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C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60115-9-1:2004,Fixed resistors for

use in electronic equipment

―  Part 9-1: Blank detail specification: Fixed surface mount resistor networks with

individually measurable resistors

―  Assessment level EZ を基礎として用いた。

この規格に従うことは,次に示す特許権の使用に該当するおそれがある。

発明の名称  面実装用ネットワーク型電子部品

設定登録日  平成 9 年 4 月 25 日

なお,この記載は,上記に示す特許権の効力,範囲などに関して何ら影響を与えるものではない。

上記の特許権者は,日本工業標準調査会に対して,非差別的,かつ,合理的な条件で,いかなる者に対

しても当該特許権の実施を許諾する意志があることを保証している。

この規格の一部が,上記に示す以外の技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,

又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登

録出願にかかわる確認について責任はもたない。

JIS C 5201

の規格群(電子機器用固定抵抗器)には,次に示す部編成がある。

JIS C 5201-1

第 1 部 : 品目別通則

JIS C 5201-2

第 2 部 : 品種別通則 : 低電力非巻線固定抵抗器

JIS C 5201-2-1

第 2-1 部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-2-2

第 2-2 部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4

第 4 部 : 品種別通則 : 電力形固定抵抗器

JIS C 5201-4-1

第 4-1 部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-4-2

第 4-2 部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4-3

第 4-3 部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き  評価水準 H

JIS C 5201-5

第 5 部 : 品種別通則 : 精密級固定抵抗器

JIS C 5201-5-1

第 5-1 部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-5-2

第 5-2 部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-6

第 6 部 : 品種別通則 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-6-1

第 6-1 部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  同一抵

抗値及び同一定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-6-2

第 6-2 部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  異種抵

抗値又は異種定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-8

第 8 部 : 品種別通則 : チップ固定抵抗器


 
C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)  まえがき

(2)

JIS C 5201-8-1

第 8-1 部 : ブランク個別規格 : チップ固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-9

第 9 部 : 品種別通則 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-9-1

第 9-1 部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗

器  評価水準 EZ


C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)

目  次

ページ

序文 

1

1.

  一般事項

2

1.0

  適用範囲 

2

1.1

  寸法,定格及び特性

2

1.2

  推奨する取付方法

3

1.3

  引用規格 

3

1.4

  表示

4

1.5

  発注情報 

4

1.6

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.7

  追加情報 

4

1.8

  品目別通則及び/又は,品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

4

2.

  検査の要求事項 

4

2.1

  手順

4

 


 

日本工業規格

JIS

 C

5201-9-1

:2006

(IEC 60115-9-1

:2004

)

電子機器用固定抵抗器ー

第 9ー1部:ブランク個別規格:

個別測定可能な表面実装用

固定ネットワーク抵抗器ー評価水準 EZ

Fixed resistors for use in electronic equipment ―

Part 9-1: Blank detail specification:

Fixed surface mount resistor networks with

individually measurable resistors ― Assessment level EZ

序文  この規格は,2004 年に第 1 版として発行された IEC 60115-9-1,Fixed resistors for use in electronic

equipment

― Part 9-1: Blank detail specification: Fixed surface mount resistor networks with individually

measurable resistors

―  Assessment level EZ を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作

成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格  この規格は,JIS C 5201-9 の補足規格で,個別規格の様式,配列及び最少限必要な要

求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格には基づいてい

ないものと見なす。

個別規格を作成する場合には,JIS C 5201-9 の 1.4(個別規格に規定する事項)の内容に基づいて規定す

る。

個別規格の最初のページとなる次の表の片括弧の数字は,指定の位置に記入する次の事項に対応してい

る。

個別規格の識別

1)

個別規格を管理する国内標準化機関の名称

2)

個別規格の日本工業規格番号,発効年及び国内制度で要求される追加事項

3)

品目別通則の日本工業規格番号及び発効年

4)

ブランク個別規格の日本工業規格番号

抵抗器の識別

5)

抵抗ネットワークの品種についての要約説明

6)

代表的な構造の説明(適用する場合)

7)

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は,外形に関する国内規格又は国際規格の

引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。



C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)

8)

適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準

9)

異なる形式のネットワーク抵抗器について,対比できる重要な特性に関する参照データ。

例  電子情報技術産業協会

1) 

    個別規格番号

2) 

    JIS C 5201-9-1 
    (ブランク個別規格番号)

4)

    電子機器用固定抵抗器 
    第 1 部 : 品目別通則 
    JIS C 5201-1 : 1998

3)

    個別規格の名称

    個別測定可能な表面実装用 
        固定ネットワーク抵抗器

5)

    外形図及び寸法  :(

表 参照)

    (第三角法)

7) 

代表的な構造

6) 

(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。

    評価水準 : EZ

    安定性クラス : ... %

8) 

この個別規格で認証された抵抗器の詳しい内容は,        9) 
品質認証電子部品一覧表(QPL)に示されている。*

    注*

この記載は,IECQ を適用する場合に規定する。

1. 

一般事項

1.0 

適用範囲  この規格は,JIS C 5201-9 を品種別通則とするブランク個別規格で,個別に抵抗値を測定

できる表面実装用の固定ネットワーク抵抗器(以下,抵抗器という。

)の評価水準 EZ について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60115-9-1:2004

,Fixed resistors for use in electronic equipment ― Part 9-1 : Blank detail

specification : Fixed surface mount resistor networks with individually measurable resistors

Assessment level EZ (IDT)


3

C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)

1.1 

寸法,定格及び特性

  1  寸法,定格及び特性の表示形式

寸法

  mm

形式  素子定格

電力* 
(70  ℃)

ネットワ
ーク定格
電力 
(70  ℃)

素子最高
電圧 
(Vd.c.又
は Va.c.の
実効値

絶縁電圧

素子間の
耐電圧

L W T A B P ...

W

W

V

V

V       

注*  個別規格には,定格電力を適用する条件を規定する。

抵抗値範囲** ...

Ω∼...  Ω

定格抵抗値の許容差

±...  %

耐候性カテゴリ

−/−/−

安定性クラス ...

抵抗値変化の限界 :

−  長期試験

±(...  %R+...  Ω)

−  短期試験

±(...  %R+...  Ω)

抵抗温度係数

α  : ... 10

-6

 / K

注**

推奨値は,JIS C 5063 の E24 及び E96 の標準数列。

参考

抵抗値の限界の“%R”の は,各試験の試験前の抵抗値を示す。 

1.1.1 

負荷軽減  この規格を適用する抵抗器は,次の軽減曲線によって負荷を軽減する(適切な軽減曲線

は,個別規格に規定する。

備考  JIS C 5201-9 の 2.2.3(定格電力)による。

1.2 

推奨する取付方法  JIS C 5201-9 の 1.4.2(取付け)による。

1.3 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考 IEC  60063:1963  Preferred number series for resistors and capacitors  並びに Amendment 1: 1967

及び Amendment 2: 1977 からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5201-1

  電子機器用固定抵抗器−第 1 部 : 品目別通則

備考 IEC  60115-1:1999  Fixed resistors for use in electronic equipment  ―  Part 1: Generic specification

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5201-9

  電子機器用固定抵抗器−第 9 部 : 品種別通則 : 個別測定可能な表面実装用固定ネッ

トワーク抵抗器

備考 IEC  60115-9:0000   Fixed resistors for use in electronic equipment ―  Part 9: Sectional

specification: Fixed surface mount resistor networks with individually measurable resistors

からの引

用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部 : ロットごとの検査に対する AQL 指標型



C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)

抜取検査方式

備考 IEC  60410:1973  Sampling plans and procedures for inspection by attributes からの引用事項は,

この規格の該当事項と同等である。

1.4 

表示  抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5201-1 の 2.4(表示)及び JIS C 5201-9 の 1.4.5(表示)に

よる。

抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格の規定による。

1.5 

発注情報  この規格を適用する抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に示すか,

又は記号の形で示す。

a) 

素子定格抵抗値

b) 

定格抵抗値の許容差

c) 

個別規格の番号及び版又は発行年並びに形式

d) 

包装形態

1.6 

出荷対象ロットの成績証明書  要求するか,又は要求しない。

1.7 

追加情報  (検査目的以外のもの)

1.8 

品目別通則及び/又は,品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

備考  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合だけに規定する。

2. 

検査の要求事項

2.1 

手順

2.1.1 

品質認証の手順は,JIS C 5201-9 の 3.2(品質認証)による。

2.1.2 

品質確認検査のための試験計画(

表 2)には,抜取方法,周期,厳しさ及び要求事項を規定する。

検査ロットの構成は,JIS C 5201-9 の 3.3.1(検査ロットの構成)による。

下記の項目を,

表 及び表 の試験計画に示す。

1) 

試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1 の規定による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,

JIS C 5201-9

表 から適切に選択する。

2) 

試料数(n)は,JIS Z 9015-1 に規定の

付表 の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字

に従い,JIS Z 9015-1 

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

3) 

この表で,

p =

周期(月)

n =

試料数

c =

合格判定個数(許容不適合数)

D =

破壊検査

ND =

非破壊検査

IL =

検査水準

4)  100

%検査とは,工程で不適合品を取り除いた後に,ppm で示す出荷品質水準を監視するために,

抜取りによる

副群 A0 の検査をすべて行うことをいう。抜取水準は,部品製造業者が設定する。ど

のような特性不適合も,不適合として扱い,不適合品のすべてを数える。ppm 値は,これらの不適

合品の累計を用いて算出する。また,抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,この

ロットは不合格とする。

5) 

不適合品が 1 個発見された場合,新しい試料で副群すべての試験を再度行い,新たな不適合品が発

生しないとき,合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。


5

C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)

  2  ロットごと品質確認検査のための試験計画

IL

n c 

項目番号及び試験

2.1.2 の 1)  参照]

D

又は

ND

試験条件

2.1.2 の 1)  参照]

2.1.2 の 3)  参照]

要求性能

2.1.2 の 1)  参照]

群 検査 
(ロットごと) 
副群 A0 
4.5

  抵抗値 

ND

100

2.1.2 の 4)  参照]

4.5.2

による。

副群 A1 
4.4.1

  外観

4.4.2

  寸法(ゲージ法)

ND

S-4

2.1.2

2)

0

4.4.1

による。

この規格の

表 による。

群 検査 
(ロットごと) 
副群 B1 
4.7

  耐電圧(絶縁形抵抗器だ

けに適用

    隣接する素子間の耐電

ND

方法 : ...

絶縁抵抗

(絶縁形抵抗器だ

けに適用

電圧 : ... V

S-3

2.1.2

2)

0

絶縁破壊又はフラッシ

ュオーバーがない。 
≧100 MΩ 

絶縁破壊又はフラッシ
ュオーバーがない。

副群 B2 
4.17

  はんだ付け性

D

エージング

(適用する場合)

S-3

2.1.2

2)

0

4.17.4.5

による。

副群 B3 
4.31

  取付け

4.13

  過負荷(取り付けた状

4.30

  表示の耐溶剤性(適用

する場合

D

JIS C 5201-9

の 2.3.2

(過負

)に規定する基板材質及

び個々の抵抗器の間隔。

定格電圧の 2.5 倍又は素子
最高電圧の 2 倍のいずれか
小さい方。

印加時間  : 2 s 
外観 
抵抗値

溶剤 : ... 
溶剤温度 : ... 
方法 1 
ラビング材質 : 脱脂綿 
後処理 : ...

S-3

2.1.2

2)

0

外観の損傷がない。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

表 示 は 明 り ょ う で あ
る。



C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)

  3  定期的な品質確認検査のための試験計画

試料数及び

合格判定個数

2.1.2 の 3)  参照]

項目番号及び試験

2.1.2 の 1)  参照]

D

又は

ND

試験条件

2.1.2 の 1)  参照]

p n c 

要求性能

2.1.2 の 1)  参照]

群 検査 
(定期的) 
副群 C1 
4.31

  取付け

4.33

  耐プリント板曲げ性

4.33.6

  最終測定

D

基板材質 : ... 
抵抗値

たわみ量 : ... 
外観

3

20

0

Δ

R

≦ ± (...  % + ...

Ω) 
外観の損傷がない。

副群 C2 
4.18

  はんだ耐熱性

4.29

部品の耐溶剤性

D

外観 
抵抗値

溶剤 : ... 
溶剤温度 : ... 
方法 2 
後処理 : …

3 20 0

4.18.3.4

による。

Δ

R

≦ ± (...  % + ...

Ω) 
個別規格を参照。

副群 C3 
4.31

  取付け

4.32

  固着性

4.19

  温度急変

4.23

  一連耐候性

−高温(耐熱性) 
−温湿度サイクル(12+12

時間サイクル)最初のサイ
クル

−低温(耐寒性)

−温湿度サイクル(12+12 時

間サイクル)残りのサイク

−直流負荷

D

基板材質 : ... 
外観

T

A

=

カテゴリ下限温度

T

B

=

カテゴリ上限温度

外観 
抵抗値

外観 
抵抗値

3 20 0

外観の損傷がない。

外観の損傷がない。

Δ

R

≦ ± (...  % + ...

Ω)

外観の損傷がない。

Δ

R

≦ ± (...  % + ...

Ω)


7

C 5201-9-1:2006 (IEC 60115-9-1:2004)

副群 C4 
4.31

  取付け

4.25.1

  70  ℃での耐久性

D

基板材質 : ...

JIS C 5201-9

の 2.3.2

(過負

)に規定する個々の抵抗器

の間隔。

試験時間  : 1 000 h

48 h

,500 h 及び 1 000 h での

検査 :

外観 
抵抗値

3 20 0

外観の損傷がない。

Δ

R

≦ ± (...  % + ...

Ω)

  3  定期的な品質確認検査のための試験計画(続き)

試料数及び

合格判定個数

2.1.2 の 3)  参照]

項目番号及び試験

2.1.2 の 1)  参照]

D

又は

ND

試験条件

2.1.2 の 1)  参照]

p n c 

要求性能

2.1.2 の 1)  参照]

副群 C5 
4.31

  取付け

4.8

  温度による抵抗値変化

ND

基板材質 : ... 
カテゴリ下限温度 / 20 ℃

20

℃ / カテゴリ上限温度

3 20 0

Δ

R / R

≦...  %

  又は 
α  : ... 10

-6

 / K

Δ

R / R

≦...  %

  又は 
α  : ... 10

-6

 / K

群 検査 
(定期的) 
副群 D1 
4.31

  取付け

4.24

  高温高湿(定常)

D

基板材質 : ...

JIS C 5201-9

の 2.3.2

(過負

)に規定する個々の抵抗器

の間隔。

成極の電圧[4.24.2.1 の c)]は
適用しない。 
外観

抵抗値

12

20

0

外観の損傷がなく,表

示は明りょうである。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

副群 D2 
4.4.3

  寸法(詳細)

4.31

  取付け

4.25.3

  カテゴリ上限温度で

の耐久性

D

基板材質 : ...

JIS C 5201-9

の 2.3.2

(過負

)に規定する個々の抵抗器

の間隔。

試験時間  : 1 000 h

48 h

,500 h 及び 1 000 h での

検査 :

外観 
抵抗値

36 20 1

この規格の

表 による。

外観の損傷がない。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)