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C 5402-9-1

:2016 (IEC 60512-9-1:2010)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲 

1

2

  引用規格 

1

3

  試料の準備 

2

4

  試験方法 

2

5

  最終測定 

2

6

  個別規格に規定する事項  

2


C 5402-9-1

:2016 (IEC 60512-9-1:2010)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

規格群の部編成は,JIS C 5402-1-100(第 1-100 部:一般−試験方法規格一覧)による。


日本工業規格

JIS

 C

5402-9-1

:2016

(IEC 60512-9-1

:2010

)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−

第 9-1 部:耐久試験−試験 9a:機械的動作

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-

Part 9-1: Endurance tests-Test 9a: Mechanical operation

序文 

この規格は,2010 年に第 1 版として発行された IEC 60512-9-1 を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

適用範囲 

この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。

)に適用する。個別規格に規定がある場合に

は,類似の部品にも用いてよい。

この規格は,電気的負荷のない通常の挿入及び引抜き動作でのコネクタの機械的耐久性を,評価するた

めの標準の試験方法について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60512-9-1:2010

,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 9-1:

Endurance tests

−Test 9a: Mechanical operation(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5402-1-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-1 部:一般試験−試験 1a:外観

注記  対応国際規格:IEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 1-1: General examination

−Test 1a: Visual examination(IDT)

JIS C 5402-2-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-1 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2a:接

触抵抗−ミリボルトレベル法

注記  対応国際規格:IEC 60512-2-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests

−Test 2a: Contact resistance−Millivolt

level method

(IDT)

JIS C 5402-2-6

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-6 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2f:ハ

ウジング(シェル)の導通性

注記  対応国際規格:IEC 60512-2-6,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−


2

C 5402-9-1

:2016 (IEC 60512-9-1:2010)

Part 2-6: Electrical continuity and contact resistance tests

−Test 2f: Housing (shell) electrical

continuity

(IDT)

JIS C 5402-3-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 3-1 部:絶縁試験−試験 3a:絶縁抵抗

注記  対応国際規格:IEC 60512-3-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 3-1: Insulation tests

−Test 3a: Insulation resistance(IDT)

JIS C 5402-4-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 4-1 部:電圧ストレス試験−試験 4a:耐電圧

注記  対応国際規格:IEC 60512-4-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 4-1: Voltage stress tests

−Test 4a: Voltage proof(IDT)

JIS C 5402-13-5

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 13-5 部:機械的動作試験−試験 13e:極性

及びキーイング

注記  対応国際規格:IEC 60512-13-5,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 13-5: Mechanical operation tests

−Test 13e: Polarizing and keying method(IDT)

試料の準備 

試料は,個別規格に規定するとおり準備し,取り付ける。

試験方法 

試料は,

個別規格の要求事項に従って,

電気的負荷を加えることなく挿入及び引抜きの耐久試験を行う。

試料は,通常の方法で挿入及び引抜きを繰り返す。

挿入及び引抜き回数,速度及び頻度(frequency)は,個別規格による。

個別規格で使用を禁止していない場合,正常な挿入及び引抜き動作をシミュレートする機械的補助器具

を用いてよい。ただし,機械的補助器具を使用することで過度なストレスを試料に与えてはならない。

最終測定 

最終測定は,次による。

a)

外観検査(JIS C 5402-1-1,試験 1a)

b)

接触抵抗(JIS C 5402-2-1,試験 2a)

(要求がある場合)

c)

ハウジング(シェル)の導通(JIS C 5402-2-6,試験 2f)

d)

絶縁抵抗(JIS C 5402-3-1,試験 3a)

e)

耐電圧(JIS C 5402-4-1,試験 4a)

f)

極性及びキーイング(JIS C 5402-13-5,試験 13e)の効果を含めた機械的動作特性

注記  適用可能な場合,個別規格には,JIS C 5402-14 規格群に規定する封止(気密性)試験,又は JIS 

C 0920

に規定する保護等級試験を要求してもよい。

個別規格に規定する事項 

個別規格には,次の事項を規定する。

a)

使用するケーブル又は電線の束を含む,試料の準備

b)

試料の取付け

c)

挿入及び引抜き回数,速度並びに頻度

d)

最終測定の要求事項


3

C 5402-9-1

:2016 (IEC 60512-9-1:2010)

e)

この規格に規定する試験方法との相違

参考文献   

JIS C 0920

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)

JIS C 5402-14

(規格群)  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 14 部:封止(気密性)試験

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60512-14 (all parts) , Connectors for electronic equipment − Tests and

measurements

−Part 14: Sealing tests