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C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

(1)

目  次

ページ

0  序文 

1

0.1  ブランク個別規格の目的  

1

0.2  ブランク個別規格の役割  

1

0.3  個別規格及び抵抗器の識別  

2

1  適用範囲  

3

2  引用規格  

3

3  用語及び定義  

4

4  特性及び定格  

4

4.1  一般事項  

4

4.2  寸法  

4

4.3  定格  

5

4.4  抵抗値範囲及び抵抗値許容差  

5

5  試験及び試験の厳しさ  

6

5.1  絶縁抵抗  

6

5.2  耐電圧  

6

5.3  温度による抵抗値変化  

6

5.4  短時間過負荷  

6

5.5  温度上昇  

7

5.6  はんだ付け性  

7

5.7  はんだ耐熱性  

7

5.8  温度急変  

7

5.9  一連耐候性  

7

5.10  高温高湿(定常)  

8

5.11  70  ℃での耐久性  

8

5.12  カテゴリ上限温度での耐久性  

9

5.13  部品の耐溶剤性  

9

5.14  表示の耐溶剤性  

9

5.15  固着性  

9

5.16  耐プリント板曲げ性  

9

5.17  耐炎性  

10

5.18  静電気放電(ESD  

10

6  要求性能  

10

6.1  抵抗値変化の限界  

10

6.2  絶縁抵抗  

11

6.3  温度による抵抗値変化  

11


 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)  目次

(2)

ページ

6.4  温度上昇  

11

6.5  はんだ付け性  

11

6.6  耐炎性  

11

7  表示,包装及び発注情報  

11

7.1  抵抗器本体への表示  

11

7.2  包装  

12

7.3  包装容器への表示  

12

7.4  発注情報  

12

8  付帯情報  

12

8.1  一般事項  

12

8.2  保存及び輸送  

12

8.3  実装用基板  

12

8.4  はんだ付け方法  

13

8.5  洗浄剤又は溶剤の使用  

13

8.6  実装後のコーティング又は封止  

13

9  品質評価手順  

13

9.1  一般事項  

13

9.2  品質認証試験  

14

9.3  品質認証の維持  

14

附属書 A(規定)ジャンパー(0 Ω)抵抗器  

23

附属書 B(参考)文字記号及び略語  

25


C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。これによって,JIS C 5201-8-1:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5201 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5201-1

第 1 部:品目別通則

JIS C 5201-2

第 2 部:品種別通則:低電力皮膜固定抵抗器

JIS C 5201-2-1  第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E 
JIS C 5201-2-2  第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4

第 4 部:品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS C 5201-4-1  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 E 
JIS C 5201-4-2  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4-3  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き  評価水準 H 
JIS C 5201-5

第 5 部:品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS C 5201-5-1  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-5-2  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 F 
JIS C 5201-6

第 6 部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-6-1  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  同一抵抗値及

び同一定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-6-2  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  異種抵抗値又

は異種定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-8

第 8 部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器

JIS C 5201-8-1  第 8-1 部:ブランク個別規格:一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器,

製品性能水準 G

JIS C 5201-9

第 9 部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-9-1  第 9-1 部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−

評価水準 EZ


日本工業規格

JIS

 C

5201-8-1

:2014

(IEC 60115-8-1

:2014

)

電子機器用固定抵抗器−

第 8-1 部:ブランク個別規格:

一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器,

製品性能水準 G

Fixed resistors for use in electronic equipment-

Part 8-1: Blank detail specification: Fixed surface mount (SMD) low power

film resistors for general electronic equipment, classification level G

序文 

この規格は,2014 年に第 2 版として発行された IEC 60115-8-1 を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

0.1 

ブランク個別規格の目的 

この規格は,JIS C 5201-8 を品種別通則とするブランク個別規格で,JIS C 5201-8 の 1.5(抵抗器の用途

による性能分類)に規定する製品性能水準 G,民生用電子機器,通信ユーザ端末などの穏やかな環境条件

で機能する一般的な電子機器に用いる角形抵抗器(形式 RR)又は円筒形抵抗器(形式 RC)で,定格電力

4 W 未満の低電力皮膜固定抵抗器の個別規格の作成に適用する。

製品性能水準 P に対応する角形抵抗器(形式 RR)又は円筒形抵抗器(形式 RC)の低電力皮膜固定抵抗

器の個別規格の作成には,JIS C 5201-8 の別のブランク個別規格を適用する。

その他,JIS C 5201-8 に属するその他の形状,技術又は製品性能水準の表面実装用固定抵抗器の個別規

格作成に適用するブランク個別規格は,必要に応じて発行する。

0.2 

ブランク個別規格の役割 

ブランク個別規格は,品種別通則の補足規格で個別規格の様式及び最小限必要な要求事項を規定したも

のである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格には基づいていないものとみなす。

個別規格は,実際の個別規格の最初のページの前に概要表を含めることが望ましい。個別規格を作成す

る場合には,JIS C 5201-8 の 1.4(個別規格に規定する事項)の内容に基づいて規定する。個別規格は,JIS 

C 5201-8 に規定する推奨値を用いて記載することが望ましい。

単位,図記号及び文字記号は,次の規格から引用することが望ましい。

−  JIS C 0617(規格群)  電気用図記号

−  JIS Z 8115  ディペンダビリティ(信頼性)用語



C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

−  JIS Z 8000-1  量及び単位−第 1 部:一般

−  JIS Z 8000(規格群)  量及び単位

−  IEC 60027(all parts)

,Letter symbols to be used in electrical technology

ブランク個別規格に記載する注記は,作成した規格の理解又は利用を手助けする付帯情報を提供するこ

とを意図しており,個別規格に注記として転記する。

注記  ブランク個別規格で,

“…”又は図表の空白部分は,この規格では規定せずに,個別規格で適切

な事項を記載することを示す。

0.3 

個別規格及び抵抗器の識別 

個別規格の最初のページは,次のページに示す概要表で構成することが望ましい。

片括弧内の数字は,個別規格に転記することを意図しない編集上の参照であり,指定の位置に記入する

次の事項に対応している。

[1]  個別規格を管理する国内標準化機関の名称。 
[2]  個別規格の国内規格番号及び発行年。適用可能な場合,国内標準化機関又は品質認証制度が要求する

適合証を含む追加事項。

[3]  適用可能な場合,関連する品目別通則,品種別通則及びブランク個別規格の規格番号,版及び発行年。 
[4]  個別規格の名称及び抵抗器の品種についての要約説明。この項目は,類似の規定との識別の手助け及

び認証リスト又は標準カタログへの登録に対して適切であることが望ましい。適用範囲の文章から必

要情報を転記してもよい。

[5]  製品の外形図。この項目は,この抵抗器を容易に認識できるようにし,可能な限り,類似の規定との

識別を補助する。

図 に記載した情報を転記してもよい。

[6]  代表的な構造の説明(適用する場合)。この項目は,適用範囲の文章から必要情報を転記してもよい。 
[7]  この規格に規定する製品の製品性能水準,品質評価の水準(評価水準 EZ)及び性能試験における安定

性要求水準(安定性クラス)

。この情報は,適用範囲の文章から必要情報を転記してもよい。

[8]  重要な特性に関する参照データ。

規格管理団体の名称

(例)一般社団法人電子情報技術産業協会

 [1]

個別規格の番号 
JIS C 5201-8-1...: ... 
 [2]

適用規格の番号 
JIS C 5201-1: … 
JIS C 5201-8: …

[3]

JIS C 5201-8-1: …

個別規格の名称 
一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器,製

品性能水準 G 
 [4]

外形図

 [5]

代表的な構造 [6]

製品性能水準:G 
評価水準:EZ

安定性クラス:…% 
 [7]

重要な特性 

[8]

この規格で認証された抵抗器の詳しい内容は,ウェブサイト http://www.iecq.org/で閲覧できる。

注記  この枠取りした文言は,IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)を適用する場合に記載する。


3

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

適用範囲 

この規格は,…表面実装用固定抵抗器(以下,抵抗器という。

)の性能及び定格について規定する。

この規格は,JIS C 5201-8 の 1.5(抵抗器の用途による性能分類)に定義する製品性能水準 G で,民生用

子機器,通信ユーザ端末など,機能重視で穏やかな環境条件で機能する一般的な電子機器用抵抗器に適用

する。

この規格は,JIS C 5201-1 

附属書 QIEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手

順]に規定する品質評価手順による品質認証のための試験計画及び要求性能について規定する。

この規格をジャンパー(0 Ω)抵抗器に適用する場合には,

附属書 による。

注記 1  この規格で用いる文字記号及び略語は,附属書 による。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60115-8-1:2014,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 8-1: Blank detail

specification: Fixed surface mount (SMD) low power film resistors for general electronic

equipment, classification level G(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0806-3  自動実装部品の包装−第 3 部:表面実装部品の連続テープによる包装

注記  対応国際規格:IEC 60286-3,Packaging of components for automatic handling−Part 3: Packaging

of surface mount components on continuous tapes(IDT)

JIS C 0806-6  自動実装部品のパッケージング−第 6 部:表面実装部品用バルクケースによるパッケー

ジング

注記  対応国際規格:IEC 60286-6,Packaging of components for automatic handling−Part 6: Bulk case

packaging for surface mounting components(IDT)

JIS C 5005-2:2010  品質評価システム−第 2 部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

注記  対応国際規格:IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of

sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)

JIS C 5062  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(IDT)

JIS C 5063  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors(IDT)

JIS C 5201-1:2011  電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic

specification(MOD)

JIS C 5201-8:2014  電子機器用固定抵抗器−第 8 部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器

注記  対応国際規格:IEC 60115-8:2009,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 8: Sectional



C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

specification−Fixed surface mount resistors(IDT)

JIS C 60068-2-1  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)

JIS C 60068-2-2  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat(IDT)

IEC 61760-1,Surface mounting technology−Part 1: Standard method for the specification of surface mounting

components (SMDs)

用語及び定義 

この規格で用いる用語及び定義は,JIS C 5201-1 及び JIS C 5201-8 によるほか,次による。

特性及び定格 

4.1 

一般事項 

ここでは,抵抗器のさまざまな特性及び定格を詳細に規定する。規定値がない(

“…”又は空白)特性及

び定格項目は,抵抗器ごとに異なる。

4.2 

寸法 

表 に規定する固有の形状及び個別の寸法とともに,この規格を適用する抵抗器の形状及び寸法を,図

に示す。その他の形状は,規定する寸法の範囲内にあればよい。

図 1−外形及び寸法 

表 1−形式及び寸法 

形式

寸法

質量

b)

形式記号 X

a)

長さ L

mm

幅 W

mm

厚さ T

mm

m

mg

a)

  インチ単位寸法記号で,参考事項とする。

b)

  参考事項とする。


5

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

4.3 

定格 

耐候性カテゴリは,

“カテゴリ下限温度(LCT)/カテゴリ上限温度(UCT)/高温高湿(定常)の試験

時間”の形で,

表 に規定する。”

表 2−耐候性カテゴリ 

耐候性カテゴリ

カテゴリ下限温度(LCT)/カテゴリ上限温度(UCT)/高温高湿(定常)の試験時間

… / … / … 
… / … / …

この規格を適用する抵抗器の許容印加電力は,

表 に規定する定格電力によって規定する。許容印加電

力は,

図 の軽減曲線に従い,定格周囲温度 70  ℃以上の周囲温度では電力を軽減する。

表 3−定格 

形式

(形式記号)

定格電力

P

70

mW

Y

素子最高電圧

直流又は交流(実効値)

U

max

V

絶縁電圧

直流又は交流(最大値)

U

ins

V

注記 1  この表に規定する絶縁電圧は,1 分間の試験時間で検証している。ただし,長期間の絶縁性能は,湿度,有

機物及び絶縁層内の電界傾度の影響を受ける場合がある。

注記 2  列 Y は,定格周囲温度 70  ℃以外の周囲温度における付加的な定格電力など,任意の付帯情報欄である。

定格電力比(

%

  カテゴリ下限温度 70

カテゴリ上限温度

図 2−軽減曲線 

4.4 

抵抗値範囲及び抵抗値許容差 

この規格に規定する耐候性カテゴリで認証する抵抗温度係数,

抵抗値許容差及び抵抗値範囲の組合せを,

表 に規定する。

9.2 による初期の製品品質認証試験,及び 9.3.1 による品質確認検査には,表 に規定する範囲内の抵抗

器を用いる。

この規格で規定する抵抗値範囲外であっても,規定範囲内で最も近い抵抗値の安定性クラスへの要求事

項を全て満足する場合,認証してもよい。

推奨動作領域

0

100



C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

例  形式…,温度係数… 10

6

/K,許容差… %,抵抗値… Ω の抵抗器が安定性クラス…の要求事項を満

足する。

各形式で認証を受けた公称抵抗値範囲は,IECQ 品質認証制度を適用する場合に,公称抵抗値の許容差

及び抵抗温度係数とともに,品質認証認定証に記載する。これは,例えば,IEC のウェブサイト

(http://certificates.iecq.org/)で閲覧できる。

表 4−耐候性カテゴリ... / ... / ...での抵抗温度係数,抵抗値許容差及び抵抗値範囲 

形式

抵抗温度係数

抵抗値許容差

抵抗値範囲

E 標準数列

b)

安定性クラス

(形式記号) 10

6

/K

記号

a)

 % 記号

a)

a)

  JIS C 5062 による表示記号。

b)

  JIS C 5063 による抵抗値の標準数列 E シリーズ。

試験及び試験の厳しさ 

5.1 

絶縁抵抗 

JIS C 5201-1 の 4.6(絶縁抵抗)及び JIS C 5201-8 の 2.2.5(絶縁抵抗)によるほか,次による。

形式 RR の角形抵抗器は,抵抗素子面(皮膜側)をスプリング電極(試験点 A)に向け上向きで,JIS C 

5201-1 の 4.6.1.4(角形抵抗器の方法)に規定する試験ジグで測定する。スプリング電極の半径は,抵抗器

の長さ の 1/4 を超えてはならない。

形式 RC の円筒形抵抗器は,JIS C 5201-1 の 4.6.1.5(円筒形抵抗器の方法)に規定する試験ジグで測定

する。金属製 V ブロック(試験点 A)の寸法 L

1

及び V 形状は,抵抗器の電極との間隔が 0.5 mm 以上残る,

又は抵抗器電極間の絶縁長の 1/4 のいずれか小さい方を選択する。

5.2 

耐電圧 

JIS C 5201-1 の 4.7(耐電圧)及び JIS C 5201-8 の 2.2.6(絶縁電圧)によるほか,次による。

形式 RR の角形抵抗器は,抵抗素子面(皮膜側)をスプリング電極(試験点 A)に向け上向きで,JIS C 

5201-1 の 4.6.1.4 に規定する試験ジグで測定する。スプリング電極の半径は,抵抗器の長さ の 1/4 を超え

てはならない。

形式 RC の円筒形抵抗器は,JIS C 5201-1 の 4.6.1.5 に規定する試験ジグで測定する。金属製 V ブロック

(試験点 A)の寸法 L

1

及び V 形状は,抵抗器の電極との間隔が 0.5 mm 以上残る,又は抵抗器電極間の絶

縁長の 1/4 のいずれか小さい方を選択する。

5.3 

温度による抵抗値変化 

JIS C 5201-1 の 4.8(温度による抵抗値変化)によるほか,次による。

この試験は,試料を JIS C 5201-8 の 2.4.2(部品の取付け)の規定に従って取り付ける,又は試験の実施

に適切なジグに試料を取り付けて行う。

20  ℃,カテゴリ下限温度(LCT),20  ℃,カテゴリ上限温度(UCT)及び 20  ℃の順序で連続して実施

する。

5.4 

短時間過負荷 

JIS C 5201-1 の 4.13(短時間過負荷)及び JIS C 5201-8 の 2.3.1(短時間過負荷)によるほか,次による。

過負荷を印加する時間は,抵抗器の形式に応じて

表 に規定する。


7

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 5−短時間過負荷時間 

形式

(形式記号)

過負荷印加時間

t

load

s

注記  過負荷印加時間は,素子最高温度が,カテゴリ上限温度

よりも 30 K 以上高くなるように規定している。

5.5 

温度上昇 

JIS C 5201-1 の 4.14(温度上昇)によるほか,次による。

試料は,JIS C 5201-8 の 2.4.2(部品の取付け)の規定に従って取り付ける。

5.6 

はんだ付け性 

JIS C 5201-1 の 4.17(はんだ付け性)及び JIS C 5201-8 の 2.3.2(はんだ付け性)によるほか,次による。

抵抗器のはんだ付け可能な電極表面は,SnPb 共晶はんだ及び鉛フリーはんだの両方に適合する必要があ

る。したがって,はんだ付け性試験は,両方のはんだ合金での試験が必要である。

5.7 

はんだ耐熱性 

JIS C 5201-1 の 4.18(はんだ耐熱性)及び JIS C 5201-8 の 2.3.3(はんだ耐熱性)によるはんだ耐熱性試

験方法及び厳しさは,Sn-Pb 共晶はんだ及び鉛フリーはんだに適用可能であって,リフローはんだ付け(気

相法を含む)及びダブルウエーブはんだ付けの要求を代表した次の試験条件を用いる。

試験方法:はんだ槽法

−  はんだ合金:Sn-Pb,Sn-Cu,Sn-Ag-Cu 又は Sn-Ag のいずれかのはんだ合金

−  槽の温度 T

bath

:260  ℃±5  ℃

−  浸せき(漬)時間:10 秒間±1 秒間

−  浸せき(漬)及び引き揚げ速さ:20 mm/s∼25 mm/s

−  試験回数:1 回

5.8 

温度急変 

JIS C 5201-1 の 4.19(温度急変)によるほか,次による。

試料は,JIS C 5201-8 の 2.4.2 の規定に従って取り付ける。

試験は,品質認証試験計画(

表 12)の群 6,及び品質確認検査のための試験計画(表 13)の副群 C1 

は,5 サイクル行う。低温側試験温度 T

A

は,カテゴリ下限温度(LCT)とし,高温側試験温度 T

B

は,カテ

ゴリ上限温度(UCT)とする。

5.9 

一連耐候性 

5.9.1 

一般事項 

JIS C 5201-1 の 4.23(一連耐候性)によるほか,5.9.25.9.7 による。

試料は,JIS C 5201-8 の 2.4.2(部品の取付け)の規定に従って取り付ける。

5.9.2 

一連耐候性,高温 

抵抗器は,カテゴリ上限温度で,JIS C 60068-2-2 に規定する試験 Bb を 16 時間行う。

温度急変の影響が試料に有害であることが未知の場合,試料を試験室温度からカテゴリ上限温度までの

任意温度の恒温槽中に出し入れしてもよい。



C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

5.9.3 

一連耐候性,低温 

抵抗器は,カテゴリ下限温度で,JIS C 60068-2-1 に規定する試験 Ab を 2 時間行う。

温度急変の影響が試料に有害であることが未知の場合,試料を試験室温度からカテゴリ下限温度までの

任意温度の恒温槽中に出し入れしてもよい。

試料を試験室から低温の試験槽へ入れる場合,試料への結露に対する注意が必要である。

5.9.4 

一連耐候性,減圧 

一連耐候性の減圧試験は,JIS C 5201-1 の 4.23.5(減圧)によるほか,次による。

大気圧:8 kPa,相対精度±20 %

周囲温度:15  ℃∼35  ℃

試験時間:1 時間±2 分間

5.9.5 

一連耐候性,温湿度サイクル 

一連耐候性の温湿度サイクル試験の最初のサイクルは,JIS C 5201-1 の 4.23.3[温湿度サイクル(試験

Db),最初のサイクル]によって,残りのサイクルは,JIS C 5201-1 の 4.23.6[温湿度サイクル(試験 Db),

残りのサイクル]によるほか,次による。

この規格で規定する耐候性カテゴリに適用する残りのサイクル数を,

表 に規定する。

表 6−温湿度サイクルの残りのサイクル数 

耐候性カテゴリ

カテゴリ下限温度 LCT/カテゴリ上限温度 UCT/試験時間

サイクル数

残りのサイクル数

n−1

5.9.6 

一連耐候性,直流負荷 

JIS C 5201-1 の 4.23.7(直流負荷)による。

5.9.7 

一連耐候性,最終測定 

JIS C 5201-1 の 4.23.8(最終検査,測定及び要求性能)による。

絶縁抵抗の測定は,5.1 による。

5.10  高温高湿(定常) 

JIS C 5201-1 の 4.24[高温高湿(定常)]によるほか,次による。

試料は,JIS C 5201-8 の 2.4.2 の規定に従って取り付ける。

耐候性カテゴリに従って,

表 に規定する時間で試験を行う。

表 7−高温高湿(定常)の試験時間 

耐候性カテゴリ

カテゴリ下限温度 LCT/カテゴリ上限温度 UCT/高温高湿(定常)の試験時間

試験時間

t

exp

絶縁抵抗の測定は,5.1 による。

5.11 70 ℃での耐久性 

JIS C 5201-1 の 4.25.1(70  ℃での耐久性)によるほか,次による。


9

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

試料は,JIS C 5201-8 の 2.4.2(部品の取付け)の規定に従って取り付ける。

絶縁抵抗の測定は,5.1 による。

5.12  カテゴリ上限温度での耐久性 

JIS C 5201-1 の 4.25.3(カテゴリ上限温度での耐久性)によるほか,次による。

試験は,試料を取り付けない,又は JIS C 5201-8 の 2.4.2 の規定に従って取り付ける。

絶縁抵抗の測定は,5.1 による。

5.13  部品の耐溶剤性 

JIS C 5201-1 の 4.29(部品の耐溶剤性)及び JIS C 5201-8 の 2.3.7(部品の耐溶剤性)によるほか,次に

よる。

−  用いる溶剤:2-プロパノール(イソプロピルアルコール)

−  溶剤の温度 T

bath

:23  ℃±5  ℃

−  供試条件:方法 2,ラビングしない。

−  浸せき(漬)時間 t

imm

:5 分間±0.5 分間

5.14  表示の耐溶剤性 

JIS C 5201-1 の 4.30(表示の耐溶剤性)及び JIS C 5201-8 の 2.3.8(表示の耐溶剤性)によるほか,次に

よる。

−  用いる溶剤:2-プロパノール(イソプロピルアルコール)

−  溶剤の温度 T

bath

:23  ℃±5  ℃

−  供試条件:方法 1,ラビングする。

−  ラビングの材質:脱脂綿,又は歯ブラシ

−  浸せき(漬)時間 t

imm

:5 分間±0.5 分間

ラビングに使用する歯ブラシは,長さのそろった標準的な合成繊維を用いた標準的な硬さの歯ブラシと

する。歯ブラシは,単一の溶剤にだけ使用し,適度な力(試料表面におおむね 0.5 N∼1 N が加わる力)で

10 往復ラビングする。歯ブラシは,軟化及び摩耗などの劣化が見られた場合には廃棄する。 
5.15  固着性 

JIS C 5201-1 の 4.32(固着性)及び JIS C 5201-8 の 2.3.4(固着性)によるほか,次による。

試料は,JIS C 5201-8 の 2.4.2 の規定に従って取り付ける。

JIS C 5201-8 の 2.3.4 に従って加える力は,表 に規定する抵抗器の形式に応じて規定する。

表 8−固着力 

形式

(形式記号)

固着力

F

test

N

注記  規定する固着力は,それぞれの形式の代表的な質量と,おおよその比例関係がある。固

着力は,加速度 981 m/s

2

(100 G)での衝撃試験で加わる力を超えることを想定している。

5.16  耐プリント板曲げ性 

JIS C 5201-1 の 4.33(耐プリント板曲げ性)によるほか,次による。

試料は,JIS C 5201-8 の 2.4.2 の規定に従って試験用基板に取り付ける。


10 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

曲げ深さ D: … mm

曲げ回数 n: …

基板曲げは,連続して行う。基板は,曲げた状態で 20 秒間±1 秒間保持する。最後の基板曲げ時に,試

験用基板を曲げた状態で,抵抗値を測定する。

5.17  耐炎性 

JIS C 5201-1 の 4.35(耐炎性)に規定のニードルフレーム試験を次の条件で実施する。

接炎時間 t

a

:10 秒間

0

1

秒間

5.18  静電気放電(ESD 

JIS C 5201-1 の 4.38(静電気放電)及び JIS C 5201-8 の 2.3.6[静電気放電(ESD)]によるほか,次によ

る。

試験は,試料を JIS C 5201-8 の 2.4.2 の規定に従って取り付ける,又は試験中,適切なジグに試料を取り

付けて行う。

静電気放電試験電圧は,人体モデルを適用し,抵抗器の形式に応じた試験電圧を,

表 に規定する。規

定の試験電圧は,形式に関係なく,全ての抵抗値範囲に適用する。

表 9−静電気放電試験電圧 

形式

(形式記号)

静電気放電(ESD)試験電圧

U

HBM

V

静電気放電は,試料に正極性 1 回,負極性 1 回の合計 2 回印加する。放電間隔は,1 秒間以上とする。

要求性能 

6.1 

抵抗値変化の限界 

個別規格に規定する安定性クラスに対応する各試験での抵抗値変化の限界を,

表 10 に規定する。

表 10−抵抗値変化の限界 

安定性
クラス

抵抗値変化(ΔR/R)の限界

%

長期試験

短期試験

JIS C 5201-1 
4.23  一連耐候性 
4.24  高温高湿(定常) 
4.25.3  カテゴリ上限温

度での耐久性

JIS C 5201-1 
4.25.1 70

℃での耐久性

1 000 時間

JIS C 5201-1 
4.13  短時間過負荷 
4.18  はんだ耐熱性 
4.19  温度急変

(5 サイクル)

4.33  耐プリント板曲げ性

JIS C 5201-1 
4.38  静電気放電


11

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

6.2 

絶縁抵抗 

注記  絶縁抵抗試験及びこの箇条の個別要求事項は,絶縁形抵抗器だけに適用している。

絶縁形抵抗器において,JIS C 5201-1 の 4.6(絶縁抵抗)の方法で測定したときの絶縁抵抗 R

ins

は,1 GΩ

以上とする。

次の試験後の絶縁抵抗 R

ins

は,1 GΩ 以上とする。

− 70 ℃での耐久性(JIS C 5201-1 の 4.25.1

−  カテゴリ上限温度での耐久性(JIS C 5201-1 の 4.25.3

次の試験後の絶縁抵抗 R

ins

は,100 MΩ 以上とする。

−  一連耐候性(JIS C 5201-1 の 4.23

−  高温高湿(定常)

JIS C 5201-1 の 4.24

6.3 

温度による抵抗値変化 

この規格に適用するカテゴリ温度範囲における抵抗温度特性試験での抵抗値変化の許容限界を,

表 11

に規定する。

表 11−抵抗温度係数及び抵抗値変化 

抵抗温度係数

抵抗値変化(ΔR/R)の限界

%

10

6

/K

記号

a)

 Z

b)

カテゴリ下限温度(LCT)/基準温度

基準温度/カテゴリ上限温度(UCT)

−…℃/20  ℃

−…℃/20  ℃ 20

℃/…℃ 20

℃/…℃

a)

  JIS C 5062 による表示記号。

b)

  伝統的な表示記号で,参考情報とする。

6.4 

温度上昇 

JIS C 5201-1 の 4.14(温度上昇)による許容温度上昇 ΔT

max

は,次によって決められる。

ΔT

max

=MET−70  ℃

ここに,

ΔT

max

許容温度上昇

MET: 素子最高温度

6.5 

はんだ付け性 

JIS C 5201-1 の 4.17.3(最終検査,測定及び要求性能)によるほか,次による。

はんだ付け性の外観検査基準は,次による。

はんだ付けする部分の表面は,95 %以上新しいはんだで覆われていなければならない。新しいはんだの

部分には,ピンホール,はんだ不ぬれ及びはんだはじきが僅かに点在していてもよいが,1 か所に集中し

てはならない。

6.6 

耐炎性 

燃焼時間 t

b

は,30 秒間を超えてはならない。

表示,包装及び発注情報 

7.1 

抵抗器本体への表示 

一般に,表面実装用抵抗器の本体表面への表示はしない。ただし,抵抗器に表示をする場合には,JIS C 


12 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

5062 の箇条 4(抵抗値及び静電容量値の文字と数字とによる記号)の表示記号で公称抵抗値を表示しなけ

ればならない。できれば,JIS C 5062 の 4.2.3(4 文字記号による表示方法)によって表示することが望ま

しい。

7.2 

包装 

抵抗器は,テーピング又はバルクケースによる包装をしてもよい。

注記  環境責任の観点から包装は,リユース(再利用)可能な包装,例えば,バルクケースなどを用

いることが望ましい。

テーピング包装は,JIS C 0806-3 に規定する…による。バルクケース包装は,JIS C 0806-6 による。

7.3 

包装容器への表示 

この規格で認証を受ける抵抗器の包装には,JIS C 5201-1 の 2.4(表示)によるほか,次の発注情報を表

示する。

−  適合性マーク

−  JIS C 5062 に規定する製造時期を示す製造年月記号,又は年週記号

−  製造ロット番号

注記  IECQ 制度の規則では,IECQ 適合性マークを使用する権利は,この規格の規定に従った品質

認証が完了したうえで,IECQ 認証機関の認可証の発行によって与えられる。

次の例に示す追加情報を表示してもよい。

−  製造業者名又は商標

−  製品名

−  包装数量

全ての表示は,混乱を生じないように,明瞭に表示する。

7.4 

発注情報 

この規格で認証を受ける抵抗器の発注には,次の内容を含める。

−  個別規格の番号

−  製造業者の形式番号

−  公称抵抗値

−  公称抵抗値の許容差

−  抵抗温度係数

−  納入形態及び包装仕様

付帯情報 

8.1 

一般事項 

この箇条に記載する情報には,いかなる定格,試験又は要求事項を構成せず,したがって,いかなる検

査手順によっても検証することを意図していない。

8.2 

保存及び輸送 

JIS C 5201-1 の 2.7(保存)に規定する条件下での許容保存期間は,2 年間とする。

はんだ付け性及び抵抗値は,保存の影響を受ける。したがって,保存期間が 1 年間を超えた場合には,

はんだ付け性及び抵抗値測定を行うことが望ましい。

8.3 

実装用基板 

この抵抗器は,一般的なプリント配線板,セラミック基板及びフレキシブル基板への取付けに適してい


13

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

る。

8.4 

はんだ付け方法 

この抵抗器は,IEC 61760-1 による全てのはんだ付け方法に適応する。

これは,次のはんだ材料に完全に適合する。

鉛フリーはんだ:SnCu,SnCuNi,SnAg 又は SnAgCu

 SnPb 共晶はんだ

温度 260  ℃のはんだへの浸せき(漬)時間は,10 秒間を超えてはならない。

フラックスは,はんだ付け後の洗浄を必要としないものを選定することが望ましい。フラックスの残さ

(渣)を,特に抵抗器とプリント配線板との隙間から,完全に除去するのは難しい。フラックスの残さ(渣)

は,実装した抵抗器と並列して導電性をもつ場合があり,その結果,電子回路の性能に悪影響を及ぼすこ

とがある。

8.5 

洗浄剤又は溶剤の使用 

はんだ付け後のフラックス残さ(渣)の除去には,次の洗浄剤を用いてもよい。

−  アルコール類(エタノール,プロパノール,イソプロパノール及びブタノール)

−  水溶液

−  純水

洗剤又は溶剤での洗浄時間は,5 分間以下とする。

その他の洗浄剤を用いる場合には,抵抗器製造業者へ相談することを推奨する。

8.6 

実装後のコーティング又は封止 

コーティング又は封止を行う場合には,抵抗器製造業者へ相談することが望ましい。

コーティング又は封止の適応性は,その使用に先立って,完成品の長期安定性を保証するために,適切

な手段で検証することが望ましい。

注記  一般に,多くの応用分野において,実装基板にコーティング又は封止することによって,周囲

環境からの悪影響を防止している。ただし,残留イオン性不純物が水分によってコーティング

の内部に自然拡散し,電気化学的反応(マイグレーション)

,腐食(コロージョン)又はその他

の有害な作用を実装部品に及ぼすため,実装後の清浄度には最も厳しい要求が課せられる。

品質評価手順 

9.1 

一般事項 

9.1.1 

全数検査 

この規格による全ての抵抗器は,製造工程の中で次に示す全数検査を行う。

抵抗器の製造工程中で,JIS C 5201-1 の 4.5(抵抗値)に従って,抵抗値及び抵抗値許容差を測定し,全

ての不適合品を取り除く。

この試験は,百万個当たりの不適合品数で表す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全て検査す

る。抜取水準は,JIS C 5005-2 

附属書 A[信頼水準 60 %における 100 万個当たりの不適合品率(ppm)

で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]に従って,製造業者が指定することが望ましい。統計的工

程品質限界(SVQL)は,JIS C 5005-2 の 6.2(SVQL の算出)に規定する方法によって,累積検査データ

から算出する。

全ての不適合数は,品質水準の算出に用いる。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品が見つかった場合には,このロットは不合格とする。


14 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

9.1.2 

適合証明書(CoC 

製品が,品質認証機関(例えば,IECQ など)によって,この規定への適合を認証された場合,関連規

則に従って,包装への表示で適合を宣言する。

注記  上記の適合性表示には,一般に,達成した認証にだけ許可される特別な適合性マークを使用す

る。

認証された抵抗器は,追加の適合証明書を必要としない。

9.1.3 

出荷ロット成績証明書 

受渡当事者間の合意がある場合には,JIS C 5201-1 の Q.9(出荷ロット成績証明書)に規定する成績証

明書を用いる。

9.2 

品質認証試験 

初期の製品の品質認証試験には,JIS C 5201-1 の Q.5.3(品質認証用試験手順)及び JIS C 5201-8 の 3.4.1

(定数抜取手順に基づく品質認証)に規定する定数抜取手順を用いる。品質認証試験は,箇条 の試験の

詳細,試験の厳しさ及び箇条 の個別要求事項とともに,

表 12 に規定する試験計画に従って実施する。

検査ロットは,JIS C 5201-8 の 3.3(検査ロットの構成)に従って構成する。その品質認証試験は,

表 12

に規定する全ての試験に適合した後に,合格となる。

9.3 

品質認証の維持 

9.3.1 

品質確認検査 

品質確認検査は,JIS C 5201-1 の Q.5.6(品質確認検査)及び JIS C 5201-8 の 3.5(品質確認検査)に従

って,箇条 に規定する試験の詳細,厳しさ及び箇条 の個別要求事項とともに,

表 13 に規定するロッ

トごとの試験及び

表 13 に規定する定期試験の試験計画を用いて実施する。

検査ロットは,JIS C 5201-8 の 3.3 に従って構成する。

9.3.2 

不適合品 

品質確認検査で,1 個の不適合品が発生した場合には,群試験に含まれる全ての試験に関して新しい試

料で再試験を実施する。再試験で不適合品がないことを確認する。再試験を実施している間,製品の出荷

は継続してもよい。

取り付けた試料で,取付け後に不適合が見つかった試料は,一連の試験での許容不適合数を計算する場

合には数えない。不適合品は,予備の試料と取り替える。


15

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 12−品質認証試験計画 

試験

a)

試験条件

b)

D

c)

又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

群 1 
4.5

抵抗値

ND

160

0

 
JIS C 5201-1 の 4.5.2 による。

群 2 
4.4.1

外観検査

 
表示(個別規格に規定がある場

合)

ND

160

0

 
JIS C 5201-1 の 4.4.1 による。

4.4.2

寸法(ゲージ法)  適切なジグを用いる。

(試料中

の 20 個)

表 による。

群 3 
4.6

絶縁抵抗

 
5.1 による。

ND

50

0

 
R≧1 GΩ

4.7

耐電圧

5.2 による。 
電圧:U=1.42U

ins

時間:60 秒間±5 秒間

 
 
JIS C 5201-1 の 4.7.3 による。

4.13  短時間過負荷

5.4 による。 
電圧:U

test

=2.5

n

70

R

P

形式

時間

... ... 
... ...

外観 
抵抗値

D

(試料中

の 20 個)

 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明

瞭である。 
表 10 による。

群 4 
4.17  はんだ付け性

d)

(Sn-Pb はんだ)

 
5.6 による。 
エージング:155  ℃で 4 時間の

乾燥 
SnPb はんだ(はんだ槽法) 
T

bath

:235  ℃±5  ℃

t

imm

:2 秒間±0.2 秒間

外観

D

40

f)

0

 
 
 
 
 
 
 
6.5 による。

(半分の

試料)

4.17  はんだ付け性

d)

(鉛フリーはんだ)

5.6 による。 
エージング:155  ℃で 4 時間の

乾燥 
SnAgCu はんだ(はんだ槽法) 
T

bath

:245  ℃±5  ℃

t

imm

:3 秒間±0.3 秒間

外観

(残りの

半分の

試料)

 
 
 
 
 
 
6.5 による。

群 5 
4.8

温 度 に よ る 抵 抗 値
変化

 
5.3 による。 
α

LCT

:20  ℃/LCT/20  ℃

α

UCT

:20  ℃/UCT/20  ℃

D

20

0

 
 
表 11 による。 
表 11 による。


16 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 12−品質認証試験計画(続き) 

試験

a)

試験条件

b)

D

c)

又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

群 6 
4.33  耐 プ リ ン ト 板 曲 げ

 
5.16 による。 
曲げ深さ:... mm

曲げ回数:...  回 
外観

抵抗値,最後の曲げた状態で測

定する。

D

20

0

 
 
電気的接続があり,回路オー

プンがない。 
外観の損傷がない。 
表 10 による。

(半分の

試料)

4.19  温度急変

5.8 による。 
5 サイクル 
T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

外観

抵抗値

(残りの

半分の

試料)

 
 
 
 
外観の損傷がない。 
表 10 による。

4.32  固着性

5.15 による。

形式

加圧力

... ... 
... ...

外観

 
 
 
 
外観の損傷がない。

4.23  一連耐候性 
−  高温

−  温湿度サイクル(試験

D b),最初のサイクル

−  低温

−  減圧 
 
−  温湿度サイクル(試験

D b),残りのサイクル

−  直流負荷 
 
−  最終測定

5.9 による。 
UCT:16 時間 
温度 55  ℃で 1 サイクル 
 
LCT:2  時間 
1 kPa,温度 15  ℃∼35  ℃で 1 時

温度 55  ℃で残りのサイクル 
 
電圧:定格電圧又は最高素子電

圧のいずれか小さい方,1 分間

外観 
 
抵抗値

絶縁抵抗

(全部の

試料)

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明
瞭である。 
表 10 による。 
6.2 による。 

群 7 
4.25.1 70

℃での耐久性

 
5.11 による。 
電圧:定格電圧又は最高素子電

圧のいずれか小さい方 
1.5 時間 ON 
/0.5 時間 OFF

試験時間:1 000 時間

外観 
 
抵抗値

絶縁抵抗

D

20

0

 
 
 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明
瞭である。 
表 10 による。 
6.2 による。 


17

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 12−品質認証試験計画(続き) 

試験

a)

試験条件

b)

D

c)

又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

群 8 
4.24  高温高湿(定常)

 
5.10 による。 
温度:40  ℃±2  ℃

相対湿度:

(93±3)%

試験時間:...  時間

外観 
 
抵抗値

絶縁抵抗

D

20

0

 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明

瞭である。 
表 10 による。 
6.2 による。 

群 9 
4.18  はんだ耐熱性

 
5.7 による。 
はんだ槽法 
T

bath

:260  ℃±5  ℃

t

imm

:10 秒間±1 秒間

外観

抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
 
外観の損傷がない。 
表 10 による。

4.35  耐炎性

5.17 による。 
接炎時間 t

a

:10 秒間

許容燃焼時間

(試料

中 5 個)

 
 
6.6 による。 

群 10 
4.4.3

寸法(詳細)

 

D

20

0

 
表 による。

4.25.3  カ テ ゴ リ 上 限 温

度での耐久性

5.12 による。 
UCT:1 000 時間 
外観 
 
抵抗値

絶縁抵抗

 
 
外観の損傷がなく,表示が明

瞭である。 
表 10 による。 
6.2 による。 

4.14  温度上昇 
(臨界抵抗値以下の抵抗
器に適用する。

5.5 による。 
U

test

n

R

P

70

温度上昇

(試料

中 6 個)

 
 
6.4 
による。

群 11 
4.38  静電気放電

 
5.18 による。

形式

印加電圧

... ... 
... ...

正極性 1 回及び負極性 1 回

外観 
 
抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明

瞭である。 
表 10 による。

4.29  部品の耐溶剤性

5.13 による。 
溶剤:イソプロピルアルコール
T

bath

:23  ℃±5  ℃

t

imm

:5 分間±0.5 分間

外観

(半分の

試料)

 
 
 
 
外観の損傷がない。


18 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 12−品質認証試験計画(続き) 

試験

a)

試験条件

b)

D

c)

又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

4.30  表示の耐溶剤性 
(表示のある抵抗器だけ

に適用する。

5.14 による。 
溶剤:イソプロピルアルコール
T

bath

:23  ℃±5  ℃

t

imm

:5 分間±0.5 分間

ラビング材質:脱脂綿

外観

(残りの

半分の

試料)

 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明

瞭である。

a)

  箇条番号は,JIS C 5201-1 による。

b)

  ここに規定する試験条件は,最も関係の深いパラメータによって適切な試験の概要を示すためであり,より詳

細に規定するこの規格の関連する箇条,又は引用規格よりも優先するものではない。

c)

  文字記号及び略号は,附属書 による。

d)

  この試験を受ける抵抗器は,群 1,群 2,群 3,副群 A1,副群 A2 又は副群 B1 の中で測定しないで,群 又は

群 の試料の数に含めない。


19

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 13−品質確認検査のための試験計画   

ロットごとの試験

試験

a)

試験条件

b)

 D

c)

又は

ND

c)

IL

c)

c

c)

 

要求性能

副群 A1 
4.5

抵抗値

d)

ND

100 %

9.1.1 による。

 
JIS C 5201-1 の 4.5.2 による。

副群 A2 
4.4.1

外観検査

e)

 
表示(適用可能な場合)

ND

S-4

0

 
JIS C 5201-1 の 4.4.1 による。

4.4.2

寸法(ゲージ法)

e)

適切なジグを用いる。

表 による。

副群 B1 
4.7

耐電圧

 
5.2 による。 
電圧:U=1.42U

ins

時間:60 秒間±5 秒間

ND

S-3

0

 
 
 
JIS C 5201-1 の 4.7.3 による。

4.13  短時間過負荷

5.4 による。 
電圧:U

test

=2.5

n

70

R

P

形状

時間

... ... 
... ...

外観 
 
抵抗値

D

 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明
瞭である。 
表 10 による。

副群 B2 
4.17  はんだ付け性

f)

(SnPb はんだ)

 
5.6 による。 
エージング:155  ℃で 4 時間

の乾燥 
SnPb はんだ(はんだ槽法) 
T

bath

:235  ℃±5  ℃

t

imm

:2 秒間±0.2 秒間

外観

D

S-3

f)

0

 
 
 
 
 
 
 
6.5 による。

4.17  はんだ付け性

f)

(鉛フリーはんだ)

5.6 による。 
エージング:155  ℃で 4 時間

の乾燥 
SnAgCu はんだ(はんだ槽法)
T

bath

:245  ℃±5  ℃

t

imm

:3 秒間±0.3 秒間

外観

S-3

f)

 
 
 
 
 
 
6.5 による。

副群 B3 
4.8

温度による抵抗値変化

(抵抗温度係数±50×10

6

/

K よりも優れた抵抗器に適
用する。

 
5.3 による。 
測定順序: 
20  ℃/LCT/20  ℃:α

LCT

20  ℃/UCT/20  ℃:α

UCT

D

S-3

0

 
 
 
表 11 による。 
表 11 による。


20 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 13−品質確認検査のための試験計画(続き) 

定期試験

試験

a)

試験条件

b)

 D

c)

又は

ND

c)

 

p

c)

n

c)

 

c

c)

要求性能

副群 C1

g)

4.33  耐 プ リ ン ト 板 曲

げ性

5.16 による。 
曲げ深さ:... mm

曲げ回数:…回 
外観

抵抗値,最後の曲げた状態で

測定する。

D 3 20

(半分

の試
料)

0

電気的導通があって,回路オー

プンがない。 
外観の損傷がない。 
表 10 による。

4.19  温度急変

5.8 による。 
5 サイクル 
T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

外観 
 
抵抗値

(残り

の半
分の

試料)

 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明瞭
である。 
表 10 による。

4.32  固着性

5.15 による。

形式

固着力

... ... 
... ...

外観

 
 
 
 
外観の損傷がない。

4.23  一連耐候性 
−  高温

−  温湿度サイクル(試

験 Db)

,最初のサイ

クル

−  低温 
−  減圧 
 
−  温湿度サイクル(試

験 Db)

,残りのサイ

クル

−  直流負荷 
 
 
−  最終測定

5.9 による。 
UCT:16  時間 
温度 55  ℃で 1 サイクル 
 
 
LCT:2 時間 
1 kPa,温度 15  ℃∼35  ℃で 1
時間

温度 55  ℃で残りのサイクル 
 
 
電圧:定格電圧又は最高素子
電圧のいずれか小さい方,1 分

外観 
 
抵抗値

絶縁抵抗

(全部

の試

料)

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明瞭
である。 
表 10 による。 
6.2 による。


21

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 13−品質確認検査のための試験計画(続き) 

試験

a)

試験条件

b)

D

c)

又は
ND

c

p

c)

n

c)

c

c)

要求性能

副群 C2

g)

4.25.1 70

℃での耐久

 
5.11 による。 
電圧:定格電圧又は最高素子

電圧のいずれか小さい方 
1.5 h ON/0.5 h OFF 
試験時間:1 000 時間

外観 
 
抵抗値

絶縁抵抗

D

3

20

0

 
 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明瞭
である。 
表 10 による。 
6.2 による。

副群 C3

g)

4.18  はんだ耐熱性

 
5.7 による。 
はんだ槽法 
T

bath

:260  ℃±5  ℃

t

imm

:10 秒間±1 秒間

外観

抵抗値

D

3

20

0

 
 
 
 
 
外観の損傷がない。 
表 10 による。

4.35  耐炎性

5.17 による。 
接炎時間 t

a

:10 秒間

許容燃焼時間

36

(試

料中

5 個)

 
 
6.6 による。

副群 D1

g)

4.8

温 度 に よ る 抵 抗

値変化

(抵抗温度係数±50×
10

6

/K よりも優れた抵

抗器に適用する。

 
5.3 による。 
測定順序: 
20  ℃/LCT/20  ℃:α

LCT

20  ℃/UCT/20  ℃:α

UCT

D

12

20

0

 
 
 
表 11 による。 
表 11 による。

副群 D2

g)

4.24  高温高湿(定常)

 
5.10 による。 
温度:40  ℃±2  ℃

相対湿度:

(93±3)%

試験時間:...  時間 
外観 
 
抵抗値 
絶縁抵抗

D

12

20

0

 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明瞭

である。 
表 10 による。 
6.2 による。


22 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

表 13−品質確認検査のための試験計画(続き) 

試験

a)

試験条件

b)

D

c)

又は
ND

c

p

c)

n

c)

c

c)

要求性能

副群 D3

 g)

4.4.3  寸法(詳細) 

D

36

20

0

 
表 による。

4.25.3  カテゴリ上限温

度での耐久性 

5.12 による。 
UCT:1 000 時間 
外観 
 
抵抗値 
絶縁抵抗

 
 
外観の損傷がなく,表示が明瞭

である。 
表 10 による。 
6.2 による。

4.14  温度上昇 
(臨界抵抗値以下の抵

抗器に適用する。

5.5 による。 
U

test

n

R

P

70

温度上昇

(試
料中

6 個)

 
 
6.4 による。

群 E

g)

4.38  静電気放電

 
5.18 による。

形式

印加電圧

... ... 
... ...

正極性 1 回及び負極性 1 回 
外観 
 
抵抗値

D

12

20

0

 
 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明瞭

である。 
表 10 による。

4.29  部品の耐溶剤性 
(個別規格に規定があ
る場合)

5.13 による。 
溶剤:イソプロピルアルコー
ル 
T

bath

:23  ℃±5  ℃

t

imm

:5 分間±0.5 分間

外観

(半分

の試
料)

 
 
 
 
 
外観の損傷がない。

4.30  表示の耐溶剤性 
(抵抗器に表示がある

場合)

5.14 による。 
溶剤:イソプロピルアルコール
T

bath

:23  ℃±5  ℃

t

imm

:5 分間±0.5 分間

ラビング材質:脱脂綿

外観

(残り

の半

分の

試料)

 
 
 
 
 
外観の損傷がなく,表示が明瞭
である。

a)

  箇条番号は,JIS C 5201-1 による。

b)

  ここに規定する試験条件は,最も関係の深いパラメータによって適切な試験の概要を示すためであり,より詳

細に規定するこの規格の関連する箇条,又は引用規格よりも優先するものではない。

c)

  文字記号及び略号は,附属書 による。

d)

  この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。9.1.1 によ

る出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全て検査する。抜取試料中に 1 個以上の不適合品が見つかった

場合には,このロットは不合格とする。

e)

  製造業者が,管理限界を超える抵抗器を取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の手法

を取り入れる場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

f)

  この試験を受ける抵抗器は,群 1,群 2,群 3,副群 A1,副群 A2 又は副群 B1 の中で測定しないで,群 又は

群 の試料の数に含めない。

g)

  全ての副群の試験は,1 個以上の不適合品が発生した場合に再試験する。再試験で,不適合品がないことを確認

する。再試験中,製品の出荷は継続してもよい。


23

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

附属書 A

(規定)

ジャンパー(0 Ω)抵抗器

A.1  一般事項 

この附属書は,作成する個別規格を適用する製品にジャンパー(0

 Ω)抵抗器が含まれ,ジャンパー(0 Ω)

抵抗器に同様の品質認証体系を適用する意図がある場合にだけ適用する。

この規格は,抵抗値をもつ通常の抵抗器と同様に,ジャンパー(0 Ω)抵抗器(以下,ジャンパー抵抗器

という。

)にも適用する。ただし,ジャンパー抵抗器の特質として,この附属書の箇条に規定する特別な要

求事項を考慮する必要がある。特に規定がない場合,この規格の本体を無条件に適用する。

A.2  特性及び定格 

図 に示す軽減曲線は,通常の抵抗器と同様に,ジャンパー抵抗器の負荷軽減にも適用する。ただし,

定格電流に関する軽減曲線は,規定しない。

ジャンパー抵抗器に対しては,

表 の代わりに表 A.1 を適用する。

表 A.1−ジャンパー抵抗器の定格 

形式

(形式記号)

定格電流

I

r

A

最大許容残留抵抗値

R

res max

mΩ

絶縁電圧

直流又は交流(最大値)

U

ins

V

注記  絶縁電圧は,1 分間の試験時間で検証している。しかしながら,長期間の絶縁性能は,湿度,有機物

及び絶縁層両端の電界強度の影響を受けることが分かっている。

ジャンパー抵抗器の抵抗温度係数又は抵抗値許容差の規定及び記号はなく,ジャンパー抵抗器と安定性

クラスとは関係がない。

A.3  試験及び試験の厳しさ 

ジャンパー抵抗器は,

通常の抵抗器に対する試験条件として規定している,

定格電圧 U

r

又は

n

70

R

P

U

=

の代わりに,定格電流

I

r

を用いる。

ジャンパー抵抗器には,通常の抵抗器に対する試験条件として規定している,定格電圧の倍数定格

U

n

U

r

又は

n

70

R

P

n

U

=

の代わりに,電流の倍数

I

n

I

r

を用いる。

ジャンパー抵抗器の試験に対しては,

U

max

又はその倍数に関して規定しない。

A.4  要求性能 

ジャンパー抵抗器には,安定性クラス及び許容抵抗値変化に関する要求事項を適用しない。代わりに,

試験後の最大許容残留抵抗値

R

res max

の順守を共通する要求事項として用いる。

ジャンパー抵抗器は,温度による抵抗値変化の試験を行わず,抵抗温度係数及び抵抗値変化の限界は適

用しない。


24 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

A.5  表示,包装及び発注情報 

この規格を適用する通常の抵抗器に表示をする場合と同様に,

ジャンパー抵抗器には,

次の表示を行う。

−  形式 RR の角形抵抗器には,単一桁の“0”

,又は単にゼロ・オーム(0 Ω)を表す規定の桁数の表示を

用いる。

−  形式 RC の円筒形抵抗器には,単一の黒帯か,又は,規定の本数の黒帯を用いる。

ジャンパー抵抗器の発注情報には,抵抗値許容差及び抵抗温度係数に関する情報を含めない。

A.6  付帯情報 

ジャンパー抵抗器には,箇条 の付帯情報を適用する。

A.7  品質認証手順 
A.7.1  
品質認証試験計画 

ジャンパー抵抗器の品質認証には,

表 12 に規定する試験計画を,A.3 及び A.4 によって変更して適用す

る。

JIS C 5201-1 の 4.14(温度上昇)に規定する温度上昇は,ジャンパー抵抗器にも適用する。

次の試験は,ジャンパー抵抗器には適用しない。

−  温度による抵抗値変化(JIS C 5201-1 の 4.8

−  静電気放電(JIS C 5201-1 の 4.38

A.7.2  品質確認検査のための試験計画 

ジャンパー抵抗器の品質確認検査には,

表 13 に規定するロットごとの試験,及び表 13 に規定する定期

試験の試験計画を,A.3 及び A.4 によって変更して適用する。

JIS C 5201-1 の 4.14 に規定する温度上昇は,ジャンパー抵抗器にも適用する。

次の試験は,ジャンパー抵抗器には適用しない。

−  温度による抵抗値変化(JIS C 5201-1 の 4.8

−  静電気放電(JIS C 5201-1 の 4.38


25

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

附属書 B

(参考)

文字記号及び略語

この規格で使用する文字記号及び略語は,次による。

B.1  文字記号 

文字記号

文字記号の説明

単位

合格判定数(許容不適合品数) 1

電極から電極への軸方向に沿って測定した長さ mm

直径

mm

基板曲げ試験における基板曲げ深さ mm

F

test

固着力

N

g

n

標準自由落下加速度  g

n

=9.806 65 m/s

2

 m/s

2

I

r

定格電流

A

質量

mg

曲げ回数,又はサイクル数 1

試料数

1

試験周期

P

70

周囲温度 70  ℃での定格電力 W

実測抵抗値

R

ins

絶縁抵抗

R

n

公称抵抗値

R

res

残留抵抗値

R

res max

最大許容残留抵抗値

ΔR

抵抗値変化

ΔR/R

事前の測定値に対する抵抗値変化 %

電圧,例えば,試験電圧など V

U

HBM

静電気放電(ESD)試験における人体モデル放電電圧 V

U

ins

絶縁電圧

V

U

max

素子最高電圧,最大許容電圧 V

U

r

定格電圧

R

P

U

=

70

r

 V

U

test

試験電圧

V

U

test max

試験電圧の最大値

V

t

a

耐炎性試験のさらし時間(接炎時間) s

t

b

耐炎性試験のさらし後の燃焼時間(許容燃焼時間) s

t

exp

一連耐候性試験のさらし時間 h

t

imm

耐溶剤性又は,はんだ槽試験の浸せき(漬)時間

s,min

t

load

電気的又は機械的試験の負荷時間 s

高さ(厚さ)

mm

T

bath

耐溶剤性又は,はんだ槽試験の槽温度

T

A

カテゴリ下限温度

T

B

カテゴリ上限温度

mm

α

LCT

カテゴリ下限温度と基準温度との間の抵抗温度係数 10

6

/K

α

UCT

カテゴリ上限温度と基準温度との間の抵抗温度係数 10

6

/K


26 
C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

B.2  略語 

略語

略語の説明

D

破壊試験

DMR

管理責任者(品質システム管理者)

ESD

静電気放電

HBM

静電気放電試験における人体モデル

IL

検査水準

LCT

カテゴリ下限温度

MET

素子最高温度

ND

非破壊試験

RC

円筒形抵抗器の形式,一般的に皮膜抵抗器に用いる。

RR

角形抵抗器の形式,一般的に皮膜抵抗器に用いる。

SPC

統計的工程管理

TA

技術認証

TADD

技術認証申告書

TAS

技術認証スケジュール

TC

温度係数

TCR

抵抗温度係数

UCT

カテゴリ上限温度

参考文献  JIS C 60068-1  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT)

JIS C 60068-2-6  環境試験方法−電気・電子−第 2-6 部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration

(sinusoidal)(IDT)

JIS C 60068-2-13  環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-13,Environmental testing−Part 2: Tests. Test M: Low air

pressure(IDT)

JIS C 60068-2-14  環境試験方法−電気・電子−第 2-14 部:温度変化試験方法(試験記号:N)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change

of temperature(IDT)

JIS C 60068-2-20  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T−端子付部品のはんだ


27

C 5201-8-1:2014 (IEC 60115-8-1:2014)

付け性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test

methods for solderability and resistance to soldering heat of leaded devices(IDT)

JIS C 60068-2-21  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60068-2-21 , Environmental testing − Part 2-21: Tests − Test U:

Robustness of terminations and integral mounting devices(IDT)

JIS C 60068-2-30  環境試験方法−電気・電子−第 2-30 部:温湿度サイクル(12+12 時間サイ

クル)試験方法(試験記号:Db)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-30,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp

heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)(IDT)

JIS C 60068-2-45  環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-45,Environmental testing. Part 2: Tests. Test XA and guidance:

Immersion in cleaning solvents(IDT)

JIS C 60068-2-58  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の

耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of

surface mounting devices (SMD)(MOD)

JIS C 60068-2-78  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-78,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp

heat, steady state(IDT)

JIS C 60695-11-5  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針

バーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame

test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

JIS C 61340-3-1  静電気−第 3-1 部:静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル

(HBM)の静電気放電試験波形

注記  対応国際規格:IEC 61340-3-1,Electrostatics−Methods for simulation of electrostatic effects

−Human body model (HBM) electrostatic discharge test waveforms component testing(IDT)

JIS Z 8000(規格群)  量及び単位

注記  対応国際規格:ISO 80000 (all parts),Quantities and units

IEC 60027-1,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General

IEC 60060-1,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements 
IEC 60195,Method of measurement of current noise generated in fixed resistors 
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