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C 5954-1

:2008 (IEC 62150-1:2005)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

2

3

  用語及び定義

2

4

  標準環境条件

3

5

  図記号及び用語

3

6

  安全

4

7

  校正

4


C 5954-1

:2008 (IEC 62150-1:2005)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会 (OITDA) 及び

財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日

本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 5954

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5954-1

第 1 部:総則

JIS

C

5954-2

第 2 部:ATM-PON 用光トランシーバ


日本工業規格

JIS

 C

5954-1

:2008

(IEC 62150-1

:2005

)

光伝送用能動部品−試験及び測定方法−

第 1 部:総則

Fiber optic active components and devices-

Test and measurement procedures-Part 1 : General and guidance

序文

この規格は,2005 年に第 1 版として発行された IEC 62150-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。

この規格で規定する測定方法には,光能動部品の性能に関する要求事項は含まない。試験下にある光能

動部品に対する詳細な規格仕様は,許容する限界値を定義する。性能規格又は納入仕様書を作成するとき

は,技術的な面及び経済的な面を考慮して,関連する能動部品に必要な試験だけを規定しなければならな

い。

この規格は,この後に続く個別部品の試験及び測定方法の規格に対する総則である。

注記 1  対応国際規格群である IEC 62150 シリーズは,光能動部品に関する環境試験方法及び測定方法

に関する基本的な事項を規定している。この規格群は,環境試験方法及び測定方法に対する統一性及

び再現性を実現することを目的としている。ここで,環境条件及び環境試験とは,光能動部品の使用

状態,輸送状態及び保管状態での性能を評価する環境条件を意味し,性能試験とは,光能動部品の物

理特性及び光学特性を評価するのに不可欠であり,かつ,環境条件及び/又は環境試験に関する影響

の測定前,測定中及び測定後に実施する測定を意味する。

注記 2  光能動部品に関する性能標準は IEC 62149 シリーズで規定され,測定方法は IEC 62150 シリー

ズで規定されている。各測定方法は,変更,改版又は廃止のときに他の規格に影響を与えないように,

それぞれが独立した規格として制定されている。しかし,参照する他の標準が改版されている場合が

あることに注意する必要がある。

1

適用範囲

JIS C 5954

の規格群は,光能動部品が目的とする商用での使用時に発揮する性能を評価するために,よ

り厳しい条件で設定された性能試験方法の規格群である。

この規格群は,光伝送用能動部品の個別規格を決めるための共通的,かつ,再現性のある環境試験方法

及び測定方法について規定する。これらの試験方法及び測定方法は,国際的な技術的経験及び判断に基づ

いており,次に示すような光能動部品の性能に関する情報を提供することを意図している。

a)

温度,気圧,湿度,機械的ストレス若しくは他の環境条件又はこれらの複合した条件の許容範囲内で


2

C 5954-1

:2008 (IEC 62150-1:2005)

使用するときの能力

b)

保存時及び輸送時の耐力

c)

規定された光学性能レベルに適合する能力

この規格群で規定する試験に関しては,サンプル部品又は装置を用いた試験が可能である。製造ロット

の総合的な品質を評価するためには,適切な抜取方法に従って試験を実施する必要があり,必要であれば

適切な追加試験を実施してもよい。

この規格群は,実施する試験を決める詳細仕様,それらに要求される厳しさの度合い,試験の順序(順

序が意味をもつ場合)

,許容する性能限界などを組み合わせて使用しなければならない。

注記 1  光伝送用能動部品には,現在 IEC 62007 シリーズ,IEC 62148 シリーズ及び IEC 62149 シリ

ーズがある。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 62150-1 : 2005

,Fibre optic active components and devices−Test and measurement procedures−

Part 1 : General and guidance (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示

す。

2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 6186

  光ファイバ用光パワーメータ校正方法

注記  対応国際規格:IEC 61315 : 1995,Calibration of fibre-optic power meters (IDT)

JIS C 6802

  レーザ製品の安全基準

注記  対応国際規格:IEC 60825-1 : 2001,Safety of laser products−Part 1 : Equipment classification,

requirements and user's guide (IDT)

JIS C 6803

  レーザ製品の安全−光ファイバ通信システムの安全

注記  対応国際規格:IEC 60825-2 : 2004,Safety of laser products−Part 2 : Safety of optical fibre

communication systems (IDT)

IEC/TR 61930

,Fibre optic graphical symbology

IEC/TR 61931

,Fibre optic−Terminology

IEC 62007 (all parts)

,Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications

IEC 62148 (all parts)

,Fibre optic active components and devices−Package and interface standards

IEC 62149 (all parts)

,Fibre optic active components and devices−Performance standards

3

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

3.1

試験  (test)

供試品をある環境条件にさらすための一連の手順,測定手順又は一連の条件。通常は,次の各段階で構

成する(環境条件には制限されない。)。


3

C 5954-1

:2008 (IEC 62150-1:2005)

a)

前処理(必要に応じて)

b)

初期測定(必要に応じて)

c)

供試条件(必要に応じて)

d)

後処理(必要に応じて)

e)

最終測定(供試条件及び/又は後処理中に中間測定が要求されることがある。

3.2

前処理  (pre-conditioning)

供試品の試験前の履歴の影響を取り除いたり,又は部分的に中和することを目的とした供試品の処理。

前処理が必要な場合は,これが最初の試験手順となる。

3.3

供試条件  (conditioning)

環境条件が供試品に及ぼす影響を調べるために,供試品が置かれる規定の環境条件。

3.4

後処理  (recovery

供試条件に置いた後の供試品の特性を測定するに先立って安定化するための処置。

3.5

供試品  (specimen)

この規格の手順に従って測定することを規定した単一の部品,装置又は他の品目。被試験品又は DUT

(Device Under Test)

と表すこともある。

3.6

試料  (sample)

無作為に又は他の決められた方法に従って,多数の試料を代表することを目的として,その中から選別

された供試品の集まり。

3.7

測定手順  (measurement procedure)

独立した測定又は測定の一部として,決められた条件下で行われる測定の実施方法。

4

標準環境条件

様々な設備で行う測定及び試験から得られるデータの適切な相関関係を保証するために,標準大気条件

は,決められた範囲内に維持する必要がある。特に指定がない限り,測定及び試験は,

表 に示す大気条

件の下で行う。場合によっては,特別な環境条件が必要になったり,性能標準で規定することがある。

なお,温度及び湿度の変動は,一連の測定中では最小限に維持するものとする。 

表 1−測定時の標準環境条件

温度

相対湿度

%

気圧

kPa

18

∼28 

25

∼75 

86

∼106 

5

図記号及び用語

光学測定の手順の説明及び準備のために用いる用語は,IEC/TR 61931 を使用し,図記号は,適用可能で

あれば IEC/TR 61930 から選択する。


4

C 5954-1

:2008 (IEC 62150-1:2005)

6

安全

レーザ光を取り扱う光学測定の実施に対する注意書きは,JIS C 6803 に従う。光学部品又は光学装置は,

危険な放射光を発生する可能性がある。放射光は,次の状況で発生する。

a)

光源部分

b)

送信システムの設置作業時,保守作業若しくは意図的な中断時又は故障若しくは不慮の中断時

c)

測定中

危険箇所の評価,注意書き及び製造業者の要求事項に関する関連規格として,JIS C 6802 及び JIS C 6803

がある。他の安全面に関しては,適用可能な測定方法及び/又は他の標準を参照する。

7

校正

この規格で規定するすべての光学測定は,校正された装置を用いて行う必要がある。国際標準又は国家

標準(例えば,JIS C 6186)を採用しなければならない。校正体系は,JIS がある場合,それに従わなけれ

ばならない。

校正用の標準が存在しない場合,試験を実施する製造業者又は試験所は,試験装置の測定確度について

の技術的裏付けを開示する必要がある。


5

C 5954-1

:2008 (IEC 62150-1:2005)

参考文献  IEC 60617-DB : 2002, Graphical symbols for diagrams

ISO 1101

,Technical drawings−Geometrical tolerancing−Tolerancing of form, orientation, location

and run-out

−Generalities, definitions, symbols, indications on drawings