C 5402-14-7 : 2002 (IEC 60512-14-7 : 1997)
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か
ら，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，
経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日本
工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするため，IEC 60512-14-7 : 1997, Electromechanical
components for electronic equipment−Basic testing procedures and measuring methods−Part 14 : Sealing tests−
Section 7 : Test 14g : Impacting waterを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は，JIS C 5402-1-100の試験一覧による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
C 5402-14-7 : 2002
(IEC 60512-14-7 : 1997)
電子機器用コネクタ−
試験及び測定−
第14-7部：封止（気密性）試験−
試験14g：噴射水
Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 14-7 : Sealing tests−Test 14g : Impacting water
序文 この規格は，1997年に第1版として発行されたIEC 60512-14-7, Electromechanical components for
electronic equipment−Basic testing procedures and measuring methods−Part 14 : Sealing tests−Section 7 : Test
14g : Impacting waterを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格で
ある。
なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲及び目的 この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）を試験するために用
いる。この試験は，個別規格に規定がある場合には，類似の部品に使用してもよい。
この規格の目的は，コネクタの噴射水又は規定する液体の影響を評価するために，標準の試験方法を規
定することである。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide21に基づき，IDT（一致している），MOD（修
正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60512-14-7 : 1997, Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing
procedures and measuring methods−Part 14 : Sealing tests−Section 7 : Test 14g : Impacting water
(IDT)
2. 引用規格 次に掲げる引用規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，
その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0034 環境試験方法−電気・電子−耐水性試験及び指針
備考 IEC 60068-2-18 : 1989, Environmental testing−Part 2 : Tests−Test R and guidance : Water,
Amendment 1 (1993) が，この規格と一致している。
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C 5402-14-7 : 2002 (IEC 60512-14-7 : 1997)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
IEC 60512-3-1* : 2002 Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 3-1 : Insulation
tests−Test 3a : Insulation resistance
参考 IEC規格番号に*が付いているものは，この規格の発効時点で，IEC規格の審議中のもので
あることを示す。
3. 試料の準備 試料には規定したとおりに標準のアクセサリを備え，個別規格に従って配線し，取り付
ける。試料の動作条件は，個別規格に規定する。
4. 試験方法
4.1
初期設定 試料は，次の試験を行う。
− 絶縁抵抗IEC 60512-3-1*（旧IEC 60512-2），試験3a
4.2
供試条件 試験は，個別規格に規定がな場合には，JIS C 0034に規定する方法Rb2.1：揺動管法に従
って，次の厳しさで実施する。
− スプレーノズル角度
α＝60°
− 管の揺動角度
β＝±60°
− ノズル穴の直径
0.4mm
− ノズル当たりの水の流量
0.10dm3/min±0.005dm3/min
− 概略供給圧力
80kPa
管を固定して試料を回転させることを推奨する。
部品を置くターンテーブルは，0.5rpmから1.5rpmの速度で回転させる。
試験は，個別規格で他の液体の使用を規定しない場合には，良質の新鮮な水道水で行う。
試料は，10分間噴射水に暴露する。
4.3
最終測定 測定は，供試条件完了後5分以内に始める［IEC 60512-3-1*（旧IEC 60512-2），試験3a
絶縁抵抗参照］。
この測定の前に試料を動作させたり，部品を取り外したりしてはならない。
4.4
要求事項 絶縁抵抗は，個別規格に規定する値より大きくなければならない。
5. 個別規格に規定する事項 個別規格には，次の事項を規定する。
a) 試料数
b) 試料，アクセサリの準備及び配線するコンタクト数
c) ケーブル／電線のタイプ及び寸法（適用する場合）
d) 試験時間（10分以外の場合）
e) 液体の成分
f)
絶縁抵抗：方法及び許容最小値
g) この試験方法との相違
3
C 5402-14-7 : 2002 (IEC 60512-14-7 : 1997)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
平 山 宏 之
東京都立科学技術大学
（委員）
吉 田 裕 道
東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾
防衛庁
藤 倉 秀 美
財団法人電気安全環境研究所
佐々木 喜 七
財団法人日本電子部品信頼性センター
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明
橋 本 進
財団法人日本規格協会
福 原 隆
沖電気工業株式会社
村 上 昭 次
株式会社ケンウッド
山 本 克 巳
ソニー株式会社
西 林 和 男
株式会社東芝
新 井 謙 一
日本電気株式会社
小 林 弘
日本電気ファクトリエンジニアリング株式会社
中 野 武
松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明
松下電器産業株式会社
伊 高 篤 己
三菱電機株式会社
三 宅 邦 彦
松尾電機株式会社
高 木 裕 司
アルプス電気株式会社
石 井 勝
第一電子工業株式会社
山 本 圭 一
進工業株式会社
尾 村 博 幸
日本ケミコン株式会社
大 島 寛
ニチコン株式会社
柴 田 一 寛
株式会社村田製作所
大 西 浩 司
本多通信工業株式会社
前 田 太 門
ヒロセ電機株式会社
八 木 誠
日本航空電子工業株式会社
小 島 槇 雄
窪 田 明
経済産業省
八 田 勲
経済産業省
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人電子情報技術産業協会
中 山 正 美
社団法人電子情報技術産業協会
4
C 5402-14-7 : 2002 (IEC 60512-14-7 : 1997)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JIS C 5402-1 規格群原案作成分科会 構成表
氏名
所属
（主査）
石 井 勝
第一電子工業株式会社
（副主査）
山 川 和 夫
多治見無線電機株式会社
大 西 浩 司
本多通信工業株式会社
（委員）
大久保 功
株式会社アイティティキャノン
武 田 佳 司
イリソ電子工業株式会社
木 村 淳
URO電子工業株式会社
横井川 淳 史
オムロン株式会社
坂 岡 眞 樹
京セラ株式会社
東 陽一郎
ケル株式会社
金 子 智 行
株式会社ジャルコ
福 田 敦 夫
スタック電子株式会社
佐 藤 一 巳
ソニー株式会社
今 井 彰
タイコエレクトロニクスアンプ株式会社
太 田 弦
日本圧着端子製造株式会社
八 木 誠
日本航空電子工業株式会社
白 岩 寿 久
日本航空電子工業株式会社
榎 本 雅 弘
日本モレックス株式会社
吉 岡 克 之
ノーブル無線株式会社
前 田 太 門
ヒロセ電機株式会社
岩 朝 好 博
ホシデン株式会社
加 藤 修 治
松下電工株式会社
一 木 義 和
株式会社村田製作所
金 子 哲 也
山一電機株式会社
小 島 槇 雄
（事務局）
塚 田 潤 二
社団法人電子情報技術産業協会
中 山 正 美
社団法人電子情報技術産業協会
日本工業標準調査会 標準部会 電子技術専門委員会 構成表
氏名
所属
（委員会長）
鳳 紘一郎
東京大学大学院新領域創成科学研究科
（委員）
榎 並 和 雅
日本放送協会技術局
川 瀬 正 明
千歳科学技術大学光科学部
喜 安 拓
総務省情報通信政策局
栗 原 正 英
社団法人日本プリント回路工業会
小 岩 忠 夫
社団法人電子情報技術産業協会
酒 井 善 則
東京工業大学大学院理工学研究科
佐 野 真理子
主婦連合会
田 村 政 昭
株式会社東芝デジタルメディアネットワーク社コアテクノ
ロジーセンター
平 松 幸 男
東日本電信電話株式会社第三部門
本 多 正 己
財団法人日本規格協会IEC活動推進会議事務局
増 田 岳 夫
財団法人光産業技術振興協会
山 本 克 巳
ソニー株式会社テクニカルサポートセンター