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C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 一般事項 1 

1.1 適用範囲  1 

1.2 目的  2 

1.3 引用規格  2 

1.4 個別規格に規定する事項  2 

1.5 用語及び定義  3 

1.6 表示  3 

2 推奨特性及び定格  4 

2.1 推奨特性  4 

2.2 推奨定格値  4 

3 品質評価手順  5 

3.1 製造の初期工程  5 

3.2 構造的に類似なコンデンサ  5 

3.3 出荷対象ロットの成績証明書  5 

3.4 品質認証  5 

3.5 品質確認検査  12 

4 試験及び測定手順  14 

4.1 取付け  14 

4.2 外観及び寸法  14 

4.3 電気的性能  14 

4.4 固着性  16 

4.5 耐プリント板曲げ性  17 

4.6 はんだ耐熱性  17 

4.7 はんだ付け性  17 

4.8 温度急変  17 

4.9 一連耐候性  18 

4.10 高温高湿(定常)  18 

4.11 耐久性  19 

4.12 充放電  19 

4.13 部品の耐溶剤性(要求がある場合)  20 

4.14 表示の耐溶剤性(要求がある場合)  20 

 

 


 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

(2) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。これによって,JIS C 5101-20:2010は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 5101の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 5101-1 第1部:品目別通則 

JIS C 5101-2 第2部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ 

JIS C 5101-2-1 第2-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-3 第3部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ 

JIS C 5101-3-1 第3-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデン

サ 評価水準EZ 

JIS C 5101-4 第4部:品種別通則:アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ 

JIS C 5101-4-1 第4-1部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ 

JIS C 5101-4-2 第4-2部:ブランク個別規格:アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ−評価水

準EZ 

JIS C 5101-8 第8部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類1 

JIS C 5101-8-1 第8-1部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ 

JIS C 5101-9 第9部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類2 

JIS C 5101-9-1 第9-1部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ 

JIS C 5101-11 第11部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ 

JIS C 5101-11-1 第11-1部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく

直流コンデンサ 評価水準EZ 

JIS C 5101-13 第13部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ 

JIS C 5101-13-1 第13-1部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-14 第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 

JIS C 5101-14-1 第14-1部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D 

JIS C 5101-14-2 第14-2部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求

する試験 


 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

(3) 

JIS C 5101-14-3 第14-3部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ 

JIS C 5101-15 第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ 

JIS C 5101-15-1 第15部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価

水準E 

JIS C 5101-15-2 第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準

JIS C 5101-15-3 第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E 

JIS C 5101-16 第16部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 

JIS C 5101-16-1 第16-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-17 第17部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ 

JIS C 5101-17-1 第17-1部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ 

JIS C 5101-18 第18部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コ

ンデンサ 

JIS C 5101-18-1 第18-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)電解コ

ンデンサ−評価水準EZ 

JIS C 5101-18-2 第18-2部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準EZ 

JIS C 5101-20 第20部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ 

JIS C 5101-20-1 第20-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ 

JIS C 5101-21 第21部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 

JIS C 5101-21-1 第21-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水

準EZ 

JIS C 5101-22 第22部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 

JIS C 5101-22-1 第22-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水

準EZ 

JIS C 5101-23 第23部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ 

JIS C 5101-23-1 第23-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ 

JIS C 5101-24 第24部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ 

JIS C 5101-24-1 第24-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準EZ 

JIS C 5101-25 第25部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ 


 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

(4) 

JIS C 5101-25-1 第25-1部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準EZ 

JIS C 5101-26 第26部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ 

JIS C 5101-26-1 第26-1部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ 評価水準EZ 

 


 

 

日本工業規格          JIS 

 

C 5101-20:2018 

 

(IEC 60384-20:2015) 

電子機器用固定コンデンサ− 

第20部:品種別通則:表面実装用固定メタライズド

ポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ 

Fixed capacitors for use in electronic equipment- 

Part 20: Sectional specification-Fixed metallized polyphenylene sulfide film 

dielectric surface mount d.c. capacitors 

 

序文 

この規格は,2015年に第3版として発行されたIEC 60384-20を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある事項は,対応国際規格にはない事項である。 

 

一般事項 

1.1 

適用範囲 

この規格は,JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で,電子機器用の表面実装用固定メタライズ

ドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ(以下,コンデンサという。)について規定する。こ

の規格は,誘電体がポリフェニレンスルフィドでその上にメタライズドされた電極をもつ表面実装用固定

コンデンサに適用する。このコンデンサは,はんだ付け用板端子又はメタライズドされた電極面をもち,

ハイブリッド回路基板又はプリント配線板に直接取り付けることができるもので,使用条件によっては,

“自己回復作用”が発生する場合がある。また,定格電圧に対して交流成分が小さい場合に用いるコンデ

ンサである。 

このコンデンサには,三つの性能等級があり,性能等級1は長寿命用,性能等級2は一般用,性能等級

3は小形仕様のものに適用する。 

次の用途のコンデンサは,この規格を用いないで次の規格を用いる。 

− JIS C 6065で引用する電磁障害防止用コンデンサは,JIS C 5101-14を適用する。 

− 電動機用及び蛍光灯用コンデンサ[IEC/TC 33技術委員会(電力用コンデンサ)及びIEC/TC 34技術

委員会(電球類及び関連機器)で担当]にもこの規格を適用しない。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 60384-20:2015,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 20: Sectional specification

−Fixed metallized polyphenylene sulfide film dielectric surface mount d.c. capacitors(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ

とを示す。 


C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

1.2 

目的 

この規格の目的は,この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1

から適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求性能を規定することである。この

品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格よりも低い水準であっ

てはならず,この規格と同等又は高い水準とする。 

1.3 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順) 

注記 対応国際規格:IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of 

sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT) 

JIS C 5062:2008 抵抗器及びコンデンサの表示記号 

注記 対応国際規格:IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD) 

JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部:品目別通則 

注記 対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: 

Generic specification(IDT) 

JIS C 60063 抵抗器及びコンデンサの標準数列 

注記 対応国際規格:IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors(IDT) 

JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気・電子−第1部:通則及び指針 

注記 対応国際規格:IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1:General and guidance(IDT) 

JIS Z 8601 標準数 

注記 対応国際規格:ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers(MOD) 

1.4 

個別規格に規定する事項 

1.4.1 

一般事項 

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。 

個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を規

定してはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9に記載し,更に,

試験計画の中に,例えば,アステリスク(*)を付けて明示する。 

1.4.2に規定する寸法及び寸法許容差は,一覧表で示してもよい。 

各個別規格には1.4.2〜1.4.5の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。 

1.4.2 

外形図及び寸法 

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ

の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,全ての寸法値はミリ

メートル(mm)で規定する。 

本体寸法は,次のように規定する。 

− 本体: 幅,長さ及び高さ 

端子寸法は,次のように規定する。 

− 端子: 幅,長さ及び間隔 


C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

形状が上記のコンデンサと異なる場合は,そのコンデンサを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。 

1.4.3 

取付け 

試験及び測定のための取付方法は,4.1による。通常使用する場合の取付方法を個別規格に規定する。 

1.4.4 

定格及び特性 

1.4.4.1 

一般事項 

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,1.4.4.2〜1.4.4.4による。 

1.4.4.2 

公称静電容量範囲 

公称静電容量範囲は,2.2.1による。 

IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範囲とが

異なるとき,次の文章を追加する。“各電圧範囲での公称静電容量の範囲は,IEC電子部品品質認証制度

(IECQ)のオンライン認証システムが利用できる,認証登録による。” 

1.4.4.3 

特殊な特性 

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,その規定を追加してもよい。 

1.4.4.4 

はんだ付け 

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定によ

る。 

1.4.5 

表示 

コンデンサの本体及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6と異なる場合は,その項目

を個別規格に明記する。 

1.5 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1の2.2(用語及び定義)によるほか,1.5.1〜1.5.3

による。 

1.5.1 

性能等級1のコンデンサ(performance grade 1 capacitors) 

長寿命用であり,長期間にわたって高い性能水準を必要とするコンデンサ。 

1.5.2 

性能等級2のコンデンサ(performance grade 2 capacitors) 

一般用であり,性能等級1のコンデンサのような高い性能水準を必要としない一般用のコンデンサ。 

1.5.3 

性能等級3のコンデンサ(performance grade 3 capacitors) 

低電力小形仕様であり,性能等級2のコンデンサのような性能水準を必要としない,定格電圧が63 V未

満の小形のコンデンサ。 

1.6 

表示 

1.6.1 

一般事項 

表示は,JIS C 5101-1の2.4(表示)によるほか,1.6.2〜1.6.4による。 

1.6.2 

表示の内容 

表示の内容は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。 

a) 公称静電容量(明瞭な文字又はJIS C 5062に基づく記号) 

b) 定格電圧(直流電圧を表す記号d.c.は,記号   又は   で表してもよい。) 

c) 公称静電容量許容差 


C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

d) カテゴリ電圧 

e) 製造年月(又は年週) 

f) 

製造業者名又はその商標(略号を含む。) 

g) 製造業者の形名 

h) 適用する個別規格 

1.6.3 

コンデンサ本体への表示 

コンデンサ本体には,必要に応じて表示を行う。いずれの表示も,明瞭であり,指でこすった場合に,

不鮮明になったり又は消えたりしてはならない。 

1.6.4 

コンデンサの包装への表示 

コンデンサの包装への表示には,1.6.2で必要な項目を明瞭に表示する。 

 

推奨特性及び定格 

2.1 

推奨特性 

推奨耐候性カテゴリは,推奨特性によって付与される。 

この規格に規定するコンデンサは,JIS C 60068-1の附属書A(部品の耐候性カテゴリー)に規定する一

般原則に基づく耐候性カテゴリに分類する。 

カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度は,次の中から選定する。 

カテゴリ下限温度: −55 ℃,−40 ℃又は−25 ℃ 

カテゴリ上限温度: +100 ℃,+105 ℃,+125 ℃又は+155 ℃ 

温度+155 ℃での耐久性試験期間を超える連続使用では,加速性について配慮しなければならない(個

別規格による。)。 

低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。 

2.2 

推奨定格値 

2.2.1 

公称静電容量(CN) 

公称静電容量は,JIS C 60063に規定するE6の標準数列(1.0,1.5,2.2,3.3,4.7及び6.8)及びそれら

の10n倍(nは,整数とする。)とする。 

その他の値が必要な場合は,E12標準数列の中から選定する。 

2.2.2 

公称静電容量許容差 

公称静電容量に対する許容差は,±5 %,±10 %及び±20 %とする。 

2.2.3 

定格電圧(UR) 

定格電圧は,JIS Z 8601に規定するR10の標準数列から選定した数列(1.0,1.6,2.5,4.0,5.0及び6.3)

及びそれらの10n倍(nは,整数とする。)とする。 

コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は,定格電圧を超えてはならない。個別規

格に規定がない場合には,交流電圧の最大値は,280 V以下で表1に示すそれぞれの周波数での定格電圧

に対する割合を超えてはならない。 

 


C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表1−周波数別交流電圧の最大値 

交流電圧の周波数 

 

Hz 

交流電圧の最大値 

(定格電圧に対する割合) 

50 

20 

100 

15 

1000 

10000 

 

2.2.4 

カテゴリ電圧(UC) 

カテゴリ電圧は,表2及び表3による。 

2.2.5 

定格温度 

定格温度は,+100 ℃又は+105 ℃とする。 

 

表2−カテゴリ上限温度+125 ℃の場合のカテゴリ電圧 

単位 V 

 

カテゴリ上限温度+125 ℃及び定格温度+100 ℃又は+105 ℃ 

UR 

10 

16 

25 

40 

50 

63 

100 

160 

250 

400 

UC=0.80 UR 

8.0 

13 

20 

32 

40 

50 

80 

130 

200 

320 

 

表3−カテゴリ上限温度+155 ℃の場合のカテゴリ電圧 

単位 V 

 

カテゴリ上限温度+155 ℃及び定格温度+100 ℃又は+105 ℃ 

UR 

10 

16 

25 

40 

50 

63 

100 

160 

250 

400 

UC=0.50 UR 

5.0 

8.0 

13 

20 

25 

32 

50 

80 

130 

200 

 

品質評価手順 

3.1 

製造の初期工程 

製造の初期工程は,コンデンサ素子の巻取り又はこれと同等な工程とする。 

3.2 

構造的に類似なコンデンサ 

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値(公称静電容量及び定格電圧)が異なっていても,

本質的に同じ生産工程及び材料で製造した範囲のコンデンサとする。 

3.3 

出荷対象ロットの成績証明書 

個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1のQ.9(出荷ロット

成績証明書)によって,出荷者が,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要

求する特性値は,静電容量,誘電正接及び絶縁抵抗とする。 

3.4 

品質認証 

3.4.1 

一般事項 

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1のQ.5(品質認証手順)による。 

ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,この規格の3.5による。 

定数抜取手順は3.4.2及び3.4.3による。 

3.4.2 

定数抜取手順に基づく品質認証 

定数抜取手順は,JIS C 5101-1のQ.5.3(品質認証用試験手順)のb) による。試料は,認証を得ようと


C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

するコンデンサの全ての範囲を代表するものとし,認証範囲は,個別規格に規定する範囲であっても,又

はその一部でもよい。 

抜き取る試料は,定格電圧の最高電圧及び最低電圧と公称静電容量の最大値及び最小値とによる組合せ

による。定格電圧が5種類以上ある場合は,中間の定格電圧による公称静電容量の組合せのものも試験す

る。このように一つの認証範囲の試験には,4組合せ(公称静電容量と定格電圧とによる組合せ)又は6

組合せの試料を必要とする。認証範囲の試料が4組合せ未満で構成される場合には,試料数は4組合せの

場合と同数とする。 

予備の試料は,製造業者の責任でない不適合品の置換え用として,1組合せごとに2個(6組合せの場合)

又は3個(4組合せの場合)とする。 

表4及び表5に示す群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数とし,全ての試

験を適用しない場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。 

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。 

品質認証試験の場合の各群及び副群の抜取数及び合格判定数を表4に示す。 

3.4.3 

試験 

表4及び表5に規定する試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証にとって必要な試験であり,

各群の試験は,記載の順に従って行う。 

全ての試料は,群0の試験を行い,その後にその他の群に分割する。群0の試験中に発生した不適合品

は,その他の群に用いない。不適合数がゼロの場合には,品質認証は合格とする。 

表4及び表5は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表4は,各試験又は各試験群

に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表5は,箇条4の試験の詳細を規定,試験条件

及び要求性能の要点の一覧を示すとともに個別規格に選定する試験方法又は試験条件を規定している。定

数抜取手順に基づく品質認証試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検査と同

じであることが望ましい。 

 


C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表4−品質認証試験の抜取計画−評価水準EZ 

群番号 

試験項目 

この規格の 

細分箇条番号 

試料数(n)a) 

合格判定数(c) 

外観 

4.2 

144+12 d) 

寸法 

4.2 

静電容量 

4.3.2 

誘電正接 

4.3.3 

耐電圧 

4.3.1 

絶縁抵抗 

4.3.4 

予備試料 

− 

 

1A 

はんだ耐熱性 

4.6 

 

12 

部品の耐溶剤性b) 

4.13 

1B 

はんだ付け性 

4.7 

12 

表示の耐溶剤性b) 

4.14 

耐プリント板曲げ性 

4.5 

12 

取付け 

4.1 

108 

0 c) 

外観 

4.2.1 

静電容量 

4.3.2 

誘電正接 

4.3.3 

絶縁抵抗 

4.3.4 

 

3.1 

固着性 

4.4 

24 

温度急変 

4.8 

一連耐候性 

4.9 

3.2 

高温高湿(定常) 

4.10 

24 

3.3 

耐久性 

4.11 

36 

3.4 

充放電 

4.12 

24 

注a) 公称静電容量と定格電圧との組合せは,3.4.2による。 

b) 要求がある場合 

c) 取付け後に発見した取付けに起因する不適合品は,判定には入れない。これらの不適合品は,

予備試料と交換する。 

d) 予備試料 

 

 

表5−品質認証の試験計画 

細分箇条番号及び 

試験・検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群0 

ND 

 

表4による。 

4.2.1 外観 

4.2.2による。 

個別規格の規定による。 

4.2 寸法(詳細) 

 

個別規格の規定による。 

4.3.2 静電容量 

4.3.2.2による。 

規定の許容差による。 

4.3.3 誘電正接 

4.3.3.2による。 

表9による。 

4.3.1 耐電圧 

4.3.1.2及び4.3.1.3による。 

絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。ただし,一時的瞬時
破壊があってもよい。 

4.3.4 絶縁抵抗 

4.3.4.2による。 

表10による。 

 


C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表5−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号及び 

試験・検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群1A 

 

表4による。 

4.6 はんだ耐熱性 

4.6.3による。 

 

4.6.2 初期測定 

4.3.2.2による。 

 

4.6.4 後処理 

4.6.4による。 

 

4.6.5 最終測定 

 

 

 

外観 

4.2.2による。 

クラックのような損傷の兆候
がない。 

 

静電容量c), e) 

4.3.2.2による。 

4.6.2の測定値に対して, 
 性能等級1及び2 
  |ΔC/C|≦2 %, 
 性能等級3 
  |ΔC/C|≦3 % 

4.13 部品の耐溶剤性 

4.13による。 
方法2 

個別規格の規定による。 

群1B 

 

表4による。 

4.7 はんだ付け性 

4.7.2による。 

 

4.7.3 最終測定 

 

 

 

外観c), e) 

4.2.2による。 

端子の表面部分は,新しいは
んだで覆われていて,僅かに
点在する部分以外に,ピンホ
ール,ぬれなし及びはんだは
じきがない。 

4.14 表示の耐溶剤性 

4.14による。 
方法1 

表示は,明瞭とする。 

群2 

 

表4による。 

4.5 耐プリント板曲げ
性d) 

JIS C 5101-1の4.35による。 

 

4.5.2 初期測定 

 

 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

 

4.5.3 最終測定 

 

 

 

外観 

4.2.2による。 

損傷がない。 

 

静電容量 

4.3.2.2による(プリント配線板
を曲げた状態)。 

4.5.2の測定値に対して, 
 性能等級1及び2 
  |ΔC/C|≦2 %, 
 性能等級3 
  |ΔC/C|≦5 % 

群3 

 

表4による。 

4.1 取付け 

4.1による。 
プリント配線板の材質:...d) 

 

 

外観 

4.2.2による。 

個別規格の規定による。 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

4.3.2の測定値に対して, 
 性能等級1及び2 
  |ΔC/C|≦2 %, 
 性能等級3 
  |ΔC/C|≦3 % 

 

誘電正接 

4.3.3.2による。 

個別規格の規定による。 

 

絶縁抵抗 

4.3.4.2による。 

個別規格の規定による。 


C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表5−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号及び 

試験・検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群3.1 

 

表4による。 

4.4 固着性 

4.4による。 

 

4.8 温度急変 

4.8.3による。 

TA=カテゴリ下限温度 
TB=カテゴリ上限温度 

 

4.8.2 初期測定 

 

 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

 

 

誘電正接 

4.3.3.2による。 

 

4.8.4 最終測定 

 

 

 

外観 

4.2.2による。 

損傷がない。 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

個別規格の規定による。 

 

誘電正接 

4.3.3.2による。 

個別規格の規定による。 

4.9 一連耐候性 

 

 

4.9.2 初期特性 

 

 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

 

 

誘電正接 

CN≦1  洀

10 kHz 

CN>1  洀

1 kHz 

 
4.3.3.4による。 
4.3.3.2による。 

 

4.9.3 高温 

4.9.3による。 
温度:カテゴリ上限温度 
時間:16 h 

 

4.9.4 温湿度サイクル 
(試験Db),最初のサイ
クル 

4.9.4による。 

 

4.9.5 低温 

4.9.5による。 
温度:カテゴリ下限温度 
時間:2 h 

 

4.9.6 温湿度サイクル 
(試験Db),残りのサイ
クル 

4.9.6による。 

 

4.9.7 後処理 

4.9.7による。 

 

4.9.8 最終測定 

 

 

 

外観 

4.2.2による。 

損傷がない。 
表示は,明瞭とする。 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

4.9.2の測定値に対して, 
 性能等級1及び2 
  |ΔC/C|≦3 %, 
 性能等級3 
  |ΔC/C|≦5 % 

 


10 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表5−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号及び 

試験・検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群3.1(続き) 

 

表4による。 

4.9.8 最終測定 

 

 

 

誘電損失 

CN≦1  洀

10 kHz 

 
4.3.3.4による。 

誘電正接の増加: 
4.9.2の測定値に対して, 
 性能等級1:≦0.002 5 
 性能等級2:≦0.004 
 性能等級3:≦0.005 

CN>1  洀

1 kHz 

4.3.3.2による。 

4.9.2の測定値に対して, 
 性能等級1:≦0.001 5 
 性能等級2:≦0.002 5 
 性能等級3:≦0.003 

 

絶縁抵抗 

4.3.4.2による。 

4.3.4.3の値に対して, 
 性能等級1及び2 
  ≧50 %, 
 性能等級3 
  ≧25 % 

群3.2 

 

表4による。 

4.10 高温高湿(定常) 

4.10.3による。 

 

4.10.2 初期測定 

 

 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

 

 

誘電正接 

4.3.3.2による。 

 

4.10.4 後処理 

4.10.4による。 

 

4.10.5 最終測定 

 

 

 

外観 

4.2.2による。 

損傷がない。 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

4.10.2の測定値に対して, 
 性能等級1及び2 
  |ΔC/C|≦3 %, 
 性能等級3 
  |ΔC/C|≦5 % 

 

誘電正接 

4.3.3.2による。 

誘電正接の増加: 
4.10.2の測定値に対して, 
 ≦0.002 5 

 

絶縁抵抗 

4.3.4.2による。 

4.3.4.3の値に対して, 
 性能等級1及び2 
  ≧50 %, 
 性能等級3 
  ≧25 % 

 


11 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表5−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号及び 

試験・検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群3.3 

 

表4による。 

4.11 耐久性 

4.11.3による。 

 

4.11.2 初期測定 

 

 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

 

 

誘電正接 

CN≦1  洀

10 kHz 

CN>1  洀

1 kHz 

 
4.3.3.4による。 
4.3.3.2による。 

 

4.11.4 最終測定 

 

 

 

外観 

4.2.2による。 

損傷がない。 
表示は,明瞭とする。 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

4.11.2の測定値に対して, 
 性能等級1 
  |ΔC/C|≦5 %, 
 性能等級2及び3 
  |ΔC/C|≦8 % 

 

誘電正接 

CN≦1  洀

10 kHz 

 
4.3.3.4による。 

誘電正接の増加: 
4.11.2の測定値に対して, 
 性能等級1 
  ≦0.003, 
 性能等級2及び3 
  ≦0.005 

CN>1  洀

1 kHz 

4.3.3.2による。 

4.11.2の測定値に対して, 
 性能等級1 
  ≦0.002, 
 性能等級2及び3 
  ≦0.003 

 

絶縁抵抗 

4.3.4.2による。 

4.3.4.3の値に対して, 
 性能等級1及び2 
  ≧50 % 
 性能等級3 
  ≧30 % 

 


12 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表5−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号及び 

試験・検査項目a) 

D又は 

ND b) 

試験及び測定条件a) 

試料数(n)
及び合格判

定数(c) 

要求事項a) 

群3.4 
4.12 充放電 

 
4.12.3による。 

表4による。 

 

4.12.2 初期測定 

 

 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

 

 

誘電正接 

CN≦1  洀

10 kHz 

CN>1  洀

1 kHz 

 
4.3.3.4による。 
4.3.3.2による。 

 

4.12.4 後処理 

4.12.4による。 

 

4.12.5 最終測定 

 

 

 

静電容量 

4.3.2.2による。 

4.12.2の測定値に対して, 
 性能等級1 
  |ΔC/C|≦3 %, 
 性能等級2 
  |ΔC/C|≦5 %, 
 性能等級3 
  |ΔC/C|≦8 % 

 

誘電正接 

CN≦1  洀

10 kHz 

 
4.3.3.4による。 

誘電正接の増加: 
4.12.2の測定値に対して, 
 性能等級1:≦0.003 
 性能等級2及び3:≦0.005 

CN>1  洀

1 kHz 

4.3.3.2による。 

4.12.2の測定値に対して, 
 性能等級1:≦0.002 
 性能等級2及び3:≦0.003 

 

絶縁抵抗 

4.3.4.2による。 

4.3.4.3の値に対して, 
 性能等級1及び2 
  ≧50 %, 
 性能等級3 
  ≧30 % 

注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は,箇条4による。 

b) この表でDは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。 

c) この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で行ってもよい。 

d) 各群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの群で用いるプリント配線板材料を個別規格に

規定する。 

e) 要求がある場合 

 

3.5 

品質確認検査 

3.5.1 

検査ロットの構成 

3.5.1.1 

群A及び群B検査 

この検査は,ロットごとに行う。 

製造業者は,次の条件で製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。 

a) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。 

b) 試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組合せ

を代表とし,次の事項を考慮する。 

− 組合せ数 


13 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

− 1組合せ当たり5個以上 

c) IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき,製造業者

は,認証機関(CB)の承認が必要となる。 

3.5.1.2 

群C検査 

この検査は,定期的に行う。 

試料は,規定の期間に工程に流れているコンデンサを代表とし,かつ,定格電圧の高,中及び低電圧,

又は外形寸法で分類したコンデンサを選定する。いずれの期間でも認証の範囲を対象とするために,定格

電圧の高,中及び低電圧群ごとに一つの外形寸法のコンデンサを試験する。その後の期間では,製造の全

ての範囲を対象とするために,製造中のその他の定格電圧及び/又は外形寸法のコンデンサを試験する。 

3.5.2 

試験計画 

ロットごとの及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格の箇条2の表4(品質確認検査

の試験計画)による。 

3.5.3 

長期保管後の出荷 

JIS C 5101-1のQ.10(長期保管後の出荷)の規定によって,はんだ付け性及び静電容量について群A及

び群Bの再検査を行う。 

3.5.4 

評価水準 

ブランク個別規格に規定する評価水準は,表6及び表7から選定することが望ましい。 

 

表6−ロットごとの品質確認検査 

検査副群b) 

IL a) 

n a) 

c a) 

A0 

100 % c) 

A1 

S-3 

d) 

A2 

S-3 

d) 

B1 

S-3 

d) 

B2 

S-3 

d) 

注a) この表の記号は,次による。 

IL=検査水準,n=試料数,c=合格判定数 

b) 検査副群の内容は,ブランク個別規格の箇条2(検査要求事項)による。 

c) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で

ある。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全
て検査する。抜取水準は,製造業者が選定する。その場合JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %
における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]によ
る。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とするが,品質水準
を算出するために,不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2の6.2
(SVQLの算出)に規定する方法によって,累積した検査データから算出する。 

d) 試料数(n)は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)によって決定する。 

 


14 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表7−定期的品質確認検査 

検査副群b) 

p a) 

n a) 

c a) 

C1 

12 

C2 

12 

C3.1 

27 

C3.2 

15 

C3.3 

15 

C3.4 

注a) この表の記号は,次による。 

p=検査周期(月),n=試料数,c=合格判定個数 

b) 検査副群の内容は,ブランク個別規格の箇条2(検査要求事項)による。 

 

試験及び測定手順 

注記 この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足するものである。 

4.1 

取付け 

取付けは,JIS C 5101-1の4.33[取付け(表面実装用コンデンサに適用)]による。 

4.2 

外観及び寸法 

4.2.1 

一般事項 

外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,4.2.2及び4.2.3による。 

4.2.2 

外観検査及び寸法検査 

外観は,供試品が要求する品質水準に適した照明付きの倍率約10倍の拡大鏡を用いて検査する。 

作業者には,適切な拡大鏡に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。 

コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法及び出来栄え(ワークマンシップ)が,個別規格に規

定する要求事項を満足することを証明するために検査する。 

4.2.3 

要求事項 

表5による。 

4.3 

電気的性能 

4.3.1 

耐電圧 

4.3.1.1 

一般事項 

耐電圧は,JIS C 5101-1の4.6(耐電圧)によるほか,4.3.1.2〜4.3.1.4による。 

4.3.1.2 

試験回路 

コンデンサC1を削除する。 

R1と試料(CX)の公称静電容量との積は,0.01 sを超え1 s以下とする。 

R1は,電源の内部抵抗を含む。 

R2は,放電電流を1 A以下に制限する値とする。 

4.3.1.3 

試験条件 

JIS C 5101-1の表3(測定箇所)に規定する測定箇所に表8の試験電圧を,品質認証試験の場合は1分間,

ロットごとの品質確認検査の場合は1秒間印加する。 

 


15 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

表8−試験電圧 

性能等級 

試験電圧 

1.6 UR 

1.4 UR 

1.4 UR 

 

4.3.1.4 

要求事項 

表5による。 

4.3.2 

静電容量 

4.3.2.1 

一般事項 

静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,4.3.2.2及び4.3.2.3による。 

4.3.2.2 

測定条件 

静電容量は,周波数1 kHzで測定又は測定値を周波数1 kHzの値に補正する。ただし,10 

称静電容量のものは,周波数50 Hz〜120 Hzで測定してもよい。 

周波数1 kHzでの測定電圧のピーク値は,定格電圧の3 %以下とし,周波数50 Hz〜120 Hzでのピーク

値は,定格電圧の20 %又は100 V(実効値で70 V相当)のうちいずれか小さい値以下とする。 

4.3.2.3 

要求事項 

表5による。 

4.3.3 

誘電正接 

4.3.3.1 

一般事項 

誘電正接は,JIS C 5101-1の4.8.1[誘電正接(損失角の正接)]によるほか,4.3.3.2〜4.3.3.4による。 

4.3.3.2 

周波数1 kHzでの測定条件 

誘電正接の測定は,次による。 

− 周波数: 1 kHz 

− ピーク電圧: 定格電圧の3 %以下 

− 確度: 10×10−4(絶対値)以下 

4.3.3.3 

周波数1 kHzでの要求事項 

誘電正接は,表9に示す値以下とする。 

 

表9−誘電正接規定値 

公称静電容量 

誘電正接(絶対値) 

性能等級1 

性能等級2 

性能等級3 

1 洀

下 

0.002 

0.004 

0.004 

1

0.004 

0.004 

0.004 

 

4.3.3.4 

周波数10 kHzでの測定条件 

CN≦1 

ンデンサに対して,表5の中で誘電正接の測定の要求がある場合の条件は,次による。 

− 周波数: 10 kHz 

− 電 圧: 1 V(実効値)以下 

− 確 度: 10×10−4(絶対値)以下 


16 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

4.3.4 

絶縁抵抗 

4.3.4.1 

一般事項 

絶縁抵抗は,JIS C 5101-1の4.5(絶縁抵抗)によるほか,4.3.4.2及び4.3.4.3による。 

4.3.4.2 

測定条件 

試験に先立って,コンデンサ表面の汚れを取り,きれいにする。試験槽の中及び試験後の測定中もコン

デンサ表面の清浄度を維持するように注意する。 

測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗値と試料の公称静電容量値との積は,0.01 s 以

上又は個別規格の規定による。 

測定電圧は,JIS C 5101-1の4.5.2(測定条件)による。測定箇所は,JIS C 5101-1の表3(測定箇所)に

よる。 

測定電圧は,電源の内部抵抗を通して規定値を直接印加する。 

内部抵抗値と公称静電容量値との積は,1 s未満又は個別規格の規定による。 

4.3.4.3 

要求事項 

絶縁抵抗は,表10に示す値を満足しなければならない。 

 

表10−絶縁抵抗の要求性能 

RCの最小値 

(R=端子間の絶縁抵抗) 

(C=公称静電容量CN) 

端子間の絶縁抵抗の最小値 

 
 

MΩ 

CN>0.33  洀

CN≦0.33  洀

定格電圧 

>100 V 

≦100 V 

<63 V 

>100 V 

≦100 V 

<63 V 

性能等級 

10 000 

2 500 

5 000 

1 250 

1 000 

30 000 

7 500 

15 000 

3 750 

3 000 

 

温度+20 ℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて温度+20 ℃

の値に補正する。判定に疑義が生じた場合は,温度+20 ℃で測定する。表11に示す補正係数は,メタラ

イズドポリフェニレンスルフィドフィルムコンデンサの平均値である。 

 

表11−試験温度に対応する補正係数 

温度 

℃ 

補正係数 

+15 

0.95 

+20 

1.00 

+23 

1.03 

+27 

1.07 

+30 

1.09 

+35 

1.14 

 

4.4 

固着性 

4.4.1 

一般事項 

固着性は,JIS C 5101-1の4.34(固着性)による。 


17 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

4.5 

耐プリント板曲げ性 

4.5.1 

一般事項 

耐プリント板曲げ性は,JIS C 5101-1の4.35(耐プリント板曲げ性)によるほか,4.5.2及び4.5.3による。 

4.5.2 

初期測定 

表5による。 

4.5.3 

最終測定及び要求事項 

表5による。 

4.6 

はんだ耐熱性 

4.6.1 

一般事項 

はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1の4.14(はんだ耐熱性)によるほか,4.6.2〜4.6.5による。 

4.6.2 

初期測定 

表5による。 

4.6.3 

試験条件 

試験条件は次による。 

− 方法: 個別規格に規定するはんだ槽法又はリフロー法とする。 

− 試験の厳しさ(はんだ槽法): 個別規格に規定する温度及び浸せき時間による。 

試験の厳しさ(リフロー法): 個別規格に規定するリフロー温度プロファイルによる。 

注記 対応国際規格の規定だけでは,試験を実施する上で不適切であったため,より分かりやすくし

た。 

4.6.4 

後処理 

後処理時間は24 h±2 hとする。 

4.6.5 

最終測定及び要求事項 

表5による。 

4.7 

はんだ付け性 

4.7.1 

一般事項 

はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)によるほか,4.7.2及び4.7.3による。 

4.7.2 

試験条件 

試験条件は個別規格に規定する。個別規格に規定がない場合,前処理(エージング)は要求しない。 

4.7.3 

最終測定及び要求事項 

表5による。 

4.8 

温度急変 

4.8.1 

一般事項 

温度急変は,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,4.8.2〜4.8.4による。 

コンデンサは,4.1によって取り付ける。 

4.8.2 

初期測定 

表5による。 

4.8.3 

試験条件 

試験条件は次による。 

− サイクル数: 5回 

− カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に保持する時間: 30 分間 


18 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

4.8.4 

最終測定及び要求性能 

表5による。 

4.9 

一連耐候性 

4.9.1 

一般事項 

一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,4.9.2〜4.9.8による。 

コンデンサは,4.1によって取り付ける。 

4.9.2 

初期特性 

表5による。 

4.9.3 

高温 

高温は,JIS C 5101-1の4.21.2(高温)による。 

4.9.4 

温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル 

温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイクル(試験Db),最

初のサイクル]による。 

4.9.5 

低温 

低温は,JIS C 5101-1の4.21.4(低温)による。 

4.9.6 

温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル 

温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイクル(試験Db),残

りのサイクル]によるほか,次による。 

試験槽から取り出し15分間以内に,4.3.1に規定する試験回路条件で測定箇所1aに定格電圧を1分間印

加する。 

4.9.7 

後処理 

後処理時間は1 h〜2 hとする。 

4.9.8 

最終測定及び要求事項 

表5による。 

4.10 高温高湿(定常) 

4.10.1 一般事項 

高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,4.10.2〜4.10.5による。 

コンデンサは,4.1によって取り付ける。 

4.10.2 初期測定 

表5による。 

4.10.3 試験条件 

試験条件は次による。 

− 温度: +40 ℃±2 ℃ 

− 相対湿度: (93±3)% 

− 試験電圧: 印加しない。 

− 試験期間: 4日,10日,21日又は56日 

4.10.4 後処理 

後処理時間は1 h〜2 hとする。 

4.10.5 最終測定及び要求事項 

表5による。 


19 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

4.11 耐久性 

4.11.1 一般事項 

耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,4.11.2〜4.11.4による。 

コンデンサは,4.1によって取り付ける。 

4.11.2 初期測定 

表5による。 

4.11.3 試験条件 

性能等級1のコンデンサは2 000時間,性能等級2及び性能等級3のコンデンサは1 000時間の試験を行

う。試験条件は,表12による。 

 

表12−耐久性試験 

カテゴリ 

−/100又は105/− 

−/125/− 

−/155/− 

温度 

+100 ℃又は 

+105 ℃ 

+125 ℃ 

+100 ℃又は

+105 ℃ 

+155 ℃ 

+100 ℃又は

+105 ℃ 

電圧(DC) 

1.25 UR 

1.25 UC 

1.25 UR 

1.25 UC 

1.25 UR 

試料の分類 

分割しない 

2分割 

2分割 

 

試験電圧は,それぞれのコンデンサに次の式による抵抗器を通じて印加する。 

)

Ω

(

022

.0

N

C

R

 

ここに, 

CN: 公称静電容量(F) 

抵抗器の抵抗値Rは,計算値の±30 %以内で最大2 MΩとする。 

試験後,コンデンサの後処理を行い,この箇条に示すRと同じ抵抗器で放電する。 

4.11.4 最終測定及び要求事項 

表5による。 

4.12 充放電 

4.12.1 一般事項 

充放電は,JIS C 5101-1の4.27(充放電試験及び突入電流試験)によるほか,4.12.2〜4.12.5による。 

コンデンサは,4.1によって取り付ける。 

4.12.2 初期測定 

表5による。 

4.12.3 試験条件 

コンデンサは,1秒間に約1サイクルの割合で充放電を10 000サイクル行う。各サイクルは,コンデン

サの充電及び放電で構成する。 

放電は,各コンデンサに対し次の式による抵抗値又は充電電流を1 A(又は個別規格に規定するよりも

高い電流値)以下とする抵抗値のいずれか大きい抵抗器を通じ定格電圧で行う。 

)

Ω

(

10

220

N

6

C

R

 

ここに, 

CN: 公称静電容量(F) 

放電は,各コンデンサに対し20 Ω以上で次の式による抵抗値,又は個別規格に規定がある場合は,個別

規格に規定する抵抗値より小さい値の抵抗器を通じて行う。 


20 

C 5101-20:2018 (IEC 60384-20:2015) 

 

)

Ω

(

10

10

N

6

C

R

 

ここに, 

CN: 公称静電容量(F) 

4.12.4 後処理 

後処理時間は1 h〜2 hとする。 

4.12.5 最終測定及び要求事項 

表5による。 

4.13 部品の耐溶剤性(要求がある場合) 

部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.31(部品の耐溶剤性)による。 

4.14 表示の耐溶剤性(要求がある場合) 

表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.32(表示の耐溶剤性)による。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

参考文献 JIS C 5101-14 電子機器用固定コンデンサ−第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コ

ンデンサ 

注記 対応国際規格:IEC 60384-14,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14: 

Sectional specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and 

connection to the supply mains(IDT) 

JIS C 6065 オーディオ,ビデオ及び類似の電子機器−安全性要求事項