C 5402-16-2：2012 (IEC 60512-16-2：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 前処理 ························································································································· 2
3.4 取付け ························································································································· 2
4 試験方法 ························································································································· 2
4.1 手順 ···························································································································· 2
4.2 測定及び要求事項 ·········································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 2
C 5402-16-2：2012 (IEC 60512-16-2：2008)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402 の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-16-2：2012
(IEC 60512-16-2：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第16-2部：コンタクト及びターミネーションの
機械的試験−試験16b：リストリクテッドエントリ
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 16-2: Mechanical tests on contacts and terminations-
Test 16b: Restricted entry
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-2を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にない事項である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，規定の寸法より大きなおすコンタクト，又は類似の形状の物体を，めすコンタクトに挿入
することを防止するために，めすコンタクトに設けた設計機構の有効性を評価するための試験方法につい
て規定する。
注記1 この規格に規定する試験は，主に，円筒形のコンタクトに適用するが，その他の形状のコン
タクトへの適用を除外するものではない。その場合には，試験の詳細［箇条5 e)参照］を個
別規格に含んでいることが望ましい。
注記2 リストリクテッドエントリとは，規格外の大きなピンの挿入を防ぐためにめすコンタクト又
は絶縁体に設けた設計機構をいう。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-16-2:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-2:
Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16b: Restricted entry（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験1a：外観
2
C 5402-16-2：2012 (IEC 60512-16-2：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1, Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1:General examination−Test 1a:Visual examination（IDT）
3
準備
3.1
試料
試料は，ターミネーションをもつコネクタとする。個別規格に規定がある場合は，ターミネーションを
結線してもよい。
個別規格に規定する前処理を適用する。
個別規格で潤滑油を要求する場合は，規定する方法で適用する。
3.2
装置
個別規格で規定する試験用ゲージを準備する。
3.3
前処理
個別規格で規定する試料の前処理を実施する。
3.4
取付け
適用する場合，個別規格で規定する試料の取付けを実施する。
4
試験方法
4.1
手順
供試コネクタに規定する試験用ゲージの挿入ができないことを確認する。
確認するための力を個別規格で規定する場合には，その値を超えてはならない。その値の規定がない場
合には，試験機関が定める値を適用し，その値を記録する。
4.2
測定及び要求事項
4.2.1
試験前
初期測定は，JIS C 5402-1-1によって10倍の倍率で外観検査を行う。
試験の妥当性を損なうような不適合があってはならない。
4.2.2
試験中
コネクタに試験用ゲージを挿入したときの力を測定する。
注記 挿入の判断基準の一つとして，検知プローブとコンタクトとの間の電気的導通の確認がある。
4.2.3
試験後
最終測定は，JIS C 5402-1-1によって10倍の倍率で外観検査を行う。
コネクタの正常な機能を損なうような不適合は，全て試験報告書に記録する。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 前処理（要求がある場合）
b) 試料の結線
c) 試料の特殊な取付方法（要求がある場合）
d) 挿入を確認するための力の最大値
e) 試験装置，手順及び測定の詳細（コンタクトが円筒形でない場合）
f)
この規格で規定する試験方法との相違