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C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1  一般事項

1

1.1  適用範囲

1

1.2  目的

1

1.3  引用規格

2

1.4  個別規格に規定する事項

2

1.5  用語及び定義

3

1.6  表示

4

2  推奨特性及び定格

4

2.1  推奨特性

4

2.2  推奨定格値

4

3  品質評価手順

5

3.1  製造の初期工程

5

3.2  構造的に類似なコンデンサ

5

3.3  出荷対象ロットの成績証明書

5

3.4  品質認証

5

3.5  品質確認検査

13

4  試験及び測定方法

14

4.1  外観及び寸法

14

4.2  電気的試験

14

4.3  端子強度

16

4.4  はんだ耐熱性

16

4.5  はんだ付け性

17

4.6  温度急変

17

4.7  振動

17

4.8  バンプ

17

4.9  衝撃

18

4.10  一連耐候性

18

4.11  高温高湿(定常)

19

4.12  耐久性

19

4.13  充放電

20

4.14  部品の耐溶剤性

21

4.15  表示の耐溶剤性

21


C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業

標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 5101-2 : 1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS C 5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ

ンデンサ

JIS C 5101-2-1  第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS C 5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS C 5101-3-1  第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS C 5101-4-1  第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-4-2  第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS C 5101-8-1  第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS C 5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS C 5101-9-1  第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS C 5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS C 5101-11-1  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C 5101-13-1  第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS C 5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS C 5101-14-1  第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2  第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3  第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ


C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

(3)

JIS C 5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS C 5101-15-1  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS C 5101-15-2  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS C 5101-15-3  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS C 5101-16-1  第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS C 5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS C 5101-17-1  第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS C 5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解チップコンデ

ンサ

JIS C 5101-18-1  第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解チップコンデンサ

評価水準 E

JIS C 5101-18-2  第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS C 5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS C 5101-20-1  第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS C 5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS C 5101-21-1  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS C 5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS C 5101-22-1  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS C 5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS C 5101-23-1  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデン

サ(予定)

JIS

C

5101-24-1  第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ  評価水準 EZ(予定)

JIS C 5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ(予定)


C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

(4)

JIS C 5101-25-1  第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ  評価水準 EZ(予定)


日本工業規格

JIS

 C

5101-2

:2009

(IEC 60384-2

:2005

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 2 部:品種別通則:

固定メタライズドポリエチレンテレフタレート

フィルム直流コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 2 : Sectional specification :

Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric

d.c. capacitors

序文

この規格は,2005 年に第 3 版として発行された IEC 60384-2 を基に,技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,電子機器用固定メタライズドポリエチレ

ンテレフタレートフィルム直流コンデンサ(以下,コンデンサという。

)に適用する。この規格の対象は,

誘電体がポリエチレンテレフタレートで,その上にメタライズド電極をもつ固定コンデンサである。

このコンデンサは,使用条件によって“自己回復作用”を生じる場合がある。

このコンデンサは,定格電圧に対し,交流電圧が小さい場合に使用することを条件としている。

コンデンサには二つの性能等級があり,等級 1 は長寿命用であり,等級 2 は一般用である。

電磁障害防止用コンデンサ及び表面実装メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデ

ンサは,この規格を適用しないで,それぞれ,JIS C 5101-14 及び IEC 60384-19 を適用する。

注記

この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-2 : 2005, Fixed capacitors for use in electronic equipment− Part 2 : Sectional

specification : Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide21 に基づき,一致していることを

示す。

1.2

目的

この規格の目的は,推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1 から適切な品質評価手順

と試験方法及び測定方法とを選定し,一般的要求性能を規定することである。


2

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等又は高い

水準とする。

1.3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。

これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追

補を含む。

)は適用しない。西暦年の記載がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5063 : 1997  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063 : 1963,Preferred number series for resistors and capacitors 並びに

Amendment 1 : 1967 及び Amendment 2 : 1977 (IDT)

JIS C 5101-1 : 1998  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 :

Generic specification  並びに Amendment 2 : 1987,Amendment 3 : 1989 及び Amendment 4 : 1992

(MOD)

なお,JIS C 5101-1 : 1998 は,対応国際規格:IEC 60384-1 : 1999,Fixed capacitors for use in

electronic equipment−Part 1 : Generic specification の最新版として制定されておらず,該当する

事項の項番は,JIS C 5101-1 の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する項

番に相違がある場合は,IEC 60384-1 : 1999 の項番を注記に示す。

JIS C 5101-2-1 : 2009  電子機器用固定コンデンサ−第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズド

ポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

注記  対応国際規格:IEC 60384-2-1 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 2-1 :

Blank detail specification: Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors

−Assessment levels E and EZ (IDT)

JIS C 60068-1 : 1993  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1 : 1988,Environmental testing−Part 1 : General and guidance 及び

Amendment 1 : 1992 (IDT)

JIS Z 8601 : 1954  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3 : 1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410 : 1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes

(MOD)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格には,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能を

規定してはならない。より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9 の中に記載し,

更に,試験計画の中に,例えば,アステリスク  (*)  を付けて明示する。

注記  1.4.1 の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。

各個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ


3

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値は,

通常ミリメートルで規定する。

寸法は,本体の長さ,幅,高さ及び端子間隔とする。円筒形の場合は,本体の直径及び長さ,並びに端

子の長さ及び直径を規定する。

“寸法及び定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲”

のように幾つかの組合

せを個別規格に規定する場合は,必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。

形状が上記の場合と異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に表す寸法を規定する。

コンデンサがプリント配線板用でない場合には,個別規格の中にそのことを明記する。

1.4.2

取付け

個別規格に通常使用の場合の取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法(要求がある場合)

は,4.1  による。

1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。

1.4.3.1

定格静電容量範囲

定格静電容量の範囲は,2.2.1 による。

注記  電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合で,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範囲と

が異なる場合は,次の文章を追加する。

“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証電

子部品一覧表  (QPL)  による。

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加の規定をしてもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定による。

1.4.4

表示

コンデンサ及びその包装に対する表示項目は,個別規格に規定する。この規格の 1.6 と異なる場合は,

その事項を個別規格に明記する。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1 によるほか,次による。

1.5.1

性能等級 のコンデンサ(長寿命用)[performance grade 1 capacitors (long life)]

高い性能水準を長期間にわたって必要とするコンデンサ。

1.5.2

性能等級 のコンデンサ(一般用)[performance grade 2 capacitors (general purpose)]

性能等級 1 のコンデンサのような高い性能水準を必要としない一般用のコンデンサ。

1.5.3

定格電圧  (U

R

)

カテゴリ下限温度と定格温度との間のどの温度でも,コンデンサに連続して印加できる直流電圧の最高

電圧。

注記  コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は,定格電圧以下である。交流電

圧の最大値は,次に示すそれぞれの周波数での定格電圧に対する割合以下又は 280 V 以下とす

る。

50 Hz: 20 %


4

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

100 Hz: 15 %

1 kHz: 3 %

10 kHz: 1 %

1.6

表示

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4 によるほか,次による。

1.6.1

コンデンサ及び包装の表示

表示内容は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。

a)  定格静電容量

b)  定格電圧(直流電圧を表す記号 d.c.は,記号    _ _ _    又は            で表してもよい。)

c)  定格静電容量許容差

d)  カテゴリ電圧

e)  製造年月(又は年週)

f)  製造業者名又はその商標

g)  耐候性カテゴリ

h)  製造業者の形名

i)

引用個別規格

1.6.2

コンデンサ本体への表示

コンデンサには,1.6.1 の a),b),c)及び必要な項目をできるだけ多く,明りょうに表示する。コンデン

サの表示の重複は避けることが望ましい。

1.6.3

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装には,1.6.1 のすべての事項を明りょうに表示する。

1.6.4

表示の追加

1.6.1 に規定するもの以外に,表示を追加する場合は,混乱しないように表示する。

2

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性は,次の中から選定するのが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1 の 8.によって分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

カテゴリ下限温度:−55  ℃,−40  ℃及び−25  ℃

カテゴリ上限温度:+85  ℃,+100  ℃,+105  ℃及び+125  ℃

高温高湿(定常)の試験期間:4 日,10 日,21 日及び 56  日

125  ℃での耐久性試験期間を超える連続使用については,加速性について配慮する(個別規格による)。

注記  カテゴリ上限温度の+105  ℃は,我が国で広く使用しているため追加した。

低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

定格静電容量  (C

R

)

定格静電容量の推奨値は,1,1.5,2.2,3.3,4.7 及び 6.8 並びにそれらの 10

n

倍(は整数とする。

)とす

る。これらの値は,JIS C 5063 に規定する E6 標準数列から選定する。


5

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

その他の値が必要な場合は,E12 標準数列から選定する。

2.2.2

定格静電容量許容差

定格静電容量に対する推奨許容差は,±5 %,±10 %及び±20 %とする。

2.2.3

定格電圧  (U

R

)

定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601 に規定する R5  標準数列を使用することとし,次による。ただし,そ

の他の値が必要な場合は,R10 標準数列の定格電圧を使用してもよい。

R5 標準数列のもの:40 V,63 V,100 V,160 V,250 V,400 V,630 V,1 000 V,1 600 V

R10 標準数列のもの:50 V,200 V

2.2.4

カテゴリ電圧  (U

C

)

カテゴリ電圧は,次による。

カテゴリ上限温度 85  ℃の場合は 1.0 U

R

カテゴリ上限温度 100  ℃の場合は 0.8 U

R

カテゴリ上限温度 105  ℃の場合は 0.75 U

R

カテゴリ上限温度 125  ℃の場合は 0.5 U

R

2.2.5

定格温度

定格温度は,85  ℃とする。

3

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は,コンデンサ素子の巻取り又はそれと同等な工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,類似の工程及び類似の材料で

製造したコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書

個別規格に規定がある場合で購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1  の 3.5.1 によって,出荷対象ロ

ットの成績証明書を提出する。耐久性試験後に要求される特性値は,静電容量の変化,誘電正接 (tan

δ )  及

び絶縁抵抗とする。

注記  JIS C 5101-1 の 3.5.1 は,対応国際規格 IEC 60384-1 : 1999 の 3.9 と同等である。

3.4

品質認証

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の 3.4 による。

ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証の試験計画は,3.5 による。定数抜取手順は 3.4.1 

び 3.4.2 による。

注記  JIS C 5101-1 の 3.4 は,対応国際規格 IEC 60384-1 : 1999 の 3.5 と同等である。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

定数抜取手順は,JIS C 5101-1  の 3.4.2 b)  の規定による。試料は,認証を得ようとするコンデンサのす

べての範囲を代表し,個別規格に規定する範囲,又はその一部でもよい。

注記 1  JIS C 5101-1 の 3.4.2 b)  は,対応国際規格 IEC 60384-1 : 1999 の 3.5.3 b)  と同等である。

抜き取る試料は,最低及び最高の定格電圧のものでそれぞれの電圧に対応する最小及び最大の定格静電

容量のもので構成する。定格電圧が 5  種類以上ある場合は,中間の定格電圧のものも試験する。このよう

に一つの認証範囲の試験には,4 組合せ(定格静電容量と定格電圧との組合せ)又は 6 組合せのものを試


6

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

料とする。認証範囲の試料が 3 組合せ以下の場合の試料数は,  4 組合せの場合と同数とする。

予備の試料は,次による。

予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として 1 組合せごとに 2 個(6 組合

せの場合)又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

a)  群 での許容不適合品置換え用として 1 組合せに 1 個 
b)  製造業者の責任でない事故による不適合品置換え用として 1 組合せに 1 個

群 に規定する試料は,すべての群の試料を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しない

場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の

群 の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

品質認証試験のため,各群及び各副群で試験する試料数及び合格判定数を,

表 及び表 1A に示す。

注記 2  合格判定数の数は,許容不適合数を示している。

3.4.2

試験(評価水準 の場合)

表 及び表 に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,

各群の試験は,記載の順に従って行う。

すべての試料は,

群 の試験を行った後,その他の群に分割する。

群 の試験中に発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。

1  個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても不適合品数は 1  個と数える。

各群又は各副群での不適合品数が合格判定数以下であり,かつ,不適合品数の合計が総合格判定数以下

の場合の品質認証は,合格とする。

注記  表 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表 は,各試験又は試

験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。

表 は,箇条 に規定する試験

の詳細と併せて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試

験方法又は試験条件を規定している。

定数抜取手順に基づく品質認証試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検査

と同じとする。


7

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

表 1−品質認証試験の定数抜取試験計画  評価水準 E

試料数  (n)  及び合格判定数

d)

(c)

4 組合せ

  c) 

以下の場合

6 組合せ

  c)

の場合

群番号

試験項目

こ の 規 格 の
細 分 箇 条 番

1 組合せ

c)

につき

n c 

c

合計

n c 

c

合計

0

外観 
寸法 
静電容量 
誘電正接 (tan

δ )

耐電圧 
絶縁抵抗

予備試料

4.1 
4.1 
4.2.2 
4.2.3 
4.2.1 
4.2.4

 

29

 
 

2

 

116

 
 

8

 

2

 b)

 

174

 
 

12

 

3

 b)

 

 

1A  端子強度

はんだ耐熱性 
部品の耐溶剤性

  a)

4.3 
4.4 
4.14

3

12

1

18 1

1

1B  はんだ付け性

表示の耐溶剤性

a)

温度急変 
振動 
バンプ又は衝撃

  a)

4.5 
4.15 
4.6 
4.7 
4.8 又は 4.9

6

24

1

36

2

 b)

一連耐候性

4.10

9 36 2

54 3

高温高湿(定常)

4.11

5 20 1

30 2

 b)

耐久性

4.12

10 40 2

 b)

 60

3

 b)

充放電

4.13

5 20 1

 
 
 
 

4

30 2

 
 
 
 

6

a)

  個別規格の規定による。

b)

  1 組合せの中から 2 個以上の不適合があってはならない。

c)

  定格静電容量と定格電圧との組合せで

3.4.1

による。

d)

  合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。


8

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

3.4.2A  試験(評価水準 EZ の場合)

表 1A 及び表 に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であ

り,各群の試験は,記載の順に従って行う。

すべての試料は,

群 の試験を行った後,その他の群に分割する。

群 の試験中に発生した不適合は,その他の群に用いてはならない。

1  個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても,不適合品数は 1 個と数える。

各群又は各副群での不適合品数が合格判定数以下であり,かつ,不適合品数の合計が総合格判定数以下

の場合の品質認証は,合格とする。

注記  表 1A 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表 1A は,各試験又は

試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。

表 は,箇条 に規定する試

験の詳細と併せて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する

試験方法又は試験条件を規定している。

定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検

査と同じとする。

表 1A−品質認証試験の定数抜取試験計画及び合格判定個数  評価水準 EZ

試験項目

この規格の細分箇条番

試料数

n

 b)

合格判定数

c)

0

外観 
寸法 
静電容量

誘電正接 (tan

δ )

耐電圧 
絶縁抵抗

予備試料

4.1 
4.1

4.2.2 
4.2.3 
4.2.1 
4.2.4

 
 

132

12

 
 

0

 

1  1A

端子強度 
はんだ耐熱性 
部品の耐溶剤性

  a)

4.3 
4.4

4.14

12 0

1B

はんだ付け性 
表示の耐溶剤性

  a)

温度急変   
振動 
バンプ又は衝撃

a)

4.5

4.15

4.6 
4.7

4.8 又は 4.9

24 0

一連耐候性

4.10 36

0

2

高温高湿(定常)

4.11 24

0

耐久性

4.12 36

0

充放電

4.13 24

0

a)

  個別規格の規定による。

b)

  定格電圧と定格静電容量との組合せで 3.4.1 による。

c)

  合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。

表 2−品質認証の試験計画


9

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試験数 (n)

及び合格判定

c)

(c)

要求性能

a)

 

群 0 
4.1  外観 
 

 
4.1  寸法(詳細) 
4.2.2  静電容量 
4.2.3 誘電正接 (tan

δ )

4.2.1  耐電圧 

4.2.4  絶縁抵抗

ND

 
 

 
 
 
周波数:1 kHz 
方法は,個別規格の規定による。 
 
 

方法は,個別規格の規定による。

表 又は 
表 1A による。

 
4.1 による。 
表示は明りょうとし,

その他は個別規格の規
定による。

個別規格の規定による。 
規定の許容差による。 
4.2.3.2 による。 
絶縁破壊又はフラッシオ

ーバがない。ただし,
一時的瞬時破壊があっ
てもよい。

4.2.4.2 による。

群 1A 
4.3.1  初期測定 
 

 
 
4.3  端子強度 
4.4  はんだ耐熱性 
 
 
4.14  部品の耐溶剤性 
 

 
4.4.2  最終測定

D

静電容量 
誘電正接 (tan

δ )

測定周波数

C

R

>1

μF: 1 kHz

C

R

≦1 µF:10 kHz

外観

強制乾燥なし。 
方法は,個別規格の規定による。(1A
又は 1B

溶剤:... 
溶剤の温度:... 
方法 2

後処理時間:... 
外観 

静電容量 
 
誘電正接 (tan

δ )

 
 
 

表 又は 
表 1A による。 

 
 

 
 
損傷がない。

 
 

個別規格の規定による。 
 

 
損傷がなく,表示は明り

ょうとする。

4.3.1 の測定値に対してΔ

C/C

≦2 %

tan

δ の 4.3.1の値からの増

加量

等級 1 (C

R

≦1 µF) : ≦0.003

等級 1 (C

R

>1 µF) : ≦0.002

等級 2 (C

R

≦1 µF) : ≦0.005

等級 2 (C

R

>1 µF) : ≦0.003

群 1B 
4.5  はんだ付け性 
 
 
 
 
4.15   表 示 の 耐 溶 剤 性
(適用する場合)

D

 
加速蒸気エージングは行わない。 
方法は,個別規格の規定による。 
 
 

溶剤:... 
溶剤の温度:... 
方法 2 
後処理時間:...

表 又は 
表 1A による。

端子に,はんだが良好に付

着しているか又ははん
だ小球法の場合は,…s
以 内 に は ん だ が 流 れ
る。

個別規格の規定による。 
表示は明りょうとする。

表 2−品質認証の試験計画(続き)


10

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試験数  (n)

及び合格判定

c)

(c)

要求性能

a)

 

4.6.1  初期測定 
 
 
 
 
4.6  温度急変 
 
 
 
 
4.7  振動 
 
 
 
 

4.7.2  最終測定 
4.8  バンプ 
(又は 4.9 衝撃) 
 

4.9  衝撃 
(又は 4.8 バンプ) 
 

4.8.3 又は 4.9.3 最終測定

静電容量

誘電正接 (tan

δ )

測定周波数

C

R

>1 µF: 1 kHz

C

R

≦1 µF:10 kHz

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

5 サイクル 
試験時間

1

=30 min

外観

取付方法は,個別規格の規定による。
手順:B4 
周波数範囲:...Hz から...Hz 
振幅:0.75 mm 又は加速度:100 m/s

2

どちらか緩い方 
合計時間:6 h   

外観 
取付方法は,個別規格の規定による。
バンプ回数:... 
ピーク加速度:... m/s

2

作用時間:... ms 
 
取付方法は,個別規格の規定による。
ピーク加速度:... m/s

2

作用時間:... ms 
 
 
外観 
静電容量 
 
誘電正接 (tan

δ )

 
 
 
 
 
絶縁抵抗

 
 
 
 
 
 
 
 

損傷がない。

 
 
 
 
 
 

損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
損傷がない。 
4.6.1 の測定値に対して

ΔC/C≦5 %

tan

δ の 4.6.1 の値からの

増加量

等級 1 (C

R

≦1µF) : ≦0.003

等級 1 (C

R

>1µF) : ≦0.002

等級 2 (C

R

≦1µF) : ≦0.005

等級 2 (C

R

>1µF) : ≦0.003

4.2.4.2 の規定値の 50 %以

表 2−品質認証の試験計画(続き)


11

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は
ND

b) 

試験条件

a)

試験数 (n)

及び合格判定

c)

(c)

要求性能

a)

群 1 
4.10  一連耐候性 
4.10.2  高温 
 
4.10.3  温湿度サイクル

( 12+12 時 間 サ イ ク
ル)最初のサイクル

4.10.4  低温 
 
4.10.5  減圧(個別規格

に規定がある場合)

4.10.5.3  中間検査 
 
 
4.10.6  温湿度サイクル

(12+12 時間サイクル)
残りのサイクル

4.10.6.2  最終測定 
 
 

 
 
 

D

 
温度:カテゴリ上限温度 
時間:16 h 
 
 

温度:カテゴリ下限温度 
時間:2 h  
気圧:8 kPa 

外観 
 
 
 
 

外観 
 
静電容量 
 

誘電正接 (tan

δ

)

 
 
 
 

絶縁抵抗

 
表 又は 
表 1A による。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
永久破壊,フラッシオーバ

又はケースに異常な変
形がない。

 
 
 
損傷がなく,表示は明りょ

うとする。

4.4.24.8.3 又は 4.9.3 の測

定 値 に 対 し て Δ C/C 
5 %

tan

δ の 4.3.1又は 4.6.1の値

からの増加量

等級 1 (C

R

≦1µF) : ≦0.005

等級 1 (C

R

>1µF) : ≦0.003

等級 2 (C

R

≦1µF) : ≦0.008

等級 2 (C

R

>1µF) : ≦0.005

4.2.4.2 の規定値の 50 %以

群 2 
4.11  高温高湿(定常) 
4.11.1  初期測定 

4.11.3  最終測定 

D

静電容量 
誘電正接 (tan

δ )

測定周波数:1 kHz 
外観 

静電容量 

誘電正接 (tan

δ )

 
絶縁抵抗

 
表 又は 
表 1A による。

 
 
 

損傷がなく,表示は明りょ

うとする。

4.11.1 の測定値に対して

ΔC/C≦5 %

tan

δ の 4.11.1 の値からの

増加量≦0.005

4.2.4.2 の規定値の 50 %以

表 2−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号及び D

試験条件

a)

試験数 (n)

要求性能

a)


12

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

試験項目

a) 

又は
ND

b) 

及び合格判定

c)

(c)

群 3 
4.12  耐久性 

4.12.1  初期測定 
 

4.12.5  最終測定 
 


 
試験時間

等級 1:2 000 h 
等級 2:1 000 h

静電容量 
誘電正接 (tan

δ

)

C

R

>1µF: 1 kHz

C

R

≦1µF:10 kHz

外観 
 
静電容量 
 
 
 

誘電正接 (tan

δ

)

 
 
 
 

絶縁抵抗

 
表 又は 
表 1A による。

 

 
 

 

損傷がなく,表示は明りょ

うとする。

4.12.1 の測定値に対して

性能等級 1 の場合

ΔC/C≦5 %,

性能等級 2  の場合

ΔC/C≦8 %

tan

δ の 4.12.1 の値からの

増加量

等級 1 (C

R

≦1µF) : ≦0.003

等級 1 (C

R

>1µF) : ≦0.002

等級 2 (C

R

≦1µF) : ≦0.005

等級 2 (C

R

>1µF) : ≦0.003

4.2.4.2 の規定値の 50 %以

群 4 
4.13  充放電 
4.13.1  初期測定 
 
 
 

4.13.3  最終測定 

D

静電容量 
誘電正接 (tan

δ

)

C

R

>1 µF: 1 kHz

C

R

≦1 µF:10 kHz

充電時間:...s 
放電時間:...s 
静電容量

 
 
 

誘電正接 (tan

δ )

 
 
 
 

絶縁抵抗

 
表 又は 
表 1A による。

 
 
 
 
 
 

4.13.1 の測定値に対して

性能等級 1 の場合

ΔC/C≦3 %,

性能等級 2  の場合

ΔC/C≦5 %

tan

δ の 4.13.1 の値からの

増加量

等級 1 (C

R

≦1 µF) : ≦0.003

等級 1 (C

R

>1 µF) : ≦0.002

等級 2 (C

R

≦1 µF) : ≦0.005

等級 2 (C

R

>1 µF) : ≦0.003

4.2.4.2 の規定値の 50 %以

 

a)

  試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条

4

(試験及び測定方法)による。

b)

  この表で D は破壊試験,ND は非破壊試験を示す。

c)

  合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成


13

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

a)  群 及び群 検査  この検査は,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件でコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)  検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)。

2a)  試料は,検査ロットに含まれる定格電圧と定格静電容量との組合せ及び外形寸法の代表とする。

−  試料数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2b)  IEC  電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,1 組合せ当たりの抜取数が 4 個以下のとき,製造業

者は,国内監督検査機関の承認を必要とする。

b)  群 検査  この検査は,定期的に行う。

試料は,定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので,かつ,定格電圧の高電圧群,中

電圧群及び低電圧群に分類する。その期間に認証範囲の定格電圧の高電圧群,中電圧群及び低電圧群

ごとに一つの外形寸法のものを試験した場合,その後の期間では,認証のすべての範囲を包含するた

めに,製造中のその他の定格電圧及び/又は外形寸法のものを試験する。

3.5.2

試験計画

ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格 JIS C 5101-2-1 

箇条 

表 による。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1 の 3.5.2 の規定に従い,はんだ付け性及び静電容量について,群 及び群 の再検査を行

う。

注記  JIS C 5101-1 の 3.5.2 は,対応国際規格 IEC 60384-1 : 1999 の 3.10 と同等である。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は,

表 及び表 から選定することが望ましい。

表 3−ロットごとの品質確認検査

D

    c)

 E  F

    c)

G

    c)

 EZ

検査副群

    b)

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

IL

n c 

100 %

    a)

A 0 
A 1 
A 2 
B 1

S-3 
S-3 
S-3

2.5 
1.0 
2.5

S-3 
S-3 
S-3

b)

b)

b)



0

注記  IL=検査水準,AQL=合格品質限界,n=試料数,c=合格判定数 

a)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。

  抜取水準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視
するために,抜取試料をすべて検査する。

  抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品
質水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出す
る。

b)

  試料数  (n)  は,JIS Z 9015-1 に規定する

付表 の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に

従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

c)

  評価水準 D,F 及び G は,検討中。

表 4−定期的品質確認検査

検査副群

  b)

D

a)

E   

F

    a)

G

    a)

EZ 


14

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

p n c p  n  c  p n c  p  n  c  p n c 

C 1A 
C 1B

C 1 
C 2 
C 3 
C 4 






3

9

18 
27 
15 
21

9






1






6


5

10
10
10
10






0

注記

p

=検査周期(月)

n=試料数,c=合格判定数

a)

  評価水準 D,F 及び G は,検討中。

b)

  検査副群の内容は,ブランク個別規格 JIS C 5101-2-1 の箇条 による。 

4

試験及び測定方法

この箇条は,JIS C 5101-1 の 4.に規定する事項を補足する。

4.1

外観及び寸法

外観及び寸法は,JIS C 5101-1 の 4.4 による。

4.2

電気的試験

4.2.1

耐電圧

耐電圧は,JIS C 5101-1 の 4.6 によるほか,次による。

4.2.1.1

試験回路

コンデンサ C

1

を削除する。

R

1

と試料  (C

X

)  の定格静電容量との積は,0.01 秒を超え 1 秒以下とする。

R

1

は,電源の内部抵抗を含む。

R

2

は,放電電流を 1 A 以下に制限する値とする。

4.2.1.2

試験条件

JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表 に規定する測定箇所に,品質認証試験の場合は 1 分間,ロットごとの品質確

認検査の場合は 1 秒間,

表 に規定する試験電圧を印加する。

表 5−試験電圧

測定箇所

試験電圧

1 a) 

性能等級 1 : 1.6 U

R

性能等級 2 : 1.4 U

R

1 b)  及び 1 c)

U

R

又は 200 V のどちらか高い値

注記  試験電圧の印加中に自己回復作用があってもよい。

注記  JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表 は,対応国際規格 IEC 60384-1 : 1999 の 4.5.6 の表 と同等である。

4.2.2

静電容量

静電容量は,JIS C 5101-1 の 4.7 によるほか,次による。

4.2.2.1

測定条件

静電容量は,1 kHz で測定又は測定値を 1 kHz の値に補正する。ただし,10 µF を超える定格静電容量の

ものは,50 Hz∼120 Hz で測定してもよい。

1 kHz での測定電圧のピーク値は定格電圧の 3 %以下とし,50 Hz∼120 Hz でのピーク値は,定格電圧の

20 %又は 100 V (70 V r.m.s.)  のどちらか小さい値以下とする。

4.2.2.2

要求性能

静電容量は,規定の許容差による。


15

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

4.2.3

誘電正接  (tan 

δ )

誘電正接 (tan

δ )  は,JIS C 5101-1 の 4.8 によるほか,次による。

4.2.3.1

1 kHz での測定条件

誘電正接 (tan

δ )  の測定は,次による。

−  周波数    :1 kHz

−  ピーク電圧:≦定格電圧の 3 %

−  確度      :≦10×10

4

(絶対値)

4.2.3.2

1 kHz  での要求事項  

誘電正接 (tan

δ )  は,次の表 に示す要求性能を満足する。

表 6−誘電正接  (tan 

δ)  規定値

tan

δ(絶対値)

定格静電容量

µF

性能等級 1

性能等級 2

≦1 0.008 0.01

>1 0.01  0.01

4.2.3.3

10 kHz  での測定条件

誘電正接 (tan

δ)  の測定は,次による。

表 で,C

R

≦1 µF のコンデンサに対して要求がある場合:

−  周波数    :10 kHz

−  ピーク電圧:1 V r.m.s.以下

−  確度      :≦10×10

4

(絶対値)

4.2.4

絶縁抵抗

絶縁抵抗は,JIS C 5101-1 の 4.5 によるほか,次による。

4.2.4.1

測定条件

測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗と試料の定格静電容量との積は,0.01 未満又

は個別規格の規定による。

4.2.4.2

要求性能  測定電圧は,JIS C 5101-1 の 4.5.2 による。絶縁抵抗値とコンデンサの定格静電容量と

の積は,1 秒未満又は個別規格の規定値とする。

絶縁抵抗は,

表 の要求性能を満足する。

表 7−絶縁抵抗の要求性能


16

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

RC

積の最小値

R:端子間絶縁抵抗]

C

:定格静電容量  (C

R

)

s 

端子間絶縁抵抗の最小値

 

M

Ω 

端子とケース間の絶縁抵
抗の最小値

M

Ω 

測定箇所は,JIS C 5101-1 の 4.5.3 

表 の規定による。

1 a)

1 a) 

1 b)  及び 1 c)

定格静電容量

定格静電容量

C

R

>0.33 µF 

C

R

≦0.33 µF 

定格電圧

U

R

>100 V 

定格電圧

U

R

≦100 V 

定格電圧

U

R

>100 V 

定格電圧

U

R

≦100 V 

等級

等級

等級

等級

等級

等級

等級

等級

1 2  1  2  1  2  1  2

10 000

2 500

5 000

1 250

30 000

7 500

15 000

3 750

 
 
 
 
 

30 000

4.2.4.3

温度補正係数

20  ℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて 20  ℃の値に補正す

る。疑わしい場合は,20  ℃で測定する。

表 に示す補正係数は,メタライズドポリエチレンテレフタレー

トフィルムコンデンサの平均値である。

表 8−試験温度に対応する補正係数

温度

補正係数

温度

補正係数

15 
16 
17

18 
19 
20

21 
22 
23

24 
25 
26

0.79 
0.83 
0.87

0.91 
0.95 
1.00

1.05 
1.10 
1.15

1.20 
1.26 
1.32

27 
28 
29

30 
31 
32

33 
34 
35

1.38 
1.45 
1.52

1.59 
1.66 
1.74

1.82 
1.91 
2.00

4.3

端子強度

端子強度は,JIS C 5101-1 の 4.13 によるほか,次による。

4.3.1

初期測定

静電容量は,4.2.2 によって測定する。

誘電正接 (tan

δ)は,4.2.3.1 又は 4.2.3.3 によって測定する。

4.4

はんだ耐熱性

はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1 の 4.14 によるほか,次による。

4.4.1

試験条件

強制乾燥は,適用しない。

4.4.2

最終性能及び要求性能


17

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.5

はんだ付け性

  はんだ付け性は,JIS C 5101-1 の 4.15 によるほか,次による。

4.5.1

試験条件

加速蒸気エージングなどの前処理は,適用しない。

はんだ小球法を適用する場合は,個別規格の規定による。はんだ槽法又ははんだ小球法のどちらも適用

しない場合は,はんだこてサイズ A によるはんだ試験を行う。

4.5.2

要求性能

表 に規定する要求性能を満足する。

4.6

温度急変

温度急変は,JIS C 5101-1 の 4.16 によるほか,次による。

4.6.1

初期測定

初期測定は,4.3.1 による。

4.6.2

試験条件

サイクル数は,5 回とする。

カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度における放置時間は,30 分間とする。

4.7

振動

振動は,JIS C 5101-1 の 4.17 によるほか,次による。

4.7.1

試験条件

試験 Fc の厳しさを適用する。

次のうちの一つの周波数範囲,10 Hz∼55 Hz,10 Hz∼500 Hz 又は 10 Hz∼2 000 Hz で,振幅 0.75 mm 又

は加速度 100  m/s

2

のどちらか緩い方の振幅とする。全試験持続時間は 6 時間とする。

個別規格に周波数範囲及び使用する取付方法を規定する。リード線によって取り付けるリード線端子反

対方向形(アキシャルリード線端子)コンデンサは,本体と取付部との距離を 6 mm±1 mm とする。

4.7.2

最終測定及び要求性能

表 に規定する要求性能を満足する。

4.8

バンプ

バンプは,JIS C 5101-1 の 4.18 によるほか,次による。

個別規格には,バンプ又は衝撃のどちらで試験するか規定する。

4.8.1

初期測定

初期測定は,適用しない。

4.8.2    試験条件

個別規格に,次に推奨する厳しさのどれを適用するか規定する。

バンプの回数:1 000 回又は 4 000 回

ピーク加速度:400 ms

2

          100 ms

2

作用時間    :6 ms                 16 ms

個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)コンデンサ

をリード線だけで固定する場合は,本体と取付部との距離を 6 mm±1 mm とする。

4.8.3

最終測定及び要求性能

又は


18

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.9

衝撃

衝撃は,JIS C 5101-1 の 4.19 によるほか,次による。

個別規格には,バンプ又は衝撃のどちらを行うか規定する。

4.9.1

初期測定

初期測定は,行わない。

4.9.2

試験条件

個別規格に,

表 に示す条件のうちどれを適用するか規定する。

パルス波形は,正弦半波とする。

表 9−ピーク加速度及び作用時間

ピーク加速度  m/s

2

作用時間  ms

300 
500

1 000

18 
11 
 6

個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)コンデンサ

をリード線だけで固定する場合は,本体と取付部との距離を 6 mm±1 mm とする。

4.9.3

最終測定及び要求性能

コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.10  一連耐候性

一連耐候性は,JIS C 5101-1 の 4.21 によるほか,次による。

4.10.1  初期測定

初期測定は行わず,4.4.24.8.3 又は 4.9.3 の測定値を適用する。

4.10.2  高温

高温は,JIS C 5101-1  の 4.21.2 による。

4.10.3  温湿度サイクル(1212 時間サイクル)及び試験 Db 最初のサイクル

温湿度サイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.3 による。

4.10.4  低温

低温は,JIS C 5101-1 の 4.21.4 による。

4.10.5  減圧

減圧は,JIS C 5101-1 の 4.21.5 によるほか,次による。

4.10.5.1  試験条件 1

試験は個別規格に規定がある場合に行い,温度範囲 15  ℃∼35  ℃,気圧 8 kPa で試験を行う。試験時間

は 1 時間とする。

4.10.5.2  試験条件 2

規定の気圧を保ち,1 時間の試験時間の最後の 5 分間定格電圧を印加する。この試験を適用するコンデ

ンサの試料は,必要な場合 2 分割又は 3 分割し,それぞれ JIS C 5101-1 の 4.5.6 

表 に規定する測定箇

所に電圧を印加する。

注記  JIS C 5101-1 の最新版の対応国際規格では,表 になっている。

4.10.5.3  中間検査


19

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.10.6  温湿度サイクル(1212 時間サイクル)及び試験 Db 残りのサイクル

温湿度サイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.6 によるほか,次による。

4.10.6.1  試験条件

温湿度試験槽から取り出し 15 分以内に,4.2.1 に規定する試験回路及び条件によって測定箇所 A に定格

電圧を 1 分間印加する。

注記  測定箇所 A:端子間(JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表 による。)

4.10.6.2  最終測定及び要求性能

後処理後にコンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.11  高温高湿(定常)

高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1 の 4.22 によるほか,次による。

4.11.1  初期測定

静電容量を 4.2.2 によって測定し,誘電正接 (tan

δ )  は,4.2.3.1 によって測定する。

4.11.2  試験条件

高温高湿放置後,槽からコンデンサを取り出し,15  分間以内に 4.2.1 によって耐電圧試験を行う。ただ

し,定格電圧を印加する。

4.11.3  最終測定及び要求性能

後処理後にコンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.12  耐久性

耐久性は,JIS C 5101-1 の 4.23 によるほか,次による。

4.12.1  初期測定

初期測定は,4.3.1 によって行う。

4.12.2  試験条件 1

性能等級 1 のコンデンサの試験時間は 2 000 時間,性能等級 2 は 1 000 時間とし,その他の試験条件は,

表 10 による。

表 10−性能等級 及び性能等級 に対する耐久性試験

カテゴリ

−/85/−

−/100/−

−/105/−

−/125/−

温度 85

℃ 85

℃ 100

℃ 85

℃ 105

℃ 85

℃ 125

電圧(d.c.) 1.25

U

R

 1.25 U

R

 1.25

U

C

 

1.25 U

R

1.25 U

C

 

1.25 U

R

1.25 U

C

 

試料の分類

分割しない

2 分割

2 分割

2 分割

注記  カテゴリ−/105/−は,カテゴリ上限温度 105  ℃の追加によって規定した。

4.12.3  試験条件 2

試験電圧は,それぞれコンデンサに直列保護抵抗器を通じて印加する。

その抵抗値は 0.22/C

R

  (

Ω)  で,C

R

は,ファラド (F) を単位とした定格静電容量とする。また,その抵

抗値は,計算値の±30 %以内で最大 2 M

Ωとする。

4.12.4  試験条件 3

規定の時間放置後,4.12.3 と同じ抵抗器 を通じて放電する。

4.12.5  最終測定及び要求性能

コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.13  充放電


20

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

充放電は,JIS C 5101-1  の 4.27 によるほか,次による。

4.13.1  初期測定

C

R

≦1

μF のコンデンサでは,4.2.3 に規定する方法で誘電正接 (tan δ )  を測定する。

4.13.2  試験条件

コンデンサは,

標準状態で 1 秒間に 0.1 サイクル∼60 サイクルの範囲内で 10 000 回の充放電を行う。

1 秒

間のサイクル数は,コンデンサの表面温度上昇が周囲温度よりも 10  ℃を超えないサイクル数とする。各

サイクルは,コンデンサへの充電と放電とからなる。疑義がある場合は,1 秒間に 1 サイクル∼2 サイクル

で試験を行う。各コンデンサは,次の式で算出された抵抗値 R

1

の低インダクタンス抵抗器 R

1

を通じて放

電する。

t

U

C

U

R

d

d

R

R

1

×

=

ここに,

U

R

コンデンサの定格電圧 (V)

C

R

コンデンサの定格静電容量  (

μF)

t

U

d

d

表 11 に示したボルト/マイクロ秒 (V/

μs)  単位の値

R

1

放電回路での抵抗値で,計算値に最も近い E24 標準数
列の抵抗値で 2.2

Ω以上の値とする。

試験での印加電圧は,U

R

±5 %とする。

コンデンサは,次の条件の抵抗値 R

2

を通じて充電する。

R

2

≧22×R

1

充電時間は,10×C

R

×R

2

時間以上とする。

a

)  リード線端子同一方向形(ラジアルリード線端子)のコンデンサの試験用 dU/dt  リード線端子同一

方向形(ラジアルリード線端子)のコンデンサの試験用 dU/dは,

表 11 による。

表 11−リード線端子同一方向形(ラジアルリード線端子)のコンデンサの試験用 dU/dt (V/μs)

リード線間隔“e”(2.5 mm 又は 2.54 mm)の倍数(

注記 参照)

定格電圧

V

2e 3e 4e 6e 9e 11e 15e 17e

40 
63

100 
250 
400 
630

5

10 
20

 



6

15 
30



9

20 
30 
40

1.5


5

11 
20 
25




7

10 
12

0.8




8

10

0.6 
0.8




8

0.4 
0.6 
0.8 
1.2


6

注記 1  リード線間がスプレー表面間の距離に一致していない場合は,その距離は,例えば,素子長さで表すこと

とし,個別規格に素子長さを規定するか又はその長さの決め方を規定する。

リード線間隔が表の値と異なる場合は,最も近いリード線間隔の値に対応した dU/d値とする。

注記 2  この dU/d値は,試験に用いる値で,連続作動時に耐える値ではない。

b

)  リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデンサの試験用 dU/dt  素子長さの明示

がない場合の dU/d値は,本体寸法から 3 mm 差し引いた値に最も近い

表 11 の値とする。

個別規格に素子長さ又は規定方法が明示してある場合は,その値に対応する表の値とする。

4.13.3

  最終測定及び要求性能


21

C 5101-2

:2009 (IEC 60384-2:2005)

後処理後の電気的性能は,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.14

  部品の耐溶剤性

部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.31 による。

4.15

  表示の耐溶剤性

表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.32 による。