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C 5260-4-1 : 2000

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電子機械工業会  (EIAJ)  から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,通

商産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。

通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,

実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5260-4-1

には,次に示す附属書がある。

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格の対比表

部編成規格  この規格の部編成規格は,次による。

JIS C 5260

群  電子機器用可変抵抗器

JIS C 5260-1

  第 1 部:品目別通則

JIS C 5260-2

  第 2 部:品種別通則:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器

JIS C 5260-2-1

  第 2 部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器  評価水準 E

JIS C 5260-2-2

  第 2 部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器  評価水準 F

JIS C 5260-3

  第 3 部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器

JIS C 5260-3-1

  第 3 部:ブランク個別規格:回転形精密級可変抵抗器  評価水準 E

JIS C 5260-4

  第 4 部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器

JIS C 5260-4-1

  第 4 部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器  評価水準 E

JIS C 5260-4-2

  第 4 部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器  評価水準 F

JIS C 5260-5

  第 5 部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器

JIS C 5260-5-1

  第 5 部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器  評価水準 E

JIS C 5260-5-2

  第 5 部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器  評価水準 F


C 5260-4-1 : 2000

(1) 

目次

ページ

序文

1

ブランク個別規格 1

個別規格の識別 1

可変抵抗器の識別 1

第 1 章  一般事項

1.

  一般事項

2

1.0

  適用範囲

2

1.1

  推奨する取付方法(挿入用)

3

1.2

  寸法

3

1.3

  定格及び特性

3

1.3.1

  負荷軽減

3

1.4

  引用規格

3

1.5

  表示

4

1.6

  発注情報

4

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8

  追加事

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

4

第 2 章  検査要求事項

2.

  検査及び要求事項

4

2.1

  手順

4

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表

12


日本工業規格

JIS

 C

5260-4-1

: 2000

電子機器用可変抵抗器−

第 4 部:ブランク個別規格:

単回転電力形可変抵抗器

評価水準 E

Potentiometers for use in electronic equipment

Part 4 :    Blank detail specification : Single-turn rotary power

potentiometers Assessment level E

序文  この規格は,1992 年に第 1 版として発行された IEC 60393-4-1, Potentiometers for use in electronic

equipment

−Part 4 : Blank detail specification : Single-turn rotary power potentiometers Assessment level E を元に,

規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが,技術的内容については,製品の現状に

即して変更している。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC 規格番号

は,1997 年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に

ついても,規格番号に 60000 を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一

である。

ブランク個別規格  この規格は,品種別通則  (JIS C 5260-4)  の補足規格で,個別規格の様式,配列及び最

小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に

基づいていないものとみなす。

個別規格を作成する場合には,JIS C 5260-4 の 1.4(個別規格に規定する事項)の内容を考慮に入れる。

個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧の数字は,指定の位置に記入する次の事項と対応

する。

個別規格の識別

(1)

個 別 規 格 を 管 理 す る 国 内 標 準 化 機 関 又 は 国 際 電 気 標 準 会 議   (IEC  : International electrotechnical

commission)

の名称。

(2)

個別規格の日本工業規格番号,発効年及び国内制度で要求される事項,又は IEC 規格の番号,版及び

発行年。

(3)

品目別通則の日本工業規格の名称,番号及び発効年,又は IEC 規格の番号,版及び発行年。

(4)

ブランク個別規格の日本工業規格番号又は IEC 規格番号。

可変抵抗器の識別

(5)

可変抵抗器の品種についての要約説明。


2

C 5260-4-1 : 2000

(6)

代表的な構造の説明(適用する場合)

。例えば,巻線,単回転形。

備考  可変抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのことを

明記する。

(7)

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図,及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。

この図は,個別規格の附属書としてもよい。

(8)

適用範囲又は適用グループの範囲,及び/又は評価水準。

備考  個別規格に適用する評価水準は,JIS C 5260-4 の 3.3.3(評価水準)から選択する。このブラン

ク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。

(9)

異なる品種の可変抵抗器について,対比できる重要な特性に関する参照データ。

例  日本工業標準調査会)

(1) 

個別規格の番号

(2)

例  JIS C 5260-4-1

(ブランク個別規格番号)

(4)

電子機器用可変抵抗器 
第 1 部:品目別通則

JIS C 5260-1 : 1999

(3)

外形図(

表 参照)

(第三角法)

(7)

単回転電力形可変抵抗器

(5)

代表的な構造:

例  巻線,単回転形

(6)

(必要がある場合,寸法を個別規格の附属書に

規定してもよい。

端子の接続

評価水準:E

安定性クラス:...%

(8)

この個別規格で認証された可変抵抗器の詳しい内容は,品

質認証電子部品一覧表  (

QPL

)

に示されている。

参考

この記載は,

IECQ

の場合に適用する。

(9)

表 1  定格及び特性

定格電力  W

アイソレーション電圧  V

直流又は交流ピーク値

形状

20

℃ 70℃

素子最高電圧  V

(直流又は交流の

実効値)

大気圧下

減圧下

第 章  一般事項 

1.

一般事項

1.0

適用範囲  この規格は,JIS C 5260-4 を品種別通則とするブランク個別規格で,単回転電力形可変抵

抗器  評価水準 E(以下,可変抵抗器という。

)について規定する。


3

C 5260-4-1 : 2000

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60393-4-1 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment

− Part 4 : Blank detail

specification : Single-turn rotary power potentiometers Assessment level E (MOD)

1.1

推奨する取付方法(挿入用)  [JIS C 5260-4 の 1.4.2(取付け)を参照]

1.2

寸法  (必要がある場合には,寸法は,個別規格の附属書に規定してもよい。)すべての寸法は,ミ

リメートル (mm) で示す。

1.3

定格及び特性

定格抵抗値範囲

*

各抵抗変化特性ごと及び各形状ごとの範囲の値を品質認

証電子部品一覧表で示す。

定格抵抗値の許容差

±...%

抵抗変化特性  

...

耐候性カテゴリ

−/−/−

減圧

8 kPa

抵抗値の許容変化(端子 a と c との間)

± (...%R+...

Ω)

(電気的耐久性試験 1 000 h 後)

始動トルク

 

...mN

・m∼...mN・m

全機械的操作範囲

≧...゜

有効電気的操作範囲

≧...゜

無効操作範囲(時計方向)

≦...゜

無効操作範囲(反時計方向)

≦...゜

しゅう動接点許容電流

...mA

端子間抵抗値

. .

終端残留抵抗値(適用する場合)

...

最小有効抵抗値

. .

*

定格抵抗値の推奨値は,JIS C 5063 の E シリーズ及び/又は 1,2,5 シリーズである。

参考  減圧の 8 kPa は,JIS C 5260-1 で引用している JIS C 0029 に合わせて変更した。%は,定格抵

抗値に対する百分率を示す。

1.3.1

負荷軽減  この規格を適用する可変抵抗器は,次の軽減曲線によって負荷を軽減する。

(適切な軽減曲線は,個別規格に規定する。

備考  JIS C 5260-4 の 2.2.3(定格電力)を参照。

1.4

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の版だけがこの規格を

構成するものであって,その後の改正版・追補・Amendment には適用しない。発効年又は発行年を付記し

ていない引用規格は,その最新版(追補・Amendment を含む。

)を適用する。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考  IEC 60063 : 1963    Preferred number series for resistors and capacitors 並びに Amendment 1 : 1967

及び Amendment 2 : 1977 が,この規格と一致している。

JIS C 5260-1

  電子機器用可変抵抗器−第 1 部:品種別通則


4

C 5260-4-1 : 2000

備考  IEC 60393-1 : 1989  Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification

及び Amendment 1 : 1992 からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5260-4

  電子機器用可変抵抗器−第 4 部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器

備考  IEC 60393-4 : 1992   Potentiometers for use in electronic equipment − Part 4 : Sectional

specification : Single-turn rotary power potentiometers

からの引用事項は,この規格の該当事

項と同等である。

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

備考  IEC 60410 : 1973  Sampling plans and procedures for inspection by attributes からの引用事項は,

この規格の該当事項と同等である。

1.5

表示  可変抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5260-4 の 1.5(表示)による。

備考  可変抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。

1.6

発注情報  この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に示す

か,又は記号の形で示す。

a)

定格抵抗値及びその許容差

b)

抵抗変化特性(直線形以外の場合)

c)

個別規格の番号,発効年及び形状

d)

形状の情報で分からない場合には,操作軸及び取付ねじの寸法

1.7

出荷対象ロットの成績証明書  要求する,又は要求しない。

1.8

追加事項(検査目的以外のもの)  (個別規格には,内容をよく理解させるために回路図,軽減曲

線,図面及び備考による情報を含めてもよい。

温度こう配の違いのため,軸受及び密閉などに重大な影響がある可変抵抗器を取り付ける場合は,情報

を提供しなければならない。

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

備考  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合だけに規定する。

第 章  検査要求事項 

2.

検査及び要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証のための手順は,JIS C 5260-4 の 3.2(品質認証)による。

2.1.2

品質確認検査のための試験計画(

表 2)には,サンプリング,周期,厳しさ及び要求事項を規定す

る。検査ロットの構成は,JIS C 5260-4 の 3.3.1(検査ロットの構成)による。

品質確認検査では,承認された抵抗値範囲を代表するものを 1 年以内に検査する(群 A,群 B 及び群 C

だけ)

備考  乾燥が要求される場合には,JIS C 5260-1 の 4.3(乾燥)の手順 による。


5

C 5260-4-1 : 2000

表 2  品質確認検査のための試験計画 

備考1.  試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の厳しさ及び抵抗値

又は出力電圧比の許容限界は,JIS C 5260-4の関連項目から選択する。

2.

検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015-1 から選択する。

3.

この

表 

参考  表中の“

c

a

b

a

U

U

”は,全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。

表中の“

R

”は,抵抗値の変化量を示す。

表中“%R”は,定格抵抗値に対する百分率を示す。

表 2  品質確認検査のための試験計画

IL AQL

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

備考 2.参照)

要求性能

備考 1.参照)

群 検査

(ロットごと)

副群 A1

ND

II

4.0

%

4.4.1

  外観

4.4.1

による。

副群 A2

ND

II

1.0

%

4.4.1

  表示

表示が明りょうで,この規格の

  1.5 による。

4.6

  素子抵抗値

4.6.3

による。

副群 A3

ND

S-2

4.0

%

4.4.2

  寸法(ゲージ法)

個別規格の規定による。

副群 A4

ND

S-2

4.0

%

4.7

  端子間抵抗値(最小抵抗値)

端子 a と b との間の抵抗値

端子 b と c との間の抵抗値

R

≦...

R

≦...

4.5

  連続性

適用する場合,4.5.1 及び 4.5.2

による。

4.12

  耐電圧

(絶縁形可変抵抗器だけに適

用)

(取付方法は,この規格の 1.1

及び

備考 8.参照。)

大気圧下

4.12.5

による。

群 検査

(ロットごと)

副群 B1

D

S-2  1.5

%

4.18

  始動トルク

個別規格の規定による。


6

C 5260-4-1 : 2000

IL AQL

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

備考 2.参照)

要求性能

備考 1.参照)

副群 B2

ND

S-2

1.5

%

4.32

  はんだ付け性

(適用する場合)

はんだこて:サイズ A

温度:350  ℃±10  ℃

時間:2 s±0.5 s

端子には,はんだが良好に付着

している。

4.45

  表示の耐溶剤性

(適用する場合)

溶剤:...

溶剤の温度:...

方法 1

ラビング材質:脱脂綿

後処理:...

表示が明りょうである。

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

群 検査

(定期的)

副群 C1

ND

3

5

1

4.21

  操作軸固定トルク

(適用する場合)

出力電圧比

外観

c

a

b

a

U

U

≦...%

4.21.2

による。

(

1

)

4.20

  回転止め強度

外観

4.20.1

による。

−  試料数 2 個

4.22.2

連続性を適用

4.22.2

による。

−  試料数 2 個

4.22.3

出力電圧比を適用

c

a

b

a

U

U

≦...% 

−  試料数 1 個

4.22

  操作軸の押し及び引張

4.22.4

外観を適用

4.22.4

による。 

副群 C2A

D

3

3

副群 C2

の試料の一部

端子の種類に適応した試験を行

う。

4.30.8

による。

外観

R

≦± (...%R+...

Ω)

4.30

  端子強度 

素子抵抗値

試験 Tb,方法 2

はんだこて:サイズ A

温度:350  ℃±10  ℃

時間:10 s±1 s

4.33

  はんだ耐熱性

(適用する場合)

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

4.4.4

  本体の耐溶剤性(適用

する場合)

溶剤:...

溶剤の温度:...

方法 2

後処理:...

個別規格の規定による。

副群 C2B

D

3

3

副群 C2

の残りの部分


7

C 5260-4-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

備考 による。

T

A

=カテゴリ下限温度

(

2

)

T

B

=カテゴリ上限温度

(

2

)

放置時間 t

1

=30 min

定格電力

≦100 W:試験 Na

>100 W:試験 Nb

温度変化速度:5  ℃/min±1  ℃

/min

外観 

4.34.5

による。 

出力電圧比(半固定可変抵抗器

だけに適用)

c

a

b

a

U

U

≦...% 

4.34

  温度変化

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

取付方法は,この規格の

1.1

照。

ピーク加速度:...m/s

2

バンプ回数:...

外観

4.36.3

による。 

4.36

  バンプ(又は衝撃)

備考 5.参照)

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

取付方法は,この規格の

1.1

照。

パルス波形:正弦半波

ピーク加速度:500 m/s

2

(3)

パルス作用時間:11 ms

外観

4.37.3

による。 

4.37

  衝撃(又はバンプ)

備考 5.参照)

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

取付方法は,この規格の

1.1

照。

周波数範囲:...Hz∼...Hz

振幅:0.75 mm 又は 98 m/s

2

(いずれかゆるい方)

総試験時間:6 h

備考 4.参照

試験中の測定

電気的連続性

4.35.4 の規定による。

 

 ...

µ

s

を超える不連続があっては

ならない。

最終測定

外観

4.35.5

による。

出力電圧比(半固定可変抵抗

器だけに適用)

c

a

b

a

U

U

≦...%

4.35

  振動(正弦波)

備考 6.参照)

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

副群 C2

D

3

6

1

副群 C2A

及び

C2B

の全試料

4.38

  一連耐候性


8

C 5260-4-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

−  高温(耐熱性)

外観

4.38.2.2

による。

−  温湿度サイクル

(12+12 時間サイクル)

の最初のサイクル

−  低温(耐寒性)

始動トルク

...mN

・m∼...mN・m

8 kPa

(

4

)

−  減圧

耐電圧(取付方法は,この規格

の 1.1 及び

備考 8.による。)

4.38.5.3

による。

−  温湿度サイクル

(12+12 時間サイクル)

の残りのサイクル

−  直流負荷

備考 7

.

による。

−  アイソレーション電圧

備考 7.による。

4.38.8

による。

外観

4.38.10.1

による。

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だ

けに適用)

(取付方法は,この

規格の 1.1 及び

備考 8.参照。)

R

≧100 M

 

連続性

4.5.1

による。 

始動トルク

 ...mN

・m∼...mN・m 

最終測定

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ

に適用)

(取付方法は,

この規

格の 1.1 及び

備考 8.による。)

4.38.10.7

による。 

副群 C3

D

3

5

1

(取付方法は,

備考 9.参照。)

試験時間:1 000 h

48 h

,500 h 及び 1 000 h での検

査:

外観

4.43.1.6a)

による。 

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

1 000 h

での検査:

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,

この規格の 1.1 及び

備考 8.

による。

個別規格で要求がある場合に

は,試験時間を 8 000 h まで

延長する。

2 000 h

,4 000 h 及び 8 000 h

での検査:

R

≧1 G

4.43.1

  室温での電気的耐久

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

結果は,情報としてだけに扱

う。

4.18

  始動トルク

室温での電気的耐久性の測定終

了後 4 h 以内

...mN

・m∼...mN・m

副群 C4

ND

3

5

1

4.4.4

  全機械的操作範囲

個別規格の規定による。


9

C 5260-4-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

4.4.6

  有効電気的操作範囲

有効電気的回転角度

無効回転角度(反時計方向)

無効回転角度(時計方向)

θ

≧...゜

θ

≦...゜

θ

≦...゜

4.9

  抵抗変化特性

(直線的変化特性以外の場合

は,個別規格に適切な試験条

件及び要求性能を規定する。

直線的変化特性

有効電気的操作範囲の割合:

(50

±1) %

出力電圧比

群 検査(定期的)

副群 D1

D

12

5

1

1)

  4.39.2.1

第 1 のグループ:試料数 1 個

第 2 のグループ:試料数 2 個

第 3 のグループ:試料数 2 個

2)

  4.39.2.2

第 1 のグループ:試料数 2 個

第 2 のグループ:試料数 3 個

直流負荷(

備考 7.参照)

アイソレーション電圧(

備考 7.

による。

(取付方法は,この

規格の 1.1 及び

備考 8.によ

る。

 

4.39.4

による。 

最終測定

外観

4.39.6.1

による。 

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω) 

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,こ

の規格の 1.1 及び

備考 8.によ

る。

R

≧100 M

 

始動トルク

...mN

・m∼...mN・m 

4.39

  高温高湿(定常)

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ

けに適用)

(取付方法は,この

規格の 1.1 及び

備考 8.によ

る。

4.39.6.8

による。 

副群 D2

D

12

5

1


10

C 5260-4-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

操作サイクル数:5 000

操作速度:5 サイクル/min∼10

サイクル/min 又はしゅう動

接 点 の 操 作 範 囲 を 最 大

80mm/s

外観

4.40.6

による。 

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,

備考

8.

による。

R

≧1 G

 

始動トルク

...mN

・m∼...mN・m 

連続性

適用する場合 4.5.1 及び 4.5.2 

よる。 

操作軸の押し及び引張り

 

−  試料数 2 個

 

  4.22.2 連続性を適用

4.22.2

による。 

−  試料数 3 個 

 

  4.22.3 出力電圧比を適用 

c

a

b

a

U

U

≦...% 

4.40

  機械的耐久性

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ

けに適用)

(取付方法は,

備考

8.

参照。

 

4.40.6

による。 

副群 D3

ND

36

5

1

4.4.3

  寸法(詳細)

個別規格の規定による。

(

1

)

原国際規格では,4.21.3と記載されているが,4.21.2の誤りであり訂正した。

(

2

)

原国際規格では,温度を表す記号として

θ

A

及び

θ

B

を用いているが,JIS C 5260-1で引用している JIS C 0025

合わせて T

A

及び T

B

に変更した。

(

3

)  JIS C 5260-1

で引用している JIS C 0041 に合わせて改正した。

(

4

)  JIS C 5260-1

で引用している JIS C 0029に合わせて改正した。

備考4.  適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。

5.

バンプ試験及び衝撃試験は,いずれか一方を選択する。個別規格には,いずれの試験を適用

するかを規定する。

6.

この試験は,耐候性カテゴリが 25/−/−,40/−/−,55/−/−及び 65/−/−の可変抵抗器に適

用する。

7.

直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,いずれか一方を選択する。個別規格には,

いずれの試験を適用するかを規定する。

8.

取付方法は,JIS C 5260-1 の 4.12(耐電圧)及び 4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほ

か,次による。

a)

本体で取り付けるように設計されているものは,JIS C 5260-1 の 4.12.1 による。

b)

端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取付孔があっても,端子でプリン


11

C 5260-4-1 : 2000

ト配線板に取り付けて試験する。

9.

JIS C 5260-1

の 4.43.1(室温での電気的耐久性)の試験は,可変抵抗器を次の方法で取り付け

る。

各供試品は,可変抵抗器の取付ねじ又は操作軸(適切な)に対してすきまのある中心取付

孔をもつ厚さ 4 mm の鋼板に取り付ける。鋼板は,可変抵抗器の本体径の 4 倍又は 300 mm

の正方形で,どちらか小さい方以下とする。

感温プローブは,試験中取付ねじ又は操作軸の取付孔(適切な)の上に直接置く。温度は,

試験中いかなる場合もカテゴリ上限温度を超えてはならない。

関連規格  JIS C 0029  環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法

JIS C 0041

  環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法

JIS C 0042

  環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法


12

C

 5260-

4

-1 :

2000

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表

JIS C 5260-4-1 : 2000

電子機器用可変抵抗器−第 4 部:ブランク個別規格:単

回転電力形可変抵抗器  評価水準 E

IEC 60393-4-1 : 1992

電子機器用可変抵抗器−第 4 部:ブランク個別規格:単回転電力形可

変抵抗器  評価水準 E

対比項目

規定項目

(

I

)

JIS

の規定内容

(

II

)

国際規格番号 (

III

)

国 際 規 格 の 規 定 内

(

IV

)

JIS

と国際規格との相違点

(

V

)

JIS

と国際規格との整合が困

難な理由及び今後の対策

(

1

)

適用範囲

IEC 60393-4-1

JIS

と同等。 IDT

(

2

)

一般事項

1.3 

定格抵抗値の推奨値

E

シリーズ及び/又は 1,2,5

シリーズとする。

IEC 60393-4-1

E

シリーズとする。 MOD

/追加

IEC

の規定値以外に市場

で多く使用されている 1,

2

,5 シリーズを追加。

理由:市場で多く使用されている。

今後の対策:改正提案予定

1.4 

引用規格

JIS Z 9015-1

IEC 60415

MOD

/変更

JIS Z 9015-1

対応国際規格が引用している IEC

60415

の改正によって,JIS Z 9015

が廃止され新たに,JIS Z 9015-0

3

が制定された。整合させるため内

容的に類似の JIS Z 9015-1 を採用

した。

(

3

)

検査要求事項

IEC 60393-4-1

4.37

衝撃

ピーク加速度:500 m/s

2

ピーク加速度:490 m/s

2

 MOD

/変更

490 m/s

2

を 500 m/s

2

変更

4.38

一連耐候性

減圧下:8 kPa

減圧下:8.5 kPa

MOD

/変更

8.5 kPa

を 8 kPa に変更

理由:IEC 60115-1 及び IEC 60384-1

が改訂され,また引用している

JIS

も改正されており,整合させるた

め改正内容を採用した。

今後の対策:改正提案予定

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    −  IDT  技術的差異がない。 
    −  MOD/追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  MOD/変更 国際規格の規定内容を変更している。

2.  JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    −  MOD 国際規格を修正している。


13

C 5260-4-1 : 2000

電子部品 JIS 原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学名誉教授

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立産業技術研究所

寺  岡  憲  吾

防衛庁装備局

藤  倉  秀  美

財団法人電気安全環境研究所

岩  田      武

村  岡  桂次郎

曽我部  浩  二

町  野  俊  明

富士テクノサーベイ株式会社

橋  本      進

財団法人日本規格協会

窪  田      明

通商産業省

橋  爪  邦  隆

通商産業省

福  原      隆

沖電気工業株式会社

村  上  昭  次

株式会社ケンウッド

山  本  克  巳

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

新  井  謙  一

日本電気株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

伊  高  篤  己

三菱電機株式会社

中  村  之  大

株式会社緑測器

松  本  眞  弓

セイデンテクノ株式会社

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

高  木  祐  司

アルプス株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

石  井      勝

第一電子工業株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  名  法  明

株式会社村田製作所

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

佐  藤  広  志 TDK 株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会


14

C 5260-4-1 : 2000

JIS C 5260-4

分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

松  本  眞  弓

セイデンテクノ株式会社

(委員)

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

吉  田      實

東北アルプス電気株式会社

本  田  義  夫 KOA 株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  本  克  巳

ソニー株式会社

林      里  史

ツバメ無線株式会社

野  原      明

帝国通信工業株式会社

三  本  久  明

日本電気株式会社

中  山  孝  之

北陸電気工業株式会社

佐  藤  幸  治

松下電子部品株式会社

吉  田  松  二

福井松下電器株式会社

中  村  之  大

株式会社緑測器

一  木  義  和

株式会社村田製作所

(客員)

曽我部  浩  二

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会