C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
（1）
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 1
1.1 適用範囲 ······················································································································ 1
1.2 目的 ···························································································································· 1
1.3 引用規格 ······················································································································ 2
1.4 個別規格に規定する事項 ································································································· 2
1.5 用語及び定義 ················································································································ 3
1.6 表示 ···························································································································· 4
2 推奨特性及び定格 ············································································································· 4
2.1 推奨特性 ······················································································································ 4
2.2 推奨定格値 ··················································································································· 4
3 品質評価手順 ··················································································································· 5
3.1 製造の初期工程 ············································································································· 5
3.2 構造的に類似なコンデンサ······························································································· 5
3.3 出荷対象ロットの成績証明書···························································································· 5
3.4 品質認証 ······················································································································ 5
3.5 品質確認検査 ··············································································································· 13
4 試験及び測定方法 ············································································································ 14
4.1 外観及び寸法 ··············································································································· 14
4.2 電気的試験 ·················································································································· 14
4.3 端子強度 ····················································································································· 16
4.4 はんだ耐熱性 ··············································································································· 16
4.5 はんだ付け性 ··············································································································· 17
4.6 温度急変 ····················································································································· 17
4.7 振動 ··························································································································· 17
4.8 バンプ ························································································································ 17
4.9 衝撃 ··························································································································· 18
4.10 一連耐候性 ················································································································· 18
4.11 高温高湿（定常） ········································································································ 19
4.12 耐久性 ······················································································································· 19
4.13 充放電 ······················································································································· 20
4.14 部品の耐溶剤性 ··········································································································· 21
4.15 表示の耐溶剤性 ··········································································································· 21
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報
技術産業協会 (JEITA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業
標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 5101-2 : 1998は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5101の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5101-1
第1部：品目別通則
JIS C 5101-2
第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ
ンデンサ
JIS C 5101-2-1 第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-3
第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
JIS C 5101-3-1 第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-4
第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-4-2 第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-8
第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類1
JIS C 5101-8-1 第8-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
JIS C 5101-9
第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類2
JIS C 5101-9-1 第9-1部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
JIS C 5101-11
第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS C 5101-11-1 第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-13
第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS C 5101-13-1 第13-1部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-14
第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS C 5101-14-1 第14-1部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D
JIS C 5101-14-2 第14-2部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS C 5101-14-3 第14-3部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準DZ
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
（3）
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JIS C 5101-15
第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
JIS C 5101-15-1 第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-15-2 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS C 5101-15-3 第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
JIS C 5101-16
第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS C 5101-16-1 第16-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-17
第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS C 5101-17-1 第17-1部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
JIS C 5101-18
第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデ
ンサ
JIS C 5101-18-1 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ
評価水準E
JIS C 5101-18-2 第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価
水準E
JIS C 5101-20
第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ
直流コンデンサ
JIS C 5101-20-1 第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-21
第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
JIS C 5101-21-1 第21-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水
準EZ
JIS C 5101-22
第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
JIS C 5101-22-1 第22-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水
準EZ
JIS C 5101-23
第23部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS C 5101-23-1 第23-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
JIS C 5101-24
第24部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ（予定）
JIS C 5101-24-1 第24-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ 評価水準EZ（予定）
JIS C 5101-25
第25部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ（予定）
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
（4）
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JIS C 5101-25-1 第25-1部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ 評価水準EZ（予定）
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日本工業規格 JIS
C 5101-2：2009
(IEC 60384-2：2005)
電子機器用固定コンデンサ−
第2部：品種別通則：
固定メタライズドポリエチレンテレフタレート
フィルム直流コンデンサ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-
Part 2 : Sectional specification :
Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric
d.c. capacitors
序文
この規格は，2005年に第3版として発行されたIEC 60384-2を基に，技術的内容及び対応国際規格の構
成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
一般事項
1.1
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で，電子機器用固定メタライズドポリエチレ
ンテレフタレートフィルム直流コンデンサ（以下，コンデンサという。）に適用する。この規格の対象は，
誘電体がポリエチレンテレフタレートで，その上にメタライズド電極をもつ固定コンデンサである。
このコンデンサは，使用条件によって“自己回復作用”を生じる場合がある。
このコンデンサは，定格電圧に対し，交流電圧が小さい場合に使用することを条件としている。
コンデンサには二つの性能等級があり，等級1は長寿命用であり，等級2は一般用である。
電磁障害防止用コンデンサ及び表面実装メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデ
ンサは，この規格を適用しないで，それぞれ，JIS C 5101-14及びIEC 60384-19を適用する。
注記
この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-2 : 2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 2 : Sectional
specification : Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide21に基づき，一致していることを
示す。
1.2
目的
この規格の目的は，推奨する定格及び特性を規定するとともに，JIS C 5101-1から適切な品質評価手順
と試験方法及び測定方法とを選定し，一般的要求性能を規定することである。
2
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は，この規格と同等又は高い
水準とする。
1.3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。
これらの引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追
補を含む。）は適用しない。西暦年の記載がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5063 : 1997 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格：IEC 60063 : 1963，Preferred number series for resistors and capacitors並びに
Amendment 1 : 1967及びAmendment 2 : 1977 (IDT)
JIS C 5101-1 : 1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 :
Generic specification 並びにAmendment 2 : 1987，Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1992
(MOD)
なお，JIS C 5101-1 : 1998は，対応国際規格：IEC 60384-1 : 1999，Fixed capacitors for use in
electronic equipment−Part 1 : Generic specificationの最新版として制定されておらず，該当する
事項の項番は，JIS C 5101-1の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する項
番に相違がある場合は，IEC 60384-1 : 1999の項番を注記に示す。
JIS C 5101-2-1 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第2-1部：ブランク個別規格：固定メタライズド
ポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
注記 対応国際規格：IEC 60384-2-1 : 2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 2-1 :
Blank detail specification: Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors
−Assessment levels E and EZ (IDT)
JIS C 60068-1 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1 : 1988，Environmental testing−Part 1 : General and guidance及び
Amendment 1 : 1992 (IDT)
JIS Z 8601 : 1954 標準数
注記 対応国際規格：ISO 3 : 1973，Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部：ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格：IEC 60410 : 1973，Sampling plans and procedures for inspection by attributes
(MOD)
1.4
個別規格に規定する事項
個別規格は，関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格には，品目別通則，品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能を
規定してはならない。より厳しい要求性能を規定する場合は，その内容を個別規格の1.9の中に記載し，
更に，試験計画の中に，例えば，アステリスク (＊) を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は，一覧表で示してもよい。
各個別規格に次の事項を規定し，引用する値は，この規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1
外形図及び寸法
外形図及び寸法は，その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
3
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は，個別規格に規定する。また，すべての寸法値は，
通常ミリメートルで規定する。
寸法は，本体の長さ，幅，高さ及び端子間隔とする。円筒形の場合は，本体の直径及び長さ，並びに端
子の長さ及び直径を規定する。“寸法及び定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲”のように幾つかの組合
せを個別規格に規定する場合は，必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。
形状が上記の場合と異なる場合は，個別規格にそのコンデンサを適切に表す寸法を規定する。
コンデンサがプリント配線板用でない場合には，個別規格の中にそのことを明記する。
1.4.2
取付け
個別規格に通常使用の場合の取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法（要求がある場合）
は，4.1 による。
1.4.3
定格及び特性
定格及び特性は，この規格の関連項目によるほか，次による。
1.4.3.1
定格静電容量範囲
定格静電容量の範囲は，2.2.1による。
注記 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合で，個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範囲と
が異なる場合は，次の文章を追加する。“各定格電圧での定格静電容量の範囲は，品質認証電
子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.3.2
特殊な特性
設計及び使用目的によって，特殊な特性が必要な場合は，追加の規定をしてもよい。
1.4.3.3
はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性で適用する試験方法，厳しさ及び要求性能は，個別規格の規定による。
1.4.4
表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は，個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合は，
その事項を個別規格に明記する。
1.5
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 5101-1によるほか，次による。
1.5.1
性能等級1のコンデンサ（長寿命用）[performance grade 1 capacitors (long life)]
高い性能水準を長期間にわたって必要とするコンデンサ。
1.5.2
性能等級2のコンデンサ（一般用）[performance grade 2 capacitors (general purpose)]
性能等級1のコンデンサのような高い性能水準を必要としない一般用のコンデンサ。
1.5.3
定格電圧 (UR)
カテゴリ下限温度と定格温度との間のどの温度でも，コンデンサに連続して印加できる直流電圧の最高
電圧。
注記 コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は，定格電圧以下である。交流電
圧の最大値は，次に示すそれぞれの周波数での定格電圧に対する割合以下又は280 V以下とす
る。
50 Hz： 20 %
4
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
100 Hz： 15 %
1 kHz： 3 %
10 kHz： 1 %
1.6
表示
表示は，JIS C 5101-1の2.4によるほか，次による。
1.6.1
コンデンサ及び包装の表示
表示内容は，次の項目から選定する。表示の優先順位は，記載の順による。
a) 定格静電容量
b) 定格電圧（直流電圧を表す記号d.c.は，記号 ̲ ̲ ̲ 又は で表してもよい。）
c) 定格静電容量許容差
d) カテゴリ電圧
e) 製造年月（又は年週）
f)
製造業者名又はその商標
g) 耐候性カテゴリ
h) 製造業者の形名
i)
引用個別規格
1.6.2
コンデンサ本体への表示
コンデンサには，1.6.1のa)，b)，c)及び必要な項目をできるだけ多く，明りょうに表示する。コンデン
サの表示の重複は避けることが望ましい。
1.6.3
コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には，1.6.1のすべての事項を明りょうに表示する。
1.6.4
表示の追加
1.6.1に規定するもの以外に，表示を追加する場合は，混乱しないように表示する。
2
推奨特性及び定格
2.1
推奨特性
個別規格に規定する特性は，次の中から選定するのが望ましい。
2.1.1
推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは，JIS C 60068-1の8.によって分類する。
カテゴリ下限温度，カテゴリ上限温度及び高温高湿（定常）の試験期間は，次の中から選定する。
カテゴリ下限温度：−55 ℃，−40 ℃及び−25 ℃
カテゴリ上限温度：＋85 ℃，＋100 ℃，＋105 ℃及び＋125 ℃
高温高湿（定常）の試験期間：4日，10日，21日及び56 日
125 ℃での耐久性試験期間を超える連続使用については，加速性について配慮する（個別規格による）。
注記 カテゴリ上限温度の＋105 ℃は，我が国で広く使用しているため追加した。
低温及び高温の試験温度は，それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2
推奨定格値
2.2.1
定格静電容量 (CR)
定格静電容量の推奨値は，1，1.5，2.2，3.3，4.7及び6.8並びにそれらの10n倍（nは整数とする。）とす
る。これらの値は，JIS C 5063に規定するE6標準数列から選定する。
5
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
その他の値が必要な場合は，E12標準数列から選定する。
2.2.2
定格静電容量許容差
定格静電容量に対する推奨許容差は，±5 %，±10 %及び±20 %とする。
2.2.3
定格電圧 (UR)
定格電圧の推奨値は，JIS Z 8601に規定するR5 標準数列を使用することとし，次による。ただし，そ
の他の値が必要な場合は，R10標準数列の定格電圧を使用してもよい。
R5標準数列のもの：40 V，63 V，100 V，160 V，250 V，400 V，630 V，1 000 V，1 600 V
R10標準数列のもの：50 V，200 V
2.2.4
カテゴリ電圧 (UC)
カテゴリ電圧は，次による。
カテゴリ上限温度85 ℃の場合は1.0 UR
カテゴリ上限温度100 ℃の場合は0.8 UR
カテゴリ上限温度105 ℃の場合は0.75 UR
カテゴリ上限温度125 ℃の場合は0.5 UR
2.2.5
定格温度
定格温度は，85 ℃とする。
3
品質評価手順
3.1
製造の初期工程
製造の初期工程は，コンデンサ素子の巻取り又はそれと同等な工程とする。
3.2
構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは，外形寸法及び定格値が異なっていても，類似の工程及び類似の材料で
製造したコンデンサとする。
3.3
出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求がある場合は，JIS C 5101-1 の3.5.1によって，出荷対象ロ
ットの成績証明書を提出する。耐久性試験後に要求される特性値は，静電容量の変化，誘電正接 (tan δ) 及
び絶縁抵抗とする。
注記 JIS C 5101-1の3.5.1は，対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.9と同等である。
3.4
品質認証
品質認証試験の手順は，JIS C 5101-1の3.4による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証の試験計画は，3.5による。定数抜取手順は3.4.1及
び3.4.2による。
注記 JIS C 5101-1の3.4は，対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.5と同等である。
3.4.1
定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は，JIS C 5101-1 の3.4.2 b) の規定による。試料は，認証を得ようとするコンデンサのす
べての範囲を代表し，個別規格に規定する範囲，又はその一部でもよい。
注記1 JIS C 5101-1の3.4.2 b) は，対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.5.3 b) と同等である。
抜き取る試料は，最低及び最高の定格電圧のものでそれぞれの電圧に対応する最小及び最大の定格静電
容量のもので構成する。定格電圧が5 種類以上ある場合は，中間の定格電圧のものも試験する。このよう
に一つの認証範囲の試験には，4組合せ（定格静電容量と定格電圧との組合せ）又は6組合せのものを試
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C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
料とする。認証範囲の試料が3組合せ以下の場合の試料数は， 4組合せの場合と同数とする。
予備の試料は，次による。
予備試料は，製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個（6組合
せの場合）又は3個（4組合せの場合）とする。
a) 群0での許容不適合品置換え用として1組合せに1個
b) 製造業者の責任でない事故による不適合品置換え用として1組合せに1個
群0に規定する試料は，すべての群の試料を適用する場合の試料数であり，すべての試験を適用しない
場合は，適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に，群を追加する場合の群0の試料数は，追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験のため，各群及び各副群で試験する試料数及び合格判定数を，表1及び表1Aに示す。
注記2 合格判定数の数は，許容不適合数を示している。
3.4.2
試験（評価水準Eの場合）
表1及び表2に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり，
各群の試験は，記載の順に従って行う。
すべての試料は，群0の試験を行った後，その他の群に分割する。
群0の試験中に発生した不適合品は，その他の群に用いてはならない。
1 個のコンデンサが，一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても不適合品数は1 個と数える。
各群又は各副群での不適合品数が合格判定数以下であり，かつ，不適合品数の合計が総合格判定数以下
の場合の品質認証は，合格とする。
注記 表1及び表2は，定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表1は，各試験又は試
験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表2は，箇条4に規定する試験
の詳細と併せて，試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定する試
験方法又は試験条件を規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証試験計画の試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する品質確認検査
と同じとする。
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C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表1−品質認証試験の定数抜取試験計画 評価水準E
群番号
試験項目
この規格の
細分箇条番
号
試料数 (n) 及び合格判定数d) (c)
1組合せ
c)につき
n
4組合せ c) 以下の場合
6組合せ c) の場合
4 n
c
c合計
6 n
c
c合計
0
外観
寸法
静電容量
誘電正接 (tan δ)
耐電圧
絶縁抵抗
予備試料
4.1
4.1
4.2.2
4.2.3
4.2.1
4.2.4
29
2
116
8
2 b)
174
12
3 b)
1
1A 端子強度
はんだ耐熱性
部品の耐溶剤性 a)
4.3
4.4
4.14
3
12
1
4
18
1
6
1B はんだ付け性
表示の耐溶剤性 a)
温度急変
振動
バンプ又は衝撃 a)
4.5
4.15
4.6
4.7
4.8又は4.9
6
24
1
36
2 b)
一連耐候性
4.10
9
36
2
54
3
2
高温高湿(定常)
4.11
5
20
1
30
2 b)
3
耐久性
4.12
10
40
2 b)
60
3 b)
4
充放電
4.13
5
20
1
30
2
注a) 個別規格の規定による。
b) 1組合せの中から2個以上の不適合があってはならない。
c) 定格静電容量と定格電圧との組合せで3.4.1による。
d) 合否判定の不適合品の数を示し，この数以下の場合を合格とする。
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C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
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3.4.2A 試験（評価水準EZの場合）
表1A及び表2に規定する一連の試験は，個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であ
り，各群の試験は，記載の順に従って行う。
すべての試料は，群0の試験を行った後，その他の群に分割する。
群0の試験中に発生した不適合は，その他の群に用いてはならない。
1 個のコンデンサが，一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても，不適合品数は1個と数える。
各群又は各副群での不適合品数が合格判定数以下であり，かつ，不適合品数の合計が総合格判定数以下
の場合の品質認証は，合格とする。
注記 表1A及び表2は，定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表1Aは，各試験又は
試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表2は，箇条4に規定する試
験の詳細と併せて，試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに，個別規格に選定する
試験方法又は試験条件を規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は，個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表1A−品質認証試験の定数抜取試験計画及び合格判定個数 評価水準EZ
群
試験項目
この規格の細分箇条番
号
試料数
n b)
合格判定数c)
c
0
外観
寸法
静電容量
誘電正接 (tan δ)
耐電圧
絶縁抵抗
予備試料
4.1
4.1
4.2.2
4.2.3
4.2.1
4.2.4
132
12
0
1 1A
端子強度
はんだ耐熱性
部品の耐溶剤性 a)
4.3
4.4
4.14
12
0
1B
はんだ付け性
表示の耐溶剤性 a)
温度急変
振動
バンプ又は衝撃 a)
4.5
4.15
4.6
4.7
4.8又は4.9
24
0
一連耐候性
4.10
36
0
2
高温高湿（定常）
4.11
24
0
3
耐久性
4.12
36
0
4
充放電
4.13
24
0
注a) 個別規格の規定による。
b) 定格電圧と定格静電容量との組合せで3.4.1による。
c) 合否判定の不適合品の数を示し，この数以下の場合を合格とする。
表2−品質認証の試験計画
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C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
細分箇条番号及び
試験項目 a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試験数 (n)
及び合格判定
数c) (c)
要求性能a)
群0
4.1 外観
4.1 寸法（詳細）
4.2.2 静電容量
4.2.3 誘電正接 (tan δ)
4.2.1 耐電圧
4.2.4 絶縁抵抗
ND
周波数：1 kHz
方法は，個別規格の規定による。
方法は，個別規格の規定による。
表1又は
表1Aによる。
4.1による。
表示は明りょうとし，
その他は個別規格の規
定による。
個別規格の規定による。
規定の許容差による。
4.2.3.2による。
絶縁破壊又はフラッシオ
ーバがない。ただし，
一時的瞬時破壊があっ
てもよい。
4.2.4.2による。
群1A
4.3.1 初期測定
4.3 端子強度
4.4 はんだ耐熱性
4.14 部品の耐溶剤性
4.4.2 最終測定
D
静電容量
誘電正接 (tan δ)
測定周波数
CR＞1 μF： 1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
外観
強制乾燥なし。
方法は，個別規格の規定による。(1A
又は1B）
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法2
後処理時間：...
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
表1又は
表1Aによる。
損傷がない。
個別規格の規定による。
損傷がなく，表示は明り
ょうとする。
4.3.1の測定値に対してΔ
C/C≦2 %
tan δの4.3.1の値からの増
加量
等級1 (CR≦1 µF) : ≦0.003
等級1 (CR＞1 µF) : ≦0.002
等級2 (CR≦1 µF) : ≦0.005
等級2 (CR＞1 µF) : ≦0.003
群1B
4.5 はんだ付け性
4.15 表示の耐溶剤性
（適用する場合）
D
加速蒸気エージングは行わない。
方法は，個別規格の規定による。
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法2
後処理時間：...
表1又は
表1Aによる。
端子に,はんだが良好に付
着しているか又ははん
だ小球法の場合は，…s
以内にはんだが流れ
る。
個別規格の規定による。
表示は明りょうとする。
表2−品質認証の試験計画（続き）
10
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
細分箇条番号及び
試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試験数 (n)
及び合格判定
数c) (c)
要求性能a)
4.6.1 初期測定
4.6 温度急変
4.7 振動
4.7.2 最終測定
4.8 バンプ
（又は4.9衝撃）
4.9 衝撃
（又は4.8バンプ）
4.8.3又は4.9.3最終測定
静電容量
誘電正接 (tan δ)
測定周波数
CR＞1 µF： 1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
試験時間ｔ1＝30 min
外観
取付方法は，個別規格の規定による。
手順：B4
周波数範囲：...Hzから...Hz
振幅：0.75 mm又は加速度：100 m/s2
どちらか緩い方
合計時間：6 h
外観
取付方法は，個別規格の規定による。
バンプ回数：...
ピーク加速度：... m/s2
作用時間：... ms
取付方法は，個別規格の規定による。
ピーク加速度：... m/s2
作用時間：... ms
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
損傷がない。
損傷がない。
損傷がない。
4.6.1の測定値に対して
ΔC/C≦5 %
tan δの4.6.1の値からの
増加量
等級1 (CR≦1µF) : ≦0.003
等級1 (CR＞1µF) : ≦0.002
等級2 (CR≦1µF) : ≦0.005
等級2 (CR＞1µF) : ≦0.003
4.2.4.2の規定値の50 %以
上
表2−品質認証の試験計画（続き）
11
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
細分箇条番号及び
試験項目a)
D
又は
NDb)
試験条件a)
試験数 (n)
及び合格判定
数c) (c)
要求性能a)
群1
4.10 一連耐候性
4.10.2 高温
4.10.3 温湿度サイクル
（12+12時間サイク
ル）最初のサイクル
4.10.4 低温
4.10.5 減圧（個別規格
に規定がある場合）
4.10.5.3 中間検査
4.10.6 温湿度サイクル
(12+12時間サイクル)
残りのサイクル
4.10.6.2 最終測定
D
温度：カテゴリ上限温度
時間：16 h
温度：カテゴリ下限温度
時間：2 h
気圧：8 kPa
外観
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表1又は
表1Aによる。
永久破壊，フラッシオーバ
又はケースに異常な変
形がない。
損傷がなく，表示は明りょ
うとする。
4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測
定値に対してΔC/C≦
5 %
tan δの4.3.1又は4.6.1の値
からの増加量
等級1 (CR≦1µF) : ≦0.005
等級1 (CR＞1µF) : ≦0.003
等級2 (CR≦1µF) : ≦0.008
等級2 (CR＞1µF) : ≦0.005
4.2.4.2の規定値の50 %以
上
群2
4.11 高温高湿（定常）
4.11.1 初期測定
4.11.3 最終測定
D
静電容量
誘電正接 (tan δ)
測定周波数：1 kHz
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表1又は
表1Aによる。
損傷がなく,表示は明りょ
うとする。
4.11.1の測定値に対して
ΔC/C≦5 %
tan δの4.11.1の値からの
増加量≦0.005
4.2.4.2の規定値の50 %以
上
表2−品質認証の試験計画（続き）
細分箇条番号及び
D
試験条件a)
試験数 (n)
要求性能a)
12
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
試験項目a)
又は
NDb)
及び合格判定
数c) (c)
群3
4.12 耐久性
4.12.1 初期測定
4.12.5 最終測定
D
試験時間
等級1：2 000 h
等級2：1 000 h
静電容量
誘電正接 (tan δ)
CR＞1µF： 1 kHz
CR≦1µF：10 kHz
外観
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表1又は
表1Aによる。
損傷がなく,表示は明りょ
うとする。
4.12.1の測定値に対して
性能等級1の場合
ΔC/C≦5 %，
性能等級2 の場合
ΔC/C≦8 %
tan δの4.12.1の値からの
増加量
等級1 (CR≦1µF) : ≦0.003
等級1 (CR＞1µF) : ≦0.002
等級2 (CR≦1µF) : ≦0.005
等級2 (CR＞1µF) : ≦0.003
4.2.4.2の規定値の50 %以
上
群4
4.13 充放電
4.13.1 初期測定
4.13.3 最終測定
D
静電容量
誘電正接 (tan δ)
CR＞1 µF： 1 kHz
CR≦1 µF：10 kHz
充電時間：...s
放電時間：...s
静電容量
誘電正接 (tan δ)
絶縁抵抗
表1又は
表1Aによる。
4.13.1の測定値に対して
性能等級1の場合
ΔC/C≦3 %，
性能等級2 の場合
ΔC/C≦5 %
tan δの4.13.1の値からの
増加量
等級1 (CR≦1 µF) : ≦0.003
等級1 (CR＞1 µF) : ≦0.002
等級2 (CR≦1 µF) : ≦0.005
等級2 (CR＞1 µF) : ≦0.003
4.2.4.2の規定値の50 %以
上
注a) 試験の細分箇条番号及び要求性能は，箇条4（試験及び測定方法）による。
b) この表でDは破壊試験，NDは非破壊試験を示す。
c) 合否判定の不適合品の数を示し，この数以下の場合を合格とする。
3.5
品質確認検査
3.5.1
検査ロットの構成
13
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 群A及び群B検査 この検査は，ロットごとに行う。
製造業者は，次の条件でコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは，構造的に類似なコンデンサで構成する（3.2参照）。
2a) 試料は，検査ロットに含まれる定格電圧と定格静電容量との組合せ及び外形寸法の代表とする。
− 試料数
− 1組合せ当たり5個以上
2b) IEC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は，1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき，製造業
者は，国内監督検査機関の承認を必要とする。
b) 群C検査 この検査は，定期的に行う。
試料は，定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので，かつ，定格電圧の高電圧群，中
電圧群及び低電圧群に分類する。その期間に認証範囲の定格電圧の高電圧群，中電圧群及び低電圧群
ごとに一つの外形寸法のものを試験した場合，その後の期間では，認証のすべての範囲を包含するた
めに，製造中のその他の定格電圧及び／又は外形寸法のものを試験する。
3.5.2
試験計画
ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は，ブランク個別規格JIS C 5101-2-1の
箇条2の表4による。
3.5.3
長期保管後の出荷
JIS C 5101-1の3.5.2の規定に従い，はんだ付け性及び静電容量について，群A及び群Bの再検査を行
う。
注記 JIS C 5101-1の3.5.2は，対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.10と同等である。
3.5.4
評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は，表3及び表4から選定することが望ましい。
表3−ロットごとの品質確認検査
検査副群 b)
D c)
E
F c)
G c)
EZ
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
AQL
%
IL
n
c
A 0
A 1
A 2
B 1
S-3
S-3
S-3
2.5
1.0
2.5
100 % a)
S-3
S-3
S-3
b)
b)
b)
0
0
0
注記 IL＝検査水準，AQL＝合格品質限界，n＝試料数，c＝合格判定数
注a) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。
抜取水準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視
するために，抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合格とするが，不適合品は，品
質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は，累積した検査データによって算出す
る。
b) 試料数 (n) は，JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に
従い，付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
c) 評価水準D，F及びGは，検討中。
表4−定期的品質確認検査
検査副群 b)
D a)
E
F a)
G a)
EZ
14
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
p
n
c
p
n
c
p
n
c
p
n
c
p
n
c
C 1A
C 1B
C 1
C 2
C 3
C 4
6
6
6
6
3
3
9
18
27
15
21
9
1
1
2
1
1
1
6
6
6
6
6
6
5
5
10
10
10
10
0
0
0
0
0
0
注記 p＝検査周期（月），n＝試料数，c＝合格判定数
注a) 評価水準D，F及びGは，検討中。
b) 検査副群の内容は，ブランク個別規格JIS C 5101-2-1の箇条2による。
4
試験及び測定方法
この箇条は，JIS C 5101-1の4.に規定する事項を補足する。
4.1
外観及び寸法
外観及び寸法は，JIS C 5101-1の4.4による。
4.2
電気的試験
4.2.1
耐電圧
耐電圧は，JIS C 5101-1の4.6によるほか，次による。
4.2.1.1
試験回路
コンデンサC1 を削除する。
R1と試料 (CX) の定格静電容量との積は，0.01秒を超え1秒以下とする。
R1は，電源の内部抵抗を含む。
R2は，放電電流を1 A以下に制限する値とする。
4.2.1.2
試験条件
JIS C 5101-1の4.5.3の表1に規定する測定箇所に，品質認証試験の場合は1分間，ロットごとの品質確
認検査の場合は1秒間，表5に規定する試験電圧を印加する。
表5−試験電圧
測定箇所
試験電圧
1 a)
性能等級1 : 1.6 UR
性能等級2 : 1.4 UR
1 b) 及び 1 c)
2 UR又は200 Vのどちらか高い値
注記 試験電圧の印加中に自己回復作用があってもよい。
注記 JIS C 5101-1の4.5.3の表1は，対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の4.5.6の表3と同等である。
4.2.2
静電容量
静電容量は，JIS C 5101-1の4.7によるほか，次による。
4.2.2.1
測定条件
静電容量は，1 kHzで測定又は測定値を1 kHzの値に補正する。ただし，10 µFを超える定格静電容量の
ものは，50 Hz〜120 Hzで測定してもよい。
1 kHzでの測定電圧のピーク値は定格電圧の3 %以下とし，50 Hz〜120 Hzでのピーク値は，定格電圧の
20 %又は100 V (70 V r.m.s.) のどちらか小さい値以下とする。
4.2.2.2
要求性能
静電容量は，規定の許容差による。
15
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2.3
誘電正接 (tan δ)
誘電正接 (tan δ) は，JIS C 5101-1の4.8によるほか，次による。
4.2.3.1
1 kHzでの測定条件
誘電正接 (tan δ) の測定は，次による。
− 周波数 ：1 kHz
− ピーク電圧：≦定格電圧の3 %
− 確度 ：≦10×10−4（絶対値）
4.2.3.2
1 kHz での要求事項
誘電正接 (tan δ) は，次の表6に示す要求性能を満足する。
表6−誘電正接 (tan δ) 規定値
定格静電容量
µF
tan δ（絶対値）
性能等級1
性能等級2
≦1
0.008
0.01
＞1
0.01
0.01
4.2.3.3
10 kHz での測定条件
誘電正接 (tan δ) の測定は，次による。
表2で，CR≦1 µFのコンデンサに対して要求がある場合：
− 周波数 ：10 kHz
− ピーク電圧：1 V r.m.s.以下
− 確度 ：≦10×10−4（絶対値）
4.2.4
絶縁抵抗
絶縁抵抗は，JIS C 5101-1の4.5によるほか，次による。
4.2.4.1
測定条件
測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗と試料の定格静電容量との積は，0.01未満又
は個別規格の規定による。
4.2.4.2
要求性能 測定電圧は，JIS C 5101-1の4.5.2による。絶縁抵抗値とコンデンサの定格静電容量と
の積は，1秒未満又は個別規格の規定値とする。
絶縁抵抗は，表7の要求性能を満足する。
表7−絶縁抵抗の要求性能
16
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
RC 積の最小値
［R：端子間絶縁抵抗］，
C：定格静電容量 (CR)
s
端子間絶縁抵抗の最小値
MΩ
端子とケース間の絶縁抵
抗の最小値
MΩ
測定箇所は，JIS C 5101-1の4.5.3の表1の規定による。
1 a)
1 a)
1 b) 及び 1 c)
定格静電容量
定格静電容量
30 000
CR＞0.33 µF
CR≦0.33 µF
定格電圧
UR＞100 V
定格電圧
UR≦100 V
定格電圧
UR＞100 V
定格電圧
UR≦100 V
等級
等級
等級
等級
等級
等級
等級
等級
1
2
1
2
1
2
1
2
10 000
2 500
5 000
1 250
30 000
7 500
15 000
3 750
4.2.4.3
温度補正係数
20 ℃以外の温度で測定した場合は，必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて20 ℃の値に補正す
る。疑わしい場合は，20 ℃で測定する。表8に示す補正係数は，メタライズドポリエチレンテレフタレー
トフィルムコンデンサの平均値である。
表8−試験温度に対応する補正係数
温度
℃
補正係数
温度
℃
補正係数
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
0.79
0.83
0.87
0.91
0.95
1.00
1.05
1.10
1.15
1.20
1.26
1.32
27
28
29
30
31
32
33
34
35
1.38
1.45
1.52
1.59
1.66
1.74
1.82
1.91
2.00
4.3
端子強度
端子強度は，JIS C 5101-1の4.13によるほか，次による。
4.3.1
初期測定
静電容量は，4.2.2によって測定する。
誘電正接 (tan δ)は，4.2.3.1又は4.2.3.3によって測定する。
4.4
はんだ耐熱性
はんだ耐熱性は，JIS C 5101-1の4.14によるほか，次による。
4.4.1
試験条件
強制乾燥は，適用しない。
4.4.2
最終性能及び要求性能
17
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.5
はんだ付け性
はんだ付け性は，JIS C 5101-1の4.15によるほか，次による。
4.5.1
試験条件
加速蒸気エージングなどの前処理は，適用しない。
はんだ小球法を適用する場合は，個別規格の規定による。はんだ槽法又ははんだ小球法のどちらも適用
しない場合は，はんだこてサイズAによるはんだ試験を行う。
4.5.2
要求性能
表2に規定する要求性能を満足する。
4.6
温度急変
温度急変は，JIS C 5101-1の4.16によるほか，次による。
4.6.1
初期測定
初期測定は，4.3.1による。
4.6.2
試験条件
サイクル数は，5回とする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度における放置時間は，30分間とする。
4.7
振動
振動は，JIS C 5101-1の4.17によるほか，次による。
4.7.1
試験条件
試験Fcの厳しさを適用する。
次のうちの一つの周波数範囲，10 Hz〜55 Hz，10 Hz〜500 Hz又は10 Hz〜2 000 Hzで，振幅0.75 mm又
は加速度100 ｍ/s2のどちらか緩い方の振幅とする。全試験持続時間は6時間とする。
個別規格に周波数範囲及び使用する取付方法を規定する。リード線によって取り付けるリード線端子反
対方向形（アキシャルリード線端子）コンデンサは，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.7.2
最終測定及び要求性能
表2に規定する要求性能を満足する。
4.8
バンプ
バンプは，JIS C 5101-1の4.18によるほか，次による。
個別規格には，バンプ又は衝撃のどちらで試験するか規定する。
4.8.1
初期測定
初期測定は，適用しない。
4.8.2 試験条件
個別規格に，次に推奨する厳しさのどれを適用するか規定する。
バンプの回数：1 000回又は4 000回
ピーク加速度：400 ms2 100 ms2
作用時間 ：6 ms 16 ms
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）コンデンサ
をリード線だけで固定する場合は，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.8.3
最終測定及び要求性能
又は
18
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.9
衝撃
衝撃は，JIS C 5101-1の4.19によるほか，次による。
個別規格には，バンプ又は衝撃のどちらを行うか規定する。
4.9.1
初期測定
初期測定は，行わない。
4.9.2
試験条件
個別規格に，表9に示す条件のうちどれを適用するか規定する。
パルス波形は，正弦半波とする。
表9−ピーク加速度及び作用時間
ピーク加速度 m/s2
作用時間 ms
300
500
1 000
18
11
6
個別規格には，取付方法も規定する。リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）コンデンサ
をリード線だけで固定する場合は，本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.9.3
最終測定及び要求性能
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.10 一連耐候性
一連耐候性は，JIS C 5101-1の4.21によるほか，次による。
4.10.1 初期測定
初期測定は行わず，4.4.2，4.8.3又は4.9.3の測定値を適用する。
4.10.2 高温
高温は，JIS C 5101-1 の4.21.2による。
4.10.3 温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）及び試験Db最初のサイクル
温湿度サイクルは，JIS C 5101-1の4.21.3による。
4.10.4 低温
低温は，JIS C 5101-1の4.21.4による。
4.10.5 減圧
減圧は，JIS C 5101-1の4.21.5によるほか，次による。
4.10.5.1 試験条件1
試験は個別規格に規定がある場合に行い，温度範囲15 ℃〜35 ℃，気圧8 kPaで試験を行う。試験時間
は1時間とする。
4.10.5.2 試験条件2
規定の気圧を保ち，1時間の試験時間の最後の5分間定格電圧を印加する。この試験を適用するコンデ
ンサの試料は，必要な場合2分割又は3分割し，それぞれJIS C 5101-1の4.5.6の表1に規定する測定箇
所に電圧を印加する。
注記 JIS C 5101-1の最新版の対応国際規格では，表3になっている。
4.10.5.3 中間検査
19
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.10.6 温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）及び試験Db残りのサイクル
温湿度サイクルは，JIS C 5101-1の4.21.6によるほか，次による。
4.10.6.1 試験条件
温湿度試験槽から取り出し15分以内に，4.2.1に規定する試験回路及び条件によって測定箇所Aに定格
電圧を1分間印加する。
注記 測定箇所A：端子間（JIS C 5101-1の4.5.3の表1による。）
4.10.6.2 最終測定及び要求性能
後処理後にコンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.11 高温高湿（定常）
高温高湿（定常）は，JIS C 5101-1の4.22によるほか，次による。
4.11.1 初期測定
静電容量を4.2.2によって測定し，誘電正接 (tan δ) は，4.2.3.1によって測定する。
4.11.2 試験条件
高温高湿放置後，槽からコンデンサを取り出し，15 分間以内に4.2.1によって耐電圧試験を行う。ただ
し，定格電圧を印加する。
4.11.3 最終測定及び要求性能
後処理後にコンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.12 耐久性
耐久性は，JIS C 5101-1の4.23によるほか，次による。
4.12.1 初期測定
初期測定は，4.3.1によって行う。
4.12.2 試験条件1
性能等級1のコンデンサの試験時間は2 000時間，性能等級2は1 000時間とし，その他の試験条件は，
表10による。
表10−性能等級1及び性能等級2に対する耐久性試験
カテゴリ
−/85/−
−/100/−
−/105/−
−/125/−
温度
85 ℃
85 ℃
100 ℃
85 ℃
105 ℃
85 ℃
125 ℃
電圧（d.c.）
1.25 UR
1.25 UR
1.25 UC
1.25 UR
1.25 UC
1.25 UR
1.25 UC
試料の分類
分割しない
2分割
2分割
2分割
注記 カテゴリ−/105/−は，カテゴリ上限温度105 ℃の追加によって規定した。
4.12.3 試験条件2
試験電圧は，それぞれコンデンサに直列保護抵抗器を通じて印加する。
その抵抗値は0.22／CR (Ω) で，CRは，ファラド (F) を単位とした定格静電容量とする。また，その抵
抗値は，計算値の±30 %以内で最大2 MΩとする。
4.12.4 試験条件3
規定の時間放置後，4.12.3と同じ抵抗器Rを通じて放電する。
4.12.5 最終測定及び要求性能
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い，表2に規定する要求性能を満足する。
4.13 充放電
20
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
充放電は，JIS C 5101-1 の4.27によるほか，次による。
4.13.1 初期測定
CR≦1 μFのコンデンサでは，4.2.3に規定する方法で誘電正接 (tan δ) を測定する。
4.13.2 試験条件
コンデンサは，標準状態で1秒間に0.1サイクル〜60サイクルの範囲内で10 000回の充放電を行う。1 秒
間のサイクル数は，コンデンサの表面温度上昇が周囲温度よりも10 ℃を超えないサイクル数とする。各
サイクルは，コンデンサへの充電と放電とからなる。疑義がある場合は，1秒間に1サイクル〜2サイクル
で試験を行う。各コンデンサは，次の式で算出された抵抗値R1の低インダクタンス抵抗器R1を通じて放
電する。
t
U
C
U
R
d
d
R
R
1
×
=
ここに，
UR： コンデンサの定格電圧 (V)
CR： コンデンサの定格静電容量 (μF)
t
U
d
d
： 表11に示したボルト/マイクロ秒 (V/μs) 単位の値
R1： 放電回路での抵抗値で，計算値に最も近いE24標準数
列の抵抗値で2.2 Ω以上の値とする。
試験での印加電圧は，UR±5 %とする。
コンデンサは，次の条件の抵抗値R2を通じて充電する。
R2≧22×R1
充電時間は，10×CR×R2時間以上とする。
a) リード線端子同一方向形（ラジアルリード線端子）のコンデンサの試験用dU/dt リード線端子同一
方向形（ラジアルリード線端子）のコンデンサの試験用dU/dtは，表11による。
表11−リード線端子同一方向形（ラジアルリード線端子）のコンデンサの試験用dU/dt (V/μs)
リード線間隔“e”（2.5 mm又は2.54 mm）の倍数（注記1参照）
定格電圧
V
2e
3e
4e
6e
9e
11e
15e
17e
40
63
100
250
400
630
5
10
20
3
5
6
15
30
3
6
9
20
30
40
1.5
3
5
11
20
25
1
2
3
7
10
12
0.8
1
2
5
8
10
0.6
0.8
1
3
6
8
0.4
0.6
0.8
1.2
4
6
注記1 リード線間がスプレー表面間の距離に一致していない場合は，その距離は，例えば，素子長さで表すこと
とし，個別規格に素子長さを規定するか又はその長さの決め方を規定する。
リード線間隔が表の値と異なる場合は，最も近いリード線間隔の値に対応したdU/dt値とする。
注記2 このdU/dt値は，試験に用いる値で，連続作動時に耐える値ではない。
b) リード線端子反対方向形（アキシャルリード線端子）のコンデンサの試験用dU/dt 素子長さの明示
がない場合のdU/dt値は，本体寸法から3 mm差し引いた値に最も近い表11の値とする。
個別規格に素子長さ又は規定方法が明示してある場合は，その値に対応する表の値とする。
4.13.3 最終測定及び要求性能
21
C 5101-2：2009 (IEC 60384-2：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
後処理後の電気的性能は，表2に規定する要求性能を満足する。
4.14 部品の耐溶剤性
部品の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.31による。
4.15 表示の耐溶剤性
表示の耐溶剤性は，JIS C 5101-1の4.32による。