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C 5921

:2009

(1) 

目  次

ページ

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  用語及び定義

1

4

  定格

1

5

  光学特性

2

6

  環境及び耐久性特性

3

7

  試料

5

8

  試験報告書

5

9

  表示

6

10

  包装

6

11

  安全

6


C 5921

:2009

(2) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及び財

団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工

業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。


日本工業規格

JIS

 C

5921

:2009

シングルモード光ファイバピッグテール型

固定光減衰器

Single-mode fiber, pigtailed-style fixed optical attenuators

1

適用範囲

この規格は,屋内環境条件で光ファイバを用いた光伝送に使用するシングルモード光ファイバピッグテ

ール型固定光減衰器の定格,光学特性,環境及び耐久性特性について規定する。

2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5901

  光伝送用受動部品試験方法

JIS C 5920

  光減衰器通則

JIS C 61300-2-17

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-17 部:低

温試験

JIS C 61300-2-18

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-18 部:高

温試験

JIS C 61300-2-19

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-19 部:高

温高湿試験(定常状態)

IEC 60793-2-50

,Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional specification for class B

single-mode fibres

IEC 61300-2-42

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 2-42: Tests−Static side load for connectors

IEC 61300-2-44

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 2-44: Tests−Flexing of the strain relief of fibre optic devices

IEC 61300-3-7

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength dependence of attenuation and

return loss of single mode components

3

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5920 による。

4

定格

シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の定格は,

表 による。


2

C 5921

:2009

表 1−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の定格

項目

記号

条件

最大定格値

単位

使用温度範囲

T

a

0

∼60

保存温度範囲

T

stg

−40∼85

使用波長範囲

λ

band

− 1

260

∼1 360 又は 1 460∼1 625

nm

最大入射光パワー

P

max

 1

310

nm

1 550 nm

20 dBm

5

光学特性

シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の光学特性の試験方法,試験条件及び要求性能

は,

表 による。各項目の性能値は,すべての偏光状態の入射光及び表 の定格で規定する使用温度範囲,

使用波長範囲に対する最小及び最大値とする。

表 2−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の光学特性

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

標準値

最大値

減衰量

挿入損失及

び反射減衰
量の波長依
存性測定

IEC  

61300-3-7

供試品の光ファイバ長は,2 m 以上とす

る。 
波長は,光ファイバの遮断波長より長く,
かつ,無偏光な広帯域光源を用いる。波

長範囲は,1 260 nm∼1 360 nm 及び 1 460

nm

∼1 625 nm とし,測定時間内で,動作

波長における光源の光出力安定性は,±

0.05 dB

以内とする。

検出器は,測定波長範囲において十分な
波長感度をもち,直線性は±0.05 dB 以内

とする。

公 称 値 − 0.5 dB

( 減 衰 量 公 称 値
が 5 dB 以下の場
合)

公 称 値 の 90  %
( 減 衰 量 公 称 値

が 5 dB を超える
場合)

公称値

公 称 値 + 0.5 dB

( 減 衰 量 公 称 値
が 5 dB 以下の場
合)

公称値の 110  %
( 減 衰 量 公 称 値

が 5 dB を超える
場合)

反 射 減 衰

(RL)

反射減衰量
JIS C  

5901

の 6.5

方法 1 又は方法 2 
光源の中心波長は,1 310 nm±30 nm,

1 550 nm

±30 nm 又は 1 605 nm±20 nm と

する。 
スペクトル幅(半値全幅)は,20 nm 以下

とする。 
方法 2 の場合,OTDR パルス幅は,100 ns
以下とする。

動作波長における光源の光出力安定性
は,測定時間内で±0.05 dB 以内とする。

検出器の最低受光感度は−80 dBm 以下と
し,かつ,直線性は±0.05 dB 以内とする。
不要な反射が発生しないように,供試品

のすべての不要ポートは適切に終端処理
する。

35 dB

(グレード

T

40 dB

(グレード

R

50 dB

(グレード

U

60 dB

(グレード

V

偏 光 依 存
性損失 
(PDL)

光損失の偏
光依存性 
JIS C  

5901

の 6.3

方法 1,オプション 1 
光源は,中心波長が 1 310 nm±30 nm 又は

1 550 nm

±30 nm の DFB レーザとする。

その他の試験条件は,減衰量と同様とす
る。

− 0.2

dB


3

C 5921

:2009

表 2−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の光学特性(続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

標準値

最大値

光 パ ワ ー
損 傷 し き

い値

最大入力光
パワー(JIS 

C 5901

8.8

光源は,波長 1 310 nm±30 nm 及び 1 550

nm

±30 nm のレーザダイオードとする。

最大入力パワーは,20 dBm とする。 
パワー増分ステップは,減衰量公称値が 5

dB

以下の場合 100 mW とし,減衰量公称

値が 5 dB を超える場合 10 mW とする。
各パワーレベルで,1 時間にわたって入力
光パワーを保持する。

試験後の減衰量は,

表 に示す最小値以上,か

つ,最大値以下とする。また,試験後の減衰量

変化は,dB 値で初期値の±5  %以内とする。 
試験後の反射減衰量は,

表 に示す最小値以上

とする。

6

環境及び耐久性特性

屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法,

試験条件及び要求性能は,

表 による。

表 3−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の環境及び耐久性特性

項目

試験方法

試験条件

要求性能

耐寒性

低温試験(JIS C 

61300-2-17

温度:0  ℃±2  ℃ 
暴露時間:96 時間

減衰量の測定は,試験前後及び試験中は 1
時間以下の間隔で実施する。

反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。

減衰量は,試験中及び試験前後におい
て,

表 に示す最小値以上,かつ,最大

値以下とする。さらに,試験中及び試験
後の減衰量変化は,周囲条件下で dB 値
で初期値の±5  %以内とする。

反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上とする。

耐熱性

高温試験(JIS C 

61300-2-18

温度:60  ℃±2  ℃ 
暴露時間:96 時間

減衰量の測定は,試験前後及び試験中は 1
時間以下の間隔で実施する。 
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。

減衰量は,試験中及び試験前後におい
て,

表 に示す最小値以上,かつ,最大

値以下とする。さらに,試験中及び試験

後の減衰量変化は,周囲条件下で dB 値
で初期値の±5  %以内とする。 
反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上とする。

耐湿性

(定常状態)

高温高湿試験

JIS C  

61300-2-19

温度:30  ℃±2  ℃

相対湿度:(85±2)  % 
温度:60  ℃±2  ℃ 
相対湿度:(20±2)  %

a)

暴露時間:96 時間

減衰量の測定は,試験前後及び試験中は 1

時間以下の間隔で実施する。 
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。

減衰量は,試験中及び試験前後におい

て,

表 に示す最小値以上,かつ,最大

値以下とする。さらに,試験中及び試験
後の減衰量変化は,周囲条件下で dB 値

で初期値の±5  %以内とする。 
反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上とする。


4

C 5921

:2009

表 3−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の環境及び耐久性特性(続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

温 度 サ イ

クル

温度サイクル試

験(JIS C 5901
の 8.2

高温:60  ℃±2  ℃

低温:0  ℃±2  ℃ 
放置時間:1 時間以上 
温度変化の割合:1  ℃/min

サイクル数:5

減衰量の測定は,試験前後及び試験中は 10

分以下の間隔で実施する。 
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。
前処理:試験前,供試品は室温環境中に 2

時間放置する。 
後処理:試験後,供試品は室温環境中に 2
時間放置する。

減衰量は,試験中及び試験前後におい

て,

表 に示す最小値以上,かつ,最大

値以下とする。さらに,試験中及び試験
後の減衰量変化は,周囲条件下で dB 値

で初期値の±5  %以内とする。 
反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上とする。

耐振性

耐 振 性 ( JIS C 

5901

の 7.1

振動範囲:10 Hz∼55 Hz 
試験時間:1 オクターブ/分

振動軸:直交 3 軸 
掃引サイクル数(10 Hz−55 Hz−10 Hz)

:15

振動振幅:0.75 mm

減衰量の測定は,試験前後及び試験中は 10
分以下の間隔で実施する。

反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。
取付方法:供試品は,アセンブリングカセ
ット又はオーガナイザで取付具と強固に固

定する。

減衰量は,試験中及び試験前後におい
て,

表 に示す最小値以上,かつ,最大

値以下とする。さらに,試験中及び試験
後の減衰量変化は,周囲条件下で dB 値
で初期値の±5  %以内とする。

反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上とする。

光 フ ァ イ

バ ク ラ ン
プ強度 
( 軸 方 向

引張り)

光ファイバコー

ドクランプ強度

(軸方向引張り)

JIS C 5901 

7.5

引張力:強化ケーブルに対して 5 N/s の変化

率で 10 N±1 N 
セカンダリ光ファイバに対して 0.5 N/s の変
化率で 5 N±0.5 N

プライマリ光ファイバに対して 0.5 N/s の変
化率で 2 N±0.2 N 
引張力を加える位置:供試品の端から 0.3 m

引張力持続時間:10 N の場合 120 秒,5 N 及
び 2 N の場合 60 秒 
サンプリングレート(測定頻度)

:減衰量の

測定は,負荷が最大に達してから 30 秒以下
の間隔で実施する。

減衰量の測定は,試験前後及び試験中に実
施する。 
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。

減衰量は,試験中及び試験前後におい

て,

表 に示す最小値以上,かつ,最大

値以下とする。さらに,試験中及び試験
後の減衰量変化は,周囲条件下で dB 値

で初期値の±5  %以内とする。 
反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上とする。

耐衝撃性

耐衝撃性(JIS C 

5901

の 7.2

ピーク加速度:4 900 m/s

2

 (500 G)

パルス作用時間:1 ms,正弦半波

軸数:3 軸各 2 方向 
衝撃回数:2 衝撃/軸,総数 12

減衰量の測定は,試験前後及び各軸方向に
衝撃を加える前後に実施する。 
反射減衰量の測定は,試験前後に実施する。

減衰量は,試験前後において,

表 に示

す最小値以上,かつ,最大値以下とする。

さらに,減衰量変化は,周囲条件下で dB
値で初期値の±5  %以内とする。 
反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上でなけれ
ばならない。


5

C 5921

:2009

表 3−シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器の環境及び耐久性特性(続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

コ ネ ク タ

の横荷重

コネクタの横荷

重試験(IEC  

61300-2-42

荷重力及び保持時間:強化ケーブルに対し

て 1 N で 1 時間 
セカンダリ光ファイバに対して 0.2 N で 5 分

荷重方向:互いに直交する 2 方向

減衰量及び反射減衰量は,試験前後に測定

する。

減衰量は,試験前後において,

表 に示

す最小値以上,かつ,最大値以下とする。
さらに,試験後の減衰量変化は,周囲条
件下で dB 値で初期値の±5  %以内とす

る。 
反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上でなけれ

ばならない。

ス ト レ イ

ン リ リ ー
フ強度

光ファイバデバ

イスのストレイ
ンリリーフ曲げ
試験(IEC  

61300-2-44

荷重力:強化ケーブルに対して 2 N

曲げ角度:±90゜ 
サイクル数:30

減衰量及び反射減衰量は,試験前後に測定
する。

減衰量は,試験前後において,

表 に示

す最小値以上,かつ,最大値以下とする。
さらに,試験後の減衰量変化は,周囲条
件下で dB 値で初期値の±5  %以内とす

る。 
反射減衰量は,試験前後において,

表 2

に示すグレードの最小値以上でなけれ

ばならない。

a)

温度 30  ℃∼60  ℃の相対湿度は,

図 の一定水蒸気量曲線で囲まれる範囲とすることが望ましい。

0

10

20

0

40

50

60

0

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

相対湿度

乾球温度 ℃

一定水蒸気量

図 1

温度及び湿度を考慮した環境条件

7

試料

試料は,IEC 60793-2-50 のタイプ B1.1 に基づく被覆光ファイバ(プライマリ及びセカンダリ)又は強化

ケーブルで,シングルモード光ファイバに接続できなければならない。

8

試験報告書

試験報告書及びそれを裏付ける証拠を提供しなければならない。また,この試験報告書及びそれを裏付

ける証拠は,実施した試験に適合した証拠として検査に利用する。試験報告書には,光学特性については

試験条件及び性能値を,環境及び耐久性特性については試験条件,試料数及び合格判定数を記載する。


6

C 5921

:2009

9

表示

シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器には,次の項目を表示しなければならない。た

だし,個々の光減衰器に表示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。

a)

形名(製造業者の指定による)

b)

製造業者名又はその略号

c)

製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号

10

包装

包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように

行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理,保管環境条件に関する注意

及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。

11

安全

光伝送システム又は装置に用いる場合,人体へ影響を及ぼす出射端子からの光の放射があり得る。その

ため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法

を明示しなければならない。