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C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

(1) 

目  次

ページ

序文 

1

ブランク個別規格 

1

個別規格の識別 

1

コンデンサの識別 

1

1

  一般事項

2

1.0

  適用範囲 

2

1.1

  推奨取付方法 

2

1.2

  寸法

2

1.3

  定格及び特性 

3

1.4

  引用規格 

3

1.5

  表示

4

1.6

  発注情報 

4

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8

  追加情報(非検査目的) 

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 

4

2

  検査要求事項 

4

2.1

  手順

4


C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

(2) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流

コンデンサ

JIS

C

5101-2-1

第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィ

ルム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(MnO

2

)電解コンデンサ 

JIS

C

5101-3-1

第 3-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(MnO

2

)電解コンデン

サ  評価水準 EZ 

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体(MnO

2

)及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

第 4-1 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-4-2

第 4-2 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体(MnO

2

)電解コンデンサ−評価水

準 EZ

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コ

ンデンサ

JIS

C

5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく

直流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ 

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2

第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ


C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

(3) 

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評

価水準 E

JIS

C

5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水

準 E

JIS

C

5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルス

コンデンサ

JIS

C

5101-17-1

第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO

2

)及び非固体電解

コンデンサ

JIS

C

5101-18-1

第 18-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO

2

)電解コ

ンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-18-2

第 18-2 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準 EZ

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフ

ィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフ

ィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ

JIS

C

5101-24-1

第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コ

ンデンサ


C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

(4) 

JIS

C

5101-25-1

第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-26

第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-26-1

第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ  評価水準 EZ


   

日本工業規格

JIS

 C

5101-26-1

:2012

(IEC 60384-26-1

:2010

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム

固体(導電性高分子)電解コンデンサ  評価水準 EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 26-1:

Blank detail specification-Fixed aluminium electrolytic capacitors with

conductive polymer solid electrolyte-Assessment level EZ

序文 

この規格は,2010 年に第 1 版として発行された IEC 60384-26-1 を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない参考事項又は補足説明した事

項である。

ブランク個別規格 

この規格は,品種別通則 JIS C 5101-26 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規

定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基づいていないものとみ

なし,そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,JIS C 5101-26 の 1.4(個別規格に規定する事項)に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表に記載してある括弧内の数字は,指定の位置に

記入する,次の事項と対応している。

個別規格の識別 

(1)

個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議(IEC)の名称

(2)

個別規格の国内規格番号,西暦年度及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び西

暦年

(3)

品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年,又は IEC 規格番号,版及び西暦年

(4)

ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別 

(5)

コンデンサの品種についての要約説明

(6)

代表的な構造の説明(個別規格に規定がある場合)

(7)

互換性の上で,重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。

この図は,個別規格の附属書としてもよい。

(8)

適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準


2

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

   

(9)

重要な特性に関する参照データ及び様々なコンデンサの種類間の比較を行うため。

例  一般社団法人電子情報技術産業協会

(1)

個別規格番号

(2)

例  JIS C 5101-26-1(ブランク個別規格番号)

(4)

個別規格の名称

(5)

例  固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデン

例  電子機器用固定コンデンサ

第 1 部:品目別通則

(3)

JIS C 5101-1:2010

構造の説明

(6)

外形図(

表 参照。)

(7)

(第三角法) 
(規定寸法内の場合,外形は異なってもよい。

評価水準(複数も可)

例  EZ

(8)

注記  (1)(8):個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。

この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は,品質認定書(Qualification 
approval certificate)による。* 
注*

この記載は,IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)の場合に適用する。

(9) 

注記  (9):コンデンサの識別を参照。

一般事項 

1.0 

適用範囲 

この規格は,JIS C 5101-26 を品種別通則とするブランク個別規格で,電子回路基板に取り付けるラジア

ルリード線端子形の主に電子機器用の直流回路に用いる固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ(以下,コンデンサという。

)の評価水準 EZ について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-26-1:2010

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 26-1: Blank detail

specification−Fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte−

Assessment level EZ(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

1.1 

推奨取付方法 

JIS C 5101-26

の 1.4.2(取付け)による。

1.2 

寸法 

外形寸法記号及び寸法は,

表 による。

表 1−外形寸法記号及び寸法

寸法

mm

外形寸法記号

φ

L H d 

 

注記 1  外形寸法記号がない場合は,この表 を削除し,寸法を表 に記載して,それを表 とする。 
注記 2  寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。


3

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

1.3 

定格及び特性 

定格及び特性は,次による。

公称静電容量範囲(

表 による。)

公称静電容量許容差

定格電圧(

表 による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

定格リプル電流(

表 による。)

損失角の正接(

表 による。)

漏れ電流(

表 による。)

等価直列抵抗(

表 による。)

逆電圧(個別規格に規定がある場合)

表 2−外形寸法と組み合わせた公称静電容量及び定格電圧の値 

定格電圧

外形寸法

外形寸法

外形寸法

外形寸法

外形寸法

公称静電容量  μF

表 3−損失角の正接,漏れ電流,等価直列抵抗及び定格リプル電流

U

R

V

C

N

μF

損失角の正接

...  ℃,... Hz

Hz

漏れ電流

...  ℃

μA

等価直列抵抗

...  ℃,... Hz

定格リプル電流

...  ℃,... Hz

mA 又は A

1.4 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。

これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追

補を含む。

)は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 60068-2-20

  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T−端子付部品のはんだ付け性

及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test

methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)

JIS C 5101-1:2010

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: Generic

specification(IDT)

JIS C 5101-26:2012

  電子機器用固定コンデンサ−第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導

電性高分子)電解コンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-26:2010,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 26:

Sectional specification−Fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid


4

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

   

electrolyte  (IDT)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes(MOD)

1.5 

表示 

コンデンサの本体及び包装への表示は,品種別通則 JIS C 5101-26 の 1.6(表示)による。

注記  コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定することが望ましい。

1.6 

発注情報 

この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明瞭な文字又は記号によって,少なくとも次の項目を含ん

でいなければならない。

a)

公称静電容量

b)

公称静電容量許容差

c)

定格電圧

d)

この規格の番号,発行年版及びコンデンサの種類

1.7 

出荷対象ロットの成績証明書 

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。

注記  顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。

1.8 

追加情報(非検査目的) 

注記  検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.9 

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定することが

望ましく,

表 による。

表 4−その他の特性

この表は,品種別通則 JIS C 5101-26 の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために用いる。

検査要求事項 

2.1 

手順 

2.1.1 

品質認証の手順 

品質認証の手順は,JIS C 5101-26 の 3.4(品質認証試験)による。

2.1.2 

品質確認検査の試験計画 

品質確認検査の試験計画(

表 及び表 6)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求事項を表す。検査ロッ

トの構成は,品種別通則 JIS C 5101-26 の 3.5.1(検査ロットの構成)による。


5

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

表 5−ロットごとの品質確認検査の試験計画 

試料数及び

合格判定数

c)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D 又は

ND

 b)

試験条件

a)

IL

n

c

要求事項

a)

群 検査 
副群 A0

ND

100

%

d)

4.22

  大電流サージ(個別

規格に規定がある場合)

個別規格の規定による。

4.4.1

  漏れ電流

保護抵抗:... Ω   0.2C

n

U

R

(μA)又は 500 μA(い

ずれか大きい値)

4.4.2

  静電容量

 
4.4.3

  損失角の正接(tanδ

周波数:... Hz

バイアス電圧:... V 
周波数:... Hz 
バイアス電圧:... V

規定する許容差内 
 
表 による。

4.4.4

  等価直列抵抗(ESR)

周波数:100 kHz

表 による。

副群 A1 
4.3

  外観

ND

S-3

f) 

0

 
4.3.2

による。

副群 A2 
4.3

  寸法(詳細)

ND

S-3

f) 

0

 
表 による。 

群 検査 
4.7

  はんだ付け性

e)

 
 
4.7.2

  最終測定

D

試 験 及 び 厳 し さ : JIS C 

60068-2-20

の試験 Ta,

方法 1

外観

S-3

f) 

0

 
 
 
 
4.7.2

による。

4.18

  表示の耐溶剤性(個

別規格に規定がある場
合)

g)

溶剤:2-プロパノール 
溶剤温度:23  ℃±5  ℃ 
方法 1

ラビング材料:綿毛 
後処理時間:...

a)

  細分箇条番号,試験項目,試験条件及び要求事項は,JIS C 5101-26 及びこの規格の箇条 による。

b)

  D は破壊試験,ND は非破壊試験。

c)

 IL は検査水準,は試料数,は合格判定数。合格判定数が規定値以下の場合には,そのロットは合格とする。

d)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。

抜取水準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視する
ために抜取試料を全て検査する。抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格と
する。

e)

  製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の仕

組みを取り入れている場合には,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

f)

  検査水準は,JIS Z 9015-1 から選定する。

g)

  個別規格に規定がある場合に適用する。


6

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

   

表 6−定期的品質確認検査の試験計画 

試料数及び

合格判定数

c)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D 又は

ND

 b)

試験条件

a)

p n c 

要求事項

a)

群 検査 

副群 C1A 
4.3

  寸法(詳細)

4.5

  初期測定 

D

 
静電容量

6 12

0

 
個別規格の規定による。 

4.5

  端子強度

試験及び判定基準:JIS C 

5101-1

の 4.13(端子強度)

による。

引張り試験 
曲げ試験

外観に損傷がない。 
 

4.6

  はんだ耐熱性

4.6.1

  初期測定

4.6.2

  試験条件

前処理(乾燥)なし

静電容量 
試 験 及 び 厳 し さ : JIS C 

60068-2-20

の試験 Ta,

方法 1

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

4.6.3

  最終測定 

漏れ電流

d)

静電容量 
損失角の正接(tanδ

等価直列抵抗(ESR)

4.4.1.2

による。

個別規格の規定による。

4.4.3

による。

個別規格の規定による。

4.17

  部品の耐溶剤性

(個別規格に規定が

ある場合) 

溶剤:2-プロパノール 
溶剤温度:23  ℃±5  ℃

方法 2 
後処理時間:...

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

副群 C1B 
4.7

  はんだ付け性

D

試 験 及 び 厳 し さ : JIS C 

60068-2-20

の試験 Ta,

方法 1

前処理(エージング)なし

6 12

0

4.7.2

  最終測定 

外観

4.7.2

による。

4.18

  表示の耐溶剤性

(個別規格に規定が
ある場合) 

溶剤:2-プロパノール 
溶剤温度:23  ℃±5  ℃ 
方法 1

ラビング材料:綿毛 
後処理時間:...

4.8

  温度急変

4.8.1

  初期測定

4.8.2

  試験条件 

 
静電容量 
T

A

:カテゴリ下限温度

T

B

:カテゴリ上限温度

回数:5 回 
期間 t

1

:30 min

後処理時間:1 h∼2 h

4.8.3

  最終測定

漏れ電流 
静電容量 
 
損失角の正接(tanδ

4.4.1.2

による。

4.8.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦10 %

4.4.3

による。


7

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

表 6−定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定数

c)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D 又は

ND

 b)

試験条件

a)

p n

要求事項

a)

副群 C1B(続き) D

6

12

0

4.9

  振動

取付方法:個別規格の規定

による。

周波数範囲:10 Hz∼55 Hz

振幅:0.75 mm 又は

加速度 100 m/s

2

総試験時間:6 h[3 方向

(XYZ 座標軸)で各 2 h]

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

4.9.2

  最終測定

静電容量

4.8.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦10 %

4.10

  衝撃(又はバン

プ,4.11 による。

e)

取付方法:個別規格の規定

による。

方向:X,Y 及び Z の 3 軸の

両方向

回数:各 3 回 
ピーク加速度:500 m/s

2

作用時間:11 ms

4.10.2

  最終測定 

外観 
 
静電容量

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

4.8.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦10 %

4.11

  バンプ(又は衝

撃,4.10 による。

e)

取付方法:個別規格の規定

による。

回数:1 000 回 
ピーク加速度:400 m/s

2

作用時間:6 ms

4.11.2

  最終測定

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

静電容量

4.8.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦10 %

副群 C1 
4.12

  一連耐候性

4.12.1

  初期測定

4.12.2

  高温

4.12.3

  温 湿 度 サ イ ク

ル(試験 Db),最初
のサイクル

D

 
静電容量 
温度:カテゴリ上限温度 
時間:16 h

6 24

0

4.12.4

  低温

温度:カテゴリ下限温度 
試験時間:2 h

4.12.5

  温 湿 度 サ イ ク

ル(試験 Db),残り
のサイクル

後処理時間:1 h∼2

h

  


8

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

   

表 6−定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定数

c)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D 又は

ND

 b)

試験条件

a)

p n c

要求事項

a)

副群 C1(続き) 

D

6 24

0

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

漏れ電流

4.4.1.2

による。

静電容量

4.12.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦20 % 

4.12.7

  最終測定 

損失角の正接

4.4.3.2

の規定値の 1.5 倍以下 

副群 C2 

D

6 24

0

4.13

  高温高湿(定常)  

試験時間:21 日間

4.13.1

  初期測定 

静電容量

4.13.3

  最終測定

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

漏れ電流

初期規定値の 5 倍以下

静電容量

個別規格の規定による。

損失角の正接

初期規定値の 1.5 倍以下

副群 C3 
4.14

  耐久性

D

3 36

0

4.14.1

  初期測定

静電容量

4.14.2

  試験条件

試験時間:1 000 h 
温度:カテゴリ上限温度

印加電圧:定格電圧 
後処理時間:1 h∼2 h

4.14.3

  最終測定

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

漏れ電流

4.4.1.2

による。

静電容量

4.14.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦20 % 

損失角の正接

4.4.3.2

の 1.5 倍以下 

等価直列抵抗(ESR)

4.4.4.2

の 2 倍以下 

副群 C4 

D

6 12

0

4.19

  高温保存

4.19.1

  初期測定

静電容量

4.19.2

  試験条件

試験時間:96 h±4 h

温度:カテゴリ上限温度

後処理時間:16 h 以上

4.19.3

  最終測定 

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

漏れ電流

4.4.1.2

による。

静電容量

4.19.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦5 %

損失角の正接

4.4.3

による。 

4.15

  サージ

4.15.1

  初期測定

静電容量


9

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

表 6−定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定数

c)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D 又は

ND

 b)

試験条件

a)

p n c

要求事項

a)

副群 C4(続き) D

6

12

0

4.15.2

  試験条件 

試験回数:1 000 回 
温度:...  ℃ 
充電電圧:1.15 U

R

保護抵抗:1 000 Ω 
充電時間:30 s 
放置時間:5 min30 s

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

4.15.3

  最終測定 

漏れ電流

静電容量 
 
損失角の正接

4.4.1.2

による。

4.15.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦15 %

4.4.3

による。

4.16

  逆電圧(個別規格

に規定がある場合)

4.16.1

  初期測定 

静電容量

4.16.2

  試験条件

コンデンサに次の条件 a)

行い,続いて条件 b)を行
う。

条件 a)

温度:カテゴリ上限温度
印加電圧:極性逆方向に

0.15 U

C

時間:125 h

条件 b)

温度:カテゴリ上限温度
印加電圧:極性方向に U

C

時間:125 h

4.16.3

  最終測定 

漏れ電流

4.4.1.2

による。

静電容量

4.16.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦10 % 

損失角の正接

4.4.3

による。 

副群 C5 

D

6 12

0

4.20

  高温及び低温特

 

コンデンサを段階順に測定

する。

段階 1:20  ℃

静電容量(個別規格に規

定がある場合)

比較用に用いる。

段階 2:カテゴリ下限温度

静電容量(個別規格に規

定がある場合)

段階 1 の測定値に対して

|

ΔC/C|≦20 %

  等価直列抵抗(ESR)

4.4.4.2

の規定値の 2 倍以下

段階 3:カテゴリ上限温度

漏れ電流

4.4.1.2

の規定値の 12.5 倍以下

静電容量(個別規格に規

定がある場合)

段階 1 の測定値に対して

|

ΔC/C|≦20 % 

  等価直列抵抗(ESR)

4.4.4.2

の規定値の 2 倍以下


10

C 5101-26-1

:2012 (IEC 60384-26-1:2010)

   

表 6−定期的品質確認検査の試験計画(続き) 

試料数及び

合格判定数

c)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D 又は

ND

 b)

試験条件

a)

p n c

要求事項

a)

副群 C5(続き) D

6

12

0

4.21

  充放電(個別規格

に規定がある場合)

4.21.1

  初期測定 

静電容量

4.21.2

  試験条件

温度:...  ℃ 
試験回数:10

6

充電時間:0.5 s

放電時間:0.5 s

4.21.3

  最終測定 

外観

外観に損傷がなく,表示は,明瞭と

する。

漏れ電流

d)

静電容量 
 
損失角の正接 
等価直列抵抗

4.4.1.2

による。

4.21.1

の測定値に対して

|

ΔC/C|≦20 %

4.4.3.2

の規定値の 1.5 倍以下

4.4.4.2

の規定値の 2 倍以下

a)

  細分箇条番号,試験項目,試験条件及び要求事項は,JIS C 5101-26 及びこの規格の箇条 による。

b)

  D は破壊試験,ND は非破壊試験。

c)

  は周期(月),は試料数,は合格判定数(許容不適合数)。合格判定数が規定値以下の場合には,そのロッ

トは合格とする。

d)

  JIS C 5101-26 の 4.1[電圧処理(要求がある場合)]に規定する前処理を行う。

e)

  個別規格に,バンプ又は衝撃試験のうち,いずれの試験を適用するか規定する。