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C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)/財団

法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業

標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 62149-4:2003,Fibre optic active

components and devices−Performance standards−Part 4: 1 300 nm fibre optic transceivers for Gigabit Ethernet

application 及び Corrigendum 1(2003)を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。

JIS C 5953-4

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)試料数,試験順序及びグループ化に関する要求項目


C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

(2)

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  引用規格  

1

3.

  記号及び略号  

2

3.1

  記号  

2

3.2

  略号  

3

4.

  製品仕様  

3

4.1

  絶対最大定格  

3

4.2

  動作環境  

4

4.3

  機能仕様  

4

4.4

  線図  

6

4.5

  ラベル表示  

6

5.

  試験  

7

5.1

  特性評価試験  

7

5.2

  信頼性試験  

7

6.

  環境に関する仕様  

9

6.1

  安全性全般  

9

6.2

  レーザの安全性  

9

6.3

  電磁放射  

9

附属書 A(規定)試料数,試験順序及びグループ化に関する要求項目  

10

 


日本工業規格

JIS

 C

5953-4

:2008

(IEC 62149-4

:2003

)

光伝送用能動部品−性能標準−

第 4 部:1 300 nm ギガビット

イーサネット用光トランシーバ

Fiber optic active components and devices-Performance standards-

Part 4: 1 300 nm fiber optic transceivers for gigabit Ethernet application

序文  この規格は,2003 年に第 1 版として発行された IEC 62149-4,Fibre optic active components and devices

−Performance standards−Part 4: 1 300 nm fibre optic transceivers for Gigabit Ethernet application 及び

Corrigendum 1 (2003)を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格で

ある。ただし,Corrigendum については,編集し,一体とした。

光トランシーバは,電気信号と光信号との双方向変換に用いられる。この規格は,1 300 nm ギガビット

イーサネット用光トランシーバモジュールの性能標準である。光トランシーバの特性は,JIS X 5252 のギ

ガビットイーサネット標準を基準として定義し,通信速度は 1.25 Gbit/s である。

1. 

適用範囲  この規格は,JIS X 5252 のギガビットイーサネットに用いる 1300

nm 光伝送用トランシー

バの性能標準について規定する。性能標準は,明確に定義された条件,厳しさ,及び合格又は不合格の判

定基準の下で行われる試験・測定が,一連のセットとなって製品性能要求事項として定義する。製品が,

性能標準要求事項をすべて満足していると証明するための試験は,通常“1 回完結形”としている。性能

標準の必要条件をすべて満たすと示された製品は,

性能標準に従うと宣言することができるが,

一方では,

品質保証及び/又は品質適合プログラムによっても,制御しなければならない。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 62149-4:2003

,Fibre optic active components and devices−Performance standards−Part 4: 1 300

nm fibre optic transceivers for Gigabit Ethernet application (IDT)

2. 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0025

  環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

備考1.  IEC 60068-2-14:1984, Environmental testing−Part 2: Tests. Test N: Change of temperature から

の引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

2.

  IEC 60068-2-33:1971, Environmental testing−Part 2: Tests. Guidance on change of temperature

tests からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。


2

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

JIS C 5961

  光ファイバコネクタ試験方法

備考  IEC 61300:1995,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedure からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 6802

  レーザ製品の安全基準

備考  IEC 60825-1:2001,Safety of laser products−Part 1: Equipment classification, requirements and

user’s guide が,この規格と一致している。

JIS C 60068-2-1

  環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法

備考  IEC 60068-2-1:1990,Environmental testing−Part 2: Tests. Tests A: Cold が,この規格と一致して

いる。

JIS C 60068-2-2

  環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)試験方法

備考  IEC 60068-2-2:1974, Environmental testing−Part 2: Tests.Tests B: Dry heat が,この規格と一致

している。

JIS C 60068-2-6

  環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法

備考  IEC 60068-2-6:1995,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fc: Vibration(sinusoidal)  が,こ

の規格と一致している。

JIS C 60068-2-20

  環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法

備考  IEC 60068-2-20:1979,Environmental testing. Part 2: Tests. Test T: Soldering が,この規格と一致

している。

JIS C 60068-2-27

  環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法

備考  IEC 60068-2-27:1987,Environmental testing. Part 2: Tests. Test Ea and guidance: Shock が,この

規格と一致している。

JIS C 60068-2-78

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:  高温高湿(定常)試験方法

備考  IEC 60068-2-78:2001, Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test  Cab:  Damp  heat, steady

state が,この規格と一致している。

JIS X 5252

  ローカルエリアネットワーク及びメトロポリタンエリアネットワーク−CSMA / CD アク

セス方式及び物理層仕様

備考  ISO/IEC 8802-3:2000,Information technology−Telecommunications and information exchange

between systems−Local and metropolitan area networks−Specific requirements−Part 3: Carrier

sense multiple access with collision detection (CSMA/CD) access method and physical layer

specifications が,この規格と一致している。

IEC 60749-26:2003

,Semiconductor devices−Mechanical and climatic test methods−Part 26: Electrostatic

discharge (ESD) sensitivity testing−Human body model (HBM)

IEC 60938-1:1999

,Fixed inductors for electromagnetic interference suppression−Part 1: Generic specification

IEC 60950-1:2001

,Information technology equipment−Safety−Part 1: General requirements

MIL-STD-883F  Test method standard

−Microcircuits

3. 

記号及び略号

3.1 

記号  この規格で用いる主な記号の定義は,次による。

a)  E

r

消光比

b) RH

相対湿度


3

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

c)

I

IL

低レベル入力信号電流

d)  I

IH

高レベル入力信号電流

e)

I

out

出力電流

f)

P

o

送信光出力

g)  P

d

アラームオンレベル

h)  P

a

アラームオフレベル

i)

R

DL

出力信号負荷

j)

S

受信器感度

k) TD

送信不可機能

l)

T

amb

周囲動作温度

m)  T

stg

保存温度

n)  t

r

出力信号上昇時間

o)  t

f

出力信号下降時間

p)  Vcc

電源電圧

q)  V

IL

Vcc

低レベル入力信号電圧

r)

V

IH

Vcc

高レベル入力信号電圧

s)

V

ol

低レベルアラーム出力電圧

t)

V

oh

高レベルアラーム出力電圧

u)  V

ol

V

CC

低レベル出力信号電圧

v)  V

oh

V

CC

高レベル出力信号電圧

w)  V

pp

送信器差動入力電圧振幅

x)

λ

ce

中心波長

y)

Δ

λ

スペクトル幅(実効値)

3.2 

略号  この規格で用いる主な略号の定義は,次による。

a) ESD

静電気放電(Electrostatic discharge)

b) HBM

人体帯電モデル(Human body model)

4. 

製品仕様

4.1 

絶対最大定格  絶対最大定格は,それぞれの項目が独立した事象となっており,かつ,表 に記載

した項目以外の特性パラメータがすべて通常の動作条件範囲内である限りにおいては,

表 中に記載した

複数の項目がその値になったとしても,それが短時間であれば製品に破壊的な損傷を与えることがない限

界値である。絶対最大定格の各々の値は,いかなる場合において,どの一つのパラメータでもそれを超え

てはならない。


4

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

  1  絶対最大定格

項目 

記号

最小値

最大値

単位

保存温度

T

stg

 40

85

周囲動作温度

amb

T

10

80

はんだ付け温度

− 260 /

10

℃/s

出力電流

0

50

mA

入力信号電圧

0.5

V

CC

 V

送信器差動入力電圧振幅

0.30

1.40

V

電源電圧(

1

)

V

CC

 0.5

(V

nom

+40  %V

nom

) V

相対湿度(

2

)

5

95

%

(

1

)

公称動作電圧 V

nom

は,5 V 及び 3.3 V。

(

2

)

結露してはならない。

4.2 

動作環境  動作環境は,次による。

  2  動作環境

項目 

記号

最小値

最大値

単位

電源電圧(

3

)

V

CC

(V

nom

−5  %V

nom

) (V

nom

+5  %V

nom

) V

周囲動作温度

amb

T

0 70

相対湿度(

4

)

RH

 5

95  %

(

3

)

公称動作電圧 V

nom

は,5 V。3.3 V のときの最小値は,3.15 V,最大値は 3.45 V となる。

(

4

)

結露してはならない。

4.3 

機能仕様  機能仕様は,次による。それは JIS X 5252 の要求事項に適合するものである。

out

I

pp

V

RH


5

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

  3  受信部:機能仕様(

5

)

項目 

記号

最小値

最大値

単位

受信感度(

6

)

−19 dBm

最大光入力(

6

)

−3

− dBm

光反射減衰量

− 12  − dB

アラームオンレベル(

7

)

P

d

−45

−20 dBm

アラームオフレベル(

7

)

P

a

−19 dBm

ヒステリシス

− 0.5  4.0

dB

アラーム応答時間

− 600

μs

高レベルアラーム出力電圧(オプション 1)(

8

)

V

oh

−1.1

−0.8 V

低レベルアラーム出力電圧(オプション 1)(

8

)

V

ol

−2.0

−1.6 V

高レベルアラーム出力電圧(オプション 2)(

9

)

V

oh

 2

V

低レベルアラーム出力電圧(オプション 2)(

9

)

V

ol

 0  0.8

V

高レベル出力信号電圧(

10

)

V

oh

V

CC

−1.045

−0.740 V

低レベル出力信号電圧(

10

)

V

ol

V

CC

−1.950

−1.620 V

出力信号上昇時間( 10 %−90 %  )  (

11

)

− 0.51

ns

出力信号下降時間( 90 %−10 %  )  (

11

)

− 0.51

ns

出力信号負荷(

11

),  (

12

)

R

DL

50

(

5

)

動作環境は,

表 参照。

(

6

)

消光比 9 dB,PRBS

1

2

7

,BER

12

10

のときの最小受信感度及び飽和レベル。

(

7

)

受信感度が仕様以下のとき,アラームがトリガされる。ヒステリシス値は

d

a

P

P

で定義。

(

8

)

CC

V

基準。

(

9

) TTL

入力及び LVTTL 入力と互換。

(

10

) 10 K

,10 KH,100 K の ECL 入力及び PECL 入力と互換。

(

11

)

終端電圧

V

2

CC

V

(

12

)

標準値,50 W。

  4  送信部:機能仕様(

13

)

項目 

記号

最小値

最大値

単位

中心波長

λ

ce

1 270

1 355

nm

スペクトル幅(実効値)

Δ

λ

− 4

nm

光出力(単一モードファイバ)(

14

)

o

P

−11.0

−3.0 dBm

光出力(多モードファイバ)(

14

),(

18

)

o

P

−11.5

−3.5 dBm

消光比

r

E

9

− dB

アイパターン(

15

)

送信不可機能(オプション)(

17

) TD

低レベル入力信号電流

IL

I

−350

μA

高レベル入力信号電流

IH

I

− 350

μA

低レベル入力信号電圧(

16

)

V

IL

V

CC

−1.810

−1.475 V

CC

V

r

t

f

t

S


6

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

  4  送信部:機能仕様(

13

)(続き)

項目 

記号

最小値

最大値

単位

高レベル入力信号電圧(

16

)

V

IH

V

CC

−1.165

−0.880 V

送信器差動入力電圧振幅

pp

V

0.3

− V

(

13

動作環境は,

表 参照。

(

14

)

アイパターンは,単一モードファイバ,62.5/125 多モードファイバ,又は 50/125 多モードファイバと結
合した光出力。

(

15

)  JIS X 5252

に準じる。

(

16

) 10 K

,10 KH,100 K の ECL 入力及び PECL 入力と互換。

(

17

)

オプションの送信不可機能。通常の TTL 機能。開放で通常送信状態,

“high”レベル信号入力で消光状

態になる。

(

18

)  JIS X 5252

の 38.11.4 で規定されているモード・コンディショニング・パッチコードの出力端での光出力。

4.4 

線図

4.4.1 

概略図:受信部(代表例)

  1  受信部概略

4.4.2 

概略図:送信部(代表例)

  2  送信部概略

4.5 

ラベル表示  それぞれの送受信器(及び添付文書)には,少なくとも次の内容が,使用者に見える

ようにラベル表示されていることが望ましい。

a)

異なるタイプのものも含めたこの仕様基準。

PIN プリアンプ

出力信号(正相)

リニアアンプ

リミッティン

グアンプ

バッファ

アンプ

出力信号(逆相)

レベル検知器

光入力断検知出力

ローパ
スフィ

ルタ

コンデンサ

入力信号(正相)

入力信号(逆相)

ECL 入力

バイアスコントローラ

モニタフォトダイオード

ドライバ

バイアスドライバ

半導体レーザ


7

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

b)

適用可能な安全警告。

クラス 1 レーザのラベル表示方法は,6.2 で引用しているレーザ製品の安全基準に記載されている。

5. 

試験  初期特性評価及び信頼性評価を行い,試験プログラムを定期的に行うことによって品質を維持

しなければならない。全試験の温度条件は,特に断りがない限り 25  ℃±2  ℃とする。

5.1 

特性評価試験  特性評価試験は,異なる 3 グループ以上の生産ロットから,20 個以上の製品を抽出

して行うこととする。

5.1.1 

特性評価:送信部

  5  送信部の特性評価試験

項目 

試験条件

最低 20 個のデバイスが,0 °C,25 °C,及び 70 °C(そ
れぞれ±2 °C)の温度条件で,かつ,電源電圧 V

CC

(

V

nom

−5  %V

nom

)V,

)

(

nom

V

V,及び(V

nom

+5  %V

nom

)V

の条件で

下限値

上限値

単位

光出力

単一モードファイバ,PRBS

1

2

7

(1.25

Gbit/s)

−11.0

−3.0 dBm

中心波長 PRBS

1

2

7

(1.25

Gbit/s)

1 270

1 355

nm

スペクトル幅(実効値)

 PRBS

1

2

7

(1.25

Gbit/s)

  4

nm

消光比 250

Mbit/s 方形波

        9

dB

アイマスク試験 3.230×ANSI  フィルター,PRBS

1

2

7

(1.25

Gbit/s)

検出しな

いこと

検出しな

いこと

相対雑音強度(RIN)

JIS X 5252

の 38.6.4

−120 dB/Hz

5.1.2 

特性評価:受信部

  6  受信部の特性評価試験

項目 

試験条件

最低 20 個のデバイスが,0  ℃,25  ℃,及び 70  ℃(それ
ぞれ±2  ℃)の温度条件で,かつ,電源電圧 V

CC

が(V

nom

5  %V

nom

)

V,

)

(

nom

V

V,及び(V

nom

+5  %V

nom

)V の条件で

下限値

上限値

単位

受信感度(BER 10

-10

) PRBS 変調 NRZ(1.25

Gbit/s),消光比 9

dB の光源

−19.47 dBm

高レベルアラーム TTL/CMOS 等価で論理レベル“1”

低レベルアラーム TTL/CMOS 等価で論理レベル“0”

アラームオンしきい値 

PRBS 変調 NRZ(1.25

Gbit/s),消光比 9

dB の光源

−19.0 dBm

アラームヒステリシス PRBS 変調 NRZ(1.25

Gbit/s),消光比 9

dB の光源 0.5

4

dB

最大入力エラー

消光比 9

dB で光入力−2.4 dBm,ゲート時間 3

3

上昇・下降時間 10

%∼90 %

   0.51

ns

5.2 

信頼性試験  信頼性試験は,特性評価試験をすべて終了した後で行う。

5.2.1 

試料数,試験順序及びグループ化  各試験の試料数,試験順序及びグループ化は,附属書 の定

義による。

信頼性試験には,全数で 96 個(95 個,対照標準 1 個)の試料が必要となる。対照標準試料は測定の再

現性を確認するために使用する。


8

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

5.2.2 

信頼性試験

  7  信頼性試験一覧表

試験
番号

試験項目

条件

最小値

最大値

単位

備考

0

試験項目ごとにすべて
の電気的特性及び光学
的特性の試験を行う。

仕様に適合する 

0

℃, 25 ℃, 70 ℃で試験実施

1

はんだ付け性

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 60068-2-20

,スチームエージング

不要

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

目視検査 

2

コネクタ着脱

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 5961 (7.3

繰返し動作),繰返し着

脱回数 500 回。50 回ごとに送信側を清
掃,測定。同一コネクタで行う

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

3 ESD

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

IEC 60749-26

,HBM 法,500

V

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

4

難燃性

 

JIS C60695-11-10

の垂直燃焼性(V)を保

証する

5

機械的衝撃

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 60068-2-27

,1 500

g,1.0

ms,

各軸 5 回

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

6

振動

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 60068-2-6

,20

g,20

~

2 000

Hz,

各サイクル 4 分,各軸 4 サイクル

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

7

湿度サイクル

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

MIL-STD-883F method 1004

, 10 サイ

クル

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

8

はんだ耐熱性

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 60068-2-20 (5.

試験方法 Tb:はん

だ耐熱性,5.5  方法 1B350  ℃でのは
んだ槽法),3.5 秒

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

9

熱衝撃

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 0025 (2.

試験 Na:温度急変),温

度差 100℃

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

10

温度サイクル 500 回

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 0025 (2.

試験 Na:温度急変),

–40  ℃

/

+85  ℃間で 500 サイクル

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

11

温度サイクル 1 000 回

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

試験番号 10 に 500 サイクル追加

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

12

高温動作 500 時間

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 60068-2-2

,70  ℃,

V

CC

=(V

nom

+5  %V

nom

)

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

13

高温動作 1 000 時間

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

試験番号 12 に 500 時間追加

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

14

高温動作 20 00 時間

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

試験番号 13 に 1 000 時間追加

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

15

高温動作 5 000 時間

0  ℃,25  ℃,70  ℃での電気・
光試験で

試験番号 14 に 3 000 時間追加,情報と
してだけ提供

16

低温保存 500 時間

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 60068-2-1

,–40  ℃

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

17

低温保存 1 000 時間

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

試験番号 16 に 500 時間追加

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

18

低温保存 2 000 時間

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

試験番号 17 に 1 000 時間追加

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

19

高温高湿 168 時間

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

JIS C 60068-2-78

,40  ℃

/

95 % RH,

V

CC

=(V

nom

+5  %V

nom

)

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

20

高温高湿 500 時間

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

試験番号 19 に 332 時間追加

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

21

高温高湿 1 000 時間

25  ℃ で の 電気 ・光 試
験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

試験番号 20 に 500 時間追加

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB

22

高温高湿 1 344 時間

0  ℃,25  ℃,70  ℃で
の電気・光試験で

ΔS 

–0.7 +0.7 dB

試験番号 21 に 344 時間追加

ΔP

o

–0.5 +0.5 dB


9

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

6. 

環境に関する仕様

6.1 

安全性全般  この標準に該当するすべての光トランシーバは,IEC 60950-1 に適合しなければならな

い。

6.2 

レーザの安全性  光トランシーバは,いかなる動作条件下でも JIS C6802 に規定している安全基準

のクラス 1 を保証されたレーザでなければならない。これは,故障時におけるファイバへの結合光又は空

間出力光にも適用される。光トランシーバは,JIS C 6802 に適合することが保障されなければならない。

レーザ製品の製造業者は,レーザ安全性標準及び法規制に沿って,そのレーザ製品,安全性能,ラベル

表示,使用法,維持及び保守についての情報を提供する必要がある。その文書は,製品を使用しているシ

ステムがこれらの安全性保証事項に適合するように満たすべき要求事項と使用上の制限事項とを明確に規

定しなければならない。

6.3 

電磁放射  この仕様で規定される製品は,電磁的干渉を制限するため IEC 60938-1 の要求に従わな

ければならない。


10

C 5953-4

:2008 (IEC 62149-4:2003)

附属書 A(規定)試料数,試験順序及びグループ化に関する要求項目

 A.1  信頼性試験一覧表

試験番号

試験項目

試料数

試料履歴

グループ化

0

初期特性試験 95

新品

1

はんだ付け性 11

試験 0

2

コネクタ着脱 11

試験 1

3 ESD

6

試験 2

4

難燃性 5

試験 2

5

機械的衝撃 11

試験 0

6

振動 11

試験 5

7

湿度サイクル 11

試験 0

8

はんだ耐熱性 11

試験 7

9

熱衝撃 11

試験 8

10

温度サイクル  500 回 11 試験 0

11

温度サイクル  1 000 回 11 試験 10

12

高温動作  500 時間 25

試験 0

13

高温動作  1 000 時間 25

試験 12

14

高温動作  2 000 時間 25

試験 13

15

高温動作  5 000 時間 25

試験 14

16

低温保存  500 時間 11

試験 0

17

低温保存  1 000 時間 11

試験 16

18

低温保存  2 000 時間 11

試験 17

19

高温高湿  168 時間 11

試験 0

20

高温高湿  500 時間 11

試験 19

21

高温高湿  1 000 時間 11

試験 20

22

高温高湿  1 344 時間 11

試験 21

上記の各試験は製品に対してそれぞれ独立,かつ,並行に行われるが,前の試験の試料を用いてもよい。

異なるビットレートで使用されるものであっても,構造が同じ部品ならば機械的な試験を一緒に行っても

よい。