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C 5201-6 : 1999

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。これによって,JIS C 5203 : 1994(電子機器用固定ネットワーク抵抗器通則)は廃止さ

れ,この規格に置き換えられる。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

,又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触

する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性

質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確

認について,責任はもたない。

JIS C 5201-6

には,次に示す附属書がある。

附属書 は,対応国際規格に規定したもので,附属書 は,

日本工業規格としての形名及び記号を,この規格の附属書として規定したものである。

附属書 A(規定)  固定ネットワーク抵抗器の標準回路及び端子の配列

附属書 1(規定)  形名及び記号

部編成規格  この規格の部編成規格は,次による。

JIS

C

5201

電子機器用固定抵抗器

JIS

C

5201-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5201-2

第 2 部:品種別通則:低電力非巻線固定抵抗器

JIS

C

5201-2-1

第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-2-2

第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4

第 4 部:品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS

C

5201-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4-3

第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器ヒートシンク付き  評価水準 H

JIS

C

5201-5

第 5 部:品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS

C

5201-5-1

第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-5-2

第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-6

第 6 部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS

C

5201-6-1

第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器同一抵抗値及
び同一定格電力  評価水準 E

JIS

C

5201-6-2

第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器異種抵抗値又
は異種定格電力  評価水準 E

JIS

C

5201-8

第 8 部:品種別通則:チップ固定抵抗器

JIS

C

5201-8-1

第 8 部:ブランク個別規格:チップ固定抵抗器  評価水準 E


C 5201-6 : 1999

(1) 

目次

ページ

序文

1

第 1 章  一般事項

1.

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  目的

1

1.3

  引用規格

2

1.4

  個別規格に規定する事項

2

1.4.1

  外形図及び寸法

2

1.4.2

  取付け

2

1.4.3

  形式

3

1.4.4

  定格及び特性

3

1.4.5

  表示

3

1.5

  表示

3

第2章  推奨定格、特性及び試験の厳しさ

2.

  推奨定格,特性及び試験の厳しさ

3

2.1

  推奨特性

3

2.1.1

  推奨耐候性カテゴリ

3

2.1.2

  抵抗温度係数及び抵抗温度特性

4

2.1.3

  抵抗値変化の限界

4

2.2

  推奨定格値

4

2.2.1

  定格抵抗値(公称抵抗値)

4

2.2.2

  定格抵抗値の許容差

4

2.2.3

  定格電力

4

2.2.4

  素子最高電圧

5

2.2.5

  個々の抵抗素子間のアイソレーション電圧(適用する場合)

5

2.2.6

  個々の抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する場合)

5

2.3

  推奨する試験の厳しさ

5

2.3.1

  乾燥

5

2.3.2

  振動(正弦波)

5

2.3.3

  減圧

5

2.3.4

  過負荷

5

2.3.5

  70℃での耐久性

5

2.3.6

  隣接した抵抗素子(端子)間の絶縁抵抗(適用する場合)

6

2.3.7

  隣接した抵抗素子(端子)間の耐電圧(適用する場合)

6

2.3.8

  高温高湿(定常)

6


C 5201-6 : 1999

目次

(2) 

ページ

2.3.9

  端子強度

6

第3章  品質評価手順

3.

  品質評価手順

6

3.1

  構造的に類似な抵抗器

6

3.2

  品質認証

6

3.2.1

  定数試料数の手順に基づく認証

6

3.2.2

  試験

7

3.3

  品質確認検査

9

3.3.1

  検査ロットの構成

9

3.3.2

  試験計画

9

3.3.3

  評価水準

9

附属書 A(規定)  固定ネットワーク抵抗器の標準回路及び端子の配列

11

A1

  片側端子の標準回路

11

A2

  両側端子の標準回路

12

附属書 1(規定)  形名及び記号

13


日本工業規格

JIS

 C

5201-6

 : 1999

電子機器用固定抵抗器−

第 6 部:品種別通則:

個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

Fixed resistors for use in electronic equipment

Part 6 : Sectional specification :

Fixed resistor networks with individually measurable resistors

序文  この規格は,1983 年に初版として発行された IEC 60115-6 Fixed resistors for use in electronic equipment

Part6 : Sectional specification: Fixed resistor networks with individualy measurable resistors

及び Amendment 1 :

1987

を基に,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが,日本工業

規格としての形名及び表示について附属書に追加している。また,追補 (Amendment) については編集し,

一体とした。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また IEC 規格番号は,

1997

年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格につい

ても,規格番号に 60000 を加えた番号に切り替える。これは,番号だけの切替えであり内容は同一である。

第 章  一般事項 

1.

一般事項

1.1

適用範囲  この規格は,JIS C 5201-1(電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則)を品目別通則

とする電子機器用固定ネットワーク抵抗器の品種別通則で,個々の抵抗値を測定できる固定ネットワーク

抵抗器(以下,抵抗器という。

)について規定する。

なお,個々の抵抗値の測定ができる回路形式なら,独立回路形式でも相互に連結された回路形式でもよ

い。

備考  この規格の対応国際規格を次に示す。

IEC 60115-6 : 1983, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 6 : Sectional specification :

Fixed resistor networks with individually measurable resistors Amendment 1 : 1987

1.2

目的  この規格の目的は,推奨定格及び推奨特性を規定し,JIS C 5201-1 から適切な品質評価手順,

試験及び測定方法を選択し,この規格の抵抗器の一般的要求性能を規定することである。この規格に基づ

く個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格の要求性能と同等又はそれ以上の水準とす

る。


2

C 5201-6 : 1999

1.3

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうち,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格

の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補・Amendment には適用しない。発効年を付記して

いない引用規格は,その最新版(追補・Amendment を含む。

)を適用する。

日本工業規格

JIS C 00

  試験規格群  環境試験方法

備考  IEC 60068, Basic environmental testing procedures からのすべての引用事項は,この規格の該当

事項と同等である。

JIS C 0010

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考  IEC 60068-1 : 1978, Basic environmental testing procedures Part 1 : General 及び Amendment 1 :

1992

からのすべての引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考  IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors 並びに Amendment 1 : 1967

及び Amendment 2 : 1977 がこの規格と一致している。

JIS C 5201-1

  電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

備考  IEC 60115-1 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification 並

びに Amendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989 及び Amendment 4 : 1993 からのすべての引

用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 9015

  計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)

備考  IEC 60410 : 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes からのすべての引用

事項は,この規格の該当事項と同等である。

IEC

規格

IEC QC 001001 : 1986, Basic rules of the IEC Quality assessment system for electronic components (IECQ)

Amendment 2 : 1994

IEC QC 001002 : 1986, Rules of Procedures of the IEC Quality assessment system for electronic components

(IECQ)

Amendment 2 : 1994

1.4

個別規格に規定する事項  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は,JIS C 5201-1 及びこの規格又はブランク個別規格の要求事項よりも低い要求事項を規定し

てはならない。

なお,より厳しい要求事項を規定する場合には,その内容を個別規格の 1.8 に規定し,例えば,アステ

リスク  (*)  を付けて試験計画の中に明示する。個別規格には,次の事項を規定し,それぞれの規定値を

この規格の該当する項目から選択する。

備考  この規格の 1.4.1 及び 1.4.3 の規定する事項は,一覧表で示してもよい。

1.4.1

外形図及び寸法  識別を容易にし,その他の抵抗器との比較のために,抵抗器を図示する。互換性

及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。すべての寸法は,ミリメートルで示

す。

1.4.2

取付け  個別規格に通常の使用の場合の取付方法並びに振動(正弦波),バンプ及び衝撃試験を行

う場合の取付方法を規定する。抵抗器は,通常の方法で取り付ける。

抵抗器の設計上,特別な取付ジグを必要とする場合には,個別規格にその取付ジグを規定し,振動(正


3

C 5201-6 : 1999

弦波)

,バンプ及び衝撃試験を行う場合に,このジグを使用する。

1.4.3

形式 (Style) JIS C 5201-1 の 2.2.3(形式)]  形式は,個別規格の番号に定格電力及び抵抗温度

特性(又は抵抗温度係数)を組み合わせて表す。

個別規格番号に定格電力と温度特性との組合せを,任意に選択した二つの文字コード,例えば,AB,

BC

,CD などの 2 英大文字で表す。したがって,形式の記号は,個別規格の番号が与えられなければ意味

をなさない。

備考  形式の記号は,JIS C 5201-1 の附属書 で規定する形名を用いてもよい。

1.4.4

定格及び特性  定格及び特性は,次の事項を含めてこの規格の関連する項目による。

1.4.4.1

定格抵抗値の範囲  定格抵抗値の範囲は,2.2.1 の規定による。定格抵抗値の推奨値は,JIS C 5063

に規定の E 標準数列とする。

備考  IEC 品質認証制度  (IECQ)  の場合は,個別規格の定格抵抗値範囲と認証を受けた範囲が異なる

場合は,次の記述を追加する。

“各形式に有効な抵抗値範囲は,

品質認証電子部品一覧表 (QPL)  による”。

1.4.5

表示  個別規格に抵抗器及び包装への表示の内容を規定する。JIS C 5201-1 の 2.4(表示)との相

違点があれば,それらを明記する。

1.5

表示

1.5.1

抵抗器に表示する内容は,次の項目から選択する。各項目の重要度は,次の番号順とする。

a)

個別規格に規定する抵抗器の記号

b)

個別規格に規定する端子の記号

c)

製造年月又は製造年週

d)

個別規格及び形式

e)

製造業者名又はその商標

1.5.2

抵抗器には少なくとも 1.5.1 の a)と b)を表示し,その他の項目をできるだけ多く明りょうに表示す

る。表示項目の重複は避ける。

備考  表示は,附属書 によってもよい。

1.5.3

抵抗器の包装には 1.5.1 の a)c)d)及び e)の内容を表示する。

1.5.4

1.5.3

以外の項目を表示する場合は,混乱しないようにする。

第 章  推奨定格,特性及び試験の厳しさ 

2.

推奨定格,特性及び試験の厳しさ

2.1

推奨特性  個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ  この規格に含まれる抵抗器は,JIS C 0010 の附属書 に規定する一般原則

に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)

の試験期間は,次の中から選択する。

カテゴリ下限温度:−55℃,−40℃及び−25℃

カテゴリ上限温度:+85℃,+100℃,+125℃及び+155℃

高温高湿(定常)の試験期間:4 日,10 日,21 日及び 56 日

低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度

である。ある種の抵抗器はその構造のため,これらの温度が JIS C 00 試験規格群に規定する二つの推奨温


4

C 5201-6 : 1999

度と一致しない場合がある。このときには,抵抗器の実際の温度範囲内の最も近い推奨温度を厳しさとし

て選択する。

2.1.2

抵抗温度係数及び抵抗温度特性  抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を表 に示す。表の

各欄は,推奨温度係数,20℃∼70℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の 2.1.1 のカテゴリ温度範囲に

基づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5201-1 の 4.8(温度による抵抗値変化)参照]での抵抗値変化の限界を

規定する。

表 I  抵抗温度特性

抵抗温度特性

(抵抗値変化率の限界)%

温度係数

温度特性

20

℃/70℃

基準温度℃/カテゴリ下限温度℃

基準温度℃/カテゴリ上限温度℃

10

6

/

℃ %

+20/−55

+20/−40

+20/−25

+20/+85

+20/+100  +20/+125  +20/+155

−150/

−1 500

−0.75/

−7.5

+1.13/

+11.3

+0.9/

+9

+0.68/

+6.8

−0.98/

−9.8

−1.2/

−12

−1.58/

−15.8

−2.03/

−20.3

±250

±1.25

±1.88

±1.5

±1.13

±1.62

±2

±2.62

±3.38

±100

±0.5

±0.75

±0.6

±0.45

±0.65

±0.8

±1.05

±1.35

±50

±0.25

±0.375

±0.3

±0.23

±0.325

±0.4

±0.525

±0.675

±25

±0.125

±0.188

±0.15

±0.113

±0.162

±0.2

±0.262

±0.338

±15

±0.075

±0.113

±0.09

±0.068

±0.098

±0.12

±0.158

±0.203

2.1.3

抵抗値変化の限界  表 II に各試験での抵抗値変化の推奨限界を示す。それらは,それぞれの安定

性クラスに対応して規定している。

備考  表 II の項目番号は,JIS C 5201-1 の規定による。

表 II  安定性クラス

安定性クラス

%

長期試験

4.23

一連耐候性

4.24

高温高湿(定常)

4.25.1  70

℃での耐久性

4.25.3

カテゴリ上限温度での耐久性

短期試験

4.13 

過負荷 

4.16 

端子強度 

4.18 

はんだ耐熱性 

4.19 

温度急変 

4.22 

振動(正弦波)

10

± (10%+0.5

Ω)

± (2%+0.1

Ω)

 5

± ( 5%+0.1

Ω)

± (1%+0.05

Ω)

 2

± ( 2%+0.1

Ω)

± (0.5%+0.05

Ω)

 1

± ( 1%+0.05

Ω)

± (0.25%+0.05

Ω)

 0.5

± (0.5%+0.05

Ω)

± (0.1%+0.01

Ω)

 0.25

± (0.25%+0.05

Ω)

± (0.05%+0.01

Ω)

 0.1

± (0.1%+0.01

Ω)

± (0.02%+0.01

Ω)

2.2

推奨定格値

2.2.1

定格抵抗値(公称抵抗値)  JIS C 5201-1 の 2.2.7(定格抵抗値)による。

2.2.2

定格抵抗値の許容差  定格抵抗値の推奨許容差は,次による。

±10%,±5%,±2%,±1%,±0.5%,±0.25%及び±0.1%

2.2.3

定格電力  70℃での定格電力の推奨値は,次による。

ネットワーク(パッケージ)定格電力:0.125W,0.25W,0.5W,1W,1.5W,2W 及び 4W

参考  ネットワーク(パッケージ)定格電力とは,構成する回路内の全定格電力を示し,素子定格電

力の和とは一致しないことがある。

素子定格電力:0.03W,0.05W,0.063W,0.1W,0.125W,0.25W,0.5W 及び 1W


5

C 5201-6 : 1999

参考  素子定格電力とは,構成する回路内の個々の素子の定格電力をいう。

各抵抗素子の素子定格電力及びネットワーク定格電力を個別規格に規定する。

70

℃を超える温度での電力の軽減値は,次の曲線による。

上記の軽減曲線に示す推奨動作領域が全部含まれている場合には,より広い動作領域を個別規格に規定

してもよい。この場合には,個別規格に 70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし,曲線上

の折れ点 (break points) を,試験によって確認しなければならない。

2.2.4

素子最高電圧  素子最高電圧の推奨値は,次による。

10V

,15V,25V,35V,50V,100V 及び 500Vd.c.又は a.c.の実効値とする。

2.2.5

個々の抵抗素子間のアイソレーション電圧(適用する場合)  個々の抵抗素子間のアイソレーショ

ン電圧を個別規格に規定する。

参考  附属書 の回路形式 A,D 及び G に適用する。

2.2.6

個々の抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する場合)  個々の抵抗素子間の絶縁抵抗は個別規格に規定が

ない限り,1G

Ω以上とする。

参考  附属書 の回路形式 A,D 及び G に適用する。

2.3

推奨する試験の厳しさ  個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択することが望ましい。

2.3.1

乾燥  JIS C 5201-1 の 4.3(乾燥)の手順 を適用する。

2.3.2

振動(正弦波)  JIS C 5201-1 の 4.22[振動(正弦波)]及び次の条件を適用する。

振動周波数範囲  :10Hz∼500Hz

振幅

:0.75mm 又は 98m/s

2

(どちらか緩い方)

掃引耐久試験

:総試験時間:6h

適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2 参照)

試験中電気的測定として,電気的不連続,開放(オープン)又は短絡(ショート)の試験を行う。

2.3.3

減圧  JIS C 5201-1 の 4.23.5(減圧)及び次の条件を適用する。

気圧:8kPa

2.3.4

過負荷  JIS C 5201-1 の 4.13(過負荷)及び次の条件を適用する。

印加電圧:定格電圧の 2.5 倍又は素子最高電圧の 2 倍のどちらか小さい電圧

印加時間:直流電圧を 5 秒±1 秒間,各抵抗素子に同時に 1 回印加する。

2.3.5

70

℃での耐久性  JIS C 5201-1 の 4.25.1(70℃での耐久性)及び次の条件を適用する。

各抵抗素子の素子定格電力の合計がネットワーク定格電力以下の場合は,素子最高電圧を超えない範囲

で,各抵抗素子にそれぞれの素子定格電力を負荷して試験する。各抵抗素子の素子定格電力の合計がネッ

トワーク定格電力を超える場合は,試料数を分けた分割試験を行う。分割試験が必要となった場合は,ネ

ットワーク定格電力を超えないように,素子定格電力を許容できる最大限の抵抗素子に負荷する。各抵抗


6

C 5201-6 : 1999

素子には,片寄ることなく少なくとも 1 回は素子定格電力を負荷する。

2.3.6

隣接した抵抗素子(端子)間の絶縁抵抗(適用する場合)  JIS C 5201-1 の 4.6(絶縁抵抗)及び

次の条件を適用する。

絶縁抵抗は,互いに電気的に絶縁されている抵抗素子と,その他の抵抗素子を一括して接続したものと

の間で測定する。測定電圧は,個別規格に規定する。

参考  附属書 の回路形式 A,D 及び G に適用する。

2.3.7

隣接した抵抗素子(端子)間の耐電圧(適用する場合)  JIS C 5201-1 の 4.7(耐電圧)及び次の

条件を適用する。

耐電圧は,互いに電気的に絶縁されている抵抗素子と,その他の抵抗素子を一括して接続したものとの

間で試験する。試験電圧は,個別規格に規定する。

参考  附属書 の回路形式 A,D 及び G に適用する。

2.3.8

高温高湿(定常)  JIS C 5201-1 の 4.24[高温高湿(定常)]及び次の条件を適用する。

試験試料を次の 2∼3 群に分割する。

a)

無負荷

b)

各抵抗素子に定格素子電圧の 0.01 倍又は 2V のどちらか低い電圧を負荷する。

c)

a)

及び b)に加えて,成極負荷を要求する場合は,第 3 の試験として個別規格に規定する端子と,指定

箇所との間に 20V±2Vd.c.の電圧を印加する。

2.3.9

端子強度  JIS C 5201-1 の 4.16(端子強度)及び次の条件を適用する。

試験 Ua

1

(引張強さ)を,抵抗器の 5 端子ごとに 1 端子の割合で実施する。試験する端子は試験試料内

で,それぞれ端子の位置を変えて試験する。

第 章  品質評価手順 

3.

品質評価手順

3.1

構造的に類似な抵抗器  構造的に類似な抵抗器とは,抵抗値及び温度特性が異なっていても,同様

な工程及び材料で製造され,同一の公称寸法をもつ抵抗器とする。

3.2

品質認証  品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1 の 3.4(品質認証手順)による。

定数試料数の試験計画を用いる手順は,次の 3.2.1 及び 3.2.2 による。

ロットごと及び定期的品質検査に基づく試験の計画は,この規格の 3.3 による。この場合,少なくとも

定数試料数の試験計画での試料数,要求性能及び合格判定基準と等しくなければならない。

3.2.1

定数試料数の手順に基づく認証  定数試料数の手順は,JIS C 5201-1 の 3.4.2 による。これらの手

順に従って,決められた抵抗値をもつ特定の抵抗器の認証を求める場合は,その試料数は,

表 III による。

試料は,認証を得ようとする抵抗値の最高値及び最低値のもので構成する。臨界抵抗値が認証を受けよ

うとする範囲の中にある場合には,

その試料も含める。

二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける場合には,

別々の抵抗温度係数を代表とする試料を含める。同様にして,認証を受けようとする最も狭い許容差の各

抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の品質保証責任者

が提案する。IECQ の場合は,国内監督検査機関  (NSI)  の承認を必要とする。

予備の試料は,次の場合に使用する。

a)

群“0”で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに 1 個,各抵抗温度係数又は温度特性ごとに 1

個。


7

C 5201-6 : 1999

b)

製造業者の責任ではない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに 1 個,各抵抗温度係数

又は温度特性ごとに 1 個。

品質認証試験計画に追加する試験(群)がある場合には,追加する試験(群)に必要な試料数を群“0”

に追加する。

3.2.2

試験  個別規格に規定する抵抗器の認証のために,表 III に規定する一連の試験を必要とする。各

群の試験は,記載の順で行う。

群 5 の試料を除く全試料について群“0”の試験を行い,その後にその他の群に分割する。群“0”の試

験での不良品は他の群に使用してはならない。1 個の抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかっ

た場合には,

“1 個の不良”として数える。不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格

判定個数を超えなければ認証される。

備考  表 III に定数抜取りの試験計画を示す。これは,各試験群ごとの抜取方法,合格判定個数及び

総合格判定個数の個別規定を含み,また,JIS C 5201-1 

第 章(試験及び測定方法)及びこ

の規格の

第 章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。

表 III は,試験方法,試験条件及び要求性能について個別規格に規定するための選択内容を

示す。

定数抜取りの試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に

規定する内容と同一とする。

表 III  品質認証の試験計画

備考1.  試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1の規定による。ただし,抵抗値変化の要求事項

は,この規格の

表 及び表 II から適切に選択する。

2.

この表で:

n

=試料数

c

=合格判定個数(群又は副群当たりの許容不良数)

D

=破壊試験

ND

=非破壊試験

3.

合計 31 個の試料が必要である。ただし,群 5 の試料は群 0 には含めない。

参考  表中の要求性能欄の“...%R”の は,各試験の試験前の抵抗値を示す。

試料数及び

総合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n c

要求性能

備考 1.参照)

群 0 ND

26

1

4.4.1

外観

備考 3.

4.4.1

による。

表示が明りょうに判読でき,個別

規格の規定による。

4.4.2

寸法(ゲージ法)

個別規格の規定による。

4.5

抵抗値

4.5.2

による。

4.7

耐電圧(絶縁形抵抗

器だけ)

方法:...

4.7.3

による。

群 1A 

群 1 の試料の半分

ND

 5

1

4.16

端子強度

この規格の 2.3.9 による。

外観

4.16.6 a)

による。


8

C 5201-6 : 1999

試料数及び

総合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n c

要求性能

備考 1.参照)

抵抗値

R≦±(... %R+...

Ω)

4.18

はんだ耐熱性

はんだ槽法  方法 1A

外観

4.18.3

による。

抵抗値

R≦±(... %R+...

Ω)

4.8

温度による抵抗値

変化

カテゴリ下限温度/20℃

R/R≦±... %又は

α:...10

−6

/

20

℃/カテゴリ上限温度

R/R≦±... %又は

α:...10

−6

/

4.13

過負荷

この規格の 2.3.4 による。

4.13.3

による。

外観

R≦±(... %R+...

Ω)

抵抗値

群 1B 

群 1 の試料の残り半分

D

5

1

4.19

温度急変

θ

A

:カテゴリ下限温度

θ

B

:カテゴリ上限温度

外観

4.19.3

による。

抵抗値

R≦±(... %R+...

Ω)

4.22

振動(正弦波)

取付方法:個別規格の規定による。

掃引耐久性試験

振動数範囲:10Hz∼500Hz

振幅:0.75mm 又は 98m/s

2

のど

ちらか緩い方

総試験時間:6h

外観

4.22.4

による。

抵抗値

R≦±(... %R+...

Ω)

群 

群 1 の全試料

D

10

1

4.23

一連耐候性

−高温(耐熱性)

−温湿度サイクル

(12+12 時間サイ

クル)

最初のサイクル

−低温(耐寒性)

−減圧

8kPa

温湿度サイクル

(12+12 時間サイ

クル)

残りのサイクル

外観

4.23.8

による。

抵抗値

R≦±(... %R+...

Ω)

抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する

場合)は,この規格の 2.3.6 による。

R

≧1G

抵抗素子間の耐電圧(適用する場

合)は,この規格の 2.3.7 による。

4.7.3

による。

群 2 D

6

1

4.24

高温高湿(定常)

この規格の 2.3.8 による。

外観

4.24.4

による。

抵抗値

R≦±(... %R+...

Ω)


9

C 5201-6 : 1999

試料数及び

総合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n c

要求性能

備考 1.参照)

抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する

場合)は,この規格の 2.3.6 による。

R

≧1G

抵抗素子間の耐電圧(適用する場

合)は,この規格の 2.3.7 による。

4.7.3

による。

群 3 D

5

1

4.25.1 70

℃での耐久性

この規格の 2.3.5 による。

試験時間:1 000h

48h

,500h 及び 1 000h での検査

外観

4.25.1.7

による。

抵抗値

R≦±(... %R+...

Ω)

1

000h

での検査:

抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する

場合)は,この規格の 2.3.6 による。

R

≧1G

群 4 D

5

1

4.25.3

カ テ ゴ リ 上 限 温

度での耐久性

試験時間:1 000h

48h

,500h 及び 1 000h での検査

外観

4.25.3.7

による。

抵抗値

R≦±(... %R+...

Ω)

1

000h

での検査:

抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する

場合)は,この規格の 2.3.6 による。

R

≧1G

群 5 D

5

1

4.17

はんだ付け性

エージングなし

方法:...

4.17.3.2

による。

注  *群 1A 及び群 1B を含めた群 1 の総合格判定個数は 1 個とする。 

3.3

品質確認検査

3.3.1

検査ロットの構成  検査ロットは,同一形状で構造的に類似な抵抗器(3.1 参照)で構成する。こ

れは,検査の期間中に製造された抵抗値範囲を代表するものとする。期間中に製造される各形状は,同一

公称寸法であれば,異なった抵抗温度特性のものを一括してもよい。ただし,抵抗温度特性の誠験を含む

副群用の試料は除く。IECQ の場合は,認証された抵抗値範囲の下限,上限及び/又は臨界抵抗値並びに認

証された抵抗温度特性のものは,

国内監督検査機関によって承認された期間の間に検査する

備考を参照)。

群“C”及び“D”の試料は,検査対象期間の最後の 13 週にわたって集める。

備考  下限抵抗値は,製造中の最低の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最低抵抗値)の 0%

∼200%の間とする。

上限抵抗値は,製造中の最高の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最高抵抗値)の

−30%∼0%の間とする。

“臨界”抵抗値は,計算値の−20%∼0%の間とする。

3.3.2

試験計画  品質確認検査のためのロットごとの品質検査及び定期的品質検査の計画は,ブランク個

別規格の

第 章(検査の要求事項)の表 II に示す。

3.3.3

評価水準  ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の表 IV A 及び表 IV B から選択することが

望ましい。


10

C 5201-6 : 1999

表 IV A  評価水準とロットごとの品質検査

D* E  F* G*

検査副群**

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

A1

S-4

1.0

A2

S-4

1.0

B1

S-3

1.0

B2

S-3

2.5

B3

S-3

2.5

IL

=検査水準

AQL

=合格品質水準

表 IV B  評価水準と定期的品質検査

D* E  F* G*

検査副群**

p n c p n c p n c p n c

C1

3

10

1

   

C2

3

5

1

   

Dl     12

12

1

   

D2

    36

10

1

   

p

=周期(月)

n

=試料数

c

=合格判定個数

表 IV A 及び表 IV B についての備考:

*

評価水準 D, F 及び G は検討中

**

検査副群の内容は,関連のブランク個別規格の

第 章(検査の要求事項)に規定する。


11

C 5201-6 : 1999

附属書 A(規定)  固定ネットワーク抵抗器の標準回路及び端子の配列

A1

片側端子の標準回路

回路記号

回路形式

回路記号

回路形式

C

D

F

G

H

W

X

Y

Z


12

C 5201-6 : 1999

A2

両側端子の標準回路

回路記号

回路形式

回路記号

回路形式

A

B

E

J

K

L

T

U

V


13

C 5201-6 : 1999

附属書 1(規定)  形名及び記号

1.

適用範囲  この附属書は,日本工業規格として JIS C 5201-1 の 2.4.2(記号化)の備考に規定する電子

機器用固定抵抗器の形名の記号化に基づき,固定ネットワーク抵抗器(以下,抵抗器という。

)の形名及び

記号について規定したもので,原国際規格にはない事項である。

2.

形名の構成  形名の構成は,次に示す配列による。

1. 

2.

備考  例 2.の定格抵抗値は,抵抗器を構成する素子の抵抗値が R1: 330

Ωと R2: 470Ωであることを示す。

3.

記号

3.1

抵抗器の種類  抵抗器の種類を表す記号は,JIS C 5201-1 の附属書 の 2.1(抵抗器の種類)に基づ

いて 2 英大文字で表す。最初の第 1 文字は,抵抗器を示す英大文字 R で表し,第 2 文字は,主な抵抗素子

によって区分する。第 1 文字と第 2 文字との組合せは,この規格の

附属書 表 による。

附属書 表 1  抵抗器の種類を表す記号

記号

主な抵抗素子

RC

炭素混合体

RD

炭素皮膜

RK

金属系混合皮膜

RN

金属皮膜

3.2

形状  形状を表す記号は,JIS C 5201-1 の附属書 の 2.2(形状)に基づいて,2 数字に 1 英大文字

を加えた 3 文字で表し,この規格の

附属書 表 による。


14

C 5201-6 : 1999

附属書 表 2  形状を表す記号

記号

形状

参考図

73A

チップネットワーク

78A

デュアルインラインパッケージ (DIP)

78B

スモールアウトラインパッケージ (SOP)

92A

シングルインラインパッケージ (SIP)

3.3

特性  特性を表す記号は,JIS C 5201-1 の附属書 の 2.3(特性)に基づいて,Iを除く 1 英大文

字で表し,この規格の

附属書 表 に示す抵抗温度係数の記号とする。

附属書 表 3  特性を表す記号

記号

B

C

D

E

F

G

H

K

L

M

抵抗温度係数  10

6

/

±5

±10

±15

±20

±25

±50

±100

±250

±300

±500

3.4

端子数  端子数を表す記号は,2 数字で端子数を表す。端子数が 9 以下の場合は,第 1 数字を 0 とす

る。

なお,最低端子数及び最高端子数の規定は,個別規格に規定する。

3.5

回路形式  回路形式を表す記号は,抵抗回路網及び端子配列で区分し,1 英大文字で表し,この規格

附属書 による。

3.6

定格抵抗値  各抵抗素子の定格抵抗値を表す記号は,JIS C 5201-1 の附属書 の 2.5 の(定格抵抗値)

に基づいて,3 数字(E12,及び E24)又は 4 数字(E48, E96 及び E192 数列)で表す。

3

数字の場合,第 1 及び第 2 数字はオームを単位とする有効数字とし,第 3 数字は有効数字に続くゼロ

の数を示す。

4

数字の場合,第 1,第 2 及び第 3 数字は有効数字とし,第 4 数字は有効数字に続くゼロの数を表す。た

だし,小数点がある場合は,小数点を英大文字 R で表し,この場合は,すべて有効数字とする。

なお,

定格抵抗値が 2 種類以上の場合は,

この規格の

附属書 の 2.(形名の構成)の例 のように R1/R2/R3

……Rn と各抵抗値を記号で表す。

470

……47

Ω 47R5……47.5Ω

102

……1k

Ω 1001……1kΩ

154

……150k

Ω 1543……154kΩ


15

C 5201-6 : 1999

105

……1M

Ω 1004……1MΩ

3.7

抵抗値許容差  抵抗値許容差を表す記号は,JIS C 5201-1 の附属書 の 2.6(抵抗値許容差)に基づ

いて,1 英大文字で表し,この規格の

附属書 表 による。

附属書 表 4  抵抗値許容差を表す記号

記号

B

C

D

F

G

J

K

抵抗値許容差  %

±0.1

±0.25

±0.5

±1

±2

±5

±10

3.8

評価水準  評価水準を表す記号は,本体の 3.3.3(評価水準)に基づいて 1 英大文字で表し,E とす

る。

3.9

安定性クラス  安定性クラスを表す記号は,JIS C 5201-1 の附属書 の 2.8(安定性クラス)に基づ

いて 1 英大文字で表し,この規格の

附属書 表 による。

附属書 表 5  安定性クラスを表す記号

記号

クラス  %  短期試験での抵抗変化量 長期試験での抵抗変化量

B

0.1

± (0.02%+0.01

Ω)

± (0.1%+0.01

Ω)

C

0.25

± (0.05%+0.01

Ω)

± (0.25%+0.05

Ω)

D

0.5

± (0.1%+0.01

Ω)

± (0.5%+0.05

Ω)

F

1.0

± (0.25%+0.05

Ω)

± (1.0%+0.05

Ω)

G

2.0

± (0.5%+0.05

Ω)

± (2.0%+0.1

Ω)

J

5.0

± (1.0%+0.05

Ω)

± (5.0%+0.1

Ω)

K 10.0

± (2.0%+0.1

Ω)

± (10%+0.5

Ω)

3.10

その他必要な事項  その他必要な事項を表す記号は,英大文字又は数字とし,3.13.9 で表せない性

能,構造,材質及びその他必要な事項を表す場合に適用し,形名の末尾に追加する。この場合の記号は,

個別規格の規定による。ただし,誤認を防止するため,安定性クラスの記号を使用してはならない。


16

C 5201-6 : 1999

電子部品 JIS 原案作成第 1 委員会名簿

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立産業技術研究所

寺  岡  憲  吾

防衛庁装備局管理課調達補給室

藤  倉  秀  美

財団法人電気安全環境研究所

岩  田      武

村  岡  桂次郎

曽我部  浩  二

永  松  荘  一

通商産業省機械情報産業局電子機器課

橋  爪  邦  隆

工業技術院標準部情報電気規格課

福  原      隆

沖電気工業株式会社

村  上  昭  次

株式会社ケンウッド

山  本  克  巳

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

中  島  眞  人

日本電気株式会社

小  林      弘

日本電気株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

山  本  佳  久

三菱電機株式会社

三  浦  春  夫 TDK 株式会社

杉  岡  由  皓

日立エーアイシー株式会社

阿慈知  良  雄

ニチコン株式会社

栗  林  孝  志

松下電子部品株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

豊  嶋  協  一 TDK 株式会社

平  野  芳  行

日本電気株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  名  法  明

株式会社村田製作所

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

佐  藤  広  志 TDK 株式会社

宮  島  明  美

多摩電気工業株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会

JIS C 5201-6

分科会名簿

氏名

所属

(主査)

宮  島  明  美

多摩電気工業株式会社

(委員)

本  田  義  夫 KOA 株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

嶋  田  真  人

北陸電気工業株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

笹  川  蔽  雄

理研電具製造株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会