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C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1  一般事項

1

1.1  適用範囲

1

1.2  目的

1

1.3  引用規格

2

1.4  個別規格に規定する事項

2

1.5  用語及び定義

3

1.6  表示

4

2  推奨特性及び定格

5

2.1  推奨特性

5

2.2  推奨定格値

5

3  品質評価手順

6

3.1  製造の初期工程

6

3.2  構造的に類似なコンデンサ

6

3.3  出荷対象ロットの成績証明書

6

3.4  品質認証試験

6

3.5  品質確認検査

7

4  試験及び測定手順

8

4.1  予備乾燥

8

4.2  測定条件

8

4.3  取付け

8

4.4  外観及び寸法

8

4.5  電気的性能

8

4.6  はんだ耐熱性

9

4.7  はんだ付け性

10

4.8  固着性

10

4.9  耐プリント板曲げ性

10

4.10  温度急変

10

4.11  一連耐候性(形状 のコンデンサだけに適用)

11

4.12  高温高湿(定常)(形状 のコンデンサだけに適用)

11

4.13  高温及び低温特性

11

4.14  サージ

12

4.15  耐久性

12

4.16  逆電圧(個別規格に規定がある場合)

13

4.17  部品の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

13


C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)  目次

(2)

ページ

4.18  表示の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

13

4.19  大電流サージ(個別規格に規定がある場合)

13

附属書 A(規定)評価水準 EZ の抜取計画

14

附属書 B(規定)評価水準 EZ の試験計画

18


C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって,JIS C 5101-3:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2  第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS

C

5101-2-1  第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3  第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

JIS

C

5101-3-1  第 3-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

評価水準 EZ

JIS

C

5101-4  第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1  第 4-1 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-4-2  第 4-2 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ−評価水準

EZ

JIS

C

5101-8  第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1  第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1  第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11  第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS

C

5101-11-1  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13  第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1  第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14  第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1  第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D


C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)  目次

(4)

JIS

C

5101-14-2  第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3  第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15  第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16  第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1  第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17  第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS

C

5101-17-1  第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18  第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コン

デンサ

JIS

C

5101-18-1  第 18-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コン

デンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-18-2  第 18-2 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準 EZ

JIS

C

5101-20  第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1  第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22  第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23  第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24  第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-24-1  第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ


C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

(5)

JIS

C

5101-25  第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ

JIS

C

5101-25-1  第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-26  第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-26-1  第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ  評価水準 EZ(予定)


C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)  目次

(6)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

5101-3

:2010

(IEC 60384-3

:2006

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 3 部:品種別通則:

表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)

電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 3: Sectional specification

Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with

manganese dioxide solid electrolyte

序文

この規格は,2006 年に第 3 版として発行された IEC 60384-3 を基に,技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,主に電子機器用の直流回路に用いる表面

実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ(以下,コンデンサという。)について規定する。

この規格は,ハイブリッド回路又はプリント配線板に直接取り付けるコンデンサを範囲とし,次の二つ

の形状に適用する。

形状 1:外装したコンデンサ (Protected capacitors)

形状 2:外装なしのコンデンサ (Unprotected capacitors)

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-3:2006,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 3: Sectional specification:

Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with manganese dioxide solid electrolyte

(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

1.2

目的

この規格の目的は,推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1 から適切な品質評価手順,

試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求性能を規定する。この品種別通則に基づいた個別規格に規定

する個々の試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等又は高い水準とする。


2

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

1.3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0025:1988  環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

JIS C 5062  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors (MOD)

JIS C 5063  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors,Amendment

1:1967 及び Amendment 2:1977 (IDT)

JIS C 5101-1:2010  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification (IDT)

JIS C 60068-1:1993  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1:1992 (IDT)

JIS Z 8601  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3:1953,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能と同等又は高い水準とする。よ

り厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9 に記載し,更に,試験計画の中に,例え

ば,アステリスク(*)を付けて明示する。

各個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区分が容易にできるように図示する。コンデンサ

の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値は,

ミリメートル (mm) で規定する。

注記  寸法及び寸法許容差は,一覧表で示してもよい。

寸法は,本体の長さ,幅及び高さ並びに端子の幅,長さ及び端子間隔とする。一つの個別規格で複数の

外形寸法記号を範囲とする場合など,必要に応じて,外形図の下に表を付けて寸法及び寸法許容差を記載

する。

形状が上記のコンデンサと異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に示す寸法を規定する。

1.4.2

取付け

個別規格には,通常使用する場合の取付方法を規定する。コンデンサは,その規定した方法で取り付け

る。試験及び測定のための取付方法(適用する場合)は,4.3 による。


3

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。

1.4.3.1

公称静電容量範囲

公称静電容量の範囲は,2.2.1 による。

注記  IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範

囲とが異なるとき,次の文章を追加する。

“各定格電圧での公称静電容量の範囲は,品質認証書  (Qualification approval certificate)  によ

る。

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,その規定を追加してもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定によ

る。

1.4.4

表示

コンデンサ及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6 と異なる場合は,その項目を個別

規格に明記する。

注記  対応国際規格が参照している細分箇条  (1.5)  は,明らかな誤記である。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1 の 2.2(用語及び定義)によるほか,次による。

1.5.1

表面実装用コンデンサ  (surface mount capacitors)

小さな寸法で端子の種類又は形状が,ハイブリッド回路及びプリント配線板での使用に適した固定コン

デンサ。

1.5.2

定格電圧,U

R

 (rated voltage)

JIS C 5101-1 の 2.2.25(定格電圧)による。

注記 1  コンデンサに印加する直流電圧と重畳する交流電圧のピーク値との和は,定格電圧以下であ

る。

注記 2  短時間の場合は,印加電圧が定格電圧を超えてもよい(2.2.5 及び 4.14 参照)。

1.5.3

等級 1 (class 1)

低い損失角の正接及び高い容量安定性をもつ,低い CV 積のタンタル粉末を用いたコンデンサ。

1.5.4

等級 2 (class 2)

低い損失角の正接及び高い容量安定性をもつが,おおむね重要な機器の用途に用いるものではなく,中

間の CV 積のタンタル粉末を用いたコンデンサ。

1.5.5

等級 3 (class 3)

小形で大容量が必要で,かつ,高い損失角の正接及び容量安定性が低くても許容できる用途に用いるも

ので,高い CV 積のタンタル粉末を用いたコンデンサ。


4

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

1.6

表示

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4(表示)によるほか,次による。

1.6.1

コンデンサ本体及び包装への表示

コンデンサ本体及び包装への表示は,次の項目から選定する。その表示の優先順位は,記載の順とする。

a)  端子の極性(構造によって,極性が判別できない場合)

b)  公称静電容量

c)  定格電圧(直流電圧を表す記号 d.c.は,記号    又は    で表してもよい。)

d)  公称静電容量許容差

e)  形状(1.1 による形状)

f)  製造年月(又は年週)

g)  製造業者名又は商標(略号を含む。)

h)  耐候性カテゴリ

i)

製造業者の形名

j)  引用個別規格

1.6.2

コンデンサ本体への表示

コンデンサ本体へは,通常,表示しない。ただし,表示を行う場合は,端子の極性だけは必ず表示し,

その他の項目は,1.6.1 に規定する項目の中から,必要な項目をできるだけ多く,明りょうに表示する。ま

た,コンデンサ本体への表示項目は,重複を避けることが望ましい。

コンデンサ本体の表示場所に制限がある場合は,JIS C 5062 に基づく,次の a)  及び b)  の記号を表示す

ることが望ましい。

a)  静電容量記号  公称静電容量を 2 文字で表示し,静電容量記号は,次による。第 1 文字は,ピコファ

ラッドの単位で表した公称静電容量の有効数字 2 けたを用い,第 2 文字は,有効数字に対する乗数の

10 のべき数を用いて表す。

第 1 文字

A C E G J  L N Q S U W Y

容量値  1.0 1.2 1.5 1.8 2.2 2.7 3.3 3.9 4.7 5.6 6.8 8.2

第 2 文字

9 0 1 2 3 4 5 6 7 8

乗数 10

1

 10

0

 10

1

 10

2

 10

3

 10

4

 10

5

 10

6

 10

7

 10

8

b)  電圧記号  電圧記号は,個別規格に規定する。 
1.6.3

表示の要求性能

いずれの表示も,明りょうであり,指でこすった場合に,にじんだり又は消えたりしてはならない。

1.6.4

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装への表示は,1.6.1 のすべての項目を明りょうに表示する。極性は,包装方法によって

適用できる場合を除き,表示しない。

1.6.5

表示の追加

1.6.1 に規定する以外の表示項目を追加する場合は,混乱しないように表示する。


5

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

2

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性は,次の中から選定することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1 の 8.(部品耐候性カテゴリー)によ

って分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

カテゴリ下限温度:

−55  ℃

カテゴリ上限温度:

+85  ℃及び+125  ℃

高温高湿(定常)の試験期間: 形状 1:21 日及び 56 日

 形状 2:(検討中)

注記  高温高湿(定常)の試験条件は,温度 40  ℃,相対湿度 90 %∼95 %である。

低温及び高温の試験温度は,カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

公称静電容量  (C

N

)

公称静電容量は,JIS C 5063 に規定する E6 の標準数列(1.0,1.5,2.2,3.3,4.7 及び 6.8)及びそれら

の 10

n

倍(×10

n

は整数)から選定する。

2.2.2

公称静電容量許容差

公称静電容量許容差は,±10 %及び±20 %とする。

2.2.3

定格電圧  (U

R

)

定格電圧は,JIS Z 8601 に規定する R5 の標準数列(1.0,1.6,2.5,4.0 及び 6.3)及びそれらの 10

n

倍(×

10

n

は整数)から選定することが望ましい。その他の数値が必要な場合は,R10 の標準数列及び R20 の

標準数列から選定してもよい。

注記 R5 の標準数列のもの:2.5 V,4.0 V,6.3 V,10 V,16 V,25 V,40 V,63 V 及び 100 V

R10 の標準数列のもの:20 V 及び 50 V

R20 の標準数列のもの:35 V

2.2.4

カテゴリ電圧  (U

C

)

カテゴリ上限温度が 125  ℃のコンデンサのカテゴリ電圧は,

表 による。

表 1−カテゴリ電圧

U

R

  V 2.5 4 6.3 10 16 20 25 35 40 50 63 100

U

C

  V 1.6 2.5  4  6.3

10  13 16 22 25 32 40 63

注記  対応国際規格に明らかな記載漏れがあるため,定格電圧  (U

R

) 20 V,35 V 及び 50 V,並びにそ

れらに対するカテゴリ電圧  (U

C

) 13 V,22 V 及び 32 V を追加した。

2.2.5

サージ電圧

サージ電圧は,定格電圧の 1.3 倍又はカテゴリ電圧の 1.3 倍に最も近い値(有効数字 2 けた)に丸めた電

圧とする。

2.2.6

定格温度

定格温度は,個別規格に規定がない場合には,85  ℃とする。


6

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

2.2.7

等級 1,等級 及び等級 の特性(損失角の正接)への要求性能

個別規格には,損失角の正接 (tan

δ)  の最大値を規定する。次の値を用いることが望ましい。

等級 1:  ≦0.08

等級 2:  ≦0.12

等級 3:  ≦0.24

注記  タンタル粉末の種類,定格電圧及び外形寸法によって,要求性能が異なる。外形寸法記号,公

称静電容量値及び定格電圧の等級ごとの代表的な組合せ例を,次に示す。

等級

外形寸法記号

a)

 3216-18 で,

定格電圧 6.3 V に対応する

公称静電容量値

定格電圧 6.3 V で,

公称静電容量 10

μF

に対応する外形寸法記号

a)

等級ごとのタンタル粉末

(

μFV/g)

等級 1 15

μF 3216-18

<30 000

等級 2 33

μF 2012-12

<70 000

等級 3 68

μF 1608-09

<1 000 000

a)

  外形寸法記号は,3 方向を“LW-H”で表す。

ここに, L  :0.1 mm 単位で表す長さ寸法の公称値 

W

:0.1 mm 単位で表す幅寸法の公称値

H

:0.1 mm 単位で表す高さ寸法の最大値

3

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は,酸化皮膜の化成工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ製造工程及び材

料で製造した範囲のコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書

個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1 の Q.9(出荷ロット

成績証明書)によって,出荷者が,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要

求する性能値は,静電容量値の変化,損失角の正接 (tan δ)  及び漏れ電流とする。

3.4

品質認証試験

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の Q.5(品質認証手順)による。

ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は,3.5 による。定数抜取手順は,3.4.1

及び 3.4.2 による。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

品質保証の定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の Q.5.3(品質認証用試験手順)の b)  による。試料は,認証

を得ようとするコンデンサのすべての範囲を代表し,個別規格に規定するすべての範囲であっても,又は

その一部でもよい。

抜取試料は,定格電圧が最低及び最高のもので,それぞれの電圧における外形寸法の最小及び最大のも

のによる 4 組合せを選定する。

なお,外形寸法が 5 種類以上ある場合は,それぞれの電圧における中間の外形寸法のものによる 2 組合

せを加えた 6 組合せとする。これらの外形寸法と定格電圧とによるそれぞれの組合せにおいて,二つ以上

の公称静電容量のものがある場合には,最大の公称静電容量を選定する。したがって,範囲認証の場合,


7

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

試験は,4 組合せ又は 6 組合せの試料を用いて行う。認証範囲の試料を 4 組合せ未満で構成する場合には,

試料数は,4 組合せの場合と同数とする。

予備試料は,次による。

予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置き換え用として,1 組合せごとに 2 個(6

組合せの場合)又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

群 に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな

い場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の

群 の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

表 A.1 に,品質認証試験の場合の各群及び各副群の試料数並びに合格判定数を示す。

3.4.2

試験

表 A.1 及び附属書 に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証にとって必要

な試験であり,各群の試験は,記載の順に従って行う。

すべての試料は,

群 の試験を行った後,その他の群に分割する。群 で発生した不適合品は,その他

の群に用いない。

不適合品数が 0 の場合,品質認証は合格とする。

注記 1  表 A.1 及び表 B.1 は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。附属書 は,

各試験及び各試験群に対する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,

附属書 B

は,箇条 の試験の詳細を規定しており,また,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示す

とともに個別規格に選定する試験方法,試験条件などを規定している。

注記 2  定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する

品質確認検査と同じであることが望ましい。

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

3.5.1.1

群 及び群 検査

この検査は,

表 A.2 に規定する評価水準 EZ の試験計画によって,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件で,製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)  検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)。

2a)  試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組合せ

を代表とし,次の事項を考慮する。

−  試料数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2b)  IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,1 組合せ当たりの試料数が 4 個以下のとき,製造業者

は,国内監督検査機関の承認が必要となる。

3.5.1.2

群 検査

この検査は,

表 A.3 に規定する評価水準 EZ の試験計画によって,定期的に行う。

試料は,規定する期間に製造工程に流れている製品を代表とし,かつ,外形寸法を小,中及び大に分類

したものの中から選定する。どの期間でも認証の範囲を対象とするために,外形寸法の小,中及び大の寸

法群ごとに一つの定格電圧の試料を試験する。

その後の期間では,製造のすべての範囲を対象とするために,その他の外形寸法及び/又は定格電圧の

試料を試験する。


8

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

3.5.2

品質確認検査の試験計画

ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は,JIS C 5101-3-1 

表 7(品質確認検査の試験計画−評

価水準 EZ)に規定する。

注記  この細分箇条は,対応国際規格では,

“品質認証試験計画は,

附属書 による。”と記述されて

いるが,ここでは品質確認検査の試験計画を規定すべきであり,明らかな誤記として修正した。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1 の Q.10(長期保管後の出荷)の規定によって,はんだ付け性,静電容量及び漏れ電流につ

いて

群 及び群 の再検査を行う。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は,

表 A.2 及び表 A.3 に規定する評価水準 EZ を用いることが望

ましい。

4

試験及び測定手順

注記  この箇条は,JIS C 5101-1 の箇条 4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足する。

4.1

予備乾燥

形状 2 のコンデンサで個別規格に規定がある場合は,JIS C 5101-1 の 4.3(乾燥)の規定によって乾燥を

行う。

4.2

測定条件

形状 2 のコンデンサは,相対湿度 25 %∼75 %の下で測定する。

4.3

取付け

取付けは,JIS C 5101-1 の 4.33[取付け(表面実装用コンデンサに適用)

]による。

4.3.1

取付条件

はんだ付け方法は,個別規格に規定する。

4.3.2

最終測定及び要求性能

コンデンサは,外観検査及び規定の測定を行い,

附属書 に規定する要求性能を満足する。

4.4

外観及び寸法

外観及び寸法は,JIS C 5101-1 の 4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,次による。

4.4.1

外観

外観は,倍率約 10 倍の拡大鏡並びに供試品及び要求する品質水準に適切な照明を用いて検査する。

注記  作業者には,適切な拡大鏡に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。

4.4.2

要求性能

コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法及びでき栄え(ワークマンシップ)が,個別規格に規

定する要求性能を満足することを証明するために検査する。

4.5

電気的性能

4.5.1

漏れ電流

漏れ電流は,JIS C 5101-1 の 4.9(漏れ電流)によるほか,次による。

4.5.1.1

測定条件

コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し,その両端に定格電圧を印加する。

保護抵抗器は,1 000

Ωとする。


9

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

4.5.1.2

要求性能

漏れ電流は,20  ℃で 0.02 C

N

U

R

μA / (μF×V)  又は 1 μA のうちいずれか大きい値以下とする。

4.5.2

静電容量

静電容量は,JIS C 5101-1 の 4.7(静電容量)によるほか,次による。

4.5.2.1

測定条件

静電容量の測定周波数は,個別規格の規定によって 100 Hz 又は 120 Hz とする。実際のコンデンサ端子

間に印加する交流電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。

測定の間,直流バイアス電圧は印加してもよい。

注記  過電圧又は逆電圧の印加によって測定値に疑義が生じないように,0.7 V∼1.0 V の範囲の直流

バイアス電圧を印加してもよい。

測定器の確度は,絶対値又は静電容量の変化の規定値の±2 %以下とする。

4.5.2.2

要求性能

静電容量は,公称値及びその許容差の範囲とする。

4.5.3

損失角の正接  (tan δ)

損失角の正接 (tan δ)  は,JIS C 5101-1 の 4.8.1[誘電正接(損失角の正接)

]によるほか,次による。

4.5.3.1

測定条件

測定は,4.5.2 の条件で行う。測定器の確度は,絶対値で 0.01 以下とする。

4.5.3.2

要求性能

損失角の正接 (tan δ)(20  ℃の値)は,個別規格の規定値以下とする。

4.5.4

インピーダンス(個別規格に規定がある場合)

インピーダンスは,JIS C 5101-1 の 4.10(インピーダンス)によるほか,次による。

4.5.4.1

測定条件

周囲温度は,20  ℃±2  ℃とする。測定電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。測定周波数は,100 kHz

とする。

測定器の確度は,インピーダンスの規定値の±10 %以下とする。

4.5.4.2

要求性能

インピーダンスは,個別規格の要求性能を満足する。

4.5.5

等価直列抵抗  (ESR)(個別規格に規定がある場合)

等価直列抵抗 (ESR) は,JIS C 5101-1 の 4.8.2[等価直列抵抗 (ESR)]によるほか,次による。

4.5.5.1

測定条件

周囲温度は,20  ℃±2  ℃とする。測定電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。

測定中,0.7 V∼1.0 V の直流バイアス電圧を印加してもよい。測定周波数は,100 kHz とする。

測定器の確度は,等価直列抵抗 (ESR) の規定値の±10 %以下とする。

4.5.5.2

要求性能

等価直列抵抗 (ESR) は,個別規格の要求性能を満足する。

4.6

はんだ耐熱性

はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1 の 4.14(はんだ耐熱性)によるほか,次による。

4.6.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。また,損失角の正接 (tan δ)  を 4.5.3 によって測定する。


10

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

4.6.2

試験条件

個別規格には,適用する試験方法及び試験条件を規定する。

a)  はんだ槽法の場合  はんだ槽への浸せき方法並びにはんだ槽の温度及び浸せき時間を個別規格に規定

する。

b)  リフロー炉法の場合  リフロー温度プロファイルを個別規格に規定する。 
4.6.3

最終測定及び要求性能

試験後,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,次の要求性能を満足する。

コンデンサを,適切な照明の下で,倍率約 10 倍の拡大鏡を用いて観察し,クラックなどの損傷がない。

静電容量及び損失角の正接 (tan δ)  は,個別規格の要求性能を満足する。

4.7

はんだ付け性

はんだ付け性は,JIS C 5101-1 の 4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。

4.7.1

試験条件

個別規格には,適用する試験方法及び試験条件を規定する。

a)  はんだ槽法の場合  はんだ槽の温度及び浸せき時間を個別規格に規定する。 
b)  リフロー炉法の場合  リフロー温度プロファイルを個別規格に規定する。 
4.7.2

最終測定及び要求性能

コンデンサを,適切な照明の下で,倍率約 10 倍の拡大鏡を用いて観察し,破損のこん(痕)跡がない。

個別規格で検査を規定した端子の表面部分は,新しいはんだで覆われていて,わずかに点在する部分以

外に,ピンホール若しくはぬれなし又は,はんだはじきがない。鉛入りはんだ合金の場合,はんだの表面

は滑らか,かつ,輝いている。

注記  対応国際規格は“滑らかで光沢のあるはんだで覆われていて”と記述しているが,鉛フリーは

んだでは,はんだ表面に光沢がないため,

“新しいはんだで覆われていて”とした。

4.8

固着性

固着性は,JIS C 5101-1 の 4.34(固着性)による。

4.8.1

初期測定

初期測定は,行わない(

群 での測定値を用いる。)。

4.8.2

最終測定及び要求性能

コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,

附属書 に規定する要求性能を満足する。

4.9

耐プリント板曲げ性

個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。

耐プリント板曲げ性は,JIS C 5101-1 の 4.35(耐プリント板曲げ性)によるほか,次による。

4.9.1

初期測定

初期測定は,行わない(

群 での測定値を用いる。)。

4.9.2

試験条件

個別規格には,たわみ量及び曲げ回数を規定する。

4.9.3

最終測定及び要求性能

コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,

附属書 に規定する要求性能を満足する。

4.10  温度急変

温度急変は,JIS C 5101-1 の 4.16(温度急変)によるほか,次による。


11

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

4.10.1  初期測定

初期測定は,行わない(

群 での測定値を用いる。)。

4.10.2  試験条件

コンデンサを JIS C 0025 の 2.(試験 Na:温度急変)に基づき 5 回行う。

各温度にさら(曝)す時間は,30 分間とする。後処理時間は,1 時間∼2 時間とする。

4.10.3  最終測定及び要求性能

後処理後,コンデンサの電気的性能を測定し,

附属書 に規定する要求性能を満足する。

4.11  一連耐候性(形状 のコンデンサだけに適用)

一連耐候性は,JIS C 5101-1 の 4.21(一連耐候性)によるほか,次による。

4.11.1  初期測定

初期測定は,行わない。

4.11.2  高温

高温は,JIS C 5101-1 の 4.21.2(高温)による。

4.11.3  温湿度サイクル(試験 Db),最初のサイクル

温湿度サイクル(試験 Db)

,最初のサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.3[温湿度サイクル(試験 Db)

,最

初のサイクル]による。

4.11.4  低温

低温は,JIS C 5101-1 の 4.21.4(低温)による。

4.11.5  温湿度サイクル(試験 Db),残りのサイクル

温湿度サイクル(試験 Db)

,残りのサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.6[温湿度サイクル(試験 Db)

,残

りのサイクル]による。

4.11.5.1  後処理

後処理時間は,1 時間∼2 時間とする。

4.11.6  最終測定及び要求性能

コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,

附属書 に規定する要求性能を満足する。

4.12  高温高湿(定常)(形状 のコンデンサだけに適用)

高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1 の 4.22[高温高湿(定常)

]によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.12.1  初期測定

初期測定は,行わない(

群 での測定値を用いる。)。

4.12.2  試験条件

電圧は,印加しない。

4.12.3  最終測定及び要求性能

1 時間∼2 時間の後処理後に,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,附属書 に規定

する要求性能を満足する。

4.13  高温及び低温特性

高温及び低温特性は,JIS C 5101-1 の 4.29(高温及び低温特性)によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.13.1  測定及び要求性能

コンデンサは,電気的性能の測定を行い,

附属書 に規定する要求性能を満足する。


12

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

4.14  サージ

サージは,JIS C 5101-1 の 4.26(サージ)によるほか,次による。

4.14.0A  初期測定

初期測定は,行わない(

群 での測定値を用いる。)。

注記  対応国際規格 IEC 60384-3 の 4.14 に初期測定の規定が明らかに抜けているため,この細分箇条

を追加した。

4.14.1  試験条件

コンデンサは,次の充電に続く 5 分 30 秒間の放電のサイクルを,1 000 回行う。

充電は,サージ電圧に等しい電圧を電源の内部抵抗を含めた総抵抗値が 1 000

Ω±100 Ωとなる抵抗器を

通して 30 秒間印加する。

試験は,

表 の試験温度で行う。

表 2−試験温度

カテゴリ上限温度

試験温度

 85 ℃

カテゴリ上限温度

125  ℃

試料の半数は,85  ℃,

残りの試料の半数は,カテゴリ上限温度

サージ試験は,コンデンサに 30 秒間の充電後,約 1 000

Ωの抵抗器を通して放電することを 1 サイクル

とする。

試験は,サイクルの放電段階で終わる。

4.14.2  最終測定及び要求性能

コンデンサは,電気的性能の測定を行い,

附属書 に規定する要求性能を満足する。

4.15  耐久性

耐久性は,JIS C 5101-1 の 4.23(耐久性)によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.15.1  初期測定

初期測定は,行わない(

群 での測定値を用いる。)。

4.15.2  試験条件

試験時間:2 000 時間

試験温度:カテゴリ上限温度

印加電圧:個別規格に規定がない場合は,カテゴリ電圧とする。

注記  カテゴリ電圧が定格電圧と異なる場合,試料を 2 分割し,定格温度で定格電圧を,カテゴリ上

限温度でカテゴリ電圧をそれぞれ印加する。

試験電圧は,印加電圧を緩やかに上昇する又はコンデンサを 5 分間以下で放電できる抵抗器を通して,

徐々に(2 分間以上かつ 5 分間以下。

)印加する。それぞれのコンデンサからみた電源インピーダンスは,

3

Ω以下とする。

コンデンサが短絡した場合は,1 A 以上の電流を供給できる能力がある電池又は電源を用いる。

4.15.3  最終測定及び要求性能

1 時間∼2 時間の後処理後に,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,附属書 に規定


13

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

する要求性能を満足する。

4.16  逆電圧(個別規格に規定がある場合) 
4.16.1  初期測定

初期測定は,行わない(

群 での測定値を用いる。)。

4.16.2  試験条件

コンデンサは,a)  の試験を行い,続いて b)  の試験を行う。

a)  試験温度:カテゴリ上限温度

印加電圧:個別規格に規定がない場合は,3 V(直流)又は定格電圧の 0.1 倍のうちいずれか小さい値

を極性と逆方向に印加する。

時間    :125 h

b)  試験温度:カテゴリ上限温度

印加電圧:カテゴリ電圧を正極性の方向に印加する。

時間    :125 h

4.16.3  最終測定及び要求性能

後処理後に,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,

附属書 に規定する要求性能を満

足する。

4.17  部品の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.18  表示の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.32(表示の耐溶剤性)による。

4.19  大電流サージ(個別規格に規定がある場合)

大電流サージは,JIS C 5101-1 の 4.39(大電流サージ)によるほか,次による。

4.19.1  初期測定

初期測定は,行わない。

4.19.2  最終測定及び要求性能

最終測定及び要求性能は,

群 又は個別規格の群 の大電流サージ後に行う試験の要求性能を満足する。


14

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

附属書 A

規定)

評価水準 EZ の抜取計画

この附属書は,3.4.1 に規定する品質認証試験の定数抜取計画及び合格判定数について規定する。

A.1  品質認証試験の抜取計画及び合格判定数(許容不適合数)

評価水準 EZ の品質認証試験の抜取計画及び合格判定数(許容不適合数)を,

表 A.1 に示す。


15

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

表 A.1−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数(許容不適合数)−評価水準 EZ

試料数  (n)  及び

合格判定数  (c)

細分箇条番号及び試験項目

a)

n

d)

(群ごと)

(合計)

4.19

大電流サージ

c)

4.4

外観

4.4

寸法

4.5.1

漏れ電流

4.5.2

静電容量

4.5.3

損失角の正接 (tan δ)

4.5.4

インピーダンス

c)

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR)

c)

124 0

0

予備試料 12

1A

4.6

はんだ耐熱性

4.17

部品の耐溶剤性

c)

12 0

1B

4.7

はんだ付け性

4.18

表示の耐溶剤性

c)

12 0

0

2

4.9

耐プリント板曲げ性

e)

 12

0

0

3

4.3

取付け

b)

4.4

外観

4.5.1

漏れ電流

4.5.2

静電容量

4.5.3

損失角の正接 (tan

δ)

4.5.4

インピーダンス

c)

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR)

c)

88 0

3.1

4.8

固着性

4.10

温度急変

4.11

一連耐候性(形状 1 に適用)

20 0

3.2

4.12

高温高湿(定常)

(形状 1 に適用) 20

0

3.3

4.15

耐久性 20

0

3.4

4.13

高温及び低温特性 12

0

3.5A  4.14

サージ 8

0

3.5B

4.16

逆電圧

c)

 8

0

0

注記  対応国際規格では,予備試料が 16 個に規定されていたが,明らかな誤記のため,12 個に変更した。 

a)

  箇条 による。

b)

  取付け後,不適合品として見つかった試料は,続く試験の許容不適合品数を算出するときに用いてはならな

い。その不適合品は,予備品と置き換える。

c)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

d)

  公称静電容量と定格電圧との組合せは,3.4.1 を参照する。

e)

  個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。


16

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

A.2  ロットごとの検査

評価水準 EZ のロットごとの検査を,

表 A.2 に示す。

表 A.2−ロットごとの検査−評価水準 EZ

検査 
副群

細分箇条番号及び試験項目

a)

検査水準

IL

試料数

合格判定数

A0 4.19

大電流サージ

e)

4.5.1

漏れ電流

4.5.2

静電容量

4.5.3

損失角の正接 (tan

δ)

4.5.4

インピーダンス

e)

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR)

e)

100 %

b)

A1

4.4

外観

4.4

寸法

c)

S-3

d)

0

B1

4.7

はんだ付け性

4.18

表示の耐溶剤性

e)

S-3

d)

 0

a)

  箇条 による。

b)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水

準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するため

に,抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

c)

  寸法検査は,部品製造業者が寸法測定又は許容限度を超えない構造で SPC を導入している場合,工程内検査

データで代用してもよい。

d)

  試料数  (n)  は,JIS Z 9015-1 に規定する付表 1[サンプル(サイズ)文字]の検査水準 (IL) とロットサイズ

とで割り当てるサンプル文字に従い,

付表 2-A[なみ検査の 1 回抜取方式(主抜取表)]のサンプル文字に対

応する試料数とする。

e)

  個別規格に規定がある場合に適用する。


17

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

A.3  定期的な検査

評価水準 EZ の定期的な検査を,

表 A.3 に示す。

表 A.3−定期的な検査−評価水準 EZ

検査 
副群

細分箇条番号及び試験項目

a)

検査周期

(月)

試料数

合格判定数

C1

4.6

はんだ耐熱性

4.17

部品の耐溶剤性

d)

3 12 0

C2

4.9

耐プリント板曲げ性

e)

 3

12

0

C3

4.3

取付け

c)

4.4

外観

4.5.1

漏れ電流

4.5.2

静電容量

4.5.3

損失角の正接 (tan

δ)

4.5.4

インピーダンス

d)

4.5.5

等価直列抵抗 (ESR)

d)

3 78

b)

 0

C3.1

4.8

固着性

4.10

温度急変

4.11

一連耐候性(形状 1 に適用)

6 18 0

C3.2

4.12

高温高湿(定常)

(形状 1 に適用) 6

9

0

C3.3

4.15

耐久性 3

24

0

C3.4

4.13

高温及び低温特性 6

15

0

C3.5A

4.14

サージ 12

6

0

C3.5B

4.16

逆電圧

d)

 12

6

0

a)

  箇条 による。

b)

  これらの測定値は,各副群試験の初期値とする。

c)

  取付け後,不適合品として見つかった試料は,続く試験の許容不適合品数を算出するときに用いてはならな

い。その不適合品は,予備品と置き換える。

d)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

e)

  個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。


18

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

附属書 B

規定)

評価水準 EZ の試験計画

この附属書は,3.4.2 に規定する品質認証試験計画について規定する。

B.1  品質認証計画

評価水準 EZ の品質認証計画(試験項目,試験条件,試料数及び合格判定数並びに要求性能)を,

表 B.1

に示す。

表 B.1−品質認証試験計画−評価水準 EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)  及び

合格判定数  (c)

b)

要求性能

a)

群 0 
 
4.19  大電流サージ

e)

 
4.4  外観 
 
 
 
4.4  寸法(詳細) 
 
4.5.1  漏れ電流 
 
 
 
4.5.2  静電容量 
 
 
4.5.3  損失角の正接 
 (tan δ) 
 
 
4.5.4  インピーダンス

e)

 
4.5.5  等価直列抵抗 
 (ESR)

e)

ND

 
 
 
 
 
 
 
 
 
保護抵抗器:1 000

Ω

 
 
 
周波数:... Hz

d)

バイアス:... V

d), e)

 
周波数:... Hz

d)

バイアス:... V

d), e)

 
 
周波数:100 kHz 
 
周波数:100 kHz

表 A.1 による。

 
 
 
 
4.4.2 による。 
表示は,明りょうとし,個別規格

の規定による。

 
個別規格の規定(

表 1)による。

 
0.02 C

N

U

R

μA / (μF×V)  又は 1 μA

のうちいずれか大きい値以下

 
 
規定の許容差以内

個別規格の規定による。 
 
等級 1≦0.08

等級 2≦0.12 
等級 3≦0.24 
 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。


19

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

表 B.1−品質認証試験計画−評価水準 EZ(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)  及び

合格判定数  (c)

b)

要求性能

a)

群 1A 
 
4.6.1  初期測定 
 
 
4.6  はんだ耐熱性 
 
4.17  部品の耐溶剤性

e)

 
 
 
 
4.6.3  最終測定

D

 
静電容量 
損失角の正接 (tan

δ)

 
方法:...

d)

 
溶剤:...

d)

溶剤の温度:...

d)

方法 2 
後処理時間:...

d)

 
外観 
 
静電容量 
 
損失角の正接 (tan

δ)

表 A.1 による。

 
 
 
 
 
個別規格の規定による。 
 
 
 
 
 
 
4.6.3 による。 
 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。

群 1B 
 
4.7  はんだ付け性 
 
 
4.18  表示の耐溶剤性

e)

 
 
 
 
 
4.7.2  最終測定

D

 
温度:...

d)

時間:...

d)

 
溶剤:...

d)

溶剤の温度:...

d)

方法 1 
ラビング材料:綿毛

後処理時間:...

d)

 
外観

表 A.1 による。

 
 
 
 
 
表示は,明りょうとする。 
 
 
 
 
 
4.7.2 による。

群 2 
 
4.9  耐プリント板曲げ

c)

 
 
 
 
4.9.3  最終測定

D

 
静電容量 
(プリント板を曲げた状

態)

曲げ深さ D:... mm

d)

曲げ回数:...

d)

 
外観

表 A.1 による。

 
 
個別規格の規定による。 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。


20

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

表 B.1−品質認証試験計画−評価水準 EZ(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)  及び

合格判定数  (c)

b)

要求性能

a)

群 3 
 
4.3  取付け

D

 
外観 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
損失角の正接 (tan

δ)

 
インピーダンス

e)

 
等価直列抵抗 (ESR)

e)

表 A.1 による。

 
 
外観に損傷がない。 
 
4.5.1 による。 
 
個別規格の規定による。 
 
4.5.3 による。 
 
4.5.4 による。 
 
個別規格の規定による。

群 3.1 
 
4.8  固着性 
 
4.10.1  初期測定 
 
 
4.10  温度急変 
 
 
 
 
 
4.10.3  最終測定

D

 
外観 
 
行わない(

群 での測定値

を用いる。

T

A

:カテゴリ下限温度

T

B

:カテゴリ上限温度

回数:5 回

試験時間 t:30 min 
後処理時間:1 h∼2 h 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
損失角の正接 (tan

δ)

表 A.1 による。

 
 
外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.5.1 による。 
 
個別規格の規定による。 
 
4.5.3 による。


21

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

表 B.1−品質認証試験計画−評価水準 EZ(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)  及び

合格判定数  (c)

b)

要求性能

a)

群 3.1(続き) 
 
4.11  一連耐候性 
(形状 1 に適用) 
 
4.11.1  初期測定 
 
4.11.2  高温 
 
 
4.11.3  温湿度サイクル

(試験 Db)

,最初の

サイクル

 
4.11.4  低温 
 
 
4.11.5  温湿度サイクル

(試験 Db)

,残りの

サイクル

 
4.11.6  最終測定

D

 
 
 
 
行わない。 
 
温度:カテゴリ上限温度

試験時間:16 h 
 
 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度 
試験時間:2 h 
 
後処理時間:1 h∼2 h 
 
 
 
外観 
 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
損失角の正接(tan

δ)

表 A.1 による。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明り

ょうとする。

 
4.5.1 による。 
 
群 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦10 % 
 
4.5.3 の規定値に対して 1.2 倍以下


22

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

表 B.1−品質認証試験計画−評価水準 EZ(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)  及び

合格判定数  (c)

b)

要求性能

a)

群 3.2 
 
4.12  高温高湿(定常) 
(形状 1 に適用) 
 
4.12.1  初期測定 
 
 
4.12.3  最終測定

D

 
後処理時間:1 h∼2 h 
 
 
行わない(

群 での測定値

を用いる。

 
外観 
 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
損失角の正接 (tan

δ)

表 A.1 による。

 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明り

ょうとする。

 
4.5.1 による。 
 
群 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦10 % 
 
4.5.3 の規定値に対して 1.2 倍以下

群 3.3 
 
4.15  耐久性 
 
 
 
 
 
4.15.1  初期測定 
 
 
4.15.3  最終測定

D

 
試験時間:2 000 h

試験温度:...  ℃

d)

  (適用する温度) 
印加電圧:... V

d)

後処理時間:1 h∼2 h 
 
行わない(

群 での測定値

を用いる。

 
外観 
 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
損失角の正接 (tan

δ)

 
インピーダンス

e)

又は等価直列抵抗 (ESR)

e)

表 A.1 による。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明り

ょうとする。

 
4.5.1 の規定値の 2 倍以下 
 
個別規格の規定による。 
 
4.5.3 の規定値の 1.5 倍以下 
 
個別規格の規定による。


23

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

表 B.1−品質認証試験計画−評価水準 EZ(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)  及び

合格判定数  (c)

b)

要求性能

a)

群 3.4 
 
4.13  高 温 及 び 低 温 特

D

 
コンデンサを各温度段階

で測定する。

 
段階 1:20  ℃ 
  漏れ電流 
 
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 2:カテゴリ下限温度
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 3:20  ℃ 
  漏れ電流 
 
  静電容量 
 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 4:85  ℃ 
  漏れ電流 
 
 
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 5:125  ℃ 
  (適用する場合) 
  漏れ電流 
 
 
 
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 6:20  ℃ 
  漏れ電流 
 
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

表 A.1 による。

 
 
 
 
 
 
4.5.1 による。 
 
比較用の値 
 
4.5.3 による。 
 
 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。 
 
 
4.5.1 による。 
 
段階 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦5 % 
 
4.5.3 による。 
 
 
0.2 C

N

U

R

μA / (μF×V)  又は 10 μA

のうちいずれか大きい値以下

 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。 
 
 
 
0.25  C

N

U

R

μA / (μF×V)  又は 12.5

μA のうちいずれか大きい値以

 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。 
 
 
段階 による。 
 
段階 による。 
 
段階 による。


24

C 5101-3

:2010 (IEC 60384-3:2006)

表 B.1−品質認証試験計画−評価水準 EZ(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)  及び

合格判定数  (c)

b)

要求性能

a)

群 3.5A 
 
4.14  サージ 
 
 
 
 
 
 
 
4.14.0A  初期測定 
 
 
4.14.2  最終測定

D

 
サイクル数:1 000 回 
試験温度:...  ℃

d)

印加電圧:1.3 U

R

    及び/又は 1.3 U

C

保護抵抗:1 000 Ω±100 Ω
充電時間:30 s

放電時間:5 min 30 s 
 
行わない(

群 での測定値

を用いる。

 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
損失角の正接 (tan

δ)

表 A.1 による。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.5.1 による。 
 
群 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦10 % 
 
4.5.3 による。

群 3.5B 
 
4.16  逆電圧

e)

 
 
 
 
 
 
4.16.1  初期測定 
 
 
4.16.3  最終測定

D

 
試験時間:逆極性に 125

h,... V

d)

をカテゴリ上

限温度で,引き続いて正
極に 125 h カテゴリ電圧
をカテゴリ上限温度で

印加する。

 
行わない(

群 での測定値

を用いる。

 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
損失角の正接 (tan

δ)

表 A.1 による。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.5.1 による。 
 
群 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦10 % 
 
4.5.3 の規定値に対して 1.15 倍以下

注記  対応国際規格では,D:破壊試験,ND:非破壊試験の区分の欄が表 B.1 にはなく,試験条件の欄に区分を記

載しているが,その他の品種別通則と整合させ,見やすくなるように追加した。

a)

  箇条 による。

b)

  n:試料数,c:合格判定数(許容不適合数),D:破壊試験,ND:非破壊試験

c)

  個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。

d)

  個別規格の規定による。

e)

  個別規格に規定がある場合に適用する。