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C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人  電子情報技術産業協会(JEITA)か

ら,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 61076-2-001:2001,Connectors for

electronic equipment - Part 2-001

:  Circular connectors - Blank detail specification を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5401-2-001

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)新規試験及び追加試験段

JIS C 5401

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5401-1 

第 1 部:品目別通則−能力認証

JIS C 5401-2 

第 2 部:品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-2-001 

第 2-001 部:丸形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-3 

第 3 部:品種別通則−角形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-3-001 

第 3-001 部:角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-4 

第 4 部:品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-4-001 

第 4-001 部:プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-5 

第 5 部:品種別通則:インラインソケット−品質評価付(予定)

JIS C 5401-5-001 

第 5-001 部:インラインソケット−品質評価付−ブランク個別規格(予定)


C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

目  次

ページ

序文  

1

1.

  一般情報  

3

1.1

  適用範囲  

3

1.2

  コンタクト数又はコンタクトキャビティ数  

3

1.3

  定格及び特性  

3

1.4

  引用規格  

4

1.5

  表示  

4

1.6

  形名  

6

1.7

  発注情報  

6

2.

  技術情報  

8

2.1

  定義  

8

2.2

  形状及び類似品の調査  

8

2.3

  用途に関する情報  

8

2.4

  コンタクトアレンジメント  

10

3.

  図面及び寸法  

10

3.1

  一般事項  

10

3.2

  等角投影図及び共通の機構  

10

3.3

  結合情報  

12

3.4

  固定形コネクタ  

12

3.5

  可動形コネクタ  

14

3.6

  アクセサリ  

14

3.7

  固定形コネクタに関する取付情報  

14

3.8

  可動形コネクタに関する組立情報  

14

3.9

  ゲージ  

16

4.

  特性  

18

4.1

  耐候性カテゴリ  

18

4.2

  電気的特性  

18

4.3

  機械的特性  

20

5.

  試験計画  

22

5.1

  一般事項  

22

5.2

  試験計画  

24

6.

  品質評価手順  

47

附属書 A(規定)新規試験及び追加試験段  

49


日本工業規格

JIS

 C

5401-2-001

:2005

(IEC 61076-2-001

:2001

)

電子機器用コネクタ−

第 2-001 部:丸形コネクタ−

ブランク個別規格

Connectors for electronic equipment

Part 2-001: Circular connectors

−Blank detail specification

序文  この規格は,2001 年に第 1 版として発行された IEC 61076-2-001:2001,Connectors for electronic

equipment

−Part 2-001:Circular connectors−Blank detail specification を翻訳し,技術的内容及び規格票の様

式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格について  このブランク個別規格は,品種別通則  JIS C 5401-2 の補足規格であり,丸形

コネクタの個別規格のブランク様式及び手引きを備え,個別規格の表現を統一するために用いる。

このブランク個別規格の適用範囲及び定義については,JIS C 5401-1 の 1.2(規格について一般的に考慮

する事項)及び JIS C 5401-2 の 1.1(適用範囲)による。

また,個別規格の作成に当たっては,JIS C 5401-1 の 1.2.3(個別規格)も考慮することが望ましい。


2

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

以下に個別規格として推奨する設計書を示す。これは,個別規格の冒頭頁に記載することが望ましい情

報を手引として示す(IEC Guide 102  参照)

個別規格の適用範囲及び定義については,JIS C 5401-1 の 1.2.3(個別規格)による。

個別規格の冒頭頁となる下の表にある括弧内の数字は,次に示す情報と対応している。

a) 

個別規格の識別

(1) 

個別規格案を管理する国内標準化機関の名称。

(2)

個別規格の日本工業規格(以下,JIS という。

)番号及び発効年

(3)

品目別通則の JIS 番号及び発効年

(4)

ブランク個別規格の JIS 番号及び版

b) 

コネクタの識別

(5)

コネクタの形式についての要約説明

(6)

コネクタの代表的な構造に関する情報(

例  当該コネクタがパネルへの取付けに適しているか否かを

明記する。

(7)

コネクタを明確に識別しうる外形図(等角投影図又は同様な投影図が望ましい。

(8)

個別規格に規定する性能水準及び評価水準に関する情報

(9)

異なる形式のコネクタについて対比できる最重要特性に関する参考データ

備考

これらの情報の中には,表形式にすると都合のよいものがある。


3

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

1

個別規格番号

2

品目別通則番号

(電子部品品質評価用)

3

ブランク個別規格番号

4

外形図

7

製品の要約説明

5

6

8

性能水準:

評価水準:

性能水準と評価水準との組合せ:

参考データ

9

備考  この個別規格で認証された部品の入手に関する情報は,品質認証電子部品一覧表に記

載する。

1. 

一般情報

1.1 

適用範囲  この規格は,丸形コネクタの品種に関する統一仕様,形式試験要求事項及び品質評価手

順について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD(修

正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 61076-2-001:2001

,Connectors for electronic equipment−Part 2-001:  Circular connectors - Blank

detail specification (IDT)

1.2 

コンタクト数又はコンタクトキャビティ数

1.2.1 

固定形コネクタ用リア取付け又はパネル取付け

1.2.2 

固定形,フロント又はリアリリース用コンタクトの取付け

1.3 

定格及び特性  定格電圧,電流容量,絶縁抵抗,耐候性カテゴリ,沿面及び空間距離


4

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

1.4 

引用規格  ここに示す規格に加えて,他の文書を参照することが必要になる場合がある。その場合

には,関連文書を一覧表にすることによって,引用規格の適用範囲を拡大する。

JIS C 5401-1

及び JIS C 5401-2 で既に規格が列記されている場合には,個別規格の 1.4 で繰り返す必要はない。

1.5 

表示  コネクタ及び包装の表示は,JIS C 5401-1 の 2.6(表示)による。


5

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

1.4 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その

最新版(追補を含む)を適用する。

JIS B 0031

  製図−面の肌の図示方法

備考 ISO 

1302:1992

  Technical drawings−Method of indicating surface texture からの引用事項は,こ

の規格の該当事項と同等である。

JIS C 0010

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考 IEC 

60068-1:1988

  Environmental testing−Part 1 General and guidance が,この規格と一致して

いる。

JIS C 5401-1

  電子機器用コネクタ−第 1 部:品目別通則−能力認証

備考 IEC 

61076-1-am:1996

  Amendment−Connectors with assessed quality,for use in d. c.,low

frequency anabgue and in digital high speed data application

−Part1:Generic specification が,この

規格と一致している。

JIS C 5401-2

  電子機器用コネクタ−第 2 部:品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付

備考 IEC 

61076-2:1998

  Connectors for use in d.c.,low-frequency analogue and digital high speed data

applications

−Part 2: Circular connectors with assessed quality−Sectional specification が,この規

格と一致している。

JIS C 5402-1-100

  一般−試験一覧

備考 IEC 60512-1-100:2001   Connectors for electronic equipment − Tests and measurements −

Part1-100: General

−Applicable publications が,この規格と一致している。

IEC 60352-5:1995

  Solderless connections−Part 5: Solderless press-in connections−General requirements,

test method and practical guidance

1.5 

表示


6

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

1.6 

形名  この形名は,JIS C 5401-2 の 2.5(形名)に従って決定する。

例:

JIS C 5401 21XX

 L  L

NN

L

L

N

又は L

N

又は L   N  L

個別規格番号

コネクタの形状を表す文字

ハウジング又は本体のサイズを
表す文字

インサートアレンジメントを 
表す二けたの数字

コンタクトの形式を表す文字

M

F

H

ターミネーションの形式を表す文字

E

S

P

C

W

I

コンタクトの極性を表す文字

類似品(variant)コードを表す文字又は数字

性能水準(PL)及び評価水準(AL)を各々表す数字及び文字

1.7 

発注情報  この個別規格に従ってコネクタを発注する場合には,1.6 に規定した形名を用いる。


7

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

1.6 

形名

1.7 

発注情報


8

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

2. 

技術情報  個別規格には,コネクタの適切な使用に役立つ情報を記載する。個別規格をより深く理解

するために更に詳細な情報も記載する。

2.1 

定義  JIS C 5401-2 の 2.1(定義)に規定する定義に加え,コネクタ特有の用語は,個別規格で定義

することを推奨する。

2.2 

形状及び類似品の調査  個別規格が,ある範囲の形状及び/又は類似品に対して適用できる場合に

は,その範囲内での調査結果を表形式で個別規格に追加する。

表 は,これが形状及び類似品を規定する

際に適用できる場合には,追加及び/又は代替の詳細を含めるために修正してもよい。

備考  個別規格で用いる表は,一連番号にする。この規格における番号付けは,事例として用いてい

る。

2.3 

用途に関する情報  必要とする場合,コネクタの用途に関する規則及び推奨事項は,寸法情報が 3.

に十分に規定されていない場合には,個別規格に次の事項を規定する。

2.3.1.

部品を完全に備えたコネクタ(対)

2.3.2. 

固定形コネクタ

2.3.3.

可動形コネクタ

備考  可動形コネクタのカテゴリには,可動形カプラーコネクタを含める。カプラーコネクタは,同

コネクタの一部を構成するカップリング又はラッチングハードウェアをもつ。カップリングハ

ードウェアに関する情報は,必要に応じて,この箇条並びに 3.  及び 5.  に追加する。

2.3.4 

アクセサリ  コネクタを使用する上でアクセサリが必要な場合には,その特徴及び使用法の概要を,

個別規格に適宜規定する。

2.3.4.1 

特殊コンタクト  個別規格に規定するコンタクトと一緒に特殊コンタクトを使用する場合には,

“参考用”として規定し,特殊コンタクトに関する情報は,これらの特殊コンタクトに関する個別規格が

未発行である旨の事実を示す。

通常特殊コンタクトとは,高電流,高電圧,高周波,フィルタ又は光ファイバ用のリムーバブルコンタ

クトをいう。

2.3.4.2 

コーディングデバイス  コネクタの一部を構成していないコーディングデバイスを使用する場合

には,個別規格に個々の情報を規定する。

2.3.4.3 

取付用デバイス  コネクタの一部を形成していない取付用デバイスを推奨する場合には,これらの

デバイスに関する情報は,参考のためにだけ個別規格に規定する。

2.3.5 

シールディング/グランディング  コネクタ又はアクセサリの一部を構成するとみなすことのでき

ないシールディング及び/又はグランディング機構がある場合には,その情報は個別規格に規定する。

2.3.6 

ターミネーションの基本形式  各種のターミネーションが考えられる場合には,それらの使用に関

する情報を,個別規格に表形式で,規定する。

より詳細な寸法情報は,個別規格において固定形コネクタ及び可動形コネクタの寸法を示す箇所に規定

してもよい。

固定形コネクタと可動形コネクタとのターミネーションに大幅な相違がない場合には,むしろその情報

をこの箇条に規定した方がよい。


9

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

2.  

技術情報

2.1 

定義

2.2 

形状及び類似品の調査

  1  形状及び類似品

コネクタ形状及び

コンタクト数

形状を表す文字

2.3 

用途に関する情報

2.3.1 

部品を完全に備えたコネクタ(対)

2.3.2 

固定形コネクタ

2.3.3 

可動形コネクタ

2.3.4 

アクセサリ

2.3.4.1 

特殊コンタクト

2.3.4.2 

コーディングデバイス

2.3.4.3 

取付用デバイス

2.3.5 

シールディング/グランディング

2.3.6 

ターミネーションの基本形式


10

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

2.4 

コンタクトアレンジメント  コネクタインサートに対して各種のコンタクトの取付けが可能ではあ

るが,

それがコネクタの使用に影響を及ぼす場合には,

個別規格にその情報を図面又は表形式で規定する。

これらのアレンジメントは,個別規格の 1.6 に示す形名の適切な組合せによって規定する。

3. 

図面及び寸法  各種規格の比較を容易にするために,JIS C 5401-1 の 2.7.1(図面及び寸法)に基づく

図面情報の統一表現を推奨する。

図面及び寸法には次の事項を含める。

a) 

関連コネクタとの共通特性を含む基本設計が分かる等角投影図

b) 

固定形コネクタ

c) 

可動形コネクタ

d) 

結合情報

e) 

アクセサリ

f) 

固定形コネクタに関する取付情報

g) 

可動形コネクタに関する組立情報(適用する場合)

h) 

アクセサリ付コネクタに関する組立情報

i) 

試験ゲージ,プローブ及び試験パネル

3.1 

一般事項  オリジナル寸法が,ミリメートル又はインチを基にしているのかを個別規格に規定する。

図面は,第一角法又は第三角法で示すのかを個別規格に規定する。

レタリング方式は,JIS C 5401-1 の 2.7.1.1(レタリング方式)に規定するとおりとする。

次の文言を個別規格に追加する。

“コネクタの形状は,規定する寸法が影響を受けない限り,次に示す図面と相違してもよい。

実行可能な場合には,固定形コネクタと可動形コネクタとの寸法を対応させるために同一サイズの文字

を使用する。

3.2 

等角投影図及び共通の機構  等角投影図を作成し,その等角投影図には,共通の機構を含む設計上

の主要特性を示す(適用する場合)

寸法参照記号,寸法及び共通機構に関する規定は,表形式で表すと便利である(

表 参照)。


11

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

2.4 

コンタクトアレンジメント

3. 

図面及び寸法

3.1 

一般事項  コネクタの形状は,規定する寸法が影響を受けない限り,次に示す図面と相違してもよい。

3.2 

等角投影図及び共通の機構

  2  等角投影図及び共通の機構

寸法参照記号

寸法

共通の機構に関する記述


12

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

3.2.1 

共通の機構  個別規格に示すコネクタの形状に関連するすべての共通の機構について規定したもの

を含める。

規定してよいデータには,次の事項を含む。

a) 

データム点又はデータム線及びデータムに対する基準

b) 

固定形コネクタの取付孔の位置

c) 

固定形コネクタのターミネーションの位置

d) 

プリント配線板の位置

e) 

プリント配線板のグリッドの位置

f) 

外形寸法

g) 

カップリングの形状

h) 

カップリングのサイズ

i) 

固定形コンタクト又はリムーバブルコンタクト

j) 

ケーブルアウトレットの形式

3.2.2 

高さ寸法  多極コネクタをパネル又はプリント配線板上に取り付ける場合には,高さ寸法を個別規格

に規定する。

3.2.3 

奥行寸法  取付パネル若しくはプリント配線板の,エッジの位置又は,固定形コネクタと可動形コネ

クタとの相対位置については必要不可欠な情報を提供するために,奥行寸法を個別規格に規定する。

3.3 

結合情報  制限される要因の詳細は,適正な結合を保証する範囲内で,次に示す寸法データと関連

している。

3.3.1 

結合方向  規定する接触抵抗値が挿入方向に対して保証される範囲

3.3.1.1 

コンタクト高さ及び配列  異なったコンタクト高さ及びその配列に関する寸法のパラメータ(適用

する場合)

3.3.2 

傾斜角  適切な図面及び表の形で縦軸及び横軸を用いて表した最大許容傾斜角。ターミネーションの

寸法詳細(長さ,厚さ,対角線など)及びその所期の用途は,個別規格の 1.6 に示す形名の適切な組合せ

によって規定できる。

備考  明確さが保証される場合には,個別規格に図面を補助的に使ってもよい。

3.4 

固定形コネクタ

3.4.1 

寸法  個別規格には,主要寸法及び関連する幾何公差を表す固定形コネクタの外形図を示す。

明確にするため,寸法値は,すべての形状及び類似品に共通する寸法と,形状/類似品に特有な寸法と

に分け,表として規定してもよい。

コンタクト位置に関する表示の詳細

数字又は文字によってコンタクト位置を図面に規定する。

3.4.2 

ターミネーション  個別規格に,必要に応じて,ターミネーションの長さ,厚さ,及び対角線寸法

を規定する。


13

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

3.2.1 

共通の機構

3.2.2 

高さ寸法

3.2.3 

奥行寸法

3.3 

結合情報

3.3.1 

結合方向

3.3.1.1 

コンタクト高さ及び配列

3.3.2 

傾斜角

3.4 

固定形コネクタ

3.4.1 

寸法

3.4.2 

ターミネーション


14

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

3.5 

可動形コネクタ

3.5.1 

寸法  個別規格に,主要寸法及び幾何公差を含む外形図を規定する。

3.5.2 

ターミネーション  個別規格に,必要に応じて,ターミネーションの長さ,厚さ,及び対角線寸法

を規定する。

3.6 

アクセサリ  コネクタとともにアクセサリを使用する場合には,主要寸法を記入した外形図を個別

規格に規定する。

アクセサリは,取付用ハードウェア,コーディングデバイス,シールドコンタクト,大電流用コンタク

トなど,任意の形態をとり,通常は,コネクタに取り付けて供給しない。

アクセサリに関する情報は,コネクタの寸法詳細用として利用するものと同類の表形式データを盛込ん

だ外形図として表してもよい。

3.7 

固定形コネクタに関する取付情報

3.7.1 

プリント配線板への取付け  個別規格に,プリント配線板に必要とする孔パターンのサイズと位置,

及びコネクタの取付けに必要な取付孔のサイズを概略図で示す。

寸法表を付ける。

概略図は,その寸法表示に関して 3.4.1 で用いたものと同じ寸法基準を使用する。

公差付きの孔寸法を,ターミネーション及び取付孔の両方に関し,適切な幾何公差とともに規定する。

プレスインターミネーション用めっき付スルーホール寸法は,IEC 60352-5 による。

寸法表は,可能な限り,3.4.1 で用いたものと同じ順序で寸法を規定する。

3.7.2 

パネルへの取付け  個別規格に,必要とするパネル開口形状及び取付孔の位置とサイズを概略図で

示す。

パネル開口寸法の最小サイズを,取付孔に対するパネル開口の相対位置とともに規定し,寸法基準を,

3.4.1

で用いた基準と同一とする。

3.8 

可動形コネクタに関する組立情報  個別規格に,ケーブル,線及びスクリーンの被覆剥き長さ,並

びにバックシェル及びアクセサリの組立に関連する他の情報(例えば,締付けトルク値,組立の順序など)

を概略図で示す。


15

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

3.5 

可動形コネクタ

3.5.1 

寸法

3.5.2 

ターミネーション

3.6 

アクセサリ

3.7 

固定形コネクタに関する取付情報

3.7.1 

プリント配線板への取付け

3.7.2 

パネルへの取付け

3.8 

可動形コネクタに関する組立情報


16

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

3.9 

ゲージ

3.9.1 

サイジングゲージ及び保持力ゲージ  弾性コンタクトのサイジングを行い,保持力を測定するため

に必要なゲージ図面を個別規格に含める。

必要とする場合,ゲージ図面に,ゲージの材質,ゲージの最小硬度値,JIS B 0031 による表面の肌及び

適用する表面仕上げを規定する。

寸法及び公差は,摩耗の許容差を考慮して規定する。

サイジングゲージは,最大条件を,また,保持力ゲージは,最小条件を示す。

保持力ゲージの質量を規定する。

3.9.2 

耐久性,結合力/離脱力又は挿入力/引抜力用ゲージ  必要とする場合には,耐久性試験及び結合

力/離脱力又は挿入力/引抜力を測定するために必要なゲージ図面を個別規格に含める。

ゲージ図面に,ゲージの材質,JIS B 0031 による表面の肌及び適用する表面仕上げを規定する。

ゲージは,公称条件を示す。

3.9.3 

プローブ  プローブダメージ試験は,めすコンタクトだけに適用する。

試験プローブは,JIS C 5402-1-100  試験 16a の要求事項に従って個別規格に規定する。

3.9.4 

試験パネル(耐電圧試験用)  試験パネルの図面に,パネル開口の最小許容値,取付孔の位置とサ

イズ及びパネル厚さを規定する。

試験パネルは,適切な表面仕上げが施された導電性材料から製作する。


17

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

3.9 

ゲージ

3.9.1 

サイジングゲージ及び保持力ゲージ

3.9.2 

耐久性,結合力/離脱力又は挿入力/引抜力用ゲージ

3.9.3 

プローブ

3.9.4 

試験パネル(耐電圧試験用)


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C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

4. 

特性  規定した電気的及び機械的基本特性に関する情報を提示するために,試験及び測定の推奨方法

を表にし,必要に応じて,追加特性を個別規格に加えてもよい(

例  試験群 HP)。JIS C 5401-2 の 4.(試

験及び試験計画)参照。

4.1 

耐候性カテゴリ  コネクタの耐候性カテゴリを,JIS C 5401-2 の  2.2(耐候性カテゴリによる分類)

に従って個別規格に規定する。

個別規格に,耐候性カテゴリと関連のある二つ以上の性能水準を含めてもよい。

耐候性カテゴリと性能水準との関係は,次に示す表形式でその詳細を明らかにしてもよい。

  3  性能水準(例)

性能水準

耐候性カテゴリ

カテゴリ温度

高温高湿(定常)

(日)

低温

高温

1 55/125/56

−55 125

56

2 25/085/10

−25 85

10

4.2 

電気的特性

4.2.1 

沿面及び空間距離  沿面及び空間距離にかかわるパラメータを,例として,次に示す。

これらの寸法がコネクタの形状ごとに異なる場合には,その形状に対する参考値を規定する。沿面及び

空間距離の減少がコネクタの使用によって生じる可能性がある場合には,次に示す注記を個別規格に記載

する。

適用上の注意事項  許容定格電圧は,適用条件又は規定する安全性要求事項に依存する。沿面及び空間距

離は,使用する配線によって減少する場合があるので,十分に留意する。

定格電圧は,動作及び性能特性を参考にコネクタ製造業者が定めた電圧値である。この値を表に追加し

てもよい。

4.2.2 

耐電圧  個別規格に,次の事項を規定する。

a) 

コネクタは,3.9.4 に規定する試験パネルに取り付ける。

b) 

適用する試験方法(A,B 又は C のいずれか)

c) 

コンタクト対コンタクト間及びコンタクト対試験パネル間に印加する直流電圧又は交流電圧

(実効値)

この情報は,表形式で示してもよい。


19

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

4. 

特性

4.1 

耐候性カテゴリ

  3  性能水準

性能水準

耐候性カテゴリ

カテゴリ温度

高温高湿(定常)

(日)

低温

高温

4.2 

電気的特性

4.2.1 

沿面及び空間距離

表 4  沿面及び空間距離

コネクタ形状及びコンタクト数

形状を表す文字

沿面及び空間距離最小値

適用上の注意事項  許容定格電圧は,適用条件又は規定する安全性要求事項に依存する。沿面及び空間距

離は,使用する配線によって減少する場合があるので,十分に留意する。

4.2.2 

耐電圧  試験は,標準大気条件で,JIS C 5402-1-100  試験 4a による。


20

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

4.2.3 

電流容量  個別規格に,JIS C 5402-1-100 の試験 5b に示す試験手順に従って求めたコネクタ電流容

量曲線を規定する。試料,ケーブル/電線束の形式及びサイズは,5.1.4 に規定するとおりに準備する。

電流容量曲線の代わりに,最大動作温度と共に,電流容量曲線上に規定された温度での電流値を個別規

格に規定してもよい。

周囲温度及び最高温度を含む二つ以上の温度条件が設定できる場合,軽減値を表形式で示してもよい。

重要な値(

例  70  ℃における電流値)を軽減曲線に示す。

4.2.4 

接触抵抗  個別規格に,mΩ単位で接触抵抗の最大許容値を規定する。初期抵抗,試験後の抵抗及び

ターミネーションを含む抵抗を規定する(適用する場合)

。測定点は,5.1.1 の規定による。

4.2.5 

絶縁抵抗  個別規格に,次に示す事項を規定する。

a) 

コネクタを 3.9.4 に規定する試験パネルに取り付ける。

b) 

適用する試験方法(A,B 又は C のいずれか)

c) 

コンタクト対コンタクト間及びコンタクト対試験パネル間に印加する直流電圧値

d) 

初期及び試験後の絶縁抵抗の最小許容値(単位  MΩ)

情報は,表形式で示してもよいが,適切な順序で番号付けを行うものとする。

4.3 

機械的特性

4.3.1 

機械的動作  個別規格に,次の事項を規定する。

a) 

単位時間当たりの動作回数

b) 

動作速度

c) 

機械的動作回数

d) 

休止時間,結合又は非結合(標準の試験方法との相違)

個別規格に,動作回数と関連ある二つ以上の性能水準を含む場合には,機械的動作回数と性能水準との

関係を,表にその詳細を示すことによって明確化する。

4.3.2 

結合力及び離脱力(又は挿入力及び引抜力)  個別規格に次の事項を規定する。

a) 

結合力(又は挿入力)の最大許容値

b) 

離脱力(又は引抜力)の最小許容値

c) 

結合及び離脱の速度

コネクタが結合及び離脱動作を補助する機構をもつ場合には,通常,JIS C 5402-1-100  試験 13a(結合

力及び離脱力の測定)を適用する。

ロッキング機構又は類似機構の影響がない状態で測定を実施する場合には,通常,JIS C 5402-1-100  試

験 13b(挿入力及び引抜力の測定)を適用する。

個別規格に試験 13a 又は試験 13b のいずれを規定するかは,通常,コネクタの設計に依存する。

4.3.3 

インサート内のコンタクト保持  通常の使用中に発生する機械的ストレスに耐えるコンタクト保持

機構(存在する場合)の能力を評価するために,コンタクト保持力試験を実施する。

加える力及びその力を除去した後の軸方向の最大変位量を,個別規格に規定する。

4.3.4 

極性試験  誤結合防止機構の能力を評価するため,間違った組合せを,誤結合防止機構が防ぐことを

この試験により確認する(適用する場合)


21

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

4.2.3 

電流容量  試験は,すべてのコンタクトについて,JIS C 5402-1-100  試験 5b による。

70

℃における値を軽減曲線上に規定する。

4.2.4 

接触抵抗  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 2a による。

4.2.5 

絶縁抵抗  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 3a による。

4.3 

機械的特性

4.3.1 

機械的動作  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 9a による。

4.3.2 

結合力及び離脱力(又は挿入力及び引抜力)  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 13a 又は試験 13b に

よる。

4.3.3 

インサート内のコンタクト保持  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 15a による。

力を加えている間の軸方向の変位測定は,必要としない。

4.3.4 

極性試験  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 13e による。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


22

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5. 

試験計画

5.1 

一般事項  基本試験計画,中間試験計画又は全項目試験計画,試験段階番号及び追加試験の適用に

関する指針は,JIS C 5401-2 の 4.5(試験計画)による。

5.2

による試験群に属する試験段階の順序が,特定の形式又は形状に対して全く適さない場合には,規定

する順序を変更してもよいが[JIS C 5401-2 の 4.5(試験計画)参照]

,その順序については,個別規格に

規定する。

他に規定がない場合には,すべての試験は,JIS C 0010 又は  JIS C 5402-1 の当該規格群に規定する標準

大気条件下で実施する。個別規格に,コネクタ形状がどの試験順序に適用できるかを規定する。ほとんど

の試験計画は,コンタクト(ハウジング)がないコネクタには適用できない。

すべての試験順序を実施する上で必要な試料数は,表形式で規定する。

5.1.1 

接触抵抗測定の準備  個別規格に,接触抵抗の測定点を示す結合したコネクタの詳細を含める。

5.1.2 

動的ストレス試験の準備  個別規格に,取付具への取付方法,パネルの寸法,電線クランプの詳細

などの詳細を規定する。

5.1.3 

静的な力(軸方向)試験の準備  個別規格に,固定形コネクタの取付方法,試験ツールの寸法及び

コネクタと試験ツールとの相対位置の詳細を規定する。

5.1.4 

試料の配線  個別規格に,選択した試験方法で絶縁抵抗,耐電圧及び電流容量が実施できるように

試料の配線方法を規定する。また,電線のサイズ(又は定格)及びその絶縁体の種類を規定する。

無はんだターミネーションの試験に用いる試料の配線に関しては,個別規格に,IEC 60352 の当該規格

群に従ってターミネーションの配線方法を規定する。


23

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5. 

試験計画

5.1 

一般事項  この試験計画は,満足しなければならない要求事項だけでなく実施する試験及び順序も規

定する。

他に規定がない場合には,結合したコネクタで試験を実施する。試験が完了するまでの間,コネクタの

特定の組合せを変えないよう注意する(

例  ある試験に関してコネクタを非結合にする必要がある場合で

も,その後の試験に対しては,同じコネクタを結合する。

以下,結合したコネクタを試料という。

5.1.1 

接触抵抗測定の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 2a による。

接触抵抗の測定は,規定するコンタクト数に対して実施する。以後実施する接触抵抗の測定も,同じコ

ンタクトで行う。

5.1.2 

動的ストレス試験の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 6a,試験 6b,試験 6c 又は試験 6d による。

5.1.3 

静的な力(軸方向)試験の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 8b による。

5.1.4 

試料の配線

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


24

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2 

試験計画  個別規格が二つ以上の性能水準(PL)をもつコネクタに適用する場合には,異なった試

験の厳しさ若しくは条件及び/又は要求事項を,適切な試験段階の下で,当該試験計画表に規定する。

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

BP5

機械的動作 9a

速度: 2 mm/s 以下

休止:10 秒(結合し
      た場合)

1 250

2 125

3 75

BP6

5.2.1 

基本試験計画  基本試験計画を適用する場合には,全項目試験計画と同様に,次に示す試験及び厳

しさ又は条件を各々の試験段階に適用する。

試験段階

a) 

試験 1a 及び試験 1b を適用するため,個別規格に次の項目を規定する。

−  検査する特性

−  ゲージの詳細(適用する場合)

−  測定機器の形式及び測定倍率

−  欠陥の基準

b) 2.1

又は 2.2  試験 2.1 又は 2.2 のどの試験を選択するかは,コネクタの設計に依存する。

結合及び離脱動作を補助する機構がある場合には,試験 2.1 を選択する。この試験に対して最大速度

を“A”と規定する。2 mm/s  がこの測定の現実的な値である。

c) 

測定するコンタクト数を“B”と規定する。4.2.4 で示すとおり,初期接触抵抗の最大許容値を“C”

と規定する。

d) 4.2.5

で規定するとおり,絶縁抵抗を測定するために印加する電圧値を“D”と規定する。適用する試

験方法を“E”

,試料当たりのコンタクト使用数を“F”と規定する。4.2.5 で示すとおり,初期絶縁抵

抗の許容最小値を“G”と規定する。

e) 

試験方法“H”は,試料当たり“J”個のコンタクトを試験するために用いる。コンタクト対コンタク

ト間,コンタクト対試験パネル間に印加する耐電圧試験電圧を各々“K”及び“L”と規定する。

f) 

はんだ付け性試験の場合には,コネクタのターミネーションがはんだ付け工程のために設計されてい

るものを選択する。はんだ槽によるはんだ接続方法の場合には,ターミネーションが溶融はんだに浸

されている深さを,

“Q”秒間で“M”mm と規定する。はんだ耐熱性は,

“Q”秒間の規定がない場合

には,10 秒間試験する。はんだごてによるはんだ接続方法の場合には,はんだごてのサイズ“N”を

規定する。

g) 

該当する場合には,他の適切な接続試験を,全項目試験計画の試験群 GP のように,規定する試験(

JIS C 5401-2

及び IEC 60352 の当該規格群による試験)に追加するか又はそれと置き換える。


25

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2 

試験計画

5.2.1 

基本試験計画

  5  基本試験

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

1

一般試験

結合していない 
コネクタ

外観

寸法及び質量

1a

1b

正常な動作を阻害
するような欠陥が

あ っ て は な ら な
い。沿面及び空間
距 離 を 含 む 寸 法

は,各々の規定値
に適合しなければ
ならない。

2.1

2.2

速度“A”mm/s  以下

結合力及び離脱力

又は

挿入力及び引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

4.3.2

参照

3

5.1.1

に示す測定点

試料当たりのコンタク
ト数“B”

接触抵抗(ミリボ

ルトレベル法)又
は接触抵抗(規定
電流法)

2a

又は

2b

“C”mΩ以下

4.2.4

参照

4

試験電圧“D”V 
試験方法“E” 
試料当たりのコンタク

ト数“F”

絶縁抵抗 3a

“G”MΩ以上

4.2.5

参照

5

試験方法“H”

試料当たりのコンタク
ト数“J” 
コ ンタクト 間“ K”V

d.c./r.m.s.

又は

コンタクト対試験パネ

ル間“L”V d.c./r.m.s.

耐電圧 4a

絶縁破壊又はフラ
ッシュオーバがあ

ってはならない。

4.2.2

参照

6.1

6.2

はんだ付け

又は

他 の 適 切

な 接 続 方

12a

∼12e *

浸せき深さ

“M”mm,又は,はん
だごてのサイズ“N” 
浸せき時間“Q”秒

接触抵抗(ミリボ

ルトレベル法)又
は接触抵抗(規定
電流法)

2a

又は

2b

4.2.4

参照

適用する場合には,他のターミネーション試験(

例  JIS C 5402-1-100 又は IEC 60352 の当該規格群による試

験)を適用する。


26

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2 

全項目試験計画

5.2.2.1 

試験群 P−予備試験

a) P1

基本試験 1 参照(以後,試験段階 1 と称する。

b) P2

加える最小力は,最大規定結合力の 1.5 倍とし,

“R”と規定する。

c) P3

最小力“S”N を規定する。

d) P4

基本試験 3 参照(以後,試験段階 3 と称する。

e) P5

基本試験 4 参照(以後,試験段階 4 と称する。

f) P6

基本試験 5 参照(以後,試験段階 5 と称する。

g) P7

ばく露時間は,各方向に対して 5 分間とする(個別規格の P7.1 に異なった規定がない場合)

。気

圧“T”パスカルを規定する。

備考 P4 及び P5 に関しては,コネクタ全体にわたる配線を避けるために方法及び試料当たりのコン

タクト数を決めることが望ましい。

h) P8

試料数“B4”

,結合速度“C4”mm/s,及び最小電気的接触長“D4”を規定する。試料の配線及び

取付方法についても規定する。

i) P9

残留磁気の最大値“U3”を規定する。コネクタに取り付ける必要があるアクセサリを明記する。

試料及び磁界の方向を規定する。

j) P10

“E4”に試験方法 A 又は試験方法 B を規定する。試験方法 B の場合には,印加電圧“F4”を規

定する。試料の準備についても規定する。


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C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2.2 

全項目試験計画

5.2.2.1 

試験群 P−予備試験  すべての試料は,次の試験を実施する。

  6  試験群 P

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号 

P

L

すべての

コネクタ形状

P1

一般試験 1

試験段階 1 参照

外観

寸法及び 
質量

1a

1b

試験段階 1 参照

P2

極性試験 13e  力“R”N

P3

リストリクテッ

ドエントリ

16b

力“S”N

P4

試験段階 3 参照

接触抵抗(ミリ
ボ ル ト レ ベ ル

法)又は 
接触抵抗(規定
電流法)

2a

又は

2b

試験段階 3 参照

P5

(

1

試験段階 4 参照

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

P6

(

3

試験段階 5 参照

耐電圧

試験段階 5 参照

P7

P7.1

封 止 ( 気 密 性 )
(全体エアーリ

ーク) 
封 止 ( 気 密 性 )
(微少エアーリ

ーク)

14a

14b

各方向に 5 分 
気圧“T”パスカル

P8

電気的接触長 1c

試料数“B4” 
結合速度“C4”mm/s

最 小 電 気 的 接 触 長
“D4”

P9

残留磁気 24a

残 留 磁 気 の 最 大 値
“U3” 
最大暴露時間“V3”

P10

コンタクトの保
護効果(スクー

ププルーフ)

1d

試験方法“E4”(試
験方法 B の場合の

印加電圧は“F4”

(

1

個別規格に規定する場合には,絶縁抵抗は,一つのターミネーションと最小スペーシングをもつハウジングと

の間についても測定する。

(

2

個別規格に規定する場合には,試料は,−25∼55℃間の温度で 2 時間放置した後に試験する。

(

3

適用する場合には,個別規格に,この試験に対してコネクタを結合するか否かを規定する。

試料は,一つのターミネーションと最小のスペーシングをもつハウジングとの間に試験電圧を印加する。

(

4

適用する場合には,温度は,350℃±5℃とする。

(

5

適用する場合には,試験するコンタクト数が 5 以下のとき,各コンタクトの動作回数は 10 回とする。コンタク

ト数が 6 以上のときは 3 回とする。加える力は,最初と最後の回数のときに測定する。

(

6

配線した非結合の試料を室温での体積比で 0.010∼0.015%のオゾン濃度を含む雰囲気中に 2 時間放置する。


28

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.1 

試験群 P−予備試験(続き)


29

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

試料は,更に適切な数の群に配分する。各群におけるすべてのコネクタは,個別規格に規定するとおり,

かつ,その与えられた順序でその後の試験を実施する。ただし,個別規格に試験順序に関する変更要求及

びコネクタの追加特性を検証するための新規試験の追加がある場合にはその限りでない。

試料を,10 の群に分ける(4.1 参照)

。各群におけるすべてのコネクタは,その関連する群のために規定

した試験を実施する。


30

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.2 

試験群 AP−動的/耐候性

AP1

基本試験計画の試験段階 2.1 又は 2.2 参照。

AP2

この試験は,接触を確実にする弾性機構をもち,丸形おすコンタクト用として使用する弾性コン

タクトだけに適用できる。適用する場合には,加える曲げモーメント値を規定する。この試験は,

試料当たり“U”コンタクトについて実施し,その後にゲージ保持力を測定する。この試験が適

用できない場合でも,ゲージ保持力を測定する。

AP4

はんだ付け性試験は,

コネクタのターミネーションの設計に基づくはんだ付け工程から選択する。

はんだ槽に基づくはんだ接続方法。ターミネーションが溶融はんだに浸されている深さを“M

mm

と規定する。又は,はんだごてに基づくはんだ接続方法。はんだごてのサイズを“N”とする。

個別規格に“Q”秒間の規定がない場合には,10 秒間の浸せき中にはんだ耐熱性試験を実施する。

又は,0 サイズ“N”のはんだごてを用いて,はんだ耐熱性試験を実施するか,又は基本試験計画

の試験段階 6.2 による。

AP5

コンタクトに加える軸方向の力を“T

,その力を除去した後のコンタクト(適用する場合)の許

容変位を“V”と規定する。この試験後に外観を検査する。

AP6

回転数又は落下回数“V”を規定する。また,必要に応じて,コネクタの方向も規定する。

AP7 

軸方向の力“W”N を規定する。

AP8

加えるトルク“X”N・m  を規定する。

AP9

試験中に加える加速度値“Y”

,試験中に三軸に等分に加えるバンプの総数“A1”を規定する。デ

ィスターバンスの最大時間“Z”をマイクロ秒又はナノ秒で規定する。この試験に引き続いて外

観を検査し,接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

。試料を各群ごとに十分な数に配分する(5.1 参照)

各群におけるすべてのコネクタは,その関連する群のために規定した試験を実施する。

AP10 

コネクタに加える周波数範囲の最小値及び最大値を各々“Q3

R3”として規定する。変位振幅

値及び加速度振幅値を各々“S3

T3”として規定する。また,持続時間については,各方向に

対する掃引サイクル数を“U3”として規定する。ディスターバンスの最大時間 “Z“を規定する。

  この試験に引き続いて外観を検査し,接触抵抗の変動(試験 2c)を測定する。この試験の場合

には,試料及び試験するコンタクトの取付け及び配線方法を規定する。


31

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2.2.2 

試験群 AP−動的/耐候性

  7  試験群 AP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

AP1

プ ロ ー ブ ダ メ

ージ

16a

曲げモーメント“S3

Nm

,試料当たりのコ

ンタクト数“T3

4.3.2

参照

AP2

ゲ ー ジ 保 持 力

( 弾 性 コ ン タ
クト)

16e

試料当たりのコンタ

クト数“U

ゲージを保持しなけ
ればならない。

ゲージを保持しな
ければならない。

AP3

(

2

結 合 力 及 び 離
脱力

13a   4.3.2

参照

AP4

はんだ付け性

12a

又は

12b

又は

12c

浸せき深さ“M”mm
又は,はんだごての

サイズ“N

浸せき時間“Q”秒

AP5

(

3

試験段階 5 参照

4a

試験段階 5 参照

AP6

機械的 
強度衝撃

7b

回転数(落下)

V

AP7

イ ン サ ー ト 内
の コ ン タ ク ト
保持

15a

軸方向の力“W”N

AP8

ハ ウ ジ ン グ 内
の イ ン サ ー ト
保持(ねじれ方

向)

15c

トルク“X”N・m

外観 1a

外観検査リスト及
び倍率

AP9

バンプ 6b

Y”m/s

2

バンプの総数“A1”,
試験の準備について
は 5.1.2 による。

コ ン タ ク ト デ
ィ ス タ ー バ ン

2e

ディスターバンス
時間 
Z”μs 以下

AP10

正弦波振動

又は

ランダム振動

6d

6e

周波数範囲“Q3”∼
R3”Hz,

変位振幅“S3”及び
加速度振幅“T3

掃引サイクル数“U3

接 触 抵 抗 の 変

動(試験中)

2c

接触抵抗の変動限

度“S4


32

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き(続き)

AP11

正弦半波パルスの加速度の厳しさ値を“B1

,印加時間を“C1”として規定する。繰返し数“V3”

を規定する。

ディスターバンスの最大時間“Z”を規定する。

この試験に引き続いて外観を検査し,接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

AP12 

正弦半波パルスの加速度の厳しさ値を“D1

,印加時間を“E1”ミリ秒として規定する。

ディスターバンスの最大時間“Z”を規定する。

この試験に引き続いて外観を検査し,接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

AP13

低温カテゴリ及び高温カテゴリの温度を,各々“F1

G1”とし,また,各温度での暴露時間  t

=“H1”分,並びに低温及び高温の両方に対するサイクル数“J1”も規定する。

この試験に引き続いて絶縁抵抗,耐電圧及び外観検査を実施する。

AP14 5.1.3

に示すとおりに準備する試料数“K1”を規定する。加える力の(増加)最大速度“L1”N/s,

加える最大力“M1”N,持続時間“N1”を規定する。

AP15 5.1.3

に示すとおりに準備する試料数“K1”を規定する。加える力の(増加)最大速度“L1”N/s,

加える最大力“M1”N,持続時間“N1”を規定する。

AP16 

P7

及び P7.1 参照。この後,外観を検査する。


33

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

  7  試験群 AP(続き)

試験

段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号 

PL

すべての

コネクタ形状

AP11

衝撃 6c

正弦半波,

B1”m/s

2

C1”ms,

サイクル数“V3

コンタクトディス
ターバンス

2e

ディスターバンス時

Z”μs 以下

AP12

加速度

(定常)

6a

正弦半波,

D1”m/s

2

持続時間“E1”ms

AP13

温度急変 11d

F1”∼“G1”℃,

t

=“H1”分,

J1”サイクル,

結合したコネクタ

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

AP14

静的な力,
水平方向

8a

5.1.3

に従って準備

した試料数“K1

加 え る 力 の 最 大 増
加速度“L1”N/s,
最大力“M1”N,

持続時間“N1”秒

AP15

静的な力,

軸方向

8b

5.1.3

に従って準備

した試料数“K1

加 え る 力 の 最 大 増
加速度“L1”N/s,

最大力“M1”N, 
持続時間“N1”秒

封止(気密性)

(全

体エアーリーク)

封止(気密性)

(微

少エアーリーク)

14a

14b

 P7

参照

AP16

外観 1a

試験段階 1 参照

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

接触抵抗(ミリボ
ルトレベル法) 
又は

接触抵抗(規定電
流法)

2a

2b

試験段階 3 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照


34

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き(続き)

AP17

一連耐候性試験は,

JIS C 5402-1-100

の試験 11a に規定する試験の数及び適切な測定からなってお

り,結合したコネクタにおいてこれを実施する。

AP17.1

温度は,

Q3”の間,

P1”と規定する。

AP17.2

供試条件付けが行われる温度槽の圧力を“Q1

,供試条件付けの時間を“S1”と規定する(5 分間

以外の場合)

AP17.3

この試験が実施される温度“T1”を規定する。

使用する試験類似品を“U1”とする。

この後に外観を検査してもよい。

AP17.4

温度“V1

,持続時間“W3”を規定する。

この後に外観を検査してもよい。

AP17.5

供試条件付けが行われる温度槽の圧力を“S1

,供試条件付けの時間を“T1”と規定する(5 分間

以外の場合)

AP17.6  AP17.3

参照。

AP18 

試験の持続時間“V1”及び試験液の組成“W1”を規定する。この試験に引き続いて絶縁抵抗,

接触抵抗,対電圧,結合力及び離脱力,並びに外観検査を実施する。

AP19

AP20

AP21

加える力“Y1

(及び加える個所)並びにその力の最大増加速度“Z1”を規定する。飼料の準備

及び取付方法について規定する。


35

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

  7  試験群 AP(続き)

試験

段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

AP17

一連耐候性 16a

結合したコネクタ

AP17.1

(

4

)

高温

P1”℃,

持続時間“Q3”時間

AP17.2

減圧

Q1”kPa,

S1

AP17.3

温 湿 度 サ イ ク
ル(最初のサイ

クル)

T1”℃

類似品“U1”

AP17.4

低温

V1”℃,

持続時間“W3”時間

AP17.5

減圧

Q1”kPa,

t

S1 

AP17.6

温 湿 度 サ イ ク

ル(残りのサイ
クル)

T1”℃

類似品“U1”

AP18

(

3

噴射水 14g

持続時間“V1”分

液体の組成“W1

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

接触抵抗(ミ
リ ボ ル ト レ

ベル法)又は
接触抵抗(規
定電流法)

2a

2b

試験段階 3 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

結 合 力 及 び
離脱力

13a   4.3.2

参照

外観 1a

試験段階 1 参照

AP19

コ ン タ ク ト 保
持機構,工具の

使 用 に 対 す る
耐久性

15h

×

コ ン タ ク ト

デ ィ ス タ ー
バンス

2e

ディスターバンス

時間 
Z”μs 以下

AP20

イ ン タ ー フ ェ
イ シ ャ ル シ ー
リング

14f

×

対電圧 4a

 (

5

AP21

ハ ウ ジ ン グ 内
の イ ン サ ー ト

保持(軸方向)

15b

加える力“Y1

加える力の最大増加

速度“Z1”N/秒

(

2

)

(

4

)

及び(

5

)

は,

表 の注参照。

備考  ×印は適用しない。


36

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性

BP1 

表 2  の注(

2

)

及び 4.3.2 参照。

BP2 4.3.1

に規定する総数値の半分の動作回数を“A2”と規定する。

動作速度及び休止時間(存在する場合)を,各々“B2

C2”と規定する。

BP3.1

持続時間“D2”時間

BP3.2

腐食環境に暴露する期間を“E2”として規定する。試料は,半分を結合,残りの半分を非結合と

する。腐食の厳しさ“F2”を規定する。

BP3.3

AP18

参照。

BP3.4 

プリント配線板用コネクタの場合には,

G2”の極性電圧は,適用しない。

供試条件を適用する期間を“H2”と規定する。

又は AP17.3 参照。

BP4 BP2

参照。ただし,規定動作回数の総数から試験した動作回数を差し引いた残りの動作回数を“J2

と規定する。ハウジング(シェル)の導通性の場合には,試料及び附属ケーブルの取付方法を規

定する。測定箇所を規定する。最大許容抵抗値を規定する。試験電流を“M4

,試験方法を“N4”

(試験 2b 又は試験 2c のいずれか)を規定する。

BP5 AP2

参照。

JIS C 5402-1-100

試験 16a(プローブダメージ)が適用できない場合には,ゲージ保持力を測定

する。

BP7

最大挿入力“E4”N,及び最大引抜力“F4”N を規定する。試料の準備,取付け及び配線につい

ても規定する。適切な挿入・引抜工具を明記する。

BP8

BP9

試験する試料数を“K1

,加える力の増加速度を“L1”と規定する。加える力“M1”,力を加え

ている時間“N1”を規定する。


37

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性

  8  試験群 BP

試験

段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-10

0

試験番号 

PL

すべての

コネクタ形状

BP1

(

2

結合力及び離

脱力

13a  4.3.2

参照

BP2

機械的動作 
(規定動作回数

の半分)

9a

動作回数“A2” 
速度“B2”mm/s 
休止時間“C2”秒又はサ

イクル/分(カップリン
グ機構の場合)

BP3

BP3.1

BP3.2

腐食,塩水噴霧

又は 
混合ガス流腐食

11f

又は

11g

持続期間“D2”日 
又は

E2”日 
試料の半分は結合,残り
の半分は,非結合にする。

BP3.3

BP3.4

一連耐候性 
又は

高温高湿 
(定常)

又は 
温湿度サイクル

11a

11c

又は

11m

AP17

参照。

又は

配線した試料 
極性電圧“G2”V 
H2”日

又は

AP19

参照

接触抵抗(ミ
リボルトレベ
ル法)又は

接触抵抗(規
定電流法)

2a

2b

試験段階 3 参

BP4

機械的動作(残
りの動作回数)

9a

BP2

参照。ただし,動作

回数“J2”

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参

ハウジング

(シェル)の

導通性

2f

試験電流“M4
試験方法“N4

耐電圧 4a

試験段階 5 参

BP5

(

2

結合力及び離
脱力(低温)

13a  4.3.2

参照

BP6

ゲージ保持力
(弾性コンタ
クト)

16e

BP7

(

5

コンタクトの挿
入,解放及び引

抜力 *

15d

最大挿入力“E4”N, 
最大引抜力“F4”N

BP8

インサート内の
コ ン タ ク ト 保

持,ケーブルの
回転 **

15e


38

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性(続き)


39

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

  8  試験群 BP(続き)

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-10

0

試験番号 

PL

すべての

コネクタ形状

BP9

静的な力 
(軸方向)

8b

試料数“K1” 
準備は 5.1.3 による。

加える力の最大増加速度
L1”N/s, 
加える力“M1”N,

力 を 加 え て い る 時 間
N1”秒

外観 1a

試験段階 1 参

照。

試験段階 P で試験するコンタクトに対しては適用しない。

** 

リムーバブルコンタクトにだけ適用する。

(

2

)

及び(

5

)

は,

表 の注参照。


40

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.4 

試験群 CP−耐湿性

CP1

最大電圧“L2”及び適用箇所を規定する。試験終了後の最小抵抗“K2”も規定する。

CP2 BP3.4

参照。ただし,試験期間は,

M2”とする。

この試験と同時に,次の試験を実施する。

−絶縁抵抗

−ハウジング(シェル)の導通性

−接触抵抗

−耐電圧

−結合力及び離脱力又は挿入力及び引抜力

−封止(気密性)

(全体エアーリーク)又は封止(気密性)

(微少エアーリーク)

−外観(非結合コネクタ)

−インサート内のコンタクト保持


41

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2.2.4 

試験群 CP−耐湿性

  9  試験群 CP  

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

CP1

浸せき,減圧 14e

最小抵抗“K2

最大電圧“L2

絶縁抵抗 3a

試験段階 4(

1

)参

CP2

高温高湿 
(定常)

11c

BP3.4

参照。

ただし,

試験期間“M2”日

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

ハウジング(シェ
ル)の導通性

2f   BP4

参照

接触抵抗(ミリボ
ルトレベル法)

又は 
接触抵抗(規定電
流法)

2a

又は

2b

試験段階 3 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

結合力及び離脱力

13a   4.3.2

参照

封止(気密性)

(全

体エアーリーク)
又は 
封止(気密性)

(微

少エアーリーク)

14a

14b

 P7

参照

外観 1a

試験段階 1 参照

インサート内のコ

ンタクト保持

15a   AP7

参照

(

1

)

は,

表 の注参照。


42

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.5 

試験群 DP−電気的負荷

DP1 AP13

の諸条件参照。

DP2 BP2

参照。ただし,動作回数は,

P2”とする。

DP3

最大負荷電流“R2”A,試験槽の時間“Q2”を規定する。

試験槽の温度は,コネクタの規定最大動作温度の 70%±5%に維持する。電流を印加し増加した後

に測定した試料の温度は,規定最大動作温度の 105%を超えてはならない。最低 2 時間の回復時間

がなければならない。

この試験の後,試験段階 4 に従って絶縁抵抗(高温)を測定する。

接触抵抗及び耐電圧についても実施する。

外観検査は,結合しないコネクタについて実施する。

DP4

加える力“S2”N を規定する。

この試験の後,次の試験を順次行う。

−エアリークに対する封止(気密性)

。AP17 参照。

−インターフェイシャルシーリング

−外観

DP5

塵の種類及び暴露時間を規定する。回復時間が必要な場合には,それを規定する。試験(又は回復

時間)の後,結合力及び離脱力を測定する。

DP6

コネクタの自由落下繰返し回数及びその落下高さを規定する。試験後に外観を検査する。


43

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2.2.5 

試験群 DP−電気的負荷

 10  試験群 DP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

DP1

温度急変 11d

AP13

参照

DP2

機械的動作 9a

BP2

参照。ただし,動作

回数は“P2

DP3

電気的負荷 
及び温度

9b

試験槽の時間“Q2

コ ン タ ク ト 負 荷 電 流

R2”A  以下, 
回復時間  2 時間以上,
試料の中心部に温度セ

ンサを取り付ける。

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

接触抵抗(ミ
リ ボ ル ト レ

ベル法)又は
接触抵抗(規
定電流法)

2a

2b

試験段階 3 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

DP4

コンタクト保
持機構及びシ
ールの耐久性

(メンテナン
ス,エージン
グ)

9d

加える力“S2”N

封 止 ( 気 密
性)(全体エ
アーリーク)

又は 
封 止 ( 気 密
性)(微少エ

アーリーク)

14a

14b

 P7

参照

イ ン タ ー フ

ェ イ シ ャ ル
シーリング

14f

外観 1a

試験段階 1 参照

DP5

砂じん 11h

塵の構成及びばく露時
間“S3”分

結 合 力 及 び
離脱力

13a   4.3.2

参照

DP6

自由落下 
(繰返し)

7a

落下回数“T2”及び落
下高さ“U2”m

外観 1a

試験段階 1 参照


44

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.6 

試験群 EP−機械的耐性

EP1

加える力“V2”N  を規定する。

EP2

線の種類“G4”及び圧着ツール“H4”を規定する(及び変形を示す,すべての読みの最大値)

EP3

この試験を適用する場合には,暴露する日数を規定する。この試験に引き続き,絶縁抵抗及び外観

を実施する。

EP4

試料数“R2

,接炎時間“S2

,接炎点(図示による)

,及び許容最大燃焼時間“T2”を規定する。

EP5

試料数,接炎時間,接炎点(図示による)

,及び許容最大燃焼時間を規定する。

EP5

供試条件の期間を“Q2”と規定する。

コネクタの製造に用いる材料が規定する試験をあらかじめ受け,既に合格していることを示す証拠書類

が,IEC 電子部品認証制度(IECQ)の場合であって,IEC に規定する国内監督検査機関(NSI;National

Supervising Inspectrate

)に提示できるときには,試験段階 EP4 及び EP5 を省略してもよい。

5.2.2.7 

試験群 FP−耐薬品性

FP1

液体の成分“B3”

,浸せきする時間“A3”及び液体の温度“C3”を規定する。この試験は,二種類

以上の液体を用いて行ってもよいが,その場合には,その旨を明確に規定する。この試験に引き続

いて次の試験を行う。

−結合力及び離脱力

−接触抵抗

−絶縁抵抗

−インサート内のコンタクト保持

−ハウジング内のインサート保持(軸方向)

−外観


45

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2.2.6 

試験群 EP−機械的耐性

 11  試験群 EP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号 

PL

すべての

コネクタ形状

EP1

ターミネーショ

ン強度

16f

試験 Ua1 及び Ua2,
試料当たり  6 ターミ

ネーション,

P2”N

EP2

圧着後のコンタ

クト変形測定

16g

線の種類“G4”

圧着ツール“H4”

EP3

かびの成長(適

用する場合)

11e

W2”日

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

外観 1a

試験段階 1 参照

EP4

ニードルフレー
ム(注射針バー
ナ)

20a

試料数“R2” 
接炎時間“S2”秒

絶縁抵抗 3a

許容最大燃焼時間

T2”秒

テ ィ ッ シ ュ ペ ー パ
が 発 火 し て は な ら

ない。

EP5

耐火性 20b

試料数“R2

接炎時間“S2”秒

許容最大燃焼時間

T2”秒

5.2.2.7 

試験群 FP−耐薬品性

 12  試験群 FP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

FP1

耐液性 19c

浸せき時間“A3”秒,
液体の組成“B3”

液体の温度“C3”℃

(

2

結合力及び離脱力

13a   4.3.2

参照

接触抵抗(ミリボ
ルトレベル法) 
又は

接触抵抗(規定電
流法)

2a

2b

試験段階 3 参照

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

インサート内のコ

ンタクト保持

15a   AP7

参照

ハウジング内のイ

ンサート保持(軸
方向)

15b   AP21

参照

外観 1a

試験段階 1 参照

(

2

)

は,

表 の注参照。


46

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.8 

試験群 GP−接続方法試験  無はんだターミネーションの形式に応じて,IEC 60352 の当該規格群

から試験順序を選択する(適用する場合)

コネクタに用いる接続方法が  IEC 60352 に規定する試験をあらかじめ受け,既に合格していることを示

す証拠書類が,IEC 電子部品認証制度(IECQ)の場合であって,IEC に規定する NSI に提示できるときに

は,試験段階 GP1 から GP3 までを省略してもよい。

5.2.2.9 

試験群 HP−アクセサリ

HP1

加える力“F3

,力を加える時間“G3”及び曲げ角“Y3”を規定する。必要に応じて,クランプを

固定する取付具の種類も規定する。

HP2

加える力“F3

,及び力を加える時間“G3”を規定する。回転数“Q3”も規定する。必要に応じて,

クランプを固定する取付具の種類も規定する。

HP3

張力“A4

,及び力を加える時間“G3”を規定する。必要に応じて,クランプを固定する取付具の

種類も規定する。

HP4

ねじり力“Z3”,及び力を加える時間“G3”を規定する。必要に応じて,クランプを固定する取付

具の種類も規定する。

HP5

加える力“H3”及び持続時間“J3”を規定する。コネクタを固定するための取付具及びカバーを取

り外すための用具を規定する。


47

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2.2.8 

試験群 GP−接続方法試験

 13  試験群 GP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

GP1

無はんだ接続,公
称 断 面 箇 所 の ワ

イヤラップ,プレ
ス イ ン タ ー ミ ネ
ーション圧着

IEC 60352-1

IEC 60352-2

IEC 60352

の当該規

格群による。

GP2

ラ ッ ピ ン グ の 巻
き戻し,無はんだ

ラッピング接続

16m

試料数“D3

GP3

引張強度

(圧着接続)

16d

最小極限荷重“E3

5.2.2.9 

試験群 HP−アクセサリ

 14  試験群 HP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

HP1

ケーブルクラン
プ強度(ケーブル

の曲げ)

17a

加える力“F3”N, 
持続時間“G3”秒,

曲げ角“Y3”

HP2

ケーブルクラン
プ強度(ケーブル

の回転)

17b

加える力“F3”N, 
持続時間“G3”秒,

回転数“Q3

HP3

ケーブルクラン

プ強度(ケーブル
の引張り)

17c

加える力“A4”N, 
持続時間“G3”秒

HP4

ケーブルクラン
プ強度(ケーブル
のねじり)

17d

ねじり力“Z3”N, 
持続時間“G3”秒

HP5

保護カバーの強

15g

加える力“H3”N, 
持続時間“J3”秒


48

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

5.2.2.10 

試験群 KP−一連耐候性

KP1

極性電圧“K3

,低温“M3

,減圧“N3”及びサイクル数“P3”を規定する。値が同一の場合には,

AP17.4

(低温)

,AP17.2(減圧)

,AP17.3 及び AP17.6 を参照してもよい。

KP2 

表 の注(

6

)

参照。試料数“L4”を規定する。

KP3

試験段階 5 及び 4.2.2 参照。

KP4

試験段階 3 及び 4.2.4 参照。

5.2.2.11 

試験群 LP−動的な腐食

LP1

外観を検査する。サイジングゲージ及び保持力ゲージを規定する。

サイジングの数は,3 以外の場合には,

K4”と規定する。

LP2 BP2

参照。ただし,動作回数は“P2”とする。ハウジング(シェル)の導通性については CP2 参照。

LP3

塩水噴霧の条件については AP13 参照。

LP4

試験期間“S2”を規定する。シールディングの測定の場合には,周波数範囲並びに試料の準備及び

取付けについて規定する。


49

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

5.2.2.10 

試験群 KP−一連耐候性

 15  試験群 KP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべての

コネクタ形状

KP1

低温・減圧・湿

度 複 合 シ ー ケ
ンス

11b

極性電圧“K3”V,
温度“M3

空気圧“N3

サイクル数“P3

KP2

オゾン耐性

(

6

試料数“L4

KP3

(

1

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

KP4

接触抵抗(ミリボ
ルトレベル法)

又は 
接触抵抗(規定電
流法)

2a

2b

試験段階 3 参照

(

1

)

及び(

6

)

は,

表 の注参照。

5.2.2.11 

試験群 LP−動的な腐食

 16  試験群 LP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ

又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号 

PL

すべての

コネクタ形状

LP1

外観 1a

試験段階 1 参照

サイジングゲージ
及び保持力ゲージ

接地コンタクトス
プリングの保持力

16i

サイジングの数“K4

(3 以外の場合)

LP2

機械的動作 9a

BP2

参照。ただし,

動作回数“P2

LP3

温度急変 11d

AP13

参照

ハウジング(シェ

ル)の導通性

2f   BP4

参照

HP5

保護カバー
の強度

15g

加える力“H3”N,
持続時間“J3”秒

RFI

シールディン

グ− 
周波数範囲

10 kHz

∼100 MHz

100 MHz

∼1 GHz

23a


50

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

作成の手引き

6. 

品質評価手順

IEC

で検討中。


51

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

6. 

品質評価手順

IEC

で検討中。


52

C 5401-2-001

:2005 (IEC 61076-2-001:2001)

附属書 A(規定)新規試験及び追加試験段

追加特性が適切である場合[JIS C 5401-2 の 4.(試験及び試験計画)参照]には,適用する試験段階は,

試験群 HP 又は別に作成した試験計画表に追加する。

これらの試験段階が JIS C 0010 又は JIS C 5402-1-100 に規定されていない場合には,その試験方法の詳

細をこの附属書に規定する。

この附属書は,個別規格を構成するその一部として追加する。