>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 5201-5 : 1998

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性質をも

つ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認につ

いて,責任はもたない。

部編成規格  この規格の部編成規格は,次による。

JIS

C

5201

電子機器用固定抵抗器

JIS

C

5201-1

第 1 部: 品目別通則

JIS

C

5201-2

第 2 部: 品種別通則:低電力非巻線固定抵抗器

JIS

C

5201-2-1  第 2 部: ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-2-2  第 2 部: ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4

第 4 部: 品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS

C

5201-4-1  第 4 部: ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-4-2  第 4 部: ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4-3  第 4 部: ブランク個別規格:電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き  評価水準 H

JIS

C

5201-5

第 5 部: 品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS

C

5201-5-1  第 5 部: ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-5-2  第 5 部: ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-6

第 6 部: 品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器(予定)

JIS

C

5201-6-1  第 6 部: ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  同一抵抗値及

び同一定格電力  評価水準 E(予定)

JIS

C

5201-6-2  第 6 部: ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  異種抵抗値又

は異種定格電力  評価水準 E(予定)

JIS

C

5201-8

第 8 部: 品種別通則:チップ固定抵抗器

JIS

C

5201-8-1  第 8 部: ブランク個別規格:チップ固定抵抗器  評価水準 E


C 5201-5 : 1998

1 

目次

ページ

序文

1

第 1 章  一般事項

1.

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  目的

1

1.3

  引用規格

1

1.4

  個別規格に規定する事項

2

1.4.1

  外形図及び寸法

2

1.4.2

  取付け

2

1.4.3

  形式

2

1.4.4

  定格及び特性

3

1.4.5

  表示

3

第 2 章  推奨定格,特性及び試験の厳しさ

2.

  推奨定格,特性及び試験の厳しさ

3

2.1

  推奨特性

3

2.1.1

  推奨耐候性カテゴリ

3

2.1.2

  抵抗温度係数及び抵抗温度特性

3

2.1.3

  抵抗値変化の限界

4

2.2

  推奨定格値

4

2.2.1

  定格抵抗値(公称抵抗値)

4

2.2.2

  定格抵抗値の許容差

4

2.2.3

  定格電力

4

2.2.4

  素子最高電圧

4

2.2.5

  絶縁抵抗(取付金具付き及び絶縁形だけに適用)

4

2.2.6

  アイソレーション電圧(絶縁形だけに適用)

4

2.3

  推奨する試験の厳しさ

5

2.3.1

  乾燥

5

2.3.2

  振動(正弦波)

5

2.3.3

  減圧

5

2.3.4

  過負荷

5

2.3.5

  抵抗体強度

5

2.3.6

  バンプ

5

2.3.7

  衝撃

5


C 5201-5 : 1998

目次

2 

ページ

第 3 章  品質評価手順

3.

  品質評価手順

5

3.1

  構造的に類似な抵抗器

5

3.2

  品質認証

5

3.2.1

  定数抜取手順に基づく品質認証

5

3.2.2

  試験

6

3.3

  品質確認検査

10

3.3.1

  検査ロットの構成

10

3.3.2

  試験計画

10

3.3.3

  評価水準

10


日本工業規格

JIS

 C

5201-5

: 1998

電子機器用固定抵抗器−

第 5 部:品種別通則:

精密級固定抵抗器

Fixed resistors for use in electronic equipment

  Part 5 : Sectional specification :

  Fixed precision resistors

序文  この規格は,1982 年に第 2 版として発行された IEC 60115-5, Fixed resistors for use in electronic

equipment Part 5 : Sectional specification : Fixed precision resistors

を基に技術的内容及び規格票の様式を変更

することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC 規格番号

は,1997 年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に

ついても,規格番号に 60000 を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切り替えであり内容は同一

である。

第 1 章  一般事項 

1.

一般事項

1.1

適用範囲  この規格は,JIS C 5201-1 を品目別通則とする電子機器用固定抵抗器の品種別通則で,精

密級固定抵抗器(以下,抵抗器という。

)について規定する。

備考  対応国際規格を,次に示す。

IEC 60115-5 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 5 : Sectional specification :

Fixed precision resistors

1.2

目的  この規格の目的は,推奨定格及び推奨特性を規定し,第 1 部:品目別通則  (JIS C 5201-1)  か

ら適切な品質評価手順・試験及び測定方法を選択し,この規格の抵抗器の一般的要求性能を規定すること

である。この規格に基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格の要求性能と同等

又はそれ以上の水準とする。

1.3

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうち発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の

規定を構成するものであって,その後の改正版・Amendment・追補には適用しない。発効年を付記してい

ない引用規格は,その最新版(Amendment・追補を含む。

)を適用する。

日本工業規格 


2

JIS C 00

試験規格群  環境試験方法

備考  IEC 60068, Basic environmental testing procedures からのすべての引用事項は,この規格の該当

事項と同等である。

JIS C 0010 : 1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考  IEC 60068-1 : 1978, Basic environmental testing procedures Part 1 : General からのすべての引用

事項は,この規格の該当事項と同等である。

なお,JIS C 0010 : 1993 は,IEC 60068-1 : 1988 及び Amendment 1 : 1992 と一致している。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考  IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors 並びに Amendment 1 : 1967

及び Amendment 2 : 1977 からのすべての引用事項が,この規格と一致している。

JIS C 5201-1

  電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

備考  IEC 60115-1 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification 並

びに,Amendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989 及び Amendment 4 : 1993 からのすべての

引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

IEC

規格 

IEC QC 001001 : 1986, Basic rules of the IEC Quality assessment system for electronic components (IECQ)

Amendment 2 : 1994

IEC QC 001002 : 1986, Rules of procedure of the IEC Quality assessment system for electronic components

(IECQ) Amendment 2 : 1994

1.4

個別規格に規定する事項  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。個別規格は,JIS 

C 5201-1

及びこの規格又はブランク個別規格の要求事項よりも低い要求事項を規定してはならない。

また,

より厳しい要求事項を規定する場合には,その内容を個別規格の 1.8 に規定し,例えば,アステリスク  (*)

を付けて試験計画の中に明示する。

備考  この規格の 1.4.1 及び 1.4.3 に規定する事項は,一覧表で示してもよい。個別規格には次の事項

を規定し,それぞれの規定値をこの部の該当する項目から選択する。

1.4.1

外形図及び寸法  識別を容易にし,他の抵抗器との比較のために,抵抗器を図示する。互換性及び

取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。すべての寸法は,ミリメートルで示す。

通常,寸法は,抵抗器本体の長さ,幅及び高さ,並びにリード線端子の間隔を規定する。また,円筒形

の場合には,本体の直径並びにリード線端子の長さ及び直径を規定する。必要に応じて,例えば,個別規

格に二つ以上の電力値がある場合には,それらの寸法及び許容差を図の下に表で示す。

構造が上記のものと異なる場合には,その抵抗器を適切に示す外形図及び寸法を個別規格に規定する。

抵抗器がプリント配線板用として設計されていない場合には,このことを個別規格に明記する。

1.4.2

取付け  個別規格に通常の使用の場合の取付方法,並びに振動(正弦波),バンプ及び衝撃試験を

行う場合の取付方法を規定する。抵抗器は,通常の状態で取り付ける。

抵抗器の設計上特別な取付ジグを必要とする場合には,個別規格にその取付ジグを規定し,振動(正弦

波)

,バンプ及び衝撃試験を行う場合に,このジグを使用する。

1.4.3

形式 (Style) JIS C 5201-1 の 2.2.3(形式)]  形式は,個別規格の番号に定格電力及び抵抗温度

特性(又は抵抗温度係数)を組み合わせて表す。

個別規格に規定する定格電力と温度特性との組合せを任意に選択した二つの文字,例えば,AB,BC,

CD

などの 2 英文字で表す。したがって,形式の記号は,個別規格の番号が与えられなければ意味をなさ


3

ない。

備考  形式の記号は,JIS C 5201-1 の附属書 で規定する形名を用いてもよい。

1.4.4

定格及び特性  定格及び特性は,次の事項を含めこの規格の関連する項目による。

1.4.4.1

定格抵抗値の範囲  この規格の 2.2.1 による。推奨値は JIS C 5063 の E 標準数列とする。

備考  IECQ の場合は,IECQ の品質認証制度によって認定された個別規格の製品と,この規格の定

格抵抗値の範囲が異なる場合には,次の記述を追加する。

“各形式に有効な抵抗値範囲は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。

1.4.5

表示  個別規格に,抵抗器及び包装への表示の内容を規定する。JIS C 5201-1 の 2.4(表示)との

相違点があれば,それらを明記する。

第 2 章  推奨定格,特性及び試験の厳しさ 

2.

推奨定格,特性及び試験の厳しさ

2.1

推奨特性  個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ  この規格に含まれる抵抗器は,JIS C 0010 の附属書 に規定する一般原則

に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)

の試験時間は,次の中から選択する。

カテゴリ下限温度

:−55℃,−40℃,−25℃及び−10℃

カテゴリ上限温度

:+85℃,+100℃,+125℃及び+155℃

高温高湿(定常)の試験時間:4 日,10 日,21 日及び 56 日

低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度

である。ある種の抵抗器は,その構造のため,これらの温度が JIS C 00 試験規格群に規定する二つの推奨

温度と一致しないことがある。この場合には,抵抗器の実際の温度範囲内の最も近い推奨温度を厳しさと

して選択する。

2.1.2

抵抗温度係数及び抵抗温度特性  抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を表 に示す。表の

各欄は推奨温度係数,

20

℃∼70℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の 2.1.1 のカテゴリ温度範囲に基

づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5201-1 の 4.8(温度による抵抗値変化)参照。

]での抵抗値変化の限界を

規定する。

表 I  抵抗温度特性

抵抗温度特性(抵抗値変化率の限界)%

温度 
係数

温度特性

20

℃/70℃

基準温度  ℃/カテゴリ下限温度  ℃

基準温度℃/カテゴリ上限温度℃

10

6

/

%

+20/−55  +20/−40 +20/−25 +20/−10 +20/+85

*

+20/+100 +20/+125 +20/+155

±25 
±20 
±15

±10

± 5

±0.125 
±0.1 
±0.075

±0.05 
±0.025

±0.188 
±0.15 
±0.113

±0.075 
±0.038

±0.15 
±0.12 
±0.09

±0.06 
±0.03

±0.113 
±0.09 
±0.068

±0.045 
±0.023

±0.075 
±0.130 
±0.068

±0.03 
±0.015

±0.162 
±0.130 
±0.098

±0.065 
±0.03

±0.2 
±0.16 
±0.12

±0.08 
±0.04

±0.262 
±0.210 
±0.158

±0.105 
±0.053

±0.338 
±0.270 
±0.203

±0.135 
±0.068

*

カテゴリ上限温度 85℃の抵抗器は,70℃での測定を行わない。

備考  上表以外の測定温度を追加する場合には,個別規格に規定する。


4

2.1.3

抵抗値変化の限界  表 II に各試験での抵抗値変化の推奨限界を示す。それらは,それぞれの安定

性クラスに対応して規定している。

備考  表 II の項目番号は,JIS C 5201-1 による。

表 II  抵抗値変化の限界

長期試験

短期試験

安定性クラス

%

4.23

一連耐候性

4.24

高温高湿(定常)

4.25.1

70

℃での耐久性

4.25.3

カテゴリ上限温

度での耐久性

4.13

過負荷

4.16

端子強度

4.18

はん だ 耐熱

 

4.19

温度急変

4.20

バンプ

4.21

衝撃

4.22

振動 ( 正弦

波)

0.5

±(0.5%+0.05

Ω)

±(0.1%+0.01

Ω)

0.25

±(0.25%+0.05

Ω)

±(0.05%+0.01

Ω)

0.1

±(0.1%+0.0l

Ω)

±(0.02%+0.0l

Ω)

0.05

±(0.05%+0.01

Ω)

±(0.01%+0.0l

Ω)

2.2

推奨定格値

2.2.1

定格抵抗値(公称抵抗値)  JIS C 5201-1 の 2.2.7(定格抵抗値)による。

2.2.2

定格抵抗値の許容差  定格抵抗値の推奨許容差は,次による。

±1.0%,±0.5%,±0.25%,±0.1%,±0.05%,±0.025%,±0.01%又は±10m

Ω。

2.2.3

定格電力  70℃での定格電力の推奨値は次による。

0.05W

,0.063W,0.1W,0.125W,0.25W,0.5W,1W,2W 及び 3W。

70

℃を超える温度での電力の軽減値は,次の曲線による。

上記の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には,より広い動作領域を個別規格に規

定してもよい。この場合には,個別規格に 70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし,曲線

上の折れ点 (Break points) を,試験によって確認しなければならない。

2.2.4

素子最高電圧  素子最高電圧の推奨値は,次による。

75V

,100V,150V,200V,250V,350V,500V,750V 及び 1 000Vd.c.又は a.c.の実効値とする。

2.2.5

絶縁抵抗(取付金具付き及び絶縁形だけに適用)  個別規格に規定がない限り,絶縁抵抗は,高温

(耐熱性)試験後で 1G

Ω以上,耐湿性試験後で 100MΩ以上とする。


5

2.2.6

アイソレーション電圧(絶縁形だけに適用)  個別規格に規定がない限りアイソレーション電圧は,

素子に印加できるピーク電圧以上とする。すなわち,素子最高電圧の 1.42 倍以上とする。

2.3

推奨する試験の厳しさ  個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択することが望ましい。

2.3.1

乾燥  JIS C 5201-1 の 4.3(乾燥)の手順 を適用する。

2.3.2

振動(正弦波)  JIS C 5201-1 の 4.22[振動(正弦波)]及び次の条件を適用する。

振動周波数範囲  :10Hz∼55Hz 又は 10Hz∼500Hz

振幅

:0.75mm 又は 98m/s

2

(いずれか緩い方)

掃引耐久試験

:総試験時間:6h

適用する取付方法を個別規格に規定する。リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)の抵抗器

でリード線だけで取り付けられる抵抗器の場合には,抵抗器本体と取付点との距離は,6mm±1mm とする。

2.3.3

減圧  JIS C 5201-1 の 4.23.5(減圧)及び次の条件を適用する。

気圧:8kPa

2.3.4

過負荷  JIS C 5201-1 の 4.13(過負荷)及び次の条件を適用する。

印加電圧:定格電圧の 2.5 倍又は素子最高電圧の 2 倍のどちらか小さい方の値で,個別規格に規定が

ない限り下表の印加時間を適用する。

印加時間

定格電力

3s

<1W

5s

≧1W

2.3.5

抵抗体強度  JIS C 5201-1 の 4.15(抵抗体強度)及び次の条件を適用する。

荷重:100N±5N

2.3.6

バンプ  JIS C 5201-1 の 4.20(バンプ)及び次の条件を適用する。

ピーク加速度

:400m/s

2

バンプ回数

:4 000

2.3.7

衝撃  JIS C 5201-1 の 4.21(衝撃)及び次の条件を適用する。

ピーク加速度

:500m/s

2

作用時間

:11ms

パルス波形

:正弦半波

適用する取付方法を個別規格に規定する。端子反対方向(アキシャルリード線端子)の端子の抵抗器で

リード線だけで取り付けられる抵抗器の場合には,抵抗器本体とリード線端子の取付点との距離は,6mm

±1mm とする。

第 3 章  品質評価手順

3.

品質評価手順

3.1

構造的に類似な抵抗器  構造的に類似な抵抗器とは,抵抗値及び温度特性が異なっていても,同様

な工程及び材料で製造され,同一の公称寸法をもつ抵抗器とする。

3.2

品質認証  品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1 の 3.4(品質認証手順)による。ロットごとの品質

確認検査及び定期的品質確認検査に基づく試験の計画は,この規格の 3.3 に規定する。

定数抜取数の試験計画を用いた手順は,次の 3.2.1 及び 3.2.2 による。


6

3.2.1

定数抜取手順に基づく品質認証  定数抜取りの手順は,JIS C 5201-1 の 3.4.2 の b)による。試料は,

認証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは,個別規格に規定している全範囲でなく

てもよい。

試料は,認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証

を受けようとする範囲の中にある場合には,その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける

場合には,別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様にして,認証を受けようとする最も狭い許

容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の品質保

証責任者によって提案される。IECQ の場合は,国内監督検査機関  (NSI)  の承認を必要とする。

予備の試料は,次の場合に使用する。

a)

群 “0” で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに 1 個,各抵抗温度係数又は温度特性ごとに 1

個。

b)

製造業者の責任ではない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに 1 個,各抵抗温度係数

又は温度特性ごとに 1 個。

品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料を群 “0” に追加

する。

3.2.2

試験  個別規格に規定する抵抗器の認証のために,表 III に規定する一連の試験を必要とする。各

群の試験は記載の順で行う。

全試料について,群 “0” の試験を行い,その後に他の群に分割する。絶縁形抵抗器は,群 1 の試験を群

2

∼群 7 の試験の前に行う。群 “0” の試験での不良品は他の群に使用してはならない。1 個の抵抗器が一

つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には,

“1 個の不良”として数える。不良品が各群又は各副

群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。

備考  表 III に定数抜取りの試験計画を示す。これは,各試験群ごとの抜取方法,合格判定個数及び

総合格判定個数の個別規定を含み,また,JIS C 5201-1 

第 章(試験及び測定方法)及びこ

の規格の

第 章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。

表 III は,試験方法,試験条件及び要求性能について個別規格に規定するための選択内容を

示す。

定数抜取りの試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に

規定する内容と同一とする。


7

表 III  品質認証試験計画

備考1.  試験の項目番号及び性能要求は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,この規格の表 

表 II から適切に選択する。

2.

この表で:

n

=  試料数

c

=  合格判定個数(群又は副群当たりの許容不良数)

t

=  総合格判定個数(一つ又は幾つかの連結された群,例えば,群 0A+群 0B 又は群 1∼群 7 に対する

許容不良数)

D

=  破壊試験

ND

=  非破壊試験

参考  表中の要求事項の “%R”  の は,各試験の試験前の抵抗値を示す。

試料数及び

(総)

合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

群 0A 

4.4.1

  外観

ND  125

1

4.4.1

による。

表示が明りょうで,個別規格

の規定による。

...mm

のゲージ板を使用する。

群 0B 

4.4.2

  寸法(ゲージ法)

4.5

  抵抗値

ND

125

1

2

個別規格の規定による。

4.5.2

による。

方法:...

4.7.3

による。

群 

4.7

  耐電圧(絶縁形抵抗器だけに

適用)

ND

50 1

4.17.3.2

による。

群 

4.17

  はんだ付け性

4.13

  過負荷

4.8

  温度による抵抗値変化

4.9

  リアクタンス(適用する場

合)

4.15

  抵抗体強度(適用する場合)

D

エージングなし

方法:..

この規格の 2.3.4 による。

外観

抵抗値

カテゴリ下限温度/20℃

20

℃/カテゴリ上限温度

この規格の 2.3.5 による。

20 1

4.13.3

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)

R/R

≦:...%又は

α

:...10

-6

/

R/R

≦:...%又は

α

:...10

-6

/

L/R

≦...s又は L≦...mH

4.15.3

による。 

群 3A 

群 の試料の半分 

4.16

  端子強度 

4.18

  はんだ耐熱性

D

端子の種類に対応した引張り,曲げ

及びねじり試験

外観

抵抗値

方法:...

外観

抵抗値

10 1

*

4

4.16.6a)

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)

4.18.4

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)


8

試料数及び

(総)

合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

群 3B 

群 の試料の残り半分 

4.19

  温度急変 

D

θ

A

=カテゴリ下限温度

θ

B

=カテゴリ上限温度

外観

抵抗値

10 1

*

4.19.3

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)

4.20

  バンプ(又は 4.21 衝撃)

取付方法:個別規格の規定による。

ピーク加速度:400m/s

2

バンプ回数:4 000

外観

抵抗値

4.20.4

による。

R≦±(...%R+...Ω) 

4.21

  衝撃(又は 4.20 バンプ)

取付方法:個別規格の規定による。

ピーク加速度:500m/s

2

作用時間:11ms

パルス波形:正弦半波

外観

抵抗値

4.21.5

による。

R

≦±(...%R+...

Ω) 

4.22

  振動(正弦波)

取付方法:個別規格の規定による。

掃引耐久試験

振動数範囲:...Hz∼...Hz

振幅:0.75mm 又は 98m/s

2

のどちら

か緩い方

総試験時間:6h

外観

抵抗値

4.22.4

による。

R

≦±(...%R+...

Ω) 

群 3 D

群 の全試料

4.23

  一連耐候性

−  高温(耐熱性)

−  温湿度サイクル(12+12 時間

サイクル)

最初のサイクル

−  低温(耐寒性)

−  減圧

8kPa

−  温湿度サイクル(12+12 時間

サイクル)

残りのサイクル

−  直流負荷(非巻線形だけに適

用)

外観

抵抗値

絶縁抵抗(絶縁形だけに適用)

20 1

*

4.23.8

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)

R

≧100 M


9

試料数及び

(総)

合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

試験時間:1 000h

48h,  500h,

及び 1 000h での検査:

外観

4.25.1.7

による。

抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω)

1 000h

での検査:

絶縁抵抗

R

≧1G

(絶縁形だけに適用)

20 1

群 

4.25.1

  70℃での耐久性

D

個別規格で要求がある場合は,

8 000h

まで延長する。

2 000h,    4 000h

及び 8 000h での検

査:

抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω)要求事

項を個別規格に規定する(結

果 は 情 報 と し て だ け に 扱

う。

 

群 

4.24

  高温高湿(定常)

D

1

4.24.2.1:

第 1 のグループ:試料数 6

第 2 のグループ:試料数 7

第 3 のグループ:試料数 7

20 1

2)

  4.24.2.2:

第 1 のグループ:試料数 10

第 2 のグループ:試料数 10

外観

抵抗値

絶縁抵抗(絶縁形だけに適用)

4.24.4

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)

R

≧100 M

個別規格の規定による。

群 

4.4.3

  寸法(詳細)

4.25.3

  カテゴリ上限温度での耐

久性

D

試験時間:1 000h

48h

,500h 及び 1 000h での検査:

外観

抵抗値

1 000h

での検査:

絶縁抵抗(絶縁形だけに適用)

20 1

4.25.3.7

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)

R

≧1G

(この群は,この規格に規定するも

のと異なる軽減曲線を個別規格で

規定する場合だけに適用する。

試験時間:1 000h

48h

,500h 及び 1 000h での検査:

外観

抵抗値

4.25.1.7

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)

群 と同じ)

群 

4.25

  他の温度での耐久性(適用

する場合)

D

1 000h

での検査:

絶縁抵抗(絶縁形だけに適用)

20 1

R

≧1G

*

群 3A 及び群 3B を含めた群 3 の総合格判定個数は 1 個とする。


10

3.3

品質確認検査

3.3.1

検査ロットの構成  検査ロットは,同一形状で構造的に類似な抵抗器(3.1 参照)で,構成する。

これは,検査の期間中に製造された抵抗値範囲を代表するものとする。期間中に製造される各形状は同一

公称寸法であれば,異なった抵抗温度特性のものを一括してもよい。ただし,抵抗温度特性の試験を含む

副群用の試料は除く。IECQ の場合は,認証された抵抗器の下限,上限及び/又は臨界抵抗値並びに認証

された抵抗温度特性のものは,国内監督検査機関によって承認された期間の間に検査する(

備考参照)。

群“C”及び群“D”の試料は,検査対象期間の最後の 13 週にわたって集める。

備考  “下”限値は,製造中の最低の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最低抵抗値)の 0%

∼200%の間とする。

“上”限値は,製造中の最高の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最高抵抗値)の

−30%∼0%の間とする。

“臨界”抵抗値は,計算値の−20%∼0%の間とする。

3.3.2

試験計画  品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブ

ランク個別規格の

第 章(検査の要求事項)の表 II に示す。

3.3.3

評価水準  ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の表 IV A 及び表 IV B から選択することが

望ましい。

表 IV A    評価水準とロットごとの品質確認検査

D

*

 E  F

G

*

検査副群

**

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

A1

A2

B1

B2

B3

S-4

S-4

S-3

S-3

S-3

1.0

1.0

1.0

2.5

2.5

II

II

S-3

S-3

1.0

0.25

1.0

2.5

  IL=検査水準

AQL

=合格品質水準

表 IV B    評価水準と定期的品質確認検査

D

*

 E  F

G

*

検査副群

**

p

n

c

p

n

c

p

n

c

p

n

c

C1

C2

C3

D1

D2

D3

D4

D5

D6

3

3

3

12

36

36

36


20

20

20

20

20

20

13


1

1

1

1

1

1

1




6

6

12

36

24

24



13

13

13

13

13

13



1

1

1

1

1

1

P

=周期(月)

n

=試料数

c

=合格判定個数

*

表 IV A 及び表 IV B の評価水準 D 及び G は,検討中。

**

検査副群の内容は,関連のブランク個別規格の

第 章に規定する。


11

参考  原国際規格には,評価水準 F は,検討中とされていたが,ブランク個別規格  (IEC 60115-5-2)  に

規定されていたため,この規格に追加した。


12

電子部品 JIS 原案作成第 1 委員会構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学

(委員)

吉  田  裕  道

都立工業技術センター

中  西  忠  雄

防衛庁装備局

藤  倉  秀  美

財団法人日本電気用品試験所

岩  田      武

村  岡  桂次郎

松  永  荘  一

通商産業省機械情報産業局電子機器課

兼  谷  明  男

通商産業省工業技術院標準部情報電気規格課

福  原      隆

沖電気工業株式会社

勝  田  明  彦

株式会社ケンウッド

山  本  克  己

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

中  島  眞  人

日本電気株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

山  本  佳  久

三菱電機株式会社

高  久  侑  也

エルナ株式会社

山  名  法  明

株式会社村田製作所

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

小  嶋  敏  博 KOA 株式会社

曽我部  浩  二

株式会社村田製作所

会  田      洋

東光株式会社

中  山  孝  之

北陸電気工業株式会社

岡  村  郁  生

セイデンテクノ株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

桃  野  英  治

釜屋電機株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会

JIS C 5201-5

分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

山  本  圭  一

進工業株式会社

(委員)

小  嶋  敏  博 KOA 株式会社

中  山  孝  之

北陸電気工業株式会社

岡  村  郁  生

セイデンテクノ株式会社

桃  野  英  治

釜屋電機株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

笹  川  敞  雄

理研電具製造株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会

(文責  山本圭一)