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C 5925-4

:2011

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  用語及び定義

2

4

  定格

3

5

  光学特性

3

6

  環境及び耐久性特性

5

7

  試料

7

8

  試験報告書

7

9

  表示

7

10

  包装

7

11

  安全

8

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表

9


C 5925-4

:2011

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及

び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5925

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5925-3

シングルモード光ファイバピッグテール形 C/L バンド WDM デバイス

JIS

C

5925-4

シングルモード光ファイバピッグテール形 980/1 550 nm WWDM デバイス


日本工業規格

JIS

 C

5925-4

:2011

シングルモード光ファイバピッグテール形

980

/1 550 nm WWDM デバイス

Non-connectorized single-mode fiber optic 980/1 550 nm WWDM devices

序文

この規格は,2007 年に第 1 版として発行された IEC 61753-084-2 及び 2008 年に発行された Corrigendum

1

を基に,我が国の使用状況に合わせて技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

1

適用範囲

この規格は,屋内環境条件で光ファイバを用いた光伝送に使用するシングルモード光ファイバピッグテ

ール形 980/1 550 nm WWDM デバイス

1)

の定格,光学特性並びに環境及び耐久性特性について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61753-084-2:2007

,Fibre optic interconnecting devices and passive components performance

standard

−Part 084-2: Non connectorised single-mode 980/1550 nm WWDM devices for category

C

−Controlled environment 及び Corrigendum 1:2008(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

1)

シングルモード光ファイバピッグテール形 980/1 550 nm WWDM デバイスは,980 nm の光を

入力又は出力する端子,1 550 nm の光を入力又は出力する端子並びに 980 nm の光及び 1 550 nm

の光を出力又は入力する端子をもつ WWDM デバイスである。

2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5900

  光伝送用受動部品通則

JIS C 5901

  光伝送用受動部品試験方法

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures

−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal),IEC 61300-2-4,Fibre

optic interconnecting devices and passive components

−Basic test and measurement procedures−

Part 2-4: Tests

−Fibre/cable retention,IEC 61300-2-9,Fibre optic interconnecting devices and

passive components

−Basic test and measurement procedures−Part 2-9: Tests− Shock,IEC 

61300-2-14

, Fibre optic interconnecting devices and passive components − Basic test and


2

C 5925-4

:2011

measurement procedures

− Part 2-14: Tests − Optical power handling and damage threshold

characterization

IEC 61300-2-22,Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures

−Part 2-22: Tests−Change of temperature,IEC 61300-3-2

Fibre optic interconnecting devices and passive components

−Basic test and measurement procedures

−Part 3-2: Examination and measurements−Polarization dependent loss in a single-mode fibre optic

device

及び IEC 61300-3-6,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test

and measurement procedures

−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss(全体評価:

MOD

JIS C 61300-2-17

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-17 部:低

温試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-17,Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures

−Part 2-17: Tests−Cold(IDT)

JIS C 61300-2-18

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-18 部:高

温試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-18,Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures

−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance

(IDT)

JIS C 61300-2-19

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-19 部:高

温高湿試験(定常状態)

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-19,Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures

−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state)(IDT)

JIS C 61300-3-20

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 3-20 部:波

長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

注記  対応国際規格:IEC 61300-3-20,Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures

−Part 3-20: Examinations and measurements−Directivity of

fibre optic branching devices

(IDT)

IEC 60793-2-50

,Optical fibres−Part 2-50: Product specifications−Sectional specification for class B

single-mode fibres

IEC 61300-2-42

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 2-42: Tests−Static side load for connectors

IEC 61300-2-44

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 2-44: Tests−Flexing of the strain relief of fibre optic devices

IEC 61300-3-7

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength dependence of attenuation and

return loss of single mode components

3

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5900 による。


3

C 5925-4

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4

定格

シングルモード光ファイバピッグテール形 980/1 550 nm WWDM デバイスの定格は,

表 による。

表 1−シングルモード光ファイバピッグテール形 9801 550 nm WWDM デバイスの定格

項目

記号

条件

定格値

単位

使用温度範囲

T

a

0

∼60

a)

保存温度範囲

T

stg

−40∼85

使用波長範囲

λ

band

− 970∼990 及び 1 530∼1 570

nm

最大入射光パワー

P

max

 980

nm

及び 1 550 nm

20

dBm

a)

下図の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線で囲まれる領域は,屋内環境条件での使用温度範囲に対する湿度
範囲を示す。

0

10

20

30

40

50

60

0

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

相対

湿度 %

温度 ℃

一定水蒸気量曲線

b)

b)

 30

℃∼60  ℃の一定水蒸気量曲線は,30  ℃,相対湿度 85 %と同じ水蒸気量の温度及び湿度を示す。

温度及び湿度を考慮した環境条件 

5

光学特性

シングルモード光ファイバピッグテール形 980/1 550 nm WWDM デバイスの光学特性の試験方法,試

験条件及び要求性能は,

表 による。各項目の要求性能は,全ての偏光状態並びに表 の定格値で規定す

る使用温度範囲及び使用波長範囲の入射光に対する最小値及び最大値に対して満足しなければならない。


4

C 5925-4

:2011

表 2−シングルモード光ファイバピッグテール形 9801 550 nm WWDM デバイスの光学特性試験

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

挿 入 損

挿入損失及び
反射減衰量の

波長依存性測
定(IEC  

61300-3-7

波長範囲は,970∼990 nm 及び 1 530∼1 570 nm とする。 
供試品の光ファイバ長は,1.5 m 以上とする。

無偏光光源を用いる。 
光源の線幅は,1 nm 以下とし,波長可変光源とすることが望
ましい。

動作波長における光源の光出力安定性は,測定時間内で 
±0.05 dB 以内とする。

− 0.6

dB

ア イ ソ
レ ー シ
ョン

挿入損失及び
反射減衰量の
波長依存性測

定(IEC  

61300-3-7

試験条件は,挿入損失と同様とする。 18

dB

デ ィ レ
ク テ ィ
ビティ

ディレクティ
ビティ測定 
JIS C

61300-3-20

測定に影響を及ぼさないように,測定に関係のない全てのポ
ートには,反射が生じないように無反射終端処理を施す。 
ディレクティビティは,入出力ポートの全ての組合せについ

て測定する。 
光源の波長範囲は,

970

∼990 nm 及び 1 530∼1 570 nm とする。

その他の試験条件は,挿入損失と同様とする。

40 dB

(グレード R)

50 dB

(グレード U)

反 射 減
衰量 
(RL)

反 射 減 衰 量
JIS C

5901

の 6.5

方法 1 又は方法 2

980 nm

の光源は,中心波長が 975∼985 nm 及びスペクトル幅

が 5 nm 以下とする。

1 550 nm

の光源は,中心波長が 1 530∼1 570 nm 及びスペク

トル幅が 20 nm 以下とする。

OTDR

パルス幅は,50 ns 以下とする(方法 2 の場合)

動作波長における光源の光出力安定性は,測定時間内で 
±0.05 dB 以内とする。

検出器の最低受光感度は−80 dBm 以下とし,かつ,直線性は
±0.05 dB 以内とする。

1 550 nm

入力ポートで

40 dB

(グレード R)

50 dB

(グレード U)

980 nm

入力ポート及

び 共 通 ポ ー ト で

30 dB

偏 光 依
存 性 損

(PDL)

光損失の偏光
依存性 
JIS C

5901

の 6.3

方法 1,かつ,オプション 1 
光源の波長範囲は,

970

∼990 nm 及び 1 530∼1 570 nm とする。

その他の試験条件は,挿入損失と同様とする。

− 0.15

dB

波 長 依

存 性 損

減衰量の波長

依存性測定 
IEC

61300-3-7

試験条件は,挿入損失と同様とする。

− 0.15

dB


5

C 5925-4

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表 2−シングルモード光ファイバピッグテール形 9801 550 nm WWDM デバイスの光学特性試験(続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

光 パ ワ
ー 損 傷

し き い

最 大 入 力 光
パワー

JIS C

5901

の 8.8

最大入力光パワー:20 dBm 
光パワー増加量:5 dBm

光パワー保持時間:30 分間

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量の試験条件は,

それぞれの特性項目で記載されている試験条件とする。 
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験中及び
試験前後に測定し,試験中は,10 分間以下の間隔で測定する。

試験中及び試験前後の挿入
損失は,この表に規定する最

大値以下とし,かつ,周囲条
件下で初期値の±0.3 dB 以内
とする。

試験中及び試験前後のアイ
ソレーションは,この表に規
定する最小値以上とする。

試験中及び試験前後の反射
減衰量は,この表に規定する
該当する波長及びグレード

の最小値以上とする。

6

環境及び耐久性特性

屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法,

試験条件及び要求性能は,

表 による。

表 3−シングルモード光ファイバピッグテール形 9801 550 nm WWDM デバイスの環境及び耐久性特性

項目

試験方法

試験条件

要求性能

耐寒性  低温試験

JIS C  

61300-2

-17

温度:0  ℃±2  ℃

暴露時間:96  時間

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前

後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 に規定

する最大値以下とし,かつ,周囲条
件下で初期値の±0.3 dB 以内とする。
試験前後のアイソレーションは,

表 2

に規定する最小値以上とする。 
試験前後の反射減衰量は,

表 に規

定する該当する波長及びグレードの

最小値以上とする。

耐熱性  高温試験

JIS C  

61300-2-

18

温度:60  ℃±2  ℃

暴露時間:96  時間

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前

後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 に規定

する最大値以下とし,かつ,周囲条
件下で初期値の±0.3 dB 以内とする。
試験前後のアイソレーションは,

表 2

に規定する最小値以上とする。 
試験前後の反射減衰量は,

表 に規

定する該当する波長及びグレードの

最小値以上とする。

耐湿性

(定常
状態)

高温高湿

試験 
JIS C  

61300-2-

19

温度:30  ℃±2  ℃

相対湿度:

(85±2)%

暴露時間:96 時間

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前
後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 に規定

する最大値以下とし,かつ,周囲条
件下で初期値の±0.3 dB 以内とする。
試験前後のアイソレーションは,

表 2

に規定する最小値以上とする。 
試験前後の反射減衰量は,

表 に規

定する該当する波長及びグレードの

最小値以上とする。


6

C 5925-4

:2011

表 3−シングルモード光ファイバピッグテール形 9801 550 nm WWDM デバイスの環境及び耐久性特性

続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

温 度 サ
イクル

温 度 サ イ
クル

JIS C  

5901

8.2

高温:60  ℃±2  ℃ 
低温:0  ℃±2  ℃

放置時間:1 時間以上 
温度変化の割合:1  ℃/min 
サイクル数:5

挿入損失及びアイソレーションは,試験中及び試験前後
に測定し,試験中は,10 分間以下の間隔で測定する。

反射減衰量は,試験前後に測定する。 
前処理:試験前,供試品は,室温環境中に 2 時間放置す
る。

後処理:試験後,供試品は,室温環境中に 2 時間放置す
る。

試験中及び試験前後の挿入損失は,

2

に規定する最大値以下とし,かつ,

周囲条件下で初期値の±0.3 dB 以内
とする。 
試験中及び試験前後のアイソレーシ

ョンは,

表 に規定する最小値以上と

する。 
試験前後の反射減衰量は,

表 に規定

する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。

耐振性  耐振性

JIS C  

5901

7.1

振動範囲:10 Hz∼55 Hz 
試験時間:1  オクターブ/分

振動軸:直交 3 軸 
掃引サイクル数(10 Hz−55 Hz−10 Hz)

:15

振動振幅:0.75 mm

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前
後に測定する。

取付方法:供試品は,アセンブリングカセット又はオー
ガナイザで取付具と強固に固定する。

試験前後の挿入損失は,

表 に規定す

る最大値以下とし,かつ,周囲条件下

で初期値の±0.3 dB 以内とする。 
試験前後のアイソレーションは,

表 2

に規定する最小値以上とする。

試験前後の反射減衰量は,

表 に規定

する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。

光ファ
イバク
ランプ

強度
(軸方
向引張

り)

光 フ ァ イ
バ コ ー ド
ク ラ ン プ

強度(軸方
向引張り) 
JIS C  

5901

7.5

引張力:強化ケーブルに対して 5 N/s の変化率で 10 N
±1 N 
セカンダリ光ファイバに対して 0.5 N/s の変化率で 5 N

±0.5 N 
プライマリ光ファイバに対して 0.5 N/s の変化率で 2 N
±0.2 N

引張力を加える位置:供試品の端から 0.3 m 
引張力持続時間:10 N の場合 120 秒,5 N 及び 2 N の場合

60

サンプリングレート(測定頻度)

:挿入損失は,負荷が最

大に達してから 30 秒以下の間隔で測定する。

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前
後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 に規定す

る最大値以下とし,かつ,周囲条件下
で初期値の±0.3 dB 以内とする。

試験前後のアイソレーションは,

表 2

に規定する最小値以上とする。 
試験前後の反射減衰量は,

表 に規定

する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。

耐 衝 撃

耐衝撃性 
JIS C  

5901

7.2

ピーク加速度:4 900 m/s

2

(500 g

パルス作用時間:1 ms,正弦半波 
軸数:3 軸各 2 方向

衝撃回数:2  衝撃/軸,総数 12

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前

後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 に規定す

る最大値以下とし,かつ,周囲条件下
で初期値の±0.3 dB 以内とする。

試験前後のアイソレーションは,

表 2

に規定する最小値以上とする。 
試験前後の反射減衰量は,

表 に規定

する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。


7

C 5925-4

:2011

表 3−シングルモード光ファイバピッグテール形 9801 550 nm WWDM デバイスの環境及び耐久性特性

続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

コ ネ ク
タ の 横

荷重

コ ネ ク タ
の 横 荷 重

試験 
IEC  

61300-2-42

荷重力及び保持時間:強化ケーブルに対して 1 N で 1 時

セカンダリ光ファイバに対して 0.2 N で 5 分間。 
荷重方向:互いに直交する 2 方向。

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前
後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 に規定す

る最大値以下とし,かつ,周囲条件下

で初期値の±0.3 dB 以内とする。 
試験前後のアイソレーションは,

表 2

に規定する最小値以上とする。

試験前後の反射減衰量は,

表 に規定

する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。

ス ト レ
イ ン リ

リ ー フ
強度

ス ト レ イ
ン リ リ ー

フ 曲 げ 試
験 
IEC  

61300-2-44

荷重力:強化ケーブルに対して 2 N 
曲げ角度:±90°

サイクル数:30

挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前

後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 に規定す

る最大値以下とし,かつ,周囲条件下

で初期値の±0.3 dB 以内とする。 
試験前後のアイソレーションは,

表 2

に規定する最小値以上とする。

試験前後の反射減衰量は,

表 に規定

する該当する波長及びグレードの最
小値以上とする。

7

試料

試料は,

IEC 60793-2-50

のタイプ B1.1 に基づくシングルモード光ファイバに接続できなければならない。

8

試験報告書

製造業者又は販売業者は,試験報告書及びそれを裏付ける証拠を使用者又は購入業者に提供し,試験を

実施し合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用することができるようにしなければなら

ない。

試験報告書には,

光学特性については試験条件及び性能値を,環境及び耐久性特性については試験条件,

試料数及び合格判定数を記載する。

9

表示

シングルモード光ファイバピッグテール形 980/1 550 nm WWDM デバイスには,次の項目を表示しな

ければならない。ただし,個々のシングルモード光ファイバピッグテール形 980/1 550 nm WWDM デバ

イスに表示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。

a)

形名(製造業者の指定による。

b)

製造業者名又はその略号

c)

製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号

10

包装

包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように

行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理及び保管環境条件に関する注

意及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。


8

C 5925-4

:2011

11

安全

光伝送システム又は装置に用いる場合,人体へ影響を及ぼす出射端子からの光の放射があり得る。その

ため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法

を明示しなければならない。


9

C

 5925-

4


201

1

9

C

 5925-

4


201

1

附属書 JA

参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 5925-4:2011

  シングルモード光ファイバピッグテール形 980/1 550 nm

WWDM

デバイス

IEC 61753-084-2:2007

  Fibre optic interconnecting devices and passive components

performance standard

−Part 084-2: Non connectorised single-mode 980/1 550 nm WWDM

devices for category C

−Controlled environment 及び Corrigendum 1:2008

(I)JIS の規定

(II) 
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇 条 番 号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

1

適用範囲

1

一致

2

引用規格

3

用語及び

定義

用 語 及 び 定 義 を 規

定。

3

,4

JIS

とほぼ同じ

変更

対応国際規格のない JIS C 5900

に参照すべき用語の記載がある
ため引用した。

JIS

及び IEC 規格に WDM 通則を規

定する予定がある。

4

定格

定格を規定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

対応国際規格の見直し時に,提案を

行う。

5

光学特性

光 学 特 性 の 試 験 方

法,試験条件及び要
求性能を規定。

 7 JIS

とほぼ同じ

変更

ディレクティビティ,反射減衰量

及び光パワー損傷しきい値の試
験条件及び要求性能を変更した。

我が国の使用状況に合わせて,試験

条件及び要求性能を変更した。

6

環境及び

耐 久 性 特

環境及び耐久性に対

する試験方法,試験
条件及び要求性能を
規定。

 7 JIS

とほぼ同じ

変更

耐寒性,耐湿性,温度サイクル,

耐振性及び光ファイバクランプ
強度の試験条件を変更した。 
環境及び耐久性特性の全ての項

目の要求性能を変更した。 
ストレインリリーフ強度試験を
追加し,ねじり試験を削除した。

我が国の環境条件に合わせて,試験

条件を変更した。

IEC 61753-084-2

の 上 位 通 則 IEC 

61753-1

の規定に従い,ストレイン

リリーフ強度試験を追加し,ねじり
試験を削除した。IEC 61753-084-2
を IEC 61753-1 の規定に整合させる

よう,今後,IEC に提案する。

7

試料

試料に関する内容を

規定。

 5 JIS

とほぼ同じ

変更

サンプル数及び試験のグルーピ

ング方法を削除した。

IEC 61753-1

との整合性を考慮し,

サンプル数及び試験のグルーピング
方法は規定しない。


10

C

 5925-

4


201

1

10

C

 5925-

4


201

1

(I)JIS の規定

(II) 
国際規
格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇 条 番 号
及び題名

内容

箇条 
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

8

試験報告

6

一致

9

表示

表示項目を規定

追加

製品規格に必須の規定事項。

対応国際規格の見直し時に,提案を

行う。

10

包装

包装及び保管上の注
意に関する内容を規

定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

対応国際規格の見直し時に,提案を
行う。

11

安全

安全に関する内容を

規定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

対応国際規格の見直し時に,提案を

行う。

Annex A

サンプル数及び試験のグ
ルーピング方法を規定

削除

箇条 7 と同じ

箇条 7 と同じ

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61753-084-2:2007,Cor.1:2008,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  一致……………… 技術的差異がない。 
    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。