルは,個別規格の規定による。 

4.3.4 

最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.4 

外観検査及び寸法確認 

4.4.1 

一般事項 

外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,次による。 

4.4.2 

外観検査及び寸法確認 

外観は,供試品が要求する品質水準に適した,照明付きの倍率約10倍の拡大鏡を用いて検査する。 

作業者には,適切な測定装置に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。 

コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法が,個別規格の要求事項を満足していることを証明す

るために検査する。 

4.4.3 

要求事項 

出来栄えは,個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。 


13 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

4.5 

電気的試験 

4.5.1 

漏れ電流 

4.5.1.1 

一般事項 

漏れ電流は,JIS C 5101-1の4.9(漏れ電流)によるほか,次による。 

4.5.1.2 

電圧処理 

コンデンサに,10 Ω〜1 000 Ωの保護抵抗器を直列に接続し,定格電圧に等しい直流電圧を+105 ℃±

2 ℃で2時間印加する。コンデンサへの印加電圧は,定格電圧の±3 %を維持する。 

次に,コンデンサを常温まで冷却した後に,約1 Ω/Vの抵抗器を通じて放電し,標準状態に12時間〜24

時間放置する。 

4.5.1.3 

測定条件 

コンデンサに充電電流を制限するため保護抵抗器を直列に接続し,その両端に定格電圧を印加する。 

保護抵抗器の値は,1 000 Ωとする。 

各試験での測定は,電圧処理後に行うことが望ましい。 

4.5.1.4 

要求事項 

表3による。 

4.5.2 

静電容量 

4.5.2.1 

一般事項 

静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,次による。 

4.5.2.2 

測定条件 

個別規格に規定がない場合,静電容量の測定周波数は,120 Hzとする。 

実際のコンデンサ端子に印加する交流電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。 

測定時に印加する交流電圧によって,コンデンサに負の電圧が印加されるのを避けるために,0.7 V〜1.0 

Vの直流バイアス電圧を印加してもよい。 

測定器の確度は,絶対値又は静電容量変化として個別規格に規定する値の±2 %以下とする。 

4.5.2.3 

要求事項 

表3による。 

4.5.3 

損失角の正接(tan δ) 

4.5.3.1 

一般事項 

損失角の正接(tan δ)は,JIS C 5101-1の4.8.1[誘電正接(損失角の正接)]によるほか,次による。 

4.5.3.2 

測定条件 

測定は,4.5.2の条件で行う。 

測定器の確度は,絶対値で0.01以下とする。 

4.5.3.3 

要求事項 

表3による。 

4.5.4 

等価直列抵抗(ESR)(要求がある場合) 

4.5.4.1 

一般事項 

等価直列抵抗(ESR)は,JIS C 5101-1の4.8.2[等価直列抵抗(ESR)]によるほか,次による。 

4.5.4.2 

測定条件 

個別規格に規定がない場合,試験条件は,次による。 

− 周囲温度:+20 ℃±2 ℃ 


14 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

− 測定電圧:交流電圧0.5 V(実効値)以下 

− 測定周波数:100 kHz 

測定器の確度は,規定値の5 %又は0.02 Ωのいずれか大きい値以下とする。 

4.5.4.3 

要求事項 

表3による。 

4.5.5 

インピーダンス(要求がある場合) 

4.5.5.1 

一般事項 

インピーダンスは,JIS C 5101-1の4.10(インピーダンス)によるほか,次による。 

4.5.5.2 

測定条件 

測定周波数:120 Hz±10 % 

測定電圧は,十分に低い値とし,コンデンサに1分間印加したとき,インピーダンス値の変化は,測定

誤差の範囲内でなければならない。 

測定器の確度は,規定値の5 %又は0.02 Ωのいずれか大きい値以下とする。 

4.5.5.3 

要求事項 

表3による。 

4.6 

はんだ耐熱性 

4.6.1 

一般事項 

はんだ耐熱性は,個別規格に規定がない場合は,JIS C 5101-1の4.14(はんだ耐熱性)によるほか,次

による。 

4.6.2 

初期検査 

表3による。 

4.6.3 

試験条件 

試験はリフロー法を適用し,リフロー温度プロファイルは個別規格による。 

4.6.4 

後処理 

後処理時間は,試験終了後24時間±2時間以内とする。 

4.6.5 

最終検査及び要求事項 

後処理後に,コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,次の要求事項を満足する。 

外観検査は,適切な照明で,約10倍の倍率で観察し,表3に示す電気的特性を測定する。 

4.7 

はんだ付け性 

4.7.1 

一般事項 

はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。 

4.7.2 

最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.8 

固着性(要求がある場合) 

固着性は,JIS C 5101-1の4.34(固着性)による。 

4.9 

耐プリント板曲げ性(要求がある場合) 

4.9.1 

一般事項 

耐プリント板曲げ性は,JIS C 5101-1の4.35(耐プリント板曲げ性)によるほか,次による。 

4.9.2 

初期検査 

表3による。 


15 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

4.9.3 

試験条件 

曲げ深さD及び曲げ回数は,個別規格による。 

4.9.4 

最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.10 温度急変 

4.10.1 一般事項 

温度急変は,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,次による。 

コンデンサは,4.3によって取り付ける。 

4.10.2 初期検査 

表3による。 

4.10.3 試験条件 

試験条件は,次による。 

− TA:カテゴリ下限温度 

− TB:カテゴリ上限温度 

− コンデンサは,試験を5回行う。 

− 各温度にさらす時間は,30分間とする。 

4.10.4 後処理 

後処理時間は,1時間〜2時間とする。 

4.10.5 最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.11 一連耐候性 

4.11.1 一般事項 

一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,次による。 

4.11.2 初期検査 

表3による。 

4.11.3 高温 

高温は,JIS C 5101-1の4.21.2(高温)によるほか,次による。 

− 温度:カテゴリ上限温度 

− 試験時間:16時間 

4.11.4 温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル 

温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイクル(試験Db),最

初のサイクル]による。 

4.11.5 低温 

低温は,JIS C 5101-1の4.21.4(低温)によるほか,次による。 

− 温度:カテゴリ下限温度 

− 試験時間:2時間 

4.11.6 温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル 

温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイクル(試験Db),残

りのサイクル]による。 


16 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

4.11.7 後処理 

後処理時間は,1時間〜2時間とする。 

4.11.8 最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.12 高温高湿(定常) 

4.12.1 一般事項 

高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。 

コンデンサは,4.3によって取り付ける。 

4.12.2 初期検査 

表3による。 

4.12.3 試験条件 

試験条件は,次による。 

− 温度:+40 ℃±2 ℃ 

− 相対湿度:(93±3)% 

− 印加電圧:印加電圧なし 

− 試験期間:21日 

4.12.4 後処理 

後処理時間は,1時間〜2時間とする。 

4.12.5 最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.13 高温及び低温特性 

4.13.1 一般事項 

高温及び低温特性は,JIS C 5101-1の4.29(高温及び低温特性)によるほか,次による。 

コンデンサは,4.3によって取り付ける。 

4.13.2 検査及び要求事項 

コンデンサは,各段階温度において電気的性能の測定を行い,表3に規定する要求事項を満足する。 

4.14 サージ電圧 

4.14.1 一般事項 

サージ電圧は,JIS C 5101-1の4.26(サージ)によるほか,次による。 

4.14.2 初期検査 

表3による。 

4.14.3 試験条件 

試験条件は,次による。 

− サイクル数:1 000回 

− 温度:+15 ℃からカテゴリ上限温度までの間で個別規格に規定する温度。 

− 電圧:1.15 UR又は1.15 UC 

− 保護抵抗:1 000 Ω±100 Ω又は式(1)による算出値のいずれか小さい値。 

RC=0.1 s±0.05 s  (1) 

ここに, 

R: 保護抵抗値(Ω) 

 

C: 公称静電容量値(F) 


17 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

− 充電時間:30秒間 

− 無負荷時間:5分30秒間 

4.14.4 後処理 

後処理時間は,1時間〜2時間とする。 

4.14.5 最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.15 耐久性 

4.15.1 一般事項 

耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,次による。 

コンデンサは,4.3によって取り付ける。 

4.15.2 初期検査 

表3による。 

4.15.3 試験条件 

試験条件は,次による。 

− 印加電圧:個別規格に規定がない場合には,定格電圧 

− 温度:カテゴリ上限温度 

− 試験期間:1 000時間 

4.15.4 後処理 

後処理時間は,1時間〜2時間とする。 

4.15.5 最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.16 高温貯蔵 

4.16.1 一般事項 

高温貯蔵は,JIS C 5101-1の4.25.1(高温保存)によるほか,次による。 

4.16.2 初期検査 

表3による。 

4.16.3 試験条件 

試験条件は,次による。 

− 試験温度:カテゴリ上限温度 

− 試験時間:96時間±4時間 

4.16.4 後処理 

後処理時間は,16時間以上とする。 

4.16.5 最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.17 充放電(要求がある場合) 

4.17.1 一般事項 

充放電は,JIS C 5101-1の4.27(充放電試験及び突入電流試験)によるほか,次による。 

4.17.2 初期検査 

表3による。 


18 

C 5101-25:2018 (IEC 60384-25:2015) 

 

4.17.3 試験条件 

充放電は,+15 ℃からカテゴリ上限温度までの間で個別規格に規定する温度で規定サイクルまで実施す

る。 

コンデンサは,規定に示されたサイクル数の充放電を,充電条件a)及び放電条件b)で行う。 

a) 充電条件 

− 印加電圧:定格直流電圧 

− 電源の内部抵抗値と外部直列抵抗値との和:RC=0.1 sとなる値 

− 充電時間:0.5 s 

− 充放電サイクル数:106 

b) 放電条件 

− 印加電圧:なし 

− 放電抵抗値:RC=0.1 sとなる抵抗値 

− 放電時間:0.5 s 

− 充放電サイクル数:106 

4.17.4 最終検査及び要求事項 

表3による。 

4.18 部品の耐溶剤性(要求がある場合) 

部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.31(部品の耐溶剤性)による。 

4.19 表示の耐溶剤性(要求がある場合) 

表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.32(表示の耐溶剤性)による。 

4.20 大電流サージ(要求がある場合) 

4.20.1 一般事項 

大電流サージは,JIS C 5101-1の4.39(大電流サージ)によるほか,次による。 

4.20.2 最終検査及び要求事項 

表3による。 

注記 対応国際規格の明らかな誤記のため,表4を表3に修正した。 

 

 

 

 

参考文献 JIS C 5101-18 電子機器用固定コンデンサ−第18部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウ

ム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ 

注記 対応国際規格:IEC 60384-18,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 18: 

Sectional specification−Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid 

(MnO2) and non-solid electrolyte(IDT) 

JIS C 60068-2-58 環境試験方法−電気・電子−第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付

け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-58,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test 

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of 

surface mounting devices (SMD)(IDT)