>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 適用範囲 1 

2 引用規格 1 

3 用語及び定義  3 

4 一般事項 7 

4.1 単位及び記号  7 

4.2 推奨値  7 

4.3 表示  7 

4.4 品質認証手順  7 

5 試験及び測定  7 

5.1 一般事項  7 

5.2 試験及び測定の要求事項  7 

5.3 乾燥  8 

5.4 外観検査及び寸法検査  8 

5.5 静電容量及び内部抵抗測定法1(定電流放電法)  8 

5.6 静電容量及び内部抵抗測定法2  13 

5.7 漏れ電流  14 

5.8 電圧保持  15 

5.9 端子強度  16 

5.10 はんだ耐熱性  17 

5.11 はんだ付け性  17 

5.12 温度急変  18 

5.13 振動  18 

5.14 高温高湿(定常)  19 

5.15 耐久性  19 

5.16 貯蔵  20 

5.17 高温及び低温特性  20 

5.18 部品の耐溶剤性  21 

5.19 表示の耐溶剤性  21 

5.20 耐炎性  21 

5.21 圧力弁(適用する場合)  22 

附属書A(規定)静電容量と内部抵抗とによる区分  23 

附属書B(参考)低周波交流法による低抵抗コンデンサの静電容量測定方法  25 

附属書C(参考)コンデンサの熱平衡時間  26 

附属書D(参考)充電効率及び放電効率並びに測定電流について 28 


 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 目次 

(2) 

ページ 

附属書E(参考)公称内部抵抗が不明確な場合のコンデンサ測定電流の設定手順  29 

附属書F(参考)測定不確実性及びインセット限界値に関する方針  30 

附属書G(参考)JIS C 5160-1:2009(初版)との対比表  33 

附属書Q(規定)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順  34 

 

 


 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

(3) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。これによって,JIS C 5160-1:2009は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 5160の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 5160-1 第1部:品目別通則 

JIS C 5160-2 第2部:品種別通則−パワー用電気二重層コンデンサ 

JIS C 5160-2-1 第2-1部:ブランク個別規格−パワー用電気二重層コンデンサ−評価水準EZ 

 

 


 

  

日本工業規格          JIS 

 

C 5160-1:2018 

 

(IEC 62391-1:2015) 

電気及び電子機器用固定電気二重層コンデンサ− 

第1部:品目別通則 

Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic 

equipment-Part 1: Generic specification 

 

序文 

この規格は,2015年に第2版として発行されたIEC 62391-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。 

この規格の初版との対比表に説明を付けて附属書Gに示す。 

 

適用範囲 

この規格は,電気及び電子機器用の主に直流に用いる固定電気二重層コンデンサ(以下,コンデンサと

いう。)の品質認証他の目的のために,品種別通則及び個別規格に用いる標準用語,検査手順及び試験法に

ついて規定する。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 62391-1:2015,Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic equipment

−Part 1: Generic specification(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ

とを示す。 

 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 0617(規格群) 電気用図記号 

注記 対応国際規格:IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams(MOD) 

JIS C 5005-2 品質評価システム−第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択

及び活用(統計的工程品質限界の評価手順) 

注記 対応国際規格:IEC 61193-2,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of sampling 

plans for inspection of electronic components and packages(IDT) 

JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号 

注記 対応国際規格:IEC 60062,Marking codes for resistors and capacitors(MOD) 

JIS C 60063 抵抗器及びコンデンサの標準数列 


C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

注記 対応国際規格:IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors(IDT) 

JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部:通則及び指針 

注記 対応国際規格:IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT) 

JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:

A) 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT) 

JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:

B) 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat

(IDT) 

JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc) 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration 

(sinusoidal)(IDT) 

JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N) 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of 

temperature(IDT) 

JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部:試験−試験T−端子付部品のはんだ

付け性及びはんだ耐熱性試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test 

methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT) 

JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-21部:試験−試験U:端子強度試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness 

of terminations and integral mounting devices(IDT) 

JIS C 60068-2-45:1995 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-45:1980,Basic environmental testing procedures−Part 2-45: Tests−

Test XA and guidance: Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993(IDT) 

JIS C 60068-2-58:2016 環境試験方法−電気・電子−第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け

性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-58:2015,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test 

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface 

mounting devices (SMD)(MOD) 

JIS C 60068-2-78:2015 環境試験方法−電気・電子−第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記

号:Cab) 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-78:2012,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp 

heat, steady state(IDT) 

JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バーナ)

試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針 

注記 対応国際規格:IEC 60695-11-5,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame test 

method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT) 

JIS Z 8000-1 量及び単位−第1部:一般 


C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

注記 対応国際規格:ISO 80000-1,Quantities and units−Part 1: General(MOD) 

IEC 60027 (all parts),Letter symbols to be used in electrical technology 

IEC 60050 (all parts),International Electrotechnical Vocabulary 

IEC 60294:2012,Measurement of the dimensions of a cylindrical component with axial terminations 

IEC 60717:2012,Method for the determination of the space required by capacitors and resistors with 

unidirectional terminations 

 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。 

3.1 

品種(type) 

部品の区分で,同じ設計上の特色があって,また,品質認証試験又は品質確認検査が,同一区分ででき

るような同じ製造技術を用いて製造されるもの。 

注記1 数種類の個別規格で規定している部品でも同一品種としてもよい。 

注記2 JIS C 5101-1の2.2.39(品種)の中で“一般に一つの個別規格を用いる。”について注記の説

明で言い直されているので,“一般に,一つの個別規格を用いる。”を削除した。 

3.2 

形状(style) 

品種を更に分類するもので,主に形状に関するもの。 

注記 形状には種々の異なったものがあり,一般に構造的な分類である。 

3.3 

クラス(class) 

コンデンサの,用途による静電容量値及び内部抵抗値の区分。 

3.4 

ファミリ(family) 

コンデンサの中で,物理的特性が同一の特性及び/又は同一機能を明確に示すもの。 

3.5 

サブファミリ(subfamily) 

コンデンサのファミリの中で,同一技術的方法での製造による区分。 

3.6 

直流コンデンサ(d.c. capacitor) 

基本的に,直流電圧の用途に設計したコンデンサ。 

注記 直流コンデンサは,交流電圧用途には適していない。 

3.7 

公称静電容量,CN(nominal capacitance,CN) 

コンデンサの設計時の静電容量値で,通常,コンデンサに表示する静電容量値。 

3.8 

カテゴリ温度範囲(category temperature range) 

コンデンサが設計上連続的に使用できる周囲温度範囲。 

注記 この温度範囲は,カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度とによって規定する。 


C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

3.9 

カテゴリ下限温度(lower category temperature) 

コンデンサが設計上連続的に使用できる最低周囲温度。 

3.10 

カテゴリ上限温度(upper category temperature) 

コンデンサが設計上連続的に使用できる,自己発熱を含んだ最高周囲温度。 

注記 JIS E 5012-3の3.17の注記を削除して修正した。 

3.11 

定格温度(rated temperature) 

定格電圧を印加して連続的に使用できる最高周囲温度。 

3.12 

定格電圧,UR(rated voltage,UR) 

カテゴリ下限温度と定格温度との間の任意の温度で,コンデンサに連続又は繰り返して印加できる直流

電圧の最高電圧又はパルス電圧の最大ピーク電圧値。 

3.13 

カテゴリ電圧,UC(category voltage,UC) 

カテゴリ上限温度で,コンデンサに連続して印加できる最高電圧。 

3.14 

温度軽減電圧(temperature derated voltage) 

定格温度とカテゴリ上限温度との間の任意の温度で,コンデンサに連続して印加できる最高電圧。 

注記 定格温度とカテゴリ上限温度との間の温度でコンデンサに印加できる電圧は,温度に依存する

ため,適用する場合は,個別規格に規定することが望ましい。 

3.15 

サージ電圧比(surge voltage ratio) 

コンデンサの端子間に,カテゴリ温度範囲の任意の温度で,規定時間印加できる最高瞬間電圧を定格電

圧又は温度軽減電圧のうちの適切なもので除した比率。 

注記 この電圧を印加することができる1時間当たりの回数を個別規格に規定している。 

3.16 

定格リプル電圧(rated ripple voltage) 

コンデンサに規定する温度で連続的に印加できる,直流電圧に重畳する規定する周波数の交流電圧の最

大実効値。 

注記 コンデンサに印加した直流電圧と重畳した交流電圧のピーク値との和が,適用する定格電圧又

は電圧軽減電圧の値以下となる。 

3.17 

逆電圧(reverse voltage) 

コンデンサの端子に,極性と逆方向に印加できる電圧。 

3.18 

定格リプル電流(rated ripple current) 

規定する温度で,コンデンサに連続的に印加できる規定する周波数の最大許容交流電流の実効値。 


C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

3.19 

時定数(time constant) 

内部抵抗値(回路抵抗を含む。)と静電容量値との積。 

注記 時定数は,通常,秒(s)で表す。 

3.20 

内部抵抗(internal resistance) 

コンデンサの静電容量値と抵抗値とを等価直列回路で表す場合の抵抗成分。 

注記 内部抵抗は,オーム(Ω)で表す。 

3.21 

IRドロップ(IR Drop) 

コンデンサからの放電電流と内部抵抗との積によって放電当初に発生するコンデンサ端子間の電圧降下。 

3.22 

コンデンサの最高温度(maximum temperature of a capacitor) 

コンデンサの外部表面で最も高い箇所の温度。 

注記 端子は,外部表面の一部になる。 

3.23 

コンデンサの最低温度(minimum temperature of a capacitor) 

コンデンサの外部表面で最も低い箇所の温度。 

注記 端子は,外部表面の一部になる。 

3.24 

低温貯蔵温度(minimum storage temperature) 

コンデンサが無負荷状態で損傷しないで耐える最低周囲温度[JIS C 5101-1の2.2.13(最低保存温度)参

照]。 

3.25 

高温貯蔵温度(maximum storage temperature) 

コンデンサが無負荷状態で損傷しないで耐える最高周囲温度[JIS C 5101-1の2.2.11(最高保存温度)参

照)]。 

3.26 

静電容量の温度特性(temperature characteristic of capacitance) 

カテゴリ温度範囲内の規定する温度範囲における静電容量値の可逆的変化の最大値。 

注記1 この用語は,主に,温度による静電容量の変化(直線的又は非直線的)が,正確,かつ,精

密に表すことができないコンデンサに適用している。 

注記2 静電容量の温度特性は,一般的に,基準温度20 ℃の静電容量に対する,ある温度における

静電容量値の変化をパーセント(%)で表す。 

3.27 

外観損傷(visible damage) 

意図したコンデンサ本来の使用目的を失うような目視による損傷。 

3.28 

漏れ電流(leakage current) 

規定する時間で充電後,コンデンサに流れる電流値。 


C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

注記1 漏れ電流は,通常,アンペア(A)で表す。 

注記2 通常,時間とともに指数関数的に減少するコンデンサへの充電のための電流とコンデンサ自

体の暗電流(本来の意味での漏れ電流)との和になる。 

3.29 

電圧保持,自己放電(maintain voltage,self discharge) 

規定する時間で充電後,規定する時間無負荷で放置後にコンデンサの端子間に保持している電圧。 

3.30 

温度上昇(temperature rise) 

充電及び/又は放電にて,コンデンサの内部損失によって引き起こされるコンデンサの温度上昇。 

注記 温度上昇は,周囲温度の影響を受ける。 

3.31 

絶縁形コンデンサ(insulated capacitor) 

全ての端子と外装との間に規定する電圧(定格電圧以上)を印加できるコンデンサ。 

3.32 

非絶縁コンデンサ(uninsulated capacitor) 

全ての端子と外装との間に規定する電圧(定格電圧以上)を印加できないコンデンサ。 

3.33 

表面実装用コンデンサ(surface mount capacitor) 

小さい寸法で,端子の性質と形状とが,ハイブリッド回路及びプリント配線板上での使用に適した固定

コンデンサ。 

3.34 

耐炎性(passive flammability) 

コンデンサが,外部からの熱によって燃焼する程度。 

注記 外部からの熱には,例えば,炎がある。 

3.35 

発炎性(active flammability) 

コンデンサの内部発熱によって燃焼する程度(自己発火)。 

注記 内部発熱には,例えば,不完全な内部接触によるスパークによるものがある。 

3.36 

耐炎性のカテゴリ(category of passive flammability) 

炎に規定時間さらした後の燃焼の最大時間によって規定する区分。 

3.37 

質量(mass) 

全ての固形部分を含むコンデンサの質量。 

3.38 

体積(volume) 

端子を除くコンデンサ本体の体積。 


C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

一般事項 

4.1 

単位及び記号 

単位,図記号,文字記号及び用語は,できるだけ,次の規格から採用する。 

− JIS C 0617(規格群) 

− JIS Z 8000-1 

− IEC 60027シリーズ 

− IEC 60050シリーズ 

これらの規格に規定がない用語が必要となった場合は,上記の規格の原則に従って用いることが望まし

い。 

4.2 

推奨値 

4.2.1 

一般事項 

各品種別通則には,サブファミリに応じた推奨値を規定する。 

注記 コンデンサの種類による定格電圧の推奨値を規定することはできない。 

4.2.2 

公称静電容量の推奨値 

公称静電容量の推奨値は,JIS C 60063に規定するE標準数列から選定する。 

注記 対応国際規格では,R標準数列となっているが,明らかな誤記のため修正した。 

4.2.3 

クラス 

コンデンサのクラスは,静電容量の大小及び内部抵抗の高低によって区分する。詳細は,附属書Aに規

定する。 

4.3 

表示 

4.3.1 

一般事項 

品種別通則には,コンデンサ本体及び/又は包装に表示する,識別事項及びその他を規定する。 

小さいコンデンサの表示に対しては,優先順位を個別規格に規定する。 

4.3.2 

記号化 

静電容量値,静電容量許容差又は製造年月(又は年週)を記号化して表す場合は,JIS C 5062に規定す

る事項から記号を選定する。 

4.4 

品質認証手順 

品質認証手順は,附属書Qによる。 

 

試験及び測定 

5.1 

一般事項 

品種別通則及び/又はブランク個別規格には,実施する試験項目,試験の前後,又は試験の副群の前後

にどのような測定を行うか,及びそれらの実施する順序を規定する。各試験は,記載の順に行う。各試験

における初期測定と最終測定との測定条件は,同じとする。 

品質評価制度の中の該当規格が,品種別通則及びブランク個別規格と異なる試験方法を含む場合には,

それらの事項を全て規定する。 

全ての規格の規定値は,絶対値である。測定の不確実性原理を考慮した原則を附属書Fに記載する。 

5.2 

試験及び測定の要求事項 

5.2.1 

試験条件 

品種別通則,ブランク個別規格及び個別規格(以下,“下位規格”という。)に規定がない場合には,全


C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

ての試験は,次に示すJIS C 60068-1の4.3(測定及び試験に用いる標準大気条件)による標準状態で行う。 

− 温度:15 ℃〜35 ℃ 

− 相対湿度:25 %〜75 % 

− 気圧:86 kPa〜106 kPa 

5.2.2 

測定条件 

全ての測定は,下位規格に規定がない場合,次に示すJIS C 60068-1の4.3による標準状態で行う。 

− 温度:20 ℃±2 ℃ 

全ての測定は,5.2.4による温度処理を終了後に行う。 

5.2.3 

電圧処理 

定格電圧URまで直流電源で充電し,30分間保持する。放電は適切な放電装置を用いて放電する。 

5.2.4 

温度処理 

コンデンサ全体が5.2.2に規定する測定温度に到達するまで,十分な時間保持する(附属書C参照)。 

5.3 

乾燥 

コンデンサは,下位規格に規定がない場合,温度55 ℃±2 ℃,相対湿度20 %以下の空気循環式恒温槽

の中で96時間±4時間放置して乾燥する。 

その後,コンデンサは,活性アルミナ又はシリカゲルのような適切な乾燥剤を用いてデシケータの中で

冷却してもよい。また,規定する試験が始まるまで,その中に放置する。 

5.4 

外観検査及び寸法検査 

5.4.1 

外観検査 

状態,でき栄え(workmanship)及び仕上げは,目視で検査したときに満足しなければならない。 

表示は,目視で検査したときに明瞭で,下位規格の要求事項に適合しなければならない。 

5.4.2 

寸法(ゲージ法) 

下位規格にゲージ法の適用が適切であると規定する寸法は,下位規格の規定値を満足しなければならない。

ゲージ法を適用する場合には,測定は,IEC 60294又はIEC 60717の規定によって行う。 

5.4.3 

寸法(詳細) 

下位規格に規定する全ての寸法を検査した場合に,規定値を満足しなければならない。 

5.5 

静電容量及び内部抵抗測定法1(定電流放電法) 

5.5.1 

測定回路 

静電容量及び内部抵抗の測定は,定電流充放電で行う。その測定回路を図1に示す。 


C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

 

 

 図記号 

Icc 

:定電流 

UCV 

:定電圧 

A  

:直流電流計 

V  

:直流電圧記録計 

S  

:切替スイッチ 

Cx 

:供試コンデンサ 

    

:定電流放電器 

a) 

:定電流電源 

b) 

:定電圧電源 

 

図1−定電流放電法の基本回路 

 

5.5.2 

測定装置 

測定装置は,コンデンサの定電流充電,定電圧充電及び定電流放電ができ,かつ,図2に示すようにコ

ンデンサ端子間電圧を連続的に測定できる装置とする。測定装置は,電流及び電圧を設定し測定できる,

精度が±1 %以内の装置とする。 

電源は,充放電効率95 %に相当する充電電流を供給し,定電圧充電時間が設定できる装置とする。定電

流放電器は,表1又は表2にそれぞれに規定する定電流で放電できなければならない。直流電圧計は,電

圧の測定分解能が5 mV以下で,かつ,サンプリング間隔が100ミリ秒間以下で測定及び記録ができる電

圧計とする。 

電源 

cc 

CV 


10 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

 

 

図記号 

UR  : 
U1  : 
U2  : 

ΔU3 : 

TCV : 

 
定格電圧(V) 
算出開始電圧(V) 
算出終了電圧(V) 
電圧降下(V) 
定電圧充電時間(s) 

図2−静電容量及び内部抵抗の測定におけるコンデンサ端子間電圧の時間特性 

 

5.5.3 

測定手順 

5.5.3.1 

一般事項 

測定は,コンデンサ端子間電圧の時間特性を分析して行う。 

測定方法は,クラス(附属書A参照)に応じて,5.5.3.2又は5.5.3.3に従って行い,その測定方法の選択

は下位規格の規定に従う。 

電圧処理は5.2.3,温度処理は5.2.4に従い,下位規格に乾燥の規定がある場合,測定前に5.3の乾燥を行

う。 

コンデンサ端子間電圧は,測定を通して測定し,その値を記録する。 

注記 公称内部抵抗が不明確な場合のコンデンサ測定電流の設定手順について,附属書Eに示す。 

5.5.3.2 

測定法1A(クラス1,クラス2,クラス3及びクラス4) 

測定条件は,下位規格に規定がない場合,表1による。充電電流(Icc)は,コンデンサの定格電圧UR

及び公称内部抵抗RNから算出したIcc(UR/38RN)に基づき,充電効率95 %で充電できる電流値とする。

放電電流は,公称静電容量に応じて,静電容量及び内部抵抗の測定でそれぞれ設定する。 

試験は,次の手順で行う。 

a) コンデンサは定電流で充電する。 

b) 電源の外部出力電圧が設定値に達したとき,定電圧を印加して充電する。 

c) 定電流放電器を用いて定電流放電する。 

d) 放電時のコンデンサの端子間電圧U1及びU2をそれぞれ測定する(図2参照)。 

Δ 

Δ 


11 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

表1−測定法1Aの測定条件 

測定条件 

クラス(用途) 

クラス1 

クラス2 

クラス3 

クラス4 

 

メモリバックアップ 

エネルギ貯蔵 

パワー 

瞬間パワー 

定電流充電 

mA 

95 %充電効率a) 

定電圧充電時間 

min 

30 

静電容量測定電流b) mA 

1×CN 

0.4×CNUR 

4×CNUR 

40×CNUR 

内部抵抗測定電流c) mA 

10×CN 

4×CNUR 

40×CNUR 

400×CNUR 

U1 

充電電圧の80 %の値(0.8×UR) 

U2 

充電電圧の40 %の値(0.4×UR) 

クラス3及びクラス4は,測定法1Bを用いてもよい。 
10 A以下の放電電流値は,有効数字1桁とし,算出値の2桁目は,切り下げる。 
10 Aを超える放電電流値は,有効数字2桁とし,算出値の3桁目は,切り下げる。 

注記 CNは,公称静電容量であってファラド(F)で表し,URは,定格電圧であってボルト(V)で表す。 
注a) 充放電効率95 %に対する一般的な考え方を,附属書Dに示す。 

b) ΔU3が初期特性で充電電圧の5 %(0.05×UR)を超える場合は,放電電流を1/2,1/5又は1/10の値に

減らしてもよい。 

c) ΔU3が初期特性で充電電圧の20 %(0.20×UR)を超える場合は,放電電流を1/2,1/5又は1/10の値

に減らしてもよい。 

 

5.5.3.3 

測定法1B(クラス3,クラス4及びクラス5) 

測定条件は,下位規格に規定がない場合,表2による。充電電流(Icc)は,コンデンサの定格電圧UR

及び公称内部抵抗RNから算出したIcc(UR/38RN)に基づき,充電効率95 %で充電できる電流値とする。

放電電流(Id)は,コンデンサの定格電圧UR及び公称内部抵抗RNから算出したId(UR/40RN)に基づき,

放電効率95 %で放電できる電流値とする。 

試験は,次の手順で行う。 

a) コンデンサは定電流で充電する。 

b) 電源の外部出力電圧が設定値に達したとき,定電圧を印加して充電する。 

c) 定電流放電器を通して定電流放電する。 

d) 放電時のコンデンサの端子間電圧U1及びU2をそれぞれ測定する(図2参照)。 

 

表2−測定法1Bの測定条件 

測定条件 

クラス(用途) 

クラス3 

パワー 

クラス4 

瞬間パワー 

クラス5 

ハイパワー 

定電流充電 

mA 

95 %充電効率 a) 

定電圧充電時間 min 

定電流放電 

mA 

95 %放電効率 a) 

U1 

充電電圧の80 %の値(0.8×UR) 

U2 

充電電圧の40 %の値(0.4×UR) 

クラス3及びクラス4は,測定法1Aを用いてもよい。 
10 A以下の放電電流値は,有効数字1桁とし,算出値の2桁目は,切り下げる。 
10 Aを超える放電電流値は,有効数字2桁とし,算出値の3桁目は,切り下げる。 

注a) 充放電効率95 %に対する一般的な考え方を,附属書Dに示す。 

 


12 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

5.5.4 

静電容量の算出方法 

5.5.4.1 

一般事項 

静電容量は,直線近似法又はエネルギ換算容量算出法を用いて算出する。 

5.5.4.2 

直線近似法(測定法1A) 

静電容量Cは,式(1)を用いて算出する。 

2

1

1

2

cc

)

(

U

U

t

t

I

C

  (1) 

ここに, 

C: 静電容量(F) 

 

Icc: 放電電流(A) 

 

U1: 測定開始電圧(V) 

 

U2: 測定終了電圧(V) 

 

t1: コンデンサの端子電圧がU1になる放電開始からの時間(s) 

 

t2: コンデンサの端子電圧がU2になる放電開始からの時間(s) 

5.5.4.3 

エネルギ換算容量算出法(測定法1B) 

静電容量Cは,式(2)を用いて算出する。 

2

2

2

1

2

U

U

W

C

  (2) 

ここに, 

C: 静電容量(F) 

 

W: 測定開始電圧U1〜測定終了電圧U2の電圧において,設定し

たサンプリング間隔ごとの放電電力量(J)を積算した総放
電電力量(J) 

 

U1: 測定開始電圧(V) 

 

U2: 測定終了電圧(V) 

5.5.5 

内部抵抗の算出方法 

5.5.5.1 

一般事項 

内部抵抗は,最小二乗内部抵抗算出方法又は交線内部抵抗算出方法を用いて算出する。 

5.5.5.2 

交線内部抵抗算出方法(測定法1A) 

内部抵抗Rは,式(3)を用いて算出する。 

d

3

Δ

I

U

R

  (3) 

ここに, 

R: 直流内部抵抗(Ω) 

 

Id: 放電電流(A) 

 

ΔU3: 降下電圧(V) 

電圧記録計から得たコンデンサ端子電圧の時間変化の直線部に対して延長した補助線を引き,その補助

線と図2に示す放電開始時の時間軸との交点から求めた電圧降下分を読み取る。 

5.5.5.3 

最小二乗内部抵抗算出方法(測定法1B) 

内部抵抗Rは,式(4)を用いて算出する。 

d

3

Δ

I

U

R

  (4) 

ここに, 

R: 直流内部抵抗(Ω) 

 

Id: 放電電流(A) 

 

ΔU3: 降下電圧(V) 

算出開始電圧U1から算出終了電圧U2までの電圧降下特性を,最小二乗法を用いて直線近似して,この

直線の放電開始時刻における切片(電圧値)を算出し,この切片電圧値と定電圧充電記録値との電圧差(V)


13 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

がΔU3になる。 

5.5.6 

下位規格に規定する事項 

下位規格に規定する事項は,次による。 

a) 方法の分類 

b) 定格電圧と異なる場合の印加電圧 

c) 30分間と異なる場合の充電時間(表1参照)又は5分間(表2参照) 

d) 表1及び表2と異なる場合の放電電流値 

e) 表1及び表2と異なる時間での放電時の電圧U1及びU2 

5.6 

静電容量及び内部抵抗測定法2 

5.6.1 

定抵抗充電法(静電容量算出) 

5.6.1.1 

測定回路 

測定回路は,図3による。 

 

 

図3−定抵抗充電法の測定回路 

 

5.6.1.2 

測定方法 

測定は,次による。 

a) 測定に先立って,コンデンサの端子間を30分間以上短絡して十分に放電する。 

b) Rの値は,時定数τが60 s〜120 sとなるように設定する。 

c) 直流電圧URを印加したときの時定数τを測定し,式(5)によって静電容量値を算出する。 

R

C

  (5) 

ここに, 

C: 静電容量(F) 

 

τ: 0.632×URまでの充電時間(s) 

 

R: 直列抵抗(Ω) 

5.6.1.3 

下位規格に規定する事項 

下位規格に規定する事項は,次による。 

図記号 

定電圧電源 

:直流抵抗器 

:スイッチ 

:直流電圧計 

:供試コンデンサ 


14 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

a) 定格電圧と異なる場合の印加電圧 

b) 時定数τが60 s〜120 sと異なる場合の直列抵抗R 

5.6.2 

交流(a.c.)抵抗法 

5.6.2.1 

測定回路 

測定回路は,図4による。 

 

 

図4−交流(a.c.)抵抗法 

 

5.6.2.2 

測定方法 

測定は,次による。 

a) 測定電圧の周波数は,1 kHzとする。 

b) 交流電流は,1 mA〜10 mAとする。 

c) コンデンサの内部抵抗Raは,式(6)によって算出する。 

I

U

R

a

  (6) 

ここに, 

Ra: 交流内部抵抗(Ω) 

 

U: 交流電圧の実効値(V) 

 

I: 交流電流の実効値(A) 

5.7 

漏れ電流 

5.7.1 

測定方法 

測定は,次による。 

a) 測定に先立って,コンデンサを十分に放電させる。放電時間は,1時間〜24時間とし,下位規格に規

定する。 

b) 漏れ電流は,下位規格に規定がない場合,規定する試験温度で,定格電圧URまで,最大30分間で到

達するような方法で印加して,その印加電圧の95 %に到達したときから,30分間,1時間,2時間,

4時間,8時間,12時間,24時間又は48時間のうちから選定した時間で測定する。その時間は,下位

規格に規定する。 

c) 安定化電源のような,電圧及び電流の安定した電源を用いる。 

d) 下位規格に規定がない場合,1 000 Ω以下の保護抵抗器を通してコンデンサに電圧を印加する。 

図記号 

:発振器 

:交流電流計 

:交流電圧計 

:供試コンデンサ 


15 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

5.7.2 

下位規格に規定する事項 

下位規格に規定する事項は,次による。 

a) 基準温度20 ℃及びその他に規定する温度での漏れ電流の規定値。 

b) 必要がある場合の補正係数。ただし,試験に用いる標準大気条件の温度範囲内で,20 ℃と異なる温度

で測定する場合。 

c) 電圧印加時間 

d) 1 000 Ωの保護抵抗値と異なる場合の抵抗値。 

e) 放電時間 

注記 対応国際規格の明らかな記載漏れのため追加した。 

5.8 

電圧保持 

5.8.1 

測定方法 

測定方法は,次による(図5参照)。 

a) 測定に先立って,コンデンサを十分に放電させる。放電時間は,1時間〜24時間とし,下位規格に規

定する。 

b) コンデンサを充電保護抵抗器なしに,直接端子間に定格電圧URを印加して充電する。下位規格に規

定がない場合には,印加電圧の95 %に到達する充電上昇時間(最大30分間)も含めて,充電時間は,

8時間とする。 

c) 規定する時間で充電後,コンデンサの端子間を電源から開放し,下位規格に規定がない場合,16時間,

24時間,48時間又は96時間標準大気条件で,放置後のコンデンサの端子間電圧を測定する。 

d) 用いる直流電圧計は,その入力インピーダンスが1 MΩ以上とする。 

 

 

図5−電圧保持試験のダイアグラム 

 

5.8.2 

電圧保持率の算出方法 

電圧保持率Aは,式(7)を用いて算出する。 

100

R

end

U

A

  (7) 

ここに, 

A: 電圧保持率(%) 

 

Uend: 端子間を開放状態にし,TOC1が72時間のときの,コンデン

サの端子間電圧(V) 

 

UR: 定格電圧(V) 

  16 h,24 h, 
  48 h又は96 h 


16 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

5.8.3 

下位規格に規定する事項 

下位規格に規定する事項は,次による。 

a) 放電時間 

b) 定格電圧と異なる場合の印加電圧 

c) 8時間と異なる場合の充電時間 

d) 充電から測定までの開放後の放置時間 

5.9 

端子強度 

5.9.1 

試験Ua1−引張強さ 

コンデンサは,JIS C 60068-2-21の試験Ua1(引張強さ)によるほか,次による。 

次に規定する力を加える。 

− リード端子と異なる端子:20 N 

− リード端子は,表3による。 

 

表3−引張り力 

公称断面積S a) 

mm2 

リード線の直径d 

mm 

引張り力(±10 %の許容差) 

S≦0.05 

d≦0.25 

0.05<S≦0.1 

0.25<d≦0.35 

2.5 

0.1<S≦0.2 

0.35<d≦0.5 

0.2<S≦0.5 

0.5<d≦0.8 

10 

0.5<S≦1.2 

0.8<d≦1.25 

20 

1.2<S 

1.25<d 

40 

注a) 円形断面リード線,板又はピン端子では,公称断面積は,下位規格に規定する

公称寸法から算出する値に等しい。より線のリード線端子では,公称断面積は,
下位規格に規定する個々の導体断面積を合計する。 

 

5.9.2 

試験Ub−曲げ強さ(半数の試料に適用) 

コンデンサは,JIS C 60068-2-21の試験Ub(曲げ強さ)によるほか,次による。 

− 方法1:各方向に連続して2回曲げる。 

− 堅ろう(牢)な端子であることを下位規格に規定する場合には,この試験は適用しない。 

5.9.3 

試験Uc−ねじり強さ(残りの半数の試料に適用) 

コンデンサは,JIS C 60068-2-21の試験Uc(ねじり強さ)によるほか,次による。 

− 方法Aの厳しさ2(180°の2回連続回転)を適用する。 

− 堅ろう(牢)な端子であることを下位規格に規定するもの及びプリント配線板用に設計した同一方向

形(ラジアル形)端子をもつコンデンサには,この試験は適用しない。 

5.9.4 

試験Ud−トルク強さ(取付けジグ用内側溝付きスタッド端子又はねじ端子に適用) 

コンデンサは,JIS C 60068-2-21の試験Ud(トルク強さ)によるほか,次による(表4参照)。 

 

表4−トルク強さ 

公称ねじ径 

mm 

2.6 

3.5 

トルク 

Nm 

厳しさ1 

0.4 

0.5 

0.8 

1.2 

2.0 

2.5 

厳しさ2 

0.2 

0.25 

0.4 

0.6 

1.0 

1.25 

2.5 


17 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

5.9.5 

外観検査 

各試験後に,コンデンサの外観検査を行う。外観に著しい損傷があってはならない。 

5.10 はんだ耐熱性 

5.10.1 前処理及び初期測定 

下位規格に前処理の規定がある場合は,コンデンサを5.3に規定する方法で乾燥する。 

コンデンサは,下位規格の規定によって初期測定を行う。 

5.10.2 試験 

試験は,次の試験方法のうちの一つを適用する。 

試験条件は,下位規格に規定する。 

a) 次のb)及びc)を除く全てのコンデンサに,JIS C 60068-2-20の5.2に規定する方法1(はんだ槽法)を

適用する。 

b) 下位規格にプリント配線板用に設計していないと規定するコンデンサに適用する。 

1) JIS C 60068-2-20の5.2に規定する方法1(はんだ槽法) 

2) JIS C 60068-2-20の5.3に規定する方法2(はんだこて法) 

c) 表面実装用コンデンサでは,JIS C 60068-2-58に規定するリフロー法又ははんだ槽法を適用する。 

5.10.3 後処理 

後処理は,下位規格に規定がない場合,2時間以上とする(附属書C参照)。 

注記1 対応国際規格の明らかな誤記のため修正した。 

注記2 対応国際規格では5.3が引用されているが,明らかな誤記のため削除した。 

5.10.4 最終検査,測定検査及び要求事項 

表面実装用コンデンサを除く,全てのコンデンサには,次の事項を適用する。 

− 試験後,コンデンサの外観検査を行う。 

− 外観に損傷がなく,表示は,明瞭でなければならない。 

− コンデンサは,下位規格の規定によって最終測定を行い,要求事項を満足しなければならない。 

表面実装用コンデンサは,外観検査及び測定を行った場合に,下位規格に規定する要求事項を満足しな

ければならない。 

注記 対応国際規格の明らかな誤記のため修正した。 

5.11 はんだ付け性 

5.11.1 一般事項 

下位規格の中に,はんだ付け用に設計していないと規定する端子には,適用しない。 

5.11.2 前処理 

前処理は,エージングを適用するか又は適用しないかを下位規格に規定する。加速エージングを要求す

る場合は,JIS C 60068-2-20に規定するエージング手順を適用する。 

試験には,下位規格に規定がない場合,非活性フラックスを用いる。 

5.11.3 リード付きコンデンサ 

5.11.3.1 一般事項 

リード付きコンデンサは,JIS C 60068-2-20に規定する箇条4の試験Ta(リード線及びラグ端子のはん

だ付け性)を,下位規格に規定するはんだ槽法(方法1)又ははんだこて法(方法2)で試験を行う。 

5.11.3.2 試験条件 

試験は,次の試験の一つを適用する。 


18 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

試験条件の詳細は,下位規格に規定する。 

a) 次のb)を除くコンデンサ 

1) JIS C 60068-2-20の4.2に規定する方法1(はんだ槽法)の規定によるほか,次による。 

はんだ浸せき深さ(取付面又は部品本体から)は,厚さ1.5 mm±0.5 mmの熱遮へい(蔽)板を

用いて,2.0

5.00

− mmの箇所まで浸せきする。 

2) JIS C 60068-2-20の4.3に規定する方法2(はんだこて法)の規定による。 

3) JIS C 60068-2-54 

[対応国際規格には“3)”として平衡法(IEC 60068-2-54)があるが,明らかな間違いのため,記

載事項を削除した。] 

b) 下位規格にプリント配線板用に設計していないが,はんだ付け接続を意図することを規定するコンデ

ンサ 

1) JIS C 60068-2-20の4.2に規定する方法1(はんだ槽法)の規定による。 

はんだ浸せき深さ(取付面又は部品本体から):3.5

5.00

− mm 

2) JIS C 60068-2-20の4.3に規定する方法2(はんだこて法)の規定による。 

c) 表面実装形コンデンサ 

[対応国際規格には“c) 表面実装形コンデンサ”があるが,5.11.4に表面実装用コンデンサだけを

取り出した規定があり,明らかに重複する間違いのため,この細別の記載事項を削除した。] 

5.11.3.3 最終検査,測定検査及び要求事項 

コンデンサ端子部のはんだ付け性は,端子部にはんだがぬれていることを確認する。 

5.11.4 表面実装用コンデンサ 

5.11.4.1 一般事項 

表面実装用コンデンサは,JIS C 60068-2-58の試験Td[表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の

耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性]を適用する。下位規格には,はんだぬれ性,はんだはじき性又は金

属化部分の耐はんだ食われ性に適用する条件及び厳しさを規定する。 

下位規格には,はんだ付け性試験後に評価するコンデンサの領域も規定する。 

5.11.4.2 最終検査,測定検査及び要求事項 

表面実装用コンデンサは,下位規格に規定する要求事項を満足しなければならない。 

5.12 温度急変 

5.12.1 初期測定 

初期測定は,下位規格の規定によって行う。 

5.12.2 試験 

試験は,下位規格に規定する厳しさを用いて,JIS C 60068-2-14に規定する試験Na(温度急変)によっ

て行う。 

5.12.3 最終検査,測定検査及び要求事項 

コンデンサは,目視によって外観検査を行う。その外観に損傷があってはならない。 

5.13 振動 

5.13.1 初期測定 

初期測定は,下位規格の規定によって行う。 

5.13.2 試験 

試験は,下位規格に規定する取付方法及び厳しさを用いて,JIS C 60068-2-6の試験Fc(振動)によって


19 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

行う。 

下位規格に試験中の検査の規定がある場合,内部接続の不安定,すなわち,オープン又はショートを検

査するため,各方向の振動試験の最後の30分間に電気的測定を行う。 

測定方法は,下位規格に規定する。 

測定時間は,振動を行う周波数範囲の一端から他端まで1掃引の間に要する時間とする。 

5.13.3 最終測定検査及び要求事項 

試験後,コンデンサは,外観検査を行い,外観に著しい損傷がないことを確認する。コンデンサを5.17.4

の規定によって試験した後の要求事項は,下位規格に規定する。 

最終測定は,下位規格の規定によって行う。 

5.14 高温高湿(定常) 

5.14.1 初期測定 

初期測定は,下位規格の規定によって行う。 

5.14.2 試験 

試験は,下位規格に規定する一連耐候性試験の厳しさを用いて,JIS C 60068-2-78に規定する試験Cab

[高温高湿(定常)]によって行う。 

5.14.3 最終測定 

最終測定は,下位規格の規定によって行う。 

5.15 耐久性 

5.15.1 初期測定 

初期測定は,下位規格の規定によって行う。 

5.15.2 試験 

5.15.2.1 一般事項 

試験は,JIS C 60068-2-2の試験Bb(発熱がない供試品に対する緩やかな温度変化を伴う高温試験)によ

るほか,次による。 

− 試験試料は,室温から規定する温度までの間の任意の温度にした温度槽に入れてもよい。 

− 試験中は規定する電圧をコンデンサに印加するが,規定する温度に到達する前には,電圧は印加しな

い。 

コンデンサは,互いに5 mm以上離した状態で,温度槽内に置く。 

5.15.2.2 試験条件 

試験条件は,次による。 

a) 印加電圧:定格電圧 

b) 試験温度:カテゴリ上限温度 

c) 試験期間:下位規格に規定がない場合,1 000時間 

5.15.3 最終検査,測定検査及び要求事項 

規定の試験後,コンデンサは,標準状態で冷却してもよい。下位規格に規定がある場合は,コンデンサ

を後処理する。 

コンデンサは,外観検査を行う。 

最終測定は,下位規格の規定によって行う。コンデンサは,試験中又は試験後に下位規格の要求事項を

満足しないときに,故障となることも考慮する。 


20 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

5.16 貯蔵 

5.16.1 高温貯蔵 

5.16.1.1 初期測定 

初期測定は,下位規格の規定によって行う。 

5.16.1.2 試験条件 

試験は,JIS C 60068-2-2に規定する試験Bbによるほか,次による。 

− 温度:カテゴリ上限温度 

− 期間:96時間±4時間 

5.16.1.3 最終測定 

16時間以上の後処理後,最終測定を下位規格の規定によって行う。 

5.16.2 低温貯蔵 

5.16.2.1 初期測定 

初期測定は,下位規格の規定によって行う。 

5.16.2.2 試験条件 

試験は,JIS C 60068-2-1に規定する試験Ab(発熱がない供試品に対する緩やかな温度変化を伴う低温

試験)によって行う。コンデンサは,温度−40 ℃に,16時間又はコンデンサが熱安定状態(熱平衡)に

到達した後4時間保管する。 

5.16.2.3 最終測定 

最終測定は16時間以上の後処理後,下位規格の規定によって行う。 

5.17 高温及び低温特性 

5.17.1 一般事項 

試験は,高温(5.17.3)及び低温(5.17.4)の試験手順によるほか,次による。 

5.17.2 試験手順 

この試験の厳しさは,高温及び低温試験と同じ試験手順とする。中間温度での試験は,下位規格によっ

て規定してもよい。 

下位規格に規定する測定を行う。 

5.17.3 高温 

コンデンサは,下位規格に規定するカテゴリ上限温度の厳しさで,JIS C 60068-2-2の試験Bbによって

熱平衡後2時間以上又は下位規格に規定する時間放置する(附属書C参照)。 

規定する高温中及び高温の最終時間に,下位規格に規定する測定を行う。 

注記 対応国際規格では,試験を16時間行うことを規定しているが,明らかな誤記であるため,熱平

衡後2時間以上とした(附属書C参照)。 

5.17.4 低温 

コンデンサは,下位規格に規定するカテゴリ下限温度の厳しさで,JIS C 60068-2-1の試験Abによって

熱平衡後2時間以上又は下位規格に規定する時間放置する(附属書C参照)。 

規定する低温中及び低温の最終時間に,下位規格に規定する測定を行う。 

5.17.5 最終検査,測定検査及び要求事項 

コンデンサは,下位規格の規定値を満足しなければならない。 


21 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

5.18 部品の耐溶剤性 

5.18.1 初期測定 

初期測定を下位規格の規定によって行う。 

5.18.2 試験 

試験は,JIS C 60068-2-45の試験XA[耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)]によるほか,次による。 

a) 用いる溶剤 

:2-プロパノール 

b) 溶剤の温度 

:23 ℃±5 ℃(下位規格に規定がない場合) 

c) 条件 

:方法2(ラビングを伴わない。) 

d) 後処理時間 

:2時間以上(附属書C参照)(下位規格に規定がない場合) 

5.18.3 要求事項 

最終測定は下位規格の規定によって行い,規定する要求事項を満足しなければならない。 

5.19 表示の耐溶剤性 

5.19.1 試験 

試験は,JIS C 60068-2-45の試験XAによるほか,次による。 

a) 用いる溶剤 

:2-プロパノール 

b) 溶剤の温度 

:23 ℃±5 ℃ 

c) 条件 

:方法1(ラビングを伴う。) 

d) ラビング材料 :脱脂綿 

e) 後処理時間 

:適用しない(下位規格に規定がない場合)。 

5.19.2 要求事項 

試験後,表示が明瞭でなければならない。 

5.20 耐炎性 

5.20.1 試験方法 

試験は,次の手順によって行う。 

a) 試験は,JIS C 60695-11-5に規定するニードルフレーム試験によって行う。 

b) 試験中のコンデンサは,最も燃えやすい炎の位置に固定する(この位置が下位規格に規定がない場合

は,予備試験で評価して決める。)。各試料は,炎を1回だけ近付ける。 

c) 最小,中間(外形寸法が4種類以上の場合)及び最大外形寸法のコンデンサの試料を試験する。 

各外形寸法の試料は,最大定格静電容量のもの3個及び最小定格静電容量のもの3個の合計6個を一つ

の外形寸法の試料とする。 

炎にさら(曝)す時間及び燃焼時間は,表5による。適用する場合には,下位規格は,耐炎性のカテゴ

リを規定する。 

5.20.2 要求事項 

試料の燃焼時間は,表5に規定する時間以下とする。 

燃焼落下物又は赤熱落下物によって,薄葉紙(ティッシュペーパ)が発火してはならない。 

 


22 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

表5−厳しさ及び要求事項 

耐炎性 

カテゴリ 

厳しさ 

炎にさら(曝)す時間(s) 

コンデンサの体積範囲V a) 

mm3 

最大燃焼 

時間 

V≦250 

250<V≦500 

500<V≦1 750 

1 750<V≦12 000 

15 

30 

60 

120 

 3 

10 

20 

30 

 60 

10 

 5 

10 

20 

 30 

30 

注a) 体積が,12 000 mm3を超えるコンデンサの厳しさは,検討中である。 

 

5.21 圧力弁(適用する場合) 

5.21.1 試験 

試験は,下位規格に規定がない場合,10 mA/F以上の定電流を流して過電圧を印加して行う。 

5.21.2 要求事項 

圧力弁が破裂又は発火などの危険な状態にならず動作しなければならない。 

 


23 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

附属書A 

(規定) 

静電容量と内部抵抗とによる区分 

 

A.1 一般事項 

この附属書は,静電容量値及び内部抵抗値の用途によるクラス区分について規定する。 

 

A.2 静電容量と内部抵抗とによる区分 

定電流放電法による静電容量及び直流抵抗法による内部抵抗の測定は,この測定方法の特殊性及び統一

した測定条件とした場合には,製品の定格によっては膨大な測定時間が必要になるため,効率化した測定

条件を選択する必要があった。そこで,次の用途区分を考え,測定条件を五つのクラスに区分する(図A.1

参照)。 

一方,静電容量と内部抵抗とでは,同じ放電電流条件がよいのではとの提案もあったが,測定精度の面

から,五つのクラスごとに,静電容量及び内部抵抗の放電電流条件を区分した。ただし,測定精度が得ら

れることが明確になっているコンデンサの範囲である場合は,静電容量及び内部抵抗の測定条件を同じ条

件としてもよい。 

a) クラス1(メモリバックアップ用途) このクラスは,主に,RAM(Random Access Memory)のメモ

リバックアップ用途などに用い,放電電流がnA〜μA単位の電流で用いる用途のコンデンサに適切で

ある。この用途のコンデンサの特性は,比較的静電容量が小さく内部抵抗が高い。 

b) クラス2(エネルギ貯蔵用途) このクラスは,主に,長時間の動作を必要とし,放電電流もmA〜A

単位の電流を必要とする主にエネルギ貯蔵用途のコンデンサに適切である。この用途のコンデンサの

特性は,内部抵抗は考慮しないで静電容量だけが大きい。クラス3のパワー用途に比べて内部抵抗が

高い。 

c) クラス3(パワー用途) このクラスは,主に,モータ駆動などに用い,放電電流がmA〜A単位の電

流でパワーを必要とする用途のコンデンサに適切である。この用途のコンデンサの特性は,比較的静

電容量が大きく内部抵抗が低い。 

d) クラス4(瞬間パワー用途) このクラスは,動作時間が短くても瞬間的なパワー(比較的大きい電

流)を必要とする用途に適切である。この用途のコンデンサの特性は,静電容量が小さく内部抵抗が

低い。 

e) クラス5(ハイパワー用途) このクラスは,例えば,自動車及び鉄道などのハイパワー(比較的大

きい電流)かつ激しい充放電を必要とする用途に適切である。この用途のコンデンサの特性は,クラ

ス3と比較して,静電容量が大きく内部抵抗が低い。 


24 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

 

 

図A.1−各区分の特性による位置付け概念図 

 

電気的性能の測定項目の選定は,下位規格に規定がない場合,その用途によって図A.1のクラス区分に

適合させ,表A.1に示すものから選定することが望ましい。 

 

表A.1−電気的性能の測定項目 

測定項目 

項目 

選定区分 

クラス1 

クラス2 

クラス3 

クラス4 

クラス5 

静電容量 

定電流放電法1A 

5.5.4.2 

定電流放電法1B 

5.5.4.3 

定抵抗充電法 

5.6.1 

内部抵抗 

直流抵抗法1A 

5.5.5.2 

直流抵抗法1B 

5.5.5.3 

交流抵抗法 

5.6.2 

漏れ電流 

5.7 

電圧保持 

5.8 

各測定方法は,次の選定区分によって用い,下位規格に規定する。 

A:標準として用いる。 
B:簡便法として用いる。 
C:必要な場合に用いる。 

静電容量は,この他の方法として附属書Bがある。 

注記 対応国際規格では,定電流放電法だけの記載であるが,分かりやすくするため1A及び1Bに分

けた。 

 

クラス 4 
瞬間パワー 
用途 

クラス 3 
パワー用途 

 クラス1 
メモリバック 
 アップ用途 

クラス 2 
エネルギ貯蔵用途 

 

 

 内

 

  

 

小  

  静電容量  

  大 

クラス 5 
ハイパワー用途 


25 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

附属書B 

(参考) 

低周波交流法による低抵抗コンデンサの静電容量測定方法 

 

B.1 

一般事項 

この附属書は,低周波交流法による低抵抗コンデンサの静電容量測定方法を参考として記載するもので

あって,規定の一部ではない。この方法は,比較的内部抵抗が低く,かつ,静電容量が小さいコンデンサ

に適切であり,測定時間を短縮できる簡便法として利用できる。 

 

B.2 

測定システム 

測定システムは,図B.1による低周波交流法による静電容量測定システムとする。 

なお,これに代わる方法の低周波で静電容量が測定できるシステムを用いてもよい。 

a) 規定する周波数の正弦波電圧を周波数特性分析器で発生させ,ポテンシオスタット(potentiostat:自

動的に電極電位を一定に保つための装置)を経由してコンデンサに印加する。 

b) コンデンサに流れる電流をポテンシオスタットで検出し,電圧値に変換して周波数分析器に戻す。 

c) 被測定物コンデンサの電圧と電流とからインピーダンス|Z|及び位相角φを求める。 

 

 

図B.1−低周波交流法による静電容量測定システム 

 

B.3 

静電容量の算出 

静電容量の算出は,次による。 

a) リアクタンスXは,式(B.1)によって算出する。 

sin

X

  (B.1) 

ここに, 

X: リアクタンス(Ω) 

 

|Z|: インピーダンス(Ω) 

 

φ: 位相角 

b) 算出したリアクタンスを用い,コンデンサの静電容量Cは,式(B.2)によって算出する。 

f

X

C

π

2

  (B.2) 

ここに, 

C: 静電容量(F) 

 

π: 円周率 

 

f: 測定周波数(Hz) 

 

B.4 

測定条件 

測定条件は,次による。 

a) 測定周波数は,0.05 Hz,0.1 Hz,1 Hz,10 Hz又は100 Hzのうち,いずれかの周波数とする。 

b) 測定電圧は,定格電圧の3 %以下とする。 

c) バイアス電圧は,定格電圧の50 %〜95 %の電圧とする。 

なお,判定に疑義が生じない場合には,バイアス電圧は,省略してもよい。 

周波数特性 
分析器 

コンデンサ 

ポテンシオ 
スタット 


26 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

附属書C 
(参考) 

コンデンサの熱平衡時間 

 

C.1 一般事項 

この附属書は,前処理の放置時間の目安となる熱平衡時間について,記載するものであって,規定の一

部ではない。 

 

C.2 コンデンサの熱平衡時間 

コンデンサの中心部温度と周囲温度との差が1 ℃以内に達する熱平衡時間が,コンデンサの外形寸法に

依存することを予想し,コンデンサの中心部温度の推移を確認した。 

その結果,外形寸法では,円筒形の場合には直径,角形の場合には厚さ(一番薄い辺)に比例すること

が分かった。高温から常温に戻した場合のコンデンサの熱平衡時間を図C.1に,低温から常温に戻した場

合のコンデンサの熱平衡時間を図C.2に示す。この図中の点線の直線は,熱平衡までの最長時間を予想し

た。この点線の直線で示した時間を前処理の放置時間として用いることが望ましい。 

また,実際に測定したコンデンサの中心部温度の推移例を,図C.3及び図C.4に示す。 

 

 

図C.1−コンデンサが熱平衡に達する時間(85 ℃→25 ℃) 

 


27 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

 

 

図C.2−コンデンサが熱平衡に達する時間(−40 ℃→25 ℃) 

 

 

 

図C.3−85 ℃から25 ℃に移したときの 

温度推移(85 ℃→25 ℃) 

図C.4−40 ℃から25 ℃に移したときの 

温度推移(−40 ℃→25 ℃) 


28 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

附属書D 
(参考) 

充電効率及び放電効率並びに測定電流について 

 

D.1 一般事項 

この附属書は,5.5.3に規定する充電効率及び放電効率並びに測定電流に関する一般的な考え方について,

記載するものであって,規定の一部ではない。 

 

D.2 充電効率及び放電効率並びに測定電流について 

定電流I,かつ,時間tで,容量Cのコンデンサを充電又は放電を行ったときの電荷をQ,コンデンサに

蓄えられる電力量をW,コンデンサの内部抵抗Rで失われる電力量をLとした場合には,電荷Q,蓄電電

力量W及び放電電力量Lは,それぞれ式(D.1)〜式(D.3)によって求めることができる。 

t

I

Q

  (D.1) 

C

Q

W

2

2

  (D.2) 

t

RQ

Rt

I

L

2

2

  (D.3) 

上記の式(D.2)及び式(D.3)によって,コンデンサの全容量を定電流充電又は定電流放電したときのエネル

ギ効率を求めた場合には,充電時の効率Pc及び放電時の効率Pdは,それぞれ式(D.4)及び式(D.5)による。 

RC

t

t

L

W

W

P

2

c

  (D.4) 

t

RC

W

L

W

P

2

1

d

  (D.5) 

コンデンサの発熱と測定に要する時間とを考慮して,95 %の効率で充電又は放電することをこの規格で

規定した。95 %の効率で充電できる時間tは,式(D.6)による。 

RC

t

38

  (D.6) 

また,コンデンサに蓄えられる電荷Qは,容量Cと充電電圧Uとの積であり,式(D.7)で定義できる。

一方,式(D.1),式(D.6)及び式(D.7)によって,95 %の効率で充電できる電流Icは,式(D.8)による。 

CU

Q

 (D.7) 

R

U

I

38

c

  (D.8) 

同様に95 %の効率で放電できる時間tは,式(D.9)となり,95 %の効率で放電できる電流Idは,式(D.10)

による。 

RC

t

40

  (D.9) 

R

U

I

40

d

 (D.10) 

式(D.8)及び式(D.10)を,充電試験時又は放電試験時の電流値として提案する。また,充放電流の決定か

ら目的とする効率における最大出力が算出可能である。 

 


29 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

附属書E 

(参考) 

公称内部抵抗が不明確な場合のコンデンサ測定電流の設定手順 

 

E.1 

一般事項 

この附属書は,5.5.3で規定するコンデンサの測定電流の設定手順について,記載するものであって,規

定の一部ではない。 

 

E.2 

コンデンサの測定電流の設定 

公称内部抵抗が不明確な場合における充電効率95 %及び放電効率95 %のコンデンサ測定電流の設定手

順は,次による。 

a) 予測した内部抵抗値を用いて,5.5.3によってコンデンサ端子間電圧の時間特性を測定し,5.5.5を用い

て内部抵抗を算出する。 

b) 内部抵抗が全く予想つかない場合には,充電電流及び放電電流を30 Aに仮設定することが望ましい。 

c) a)によって算出した内部抵抗を用いて,5.5.3によってコンデンサ端子間電圧の時間特性を測定し,5.5.5

を用いて内部抵抗を算出する。 

d) この操作を内部抵抗が前回の値との差が10 %以下になるまで繰り返す。 

ただし,ΔU3が0.1URよりも大きくなった場合は,測定電流を適宜小さくしてa)〜c)の設定を行い測定

する。また,算出内部抵抗値が負の値を示す場合も,測定電流を適宜大きくしてa)〜c)の設定を行い測定

する。 

 

E.3 

コンデンサの測定電流を求めるために行った実施例 

コンデンサの測定電流の設定例を,表E.1に示す。 

表E.1は,設定条件1,設定条件2,及び設定条件3の順に行った。 

 

表E.1−コンデンサの測定電流の設定例 

設定条件 

設定に用いた内部抵抗値 

mΩ 

充電電流 

放電電流 

算出容量 

算出内部抵抗 

mΩ 

1.5 a) 

47.4 

45.0 

1 297 

4.6 

4.6 b) 

15.4 

14.7 

1 351 

5.0 

5.0 c) 

14.2 

13.5 

1 351 

5.0 

注a) 予測した内部抵抗値。 

b) 設定条件1によって得た内部抵抗値。 

c) 設定条件2によって得た内部抵抗値。 

 


30 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

附属書F 

(参考) 

測定不確実性及びインセット限界値に関する方針 

 

F.1 

目的 

電子部品の仕様書には,部品の受け入れを決定するパラメータ限界を規定している。これらの限界は,

試験及び測定装置の不確かさ,試験方法,環境条件,並びに作業者による測定不確実性を考慮していない。 

この附属書の目的は,統一的な実施を確実なものにするため,測定不確実性の算出及び限界設定に関す

る方針を規定している。限界をはずす特別な場合も含んでいる。 

 

F.2 

用語及び定義 

この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。 

F.2.1 

測定不確実性(uncertainty of measurement) 

規定する信頼限界の基に,記録した結果との関係で,測定の真値が存在すると期待する範囲の限界の記

述。 

F.2.2 

測定装置(measuring equipment) 

測定を実施するために必要な装置の全て。 

注記 測定と関連して,測定器に記載するケーブル,コネクタ,ハンドラー,ハンドラーカード,又

はその他のジグのような項目を明確にする必要がある。 

F.2.3 

インセット限界値(inset limits) 

測定誤差によって,許容限界外のデバイスが受け入れられることがないことを確実にするために,測定

装置の指示に関する影響の量を考慮して,パラメータの規定限界に適用する厳重な許容限界値。 

F.2.4 

アウトセット限界値(outset limits) 

測定誤差によって,許容限界内のデバイスが除かれないことを確実にするために,測定装置の指示に関

する影響の量を考慮して,パラメータの規定限界に適用する緩い許容限界値。 

 

F.3 

測定不確実性の算出 

性能要求の測定不確実性の査定は,三つの段階に分解される。 

a) 可能な誤差要因の識別。 

b) 各要因の大きさに対する定量化。 

c) 全測定不確実性の算出。 

 

F.4 

方針 

F.4.1 

仕様書に規定する品質認証,能力認証,技術認証,プロセス認証,スクリーニング,ロットごと及

び定期試験に関係する各性能の要求値に対し,測定不確実性を算出する。 


31 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

F.4.2 

各測定不確実性の値を,F.4.1で規定する該当仕様書の限界値のインセットに,最低でもこの値を,

設定する。 

F.4.3 

このインセットは,製造業者はF.5.2に,製品監査試験はF.5.3に従い適用する。 

F.4.4 

仕様書に規定する品質認証,能力認証,技術認証,プロセス認証,スクリーニング,ロットごと及

び定期試験に適合性を示すために集められた試験報告書及び試験記録には,各性能要求に対する不確実性

の値を載せる。 

 

F.5 

インセット及びアウトセット限界値の算出 

F.5.1 

基本原則は,限界値は対応する測定不確実性によって特定した値を設定する。これは,マージン値

を含んだ厳密な限界値内に入る測定結果が,真に適合デバイスだけを許容する規格限界値に入る確率を増

大させる。 

限界設定の除外は,監督する製品監査試験の場合に起こる。この状況では,可能な限り,測定の不確実

性が良品を不合格とする原因でないことを確実にするため,製品監査試験はこの限界を除外する。これは,

マージン値を含んだ緩やかな限界値からはずれる測定結果が,真に不適合デバイスだけを除く規格限界値

から外れる確率を増大させる。 

F.5.2 

部品製造業者にとっては,パラメータ“x”を規格上限値,パラメータ“y”を規格下限値,そして

測定不確実性を“a”とすると,パラメータの“インセット限界値”は(x−a)及び(y+a)となる。 

F.5.3 

製品監査試験にとっては,パラメータ“x”を規格上限値,パラメータ“y”を規格下限値,そして

測定不確実性を“b”とすると,パラメータの“アウトセット限界値”は(x+b)及び(y−b)となる。 

測定不確実性が小さい場合,“a”及び“b”の値は低くなり,製造業者及び製品監査試験のインセット/

アウトセット限界は近づき,規格限界値にも近づく。 

 

F.6 

例 

F.6.1 

一般事項 

“インセット限界値”及び“アウトセット限界値”の設定の仕方 

F.6.2 

例1:抵抗測定 

抵抗値の規格値 

100 Ω±10 %=90 Ω〜110 Ω 

算出した測定不確実性 

±1.2 %=±1.08 Ω及び±1.32 Ω 

インセット限界値 

91.08 Ω〜108.68 Ω 

アウトセット限界値 

88.92 Ω〜111.32 Ω 

F.6.3 

例2:抵抗測定 

初期測定値 

105.00 Ω 

抵抗値変化の規格値 

<0.5 %=±0.53 Ω 

算出した測定不確実性 

±0.1 %=±0.10 Ω及び±0.11 Ω 

インセット限界値 

104.57 Ω〜105.42 Ω 

アウトセット限界値 

104.37 Ω〜105.64 Ω 

F.6.4 

例3:トランジスタ測定(利得) 

規格値の限界 

60≦h21E≦80 

算出した測定不確実性 

インセット限界値 

65〜75 


32 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

アウトセット限界値 

55〜85 

F.6.5 

例4:初期と最終測定結果との比較 

許容の規格値 

変動 @1 % 

算出した測定不確実性 

0.1 % 

初期測定値 

102.05 μF 

インセット限界値 

101.13 μF〜102.97 μF 

アウトセット限界値 

100.93 μF〜103.17 μF 

 


33 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

附属書G 
(参考) 

JIS C 5160-1:2009(初版)との対比表 

 

この附属書は,初版と第2版との箇条構成の比較表であって,規定の一部ではない。 

箇条番号又は細分箇条番号 

内容 

旧規格(JIS C 5160-1:2009) 

(初版) 

この規格 

(第2版) 

一般事項と適用範囲とを一つにした 

1.1 

1.2 

ISO/IEC directives,Part2による箇条構成の見直し 

2.1 

4.1 

 

2.2 

ISO/IEC directives,Part2による箇条構成の見直し 

2.3 

4.2 

 

2.4 

4.3 

 

4.4 

 

 

4.1 

5.1 

箇条番号の変更 

4.2 

5.2 

4.3 

5.3 

4.4 

5.4 

4.5 

5.5,5.6 

測定法の追加によって箇条を二つに分けた。 

4.6 

5.5,5.6 

測定法の追加によって箇条を二つに分けた。 

4.7 

5.7 

箇条番号の変更 

4.8 

5.8 

4.9 

5.9 

4.10 

5.10 

4.11 

5.11 

4.12 

5.12 

4.13 

5.13 

4.14 

5.14 

4.15 

5.15 

4.16 

5.16 

4.17 

5.17 

4.18 

5.18 

4.19 

5.19 

4.20 

5.20 

4.21 

5.21 

 


34 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

附属書Q 
(規定) 

IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順 

 

Q.1 一般事項 

Q.1.1 概要 

この規格及び下位規格を,総合的な品質評価制度に用いる場合は,Q.5,Q.6又はQ.14の手順を適用す

る。 

これらの規格を品質認証以外の設計審査又は形式試験のような目的で用いる場合,Q.5.1及びQ.5.3 b)

の手順及び要求事項を用いてもよい。ただし,これらの試験の全て及び一部は,試験計画に示す順で行う。 

この附属書の手順によってコンデンサの認証を取得する前に,製造業者は,規定する品質評価制度(適

用する場合)によって,自らの製造業者認定を取らなければならない。 

コンデンサの品質評価の認証に利用できる三つの方法は,次による。 

a) 品質認証 

b) 能力認証 

c) 技術認証 

コンデンサにサブファミリがある場合には,品質認証用及び能力認証用の品種別通則が個々に必要であ

り,能力認証は,関連の品種別通則が制定している場合だけに利用できる。 

Q.1.2 品質認証の適用性 

品質認証は,類似の設計及び製造工程で製造するコンデンサの標準範囲に対して適切であって,発行す

る個別規格に従う。 

適切な評価水準及び性能水準に応じた個別規格に規定する試験プログラムは,Q.5及び関連する品種別

通則の規定によって,認証するコンデンサ範囲に対して直接適用する。 

Q.1.3 能力認証の適用性 

Q.1.3.1 一般事項 

能力認証は,共通の設計基準に基づくコンデンサを共通の製造工程群で製造する場合に適切である。特

に,コンデンサを顧客からの指定の要求事項に基づいて製造する場合に適切である。 

能力認証では,個別規格を次の三つのカテゴリに分類する。 

Q.1.3.2 工程の妥当性評価用素子を含む能力認証用部品(CQC) 

個別規格は,能力認証用部品(CQC)ごとに作成する。個別規格には,能力認証用部品の目的を明確に

し,全ての関連試験の厳しさ及び規定値を含めて規定する。 

Q.1.3.3 標準カタログ部品 

製造業者が能力認証手順に基づいて,コンデンサの認証を要求する場合は,ブランク個別規格に適合し

た能力認証用の個別規格を作成する(適用する場合)。 

Q.1.3.4 顧客指定部品 

個別規格[顧客用個別仕様書(CDS)ともいう。]の内容は,規定する品質評価制度(適用する場合)に

基づき,受渡当事者間の協定によって規定する。 

これらの個別規格に関して,より詳細な情報は,関連する品種別通則に規定する。 

顧客の承認は,妥当性を確認した設計基準,工程及び品質管理手順並びに工程の妥当性評価用素子を含


35 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

む能力認証用部品の試験結果に基づき,製造設備に与える。より詳細な情報に対しては,Q.6及び関連す

る品種別通則による。 

Q.1.4 技術認証の適用性 

技術認証は,全部の技術的プロセス(設計,工程の実現,製品製造,試験及び出荷)が技術によって決

定する全ての部品に共通の資格側面を範囲としている場合に適切である。 

 

Q.2 製造の初期工程 

製造の初期工程は,品種別通則に規定する。 

 

Q.3 請負契約 

製造の初期工程及び/又はそれに続く工程の下請負契約を行う場合は,規定する品質評価制度(適用す

る場合)による。 

品種別通則は,下請負契約を制限してもよい。 

品目別又は品種別仕様書には,次のいずれかを規定してもよい。 

− 技術的根拠に基づいて外注を禁じる。 

− 必要な場合,同一製造業者で実施すべき連続的工程などの特定の要求条件を含める。 

− 無条件に外注を認める。 

 

Q.4 構造的に類似な部品 

品質認証,能力認証又は技術認証の下で行う品質認証試験又は品質確認試験に対する構造的に類似な部

品の群分けは,関連する品種別通則に規定する。 

 

Q.5 品質認証手順 

Q.5.1 品質認証を取る資格 

品質認証は,要求事項及びこの附属書の要求事項に従って認定された製造業者に与えられる。これらの

認定は並行に進めることができるが,品質認証は製造業者認定よりも先に取得することはできない。 

Q.5.2 品質認証の申請 

製造業者は,規定する品質評価制度(適用する場合)に従う。 

Q.5.3 品質認証用試験手順 

次の二つの手順のうち,いずれかによる。 

a) 製造業者は,定期検査用の1ロット及びできるだけ短期間内に抜き取ったロットごとの検査用の3ロ

ットを用いて,個別規格の要求事項に適合する試験証明書を作成する。製造工程での大きな変更は,

検査ロットを抜き取っている期間には行わない。 

b) 試料は,JIS C 5005-2に従って,そのロットから抜き取る。検査は,なみ検査を用いる。ただし,合

格判定数がゼロ個となる抜取数の場合は,合格判定数が1個となるように試料数を増加する。 

c) 製造業者は,品種別通則に規定する定数抜取試験計画によって,個別規格の要求事項に適合している

ことを示す試験証明書を作成する。 

d) 試料は,現在の製造中の生産品から無作為に抜き取って選定する。 

e) 二つの手順の試料数及び合格判定数は,同一水準とする。その試験条件及び要求事項は,同じとする。 


36 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

Q.5.4 品質認証の認可 

品質認証は,規定する品質評価制度(適用する場合)による手順を完全に満足している場合には,認可

する。 

Q.5.5 品質認証の維持 

品質認証は,品質確認検査(Q.5.6参照)の要求事項を満足することを,定期的に実証することによっ

て維持する。 

Q.5.6 品質確認検査 

品種別通則に関連するブランク個別規格は,品質確認検査のための試験計画を規定する。この試験計画

は,ロットごとの検査及び定期的検査のための群分け,サンプリング及び周期もまた規定する。 

群Cでゆるい検査への切替えルールの適用は,耐久性を除く全ての副群に認める。 

抜取検査方式及び検査水準は,JIS C 5005-2に規定するものから選定する。 

要求がある場合には,二つ以上の試験計画を規定してもよい。 

 

Q.6 能力認証手順 

Q.6.1 一般事項 

能力認証は,次の範囲とする。 

− 管理手順及び試験を含む完全な設計,材料準備及び製造技術 

− 工程及び生産に要求する性能限界,能力認証用部品(CQC)及び工程管理パラメータ(PCP)に対す

る規定値 

− 認証が保証する機械的構造の範囲 

能力認証の一般的な概要は,図Q.1による。 

 


37 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

 

図Q.1−能力認証の一般的な仕組み 

 

Q.6.2 能力認証を取る資格 

製造業者は,規定する品質評価制度(適用する場合)の要求事項に従う。 

Q.6.3 能力認証の申請 

製造業者は,規定する品質評価制度(適用する場合)の要求事項及び関連する品種別通則の要求事項に

従う。 

Q.6.4 能力の規定 

規定する品質評価制度(適用する場合)に関連する品種別通則の要求事項に基づき,能力マニュアルの

中に能力を規定する。 

能力マニュアルは,少なくとも次の事項を含めるか又は引用する。 

− 関連する技術の一般的な紹介及び説明 

− 適切な場合には,設計基準の規定を含む顧客との連絡対応及び顧客が要求事項を作成する場合の協力

についての側面 

− 用いる設計基準の詳細な規定 

− 個別規格に従い製造している関連のコンデンサ技術に関して設計基準を遵守していることを確認する

手順 

− 関連する購入仕様書及び受入検査規格で引用する全ての使用材料リスト 

− 品質管理ポイント及び許可された手直し経路を示し,全ての工程及び品質管理手順への引用を含む,

全体が分かる工程フローチャート 

コンデンサの範囲 

工程管理パラメータ(PCP)の選定 
(Q.6.10.3) 

能力認証用部品(CQC)の選定 
(Q.6.5.2) 

管理計画の準備 
(Q.6.10.4) 

能力認証用部品(CQC)用 
個別規格の準備 
(Q.6.5.2) 

工程管理の開始 

能力認証用部品(CQC)用 
試験計画の準備 
(Q.6.6) 

初期の能力認証 

(Q.6.10) 

工程管理 

ロットごとの検査 

能力範囲の検証 

(Q.6.10.5) 


38 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

− 認証が関連する品種別通則の要求事項によって求めている工程の宣言 

− 認証が関連する品種別通則の要求事項によって求めている範囲の宣言 

− 宣言した能力範囲を特定の能力認証用部品(CQC)の設計によって実証することを示す詳細な表によ

って補足する,各々に一般的な説明を付けた能力評価に用いる能力認証用部品(CQC)のリスト 

− 各能力認証用部品(CQC)に対する個別規格 

− 各工程管理パラメータ(PCP)の一般的な説明を付けた工程管理に用いる工程管理パラメータ(PCP)

を含み,その工程管理パラメータ(PCP)と完成部品の関連特性及び性能との関係とを示す詳細な管

理計画書 

− 品質確認検査の抜取計画で構造的な類似性の適用に関するガイダンス 

Q.6.5 能力の実証及び検証 

Q.6.5.1 一般事項 

製造業者は,規定する品質評価制度(適用する場合)に,次の詳細事項を規定する関連する品種別通則

の要求事項に従ってその能力を実証し,証明する。 

Q.6.5.2 能力を実証する能力認証用部品(CQC) 

製造業者は,能力マニュアルに規定する能力範囲を実証するために必要な工程管理パラメータ(PCP)

及び能力認証用部品(CQC)の範囲の決定について同意する。 

能力マニュアルに従って設計,製造及び工程パラメータを管理した能力認証用部品(CQC)の承認範囲

を試験することで実証を行う。能力認証用部品(CQC)は,次の要求事項に従う。 

a) 用いる能力認証用部品(CQC)の範囲は,宣言した能力の全ての限界を代表する。能力認証用部品

(CQC)は,相互に達成できる限界の組合せを実証するよう選定する。 

b) 能力認証用部品(CQC)は,次の一つとする。 

− 能力の範囲の組合せを実証するために特別に設計したコンデンサ 

− 一般的な生産に用いる設計のコンデンサ 

− a)の要求事項を満足することを条件に,これらの両方の組合せ 

能力認証用部品(CQC)を,能力認証のためだけに設計し,製造する場合には,製造業者は,出荷品に

適用するように同じ設計規則,材料及び製造工程を用いる。 

個別規格は,各能力認証用部品(CQC)に対して作成し,表紙形式をとる。個別規格は,能力認証用部

品(CQC)の目的を明確にし,全ての関連したストレス水準及び試験範囲を含める。工程の管理及び維持

並びに能力の範囲を実証するために,工程検査及び記録を規定する内部管理文書を引用してもよい。 

Q.6.5.3 能力の範囲 

能力の範囲は,関連の品種別通則に規定する。 

Q.6.6 能力認証のプログラム 

規定する品質評価制度(適用する場合)に従って,製造業者は,宣言した能力の評価のためのプログラ

ムを作成する。このプログラムは,宣言した各能力の範囲が適切な能力認証用部品(CQC)によって検証

するように設計する。 

そのプログラムは,次の事項を含む。 

− 認証試験に対して計画した日程表を示すバーチャート又はその他の手法 

− 適用する個別規格に引用する全ての能力認証用部品(CQC)の詳細 

− 各能力認証用部品(CQC)によって実証する特性を示すチャート 

− 工程管理に対して用いる管理計画の引用 


39 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

Q.6.7 能力認証試験報告書 

規定する品質評価制度(適用する場合)に従って,能力認証試験報告書を発行する。この報告書は,能

力認証試験報告書に規定する要求事項を満足し,次の要求事項を含む。 

− 能力マニュアルの発行番号及び発行日 

− Q.6.6による能力認証用プログラム 

− プログラムの実施中に得た全ての試験結果 

− 用いた試験方法 

− 不適合が発生した場合に取られた是正内容の報告書(Q.6.10.2参照) 

報告書は,得られた結果の正式文書として管理責任者(DMR)が署名し,能力認証の認可に責任がある,

国内規則で指定した機関[国内監督検査機関(NSI)]に提出する。 

Q.6.8 能力の概要 

能力の概要は,能力認証を認可した後に品質認証電子部品一覧表(QPL)の中で公表することを意図す

る。 

それは,製造業者の能力の簡潔な説明を含み,認定した製造業者の技術,製造方法及び製品の範囲の十

分な情報を含む。 

Q.6.9 能力認証に影響を及ぼす変更 

能力認証に影響を及ぼすどのような変更も規定する品質評価制度(適用する場合)の要求事項を満足す

る。 

Q.6.10 初期能力認証 

Q.6.10.1 一般事項 

この認証を認可する条件は,次による。 

− 能力認証用部品(CQC)の選定範囲は,不適合品がなく,また能力認証用部品(CQC)の個別規格の

評価要求事項を全体的に満足している。 

− 管理計画は,工程管理体系の中で十分に実施している。 

Q.6.10.2 不適合になった場合の手順 

不適合になった場合の手順は,規定する品質評価制度(適用する場合)によるほか,次による。 

コンデンサが検査要求事項に不適合となった場合には,製造業者は,次のa)及びb)に規定する処置の一

つに従うことを表明する。 

a) 製造業者が提案した能力の適用範囲を変更する。 

b) 不適合の原因が,次のうちのいずれかを確定するために不適合品の調査を行う。 

− 試験そのものの失敗(例えば,試験装置の故障,検査員のエラー) 

− 設計又は工程の不具合 

不適合の原因が試験そのものの失敗として確定した場合は,見かけ上の不適合品又は新規のコンデンサ

の適切ないずれかを,必要な是正処置を行った後に試験プログラムに戻す。新しいコンデンサを用いる場

合は,見かけ上で不適合となったコンデンサと同様に,試験プログラムの中の一連の全ての試験を実施す

る。 

不適合の原因が設計又は工程の不具合として確定した場合には,試験プログラムは,不適合の原因を根

絶して,文書化を含めて全ての是正処置を実施したことを実証する。これが成し遂げられた場合には,不

適合が発生した一連の試験は,新しい能力認証用部品(CQC)を用いて全て繰り返す。 

処置が完了した後,製造業者は,報告書を送付し,能力認証の試験報告書(Q.6.7参照)の中に是正内


40 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

容の報告書のコピーを含める。 

Q.6.10.3 工程管理パラメータ(PCP)及び能力認証用部品(CQC)の選定の一般的な計画 

各製造業者は,関連する品種別通則の例に基づいて,工程フローチャートを作成する。製造業者は,フ

ローチャートに含む全ての工程段階に対応する工程管理項目を入れる。 

管理項目は,関連する品種別通則で例示するように製造業者が指定する。 

Q.6.10.4 工程管理試験計画 

試験計画は,製造業者が用いる工程管理体系の一部を構成する。統計的工程管理(SPC)を用いる場合

は,統計的工程管理(SPC)の基本的な要求事項によって実施する。統計的工程管理(SPC)計画は,工

程の重要管理項目での必須管理とする。 

生産設備を用いる各工程段階では,製造業者は,定期的に工程パラメータを監視し,製造業者が設定す

る管理範囲と対策範囲とを比較する。 

Q.6.10.5 能力の範囲を実証するための能力認証用部品(CQC)の試験計画 

能力範囲を実証するための能力認証用部品(CQC)の試験計画は,関連する品種別通則に規定する。 

Q.6.11 能力認証の認可 

能力認証は,規定する品質評価制度(適用する場合)による手順を十分に満足し,関連する品種別通則

の要求事項を満足した場合には,認可する。 

Q.6.12 能力認証の維持 

能力認証は,規定する品質評価制度(適用する場合)の要求事項を満足し,関連する品種別通則の中に

規定する維持予定表に従う能力マニュアルで宣言した要求事項を満足することによって,維持する。 

さらに,能力認証は,次の詳細を適用する。 

a) 能力認証は,2年間の再試験なしで有効である。 

b) 能力認証用部品(CQC)の再試験プログラムは,製造業者によって決定する。工程管理に対しては,

製造業者は,管理体系を確立する。管理プログラムの例は,品種別通則中の規定に従ってもよい。能

力の範囲を立証するために,製造業者は,製造業者の能力認証に関連するQ.6.10.5の全ての試験計画

を少なくとも2年ごとに繰り返すことを確実にする。 

c) 出荷のためのコンデンサの品質確認検査は,関連する能力認証の維持を立証するために用いてもよい。

特に,製造業者が,同じ工程によって製造され,かつ,能力認証を保持する能力の範囲内にあるコン

デンサの範囲の品質認証を保持する場合には,工程管理検査結果及び品質認証から発生する定期的な

品質確認検査結果を,能力認証の維持を立証するために用いてもよい。 

d) 製造業者は,能力認証用部品(CQC)の範囲が出荷品の代表のままであること,更に,関連する品種

別通則の要求事項と一致していることを確実にする。 

e) 製造業者は,次のように製造を維持する。 

− Q.6.9の手順に従ってどんな追加又は削除を除き,能力マニュアルで規定する工程は,変更しない。 

− 製造場所及び最終検査を行う場所で変更しない。 

− 製造業者は,6か月を超えて能力認証下の生産を中断しない。 

f) 

製造業者は,常に,立証した能力範囲及び規定期間での立証を待つ能力範囲が,証明できるように能

力プログラムの維持の経過を記録する。 

Q.6.13 能力認証の拡張 

製造業者は,拡張できる範囲の種類に関連するQ.6.10.5から試験計画を実施することによって製造業者

の能力認証の範囲を拡大してもよい。能力認証の拡張がQ.6.10.5に規定する能力範囲から異なる種類の範


41 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

囲まで引用する場合には,製造業者は,用いるサンプリング及び試験を提案し,承認を得る。製造業者は,

新しい能力範囲のために必要な全ての工程管理を確立する。 

能力認証の拡張は,本来の認証と同じ方法で行う。 

Q.6.14 品質確認検査 

品質確認検査の要求事項は,個別規格に規定して,規定する品質評価制度(適用する場合)に従って行

う。 

 

Q.7 手直し及び修理 

Q.7.1 手直し 

関連する品種別通則によって禁止する場合には,規定する品質評価制度(適用する場合)に規定する手

直しは,行わない。特定の部品について,手直しの回数を制限する場合には,そのことを関連する品種別

通則に規定する。 

全ての手直しは,個別規格の要求事項によって検査する検査ロットを構成する前に実施する。 

手直し手順は,製造業者が作成する関連文書の中に全て規定する。また,管理責任者(DMR)の直接管

理の下に実施する。手直しは,下請負契約してはならない。 

Q.7.2 修理 

規定する品質評価制度(適用する場合)に規定する修理をしたコンデンサは,出荷しない。 

 

Q.8 出荷 

Q.8.1 一般事項 

個別規格に規定する品質確認検査を実施した後,コンデンサは,Q.5.6に規定する品質評価制度(適用

する場合)に従って,出荷する。 

Q.8.2 品質認証中での群B検査完了前の出荷 

全ての群B検査について,JIS C 5005-2のゆるい検査への移行の条件を満足する場合には,製造業者は,

群B検査の完了前にコンデンサを出荷できる。 

 

Q.9 出荷ロット成績証明書 

購入者から出荷ロット成績証明書の要求がある場合には,出荷ロット成績証明書の内容を個別規格に規

定する。 

注記 能力認証では,出荷ロット成績証明書は,能力認証用部品(CQC)で行う試験だけを引用して

いる。 

 

Q.10 長期保管後の出荷 

ロットの出荷に続いて,2年(品種別通則に保管期間の規定がない場合)を超えて長期保管したコンデ

ンサは,出荷前に,個別規格に規定するはんだ付け性及び電気的特性について再検査する。 

製造業者の管理責任者(DMR)が用いる再検査手順は,承認する。 

ロットの再検査が満足する結果になると,規定する期間,その品質を再保証する。 

 

Q.11 代替試験方法 

代替試験方法は,規定する品質評価制度(適用する場合)によるほか,次による。 


42 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

  

判定及び基準について疑義がある場合には,規定する方法だけを用いる。 

 

Q.12 IECQの認証機関(CB)の対象地域外での製造 

規定する品質評価制度(適用する場合)の要求事項による。  

 

Q.13 規定していないパラメータ 

個別規格に規定があって,試験の対象になった部品のパラメータだけが,規定範囲内にあるとみなす。

規定していないパラメータは全て,ある部品から別の部品まで不変のままとみなすことができない。どん

な理由があっても,一つ以上の追加パラメータを管理する必要がある場合には,新規で,もっと広範囲に

わたる規格を用いる。 

追加の試験方法は,十分に記述し,適切な規定値,抜取検査方式及び検査水準を規定する。 

 

Q.14 技術認証手順 

Q.14.1 一般事項 

部品の技術認証は,全ての技術プロセスを対象とする。既存の品質認証及び能力認証の概念に次の原則

を付加し,技術認証の必須要件として拡張している。 

a) 工程内管理方法の使用。例えば,統計的管理手法(SPC) 

b) 継続的な品質改善の戦略。 

c) 総合的な技術及び作業の監視。 

d) 品質管理システム及び市場要求に適合する実施面での柔軟性。 

e) 迅速な認証又は認証の拡張を可能とするための製造業者の作業文書の承認。 

Q.14.2 技術認証を取る資格 

製造業者は,規定する品質評価制度(適用する場合)に従う。 

Q.14.3 技術認証の申請 

製造業者は,規定する品質評価制度(適用する場合)に従う。 

Q.14.4 技術認証の記載 

技術は,規定する品質評価制度(適用する場合)に従って技術認証申告書(TADD)及び技術認証スケ

ジュール(TAS)に記載する。 

Q.14.5 技術の実証及び証明 

製造業者は,規定する品質評価制度(適用する場合)に従って技術の実証及び証明をする。 

Q.14.6 技術認証の認可 

技術認証は,規定する品質評価制度(適用する場合)による手順が完全に満足する場合には,認可する。 

Q.14.7 技術認証の維持 

技術認証は,規定する品質評価制度(適用する場合)の要求事項を満足することによって維持する。 

Q.14.8 品質確認検査 

品質確認検査及び要求事項は,関連する個別規格及び技術認証スケジュールに従って行う。 

Q.14.9 故障率水準の決定 

故障率水準の決定及び認可は,関連する規格に規定する。 

Q.14.10 出荷品質水準 

出荷品質水準の定義は,受渡当事者間の協定による。 


43 

C 5160-1:2018 (IEC 62391-1:2015) 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

参考文献 JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部:品目別通則 

注記 対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: 

Generic specification(IDT) 

JIS C 5160-2:2009 電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第2部:品種別通則−パワー用電

気二重層コンデンサ 

注記 対応国際規格:IEC 62391-2:2006,Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic 

equipment−Part 2: Sectional specification−Electric double-layer capacitors for power 

application(IDT) 

JIS C 5160-2-1:2009 電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第2-1部:ブランク個別規格−パ

ワー用電気二重層コンデンサ−評価水準EZ 

注記 対応国際規格:IEC 62391-2-1:2006,Fixed electric double-layer capacitors for use in 

electronic equipment−Part 2-1: Blank detail specification−Electric double-layer capacitors 

for power application−Assessment level EZ(IDT) 

JIS C 60068-2-47:2008 環境試験方法−電気・電子−第2-47部:動的試験での供試品の取付方

法 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-47:2005,Environmental testing−Part 2-47: Test−Mounting of 

specimens for vibration, impact and similar dynamic tests(IDT) 

JIS C 60068-2-54:2009 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け性試験方法(平衡法) 

注記 対応国際規格:IEC 60068-2-54:2006,Environmental testing−Part 2-54: Tests−Test Ta: 

Solderability testing of electronic components by the wetting balance method(MOD) 

JIS D 1401:2009 ハイブリッド電気自動車用電気二重層キャパシタの電気的性能の試験方法 

注記 対応国際規格:IEC 62576:2009,Electric double-layer capacitors for use in hybrid electric 

vehicles−Test methods for electrical characteristics(IDT) 

JIS E 5012-3:2015 鉄道車両−電力用コンデンサ−第3部:電気二重層キャパシタ 

注記 対応国際規格:IEC 61881-3:2012,Railway applications−Rolling stock equipment−

Capacitors for power electronics−Part 3: Electric double-layer capacitors(MOD) 

IEC 60301,Preferred diameters of wire terminations of capacitors and resistors