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C 5402-11-12

:2004 (IEC 60512-11-12:2002)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-11-12:2002,Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-12: Climatic tests - Test 11m: Damp heat, cyclic

を基礎と

して用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。


C 5402-11-12

:2004 (IEC 60512-11-12:2002)

(2) 

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  引用規格  

1

3.

  準備  

2

3.1

  試料の準備  

2

3.2

  試料の配線  

2

3.3

  前処理  

2

4.

  試験方法  

2

4.1

  供試条件  

2

5.

  測定  

2

5.1

  初期測定  

2

5.2

  最終測定  

2

6.

  個別規格に規定する事項  

2

 


     

日本工業規格

JIS

 C

5402-11-12

:2004

(IEC 60512-11-12

:2002

)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―第 11-12 部:耐候性試験―

試験 11m:温湿度サイクル

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-12: Climatic tests -

Test 11m: Damp heat, cyclic

序文  この規格は,2002 年に第 1 版として発行された IEC 60512-11-12,Connectors for electronic equipment

- Tests and measurements - Part 11-12: Climatic tests - Test 11m: Damp heat, cyclic

を翻訳し,技術的内容及び規

格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

1. 

適用範囲  この規格は,規定する高い相対湿度条件下で,規定の方法によって保存及び/又は機能す

る電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。

)の能力を評価し,かつそのような高い湿度と大きな温度

変化が組み合わさったときの影響を観察するための試験方法について規定する。この試験方法は,類似の

部品に用いてもよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-11-12:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-12:

Climatic tests - Test 11m: Damp heat, cyclic (IDT)

2. 

引用規格  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構

成する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定

を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,

その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5402-1-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-1 部:一般試験−試験 1a:外観

備考 IEC 

60512-1-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:

General examination - Test 1a: Visual examination

が,この規格と一致している。

JIS C 5402-2-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-1 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2a:接

触抵抗−ミリボルトレベル法

備考 IEC 

60512-2-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:

Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level

method

が,この規格と一致している。


2

C 5402-11-12

:2004 (IEC 60512-11-12:2002)

     

JIS C 5402-3-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 3-1 部:絶縁試験−試験 3a:絶縁抵抗

備考 IEC 

60512-3-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:

Insuration tests - Test 3a: Insuration resistance

が,この規格と一致している。

JIS C 60068-2-30

  環境試験方法−電気・電子−温湿度サイクル(12+12 時間サイクル)試験方法

備考 IEC 

60068-2-30:1980

,Environmental testing - Part 2: Tests - Test Db and guidances: Damp heat,

cyclic. Amendment 1 (1985)

が,この規格と一致している。

IEC 60512-4-1:2003

  Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-1: Voltage stress

tests - Test 4a: Voltage proof

IEC 60512-7:1993

  Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and

measuring methods - Part 7: Mechanical operating tests and sealing tests

3. 

準備

3.1 

試料の準備  標準のアクセサリを備えた試料を,個別規格の規定によって取り付ける。

個別規格で要求する場合には,試料を試験前に規定回数,挿入及び引抜きをする。

各試験を行うに当たって,個別規格にはコネクタの条件(例えば,結合又は非結合)を規定する。

3.2 

試料の配線  試料は,個別規格の要求事項の規定によって配線する。

3.3 

前処理  前処理は,個別規格に規定がない場合には,少なくとも 1 時間は行う。

参考  前処理の内容は,JIS C 5401-1  電子機器用コネクタ−第 1 部:品目別通則−能力認証  4.1.2 

処理の規定による。

4. 

試験方法

4.1 

供試条件  この試験は,個別規格で規定する厳しさを用いて JIS C 0027 に従って行う。

個別規格に規定がない場合には,温度の上限は 55  ℃とし,条件 1 を用いる。

5. 

測定

5.1 

初期測定  初期測定は,個別規格の規定による。

5.2 

最終測定  試料は,個別規格に規定のない場合には次の試験を行い,個別規格で規定する要求事項

を満足しなければならない。

−絶縁抵抗:JIS C 5402-3-1,試験 3a(後処理の直後)

−耐電圧:IEC 60512-4-1,試験 4a(後処理の直後)

−接触抵抗−ミリボルトレベル法:JIS C 5402-2-1,試験 2a

−挿入及び引抜力:IEC 60512-7:試験 13b

−外観:JIS C 5402-1-1,試験 1a

6. 

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

試料の取付方法及び配線方法

b)

供試条件の厳しさ(サイクル数)

c)

初期測定

d)

測定に対する要求事項

e)

前処理(必要とする場合)


3

C 5402-11-12

:2004 (IEC 60512-11-12:2002)

     

f)

上限温度及び条件(必要とする場合)

g)

この試験方法との相違