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C 5260-3-1 : 2000  

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,通

商産業大臣が制定した日本工業規格である。 

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成5年12月31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。 

通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,

実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。 

JIS C 5260-3-1には,次に示す附属書がある。 

附属書(参考) JISと対応する国際規格の対比表 

部編成規格 この規格の部編成規格は,次による。 

JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器 

JIS C 5260-1 第1部:品目別通則 

JIS C 5260-2 第2部:品種別通則:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 

JIS C 5260-2-1 第2部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E 

JIS C 5260-2-2 第2部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F 

JIS C 5260-3 第3部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器 

JIS C 5260-3-1 第3部:ブランク個別規格:回転形精密級可変抵抗器 評価水準E 

JIS C 5260-4 第4部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器 

JIS C 5260-4-1 第4部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器 評価水準E 

JIS C 5260-4-2 第4部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器 評価水準F 

JIS C 5260-5 第5部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 

JIS C 5260-5-1 第5部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E 

JIS C 5260-5-2 第5部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F 

C 5260-3-1 : 2000  

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

 ブランク個別規格 ·············································································································· 1 

 個別規格の識別 ················································································································· 1 

 可変抵抗器の識別 ·············································································································· 1 

第1章 一般事項 

1. 一般事項 ························································································································ 3 

1.0 適用範囲 ······················································································································ 3 

1.1 推奨する取付方法(挿入用) ···························································································· 3 

1.2 寸法 ···························································································································· 3 

1.3 定格及び特性 ················································································································ 3 

1.3.1 負荷軽減 ···················································································································· 3 

1.4 引用規格 ······················································································································ 4 

1.5 表示 ···························································································································· 4 

1.6 発注時の情報 ················································································································ 4 

1.7 出荷対象ロットの成績証明書 ···························································································· 4 

1.8 追加事 ························································································································· 4 

1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項 ······································ 4 

第2章 検査要求事項 

2. 検査及び要求事項 ············································································································ 4 

2.1 手順 ···························································································································· 4 

附属書(参考) JISと対応する国際規格との対比表 ·································································· 14 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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日本工業規格          JIS 

C 5260-3-1 : 2000 

電子機器用可変抵抗器− 

第3部:ブランク個別規格: 

回転形精密級可変抵抗器 

評価水準 E 

Potentiometers for use in electronic equipment− 

Part 3 : Blank detail specification : 

Rotary precision potentiometers 

Assessment level E 

序文 この規格は,1992年に第1版として発行されたIEC 60393-3-1, Potentiometers for use in electronic 

equipment−Part3 : Blank detail specification : Rotary precision potentiometers, Assessment level Eを元に,規格票

の様式を変更することなく作成した日本工業規格であるが,技術的内容については,製品の現状に即して

変更している。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC規格番号

は,1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に

ついても,規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一

である。 

ブランク個別規格 この規格は,品種別通則 (JIS C 5260-3) の補足規格で,個別規格の様式,配列及び最

小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に

基づいていないとみなす。 

個別規格を作成する場合には,JIS C 5260-3の1.4(個別規格に規定する事項)の内容を考慮に入れる。 

個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧内の数字は,指定の位置に記入する次の事項と対

応する。 

個別規格の識別 

(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC : International electrotechnical 

commission) の名称。 

(2) 個別規格の日本工業規格番号,発効年及び国内制度で要求される事項,又はIEC規格の番号,版及び

発行年。 

(3) 品目別通則の日本工業規格の名称,番号及び発効年又はIEC規格の番号,版及び発行年。 

(4) ブランク個別規格の日本工業規格番号又はIEC規格番号。 

可変抵抗器の識別 

background image

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(5) 可変抵抗器の品種についての要約説明。 

(6) 代表的な構造の説明(適用する場合)。例えば,非巻線,単回転形。 

備考 可変抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのことを

明記する。 

(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。こ

の図は,個別規格の附属書としてもよい。 

(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準。 

備考 個別規格に規定する評価水準は,JIS C 5260-3の3.3.3(評価水準)から選択する。このブラン

ク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。 

(9) 異なる品種の可変抵抗器について,対比できる重要な特性に関する参照データ。 

(例 日本工業標準調査会) 

(1)  個別規格の番号 

(2) 

 
電子機器用可変抵抗器 
第1部:品目別通則 
JIS C 5260-1 : 1999 
 

 
(3) 

例 JIS C 5260-3-1 
(ブランク個別規格番号) 

(4) 

 
回転形精密級可変抵抗器 
 
 

(5) 

外形図(表1参照) 
(第三角法) 

(7) 

(必要がある場合,寸法を個別規格の附属書と
してもよい。) 
端子の接続 

代表的な構造: 

例 非巻線,単回転形 

(6)  

評価水準:E 
安定性クラス:...% 

(8) 

この個別規格で認証された可変抵抗器の詳しい内容は,品

質認証電子部品一覧表 (QPL) に示されている。 

参考 この記載は,IEC品質認証制度 (IECQ) の場合に適用す

る。 

(9) 

表1 定格及び特性 

形状 

定格電力 (70℃) W 

素子最高電圧 V 

(直流又は交流の

実効値) 

アイソレーション電圧 V 

直流又は交流ピーク値 

大気圧下 

減圧下 

C 5260-3-1 : 2000  

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第1章 一般事項 

1. 一般事項 

1.0 

適用範囲 この規格は,JIS C 5260-3を品種別通則とするブランク個別規格で,回転形精密級可変抵

抗器 評価水準E(以下,可変抵抗器という。)について規定する。 

備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。 

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD

(修正している),NEQ(同等でない)とする。 

IEC 60393-3-1 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Blank detail 

specifica-tion : Rotary precision potentiometers, Assessment level E (MOD) 

1.1 

推奨する取付方法(挿入用) [JIS C 5260-3の1.4.2(取付け)を参照] 

1.2 

寸法 (必要がある場合には,寸法は,個別規格の附属書に規定してもよい。) 

すべての寸法は,ミリメートル (mm) で示す。 

1.3 

定格及び特性 

定格抵抗値範囲* 

各抵抗変化特性ごと及び各形状ごとの範囲,IECQの場

は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) で示す。 

定格抵抗値の許容差 

±...% 

抵抗変化特性及び一致性 

... 

抵抗温度特性 

≦...% 

 (20℃〜70℃) (∆R/R)  

温度係数 

≦...×10-6/℃ 

耐候性カテゴリ 

−/−/− 

減圧 

8kPa 

抵抗値の許容変化(端子aとcとの間) 

± (...%R+...Ω)  

(電気的耐久性試験1 000h後) 

始動トルク 

...mN・m〜...mN・m 

駆動機構の回転数 

... 

全機械的操作範囲 

≧...゜ 

有効電気的操作範囲 

≧...゜ 

無効操作範囲(時計方向) 

≦...゜ 

無効操作範囲(反時計方向) 

≦...゜ 

しゅう動接点許容電流 

...mA 

端子間抵抗値 

...Ω 

終端残留抵抗値(適用する場合) 

...Ω 

最小有効抵抗値 

...Ω 

注* 

定格抵抗値の推奨値は,JIS C 5063のEシリーズ及び/又は1,2,5シリーズである。 

参考 ∆R/Rは,抵抗値変化の定格抵抗値に対する百分率 (%) を示す。減圧の8kPaはJIS C 5260-1で

引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。%Rは,定格抵抗値に対する百分率を示す。 

1.3.1 

負荷軽減 この規格を適用する可変抵抗器は,次の軽減曲線によって負荷を軽減する。 

(適切な軽減曲線は,個別規格に規定する。) 

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

備考 JIS C 5260-3の2.2.3(定格電力)を参照。 

1.4 

引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の版だけがこの規格を

構成するものであって,その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年又は発行年を付記し

ていない引用規格は,その最新版(追補・Amendmentを含む。)を適用する。 

JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列 

備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967

及びAmendment 2 : 1977が,この規格と一致している。 

JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部:品目別通則 

備考 IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : General specification

及びAmendment 1 : 1992からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。 

JIS C 5260-3 電子機器用可変抵抗器−第3部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器 

備考 IEC 60393-3 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Sectional specification : 

Rotary precision potentiometersからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。 

JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜

取検査方式 

備考 IEC 60410 : 1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は,こ

の規格の該当事項と同等である。 

1.5 

表示 可変抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5260-3の1.5(表示)による。 

備考 可変抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。 

1.6 

発注時の情報 この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に

示すか,又は記号の形で示す。 

a) 定格抵抗値及びその許容差 

b) 抵抗変化特性(直線形以外の場合)及び一致性 

c) 個別規格の番号,発効年及び形状 

d) 形状の情報で分からない場合には,操作軸及び取付ねじの寸法 

1.7 

出荷対象ロットの成績証明書 要求する,又は要求しない。 

1.8 

追加事項(検査目的以外のもの) (個別規格には,内容をよく理解させるために回路図,軽減曲

線,図面及び備考による情報を含めてもよい。) 

1.9 

品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項 

備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合だけに規定する。 

第2章 検査要求事項 

2. 検査及び要求事項 

2.1 

手順 

2.1.1 

品質認証のための手順は,JIS C 5260-3の3.2(品質認証)による。 

2.1.2 

品質確認検査のための試験計画(表2)には,サンプリング,周期,厳しさ及び要求事項を規定す

る。検査ロットの構成は,JIS C 5260-3の3.3.1(検査ロットの構成)による。 

品質確認検査では,承認された抵抗値範囲を代表するものを1年以内に検査する(群A,群B及び群C

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C 5260-3-1 : 2000  

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だけ)。 

備考 乾燥が要求される場合には,JIS C 5260-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。 

表2 品質確認検査のための試験計画 

備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の厳しさ及び抵抗値

又は出力電圧比の許容限界は,JIS C 5260-3の関連項目から選択する。 

2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015-1から選択する。 

3. この表2で 

参考 表中の

ac

ab

U

U

は,全印加電圧に対する百分率 (%) で表した出力電圧比の変化を表す。“∆R”は抵

抗値の変化量を示す。“%R”は,定格抵抗値に対する百分率を示す。 

表2 品質確認検査のための試験計画(続き) 

項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

IL 

AQL 

要求性能 

(備考1.参照) 

(備考2.参照) 

群A検査(ロットごと) 

副群A1 

ND  

1.5% 

4.6 素子抵抗値 

4.6.3による。 

副群A2 

ND  

1.5% 

4.4.1 外観 

4.4.1による。 

表示が明りょうで,この規格の

1.5による。 

4.4.2 寸法(ゲージ法) 

個別規格の規定による。 

4.18 始動トルク 

個別規格の規定による。 

4.4.4 全機械的操作範囲 

個別規格の規定による。 

副群A3 

ND  

S-2 

4.0% 

4.4.4 全機械的操作範囲 

個別規格の規定による。 

4.4.6 有効電気的操作範囲 

有効電気的操作角度 

無効操作角度(反時計方向) 

無効操作角度(時計方向) 

θ≧...゜ 
θ≦...゜ 
θ≦...゜ 

4.9 抵抗変化特性 

(品種別通則の2.1.5から選択

した適切な試験方法及び性能

要求事項を個別規格に規定す

る。) 

4.15 しゅう動雑音 

方法B(巻線可変抵抗器だけに

適用) 

∆θ0:... 

R≦...%R 

4.29 出力平滑性 

(非巻線抵抗器だけに適用) 

U≦...%Uac 

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項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

IL 

AQL 

要求性能 

(備考1.参照) 

(備考2.参照) 

4.12 耐電圧 

(絶縁形可変抵抗器だけに適

用) 

(取付方法は,この規格の1.1

及び備考11.による。) 

大気圧下 

4.12.5による。 

副群A4 

ND  

S-2 

1.5% 

4.32 はんだ付け性(適用する

場合) 

はんだ槽方式 

温度:235℃±5℃ 

時間:2s±0.5s 

又は 

方法2:はんだこて法 

はんだこて:サイズB 

温度:350℃±10℃ 

時間:2s±0.5s 

端子は,はんだが良好に付着し

ている。 

4.45 表示の耐溶剤性(適用す

る場合) 

溶剤:... 

溶剤の温度:... 

方法1 

ラビング材質:脱脂綿 

後処理:... 

表示が,明りょうである。 

副群A5 

ND  

S-2 

2.5% 

(この副群が適用されないような可変抵抗器の設計の場合は,個別規格ではこの副群は除く。) 

4.23 操作軸の偏心(シャフト

ランアウト) 

半径方向の荷重:...N 

取付面からの操作軸の長さ 

全指示値 (l) :≦...mm 

4.24 取付面の平たん度(ラテ

ラルランアウト) 

 (l) :...mm 

半径方向の荷重:…N 

操作軸方向の荷重:...N 

4.25 取付ガイド円面の真円度

(スピゴットダイヤメータラ
ンアウト) 

取付面の半径 (r) :...mm 

半径方向の荷重:...N 

全指示値 (r) :≦...mm 

全指示値:≦...mm 

4.26 操作軸の軸方向がた(シ

ャフトエンドプレイ) 

A方向 

B方向 

全指示値:≦...mm 

全指示値:≦...mm 

項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び 

合格判定個数 

(備考3.参照) 

要求性能 

(備考1.参照) 

副群B検査:適用しない 
群C検査 

(定期的) 

副群C1 

ND  

4.20 回転止め強度 

(全回転形可変抵抗器には適用

しない。) 

外観 

4.20.1による。 

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項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び 

合格判定個数 

(備考3.参照) 

要求性能 

(備考1.参照) 

4.22 操作軸の押し及び引張

り(試験が副群A5で実施

されている場合は適用しな

い) 

− 試料数3個 

 4.22.2を適用 

連続性 

− 試料数2個 

 4.22.3を適用 

4.22.2による。 

出力電圧比 

ac

ab

U

U

≦...% 

副群C2A 

副群C2の試料の一部 

4.30 端子強度 

端子の種類に適応した試験を行

う。 

外観 

素子抵抗値 

4.30.8による。 

∆R≦±(...%R+...Ω) 

4.33はんだ耐熱性(適用する

場合) 

試験Tb,方法1B 

 温度:350℃±10℃ 

 時間:3.5s±0.5s 

又は 

方法2 

 はんだこて:サイズB 

 温度:350℃±10℃ 

 時間:10s±1s 

素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

端子間抵抗値 

 端子aとbとの間の抵抗値 

 端子bとcとの間の抵抗値 

適用する場合は,端子bと各

タップ端子間の抵抗値 

R≦...Ω 

R≦...Ω 

R≦...Ω 

4.4.4 本体の耐溶剤性 

(適用する場合) 

溶剤:... 

溶剤の温度:... 

方法2 

後処理:... 

個別規格に規定する 

副群C2B 

 副群C2の残りの部分 

4.34 温度変化 

備考5.による。 

TA(1)=カテゴリ下限温度 

TB(1)=カテゴリ上限温度 

放置時間t1=30min 

外観 

4.34.5による。 

出力電圧比(半固定可変抵抗器

だけに適用) 

ac

ab

U

U

≦...% 

4.36 バンプ(又は4.37衝撃) 

(備考6.参照) 

素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

取付方法:この規格の1.1によ

る。 
ピーク加速度:400 m/s2(2) 

バンプ回数:4 000 

外観 

4.36.3による。 

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C 5260-3-1 : 2000  

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項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び 

合格判定個数 

(備考3.参照) 

要求性能 

(備考1.参照) 

4.37 衝撃(又は4.36バンプ) 

(備考6.参照) 

素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

取付方法:この規格の1.1によ

る。 

パルス波形:正弦半波 
ピーク加速度:...m/s2 

作用時間:11ms 

外観 

4.37.3による。 

素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

4.35 振動(正弦波) 

(備考7.参照) 

取付方法:この規格の1.1によ

る。 

掃引耐久試験 

 振動数範囲: 

 ...Hz〜...Hz 

振幅:0.75mm又は加速度
98m/s2(いずれかゆるい方を

適用) 

 総試験時間:6h 

 備考5.による。 

試験中の測定 

 電気的連続性 

 (4.35.4を適用) 

100μsを超える不連続がない。 

最終測定 

 外観 

4.35.5による。 

出力電圧比(半固定可変抵抗

器だけに適用) 

ac

ab

U

U

≦...% 

 素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

副群C2 

副群C2A及びC2Bの全試

料 

4.38 一連耐候性 

− 高温(耐熱性) 

外観 

4.38.2.2による。 

− 温湿度サイクル(12+12

時間サイクル)の最初の

サイクル 

− 低温(耐寒性) 

始動トルク 

...mN・m〜...mN・m 

− 減圧 

(備考8.参照) 

8kPa(3) 

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ

けに適用)(取付方法は,こ

の規格の1.1及び備考11.

による。) 

4.38.5.3による。 

− 温湿度サイクル(12+12

時間サイクル)の残りの

サイクル 

− 直流負荷 

備考9.による。 

background image

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び 

合格判定個数 

(備考3.参照) 

要求性能 

(備考1.参照) 

− アイソレーション電圧最

終測定 

備考9.による。 

4.38.8による。 

外観 

4.38.10.1による。 

素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)(取付方法は,この

規格の1.1及び備考11. によ

る。) 

R≧100MΩ 

連続性 

始動トルク 

適用する場合4.5.1及び4.5.2に

よる。 

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ

に適用)(取付方法は,この規

格の1.1及び備考11.による。) 

...mN・m〜...mN・m 

4.38.10.7による。 

副群C3 

4.43.2 70℃での電気的耐久

性 

試験時間:1 000h 

− 試料数3個 

 端子aとcとの間に負荷 

48h,500h及び1 000hでの検

査: 

 外観 

4.43.2.6a)による。 

 素子抵抗値 

− 試料数2個 

 端子aとbとの間に負荷 

48h,500h及び1 000hでの検

査: 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

 外観 

4.43.2.6a)による。 

 素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

− 全試料 

 1 000hでの検査: 

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)(取付方法は,

この規格の1.1及び備考11.

による。) 

R≧1GΩ 

しゅう動雑音 

R≦...%R 

方法B(巻線可変抵抗器だけに

適用), 

 ∆θ0:... 

出力平滑性(非巻線可変抵抗

器だけに適用) 

別規格に要求がある場合に

は,試験時間を8 000hまで

延長する。 

U≦...%Uac 

2 000h,4 000h及び8 000hで

の検査: 

 素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

測定結果は情報としてだけ扱

う。 

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10 

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び 

合格判定個数 

(備考3.参照) 

要求性能 

(備考1.参照) 

副群C4 

4.40 機械的耐久性 
(備考4参照) 

操作サイクル数:... 
操作軸回転速度:...min−1 

外観 

40.6による。 

素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

端子間抵抗値(最小抵抗値) 

 端子aとbとの間の抵抗値 

R≦...Ω 

 端子bとcとの間の抵抗値 

R≦...Ω 

適用する場合は,端子bと各

タップ端子間の抵抗値 

R≦...Ω 

絶縁抵抗値(絶縁形可変抵抗器

だけに適用),(取付方法は,

この規格の1.1及び備考11.

による。) 

R≧1GΩ 

始動トルク 

...mN・m〜...mN・m 

連続性 

4.5.1による。 

操作軸の押し及び引き(備考4.

による。) 

 A方向 

全指示値:≦...mm 

 B方向 

全指示値:≦...mm 

操作軸の押し及び引き(備考4. 

による。) 

− 試料数3個 

4.22.2連続性の規定による。 

4.22.2による。 

− 試料数2個 

4.22.3出力電圧比の規定によ

る。 

ac

ab

U

U

≦...% 

耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ

に適用),(取付方法は,この

規格の1.1及び備考11. によ

る。) 

4.40.6による。(備考8.参照) 

しゅう動雑音 

R≦...% 

方法B(巻線可変抵抗器だけに

適用), 

 ∆θ0:... 

U≦...%Uac 

出力平滑性(非巻線可変抵抗器

だけに適用) 

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11 

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び 

合格判定個数 

(備考3.参照) 

要求性能 

(備考1.参照) 

群D検査 

(定期的) 

副群D1 

12 

4.39 高温高湿 

(定常) 

1) 4.39.2.1 

 第1のグループ:試料数2個 

 第2のグループ:試料数2個 

 第3のグループ:試料数1個 

2) 4.39.2.2 

 第1のグループ:試料数3個 

 第2のグループ:試料数2個 

直流負荷(備考9.による。) 

アイソレーション電圧 

 (備考9.による。) 

(取付方法は,この規格の1.1

及び備考11.による。) 

4.39.4による。 

最終測定 

 外観 

4.39.6.1による。 

 素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用) 

(取付方法は,この規格の1.1

及び備考11.による。) 

R≧100MΩ 

 始動トルク 

...mN・m〜...mN・m 

 しゅう動雑音 

方法B(巻線可変抵抗器だけ

に適用), 

R≦...%R 

 ∆θ0:... 

出力平滑性(非巻線可変抵抗

器だけに適用) 

U≦...%Uac 

副群D2 

ND  

12 

4.14 抵抗温度特性 

(備考10.参照) 

カテゴリ下限温度/20℃ 

R

R

≦...% 

20℃/70℃ 

R

R

≦...% 

20℃/カテゴリ上限温度 

R

R

≦...% 

副群D3 

12 

4.28 ディザ(非巻線可変抵抗

器だけに適用) 

サイクル数:... 

接続時間:...h 

外観 

4.28.3による。 

素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

出力平滑性(非巻線可変抵抗器

だけに適用) 

U≦...%Uac 

background image

12 

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

項目番号及び試験 

(備考1.参照) 

又は

ND 

試験条件 

(備考1.参照) 

試料数及び 

合格判定個数 

(備考3.参照) 

要求性能 

(備考1.参照) 

副群D4 

36 

4.43 寸法(詳細) 

個別規格の規定による。 

4.43.3 カテゴリ上限温度で

の電気的耐久性 

試験時間:1 000h 

− 試料数3個 

 端子aとcとの間に負荷: 

48h,500h及び1000hでの検

査: 

 外観 

4.43.3.7a)による。 

 素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

− 試料数2個 

 端子aとbとの間の負荷 

48h,500h及び1 000hでの検

査: 

 外観 

4.43.3.7a)による。 

 端子aとbとの間の抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

 素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

− すべての試料 

 1 000hでの検査: 

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)(取付方法は,

この規格の1.1及び備考11.

による。) 

R≧1GΩ 

副群D5 

4.4.3 70℃以外の温度での耐

久性(適用する場合) 

(この副群は,この規格の2.2.3

に示した以外の軽減曲線を規定

した場合だけに適用する。) 

試験時間:1 000h 

− 試料数3個 

 端子aとcとの間に負荷: 

48h,500h及び1 000hでの検

査: 

36 

 外観 

4.43.1.6a)による。 

 素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

(副群C3と同じ) 

− 試料数2個 

 端子aとbとの間の負荷 

48h,500h及び1 000hでの検

査: 

 外観 

4.43.1.6a)による。 

 端子aとbとの間の抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

(副群C3と同じ) 

 素子抵抗値 

∆R≦± (...%R+...Ω)  

− すべての試料 

1 000hでの検査: 

絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器

だけに適用)(取付方法は,

この規格の1.1及び備考11.

による。) 

R≧1GΩ 

13 

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

注(1) 原国際規格では,温度を表す記号としてθA及びθBを用いているが,JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に

合わせてTA及びTBに変更した。 

(2) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。 

注(3) JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。 

備考4. 副群A5が試験計画に含まれている場合は,操作軸の軸方向がた試験を,操作軸の押し及び引

張試験の代わりに実施する。 

5. 適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。 

6. バンプ試験及び衝撃試験は,いずれか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に

規定する。 

7. この試験は,耐候性カテゴリが25/−/−,40/−/−,55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適

用する。 

8. この試験は,JIS C 5260-1の4.38.5.1に規定した事項を追加して,65/−/−の可変抵抗器に適

用する。 

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14 

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書(参考) JISと対応する国際規格との対比表 

JIS C 5260-3-1 : 2000 

電子機器用可変抵抗器−第3部:

ブランク個別規格:回転形精密級

可変抵抗器 評価水準 E 

IEC 60393-3-1 : 1992 

電子機器用可変抵抗器−第3

部:ブランク個別規格:回転形精

密級可変抵抗器 評価水準 E 

対比項目 

規定項目 

(I) JISの規定内容 

(III) 国際規格の規定

内容 

(IV) JISと国際規格と

の相違点 

(V) JISと国際規格との整合が困

難な理由及び今後の対策 

(1)一般事項 

○  

○  

 1.3 定格及び特性 

Eシリーズ及び

/又は1,2,5

シリーズとす

る。 

Eシリーズとす

る。 

MOD/

追加 

1,2,5シリー

ズを追加。 

理由:市場で多く使用されてい

る。今後の対策:改正提案予定 

 1.4 引用規格 

JIS Z 9015-1 

IEC 60415 

MOD/

変更 

JIS Z 9015-1 

対応国際規格が引用している

IEC 60415の改正によって,JIS 

Z 9015が廃止され新たに,JIS Z 

9015-0〜3が制定された。整合

させるため内容的に類似のJIS 

Z 9015-1を採用した。 

(2)検査要求事項 

○  

○  

バンプ 

ピーク加速度: 
400m/s2 

ピーク加速度: 
390m/s2 

MOD/

変更 

390m/s2を400 

m/s2に変更 

理由:IEC 60115-1及びIEC 

60384-1が改正され,また引用
しているJISも改正されてお

り,整合させるため改正内容を

採用した。 

今後の対策:改正提案予定 

減圧 

減圧下:8kPa 

減圧下:8.5kPa 

MOD/

変更 

8.5kPaを8kPa

に変更。 

(3)品質評価手順 

○  

○  

IDT 

− 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:MOD  
 

備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。 

  − IDT ················技術的差異がない。 
  − MOD/追加 ·······国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
  − MOD/変更 ·······国際規格の規定内容を変更している。 

2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。 

  − MOD ··············国際規格を修正している。 

電子部品JIS原案作成委員会 構成表 

氏名 

所属 

(委員長) 

平 山 宏 之 

東京都立科学技術大学名誉教授 

(委員) 

吉 田 裕 道 

東京都立産業技術研究所 

寺 岡 憲 吾 

防衛庁装備局 

藤 倉 秀 美 

財団法人電気安全環境研究所 

岩 田   武 

村 岡 桂次郎 

曽我部 浩 二 

町 野 俊 明 

富士テクノサーベイ株式会社 

橋 本   進 

財団法人日本規格協会 

窪 田   明 

通商産業省 

15 

C 5260-3-1 : 2000  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

橋 爪 邦 隆 

通商産業省 

福 原   隆 

沖電気工業株式会社 

村 上 昭 次 

株式会社ケンウッド 

山 本 克 巳 

ソニー株式会社 

西 村 和 男 

株式会社東芝 

新 井 謙 一 

日本電気株式会社 

中 野   武 

松下通信工業株式会社 

三 宅 敏 明 

松下電器産業株式会社 

伊 高 篤 己 

三菱電機株式会社 

松 本 眞 弓 

セイデンテクノ株式会社 

中 村 之 大 

株式会社緑測器 

三 宅 邦 彦 

松尾電機株式会社 

江 口 正 則 

東京コスモス電機株式会社 

高 木 祐 司 

アルプス電気株式会社 

石 井   勝 

第一電子工業株式会社 

秦   考 生 

松下電子部品株式会社 

山 本 圭 一 

進工業株式会社 

山 名 法 明 

株式会社村田製作所 

尾 村 博 幸 

日本ケミコン株式会社 

佐 藤 広 志 

TDK株式会社 

(事務局) 

塚 田 潤 二 

社団法人日本電子機械工業会 

中 山 正 美 

社団法人日本電子機械工業会 

JIS C 5260-3分科会 構成表 

氏名 

所属 

(主査) 

中 村 之 大 

株式会社緑測器 

(委員) 

江 口 正 則 

東京コスモス電機株式会社 

吉 田   實 

アルプス電気株式会社 

本 田 義 夫 

KOA株式会社 

山 本 圭 一 

進工業株式会社 

山 本 克 巳 

ソニー株式会社 

林   里 志 

ツバメ無線株式会社 

野 原   明 

帝国通信工業株式会社 

三 本 久 明 

日本電気株式会社 

中 山 孝 之 

北陸電気工業株式会社 

佐 藤 幸 治 

松下電子部品株式会社 

吉 田 松 二 

福井松下電器株式会社 

一 木 義 和 

株式会社村田製作所 

(客員) 

松 本 眞 弓 

セイデンテクノ株式会社 

曽我部 浩 二 

(事務局) 

塚 田 潤 二 

社団法人日本電子機械工業会 

中 山 正 美 

社団法人日本電子機械工業会