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C 5402-2-5

:2005 (IEC 60512-2-5:2003)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か

ら,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-2-5 : 2003,Connectors for

electronic equipment

−Tests and measurements−Part 2-5 : Electrical continuity and contact resistance tests−Test

2e : Contact disturbance

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100 の試験一覧による。


C 5402-2-5

:2005 (IEC 60512-2-5:2003)

(2)

目  次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  試料の取付け

1

3.

  測定方法

1

4.

  要求事項

2

5.

  個別規格に規定する事項

2

 


日本工業規格

JIS

 C

5402-2-5

:2005

(IEC 60512-2-5

:2003

)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−

第 2-5 部:導通及び接触抵抗試験−

試験 2e:コンタクトディスターバンス

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-

Part 2-5 : Electrical continuity and contact resistance tests-

Test 2e : Contact disturbance

序文  この規格は,2003 年に第 1 版として発行された IEC 60512-2-5,Connectors for electronic equipment

−Tests and measurements−Part 2-5 : Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2e : Contact disturbance

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

1.

適用範囲  この規格は,電子機器用コネクタの規定する動的条件下でのコンタクトディスターバンス

を検出するための試験方法について規定する。この試験方法は,類似の部品に用いてもよい。

試験のための標準条件は,JIS C 5402-1 による。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-2-5 : 2003

,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-5 :

Electrical continuity and contact resistance tests

−Test 2e : Contact disturbance (IDT)

参考  コンタクトディスターバンスとは,動的条件下で閉じたコンタクトの両端の電圧が電源電圧の

50 %

を超えたとき(又は開いたコンタクトの両端の電圧が電源電圧の 50 %を下回ったとき)に

コンタクトディスターバンスが起きたとみなし,それらが継続している時間をいう。

2.

試料の取付け  試料を,個別規格に従って取り付ける。

3.

測定方法  コンタクトディスターバンスは動的条件下で測定する。コネクタがバンプ,衝撃,振動,

加速度などの試験を受けているとき,閉じたコンタクトが開いている時間及び/又は開いたコンタクトが

閉じている時間を測定する。

コンタクトディスターバンスの監視は,関連試験及び/又は個別規格に規定する時間で実施する。コン

タクトは,個別規格に規定するとおり,個々に監視するか又は一つ以上のグループで一括して監視しても

よい。複数のコンタクトを一括して監視する場合には,閉じたコンタクトは直列に,また,開いたコンタ

クトは並列に,各々接続する。


2

C 5402-2-5

:2005 (IEC 60512-2-5:2003)

備考  複数のコンタクトを一括して試験しているときにコンタクトディスターバンスが発生した場合

には,引き続き個々のコンタクトで試験してもよい。

4.

要求事項  測定は 150 mA 以下の直流で行う。電源電圧は,10 V 以下とする。

コンタクトディスターバンス時間は,関連試験及び個別規格に規定する値を超えてはならない。

推奨時間は,1

μs,10 μs,100 μs,1 ms,又は 10 ms とする。

閉じたコンタクトは,そのコンタクトの両端の電圧が電源電圧の 50 %を超えたときにコンタクトディス

ターバンスが起きたとみなす。

開いたコンタクトは,そのコンタクトの両端の電圧が電源電圧の 50 %を下回ったときにコンタクトディ

スターバンスが起きたとみなす。

コンタクトディスターバンスが接触抵抗の変動とみなされる場合には,この変動値を個別規格に規定す

る。

5.

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

試料の取付方法及び配線

b)

監視する時間(関連する試験方法と異なる場合)

c)

監視するコンタクト及びその動作条件

d)

コンタクトディスターバンス時間の許容限界

e)

接触抵抗の変動(適用する場合)

f)

この規格との相違点