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C 5402-15-8 : 2002 (IEC 60512-15-8 : 1995)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会  (JEITA)  か

ら,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするため,IEC 60512-15-8 : 1995, Electromechanical

components for electronic equipment

−Basic testing procedures and measuring methods−Part 15 : Mechanical tests

on contacts and terminations

−Section 8 : Test 15h−Contact retention system, resistance to tool application を基礎

として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100 の試験一覧による。


日本工業規格

JIS

 C

5402-15-8

 : 2002

 (IEC

60512-15-8

 : 1995

)

電子機器用コネクタ−

試験及び測定−

第 15-8 部:コネクタ試験(機械的試験)−

試験 15h:コンタクト保持機構,

工具の使用に対する耐久性

Connectors for electronic equipment

−Tests and measurements−

Part 15-8 : Connector tests (mechanical)

−Test 15h : Contact retention

system,

resistance to tool application

序文  この規格は,1995 年に第 1 版として発行された IEC 60512-15-8, Electromechanical components for

electronic equipment

−Basic testing procedures and measuring methods−Part 15 : Mechanical tests on contacts and

terminations

−Section 8 : Test 15h−Contact retention system resistance to tool application を翻訳し,技術的内容

及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

1.

適用範囲及び目的  この規格は,コンタクトの挿入工具及び引抜工具の使用に耐える電子機器用コネ

クタの能力を評価するための標準の試験方法を規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD(修

正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-15-8 : 1995

  Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing

proce-dures and measuring methods

−Part 15 : Mechanical tests on contacts and terminations−

Section 8 : Test 15h

−Contact retention system resistance to tool application (IDT)

2.

引用規格  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構

成する。これらの引用規格は,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後の改

正版・追補には適用しない。

IEC 60512-1-1* : 200x

  Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-1 : General

examination

−Test 1a : Visual examination

参考  IEC 規格番号に*が付いているものは,この規格の発効時点で,IEC 規格の審議中のものであ


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C 5402-15-8 : 2002 (IEC 60512-15-8 : 1995)

ることを示す。

IEC 60512-8 : 1993

  Electromechanical components for electronic equipment ; basic testing procedures and

measuring methods

− Part 8 : Connector tests (mechanical) and mechanical tests on contacts and

terminations

3.

試料の準備  試料には,個別規格に従ってすべてのコンタクトを取り付け,配線する。

4.

試験方法  記述する各試験方法に対して,五つのコンタクトを試験する。別々のコンタクトキャビテ

ィを,

方法 及び方法 に対して用いる。

方法 1:引抜工具の回転  規定の引抜工具を,コンタクトが入っているキャビティに差し込む。個別規格

に規定する軸方向の力を加え,

図 に示すとおり,工具を正逆交互に回転している間,保持する。次に,

コンタクトを引抜工具で引き抜き,その後,適切な挿入工具で再挿入する。この動作を,五つのコンタク

ト各々に,3 回実施する。

方法 2:挿入工具の回転  最初に,コンタクトを引き抜き,次に,個別規格に規定する軸方向の力を挿入

工具に加えて,そのキャビティに再挿入する。

図 に示すとおり,力を保持した状態で,工具を正逆交互に回転する。次に,工具を引き抜き,その後,

コンタクトを引抜工具で引き抜く。この動作を五つのコンタクト各々に,3 回実施する。

試験中に工具が破損した場合には,新しい工具を使用する。

図 1  工具の正逆交互回転

5.

最終測定  試料は,次の試験を行う(適用する場合)。

−  外観[IEC 60512-1-1*(旧 IEC 60512-2

,試験 1a]

−  インサート内のコンタクト保持(IEC 60512-8,試験 15a)

6.

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。


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C 5402-15-8 : 2002 (IEC 60512-15-8 : 1995)

a)

使用する電線の種類及びサイズ

b)

コンタクトの挿入工具

c)

コンタクトの引抜工具

d)

方法 1 及び方法 2 の工具に加える軸荷重

e)

コンタクト保持力の値

電子部品 JIS 原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立産業技術研究所

寺  岡  憲  吾

防衛庁

藤  倉  秀  美

財団法人電気安全環境研究所

佐々木  喜  七

財団法人日本電子部品信頼性センター

村  岡  桂次郎

曽我部  浩  二

町  野  俊  明

橋  本      進

財団法人日本規格協会

福  原      隆

沖電気工業株式会社

村  上  昭  次

株式会社ケンウッド

山  本  克  巳

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

新  井  謙  一

日本電気株式会社

小  林      弘

日本電気ファクトリエンジニアリング株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

伊  高  篤  己

三菱電機株式会社

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

高  木  裕  司

アルプス電気株式会社

石  井      勝

第一電子工業株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

大  島      寛

ニチコン株式会社

柴  田  一  寛

株式会社村田製作所

大  西  浩  司

本多通信工業株式会社

前  田  太  門

ヒロセ電機株式会社

八  木      誠

日本航空電子工業株式会社

小  島  槇  雄

窪  田      明

経済産業省

八  田      勲

経済産業省

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人電子情報技術産業協会

中  山  正  美

社団法人電子情報技術産業協会


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C 5402-15-8 : 2002 (IEC 60512-15-8 : 1995)

JIS C 5402-1

  規格群原案作成分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

石  井      勝

第一電子工業株式会社

(副主査)

山  川  和  夫

多治見無線電機株式会社

大  西  浩  司

本多通信工業株式会社

(委員)

大久保      功

株式会社アイティティキャノン

武  田  佳  司

イリソ電子工業株式会社

木  村      淳 URO 電子工業株式会社

横井川  淳  史

オムロン株式会社

坂  岡  眞  樹

京セラ株式会社

東      陽一郎

ケル株式会社

金  子  智  行

株式会社ジャルコ

福  田  敦  夫

スタック電子株式会社

佐  藤  一  巳

ソニー株式会社

今  井      彰

タイコエレクトロニクスアンプ株式会社

太  田      弦

日本圧着端子製造株式会社

八  木      誠

日本航空電子工業株式会社

白  岩  寿  久

日本航空電子工業株式会社

榎  本  雅  弘

日本モレックス株式会社

吉  岡  克  之

ノーブル無線株式会社

前  田  太  門

ヒロセ電機株式会社

岩  朝  好  博

ホシデン株式会社

加  藤  修  治

松下電工株式会社

一  木  義  和

株式会社村田製作所

金  子  哲  也

山一電機株式会社

小  島  槇  雄

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人電子情報技術産業協会

中  山  正  美

社団法人電子情報技術産業協会

日本工業標準調査会  標準部会  電子技術専門委員会  構成表

氏名

所属

(委員会長)

鳳      紘一郎

東京大学大学院新領域創成科学研究科

(委員)

榎  並  和  雅

日本放送協会技術局

川  瀬  正  明

千歳科学技術大学光科学部

喜  安      拓

総務省情報通信政策局

栗  原  正  英

社団法人日本プリント回路工業会

小  岩  忠  夫

社団法人電子情報技術産業協会

酒  井  善  則

東京工業大学大学院理工学研究科

佐  野  真理子

主婦連合会

田  村  政  昭

株式会社東芝デジタルメディアネットワーク社コアテクノロジーセンター

平  松  幸  男

東日本電信電話株式会社第三部門

本  多  正  己

財団法人日本規格協会 IEC 活動推進会議事務局

増  田  岳  夫

財団法人光産業技術振興協会

山  本  克  巳

ソニー株式会社テクニカルサポートセンター