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C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60115-9:2003,Fixed resistors for use

in electronic equipment

―  Part 9 : Sectional specification : Fixed surface mount resistor network with individually

measurable resistors

を基礎として用いた。

この規格に従うことは,次に示す特許権の使用に該当するおそれがある。

発明の名前  面実装用ネットワーク型電子部品

設定登録日  平成 9 年 4 月 25 日

なお,この記載は,上記に示す特許権の効力,範囲などに関して何ら影響を与えるものではない。

上記の特許権者は,日本工業標準調査会に対して,非差別的,かつ,合理的な条件で,いかなる者に対

しても当該特許権の実施を許諾する意志があることを保証している。

この規格の一部が,上記に示す以外の技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,

又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登

録出願にかかわる確認について責任はもたない。

JIS C 5201-9

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  抵抗器の標準回路及び端子の配置

附属書 B(規定)  端子形状

JIS C 5201

の規格群(電子機器用固定抵抗器)には,次に示す部編成がある。

JIS C 5201-1

第 1 部 : 品目別通則

JIS C 5201-2

第 2 部 : 品種別通則 : 低電力非巻線固定抵抗器

JIS C 5201-2-1

第 2-1 部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-2-2

第 2-2 部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4

第 4 部 : 品種別通則 : 電力形固定抵抗器

JIS C 5201-4-1

第 4-1 部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-4-2

第 4-2 部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4-3

第 4-3 部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き  評価水準 H

JIS C 5201-5

第 5 部 : 品種別通則 : 精密級固定抵抗器

JIS C 5201-5-1

第 5-1 部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-5-2

第 5-2 部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-6

第 6 部 : 品種別通則 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-6-1

第 6-1 部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  同一抵抗

値及び同一定格電力  評価水準 E


(2)

JIS C 5201-6-2

第 6-2 部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  異種抵抗

値又は異種定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-8

第 8 部 : 品種別通則 : チップ固定抵抗器

JIS C 5201-8-1

第 8-1 部 : ブランク個別規格 : チップ固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-9

第 9 部 : 品種別通則 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-9-1

第 9-1 部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

評価水準 EZ


C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

(3)

目  次

ページ

序文 

1

1.

  一般事項

1

1.1

  適用範囲 

1

1.2

  目的

1

1.3

  引用規格 

1

1.4

  個別規格に規定する事項 

2

2.

  推奨定格,特性及び試験の厳しさ

3

2.1

  推奨特性 

3

2.2

  推奨定格値 

4

3.

  品質評価手順 

5

3.1

  構造的に類似な抵抗器 

5

3.2

  品質認証 

5

3.3

  品質確認検査 

10

附属書 A(規定)  抵抗器の標準回路及び端子の配置 

12

附属書 B(規定)  端子形状

13

 


日本工業規格

JIS

 C

5201-9

:2006

(IEC 60115-9

:2003

)

電子機器用固定抵抗器ー

第 9 部:品種別通則:

個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

Fixed resistors for use in electronic equipment ―

Part 9 : Sectional specification :

Fixed surface mount resistor networks with individually measurable resistors

序文  この規格は,2003 年に第 1 版として発行された IEC 60115-9,Fixed resistors for use in electronic

equipment

―  Part 9 : Sectional specification : Fixed surface mount resistor networks with individually measurable

resistors

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

1. 

一般事項

1.1 

適用範囲  この規格は,JIS C 5201-1 を品目別通則とする品種別通則で,個別に抵抗値を測定できる

表面実装用の固定ネットワーク抵抗器(以下,抵抗器という。

)について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60115-9:2003

,Fixed resistors for use in electronic equipment  ―  Part 9 : Sectional specification :

Fixed surface mount resistor networks with individually measurable resistors (IDT)

1.2 

目的  この規格の目的は,推奨定格及び推奨特性を規定し,JIS C 5201-1 から適切な品質評価手順,

試験及び測定方法を選択し,この品種の抵抗器の一般要求性能を規定することである。

この規格に基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格の要求性能と同等又はそ

れ以上の水準とする。

1.3 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで,発効年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を

構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年又は発行年を付記していない引用

規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考 IEC 

60068-1:1988

  Environmental testing  ―  Part 1: General and guidance がこの規格と一致

している。

JIS C 60068-2-1

  環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法

備考 IEC 60068-2-1   Environmental testing ― Part 2: Tests, Tests A: Cold 及び Amendment



C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

1(1993-02)

及び Amendment 2(1994)からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 60068-2-2

  環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)−試験方法

備考 IEC 

60068-2-2

   Environmental testing ― Part 2: Tests, Tests B: Dry heat 及び Amendment

1(1993)

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考 IEC 

60063:1963

  Preferred number series for resistors and capacitors 並びに Amendment 1: 1967

及び Amendment 2: 1977 が,この規格と一致している。

JIS C 5201-1:1998

  電子機器用固定抵抗器−第 1 部 : 品目別通則

備考 IEC 60115-1:1999   Fixed resistors for use in electronic equipment ―  Part 1: Generic

specification

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

参考  JIS C 5201-1:1998 は,原国際規格 IEC 60115-1:1999  Fixed resistors for use in electronic

equipment

―  Part 1: Generic specification の最新版として制定されておらず,該当する事項

の項番は,JIS C 5201-1 の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する項番

に相違がある場合は,IEC 60115-1:1999 の項番を

参考に示す。

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型

抜取検査方式

備考 IEC 

60410:1973

  Sampling plans and procedures for inspection by attributes からの引用事項は,

この規格の該当事項と同等である。

1.4 

個別規格に規定する事項  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格の,JIS C 5201-1 は,この規格又はブランク個別規格の要求事項よりも低い要求事項を規定し

てはならない。

なお,より厳しい要求事項を規定する場合には,その内容を個別規格の 1.8 に規定し,例えば,アステ

リスク(*)を付けて試験計画の中に明示する。

個別規格では,次の事項を規定し,それぞれの規定値をこの規格の該当する項目から選択する。

1.4.1 

外形図及び寸法  識別を容易にし,他の抵抗器との比較のために,抵抗器を図示する。互換性及び

取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格で規定する。

すべての寸法は,ミリメートルで示す。

通常,寸法は,抵抗器本体の長さ,幅及び厚さを規定する。

回路及び端子の配置は,個別規格に規定する。回路の例を,

附属書 に示す。

端子形状は,個別規格に規定する。端子形状の例を,

附属書 に示す。

外形図が上記のものと異なる場合には,その抵抗器を適切に示す外形図及び寸法を個別規格に規定する。

1.4.2

取付け  個別規格には,通常に使用する場合の取付方法を規定する。試験及び測定を目的とする

取付方法(適用する場合)は,JIS C 5201-1 の 4.31(取付け)による。

1.4.3 

形式(Style)  形式は下表による。

  1  形式及び外形寸法

形式

長さ  L  mm

幅  W  mm

厚さ  T  mm

回路*

端子形状*

1005

×2 1±0.1 1±0.1 0.35±0.1 A

1005

×4 2±0.1 1±0.1 0.4±0.15 A

凸,凹

1608

×2 1.6±0.2 1.6±0.2 0.55±0.15 A

凸,凹


3

C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

  1  形式及び外形寸法(続き)

1608

×4 3.2±0.2 1.6±0.2 0.55±0.15 A

凸,凹

3216

×4 5.08±0.2 3.1±0.2 0.55±0.15 A

凸,凹

3216 3.2

±0.2 1.6±0.2 0.5±0.15 B

,C

4021 4

±0.2 2.1±0.2 0.6±0.15 D

6431 6.4

±0.2 3.1±0.2 0.6±0.15 B

,C

凸,凹

*

回路は

附属書 A,端子形状は附属書 による。 

1.4.4 

定格及び特性  定格及び特性は,次の事項を含め,この規格の関連する項目による。

1.4.4.1 

定格抵抗値の範囲  定格抵抗値の範囲は,この規格の 2.2.1 による。推奨値は,JIS C 5063 の E

標準数列とする。

備考 IECQ の場合,IECQ の品質認証制度によって個別規格で認定された抵抗値範囲と,この規格

の抵抗値範囲が異なる場合には,次の記述を個別規格に追加する。

“各形式に有効な抵抗値範囲は,品質認証電子部品一覧表(QPL)による。

1.4.5 

表示  個別規格には,抵抗器及び包装に表示する事項を規定する。

原則として抵抗器には表示をしない。ただし,表示をする場合には,JIS C 5201-1 の 2.4(表示)の定格

抵抗値と残りの事項とを明りょうに施す。

包装には,すべての事項を表示する。

なお,相違点があれば,個別規格でその内容を規定する。

2. 

推奨定格,特性及び試験の厳しさ

2.1 

推奨特性  個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。

2.1.1 

推奨耐候性カテゴリ  この規格に含まれる抵抗器は,JIS C 60068-1 の附属書 に規定する一般原

則に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定

常)の試験時間は,次から選択する。

カテゴリ下限温度:  −55  ℃,−40  ℃,−25  ℃  及び  −10  ℃

カテゴリ上限温度:  +85  ℃,+100  ℃,+125  ℃  及び  +155  ℃

高温高湿(定常)の試験時間:  4 日,10 日,21 日及び 56 日

低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)の試験の厳しさは,それぞれのカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限

温度とする。ある種の抵抗器はその構造のため,これらの温度が JIS C 60068-2-1 及び JIS C 60068-2-2 

規定する二つの推奨温度と一致しないことがある。この場合には,その抵抗器の実際の温度範囲内に最も

近い推奨温度を,厳しさとして選択する。

2.1.2 

抵抗温度係数及び抵抗温度特性  抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を,表 に示す。表

の各欄には,推奨温度係数 20  ℃∼70  ℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の 2.1.1 のカテゴリ温度

範囲に基づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5201-1 の 4.8(温度による抵抗値変化)参照]での抵抗値変化の

限界を規定する。

  2  抵抗温度係数及び抵抗温度特性

抵抗温度特性(抵抗値変化率の限界)%

温度係数

温度特性

20

℃/70  ℃

基準温度  ℃/カテゴリ下限温度  ℃

基準温度  ℃/カテゴリ上限温度  ℃

10

-6

/K

+20/−55  +20/−40 +20/−25 +20/−10 +20/+85 +20/+100 +20/+125 +20/+155

±500

±2.5

±3.75

±3

±2.25

±1.5

±3.25

±4

±5.25

±6.75

±250

±1.25

±1.88

±1.5

±1.13

±0.75

±1.62

±2

±2.62

±3.38



C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

  2  抵抗温度係数及び抵抗温度特性(続き)

±100

±0.5

±0.75

±0.6

±0.45

±0.3

±0.65

±0.8

±1.05

±1.35

±50

±0.25

±0.375

±0.3

±0.23

±0.15

±0.325

±0.4

±0.525

±0.675

±25

±0.125

±0.188

±0.15

±0.113

±0.075

±0.162

±0.2

±0.262

±0.338

±15

±0.075

±0.113

±0.09

±0.068

±0.045

±0.098

±0.12

±0.158

±0.203

±10

±0.05

±0.075

±0.06

±0.045

±0.03

±0.065

±0.08

±0.105

±0.135

備考1.  カテゴリ上限温度が+85  ℃の抵抗器は,20  ℃∼70  ℃の測定は行わない。

2.

上表以外の測定温度を追加する場合には,個別規格に規定する。 

2.1.3 

抵抗値変化の限界  各安定性クラスに対応する,各試験での抵抗値変化量の推奨限界値を,表 3

に示す。

  3  抵抗値変化の限界

安定性クラス

長期試験

短期試験

4.23

一連耐候性

4.24

高温高湿(定常)

4.25.1 70

℃での耐久性

4.25.3

カテゴリ上限温度
での耐久性

4.13

過負荷

4.18

はんだ耐熱性

4.19

温度急変

4.32

固着性

4.33

耐プリント板曲げ

5

±(5  %+0.1  Ω)

±(1  %+0.05  Ω)

3

±(3  %+0.1  Ω)

±(0.5  %+0.05  Ω)

2

±(2%+0.1  Ω)

±(0.5  %+0.05  Ω)

1

±(1  %+0.05  Ω)

±(0.25  %+0.05  Ω)

0.5

±(0.5  %+0.05  Ω)

±(0.1  %+0.01  Ω)

0.25

±(0.25  %+0.05  Ω)

±(0.05  %+0.01  Ω)

0.1

±(0.1  %+0.01  Ω)

±(0.02  %+0.01  Ω)

備考  表 の項目番号は,JIS C 5201-1 による。 

2.2 

推奨定格値

2.2.1 

定格抵抗値(公称抵抗値)  定格抵抗値(公称抵抗値)は,JIS C 5201-1 の 2.2.7[定格抵抗値(公

称抵抗値)

]による。

参考  JIS C 5201-1 の 2.2.7 は,原国際規格 IEC 60115-1:1999 の 2.2.6 と同等である。

2.2.2 

定格抵抗値の許容差  定格抵抗値の推奨許容差は,次による。

±5  %,±2  %,±1  %,±0.5  %,±0.25  %及び±0.1  %

2.2.3 

定格電力(取り付けた状態)  定格電力 70  ℃での推奨値は,次による。

ネットワーク定格電力:0.125 W,0.25 W 及び 0.5 W

素子定格電力:0.03 W,0.05 W,0.063 W,0.1 W 及び 0.125 W

個別規格には,抵抗器における各抵抗素子の定格電力及び抵抗器全体における最大許容電力の適切な値

を規定する。

70

℃を超える温度での電力の軽減値は,

図 の曲線による。


5

C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

  1  定格電力の軽減曲線

上記の軽減曲線に示す推奨動作領域のすべてが含まれている場合には,個別規格により広い動作領域を

規定してもよい。この場合,個別規格には,70  ℃以外の温度での最大許容電力を規定する。ただし,曲線

上の折れ点(break points)は,試験によって確認しなければならない。

2.2.4 

素子最高電圧  素子最高電圧の推奨値は,次による。

25 V

,50 V,100 V 及び 200 V(直流又は交流の実効値)

2.2.5 

絶縁抵抗(適用する場合)  絶縁抵抗は,高温(耐熱性)試験後で 1 GΩ以上とする。

2.2.6 

素子間の絶縁抵抗(適用する場合)  個別規格に規定がない場合,素子間の絶縁抵抗の下限値は,

100 M

Ωを推奨する。

2.2.7 

実装面導体に対する絶縁電圧  連続動作状態で抵抗器の電極と実装面導体との間に印加すること

ができる最高電圧(直流又は交流の実効値)は,個別規格で規定する。

2.2.8 

隣接する素子間の絶縁電圧  連続動作状態で,抵抗器の個別の抵抗素子と互いに接続されているす

べての個別抵抗素子との間に印加することができる最高電圧(直流又は交流の実効値)は,個別規格で規

定する。

2.3

推奨する試験の厳しさ  個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択する。

2.3.1 

乾燥  乾燥は,JIS C 5201-1 の 4.3(乾燥)の手順 による。

2.3.2 

過負荷(取り付けた状態)  過負荷は,JIS C 5201-1 の 4.13(過負荷)及び次の条件による。

印加電圧:定格電圧の 2.5 倍又は素子最高電圧の 2 倍のいずれか小さい方

印加時間:直流の試験電圧を,抵抗器のそれぞれの素子に 2 秒間,各 1 回印加する。

基板材質:個別規格に規定するガラス布基材エポキシ樹脂

個々の抵抗器の間隔は,これらの抵抗器の最大寸法以上とする。個別規格には,そのほかの必要事項が

あれば規定する(2.2.3 参照)

3. 

品質評価手順

3.1 

構造的に類似な抵抗器  構造的に類似な抵抗器とは,抵抗値及び温度特性が異なっていても,同様

な工程及び材料で製造され,同一の公称寸法をもつ抵抗器をいう。

3.2 

品質認証  品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1 の 3.4(品質認証手順)による。

ロットごとの品質確認検査及び定期的な試験に基づく品質認証試験の計画は,3.3 に規定する。定数試料

数の試験計画を用いる手順は,次の 3.2.1 及び 3.2.2 による。

参考  JIS C 5201-1 の 3.4 は,原国際規格 IEC 60115-1:1999 の 3.5 と同等である。

カテゴリ下限温度

カテゴリ上限温度

70  ℃

推奨動作領域

0

100

定格電力



C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

3.2.1

定数抜取手順に基づく品質認証  定数抜取りの手順は,JIS C 5201-1 の 3.4.2 b)  による。これらの

手順に従って,決められた抵抗値をもつ特定の抵抗器の認証を求める場合,試料数は

表 の規定による。

抵抗器の定格抵抗値の範囲に対する品質認証を要求する場合,試料は認証を得ようとする定格抵抗値の

最高値及び最低値のもので構成する。臨界抵抗値が認証を受けようとする範囲の中にある場合には,その

試料も含める。それぞれの定格抵抗値の試料数を,

表 に規定する。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受

ける場合には,別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様に,認証を受けようとする最も狭い許

容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の品質保

証責任者が提案する。IECQ の場合は,国内監督検査機関(NSI)の承認を必要とする。

予備の試料は,次の場合に使用する。

a)

群 0A 及び群 0B で許容不適合品と入れ替えるために,抵抗値ごとに 1 個,各抵抗温度係数又は温度特

性ごとに 1 個。

b)

製造業者の責任でない事故による不適合品と入れ替えるために,抵抗値ごとに 1 個,各抵抗温度係数

又は温度特性ごとに 1 個。

品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料を

群 0A 及び群 0B

に追加する。

参考  JIS C 5201-1 の 3.4.2 b)  は,原国際規格 IEC 60015-1:1999 の 3.5.3 b)  と同等である。

3.2.2 

試験  個別規格に規定する抵抗器の認証のためには,表 に規定する一連の試験を必要とする。各

群の試験は,記載の順に行う。

すべての試料は,

群 0A 及び群 0B の試験を行った後で他の群に分割する。

群 0A 及び群 0B の試験での不適合品は,他の群に用いてはならない。

1

個の抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には,

“1 個の不適合”として数える。

不適合品が,各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。

備考  表 に,定数抜取りの試験計画を示す。これは各試験群ごとの抜取方法及び許容不適合数の個

別規格を含み,JIS C 5201-1 の 4.(試験及び測定方法)及びこの規格の 2.に規定する個々の試

験とともに,試験条件の全体及び要求性能を示す。

表 には,試験方法,試験条件及び要求性能について個別規格で規定するための選択内容を

示す。

  定数抜取試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格で規定

する内容と同一とする。

  4  品質認証の定数抜取試験計画−評価水準 EZ

参考  表中の要求性能欄の“%R”の は,各試験の試験前の抵抗値を示す。

試料数及び 
合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n c 

要求性能

備考 1.参照)

群 0A

4.4.1

  外観 

ND

165

0  4.4.1

による。

群 0B

4.4.2

  寸法(ゲージ法)

4.5

  抵抗値 

ND

165

0

個別規格の規定による

4.5.2

による。


7

C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

  4  品質認証の定数抜取試験計画−評価水準 EZ(続き)

試料数及び 
合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n c 

要求性能

備考 1.参照)

群 1A

4.18

  はんだ耐熱性

4.29

  部品の耐溶剤性

D

外観

抵抗値

溶剤 : ...

溶剤温度 : ...

方法 2

後処理 : ...

20 0

4.18.3

による。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

個別規格を参照。

群 1B

4.17

  はんだ付け性

4.7

  耐電圧(絶縁形抵抗器

だけに適用)

隣接する素子間の耐

電圧

4.31

  取付け

D

エージング(適用する場合)

方法 : ...

絶縁電圧 : ...V

電圧 : ...V

基板材質及び間隔は,この規格

の 2.3.2 による。

20 0

4.17.4

による。

4.7.3

による。

4.7.3

による。

4.6

  絶縁抵抗(絶縁形抵抗

器だけに適用)

4.13

  過負荷(取り付けた状

態)

4.30

  表示の耐溶剤性(適用

する場合) 

方法 : ...

絶縁電圧 : ...V

定格電圧の 2.5 倍又は素子最高

電圧の 2 倍のいずれか小さい

方。

印加時間  : 2 s

外観

抵抗値

溶剤 : ...

溶剤温度 : ...

方法 1

ラビング材質 : 脱脂綿

後処理 : ...

≧100 MΩ

外観の損傷がない。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

表示は明りょうである。

 



C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

  4  品質認証の定数抜取試験計画−評価水準 EZ(続き)

試料数及び 
合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n c 

要求性能

備考 1.参照)

群 2

4.33

  耐プリント板曲げ性

4.33.6

  最終測定 

D

抵抗値

たわみ量 : ...

外観

20 0

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

外観の損傷がない。

群 3

4.31

  取付け 

D

基板材質 : ...

外観

抵抗値

100 0

外観の損傷がない。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

群 3.1

4.32

  固着性

4.19

  温度急変

D

外観

T

A

=

カテゴリ下限温度

T

B

=

カテゴリ上限温度

外観

抵抗値

20 0

外観の損傷がない。

外観の損傷がない。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

4.23

  一連耐候性

−高温(耐熱性)

−温湿度サイクル(12

+ 12 時 間 サイ ク

ル)最初のサイク

−低温(耐寒性)

−温湿度サイクル(12

+ 12 時 間 サイ ク

ル)残りのサイク

−直流負荷 

外観

抵抗値

外観の損傷がない。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

群 3.2

4.24

  高温高湿(定常) 

D

成極の電圧[4.24.2.1 c)  ]は適用

しない。

外観

抵抗値

20 0

外観の損傷がなく,

表示が

明りょうである。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)


9

C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

  4  品質認証の定数抜取試験計画−評価水準 EZ(続き)

試料数及び 
合格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n c 

要求性能

備考 1.参照)

群 3.3

4.25.1

  70  ℃での耐久性 

D

取付間隔は,この規格の 2.3.2

による。

試験時間  : 1 000 h

48 h

,500 h 及び 1 000 h での検

査 :

外観

抵抗値

20 0

外観の損傷がない。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

群 3.4

4.25.3

  カテゴリ上限温度

での耐久性 

D

取付間隔は,この規格の 2.3.2

による。

試験時間  : 1 000 h

48 h

,500 h 及び 1 000 h での検

査 :

外観

抵抗値

20 0

外観の損傷がない。

Δ

R

≦±(...  %R+...  Ω)

群 3.5

4.8

  温度による抵抗値変化

ND

カテゴリ下限温度/20  ℃

20

℃/カテゴリ上限温度

20 0

Δ

R/R

≦...  %又は

α : ...10

-6

/K

Δ

R/R

≦...  %又は

α : ...10

-6

/K

備考1.

試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1 による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,この規格の

2

及び

表 から適切に選択する。

    2.

この表で,

  n =

試料数

  c =

合格判定個数(群又は副群当たりの許容不適合数)

 D =

破壊試験

ND =

非破壊試験


10 
C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

3.3 

品質確認検査

3.3.1 

検査ロットの構成  検査ロットは,同一形状で構造的に類似な抵抗器(3.1 参照)で構成する。こ

れは,検査の期間中に製造された抵抗値範囲を代表するものとする。期間中に製造される各形式は同一公

称寸法であれば,異なった抵抗温度特性のものを一括してもよい。ただし,抵抗温度特性の試験を含む副

群用の試料は除く。IECQ の場合は,認証された抵抗値範囲の下限,上限及び/又は臨界抵抗値並びに認

証された抵抗温度特性のものは,国内監督検査機関(NSI)によって承認された期間の間に検査する(

考参照)。

群 及び群 の試料は,検査対象期間の最後の 13 週にわたって集める。

備考  “下限”抵抗値は,製造中の最低の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最低抵抗値)

の 0  %∼50  %の間とする。“上限”抵抗値は,製造中の最高の認証抵抗値(又は認証範囲内で

製造された最高抵抗値)の−30  %∼0  %の間とする。“臨界”抵抗値は,計算値の−20  %∼0  %

の間とする。

3.3.2 

試験計画  品質確認検査のためのロットごと及び定期的な試験計画は,JIS C 5201-9-1 の 2.(検査

の要求事項)の

表 及び表 に示す。

3.3.3 

評価水準  JIS C 5201-9-1 に規定する評価水準は,次の表 及び表 に従う。

  5  ロットごとの品質確認検査

評価水準

EZ

検査副群  (

4

)

IL (

1

) n

(

1

) c

(

1

)

A0 100

%  (

2

)

A1

B1

B2

B3

S-4

S-3

S-3

S-3

(

3

)

(

3

)

(

3

)

(

3

)

0

0

0

0

(

1

) IL

=検査水準,  n=試料数,  c=合格判定個数

(

2

) 100

%検査とは,工程で不適合品を取り除いた後に,ppm で示す出荷品質水準を

監視するために,抜取りによる

副群 A0 の検査をすべて行うことをいう。100  %

検査での抜取水準は,部品製造業者が設定する。どのような特性不適合も,不適
合として扱い,不適合品のすべてを数える。ppm 値は,これらの不適合品の累計

を用いて算出する。また,抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,
このロットは不合格とする。

(

3

)

試料数(n)は,JIS Z 9015-1 に規定の

付表 の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当

てるサンプル文字に従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

(

4

)

検査副群の内容は,JIS C 5201-9-1 の 2.に規定する。 


11

C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

  6  定期的な品質確認検査

評価水準

検査副群  (

2

)

EZ

(

1

)

(

1

)

(

1

)

(

3

)

C1

C2

C3

C4

C5

D1

D2

3

3

3

3

3

12

36

20

20

20

20

20

20

20

0

0

0

0

0

0

0

(

1

)  p

=周期(月),  n=試料数,  c=合格判定個数

(

2

)

検査副群の内容は,JIS C 5201-9-1 の 2.に規定する。

(

3

)

不適合品が 1 個発見された場合,新しい試料で副群すべての試験を再度行い,新
たな不適合品が発生しないときは合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続し

てもよい。 


12 
C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

附属書 A(規定)  抵抗器の標準回路及び端子の配置

回路形式 : A

回路形式 : B                                      回路形式 : C                                                回路形式 : D

附属書   1  標準回路及び端子の配置

2

1

2

N

2

N

+1

N

N

−1

10

9

2

3

1

4

8 7 6

5

10

9

2

3

1

4

8

7

6

5

10

9

3

4

2

5

8 7

6

1


13

C 5201-9:2006 (IEC 60115-9:2003)

附属書 B(規定)  端子形状

凸電極タイプ

凹電極タイプ

備考1.  ここに示す図は,端子形状を表すものであり,抵抗器の詳細な形状を表すものではない。

2. 

A

及び の寸法は,個別規格に参考値として規定する。

附属書   1  端子形状

関連規格  QPL  品質認証電子部品一覧表

T

 

W

A

B

P

L

 

B

A

B

B

T

W

P

L