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C 5402-11-2

:2004 (IEC 60512-11-2:2002)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-11-2:2002,Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2: Climatic tests - Test 11b: Combined/sequential cold, low

air pressure and damp heat

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。


C 5402-11-2

:2004 (IEC 60512-11-2:2002)

(2) 

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  引用規格  

1

3.

  準備  

1

3.1

  試料の準備  

1

3.2

  試料の配線  

2

3.3

  前処理  

2

4.

  試験方法  

2

4.1

  供試条件  

2

4.2

  極性電圧  

2

5.

  測定  

2

5.1

  初期測定  

2

5.2

  試験中の測定及び最終測定  

2

6.

  個別規格に規定する事項  

2

 


     

日本工業規格

JIS

 C

5402-11-2

:2004

(IEC 60512-11-2

:2002

)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―第 11-2 部:耐候性試験―

試験 11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-2: Climatic tests -

Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat

序文  この規格は,2002 年に第 1 版として発行された IEC 60512-11-2,Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 11-2: Climatic tests - Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp

heat

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

1. 

適用範囲  この規格は,上昇中及び下降中の飛行機のどの場所においてもある程度起こりうる条件(た

だし,温度調節及び/又は気圧の調節がなされていない区域では非常に過酷な条件)に供している間及び

その後に,規定の方法により機能する電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。

)の能力を評価するた

めの試験方法について規定する。この試験方法は,類似の部品に用いてもよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-11-2:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2:

Climatic tests - Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat (IDT)

2. 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後

の改正版・追補には適用しない。

IEC 60068-2-39:1976

  Environmental Testing - Part 2: Tests - Test Z/AMD: Combined sequential cold, low

air pressure, and damp heat

3. 

準備

3.1 

試料の準備  個別規格で要求する場合には,試験の前に試料を規定回数,挿入及び引抜きをする。

各試験を行うに当たって個別規格には,コネクタの条件(例えば,結合又は非結合)を規定する。

個別規格で要求するモニタをするために必要な準備をする。


2

C 5402-11-2

:2004 (IEC 60512-11-2:2002)

     

3.2 

試料の配線  試料は,個別規格の規定によって配線する。例外として試料の機構(例えば,ハーメ

チックシールした固定形コネクタのコンタクト後部)を何らかの方法で保護する場合,その保護は,個別

規格に従って行う。

3.3 

前処理  前処理は,個別規格に規定がない場合には,少なくとも 1 時間行う。

参考  前処理の内容は,JIS C 5401-1  電子機器用コネクタ−第 1 部:品目別通則−能力認証  4.1.2 

処理の規定による。

4. 

試験方法

4.1 

供試条件  この試験は,個別規格に規定する極限の低温及び減圧条件を用い,IEC 60068-2-39,試験

Z/AMD

に従って行う。

4.2 

極性電圧  個別規格で規定する場合には,試験期間中,二つの試料に極性電圧を印加する。この印

加によって生じる漏れ電流は考慮しない。

個別規格に規定する機能確認が必要な場合以外は,供試条件の間はコネクタに通電してはならない。

5. 

測定

5.1 

初期測定  初期測定は個別規格の規定による。

5.2 

試験中の測定及び最終測定  個別規格に規定する機能確認及び測定を供試条件の間又は供試条件終

了直後に試験 Z/AMD に規定する接続部で行う。

6. 

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

使用する電線のタイプ及びサイズ

b)

コネクタに対する保護(存在する場合)の詳細を含む試料の準備

c)

試験を受けるコネクタの姿勢

d)

測定に対する要求事項

e)

初期測定

f)

動作条件

g)

測定項目

h)

極性電圧(必要とする場合)

i)

この試験方法との相違