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C 5402-6-1

:2004 (IEC 60512-6-1:2002)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-6-1:2002,Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-1: Dynamic stress tests - Test 6a: Acceleration, steady state

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。


C 5402-6-1

:2004 (IEC 60512-6-1:2002)

(2) 

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  引用規格  

1

3.

  試料の準備  

2

4.

  試験方法  

2

5.

  測定  

2

5.1

  初期測定  

2

5.2

  試験中の測定  

2

5.3

  最終測定  

2

6.

  個別規格に規定する事項  

2

 


JIS C 0068

:1995

(1) 

日本工業規格

JIS

 C

5402-6-1

:2004

(IEC 60512-6-1

:2002

)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―第 6-1 部:動的ストレス試験―

試験 6a:加速度(定常)

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements -

Part 6-1: Dynamic stress tests - Test 6a: Acceleration, steady state

序文  この規格は,2002 年に第 1 版として発行された IEC 60512-6-1,Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 6-1: Dynamic stress tests - Test 6a: Acceleration, steady state

を翻訳し,技術的内容

及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1. 

適用範囲  この規格は,規定する厳しさの加速度に耐える電子機器用コネクタ(以下,コネクタとい

う。

)の能力を評価するための試験方法について規定する。この試験方法は,類似の部品にも用いてよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-6-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-1:

Dynamic stress tests - Test 6a: Acceleration, steady state (IDT)

2. 

引用規格  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構

成する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定

を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,

その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0045

  環境試験方法−電気・電子−加速度(定常)試験方法

備考 IEC 

60068-2-7:1983

,Environmental testing - Part 2: Test - Test Ga and guidance: Acceleration,

steady state Amendment 1(1986)

が,この規格と一致している。

JIS C 5402-1-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-1 部:一般試験−試験 1a:外観

備考 IEC 

60512-1-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:

General examination - Test 1a: Visual examination

が,この規格と一致している。

JIS C 5402-2-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-1 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2a:接

触抵抗−ミリボルトレベル法

備考 IEC 

60512-2-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:

Electrical continuty and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level


C 5402-6-1

:2004 (IEC 60512-6-1:2002)

(4) 

method

が,この規格と一致している。

IEC 60512-2-5:2003

  Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-5: Electrical

continuty and contact resistance tests - Test 2e: Contact disturbance

IEC 60512-7:1993

  Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and

measuring methods - Part 7: Mechanical operating tests and sealing tests

3. 

試料の準備  試料は,標準のアクセサリを備え,個別規格に規定するとおり取付け配線する。試料は,

パネル取付機構,ロック機構及び保持機構のような機械的機構のすべてが完全に機能するような方法で試

験を行う。

試料上へのセンサの取付方法及びその設置場所を含め,モニタ回路の詳細を規定する。

電線又はケーブルは,個別規格に規定がない場合には,試料の両端から少なくとも 200 mm の位置まで

は固定してはならない。電線又はケーブルは,加速試験ジグに固定する。

4. 

試験方法  この試験は,個別規格に規定する厳しさで,JIS C 0045 に従って行う。

5. 

測定

5.1 

初期測定  初期測定は,個別規格の規定するとおり行う。

5.2 

試験中の測定  個別規格に規定がない場合には,IEC 60512-2-5,試験 2e に従って導通をモニタする。

導通をモニタするとき,個別規格で規定するとおりコンタクトを直列に接続する。

他に規定がない場合には,電流負荷は,すべてのコンタクトに対して 100 mA とする。

コンタクトディスターバンスの持続時間の限度は,個別規格で規定する。

5.3 

最終測定  試料は,個別規格に規定がない場合には,次の試験によって電気的及び機械的確認を行

う。

外観:JIS C 5402-1-1,試験 1a

試料は,取り外さないで外観検査を行う。動作に支障のある緩み,部品のずれ及び機械的損傷があって

はならない。

接触抵抗−ミリボルトレベル法:JIS C 5402-2-1,試験 2a

接触抵抗は,最大規格値を超えてはならない。

封止(気密性)(適用する場合):IEC 60512-7,試験 14b 又は個別規格に規定する他の封止試験

パネルシールを含むすべてのシールにわたるリーク率は,個別規格に規定する値を超えてはならない。

動作確認

機械的動作特性は,個別規格に従って確認する。

6. 

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

試料及びそれに付随するケーブル/電線束の取付方法(コンタクトから最初のクランプまでの固定し

ていないケーブル長を含む。

b)

試験の厳しさ(加速度のレベル及び持続時間)

c)

加速度の軸と向き

d)

コンタクトディスターバンスの持続時間の限度

e)

接触抵抗の最大値


   

f)

最大リーク率

g)

確認する動作特性

h)

この試験方法との相違