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C 5260-3-1 : 2000

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電子機械工業会  (EIAJ)  から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,通

商産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。

通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,

実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5260-3-1

には,次に示す附属書がある。

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格の対比表

部編成規格  この規格の部編成規格は,次による。

JIS

C

5260

群  電子機器用可変抵抗器

JIS

C

5260-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5260-2

  第 2 部:品種別通則:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器

JIS

C

5260-2-1

  第 2 部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5260-2-2

  第 2 部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5260-3

  第 3 部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器

JIS

C

5260-3-1

  第 3 部:ブランク個別規格:回転形精密級可変抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5260-4

  第 4 部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器

JIS

C

5260-4-1

  第 4 部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5260-4-2

  第 4 部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5260-5

  第 5 部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器

JIS

C

5260-5-1

  第 5 部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5260-5-2

  第 5 部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器  評価水準 F


C 5260-3-1 : 2000

(1) 

目次

ページ

序文

1

  ブランク個別規格 1

  個別規格の識別 1

  可変抵抗器の識別 1

第 1 章  一般事項

1.

  一般事項

3

1.0

  適用範囲

3

1.1

  推奨する取付方法(挿入用)

3

1.2

  寸法

3

1.3

  定格及び特性

3

1.3.1

  負荷軽減

3

1.4

  引用規格

4

1.5

  表示

4

1.6

  発注時の情報

4

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8

  追加事

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

4

第 2 章  検査要求事項

2.

  検査及び要求事項

4

2.1

  手順

4

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表

14


日本工業規格

JIS

 C

5260-3-1

: 2000

電子機器用可変抵抗器−

第 3 部:ブランク個別規格:

回転形精密級可変抵抗器

評価水準  E

Potentiometers for use in electronic equipment

Part 3 : Blank detail specification :

Rotary precision potentiometers

Assessment level E

序文  この規格は,1992 年に第 1 版として発行された IEC 60393-3-1, Potentiometers for use in electronic

equipment

−Part3 : Blank detail specification : Rotary precision potentiometers, Assessment level E を元に,規格票

の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが,技術的内容については,製品の現状に即して

変更している。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC 規格番号

は,1997 年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に

ついても,規格番号に 60000 を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一

である。

ブランク個別規格  この規格は,品種別通則  (JIS C 5260-3)  の補足規格で,個別規格の様式,配列及び最

小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に

基づいていないとみなす。

個別規格を作成する場合には,JIS C 5260-3 の 1.4(個別規格に規定する事項)の内容を考慮に入れる。

個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧内の数字は,指定の位置に記入する次の事項と対

応する。

個別規格の識別 

(1)

個 別 規 格 を 管 理 す る 国 内 標 準 化 機 関 又 は 国 際 電 気 標 準 会 議   (IEC  : International electrotechnical

commission)

の名称。

(2)

個別規格の日本工業規格番号,発効年及び国内制度で要求される事項,又は IEC 規格の番号,版及び

発行年。

(3)

品目別通則の日本工業規格の名称,番号及び発効年又は IEC 規格の番号,版及び発行年。

(4)

ブランク個別規格の日本工業規格番号又は IEC 規格番号。

可変抵抗器の識別 


2

C 5260-3-1 : 2000

(5)

可変抵抗器の品種についての要約説明。

(6)

代表的な構造の説明(適用する場合)

。例えば,非巻線,単回転形。

備考  可変抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのことを

明記する。

(7)

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。こ

の図は,個別規格の附属書としてもよい。

(8)

適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準。

備考  個別規格に規定する評価水準は,JIS C 5260-3 の 3.3.3(評価水準)から選択する。このブラン

ク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。

(9)

異なる品種の可変抵抗器について,対比できる重要な特性に関する参照データ。

例  日本工業標準調査会)

(1) 

個別規格の番号

(2)

例  JIS C 5260-3-1 
(ブランク個別規格番号)

(4)

電子機器用可変抵抗器 
第 1 部:品目別通則

JIS C 5260-1 : 1999

(3)

外形図(

表 参照)

(第三角法)

(7)

回転形精密級可変抵抗器

(5)

代表的な構造:

例  非巻線,単回転形

(6) 

(必要がある場合,寸法を個別規格の附属書と
してもよい。

端子の接続

評価水準:E 
安定性クラス:...%

(8)

この個別規格で認証された可変抵抗器の詳しい内容は,品

質認証電子部品一覧表  (

QPL

)

に示されている。

参考

この記載は,IEC 品質認証制度  (IECQ)  の場合に適用す

る。

(9)

表 1  定格及び特性

形状

定格電力 (70℃) W

素子最高電圧  V

(直流又は交流の

実効値)

アイソレーション電圧  V

直流又は交流ピーク値

大気圧下

減圧下


3

C 5260-3-1 : 2000

第 章  一般事項 

1.

一般事項

1.0

適用範囲  この規格は,JIS C 5260-3 を品種別通則とするブランク個別規格で,回転形精密級可変抵

抗器  評価水準 E(以下,可変抵抗器という。

)について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60393-3-1 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment

− Part 3 : Blank detail

specifica-tion : Rotary precision potentiometers, Assessment level E (MOD)

1.1

推奨する取付方法(挿入用)  [JIS C 5260-3 の 1.4.2(取付け)を参照]

1.2

寸法  (必要がある場合には,寸法は,個別規格の附属書に規定してもよい。)

すべての寸法は,ミリメートル (mm) で示す。

1.3

定格及び特性

定格抵抗値範囲

*

各抵抗変化特性ごと及び各形状ごとの範囲,IECQ の場

は,品質認証電子部品一覧表  (QPL)  で示す。

定格抵抗値の許容差

±...%

抵抗変化特性及び一致性 ...

抵抗温度特性

≦...%

 (20

℃∼70℃) (

R/R)

温度係数

≦...×10

-6

/

耐候性カテゴリ

−/−/−

減圧 8kPa

抵抗値の許容変化(端子 a と c との間)

± (...%R+...

Ω)

(電気的耐久性試験 1 000h 後)

始動トルク ...mN・m∼...mN・m

駆動機構の回転数 ...

全機械的操作範囲

≧...゜

有効電気的操作範囲

≧...゜

無効操作範囲(時計方向)

≦...゜

無効操作範囲(反時計方向)

≦...゜

しゅう動接点許容電流 ...mA

端子間抵抗値 ...

終端残留抵抗値(適用する場合) ...

最小有効抵抗値 ...

*

定格抵抗値の推奨値は,JIS C 5063 の E シリーズ及び/又は 1,2,5 シリーズである。

参考

R/R

は,抵抗値変化の定格抵抗値に対する百分率 (%) を示す。減圧の 8kPa は JIS C 5260-1 

引用している JIS C 0029 に合わせて変更した。%は,定格抵抗値に対する百分率を示す。

1.3.1

負荷軽減  この規格を適用する可変抵抗器は,次の軽減曲線によって負荷を軽減する。

(適切な軽減曲線は,個別規格に規定する。


4

C 5260-3-1 : 2000

備考  JIS C 5260-3 の 2.2.3(定格電力)を参照。

1.4

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の版だけがこの規格を

構成するものであって,その後の改正版・追補・Amendment には適用しない。発効年又は発行年を付記し

ていない引用規格は,その最新版(追補・Amendment を含む。

)を適用する。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考  IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors 並びに Amendment 1 : 1967

及び Amendment 2 : 1977 が,この規格と一致している。

JIS C 5260-1

  電子機器用可変抵抗器−第 1 部:品目別通則

備考  IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : General specification

及び Amendment 1 : 1992 からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5260-3

  電子機器用可変抵抗器−第 3 部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器

備考  IEC 60393-3 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Sectional specification :

Rotary precision potentiometers

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

備考  IEC 60410 : 1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributes からの引用事項は,こ

の規格の該当事項と同等である。

1.5

表示  可変抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5260-3 の 1.5(表示)による。

備考  可変抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。

1.6

発注時の情報  この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に

示すか,又は記号の形で示す。

a)

定格抵抗値及びその許容差

b)

抵抗変化特性(直線形以外の場合)及び一致性

c)

個別規格の番号,発効年及び形状

d)

形状の情報で分からない場合には,操作軸及び取付ねじの寸法

1.7

出荷対象ロットの成績証明書  要求する,又は要求しない。

1.8

追加事項(検査目的以外のもの)  (個別規格には,内容をよく理解させるために回路図,軽減曲

線,図面及び備考による情報を含めてもよい。

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

備考  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合だけに規定する。

第 章  検査要求事項 

2.

検査及び要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証のための手順は,JIS C 5260-3 の 3.2(品質認証)による。

2.1.2

品質確認検査のための試験計画(

表 2)には,サンプリング,周期,厳しさ及び要求事項を規定す

る。検査ロットの構成は,JIS C 5260-3 の 3.3.1(検査ロットの構成)による。

品質確認検査では,承認された抵抗値範囲を代表するものを 1 年以内に検査する(群 A,群 B 及び群 C


5

C 5260-3-1 : 2000

だけ)

備考  乾燥が要求される場合には,JIS C 5260-1 の 4.3(乾燥)の手順 I による。

表 2  品質確認検査のための試験計画

備考1.  試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の厳しさ及び抵抗値

又は出力電圧比の許容限界は,JIS C 5260-3の関連項目から選択する。

2.

検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015-1 から選択する。

3.

この

表 

参考  表中の

ac

ab

U

U

は,全印加電圧に対する百分率 (%) で表した出力電圧比の変化を表す。

R

”は抵

抗値の変化量を示す。

“%R”は,定格抵抗値に対する百分率を示す。

表 2  品質確認検査のための試験計画(続き)

IL AQL

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

備考 2.参照)

要求性能

備考 1.参照)

群 検査

(ロットごと)

副群 A1

ND

I

1.5%

4.6

  素子抵抗値

4.6.3

による。

副群 A2

ND

I

1.5%

4.4.1

  外観

4.4.1

による。

表示が明りょうで,この規格の

1.5

による。

4.4.2

  寸法(ゲージ法)

個別規格の規定による。

4.18

  始動トルク

個別規格の規定による。

4.4.4

  全機械的操作範囲

個別規格の規定による。

副群 A3

ND

S-2

4.0%

4.4.4

  全機械的操作範囲

個別規格の規定による。

4.4.6

  有効電気的操作範囲

有効電気的操作角度

無効操作角度(反時計方向)

無効操作角度(時計方向)

θ

≧...゜

θ

≦...゜

θ

≦...゜

4.9

  抵抗変化特性

(品種別通則の 2.1.5 から選択

した適切な試験方法及び性能

要求事項を個別規格に規定す

る。

4.15

  しゅう動雑音

方法 B(巻線可変抵抗器だけに

適用)

∆θ

0

:...

R

≦...%R

4.29

  出力平滑性

(非巻線抵抗器だけに適用)

U

≦...%U

ac


6

C 5260-3-1 : 2000

IL AQL

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

備考 2.参照)

要求性能

備考 1.参照)

4.12

  耐電圧

(絶縁形可変抵抗器だけに適

用)

(取付方法は,この規格の 1.1

及び

備考 11.による。)

大気圧下

4.12.5

による。

副群 A4

ND

S-2

1.5%

4.32

  はんだ付け性(適用する

場合)

はんだ槽方式

温度:235℃±5℃

時間:2s±0.5s

又は

方法 2:はんだこて法

はんだこて:サイズ B

温度:350℃±10℃

時間:2s±0.5s

端子は,はんだが良好に付着し

ている。

4.45

  表示の耐溶剤性(適用す

る場合)

溶剤:...

溶剤の温度:...

方法 1

ラビング材質:脱脂綿

後処理:...

表示が,明りょうである。

副群 A5

ND

S-2

2.5%

(この副群が適用されないような可変抵抗器の設計の場合は,個別規格ではこの副群は除く。

4.23

  操作軸の偏心(シャフト

ランアウト)

半径方向の荷重:...N

取付面からの操作軸の長さ

全指示値  (l)  :≦...mm

4.24

  取付面の平たん度(ラテ

ラルランアウト)

  (l)

:...mm

半径方向の荷重:…N

操作軸方向の荷重:...N

4.25

  取付ガイド円面の真円度

(スピゴットダイヤメータラ

ンアウト)

取付面の半径  (r)  :...mm

半径方向の荷重:...N

全指示値  (r)  :≦...mm

全指示値:≦...mm

4.26

  操作軸の軸方向がた(シ

ャフトエンドプレイ)

A

方向

B

方向

全指示値:≦...mm

全指示値:≦...mm

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

副群 検査

:適用しない

群 検査

(定期的)

副群 C1

ND

3

5

0

(全回転形可変抵抗器には適用

しない。

4.20

  回転止め強度

外観

4.20.1

による。


7

C 5260-3-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

−  試料数 3 個

  4.22.2 を適用

連続性

−  試料数 2 個

  4.22.3 を適用

4.22.2

による。

4.22

  操作軸の押し及び引張

り(試験が

副群 A5

で実施

されている場合は適用しな

い)

出力電圧比

ac

ab

U

U

≦...% 

副群 C2A

D

3

2

副群 C2

の試料の一部

端子の種類に適応した試験を行

う。

4.30

  端子強度

外観

素子抵抗値

4.30.8

による。

R

≦±(...%R+...

Ω)

試験 Tb,方法 1B

  温度:350℃±10℃

  時間:3.5s±0.5s

又は

方法 2

  はんだこて:サイズ B

  温度:350℃±10℃

  時間:10s±1s

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

端子間抵抗値

4.33

はんだ耐熱性(適用する

場合)

  端子 a と b との間の抵抗値

  端子 b と c との間の抵抗値

適用する場合は,端子 b と各

タップ端子間の抵抗値

R

≦...

R

≦...

R

≦...

溶剤:...

溶剤の温度:...

4.4.4

  本体の耐溶剤性

(適用する場合)

方法 2

後処理:...

個別規格に規定する

副群 C2B

D

3

3

  副群 C2

の残りの部分

備考 5.による。

T

A

(

1

)

カテゴリ下限温度

T

B

(

1

)

カテゴリ上限温度

放置時間 t

1

=30min

外観 

4.34.5

による。 

4.34

  温度変化

出力電圧比(半固定可変抵抗器

だけに適用)

ac

ab

U

U

≦...% 

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

取付方法:この規格の 1.1 によ

る。

ピーク加速度:

400

 m/s

2

(

2

)

バンプ回数:4 000

 

4.36

  バンプ(又は 4.37 衝撃)

備考 6.参照)

外観

4.36.3

による。 


8

C 5260-3-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

取付方法:この規格の 1.1 によ

る。

パルス波形:正弦半波

ピーク加速度:...m/s

2

作用時間:11ms

 

外観

4.37.3

による。 

4.37

  衝撃(又は 4.36 バンプ)

備考 6.参照)

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

取付方法:この規格の 1.1 によ

る。

掃引耐久試験

  振動数範囲:

  ...Hz∼...Hz

振 幅 : 0.75mm 又 は 加 速 度

98m/s

2

(いずれかゆるい方を

適用)

  総試験時間:6h

  備考 5.による。

試験中の測定

  電気的連続性

  (4.35.4 を適用) 

100

µs を超える不連続がない。

最終測定

  外観

4.35.5

による。

出力電圧比(半固定可変抵抗

器だけに適用)

ac

ab

U

U

≦...%

4.35

  振動(正弦波)

備考 7.参照)

  素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

副群 C2

D

3

5

1

副群 C2A

及び

C2B

の全試

4.38

  一連耐候性

−  高温(耐熱性)

外観

4.38.2.2

による。

−  温湿度サイクル(12+12

時間サイクル)の最初の

サイクル

−  低温(耐寒性)

始動トルク

...mN

・m∼...mN・m

−  減圧

備考 8.参照)

8kPa

(

3

)

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ

けに適用)

(取付方法は,こ

の規格の 1.1 及び

備考 11.

による。

4.38.5.3

による。

−  温湿度サイクル(12+12

時間サイクル)の残りの

サイクル

−  直流負荷

備考 9.による。


9

C 5260-3-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

備考 9.による。

4.38.8

による。

外観 

4.38.10.1

による。 

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,この

規格の 1.1 及び

備考 11.  によ

る。

R

≧100M

 

連続性

始動トルク

適用する場合 4.5.1 及び 4.5.2 

よる。 

−  アイソレーション電圧最

終測定

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ

に適用)

(取付方法は,

この規

格の 1.1 及び

備考 11.による。)

...mN

・m∼...mN・m

4.38.10.7

による。 

副群 C3

D

3

5

1

試験時間:1 000h

−  試料数 3 個

  端子 a と c との間に負荷

48h

,500h 及び 1 000h での検

査:

  外観

4.43.2.6a)

による。 

  素子抵抗値

−  試料数 2 個

  端子 a と b との間に負荷

48h

,500h 及び 1 000h での検

査:

R

≦± (...%R+...

Ω)   

  外観

4.43.2.6a)

による。 

  素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

−  全試料

  1 000h での検査:

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,

この規格の 1.1 及び

備考 11.

による。

R

≧1G

 

しゅう動雑音

R

≦...%R

方法 B(巻線可変抵抗器だけに

適用)

∆θ

0

:...

出力平滑性(非巻線可変抵抗

器だけに適用)

別 規格 に要求 があ る場合 に

は,試験時間を 8 000h まで

延長する。

U

≦...%U

ac

2 000h

,4 000h 及び 8 000h で

の検査:

4.43.2

  70℃での電気的耐久

  素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

測定結果は情報としてだけ扱

う。 


10

C 5260-3-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

副群 C4

D

6

5

1

操作サイクル数:...

操作軸回転速度:...min

−1

外観

40.6

による。 

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

端子間抵抗値(最小抵抗値)

  端子 a と b との間の抵抗値

R

≦...

 

  端子 b と c との間の抵抗値

R

≦...

 

適用する場合は,端子 b と各

タップ端子間の抵抗値

R

≦...

 

絶縁抵抗値(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,

この規格の 1.1 及び

備考 11.

による。

R

≧1G

 

始動トルク

...mN

・m∼...mN・m 

連続性

4.5.1

による。 

操作軸の押し及び引き(

備考 4.

による。

  A 方向

全指示値:≦...mm 

  B 方向

全指示値:≦...mm 

操作軸の押し及び引き(

備考 4.

による。

−  試料数 3 個

4.22.2

連続性の規定による。

4.22.2

による。 

−  試料数 2 個 

4.22.3

出力電圧比の規定によ

る。 

ac

ab

U

U

≦...% 

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ

に適用)

(取付方法は,この

規格の 1.1 及び

備考 11.  によ

る。

 

4.40.6

による。

備考 8.参照) 

しゅう動雑音

R

≦...% 

方法 B(巻線可変抵抗器だけに

適用)

∆θ

0

:...

U

≦...%U

ac

4.40

  機械的耐久性

備考 参照)

出力平滑性(非巻線可変抵抗器

だけに適用) 

 


11

C 5260-3-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

群 検査

(定期的)

副群 D1

D

12

5

1

1)

  4.39.2.1

  第 1 のグループ:試料数 2 個

  第 2 のグループ:試料数 2 個

  第 3 のグループ:試料数 1 個

2)

  4.39.2.2

  第 1 のグループ:試料数 3 個

  第 2 のグループ:試料数 2 個

直流負荷(

備考 9.による。) 

アイソレーション電圧

  (

備考 9.による。)

(取付方法は,この規格の 1.1

及び

備考 11.による。) 

4.39.4

による。 

最終測定

  外観

4.39.6.1

による。 

  素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,この規格の 1.1

及び

備考 11.による。)

R

≧100M

 

  始動トルク

...mN

・m∼...mN・m 

  しゅう動雑音

方法 B(巻線可変抵抗器だけ

に適用)

R

≦...%R

∆θ

0

:...

4.39

  高温高湿

(定常)

出力平滑性(非巻線可変抵抗

器だけに適用) 

U

≦...%U

ac

副群 D2

ND

12

5

0

カテゴリ下限温度/20℃

R

R

≦...%

20

℃/70℃

R

R

≦...%

4.14

  抵抗温度特性

備考 10.参照)

20

℃/カテゴリ上限温度

R

R

≦...%

副群 D3

D

12

5

1

サイクル数:...

接続時間:...h

外観

4.28.3

による。 

素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

4.28

  ディザ(非巻線可変抵抗

器だけに適用)

出力平滑性(非巻線可変抵抗器

だけに適用)

U

≦...%U

ac

 


12

C 5260-3-1 : 2000

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

副群 D4

D

36

5

1

4.43

  寸法(詳細)

個別規格の規定による。

試験時間:1 000h

−  試料数 3 個

  端子 a と c との間に負荷:

48h

,500h 及び 1000h での検

査:

  外観

4.43.3.7a)

による。 

  素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

−  試料数 2 個

  端子 a と b との間の負荷

48h

,500h 及び 1 000h での検

査:

  外観

4.43.3.7a)

による。 

  端子 a と b との間の抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

  素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

−  すべての試料

  1 000h での検査:

4.43.3

  カテゴリ上限温度で

の電気的耐久性

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,

この規格の 1.1 及び

備考 11.

による。

R

≧1G

 

(この副群は,この規格の 2.2.3

に示した以外の軽減曲線を規定

した場合だけに適用する。

試験時間:1 000h

−  試料数 3 個

  端子 a と c との間に負荷:

48h

,500h 及び 1 000h での検

査:

36

5 1

  外観

4.43.1.6a)

による。 

  素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

(副群 C3 と同じ) 

−  試料数 2 個

  端子 a と b との間の負荷

48h

,500h 及び 1 000h での検

査:

 

  外観

4.43.1.6a)

による。 

  端子 a と b との間の抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

(副群 C3 と同じ) 

  素子抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)   

−  すべての試料

1 000h

での検査:

副群 D5

4.4.3

  70℃以外の温度での耐

久性(適用する場合)

D

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)

(取付方法は,

この規格の 1.1 及び

備考 11.

による。

R

≧1G

 


13

C 5260-3-1 : 2000

(

1

)

原国際規格では,温度を表す記号として

θ

A

及び

θ

B

を用いているが,JIS C 5260-1で引用している JIS C 0025

合わせて T

A

及び T

B

に変更した。

(

2

)  JIS C 5260-1

で引用している JIS C 0042 に合わせて変更した。

(

3

)  JIS C 5260-1

で引用している JIS C 0029に合わせて変更した。

備考4.  副群 A5が試験計画に含まれている場合は,操作軸の軸方向がた試験を,操作軸の押し及び引

張試験の代わりに実施する。

5.

適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。

6.

バンプ試験及び衝撃試験は,いずれか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に

規定する。

7.

この試験は,耐候性カテゴリが 25/−/−,40/−/−,55/−/−及び 65/−/−の可変抵抗器に適

用する。

8.

この試験は,JIS C 5260-1 の 4.38.5.1 に規定した事項を追加して,65/−/−の可変抵抗器に適

用する。


14

C 5260-3-1 : 2000

附属書(参考)  JIS と対応する国際規格との対比表

JIS C 5260-3-1 : 2000

電子機器用可変抵抗器−第 3 部:

ブランク個別規格:回転形精密級

可変抵抗器  評価水準  E

IEC 60393-3-1 : 1992

電 子 機 器 用 可 変 抵 抗 器 − 第 3

部:ブランク個別規格:回転形精

密級可変抵抗器  評価水準  E

対比項目

規定項目

(I)

JIS

の規定内容 (III)

国際規格の規定

内容

(IV)

JIS

と国際規格と

の相違点

(V)  JIS

と国際規格との整合が困

難な理由及び今後の対策

(1)

一般事項

  1.3  定格及び特性

E

シリーズ及び

/又は 1,2,5

シ リ ー ズ と す

る。

E

シリーズとす

る。

MOD/

追加

1

,2,5 シリー

ズを追加。

理由:市場で多く使用されてい

る。今後の対策:改正提案予定

  1.4  引用規格

JIS Z 9015-1

IEC 60415

MOD/

変更

JIS Z 9015-1

対応国際規格が引用している

IEC 60415

の改正によって,JIS 

Z 9015

が廃止され新たに,

JIS Z 

9015-0

が制定された。整合

させるため内容的に類似の JIS 

Z 9015-1

を採用した。

(2)

検査要求事項

バンプ

ピーク加速度:

400m/s

2

ピーク加速度:

390m/s

2

MOD/

変更

390m/s

2

を 400

m/s

2

に変更

理 由 : IEC 60115-1 及 び IEC

60384-1

が改正され,また引用

している

JIS

も改正されてお

り,整合させるため改正内容を

採用した。

今後の対策:改正提案予定

減圧

減圧下:8kPa

減圧下:8.5kPa

MOD/

変更

8.5kPa

を 8kPa

に変更。

(3)

品質評価手順

IDT

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    −  IDT  技術的差異がない。

    −  MOD/追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  MOD/変更  国際規格の規定内容を変更している。

2.  JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    −  MOD  国際規格を修正している。

電子部品 JIS 原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学名誉教授

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立産業技術研究所

寺  岡  憲  吾

防衛庁装備局

藤  倉  秀  美

財団法人電気安全環境研究所

岩  田      武

村  岡  桂次郎

曽我部  浩  二

町  野  俊  明

富士テクノサーベイ株式会社

橋  本      進

財団法人日本規格協会

窪  田      明

通商産業省


15

C 5260-3-1 : 2000

橋  爪  邦  隆

通商産業省

福  原      隆

沖電気工業株式会社

村  上  昭  次

株式会社ケンウッド

山  本  克  巳

ソニー株式会社

西  村  和  男

株式会社東芝

新  井  謙  一

日本電気株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

伊  高  篤  己

三菱電機株式会社

松  本  眞  弓

セイデンテクノ株式会社

中  村  之  大

株式会社緑測器

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

高  木  祐  司

アルプス電気株式会社

石  井      勝

第一電子工業株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  名  法  明

株式会社村田製作所

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

佐  藤  広  志 TDK 株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会

JIS C 5260-3

分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

中  村  之  大

株式会社緑測器

(委員)

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

吉  田      實

アルプス電気株式会社

本  田  義  夫 KOA 株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  本  克  巳

ソニー株式会社

林      里  志

ツバメ無線株式会社

野  原      明

帝国通信工業株式会社

三  本  久  明

日本電気株式会社

中  山  孝  之

北陸電気工業株式会社

佐  藤  幸  治

松下電子部品株式会社

吉  田  松  二

福井松下電器株式会社

一  木  義  和

株式会社村田製作所

(客員)

松  本  眞  弓

セイデンテクノ株式会社

曽我部  浩  二

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会