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C 5402-11-14

:2006 (IEC 60512-11-14:2003)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会(JEITA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標

準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 5402-11-14:2002 は改正され,この規格に置き換えられる。

改正に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-11-14:2003,Connectors for

electronic equipment

−Tests and measurements−Part 11-14: Climatic tests−Test 11p: Flowing single gas corrosion

test

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100  第 1-100 部:一般―試験一覧による。


C 5402-11-14

:2006 (IEC 60512-11-14:2003)

(2)

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲及び目的  

1

2.

  引用規格  

1

3.

  供試品の準備  

2

4.

  試験方法  

3

4.1

  手順  

3

4.2

  試験の厳しさ  

3

4.3

  最終測定  

3

5.

  個別規格に規定する事項  

3

 


日本工業規格(案)

JIS

 C

5402-11-14

:2006

(IEC 60512-11-14

:2003

)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―

第 11-14 部:耐候性試験―試験 11p:

単一ガス流腐食

Connectors for electronic equipment

−Tests and measurements−

Part 11-14: Climatic tests

Test 11p: Flowing single gas corrosion test

序文  この規格は,2003 年に第 2 版として発行された IEC 60512-11-14,Connectors for electronic equipment

−Tests and measurements−Part 11-14: Climatic tests−Test 11p: Flowing single gas corrosion test を翻訳し,技術

的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1. 

適用範囲及び目的  この規格は,個別規格で要求する場合,電子機器用コネクタ(以下,コネクタと

いう。

)を試験するために用いる。この規格は,工場環境において,規定する濃度の汚染ガスの下での腐食

の影響を評価するための,標準の試験方法について規定する。この試験は,個別規格に規定がある場合に

は,類似の部品に使用してもよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-11-14:2003

,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 11-14:

Climatic tests

−Test 11p Flowing single gas corrosion test (IDT)

2. 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その

最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5402-1-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-1 部:一般試験−試験 1a:外観

備考  IEC 60512-1-1:2002,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-1:

General examination

−Test 1a: Visual examination が,この規格と一致している。

JIS C 5402-2-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-1 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2a:接

触抵抗−ミリボルトレベル法

備考  IEC 60512-2-1:2002,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-1:

Electrical continuity and contact resistance tests

−Test 2a: Contact resistance−Millivolt level

method

が,この規格と一致している。


2

C 5402-11-14

:2006 (IEC 60512-11-14:2003)

JIS C 5402-2-2

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-2 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2b:接

触抵抗−規定電流法

備考  IEC 60512-2-2:2003,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-2:

Electrical continuity and contact resistance tests

−Test 2b:Contact resistance−Specified test

current method

が,この規格と一致している。

JIS C 5402-2-3

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-3 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2c:接

触抵抗−接触抵抗の変動

備考  IEC 60512-2-3:2002,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-3:

Electrical continuity and contact resistance tests

−Test 2c: Contact resistance−Contact resistance

variation

が,この規格と一致している。

JIS C 5402-3-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 3-1 部:絶縁試験−試験 3a:絶縁抵抗

備考  IEC 60512-3-1:2002,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 3-1:

Insulation test

−Test 3a: Insulation resistance が,この規格と一致している。

JIS C 5402-4-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 4-1 部:電圧ストレス試験−試験 4a:耐電圧

備考  IEC 60512-4-1:2003,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 4-1:

Voltage stress tests

−Test 4a: Voltage proof が,この規格と一致している。

JIS C 5402-13-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 13-1 部:機械的動作試験−試験 13a:  結合

力及び離脱力

備考

IEC 60512-13-1:1996

,Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing

procedures and measuring methods – Part 13: Mechanical operating tests – Section 1: Test 13a:

Engaging and separating forces

が,この規格と一致している。

JIS C 60068-2-42

  環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法

備考  IEC 60068-2-42:1982,Basic environmental testing procedures – Part 2:Tests – Test Kc: Sulphur

dioxide test for contacts and connections

がこの規格と一致している。

JIS C 60068-2-43

  環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の硫化水素試験方法

備考  IEC 60068-2-43:1976,Basic environmental testing procedure – Part 2:Tests – Test Kd: Hydrogen

sulphide test for contacts and connections

がこの規格と一致している。

JIS C 60068-2-49

  環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法−指針

備考  IEC 60068-2-49:1983,Basic environ mental testing procedures – Part 2:Tests – Guidance to Test

Kc: Sulphur dioxide test for contacts and connections

がこの規格と一致している。

JIS C 60721-3-3

  環境条件の分類    環境パラメータとその厳しさのグループ別分類    屋内固定使用の

条件

備考  IEC 60721-3-3:1994,Classification of environmental conditions – Part 3-3: Classification of

groups of environmental parameters and their severities – Stationary use at weatherprotected

locations

がこの規格と同等である。

3.

供試品の準備  供試品は個別規格に従って準備し,取り付ける。個別規格で要求する場合には,供試

品を試験前に規定回数,挿入及び引抜きを行う。各試験を行うために個別規格には,コネクタの条件及び

試験の厳しさ(例えば,挿入及び引抜きの有無,結合又は非結合)を規定する。

備考  供試品が複数の場合には,供試品を条件の異なる二つのグループに分割することが望ましい。


3

C 5402-11-14

:2006 (IEC 60512-11-14:2003)

4. 

試験方法

4.1

手順  この試験は,次の規格によって行う。

−二酸化硫黄試験方法  JIS C 60068-2-42 及び JIS C 60068-2-49

−硫化水素試験方法  JIS C 60068-2-43

4.2

試験の厳しさ  個別規格に規定する試験の厳しさは,次の項目によって表 のとおり定義する。

−汚染ガスの種類及び濃度

−温度

−相対湿度

−暴露期間

1  試験の厳しさ

方法

汚染ガス

厳しさ 1

(

1

)

厳しさ 2

(

2

)

A SO

2

1

以下 10 以下

B H

2

S

0.1

以下

  1

以下

備考 1.  すべての値は,10

-6

 vol/vol

2. 

すべての試験方法に対し:温度:25  ℃±1  ℃又は 30  ℃±1  ℃

相対湿度:75  %±3  %

暴露期間:4 日間,10 日間又は 21 日間

3.

浸食性の性質は,方法 A と方法 B とでは異なるために,これらの方法の比較は行

わない。

4.

十分に経験を積んだ後に,その他の方法を追加してもよい。

5.

供試品及び試験機器の結露は,避ける。

注(

1

)

JIS C 60721-3-3

の分類 3C1

    (

2

)

JIS C 60721-3-3

の分類 3C2

4.3 

最終測定  上記試験の後,供試品は,次の試験に従って検査する(適用する場合)。

−外観  JIS C 5402-1-1

−接触抵抗  JIS C 5402-2-1 又は JIS C 5402-2-2 及び JIS C 5402-2-3

−絶縁抵抗  JIS C 5402-3-1

−耐電圧  JIS C 5402-4-1

−結合力及び離脱力  JIS C 5402-13-1  を,特に次の点に留意して,併せて行う。

a)

クラック

b) 

はく(剥)離

c)

暴露金属表面の孔食(ピッティング)

5. 

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

供試品の準備及び取付方法

b)

供試品の前処理(要求する場合)


4

C 5402-11-14

:2006 (IEC 60512-11-14:2003)

c)

汚染ガスの厳しさ,種類,濃度及び温度

d)

初期測定

e)

要求事項

f)

暴露期間

g)

最終測定

h)

この試験方法との相違