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C 5402-1-100

:2014

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  試験方法規格一覧  

1

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

7


C 5402-1-100

:2014

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。これによって,JIS C 5402-1-100:2005 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群の部編成は,この規格による。


   

日本工業規格

JIS

 C

5402-1-100

:2014

電子機器用コネクタ−試験及び測定−

第 1-100 部:一般−試験方法規格一覧

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-

Part 1-100: General-Applicable publications

序文 

この規格は,2012 年に第 3 版として発行された IEC 60512-1-100 を基とし,理解を助成するための補足

及び表形式の編集をして作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,電子機器用コネクタの試験規格群の構成について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60512-1-100:2012

,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-100:

General

−Applicable publications(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

試験方法規格一覧 

試験方法規格一覧は,

表 による。

注記  表 において,“従来からの JIS”は,JIS C 5402 の追補 によって,“新たに制定した JIS”に

順次置き換え,対応する“従来からの JIS”にそれぞれ優先して用いる。また,

“新たに制定し

た JIS”を全て制定した後に,従来からの JIS C 5402 は廃止する予定である。

表 1−試験方法規格一覧 

JIS 

試験

番号

試験名称

IEC

規格番号

新たな JIS

従来からの

JIS

及び箇条番号

C 5402 

電子機器用コネクタ試験方法

C 5402 

追補 

電子機器用コネクタ試験方法

C 5402-1 

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1 部:一般

60512-1 

C 5402-1-100 

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-100 部:
一般−試験方法規格一覧

60512-1-100


2

C 5402-1-100

:2014

   

表 1−試験方法規格一覧(続き)

JIS 

試験

番号

試験名称

IEC

規格番号

新たな JIS

従来からの

JIS

及び箇条番号

第 部:一般試験(検査) 

C 5402-1-1 

C 5402

の 4.1 1a 外観

60512-1-1 

C 5402-1-2 

C 5402

の 4.2 1b 寸法及び質量

60512-1-2 

C 5402-1-3 

1c 

電気的接触長

60512-1-3

C 5402-1-4 

1d 

コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)

60512-1-4

第 部:導通及び接触抵抗試験 

C 5402-2-1 

C 5402

の 5.4 2a 接触抵抗−ミリボルトレベル法

60512-2-1 

C 5402-2-2 

C 5402

の 5.3 2b 接触抵抗−規定電流法

60512-2-2 

C 5402-2-3 

C 5402

の 5.7 2c 接触抵抗の変動

60512-2-3 

2d 

(空き)

C 5402-2-5 

C 5402

の 5.5 2e コンタクトディスターバンス

60512-2-5 

C 5402-2-6 

C 5402

の 5.8 2f ハウジング(シェル)の導通性

60512-2-6 

2g 

(空き)

第 部:絶縁試験 

C 5402-3-1 

C 5402

の 5.2 3a 絶縁抵抗

60512-3-1 

第 部:電圧ストレス試験 

C 5402-4-1 

C 5402

の 5.1 4a 耐電圧

60512-4-1 

C 5402-4-2 

C 5402

の 5.9 4b 部分放電

60512-4-2 

C 5402-4-3 

4c 

耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル)

60512-4-3

第 部:電流容量試験 

C 5402-5-1 

C 5402

の 5.10 5a  温度上昇

60512-5-1 

C 5402-5-2 

C 5402

の 5.13 5b  電流・温度の軽減

60512-5-2 

第 部:動的ストレス試験 

C 5402-6-1 

6a 

加速度(定常)

60512-6-1

C 5402-6-2 

C 5402

の 6.32 6b  バンプ

60512-6-2 

C 5402-6-3 

C 5402

の 6.2 6c 衝撃

60512-6-3 

C 5402-6-4 

C 5402

の 6.1 6d 正弦波振動

60512-6-4 

6e 

ランダム振動

60512-6-5

第 部:衝撃試験(可動形コネクタ) 

C 5402-7-1 

c)

C 5402

の 6.10 7a  自由落下(繰返し)

60512-7-1

7b 

機械的強度衝撃

60512-7-2

第 部:静的な力試験(固定形コネクタ) 

C 5402-8-1 

c)

C 5402

の 6.14 8a  静的な力,水平方向

60512-8-1

8b 

静的な力,軸方向

60512-8-2

C 5402-8-3 

c)

C 5402

の 6.13 8c  操作レバーの強度

60512-8-3

第 部:耐久性試験 

C 5402-9-1 

c)

C 5402

の 6.3 9a 機械的動作

60512-9-1

9b 

電気的負荷及び温度

60512-9-2

9c 

電気的負荷を伴う機械的動作

60512-9-3

9d 

コンタクト保持機構及びシールの耐久性(メンテナ

ンス,エージング)

60512-9-4

9e 

電流負荷サイクル

60512-9-5


3

C 5402-1-100

:2014

表 1−試験方法規格一覧(続き) 

JIS 

試験

番号

試験名称

IEC

規格番号

新たな JIS

従来からの

JIS

及び箇条番号

第 10 部:過負荷試験 

10a 

廃止

10b 

廃止

10c 

(空き)

C 5402-10-4 

C 5402

の 5.11

10d 

電気的過負荷(コネクタ)

60512-10-4

第 11 部:耐候性試験 

C 5402-11-1 

C 5402

の 7.10 11a 

一連耐候性

60512-11-1 

C 5402-11-2 

11b 

低温・減圧・湿度複合シーケンス

60512-11-2

C 5402-11-3 

C 5402

の 7.3 11c 

高温高湿(定常)

60512-11-3 

C 5402-11-4 

C 5402

の 7.2 11d 

温度急変

60512-11-4 

C 5402-11-5 

11e 

かびの成長

60512-11-5 

C 5402-11-6 

C 5402

の 7.1 11f 

腐食,塩水噴霧

60512-11-6 

C 5402-11-7 

11g 

混合ガス流腐食

60512-11-7

C 5402-11-8 

11h 

砂じん

60512-11-8

C 5402-11-9 

C 5402

の 7.8 11i 

高温

60512-11-9 

C 5402-11-10 

C 5402

の 7.9 11j 

低温

60512-11-10 

C 5402-11-11 

C 5402

の 7.7 11k 

減圧

60512-11-11 

11l 

(使用禁止)

C 5402-11-12 

C 5402

の 7.4 11m 

温湿度サイクル

60512-11-12 

C 5402-11-13 

11n 

ガスタイト・無はんだラッピング接続

60512-11-13

11o 

(使用禁止)

C 5402-11-14 

11p 

単一ガス流腐食

60512-11-14

第 12 部:はんだ付け試験 

C 5402-12-1 

c)

C 5402

の 7.11 12a 

はんだ付け性,はんだぬれ性(ウェッティング)

はんだ槽法

60512-12-1

C 5402-12-2 

c)

C 5402

の 7.11 12b 

はんだ付け性,はんだぬれ性(ウェッティング)

はんだごて法

60512-12-2

12c 

はんだ付け性,はんだはじき(ディウェッティン

グ)

60512-12-3

C 5402-12-4 

c)

C 5402

の 7.12 12d 

はんだ耐熱性,はんだ槽法

60512-12-4

C 5402-12-5 

c)

C 5402

の 7.12 12e 

はんだ耐熱性,はんだごて法

60512-12-5

C 5402-12-6 

12f 

自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に

対する封止

60512-12-6

C 5402-12-7 

12g 

はんだ付け性,平衡法

60512-12-7

第 13 部:機械的動作試験 

C 5402-13-1 

C 5402

の 6.12 13a 

結合力及び離脱力

60512-13-1 

C 5402-13-2 

C 5402

の 6.6 13b 

挿入力及び引抜力

60512-13-2 

13c 

廃止

13d 

廃止

C 5402-13-5 

C 5402

の 6.11

13e 

極性及びキーイング

60512-13-5


4

C 5402-1-100

:2014

   

表 1−試験方法規格一覧(続き)

JIS 

試験

番号

試験名称

IEC 

規格番号

新たな JIS

従来からの

JIS

及び箇条番号

第 14 部:封止(気密性)試験

14a 

(空き)

C 5402-14-2 

c)

C 5402

の 7.6 14b 

封止(気密性)

(微少エアリーク)

60512-14-2

14c 

(空き)

C 5402-14-4 

c)

C 5402

の 7.5 及び

7.6 

14d 

浸せき,防水

60512-14-4

C 5402-14-5 

c)

C 5402

の 7.6 14e 

浸せき,減圧

60512-14-5

C 5402-14-6 

c)

C 5402

の 7.6 14f 

インターフェイシャルシーリング

60512-14-6

C 5402-14-7 

14g 

噴射水

60512-14-7

第 15 部:コネクタ試験(機械的試験) 

C 5402-15-1 

C 5402

の 6.15

15a 

インサート内のコンタクト保持

60512-15-1

C 5402-15-2 

C 5402

の 6.17 15b 

ハウジング内のインサート保持(軸方向)

60512-15-2 

C 5402-15-3 

C 5402

の 6.18 15c 

ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向)

60512-15-3 

C 5402-15-4 

C 5402

の 6.19 15d 

コンタクトの挿入,解放及び引抜力

60512-15-4 

C 5402-15-5 

C 5402

の 6.31

15e 

インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転
(nutation)

60512-15-5

C 5402-15-6 

C 5402

の 6.8

15f 

コネクタカップリング機構の効果

60512-15-6

15g 

保護カバーの強度

60512-15-7

C 5402-15-8 

C 5402

の 6.16

15h 

コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性

60512-15-8

第 16 部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験 

C 5402-16-1 

C 5402

の 6.5 16a 

プローブダメージ

60512-16-1 

C 5402-16-2 

C 5402

の 6.20

16b 

リストリクテッドエントリ

60512-16-2

C 5402-16-3 

C 5402

の 6.21 16c 

コンタクト曲げ強度

60512-16-3 

C 5402-16-4 

C 5402

の 6.22 16d 

引張強度(圧着接続)

60512-16-4 

C 5402-16-5 

C 5402

の 6.4

16e 

ゲージ保持力(弾性コンタクト)

60512-16-5

C 5402-16-6 

C 5402

の 6.26

16f 

ターミネーション強度

60512-16-6

C 5402-16-7 

C 5402

の 6.23 16g 

圧着後のコンタクトの変形測定

60512-16-7 

C 5402-16-8 

a)

 C 

5402

の 6.24

16h 

インシュレーショングリップの有効性(圧着接続)

60512-16-8

C 5402-16-9 

a)

 C 

5402

の 6.25

16i 

接地コンタクトスプリングの保持力

60512-16-9

16j 

(空き)

16k 

ストリッピングフォース,無はんだラッピング接

60512-16-11

C 5402-16-13 

a)

16m 

ラッピングの巻き戻し,無はんだラッピング接続

60512-16-13

16n 

曲げ強度,固定形おすタブ

60512-16-14

16o 

(使用禁止)

16p 

ねじれ強度,固定形おすタブ

60512-16-16

16q 

引張強度及び圧縮強度,固定形おすタブ

60512-16-17

16r 

シミュレーションによるコネクタインサート内の

おすコンタクトのふれ

60512-16-18

16s 

(空き)

C 5402-16-20 

16t 

機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)

60512-16-20

16u 

機械的外部応力によるウイスカの試験

60512-16-21


5

C 5402-1-100

:2014

表 1−試験方法規格一覧(続き)

JIS 

試験

番号

試験名称

IEC 

規格番号

新たな JIS

従来からの

JIS

及び箇条番号

第 17 部:ケーブルクランプ試験 

C5402-17-1 

a)

 C 

5402

の 6.27

17a 

ケーブルクランプ強度

60512-17-1

C 5402-17-2 

a)

 C 

5402

の 6.28

17b 

ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)

60512-17-2

17c 

ケーブルクランプ強度(ケーブルの引張り)

60512-17-3

C 5402-17-4 

a)

C 5402

の 6.29

17d 

ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)

60512-17-4

第 18 部:爆発による危険性試験

第 19 部:耐化学薬品試験

19a 

絶縁被覆付クリンプバレルの耐液性

60512-19-1

19b 

(空き)

C 5402-19-3 

19c 

耐液性

60512-19-3

第 20 部:耐火性試験

20a 

ニードルフレーム(注射針バーナ)

60512-20-1

C 5402-20-2 

20b 

耐火性

60512-20-2

20c 

耐火性,グローワイヤ(赤熱棒押付け)

60512-20-3

第 21 部:高周波抵抗試験

21a 

高周波シャント抵抗

60512-21-1

第 22 部:静電容量試験

C 5402-22-1 

c)

 C 

5402

の 5.12 22a 

静電容量

60512-22-1

第 23 部:シールド試験及びフィルタリング試験

23a 

(空き)

23b 

複合フィルタの抑制特性

60512-23-2

C 5402-23-3 

23c 

コネクタ及びアクセサリのシールド効果

60512-23-3

C 5402-23-4 

23d 

時間領域での伝送線路の反射

60512-23-4

23e 

(空き)

23f 

(空き)

23g 

伝達インピーダンス

60512-23-7

第 24 部:磁気障害試験

24a 

残留磁気

60512-24-1


6

C 5402-1-100

:2014

   

表 1−試験方法規格一覧(続き)

JIS 

試験

番号

試験名称

IEC 

規格番号

新たな JIS

従来からの JIS

及び箇条番号

第 25 部:シグナルインティグリティ試験

25a 

クロストーク比

60512-25-1

25b 

減衰(挿入損失)

60512-25-2

25c 

立上り時間劣化

60512-25-3

25d 

伝搬遅延

60512-25-4

25e 

リターンロス

60512-25-5

25f 

アイパターン及びジッタ

60512-25-6

C 5402-25-7 

c)

C 5402

の 5.6 25g 

イ ン ピ ー ダ ン ス , 反 射 係 数 及 び 電 圧 定 在 波 比

(VSWR)

60512-25-7

25h 

(空き)

25i 

エイリアンクロストーク

60512-25-9

26-100

測定設備,試験及び基準構成並びに IEC 60603-7

によるコネクタの測定−試験 26a∼26g

 b)

60512-26-100

27 

a

g

 b)

500 MHz

以下のシグナルインティグリティ試験

60512-27-1

60512-27-7

 a)

27-100

500 MHz

以下のシグナルインティグリティ試験−

試験 27a∼27g

  b)

IEC 60603-7 シリーズコネクタ

用)

60512-27-100

28-100

1 000 MHz

以下のシグナルインティグリティ試験

−試験 28a∼28g

 b)

IEC 60603-7 及び IEC 61076-3

シリーズコネクタ用)

60512-28-100

29-100

500 MHz

以下のシグナルインティグリティ試験−

試験 29a∼29g

 b)

(M12 形コネクタ用)

60512-29-100

 a)

99-001

リモート電源と接続したツイストペアケーブルに
使用するコネクタ

60512-99-001

a)

これらの規格は,審議中である。

b)

試験 a∼g は,次の試験を示す。

a

:挿入損失(IL)

b

:反射損失(RL)

c

:近端クロストーク(NEXT)

d

:遠端クロストーク(FEXT)

e

:伝達インピーダンス(Zt)

f

:横方向変換損失(TCL)

g

:横方向伝達変換損失(TCTL)

c)

これらの規格は,JIS の作成を予定している。


7

C 5402-1-100

:2014

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 5402-1-100:2014

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-100 部:一般−試

験方法規格一覧

IEC 60512-1-100:2012

  Connectors for electronic equipment−Tests and measurements

−Part 1-100: General−Applicable publications

(I)JIS の規定

(II) 
国際規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇 条 番 号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

1

適 用 範

この規格は,電子機

器 用 コ ネ ク タ の 試
験 規 格 群 の 構 成 に

ついて規定する。

1

規格の経緯などについて

記述している。

削除

規格の経緯などについての記

述は,不要なので削除している
ため,点線の下線を付けてい

る。

2

試 験 方

法 規 格 一

表 1 で,電子機器用

コ ネ ク タ の 試 験 方
法規格一覧を規定

2

JIS

と同じ

変更

表形式を変更しただけで,実質

的に技術的差異はない。

試験番号 25h の IEC 規格
番号 60512-25-8 を削除し

た。

削除

IEC/SC48B

の審議において予

備業務項目(PWI)となってい

るため,実質的に技術的差異は

ない。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60512-1-100:2012,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

7

C

 5402-1

-100


2014