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C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

(1) 

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

2

1.0

  適用範囲

2

1.1

  推奨する取付方法

2

1.2

  寸法

2

1.3

  定格及び特性

3

1.4

  引用規格

3

1.5

  表示

4

1.6

  発注情報

4

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8

  追加情報(非検査目的)

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

4

2

  検査要求事項

4

2.1

  手順

4


C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

(2) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって,JIS C 5101-20-1:2000 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

  第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS

C

5101-2-1

  第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

  第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

JIS

C

5101-3-1

  第 3-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

評価水準 EZ

JIS

C

5101-4

  第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

  第 4-1 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-4-2

  第 4-2 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ−評価水準

EZ

JIS

C

5101-8

  第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

  第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

  第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

  第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS

C

5101-11-1

  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

  第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

  第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

  第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

  第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D


C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

(3) 

JIS

C

5101-14-2

  第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

  第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15

  第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

  第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

  第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

  第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS

C

5101-17-1

  第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

  第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コン

デンサ

JIS

C

5101-18-1

  第 18-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コン

デンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-18-2

  第 18-2 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準 EZ

JIS

C

5101-20

  第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

  第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

  第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

  第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

  第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-24-1

  第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ


C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

(4) 

JIS

C

5101-25

  第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ

JIS

C

5101-25-1

  第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-26

  第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-26-1

  第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ  評価水準 EZ(予定)


日本工業規格

JIS

 C

5101-20-1

:2010

(IEC 60384-20-1

:2008

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定

メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

直流コンデンサ  評価水準 EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 20-1:Blank detail specification

−Fixed metallized polyphenylene sulfide

film dielectric surface mount d.c. capacitors

−Assessment level EZ

序文

この規格は,2008 年に第 2 版として発行された IEC 60384-20-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格

この規格は,品種別通則 JIS C 5101-20 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規

定したものである。この規格に規定する要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基づいていな

いものとみなし,そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,JIS C 5101-20 の 1.4(個別規格に規定する事項)に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表の括弧内の数字は,指定の位置に記入する次の

事項と対応している。

個別規格の識別

(1)  個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議  (IEC)  の名称

(2)  個別規格の国内規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び西暦

(3)  品目別通則の国内規格番号及び西暦年又は IEC 規格番号,版及び西暦年

(4)  ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別

(5)  コンデンサの品種についての要約説明

(6)  代表的な構造の説明(個別規格に規定する場合)

注記  コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのこと

を明記する。


2

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

   

(7)  互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内規格若しくは国際規格の

引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。

(8)  適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準

注記  個別規格に規定する評価水準は,品種別通則  JIS C 5101-20 の 3.5.4(評価水準)から選定す

る。

ブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定して

もよい。

(9)  重要な特性に関する参照データ

例  社団法人電子情報技術産業協会

(1)

個別規格番号

(2)

例  JIS C 5101-20-1(ブランク個別規格番号)

(4)

例  電子機器用固定コンデンサ

第 1 部:品目別通則

(3)

JIS C 5101-1:2010

個別規格の名称 
例  表面実装用固定メタライズドポリフェニレン

スルフィドフィルム直流コンデンサ

(5)

構造の説明

(6)

外形図(

表 参照)

(第三角法)

(7)

(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。

評価水準(複数も可)

例  EZ (8)

性能等級

安定性等級

注記  (1)∼(8):個別規格の識別及びコンデンサの識別による。

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は品質認証書  (Qualification approval

certificate)  に示されている。*

注*

この記載は,IEC  電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合に適用する。

(9)

注記  (9)は,コンデンサの識別による。

1

一般事項

1.0

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-20 を品種別通則とするブランク個別規格で,表面実装用固定メタライズドポリ

フェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサの評価水準 EZ(以下,コンデンサという。

)について規定

する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-20-1:2008

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 20-1: Blank detail

specification−Fixed metallized polyphenylene sulfide film dielectric surface mount d.c. capacitors

−Assessment level EZ (IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

1.1

推奨する取付方法

推奨する取付方法は,JIS C 5101-20 の 1.4.2(取付け)による。

1.2

寸法

外形寸法記号及び寸法は,

表 による。


3

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

表 1−外形寸法記号及び寸法

単位  mm

外形寸法記号

寸法

L

1

W

1

H

1

L

2

L

3

L

4

注記 1  外形寸法記号がない場合は,この表 を削除し,寸法を表 に記載してそれを表 とする。 
注記 2  寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。

1.3

定格及び特性

定格及び特性は,次による。

公称静電容量範囲(

表 による。)

公称静電容量許容差

定格電圧(

表 による。)

カテゴリ電圧(個別規格に規定がある場合)

表 による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

最大交流電圧(個別規格に規定がある場合)

最大パルス負荷(個別規格に規定がある場合)

誘電正接 (tan δ)

絶縁抵抗

表 2−外形寸法に組み合わせた公称静電容量及び定格電圧

定格電圧

カテゴリ電圧

外形寸法記号

外形寸法記号

外形寸法記号

外形寸法記号

公称静電容量

nF 及び/又は µF

注*

定格電圧と異なる場合。

1.4

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5101-1

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

JIS C 5101-20:2010

  電子機器用固定コンデンサ−第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズ

ドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-20:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 20:

Sectional specification−Fixed metallized polyphenylene sulfide film dielectric surface mount d.c.

capacitors (IDT)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1  部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式


4

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

   

注記  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.5

表示

コンデンサの本体及び包装の表示は,JIS C 5101-20 の 1.6(表示)による。

コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。

1.6

発注情報

この規格のコンデンサの発注情報には,少なくとも次の事項を,明りょうな文字又は記号によって規定

する。

a)

公称静電容量

b)

公称静電容量許容差

c)

定格直流電圧

d)

個別規格の番号及び発行年並びにコンデンサの種類

e)

包装形態

1.7

出荷対象ロットの成績証明書

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。

注記  顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。

1.8

追加情報(非検査目的)

注記  検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,

表 による。

注記  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。

表 3−その他の特性

この表は,JIS C 5101-20 の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために使用する。

2

検査要求事項

2.1

手順

2.1.1

  品質認証の手順は,JIS C 5101-20 の 3.4(品質認証)による。

2.1.2

品質確認検査の試験計画(

表 4)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を示す。検査ロットの

構成は,JIS C 5101-20 の 3.5.1(検査ロットの構成)による。


5

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

表 4−品質確認検査の試験計画

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

試験条件

a)

試料数及び

合格判定数

c)

要求性能

a)

ND

c)

IL

   

n

 

c

 

群 検査 
(ロットごと)

副群 A0 
4.3.2

  静電容量

4.3.3

  誘電正接

 
4.3.1

  耐電圧(試験 A)

h)

 
 
 
 
4.3.4

絶縁抵抗(試験 A)

h)

ND

 
周波数:1 kHz(すべての

静電容量値に適用)

方法:...

測定点: 1a

h)

 
 
 
測定点: 1a

h)

100 %

d)

 
規定の許容差による。

4.3.3.2

による。

 
 
絶縁破壊又はフラッシオ

ーバがない。ただし,
一時的瞬時破壊はあっ

てもよい。

4.3.4.3

による。

副群 A1 
4.2.1

  外観

ND

S-3

b) 

0

4.2.2

による。

表示[適用する場合

j)

]は

明りょうとし,その他

は,この規格の 1.5  に
よる。

副群 A2 
4.2

  寸法

e)

ND

S-3

b) 

0

この規格の

表 による。

群 検査 
(ロットごと)

副群 B1 
4.7

  はんだ付け性

 

4.7.2

  最終測定

D

エージングは行わない。 
方法:... 
 
外観検査

S-3

b) 

0

 
 

4.7.2

による。

副群 B2 
4.14

  表示の耐溶剤性

f)

j)

( 個 別規 格に 規定 があ
る場合)

D

溶剤:...

溶剤の温度:... 
方法 1 
ラビングの材料:脱脂綿

後処理時間:...

S-3

b) 

0

表示は,明りょうとする。


6

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

   

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号

試験条件

a)

試料数

要求性能

a)

及び試験項目

a) 

D

又は

及び合格判定数

c) 

 ND

c)

p n c 

群 検査 
(定期的)

副群 C1   
4.6

  はんだ耐熱性

4.6.1

  初期測定

4.6.2

  試験条件

 
 
 
 
 
4.6.3

  最終測定

 
 
 
 
 

4.13

  部品の耐溶剤性

(個別規格に規定があ
る場合)

D

方法:... 
静電容量 
時間:... 
方法 1  を適用する場合,

浸せき及び引上げの速
さ は , 25 mm/s ± 2.5 
mm/s とする。

後処理時間:24 h±2 h 
外観

静電容量 
 
 
 
 
 
溶剤:... 
溶剤の温度:... 
方法 2 
後処理時間:...

3 12 0

g) 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.6.3

による。

4.6.1

の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2 
  |ΔC/C|≦2 %,

性能等級 3  
  |ΔC/C|≦3 %

 
個別規格の規定による。

副群 C2 

D

3  12  0

 g)

4.5

  耐プリント板曲げ性

    (電極の接着強度)

4.5.1

  初期測定

4.5.2

  最終測定

 
 
静電容量 
静電容量(プリント配線

板を曲げた状態)

 
 
 
外観

 
 
 
4.5.1

の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2 
  |ΔC/C|≦2 %, 
性能等級 3

  |ΔC/C|≦5 %

外観に損傷がない。


7

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号

試験条件

a)

試料数

要求性能

a)

及び試験項目

a) 

D

又は

及び合格判定数

c)

 ND

c)

p n c 

副群 C3 

D

4.1

  取付け

i)

4.2.1

  外観

4.3.2

  静電容量

 
 
4.3.3

  誘電正接

 
 
 
 
 
4.3.4

  絶縁抵抗

プリント配線板の材質:...

i)

 
 
 
 
 
周波数: 
1 kHz(すべての静電容量値

に適用)

10 kHz,C

N

≦1

μF  に適用

(追加として,4.3.3.3 
よる。

 
 
個別規格の規定による。 
副群 A0 の測定値に対し

て,|ΔC/C|≦2 %

 
4.3.3.2

による。

副群 C3.1,副群 C3.2
副群 C3.3 及び副群 C3.4
の最終測定に対する初
期値)

 
4.3.4.3

による。

副群 C3.1 

D

6  27

0

 g)

4.4

  固着性

最終測定(JIS C 5101-1 

4.34.3

4.8

  温度急変

4.8.1

  初期測定

 
4.8.2

  試験条件

 
 
 
4.8.3

  中間測定

4.9

  一連耐候性

4.9.1

  初期測定

4.9.2

  高温

 
4.9.3

  温湿度サイクル

(試験 Db)

,最初のサイク

4.9.4

  低温

 
4.9.5

  温湿度サイクル

(試験 Db),残りのサ

イクル

 
外観 
 
 
行わない。

副群 C3  の測定

値による。

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

5  サイクル 
時間 t

1

=30 min

外観 
 
行わない。

群 3  の測定値に

よる。

温度:カテゴリ上限温度 
時間:16 h 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度

時間:2 h 
試験槽から取出し後,15 分

以内に定格電圧を 1 分間

印加する。

 
外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
 


8

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

   

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号

試験条件

a)

試料数

要求性能

a)

及び試験項目

a)

D

又は

及び合格判定数

c)

 ND

c)

p n c 

副群 C3.1(続き) 
4.9.6

  最終測定 

 
外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:

    C

N

≦1

μF:10 kHz

 
 
 
    C

N

>1

μF:1 kHz

 
 
 
絶縁抵抗 
 
 

 
外観に損傷がない。

表示は,明りょうとする。
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2

C/C|≦3 %,

性能等級 3

C/C|≦5 %

誘電正接の増加: 
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1,  ≦0.002 5

性能等級 2,  ≦0.004 
性能等級 3,  ≦0.005

副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1,  ≦0.001 5 
性能等級 2,  ≦0.002 5 
性能等級 3,  ≦0.003

4.3.4.3

の値に対して,

性能等級 1 及び 2

≧50 %,

性能等級 3

≧25 %

副群 C3.2 

6 15

0

g)

4.10

  高温高湿(定常)

4.10.1

  初期測定

 

4.10.2

  最終測定

 
 

 
行わない。

副群 C3 の測定値

による。

後処理時間:...

外観 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:

1 kHz

 
 
絶縁抵抗 

 
 
 
 
外観に損傷がない。 
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2

C/C|≦3 %,

性能等級 3

C/C|≦5 %

誘電正接の増加: 
副群 C3 の測定値に対して,

≦0.002 5

 
4.3.4.3

の値に対して,

性能等級 1 及び 2

≧50 %,

性能等級 3

≧25 %


9

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号

試験条件

a)

試料数

要求性能

a)

及び試験項目

a) 

D

又は

及び合格判定数

c)

 ND

c)

p n c 

副群 C3.3 

D

3  15

0

 g)

4.11

  耐久性

4.11.1

  初期測定

4.11.2

  試験条件

 
4.11.5

  最終測定

 
 
 

 
行わない。

副群 C3 の測定値

による。

4.11.2

4.11.3 及び 4.11.4 

よる。

外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:

C

N

≦1

μF:10 kHz

 
 
 

C

N

>1

μF:1 kHz

 
 
 
 
絶縁抵抗 

 
 
 
 
 
外観に損傷がない。

表示は,明りょうとする。
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1

  |ΔC/C|≦5 %, 
性能等級 2 及び 3 
  |ΔC/C|≦8 %

誘電正接の増加: 
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1

  ≦0.003, 
性能等級 2 及び 3 
  ≦0.005

副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1 
  ≦0.002,

性能等級 2 及び 3 
  ≦0.003

4.3.4.3

の値に対して,

性能等級 1 及び 2 
  ≧50 %, 
性能等級 3

  ≧30 %

副群 C3.4 

D

6  9  0

 g)

4.12

  充放電

4.12.1

  初期測定

4.12.2

  試験条件

4.12.3

  最終測定

 
行わない。

副群 C3 の測定値

による。

10 000 サイクル 
静電容量 

 
 
 
 
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1

  |ΔC/C|≦3 %, 
性能等級 2 
  |ΔC/C|≦5 %,

性能等級 3 
  |ΔC/C|≦8 %


10

C 5101-20-1

:2010 (IEC 60384-20-1:2008)

   

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号

試験条件

a)

試料数

要求性能

a)

及び試験項目

a) 

D

又は

及び合格判定数

c)

 ND

c)

p n c 

副群 C3.4(続き) 
4.12.3

  最終測定(続き)

 
誘電正接:

C

N

≦1

μF:10 kHz

 
 
 
 

C

N

>1

μF:1 kHz

 
 
 

絶縁抵抗

 
誘電正接の増加: 
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1 
  ≦0.003,

性能等級 2 及び 3 
  ≦0.005

 
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1 
  ≦0.002,

性能等級 2 及び 3 
  ≦0.003

4.3.4.3

の値に対して,

性能等級 1 及び 2 
  ≧50 %, 
性能等級 3

  ≧30 %

注記  取付け後に不適合となった試料は,その後に行う試験の許容不適合の計算に加えてはならない。それらは,

予備の試料と置き換える。 

a)

  試験の細分箇条番号及び要求性能は,JIS C 5101-20 及びこの規格の箇条 による。

b)

  試料数  (n)  は,JIS Z 9015-1 に規定の付表 1[サンプル(サイズ)文字]の検査水準 (IL) とロットサイズ

とで割り当てるサンプル文字に従い,

付表 2-A[なみ検査の 1 回抜取方式(主抜取表)]のサンプル文字に

対応する試料数とする。

c)

  この表の記号は,次による。

 IL

:検査水準

p

:周期(月)

n

:試料数

c

:合格判定個数(許容不良数)

 D

:破壊試験

 ND:非破壊試験

d)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水

準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するために

抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は累積した検査データによって算出する。

e)

  製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理 (SPC) 又はその他

の仕組みを取り入れている場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

f)

  この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。

g)

  不適合が 1  個発生した場合,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い,新たな不適合が発生し

ないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。

h)

  JIS C 5101-1 の 4.5(絶縁抵抗)及び 4.6(耐電圧)による。

i)

  各副群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの副群で用いるプリント配線板材料を個別規

格に規定する。

j)

  本体に表示がある場合に適用する。