>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 5260-3 : 2000

1 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電子機械工業会  (EIAJ)  から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,通

商産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。

通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,

実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5260-3

には,次に示す附属書がある。

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表

部編成規格  この規格の部編成規格は,次による。

JIS

C

5260

群  電子機器用可変抵抗器

JIS

C

5260-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5260-2

  第 2 部:品種別通則:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器

JIS

C

5260-2-1

  第 2 部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5260-2-2

  第 2 部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5260-3

  第 3 部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器

JIS

C

5260-3-1

  第 3 部:ブランク個別規格:回転形精密級可変抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5260-4

  第 4 部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器

JIS

C

5260-4-1

  第 4 部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5260-4-2

  第 4 部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5260-5

  第 5 部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器

JIS

C

5260-5-1

  第 5 部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5260-5-2

  第 5 部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器  評価水準 F


C 5260-3 : 2000

(1) 

目次

ページ

序文

1

第 1 章  一般事項

1.

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  目的

1

1.3

  引用規格

1

1.4

  個別規格に規定する事項

2

1.4.1

  外形図及び寸法

2

1.4.2

  取付け

3

1.4.3

  形

3

1.4.4

  抵抗変化特性

3

1.4.5

  定格及び特性

3

1.4.6

  表示

3

1.4.7

  発注時の情報

3

1.4.8

  追加情

3

1.5

  表示

3

第 2 章  推奨定格,特性及び試験の厳しさ

2.

  推奨定格,特性及び試験の厳しさ

4

2.1

  推奨特性

4

2.1.1

  推奨耐候性カテゴリ

4

2.1.2

  抵抗温度係数及び抵抗温度特性

4

2.1.3

  抵抗値又は出力電圧比変化の限界

5

2.1.4

  絶縁抵抗

5

2.1.5

  抵抗変化特性

5

2.2

  推奨定格値

5

2.2.1

  定格抵抗値

5

2.2.2

  定格抵抗値の許容差

5

2.2.3

  定格電力

5

2.2.4

  素子最高電圧(最高使用電圧)

6

2.2.5

  アイソレーション電圧

6

2.2.6

  抵抗変化特性の一致性

6

2.2.7

  駆動機構の回転数

6

2.2.8

  操作サイクル数

6


C 5260-3 : 2000

目次

(2) 

2.2.9

  操作軸の回転速度

7

2.2.10

  分解能(適用する場合)

7

2.3

  推奨する試験の厳しさ

7

2.3.1

  乾燥

7

2.3.2

  振動(正弦波)

7

2.3.3

  バンプ

7

2.3.4

  衝撃

7

第 3 章  品質評価手順

3.

  品質評価手順

7

3.1

  構造的に類似な可変抵抗器

7

3.2

  品質認証

7

3.2.1

  定数抜取手順に基づく品質保証

8

3.2.2

  試験

8

3.3

  品質確認検査

16

3.3.1

  検査ロットの構成

16

3.3.2

  試験計画

16

3.3.3

  評価水準

16

3.4

  長期保管後の出荷

17

3.5

  機械的精度の測定装置

17

3.5.1

  ダイヤル指示計

17

3.5.2

  円筒形アダプタ

17

3.5.3

  可変抵抗器の取付装置

17

3.5.4

  可変抵抗器の操作軸保持装置

17

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表

18


日本工業規格

JIS

 C

5260-3

 : 2000

電子機器用可変抵抗器−

第 3 部:品種別通則:

回転形精密級可変抵抗器

Potentiometers for use in electronic equipment

Part 3 : Sectional specification : Rotary precision potentiometers

序文  この規格は,1992 年に第 2 版として発行された IEC 60393-3,Potentiometers for use in electronic

equipment

−Part 3 : Sectional specification : Rotary precision potentiometers を元に,規格票の様式を変更するこ

となく作成した日本工業規格であるが,技術的内容については,製品の現状に即して変更している。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC 規格番号

は,1997 年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に

ついても,規格番号に 60000 を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一

である。

第 1 章  一般事項 

1.

一般事項

1.1

適用範囲  この規格は,JIS C 5260-1 を品目別通則とする電子機器用可変抵抗器の品種別通則で,回

転形精密級可変抵抗器(以下,可変抵抗器という。

)について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60393-3 : 1992

  Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Sectional specification :

Rotary precision potentiometers (MOD)

1.2

目的  この規格の目的は,推奨定格及び推奨特性を規定し,JIS C 5260-1 から適切な品質評価手順,

試験及び測定方法を選択し,この規格の可変抵抗器の一般的要求性能を規定することである。この規格に

基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格の要求性能と同等又はそれ以上の水準

とする。

1.3

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうち,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格

の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補・Amendment には適用しない。発効年を付記して

いない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0010

0095  試験規格群  環境試験方法


2

C 5260-3 : 2000

備考  IEC 60068  Basic environmental testing procedure からの引用事項は,この規格の該当事項と同

等である。

JIS C 0010

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考  IEC 60068-1 : 1988  Basic environmental testing procedure−Part 1: General がこの規格と一致し

ている。

なお,JIS C 0010 : 1993 は,IEC 60068-1 : 1988 及び Amendment 1 : 1992 と一致している。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考  IEC 60063 : 1963  Preferred number series for resistors and capacitors 並びに Amendment 1: 1967

及び Amendment 2: 1977 が,この規格と一致している。

JIS C 5260-1

  電子機器用可変抵抗器−第 1 部:品目別通則

備考  IEC 60393-1 : 1989  Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1: Generic specification

及び Amendment 1: 1992 からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

IEC QC 001001 : 1986

  Basic rules of the IEC Quality assessment system for electronic components (IECQ)

Amendment 2 : 1994

IEC QC 001002 : 1986

  Rules of Procedures of the IEC Quality assessment system for electronic components

(IECQ)

Amendment 2 : 1994

1.4

個別規格に規定する事項  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は,JIS C 5260-1 及びこの規格又はブランク個別規格の要求事項よりも緩い要求事項を規定し

てはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9 に規定し,例えば,ア

ステリスク(

*

)

を付けて試験計画の中に明示する。

個別規格には,次の事項を規定し,それぞれの規定値をこの規格の該当する項目から選択する。

備考  この規格の 1.4.1 及び 1.4.3 に規定する事項は,一覧表で示してもよい。

1.4.1

外形図及び寸法  個別規格には,規定する可変抵抗器を図示する。検査に必要な詳細寸法を示すの

に紙面が不足する場合は,附属書を設けて,そこに図面及び寸法を示す(

図 参照)。

図 1  外形図及び寸法 

図面には,次の事項を規定する。

−  操作軸及び取付ねじの寸法。これらは外形図で示すか,又は JIS C 5260-1

附属書 を引用して示す。

−  位置決め装置


3

C 5260-3 : 2000

−  全機械的操作範囲

−  有効電気的操作範囲

−  無効機械的回転角度

−  端子の寸法及び位置

−  JIS C 5260-1 の 4.4.2[寸法(ゲージ法)

]によって測定する寸法

−  可変抵抗器を適確に表すためのその他の寸法

すべての寸法は,ミリメートル (mm) で示す。

可変抵抗器がプリント配線板用として設計されていない場合には,そのことを個別規格の中に明記する。

1.4.2

取付け  個別規格には,耐電圧及び絶縁抵抗の試験に適用する取付方法並びに振動(正弦波)及び

バンプ(又は衝撃)の試験に適用する取付方法を規定する。可変抵抗器は,通常の状態で取り付ける。可

変抵抗器の設計上,特別な取付具が必要な場合には,個別規格にその取付具を規定する。この取付具は,

耐電圧及び絶縁抵抗の試験並びに振動(正弦波)及びバンプ(又は衝撃)の試験に使用する。試験中に寄

生振動がないように取り付ける。

1.4.3

形状[JIS C 5260-1 の 2.2.3(形状)参照]  形状は,それぞれの個別規格ごとに任意に選択した二

つの文字,例えば,AB などの 2 英文字で表す。したがって,この形状の記号は,個別規格の番号が与え

られなければ意味をなさない。

備考  形状の記号は,JIS C 5260-1 の附属書 で規定する形名を用いてもよい。

1.4.4

抵抗変化特性  抵抗変化特性は,2.1.5 による。

1.4.5

定格及び特性  定格及び特性は,次の事項を含めてこの規格の関連する項目による。

1.4.5.1

定格抵抗値の範囲  定格抵抗値の範囲は,2.2.1 による。

定格抵抗値の推奨値は,JIS C 5063 に規定する E シリーズ及び/又は 1,2,5 シリーズとする。

備考 IECQ の場合は,IECQ の品質認証制度によって認証された個別規格の製品と,この規格の定格

抵抗値が異なる場合には,次の記述を追加する。

“各形状の定格抵抗値範囲は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。

1.4.5.2

バンプ及び衝撃  バンプ及び衝撃の試験は,そのどちらの試験を適用するかを個別規格に規定す

る。

1.4.6

表示  個別規格には,可変抵抗器本体及び包装への表示内容を規定する。

なお,この規格の 1.5 と相違する点があれば,それらを明記する。

1.4.7

発注時の情報  個別規格には,発注時に次の事項を明確に示すか又は記号の形で示す。

a)

定格抵抗値及びその許容差

b)

抵抗変化特性(直線形以外の場合)及び一致性

c)

個別規格の番号及び版に関する情報並びに形状に関する事項

d)

形状の情報で分からないときは,操作軸及び取付ねじの寸法

1.4.8

追加情報(検査目的以外のもの)  個別規格には,内容をよく理解させるために回路図,軽減曲線,

図面及び備考による情報を含めてもよい。この情報は,検査する必要はない。

1.5

表示  表示は,JIS C 5260-1 の 2.4(表示)によるほか,次による。

1.5.1

一般事項  可変抵抗器に表示する内容は,次の項目から選択する。各項目の重要度は,次の記載順

とする。

a)

定格抵抗値

b)

定格抵抗値の許容差


4

C 5260-3 : 2000

c)

抵抗変化特性(直線形以外の場合)及び一致性

d)

引用する個別規格及び形状

e)

製造年月又は製造年週

f)

操作軸及び取付ねじの詳細[上記の d)に含まれない場合]  この場合,コード化してもよい。

g)

製造業者名又はその商標

備考  表示は,JIS C 5260-1 の附属書 によってもよい。

1.5.2

可変抵抗器には,少なくとも 1.5.1 の a)b)及び c)を表示し,その他の項目をできるだけ多く明り

ょうに表示する。可変抵抗器に表示する項目は,重複を避ける。

備考  表示は,JIS C 5260-1 の附属書 によってもよい。

1.5.3

可変抵抗器の包装には,1.5.1 の a)g)の内容を表示する。

1.5.4

表示項目を追加する場合は,混乱しないようにする。

第 2 章  推奨定格,特性及び試験の厳しさ 

2.

推奨定格,特性及び試験の厳しさ

2.1

推奨特性  個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ  この規格に含まれる可変抵抗器は,JIS C 0010 の附属書 に規定する一般

原則に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選択する。

カテゴリ下限温度

−65℃,−55℃,−40℃,−25℃及び−10℃

カテゴリ上限温度

+70℃,+85℃,+100℃及び+125℃

高温高湿(定常)の試験期間

4

日間,10 日間,21 日間及び 56 日間

低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度

である。ある品種の可変抵抗器は,その構造のため,これらの温度が JIS C 0010

0095 試験規格群に規定

する二つの推奨温度と一致しない場合がある。この場合には,可変抵抗器の実用温度範囲内の最も近い推

奨温度を厳しさとして選択する。

2.1.2

抵抗温度係数及び抵抗温度特性  抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を,表 に示す。

表の各欄は,推奨温度係数,20℃∼70℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の 2.1.1 のカテゴリ温度

に基づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5260-1 の 4.14(抵抗温度特性)参照]での抵抗値変化の限界を規定

する。

一つの個別規格の中に,抵抗値範囲を分割してそれぞれに異なる温度特性(又は温度係数)を規定して

もよい。

表に示す以外の測定温度を追加する場合には,個別規格に規定する。

表 1  抵抗値変化の推奨限界

温度係数  温度特性

抵抗温度特性

(抵抗値の許容変化率  %)

 20

℃/70℃

基準温度℃/カテゴリ下限温度℃

基準温度℃/カテゴリ上限温度℃

10

6

/

℃ %

+20/−65  +20/−55 +20/−40 +20/−25 +20/−10 +20/+85

*

+20/+100 +20/+125

±1 000

±5

±8.5

±7.5

±6

±4.5

±3

±6.5

±8

±10.5

±500

±2.5

±4.3

±3.75

±3

±2.25

±1.5

±3.25

±4

±5.25

±250

±1.25

±2.15

±1.88

±1.5

±1.13

±0.75

±1.62

±2

±2.62

±150

±0.75

±1.3

±1.15

±0.9

±0.68

±0.45

±0.98

±1.2

±1.6


5

C 5260-3 : 2000

温度係数  温度特性

抵抗温度特性

(抵抗値の許容変化率  %)

 20

℃/70℃

基準温度℃/カテゴリ下限温度℃

基準温度℃/カテゴリ上限温度℃

10

6

/

℃ %

+20/−65  +20/−55 +20/−40 +20/−25 +20/−10 +20/+85

*

+20/+100 +20/+125

±100

±0.5

±0.85

±0.75

±0.6

±0.45

±0.3

±0.65

±0.8

±1.05

±50

±0.25

±0.43

±0.375

±0.3

±0.23

±0.15

±0.325

±0.4

±0.525

±25

±0.125

±0.215

±0.188

±0.15

±0.113

±0.075

±0.162

±0.2

±0.262

±10

±0.05

±0.085

±0.075

±0.06

±0.045

±0.03

±0.065

±0.08

±0.105

*

カテゴリ上限温度が 85℃の抵抗器は,20℃と 70℃間での測定は行わない。

参考  表中の“/”は,温度では二つの試験温度を表し,その他の項目では範囲を表す。

2.1.3

抵抗値又は出力電圧比変化の限界  表 に各試験での抵抗値変化又は出力電圧比変化の推奨限界

を示す。

備考  表 の項目番号は,JIS C 5260-1 による。

表 2  安定性クラス

安定性
クラス

%

4.38

一連耐候性

4.39

高温高湿

    (定常)

4.40

機械的耐久性

4.43.2 70

℃での電気

  的耐久性

4.43.3

カテゴリ上

  限温度での電気 
  的耐久性

4.34

温度変化

4.30

端子強度

4.33

はんだ耐熱性

4.35

振動(正弦波)

4.36

バンプ

4.37

衝撃

4.22

操作軸の押し

及び引張り

4.34

温度変化

4.35

振動(正弦

波)(適用する
場合)

端子 a と c との間の

R

ac

U

ab

U

備考 1.参照)

ac

U

ab

U

備考 1.参照)

10

±(10%R+0.5

Ω)

±(3%R+0.1

Ω)

±(2%R+0.1

Ω)

±2%

±2%

5

±(5%R+0.1

Ω)

±(2%R+0.1

Ω)

±(1%R+0.05

Ω)

±1%

±1%

3

±(3%R+0.1

Ω)

±(2%R+0.1

Ω)

±(1%R+0.05

Ω)

±1%

±1%

2

±(2%R+0.1

Ω)

±(1%R+0.05

Ω)

±(0.5%R+0.05

Ω)

±0.5%

±0.5%

1

±(1%R+0.1

Ω)

±(0.5%R+0.05

Ω)

±(0.25%R+0.01

Ω)

±0.25%

±0.25%

備考1.  出力電圧比変化

ac

U

ab

U

は全印加電圧に対する百分率で表す。

参考

R

は,抵抗値変化を表す。原国際規格では,

R/R

と記載されているが,の誤りであり訂正した。%は,

定格抵抗値に対する百分率である。原国際規格には安定性クラス 10%はないが,国内及び国際的にも広く利

用されているため追加した。

2.1.4

絶縁抵抗  絶縁抵抗は,1G

Ω以上とする。ただし,温湿度サイクル後は,100MΩ以上とする。

2.1.5

抵抗変化特性  抵抗変化特性での推奨測定位置及び出力電圧比は,個別規格による。直線性の方式

に対して要求がある場合は,規定されたすべての測定点を個別規格に規定する。

2.2

推奨定格値  個別規格に規定する値は,次の各項の中から選択することが望ましい。

2.2.1

定格抵抗値  JIS C 5260-1 の 2.3.2(定格抵抗値の推奨値)による。

2.2.2

定格抵抗値の許容差  定格抵抗値の許容差の推奨値は,次による。

±10%,±5%,±3%,±2%,±1%及び±0.5%

2.2.3

定格電力  70℃での定格電力の推奨値は,次による。

0.1W

,0.125W,0.25W,0.5W,0.75W,1W,1.5W,2.0W,2.5W,4W 及び 6.3W

70

℃を超える温度での電力の軽減値は,次の曲線による(

図 参照)。


6

C 5260-3 : 2000

図 2  定格電力の軽減曲線

上記の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には,より広い動作領域を個別規格に規

定してもよい。

この場合には,個別規格に 70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし,曲線上の折れ点を

試験によって確認しなければならない(

図 参照)。

図 3  動作領域が広げられた軽減曲線の例 

2.2.4

素子最高電圧(最高使用電圧)  素子最高電圧の推奨値は,次による。

100V

,160V,250V,400V,630V,800V 及び 1 000V(直流又は交流実効値)

2.2.5

アイソレーション電圧  アイソレーション電圧は,丸めて 10V 単位の値とし,個別規格に規定す

る。アイソレーション電圧の値は,次による。

大気圧下:最高使用電圧の 1.42 倍以上

減圧下:8kPa,大気圧下でのアイソレーション電圧の 2/3 倍

参考  JIS C 5260-1 で引用している JIS C 0029 に合わせて変更した。

2.2.6

抵抗変化特性の一致性  抵抗変化特性の一致性は,次から選択する。

±0.025%,±0.05%,±0.1%,±0.25%,±0.5%,±1%及び±2%

2.2.7

駆動機構の回転数  推奨する回転数は,次による。

1

,3,5 及び 10

2.2.8

操作サイクル数  推奨する操作サイクル数は,次による。

巻線:


7

C 5260-3 : 2000

  1 回転/全回転形:1.25×10

5

,2.5×10

5

又は 5×10

5

          多回転:2.5×10

4

,5×10

4

又は 1×10

5

非巻線:1.25×10

5

,5×10

5

又は 2.5×10

6

2.2.9

操作軸の回転速度  操作軸の 1 分間当たりの推奨回転速度 (min

1

)

は,次による。

巻線:40±5

非巻線:40±5,120±10,400±10

2.2.10

分解能(適用する場合)  分解能は,個別規格に規定する。

2.3

推奨する試験の厳しさ  個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択することが望ましい。

2.3.1

乾燥  JIS C 5260-1 の 4.3(乾燥)の手順 による。

2.3.2

振動(正弦波)  JIS C 5260-1 の 4.35[振動(正弦波)]及び次の条件を適用する。

振動数範囲:次のどれかとする。

10Hz

∼55Hz

10Hz

∼500Hz

10Hz

∼2kHz

振幅:0.75mm 又は加速度 98m/s

2

(いずれか緩い方)

掃引耐久試験  総試験時間:6h

適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2 参照)

2.3.3

バンプ  JIS C 5260-1 の 4.36(バンプ)及び次の条件を適用する。

ピーク加速度:400m/s

2

参考  JIS C 5260-1 で引用している JIS C 0042 に合わせて変更した。

バンプ回数:合計 4 000

適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2 参照)

2.3.4

衝撃  JIS C 5260-1 の 4.37(衝撃)及び次の条件を適用する。

パルス波形:正弦半波

ピーク加速度:300m/s

2

又は 500m/s

2

参考  JIS C 5260-1 で引用している JIS C 0041 に合わせて変更した。

作用時間:11ms

厳しさ:試料の一方向当たり 3 連続。各方向ごとに別の試料を用いる。

適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2 参照)

第 3 章  品質評価手順 

3.

品質評価手順

3.1

構造的に類似な可変抵抗器  構造的に類似な可変抵抗器とは,抵抗値が異なっていても,同様な工

程及び材料で製造され,同一の形状,構造であり,同一又は類似の操作軸及び取付ねじをもつ可変抵抗器

とする。

3.2

品質認証  品質認証試験の手順は,JIS C 5260-1 の 3.4(品質認証手順)による。

ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の計画は,この規格の 3.3 による。定数抜取の

計画を用いた手順は,次の 3.2.1 及び 3.2.2 による。


8

C 5260-3 : 2000

3.2.1

定数抜取手順に基づく品質保証  定数抜取手順は,JIS C 5260-1 の 3.4.2 の b)による。試料は,認

証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは,個別規格に規定している全範囲でなくて

もよい。

試料は,認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証

を受けようとする範囲の中にある場合には,その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける

場合には,別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様にして,認証を受けようとする最も狭い許

容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の管理責

任者が提案する。IECQ の場合は、国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。

予備の試料は,次の場合に使用する。

a)

群“0”で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに 1 個,各温度係数又は温度特性ごとに 1 個。

b)

製造業者の責任でない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに 1 個,各温度係数又は温

度特性ごとに 1 個。

品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料数を群“0”に追加す

る。

3.2.2

試験  個別規格に規定する可変抵抗器の認証のために,表 に規定する一連の試験を必要とする。

各群の試験は,記載の順で行う。

全試料について,群“0”の試験を行い,その後にその他の群に分割する。

群“0”の試験での不良品は,その他の群に使用してはならない。

1

個の可変抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には,

“1 個の不良”

として数える。

不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。

備考  表 に,定数抜取の試験計画を示す。これは,各試験群ごとの抜取方法,合格判定個数及び総

合格判定個数の個別規定を含み,また,JIS C 5260-1 

第 章(試験及び測定方法)及びこの

規格の

第 章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。

表 は,試験方法,試験条件及び/又は要求性能について個別規格に規定するための選択内

容を示す。

定数抜取の試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に規

定する内容と同一とする。

表 3  品質認証の試験計画

備考1.  試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の“厳しさ”の一部

及び抵抗値変化又は出力電圧比変化の許容限界は,この規格の関連項目による。

2.

この

表 

n

=試料数

c

=合格判定個数(群当たりの許容不良数)

。群 2 では,(1)(2)及び(3)でそれぞれ 1 個の不良は

許容されるが,群合計では 2 個以内とする。

t

=総合格判定個数(一つ又は幾つかの連結された群,例えば,群 0,群 1∼9 に対する許容不良

数。

D

=破壊試験

ND

=非破壊試験


9

C 5260-3 : 2000

参考  表中の

ac

U

ab

U

は,全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。表中の

R

は,

抵抗値の変化量を示す。表中の“%R”は,定格抵抗値に対する百分率を示す。

表 3  品質認証の試験計画(続き)

試料数及び総合

格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

群 0

ND

26

+3

1

1

4.4.1

  外観

備考

11.

照)

4.4.1

による。

表示が明りょうで,個別規格の

規定による。

4.4.2

  寸法(ゲージ法)

個別規格の規定による。

4.4.4

  全機械的操作範囲

個別規格の規定による。

4.6

  素子抵抗値

4.6.3

による。

4.7

  端子間抵抗値(最小抵抗

値)

端子 a と b との間の抵抗値

端子 b と c との間の抵抗値

適用する場合は端子 b と各タッ

プ端子間の抵抗値

R

≦...

R

≦...

R

≦...

4.5

  連続性

(巻線可変抵抗器だけに適用)

適用する場合は,

4.5.1

及び 4.5.2

による。

4.15

  しゅう動雑音

方法 B(巻線可変抵抗器だけに

適用)

θ

0

:...

R

≦...%R

4.29

  出力平滑性

(非巻線可変抵抗器だけに適用)

U

≦...%U

ac

4.12

  耐電圧

(絶縁形可変抵抗器だけに適用)

(取付方法は

備考 13.による。

大気圧下

4.12.5

による。

群 1

D

5

1

3

4.23

  操作軸の偏心(シャフト

ランアウト)

備考 3.参照)

半径方向の荷重:...N

取付面からの操作軸の長さ

()

:...mm

全指示値  ():≦...mm

4.24

  取付面の平たん度(ラテ

ラルランアウト)

備考 3.

照)

半径方向の荷重:...N

操作軸方向の荷重:...N

取付面の半径  ():...mm

全指示値  ():≦...mm

4.25

  取付ガイド円面の真円度

(スピゴットダイヤメータラ

ンアウト)

備考 3.参照)

半径方向の荷重:...N

全指示値:≦...mm

4.26

  操作軸の軸方向がた(シ

ャフトエンドプレイ)(

備考

3.

参照)

A

方向

B

方向

全指示値:≦...mm

全指示値:≦...mm

4.18

  始動トルク

個別規格の規定による。

(全回転形可変抵抗器には適用

しない。

4.20

  回転止め強度

外観

4.20.1

による。


10

C 5260-3 : 2000

試料数及び総合

格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

−  試料数 3 個

4.22.2

を適用

連続性

4.22.2

による。 

−  試料数 2 個

4.22.3

を適用

4.22

  操作軸の押し及び引張り

備考 5.参照)

出力電圧比

ac

U

ab

U

≦...% 

4.32

  はんだ付け性(適用する

場合)

方法 1:はんだ槽法

温度:235℃±5℃

時間:2s±0.5s

又は

方法 2:はんだこて法

はんだこて:サイズ B

温度:350℃±10℃

時間:2s±0.5s

端子は,はんだが良好に付着し

ている。

4.45

  表示の耐溶剤性(適用す

る場合)

溶剤:...

溶剤の温度:...

方法 1

ラビング材質:脱脂綿

後処理:...

表示が明りょうである。

4.31.1

  静的な封止(種類 A)

備考 4.による。

リーク量は 1cm

3

/h

以下

4.31.2.1

による。

4.31.2.1

  動的な封止(種類 B)

備考 による。

4.31.3

による。

4.31.3

  容器の封止

備考 4.による。

操作サイクル数:...

操作軸の回転速度:...min

−1

外観

4.40.6

による。 

素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

  端子間抵抗値(最小抵抗値)

  端子 a と b との間の抵抗値

R

≦...

  端子 b と c との間の抵抗値

R

≦...

  適用する場合は端子 b と各タ

ップ端子間の抵抗値

R

≦...

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だ

けに適用)

(取付方法は,

備考

13.

による。

R

≧1G

 

始動トルク

...mN

・m∼...mN・m 

連続性

4.5.1

による。

操作軸の軸方向がた(

備考 3.

よる。

  A 方向

全指示値:≦...mm

  B 方向

全指示値:≦...mm

操作軸の押し及び引張り(

備考

5.

による。

−  試料数 3 個

  4.22.2 連続性の規定による。

4.40

  機械的耐久性

  連続性

4.22.2

による。


11

C 5260-3 : 2000

試料数及び総合

格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

−  試料数 2 個

  4.22.3 による。

  出力電圧比

ac

U

ab

U

≦...%

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ

に適用)

(取付方法は

備考 13.

による。

4.40.6 h)

による。

しゅう動雑音

方法 B(巻線可変抵抗器だけに

適用)

θ

0

:...

R

≦...%R

出力平滑性(非巻線可変抵抗器

だけに適用)

U

≦...%U

ac

群 2

D

5

1

(1)

試料数 2 個

2

端子の種類に適応した試験を行

う。

外観

4.30.8

による。

4.30

  端子強度

素子抵抗値

△R≦±(...%R+...

Ω)

試験 Tb,方法 1B

  温度:350℃±10℃

  時間:3.5 s±0.5s

又は

方法 2

  はんだこて:サイズ B

  温度:350℃±10℃

  時間:10s±1s

素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

端子間抵抗値:

  端子 a と b との間の抵抗値

R

≦...

  端子 b と c との間の抵抗値

R

≦...

 

4.33

  はんだ耐熱性(適用する

場合)

  適用する場合は端子 b と各タ

ップ端子間の抵抗値

R

≦...

 

4.44

  本体の耐溶剤性(適用す

る場合)

溶剤:...

溶剤の温度:...

方法 2

後処理:...

個別規格の規定による。

(2)

試料数 3 個

3

備考 6.による。

T

A

(

1

)

=カテゴリ下限温度

T

B

(

1

)

=カテゴリ上限温度

放置時間  t

1

=30min

外観 

4.34.5

による。 

出力電圧比

(半固定可変抵抗器だけに適

用)

ac

U

ab

U

≦...% 

4.34

  温度変化

素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 


12

C 5260-3 : 2000

試料数及び総合

格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

取付方法:個別規格による。

ピーク加速度:400m/s

2

(

2

)

バンプ回数:4 000

外観

4.36.3

による。 

4.36

  バンプ(又は衝撃)

  (

備考 7.参照)

素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

取付方法:個別規格による。

パルス波形:正弦半波

ピーク加速度:...m/s

2

作用時間:11ms

外観

4.37.3

による。

4.37

  衝撃(又はバンプ)

  (

備考 7.参照)

素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

取付方法:個別規格による。

掃引耐久試験

振動数範囲:...Hz∼...Hz

振幅:0.75mm 又は加速度 98m/s

2

(いずれか緩い方を適用。

総試験時間:6h

備考 6.による。

試験中の測定

  電気的連続性

  (4.35.4 を適用) 

 100

µs を超える不連続性がな

い。

最終測定

  外観

4.35.5

による。

  出力電圧比

(半固定可変抵抗器だけに

適用)

ac

U

ab

U

≦...%

4.35

  振動(正弦波)(

備考 8.

参照)

  素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω)

(3) 

すべての試料

5

4.38

  一連耐候性

−  高温(耐熱性)

外観

4.38.2.2

による。

−  温湿度サイクル(12+12

時間サイクル)の残りの

サイクル

−  低温(耐寒性)

始動トルク

...mN

・m∼...mN・m

−  減圧

8kPa

(

3

)

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ

に適用)

(取付方法は

備考 13.

による。

4.38.5.3

による。

−  温湿度サイクル(12+12

時間サイクル)の残りの

サイクル

−  直流負荷

備考 10.による。

−  アイソレーション電圧

備考 10.による。

4.38.8

による。

外観

4.38.10.1

による。

−  最終測定

素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 


13

C 5260-3 : 2000

試料数及び総合

格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だ

けに適用)

(取付方法は

備考 13.

による。

R

≧100M

 

連続性

4.5.1

による。 

始動トルク

...mN

・m∼...mN・m 

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ

に適用)

(取付方法は

備考 13.

よる。

4.38.10.7

による。 

群 3

D

5

1

試験時間:1 000h

−  試料数 3 個

  端子 a と c との間に負荷:

  48h,500h 及び 1 000h での検

査:

  外観

  素子抵抗値

4.43.2.6

の a)による。

R

≦±(...%R+...

Ω) 

−  試料数 2 個

  端子 a と b との間に負荷:

  48h,500h 及び 1 000h での検

査:

  外観

4.43.1.6

の a)による。 

  端子 a と b との間の抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

  素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

−  全試料

  1 000h での検査:

  絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)(取付方法は

備考 13.による。)

  しゅう動雑音

R

≧1G

 

  方法 B(巻線可変抵抗器に適

用)

θ

0

:...

R

≦...%R

  出力平滑性(非巻線可変抵抗

器だけに適用)

  個別規格にある場合,試験時

間を 8 000h に延長する。

  2 000h,4 000h 及び 8 000h で

の検査:

U

≦...%U

ac

4.43.2

  70℃での電気的耐久性

  素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω)結果は情報

としてだけ扱う。 

群 4

ND

5

1

4.4.3

  寸法(詳細)

個別規格の規定による。

4.4.4

  全機械的操作範囲

個別規格の規定による。

4.4.6

  有効電気的操作範囲

有効電気的操作角度

無効操作角度(反時計方向)

無効操作角度(時計方向)

θ≧...゜ 
θ≦...゜ 
θ≦...゜


14

C 5260-3 : 2000

試料数及び総合

格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

4.9

  抵抗変化特性

(個別規格には,この規格の

2.1.5

から選んだ試験条件及び

要求性能を規定する。

群 5

D

5

1

1)

  4.39.2.1

  第 1 のグループ:試料数 2 個

  第 2 のグループ:試料数 2 個

  第 3 のグループ:試料数 1 個

2)

  4.39.2.2

  第 1 のグループ:試料数 3 個

  第 2 のグループ:試料数 2 個

直流負荷(

備考 10.による。)

アイソレーション電圧

備考 10.及び取付方法は備

考 13.による。) 

4.39.4

による。 

最終測定

  外観

4.39.6.1

による。 

  素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

  絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)(取付方法は

備考 13.による。)

R

≧100M

 

  始動トルク

...mN

・m∼...mN・m 

  しゅう動雑音:

R

≦...%R

  方法 B(巻線可変抵抗器)

θ

0

:...

4.39

  高温高湿(定常)

  出力平滑性(非巻線可変抵抗

器だけに適用)

U

≦...%U

ac

群 6

D

5

1

試験時間:1 000h

−  試料数 3 個

  端子 a と c との間に負荷

  48h,500h 及び 1 000h での検

査:

  外観

4.43.3.7

の a)による。 

  素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

−  試料数 2 個

  端子 a と b との間に負荷

  48h,500h 及び 1 000h での検

査:

  外観

4.43.3.7

の a)による。 

  端子 a と b との間の抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

  素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

−  全試料

  1 000h での検査:

 

4.43.3

  カテゴリ上限温度での

電気的耐久性

(適用する場合,

備考 7.参照)

  絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)(取付方法は

備考 13.による。)

R

≧G

 


15

C 5260-3 : 2000

試料数及び総合

格判定個数

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

n

c

t

要求性能

備考 1.参照)

群 7

ND

5

0

カテゴリ下限温度/20℃

R

R

≦...%

20

℃/70℃

R

R

≦...%

4.14

  抵抗温度特性

  (

備考 12.参照)

20

℃/カテゴリ上限温度

R

R

≦...%

群 8

D

5

1

(この群は,この規格の 2.2.3

に規定するものと異なる軽減

曲線を個別規格で規定する場

合だけに適用する。

試験時間:1 000h

−  試料数 3 個

  端子 a と c との間に負荷:

  48h,500h 及び 1 000h での検

査:

  外観

4.43.1.6

の a)による。 

  素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

−  試料数 2 個

  端子 a と b との間に負荷:

  48h,500h 及び 1 000h での検

査:

群 と同じ) 

  外観

4.43.1.6

の a)による。 

  端子 a と b との間の抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω)

群 と同じ) 

  素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

−  全試料

  1 000h での検査:

4.4.3

  70℃以外の温度での電気

的耐久性(適用する場合,

考 11.参照)

  絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)(取付方法は

備考 13.による。)

R

≧1G

 

群 9

D

5

1

サイクル数:...

接続時間:...h

外観

4.28.3

による。 

素子抵抗値

R

≦±(...%R+...

Ω) 

4.28

  ディザ(非巻線可変抵抗

器だけに適用,

備考 11.参照)

出力平滑性(非巻線可変抵抗器

だけに適用)

U

≦...%U

ac

 

(

1

)

原国際規格では,温度を表す記号として

θ

A

及び

θ

B

を用いているが,JIS C 5260-1で引用している JIS C 0025

合わせて T

A

及び T

B

に変更した。

(

2

)  JIS C 5260-1

で引用している JIS C 0042 に合わせて修正した。

(

3

)  JIS C 5260-1

で引用している JIS C 0029に合わせて修正した。

備考3.  可変抵抗器が,試験を適用できない設計となっている場合は,その試験は,個別規格で適用しない。


16

C 5260-3 : 2000

4.

封止の試験は,可変抵抗器が封止構造をもっている場合に適用する。

種類 A の封止試験  (4.31.1)  及び種類 B の封止試験  (4.31.2.1)  は,操作軸とパネルとが封止された可変抵

抗器に対し 1 回行う。

5.

適用できない場合は,操作軸の軸方向がた  (4.26)  を実施する。

6.

適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。

7.

バンプ試験及び衝撃試験は,いずれか一方を選択する。いずれの試験を適用するかを個別規格に規定する。

8.

この試験は,耐候性カテゴリが 25/−/−,40/−/−,55/−/−及び 65/−/−の可変抵抗器に適用する。

9.

この試験は,4.38.5.1 に規定された事項に追加して,耐候性カテゴリが 65/−/−の可変抵抗器に適用する。

10.

直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験ではいずれかを選択する。いずれの試験を適用するかを個別規
格に規定する。

11.

群 8”又は“群 9”のいずれかを適用する場合は,“群 0”の試料数を 5 個増やす。

12.  4.14.2

の d)及び f)に規定の温度は,カテゴリ上限温度 100℃の可変抵抗器にも適用する。

13.

取付方法は,JIS C 5260-1 の 4.12(耐電圧)及び 4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほか,次による。

a)

本体で取り付けるように設計されているものは,JIS C 5260-1 の 4.12.1 による。

b)

端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取り付けるあな(孔)があっても,端子でプリ
ント配線板に取り付けて試験する。

3.3

品質確認検査

3.3.1

検査ロットの構成  検査ロットは,構造的に類似な可変抵抗器(3.1 参照)で構成し,次による。

a)

群 A 及び群 B:製造された抵抗値を代表するものとする。

b) 

群 C: 1)  試料は,13 週にわたって集める。

2) 

試料は,期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。

c)

群 D:群 C と同じとする。ただし,試料は,検査対象期間の最後の 13 週から集める。

抜き取った試料は,高抵抗値,低抵抗値及び臨界抵抗値の釣合いが十分にとれているものとする。

備考  “低抵抗値”は,現在認証された最低抵抗値の

200

0

+

%

以内とする。

高抵抗値”は,現在認証された最高抵抗値の

0

30

%

以内とする。

臨界抵抗値”は,計算値の

0

20

%

以内とする。

3.3.2

試験計画  品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブ

ランク個別規格 JIS C 5260-3-1 

第 章(検査要求事項)の表 に示す。

3.3.3

評価水準  ブランク個別規格及び個別規格に規定する評価水準は,次の表 4.1 及び表 4.2 の中から

選択することが望ましい。

表 4.1  評価水準及びロットごとの品質確認検査

D

*

E F

*

G

*

検査副群

**

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

A1

  I

1.5

A2

  I

1.5

A3

S-2

4.0

A4

S-2

1.5

A5

S-2

2.5

B1

IL

=検査水準

AQL

=合格品質水準


17

C 5260-3 : 2000

表 4.2  評価水準及び定期的品質確認検査

D

*

E F

*

G

*

検査副群

**

p

n

c

p

n

c

p

n

c

p

n

c

C1

3

5

0

C2

3

5

1

C3

3

5

1

C4

6

5

1

D1

12

5

1

D2

12

5

0

D3

12

5

1

D4

36

5

1

D5

36

5

1

p

=周期(月)

n

=試料数

c

=合格判定個数

*

評価水準 D,F 及び G は,検討中。

**

検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の

第 章(検査要求事項)に規

定する。

3.4

長期保管後の出荷  検査水準を S-2 に緩めて JIS C 5260-1 の 3.5.2(長期保管後の出荷)の規定を適

用する。

3.5

機械的精度の測定装置

3.5.1

ダイヤル指示計  最小のメモリ分割は,規定の許容差の 10%又はそれ以下であり,25

µm 以下の測

定の場合には,1

µm まで読み取れるものでなければならない。

指示計の誤差補正を行わない場合は,指針の全可動鯛の 1/3 以上の範囲にわたって使用してはならない。

もしダイヤル指示計をピポット形の測定子とともに使用するなら,測定中は,測定子の縦方向の中心線を

被測定物に対して直角に保つか,又は適用できる補正ファクタを使用しなければならない。さらに,測定

子が,可変抵抗器に近接するときは,ダイヤル指示計が損傷しないようにダイヤル指示計の位置を微調整

する機構が備わっていなければならない。

3.5.2

円筒形アダプタ  滑らかな円筒状の表面をもったアダプタで,可変抵抗器の操作軸に取り付けたと

き,規定のがた限度の 10%以上の偏心度が加わってはならない。

3.5.3

可変抵抗器の取付装置  この装置は,可変抵抗器の操作軸が自由に動けるようにしたまま,試料を,

通常の実装方法で保持する。

3.5.4

可変抵抗器の操作軸保持装置  この装置は,可変抵抗器本体が自由に動けるようにしたまま試料を

水平又は垂直のいずれかの位置に操作軸を保持する。

関連規格  JIS C 0029  環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法

JIS C 0041

  環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法

JIS C 0042

  環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法

JIS C 5260-3-1

  電子機器用可変抵抗器−第 3 部:ブランク個別規格:回転形精密級可変抵抗器

評価水準 E

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指

標型抜取検査方式


18

C 5260-3 : 2000

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表

JIS C 5260-3 : 2000

  電子機器用可変抵抗器−第 3 部:品種別

通則:回転形精密級可変抵抗器

IEC 60393-3 : 1992

  電子機器用可変抵抗器−第 3 部:品種別

通則:回転形精密級可変抵抗器

対比項目

規定項目

(I)

JIS

の規定内容 (III)

国際規格の規定

内容

(IV)

JIS

と国際規格と

の相違点

(V)

JIS

と国際規格との整合が

困難な理由及び今後の対策

(1)

一般事項

1.4.5.1

定格抵抗値

の範囲

○  E シリーズ及び

/又は 1,2,5

シリーズとする。

○  E シリーズとす

る。

MOD/

追加

1

,2,5 シリー

ズを追加。

理由:市場で多く使用されてい

る。

今後の対策:改正提案予定

(2)

推奨定格,特性及

び試験の厳しさ

  安定性クラス

 10%

MOD/

追加

10%

を追加。

理由:市場で多く使用されてい

る。

今後の対策:改正提案予定

  アイソレーション

電圧

減圧下:8kPa  減圧下:8.5kPa

MOD/

変更

8.5kPa

8kPa

に変更。

  バンプ

ピーク加速度:

400m/s

2

ピーク加速度:

390m/s

2

MOD/

変更

390m/s

2

400m/s

2

変更。

  衝撃

ピーク加速度:

300m/s

2

又は

500m/s

2

ピーク加速度:

294m/s

2

又は

490m/s

2

MOD/

変更

294m/s

2

又は

490m/s

2

300m/s

2

又は

500m/s

2

に 変

更。

理 由 : IEC 60115-1

及 び

IEC60384-1

が改正され,また引

用している

JIS

も改正されてお

り,整合させるため改正内容を

採用した。

今後の対策:改正提案予定

(3)

品質評価手順

IDT

整合化手法:2

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    −  IDT  技術的差異がない。 
    −  MOD/追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  MOD/変更 国際規格の規定内容を変更している。

2.  JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    −  MOD 国際規格を修正している。


19

C 5260-3 : 2000

電子部品 JIS 原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学名誉教授

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立産業技術研究所

寺  岡  憲  吾

防衛庁装備局

藤  倉  秀  美

財団法人電気安全環境研究所

岩  田      武

村  岡  桂次郎

曽我部  浩  二

町  野  俊  明

富士テクノサーベイ株式会社

橋  本      進

財団法人日本規格協会

窪  田      明

通商産業省

橋  爪  邦  隆

通商産業省

福  原      隆

沖電気工業株式会社

村  上  昭  次

株式会社ケンウッド

山  本  克  巳

ソニー株式会社

西  村  和  男

株式会社東芝

新  井  謙  一

日本電気株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

伊  高  篤  己

三菱電機株式会社

松  本  眞  弓

サイデンテクノ株式会社

中  村  之  大

株式会社緑測器

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

高  木  祐  司

アルプス電気株式会社

石  井      勝

第一電子工業株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  名  法  明

株式会社村田製作所

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

佐  藤  広  志 TDK 株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会

JIS C 5260-3

分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

中  村  之  大

株式会社緑測器

(委員)

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

吉  田      實

アルプス電気株式会社

本  田  義  夫 KOA 株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  本  克  巳

ソニー株式会社

林      里  志

ツバメ無線株式会社

野  原      明

帝国通信工業株式会社

三  本  久  明

日本電気株式会社

中  山  孝  之

北陸電気工業株式会社

佐  藤  幸  治

松下電子部品株式会社

吉  田  松  二

福井松下電器株式会社

一  木  義  和

株式会社村田製作所

(客員)

松  本  眞  弓

サイデンテクノ株式会社

曽我部  浩  二

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会