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C 5101-15-1 : 1998

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性質

をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認に

ついて,責任はもたない。

部編成規格  この規格の部編成規格を次に示す。

JIS

C

5101

群  電子機器用固定コンデンサ

JIS

C

5101-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

  第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS

C

5101-2-1

  第 2 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム

直流コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-3

  第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1

  第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-4

  第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

  第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-4-2

  第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-8

  第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-8-1

  第 8 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 1 評価水準 E

JIS

C

5101-9

  第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-9-1

  第 9 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 2 評価水準 E

JIS

C

5101-10

  第 10 部:品種別通則:固定積層磁器チップコンデンサ

JIS

C

5101-10-1

  第 10 部:ブランク個別規格:固定積層磁器チップコンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-11

  第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS

C

5101-11-1

  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-13

  第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-13-1

  第 13 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

評価水準 E(予定)

JIS

C

5101-14

  第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

  第 14 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準 D

JIS

C

5101-15

  第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ


C 5101-15-1 : 1998

まえがき

(2) 

JIS

C

5101-15-1

  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水

準 E

JIS

C

5101-15-2

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-15-3

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-16

  第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ(予

定)

JIS

C

5101-16-1

  第 16 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ

ンサ評価水準 E(予定)

JIS

C

5101-17

  第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ(予定)

JIS

C

5101-17-1

  第 17 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ

ルスコンデンサ評価水準 E(予定)

JIS

C

5101-18

  第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)

及び非固体電解チップコンデン

サ(予定)

JIS

C

5101-18-1

  第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)

電解チップコンデンサ

評価水準 E(予定)

JIS

C

5101-18-2

  第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ評価水

準 E(予定)

JIS

C

5101-20

  第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直

流コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-20-1

  第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ評価水準 EZ(予定)


C 5101-15-1 : 1998

(1) 

目次

ページ

序文

1

ブランク個別規格

1

個別規格の識別

1

コンデンサの識別

1

第 1 章  一般事項

1.

  一般事項

2

1.0

  適用範囲

2

1.1

  推奨する取付方法

3

1.2

  寸法

3

1.3

  定格及び特性

3

1.4

  引用規格

4

1.5

  表示

4

1.6

  発注情報

4

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8

  追加情報(非検査目的)

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

5

第 2 章  検査要求事項

2.

  検査要求事項

5

2.1

  手順

5


日本工業規格

JIS

 C

5101-15-1

 : 1998

電子機器用固定コンデンサ−

第 15 部:ブランク個別規格:

はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ

評価水準 E

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 15 : Blank detail specification :

Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode

Assessment level E

序文  この規格は,1984 年初版として発行された IEC 60384-15-1, Fixed capacitors for use in electronic

equipment Part15 : Blank detail specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode

Assessment Level E

及び IEC 60384-15 の Amendment 1 : 1987 を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変

更することなく作成した日本工業規格である。ただし,Amendment については,編集し,一体とした。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にない事項である。また,IEC 規格番号は,

1997

年 1 月 1 日より実施の IEC 規格新番号体系によるものである。これより前に発行された規格につい

ては,規格票に記載された規格番号に 60000 を加えた番号に切り替える。これは,番号だけの切替えであ

り内容は同一である。

参考  序文中に,品種別通則の原国際規格 IEC 60384-15 Amendment 1 を引用したのは,この規格の”

逆電圧”試験方法の修正文が,この Amendment によるためである。

ブランク個別規格 

このブランク個別規格は,品種別通則 JIS C 5101-15 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限必要な要

求事項を規定したものである。この規格が規定する要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基

づくものでないものとみなし,そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,品種別通則 JIS C 5101-15 の 1.4(個別規格に規定する事項)に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表の数字は,指定の位置に規定する次の事項と対

応している。

個別規格の識別 

(1)

個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称

(2)

個別規格の国内規格番号,発効年及び国内の制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び発

行年

(3)

品目別通則の国内規格番号及び発効年又は IEC 規格番号,版及び発行年


2

C 5101-15-1 : 1998

(4)

ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別 

(5)

コンデンサの品種についての要約説明

(6)

代表的な構造の説明(適用する場合)

備考  コンデンサが,プリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのこと

を明記する。

(7)

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。こ

の図は,個別規格の附属書としてもよい。

(8)

適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準

備考  個別規格に規定する評価水準は,品種別通則 JIS C 5101-15 の 3.5.4(評価水準)から選定する。

このブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定して

もよい。

(9)

重要な特性に関する参照データ

例  日本工業標準調査会

(1) 

個別規格番号

(2) 

例  電子機器用固定コンデンサ

(3) 

例  JIS C 5101-15-1

(4) 

第 1 部:品目別通則:JIS C 

5101-1 : 1998

QC 300201

例  はく電極形固定タンタル  

(5) 

非固体電解コンデンサ

リード線又はタグ端子付き

(サブファミリ 1)

外形図(

表 による。)  

(7) 

(第三角法)

構造の説明:

(6) 

評価水準(複数可)

:E

(8) 

性能等級:

例  長寿命等級

(規定寸法内であれば外形は異なってもよい。

備考  QC 300201 は,IEC 品質認証制度  (IECQ)  の場合に適用する。

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい情報は,品質認証電
子部品一覧表  (QPL)  に示されている。

(

)

(

)

この記載は,IEC 品質認証制度  (IECQ)  の場合に適用する。

(9) 

第 章  一般事項 

1.

一般事項

1.0

適用範囲  この規格は,JIS C 5101-15 を品種別通則とするブランク個別規格で,はく電極形固定タ

ンタル非固体電解コンデンサ評価水準 E について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を次に示す。

IEC 60384-15-1 : 1994, Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 15 : Blank detail

specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid electrolyte and foil electrode Assessment

level E

IEC 60384-15 Amendment 1 : 1987


3

C 5101-15-1 : 1998

1.1

推奨する取付方法  (挿入用)[品種別通則 JIS C 5101-15 の 1.4.2(取付け)による。]

1.2

寸法

表 I  寸法

寸法(ミリメートル又はインチ及びミリメートル)

外形寸法

記号

φ

 

L

H

d

 

 

 

 

 

 

 

 

 

備考1.  外形寸法記号がない場合は,表 は削除し,寸法は表 IIA に記載して表 

する。

2.

寸法は,最大寸法又は公称寸法とその許容差で表す。

3.

表 以外に説明が必要な場合は,追加する。

1.3

定格及び特性 

定格静電容量範囲(

表 IIA による。)

定格静電容量許容差

定格電圧(

表 IIA による。)

カテゴリ電圧(適用する場合)(

表 IIA による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

温度による静電容量の変化(

表 IIB による。)

損失角の正接(tan

δ

)(

表 IIB による。)

漏れ電流(

表 IIB による。)

インピーダンス(適用する場合)(

表 IIC による。)

逆電圧(適用する場合)

表 IIA  外形寸法と組み合わせた定格静電容量及び定格電圧の値

定格電圧

カテゴリ電圧*

外形寸法記号

外形寸法記号

外形寸法記号

外形寸法記号

定格静電容量

µF

*

定格電圧と異なる場合


4

C 5101-15-1 : 1998

表 IIB  高温及び低温での特性

U

R

C

R

静電容量変化率

最大値

損失角の正接

インピーダンス

(100Hz 又は 120Hz)

漏れ電流

%

µA

V

µF

θ

A

θ

R

θ

B

θ

A

(

2

)

20

θ

B

(

2

)

θ

A

 20

θ

R

θ

B

(

1

)

θ

A

=カテゴリ下限温度

θ

B

=カテゴリ上限温度

θ

R

=定格温度

(

1

)

カテゴリ電圧で測定

(

2

)

適用する場合

表 IIC  インピーダンス...Hz(適用する場合)

外形寸法記号

インピーダンス

1

2

3

4

1.4

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

し,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5101-1

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

備考  IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification

並びに Amendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989 及び Amendment 4 : 1989 からのすべての

引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5101-15

  電子機器用固定コンデンサ−第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解

コンデンサ

備考  IEC 60384-15 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 15 : Sectional

specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte

並びに Amendment

1 : 1987

及び Amendmemt 2 : 1992 が,この規格と一致する。

JIS Z 9015

  計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)

備考  IEC 60410 : Sampling plans and procedures for inspection by attributes からのすべての引用事項

は,この規格の該当事項と一致する。

1.5

表示  コンデンサ及び包装の表示は,JIS C 5101-15 の 1.6(表示)による。

備考  コンデンサ及び包装への表示は,個別規格に規定する。

1.6

発注情報  この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明りょうな文字又は記号によって少なくと

も次の事項を規定する。

a)

定格静電容量

b)

定格静電容量許容差

c)

定格直流電圧

d)

個別規格の番号及び版並びに種類

1.7

出荷対象ロットの成績証明書  要求する。又は要求しない。

1.8

追加情報(非検査目的)


5

C 5101-15-1 : 1998

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

備考  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。

表 III  その他の特性

この表は,品種別通則に規定の厳しさに追加又はより厳
しい要求事項を規定するために使用する。

第 章  検査要求事項 

2.

検査要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証の手順は,品種別通則 JIS C 5101-15 の 3.4(品質認証)による。

2.1.2

品質確認検査については,試験計画(

表 IV)にサンプリング方法,周期,厳しさ及び要求性能を

表す。検査ロットの構成は,品種別通則 JIS C 5101-15 の 3.5.1(検査ロットの構成)による。

表 IV  品質確認検査の試験計画

備考1.  試験の項目番号及び要求性能は,品種別通則 JIS C 5101-15及びこの規格の第1章による。

2.

検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015 から選定する。

3.

表中の記号は,次による。

=周期(月)

=試料数

=合格判定個数(許容不良数)

D

=破壊試験

ND

=非破壊試験

IL

=検査水準

AQL

=合格品質水準

JIS Z 9015 

IL AQL

要求性能

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

備考 2.参照)

備考 1.参照)

群 検査

(ロットごと)

副群 A1 ND

S-4

2.5%

4.1

  外観

4.1

による。

表示が明りょうでありその

他この規格の 1.5 の規定によ
る。

4.2

  寸法(ゲージ法)

表 による。

副群 A2 ND

II

1.0%

4.2.1

  漏れ電流

保護抵抗:

...

µA

...

表 IIB による。

4.2.2

  静電容量

周波数:...Hz

規定の許容差以内

4.2.3

  損失角の正接

周波数:...Hz

...

表 IIB による。

4.2.4

  インピーダンス

(適用する場合)

周波数:...Hz

...

Ω,表 IIC による。


6

C 5101-15-1 : 1998

IL AQL

要求性能

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

備考 2.参照)

備考 1.参照)

群 検査

(ロットごと)

副群 B1 D

S-3

2.5%

4.5

  はんだ付け性

エージングなし 
方法:...

端子にはんだが良好に付着
しているか,又ははんだ小球
法の場合は規定の...秒以内

にはんだが流れる。

副群 B2 ND

S-3

2.5%

4.15

  高温及び低温特性

(要求ある場合)

コンデンサは,各温度段階で測
定する。

段階 1:20℃

漏れ電流 
静電容量 
損失角の正接

インピーダンス*(段階 2 と
同じ周波数)

比較値として使用する。

段階 2:カテゴリ下限温度

静電容量

C

C

...%**

損失角の正接*

...**

インピーダンス*

...

**

段階 3:定格温度

漏れ電流

...

µA**

静電容量

C

C

...%**

損失角の正接*

...**

段階 4:カテゴリ上限温度

漏れ電流

...

µA**

静電容量

C

C

...%**

損失角の正接*

...**

*

適用する場合

**

表 IIB による。


7

C 5101-15-1 : 1998

表 IV  品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び合格判定

要求性能

個数(

備考 3.参照)

備考 1.参照)

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p n  c 

群 検査 
(定期的)

副群 C1A D

6

9

1

副群 C1 の試料の一部

4.3.1

  初期測定

静電容量

4.3

  端子強度

外観

損傷がなくまた電解質の漏
れがない。

4.4

  はんだ耐熱性

方法:...

4.4.2

  最終測定

外観

損傷がなくまた電解質の漏
れがない。 
表示が明りょうである。

副群 C1B D

6

18

1

副群 C1 の残りの試料

4.6.1

  初期測定

静電容量

4.6

  温度急変

θ

A

=カテゴリ下限温度

θ

B

=カテゴリ上限温度

5

サイクル

試験時間 t=30min 
後処理:16h

4.6.3

  最終測定

漏れ電流

...

µA**

表 IIB による。

静電容量

4.6.1

の測定値の

C

C

...%**

損失角の正接

...

表 IIB による。

4.7

  振動

取付方法:この規格の 1.1 によ
る。

手順 B4

周波数範囲:

...Hz

から...Hz

振幅:...mm 又は

加速度:...m/s

2

のいずれか緩い方。

試験時間:...h

4.7.2

  最終検査

外観

損傷がなくまた電解質の漏
れがない。

4.8

  バンプ(又は 4.9 衝撃に

よる。

取付方法:この規格の 1.1 によ

る。 
バンプの回数:... 
ピーク加速度:390m/s

2

作用時間:6ms

4.9

  衝撃(又は 4.8 バンプに

よる。

取付方法:この規格の 1.1 によ
る。

ピーク加速度:...m/s

2

作用時間:...ms


8

C 5101-15-1 : 1998

試料数及び合格判定

要求性能

個数(

備考 3.参照)

備考 1.参照)

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p n  c 

4.8.2

又は 4.9.2 

        最終測定

外観

損傷がなくまた電解質の漏
れがない。

副群 C1 D

6

27

1

副群 C1A 及び C1B の試料を

合わせた試料

4.10

  一連耐候性

4.10.1

  初期測定

静電容量

4.10.2

  高温

温度:カテゴリ上限温度

試験時間:16h

外観

損傷がなくまた電解質の漏

れがない。

4.10.3

  温湿度サイクル

(12+12 時間サイク

ル)

,最初のサイクル

4.10.4

  低温

温度:カテゴリ下限温度

試験時間:2h

外観

損傷がなくまた電解質の漏
れがない。

4.10.5

  減圧(個別規格で要

求がある場合)

気圧:8.5kPa

4.10.5.3

  中間測定

外観

外装に破損,フラッシュオー
バ又は著しい変形がない。

4.10.6

  温湿度サイクル

(12+12 時間サイク
ル)

,残りのサイクル

4.10.7

  封止(個別規格で要

求がある場合)

方法:...

選定した方法による。

4.10.8

  最終測定

外観

損傷がなくまた電解質の漏

れがない。 
表示が明りょうである。

漏れ電流

初期規定値

静電容量

C

C

長寿命等級:

4.10.1

の測定値に対する

5%

及び

4.3.1

又は 4.6.1 のどちらか

適用される測定値に対す

8%

一般等級:

4.10.1

の測定値に対する

12%

損失角の正接

初期規定値の 1.15 倍


9

C 5101-15-1 : 1998

試料数及び合格判定

要求性能

個数(

備考 3.参照)

備考 1.参照)

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p n  c 

副群 C2 D

6

9

1

4.11

  高温高湿

(定常)

4.11.1

  初期測定

静電容量

4.11.2

  最終測定

外観

損傷がなくまた電解質の漏
れがない。

表示が明りょうである。

漏れ電流

初期規定値

静電容量

C

C

長寿命等級:

4.11.1

の測定値に対する

5%

一般等級:

4.11.1

の測定値に対する

12%

損失角の正接

初期規定値の 1.15 倍

外部絶縁の絶縁抵抗

(適用する場合)

100M

名部絶縁の耐電圧 
(適用する場合)

絶縁破壊又はフラッシュオ
ーバがない。

副群 C3 D

3

24

1

4.12

  耐久性

試験時間:...h

試験温度:...℃

(適用する場合)

試験電圧:...V

試験後の放置時間:16h

4.12.1

  初期測定

静電容量

4.12.3

  最終測定

外観

損傷がない。 
表示が明りょうである。

漏れ電流

初期規定値の 1.25 倍

静電容量

4.12.1

の測定値に対する

C

C

*

適用する場合

損失角の正接

初期規定値の 1.3 倍


10

C 5101-15-1 : 1998

試料数及び合格判定

要求性能

個数(

備考 3.参照)

備考 1.参照)

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p n  c 

副群 C4A D

12

6

1

4.13

  サージ

サイクル数:1 000

温度:...℃

保護抵抗:

1 000

Ω±10%

充電時間:30s

放電時間:5min30s

4.13.1

  初期測定

静電容量

4.13.3

  最終測定

漏れ電流

初期規定値

静電容量

4.13.1

の測定値に対する

%

5

C

C

損失角の正接

初期規定値の 1.15 倍

副群 C4B D

12

6

1

1

4.14

  逆電圧

      (適用する場合)

逆極性に 125h,...V を定格温度

で,引き続いて正極性に 125h
定格電圧を定格温度で印加す
る。

4.14.1

  初期測定

静電容量

4.14.3

  最終測定

漏れ電流

初期規定値の 1.25 倍

静電容量

4.14.1

の測定値の

%

10

C

C

損失角の正接

初期規定値の 1.15 倍

副群 C5 D

6

15

1

4.15

  高温及び低温特性***

コンデンサを各温度段階で測
定する。

段階 1:20℃

漏れ電流

静電容量

損失角の正接

インピーダンス*(段階 2 と
同じ周波数)

比較値として使用する。

段階 2:カテゴリ下限温度

静電容量

C

C

...%**

損失角の正接*

...**

インピーダンス*

...

**

段階 3:定格温度

漏れ電流

...

µA**

静電容量

C

C

...%**

損失角の正接*

...**

段階 4:カテゴリ上限温度

漏れ電流

...

µA**

静電容量

C

C

...%**

損失角の正接*

...**


11

C 5101-15-1 : 1998

試料数及び合格判定

要求性能

個数(

備考 3.参照)

備考 1.参照)

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p n  c 

4.16

  充放電

    (要求がある場合)

温度:20℃

サイクル数:10

6

充電時間:0.5s

充電抵抗:...

放電時間:0.5s

放電抵抗:...

4.16.1

  初期測定

静電容量

4.16.3

  最終測定

外観

損傷がなくまた電解質の漏
れがない。

静電容量

4.16.1

の測定値に対する

%

10

C

C

損失角の正接

初期規定値

*

適用する場合

**

表 IIB による。

***

試験を

群 B2 で行う場合は適用しない。


12

C 5101-15-1 : 1998

電子部品 JIS 原案作成第 1 委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立工業技術センター

中  西  忠  雄

防衛庁装備局

岩  田      武

村  岡  桂次郎

竹田原  昇  司

通商産業省機械情報産業局電子機器課

藤  井  隆  宏

工業技術院標準部電気規格課

福  原      隆

沖電気工業株式会社

勝  田  明  彦

株式会社ケンウッド

山  本  克  己

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

清  水  正  弘

日本電気株式会社

大  平  昌  司

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

山  本  佳  久

三菱電機株式会社

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

白  井  洋  一

日通工株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

川  井  一  成

ルビコン株式会社

曽我部  浩  二

株式会社村田製作所

秦      考  生

松下電子部品株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

会  田      洋

東光株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

高  梨  健  一

社団法人日本電子機械工業会

JIS C 5101-15 (JIS C 5142)

分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

(委員)

北  島  義  正

日本電気株式会社

高  久  侑  也

エルナー株式会社

山  内  良  夫

株式会社高純度物質研究所

井  二      仁

三洋電機株式会社

鵜  沢  一  夫

ニチコン株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

飯  田  和  幸

日立エーアイシー株式会社

山  崎      正

富士通東和エレクトロン株式会社

栗  林  孝  志

松下電子部品株式会社

小  松  間兵衛

マルコン電子株式会社

村  岡  桂次郎

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

高  梨  健  一

社団法人日本電子機械工業会