>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

2

1.0A

  適用範囲

2

1.1

  推奨する取付方法(プリント配線板用)

2

1.2

  寸法

2

1.3

  定格及び特性

3

1.4

  引用規格

3

1.5

  表示

4

1.6

  発注情報

4

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8

  追加情報(非検査目的)

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

4

2

  検査要求事項

4

2.1

  手順

4


C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会(JEITA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標

準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。これによって,JIS C 5101-8-1:1998

は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流

コンデンサ

JIS

C

5101-2-1

第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィ

ルム直流コンデンサ  評価水準 E,EZ

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS

C

5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

第 13 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2

第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性だけを

要求する試験

JIS

C

5101-14-3

第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ


C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

(3)

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E,EZ

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS

C

5101-17-1

第 17 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ

ルスコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)

及び非固体電解チップコン

デンサ

JIS

C

5101-18-1

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)

電解チップコンデン

サ  評価水準 E

JIS

C

5101-18-2

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-21-1

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 1  評価

水準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-22-1

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 2  評価

水準 EZ

JIS C 5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS C 5101-23-1

第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS C 5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデン

サ(予定)

JIS C 5101-24-1

第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ  評価水準 EZ(予定)

JIS C 5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ(予定)


C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

(4)

JIS C 5101-25-1

第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ  評価水準 EZ(予定)


日本工業規格

JIS

 C

5101-8-1

:2008

(IEC 60384-8-1

:2005

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 8-1 部:ブランク個別規格:

固定磁器コンデンサ  種類 1

評価水準 EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 8-1: Blank detail specification:

Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 1

Assessment level EZ

序文

この規格は,2005 年に第 2 版として発行された IEC 60384-8-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格

この規格は,品種別通則 JIS C 5101-8 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限必要な要求事項を規定

したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基づいていないものとみな

し,そのことを個別規格で記載する。

個別規格は,JIS C 5101-8 の 1.4 に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表の括弧内の数字は,指定の位置に記入する次の

事項と対応している。

個別規格の識別

[1]

個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議(IEC)の名称

[2]

個別規格の国内規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び西暦

[3]

品目別通則の国内規格番号及び西暦年又は IEC 規格番号,版及び西暦年

[4]

ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別

[5]

コンデンサの品種についての要約説明

[6]

代表的な構造の説明(適用する場合)

コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのことを明記す

る。

[7]

互換性のうえで重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内規格若しくは国際規


2

C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

格の引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。

[8]

適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準

個別規格に規定する評価水準は,品種別通則 JIS C 5101-8 の 3.5.4 から選定する。

このブランク個別規格の試験の群構成と同じである場合には,個別規格に複数の評価水準を規定して

もよい。

[9]

重要な特性に関する参照データ

例  社団法人電子情報技術産業協会            [1]

個別規格番号                                 [2]

例  JIS C 5101-8-1(ブランク個別規格番号)     [4]

例  電子機器用固定コンデンサ                [3]

第 1 部:品目別通則

JIS C 5101-1 : 1998

例  固定磁器コンデンサ  種類 1                 [5] 
 

構造の説明                                   [6]

外形図(

表 参照)                          [7]

(第三角法)

(規定寸法内であれば外形は,異なってもよい。

評価水準: EZ                                 [8]

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,品質認証

電子部品一覧表(QPL)に示されている

a)

                [9]

a)

この記載は,IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)の場合に適
用する。

1

一般事項

1.0A

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-8 を品種別通則とするブランク個別規格で,電子機器用固定磁器コンデンサ  種

類 1  評価水準 EZ について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-8-1:2005, Fixed capacitors for use in electronic equipment

−Part 8-1: Blank detail

specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 1

−Assessment level EZ (IDT)

なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示す。

1.1

推奨する取付方法(プリント配線板用)

取付けは,JIS C 5101-8 の 1.4.2 による。

1.2

寸法

寸法は,

表 による。


3

C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

表 1−外形寸法記号及び寸法

寸法  mm

外形寸法記号

φ

   L  H  d 

 

 

注記 1  外形寸法記号がない場合は,表 は削除し,寸法は表 に記載して,それを表 とする。 
注記 2  寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。

1.3

定格及び特性

定格及び特性は,次による。

定格静電容量範囲(

表 による。)

定格静電容量許容差

定格電圧

カテゴリ電圧(

表 による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

誘電正接

絶縁抵抗

温度係数  α:.

.10

6

/K

表 及び表 による。)

表 2−外形寸法並びにそれに対応する定格静電容量値及び定格電圧の値

定格電圧

温度係数  α

定格静電容量

pF

及び/又は nF

許容差 
%又は pF

外形寸法

外形寸法

外形寸法

外形寸法

表 3−温度係数,静電容量の変化許容値及びずれ

静電容量の変化

a)

温度係数及び許容差

カテゴリ下限温度

85

カテゴリ上限温度

静電容量のずれ

最小許容差

ゼロに最も近い
温度係数

最大許容差

最小許容差

最大許容差

最小許容差

ゼロに最も遠い

温度係数

最大許容差

a)

この表の数値は,JIS C 5101-8 

表 から引用した値とする。 

表 4−小さい定格静電容量値についての温度係数許容差の乗数(適用する場合)

定格静電容量

乗数

1.4

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。


4

C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

JIS C 5101-8:2008

  電子機器用固定コンデンサ−第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

注記  対応国際規格:IEC 60384-8:2005, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 8:

Sectional specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 1 (IDT)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.5

表示

コンデンサ及び包装への表示は,JIS C 5101-8 の 1.6 による。

コンデンサ及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。

1.6

発注情報

この規格のコンデンサの発注情報には,

少なくとも次の事項を,

明りょうな文字又は記号によって示す。

a)

定格静電容量

b)

定格静電容量許容差

c)

定格電圧

d)

温度係数及びその許容差

e)

製造業者の形名又は個別規格に記載する形名

1.7

出荷対象ロットの成績証明書

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。

注記  顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。

1.8

追加情報(非検査目的)

注記  検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に限定し,

表 による。

表 5−その他の特性

この表は,品種別通則 JIS C 5101-8 の規定への追加,又はより
厳しい特性を規定するために使用する。

2

検査要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証の手順は,JIS C 5101-8 の 3.4 による。

2.1.2

品質確認検査の試験計画(

表 6)は,サンプリング,周期,厳しさ及び要求性能を示す。

検査ロットの構成は,JIS C 5101-8 の 3.5.1 による。


5

C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

表 6−ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

IL

n c 

要求性能

a)

群 検査(ロットごと) 
副群 A0 
4.2.1

静電容量

4.2.2

誘電正接

4.2.3

絶縁抵抗(端子間)

4.2.4

耐電圧(端子間)

ND

周波数:.

.Hz

周波数:.

.Hz

4.2.1 と同じ。

方法:.

方法:.

100 %

c)

規定の許容差による。

4.2.2.2

による。

4.2.3.2

による。

絶縁破壊又はフラッシオ
ーバがない。

副群 A1 
4.1  

外観

ND

S-4

d)

0

4.1

による。

表示は,明りょうで,こ

の規格の 1.5 による。

副群 A2 
4.1

寸法(ゲージ)

e)

ND

S-3

d)

0

この規格の

表 による。

群 検査(ロットごと) 
副群 B1 
4.6  

はんだ付け性

4.15  

表示の耐溶剤性

(適用する場合)

D

初期乾燥なし。 
方法:.

溶剤:.

溶剤の温度:.

方法 1 
ラビングの材料:脱脂綿 
後処理:.

S-3

d)

0

端子にはんだが良好に付
着しているか,又ははん

だ小球法の場合は,... s
以内にはんだが流れる。

表示は,明りょうとする。

副群 B2 
4.3  

温度係数 及び温度

サイクルによる静電
容量のずれ

g)

ND

初期乾燥:16 h∼24 h

S-2

d)

0

4.3

による。


6

C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

表 6−ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

p n c 

要求性能

a)

群 検査(定期的) 
副群 C1A 
副群 C1 の試料の一部

4.1  

寸法(詳細)

4.4  

端子強度

4.5.1  

初期測定

4.5  

はんだ耐熱性

4.5.3  

最終測定

4.14  

部品の耐溶剤性

(適用する場合)

D

外観 
静電容量 
初期乾燥なし。

方法:.

外観

静電容量 
溶剤:.

溶剤の温度:.

方法 2 
後処理:.

6

9

0

 f)

個別規格の規定による。

損傷がない。

異常がない。 
表示は,明りょうとする。

4.5.3

による。

個別規格の規定による。

副群 C1B 
副群 C1 の残りの試料

4.7.1  

初期測定

4.7  

温度急変

4.8  

振動

4.8.2  

中間測定

4.9  

バンプ(又は 4.10

衝撃)

4.10  

衝撃(又は 4.9  バ

ンプ)

4.9.3

又は 4.10.3

  最終

測定

D

静電容量

T

A

=

カテゴリ下限温度

T

B

=

カテゴリ上限温度

5

サイクル

t

1

=30 min

後処理:24 h±2 h 
外観 
取付方法:この規格の 1.1 によ

る。 
周波数範囲:.

.Hz∼.

.Hz

振幅:0.75 mm 又は加速度 100

m/s

2

(いずれか緩い方)

総試験時間:6 h 
外観

取付方法:この規格の 1.1 によ
る。 
バンプ回数:.

ピーク加速度:.

.m/s

2

作用時間:.

.ms

取付方法:この規格の 1.1 によ

る。 
ピーク加速度:.

.m/s

2

作用時間:.

.ms

外観

静電容量

6

18 0

 f)

異常がない。

異常がない。

異常がない。 
表示は,明りょうとする。

4.10.3

による。


7

C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

表 6−ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

p n c 

要求性能

a)

副群 C1 
副群 C1A 及び C1B の試

料の合計試料数

4.11  

一連耐候性

4.11.2  

高温

4.11.3  

温湿度サイクル

(12+12 時間サ
イクル)

最初のサイクル

4.11.4  

低温

4.11.5  

減圧(個別規格

に規定がある場
合)

4.11.5.3  

中間測定

4.11.6  

温湿度サイクル

(12+12 時間サイ
クル)

残りのサイクル

4.11.6.3  

最終測定

D

温度:カテゴリ上限温度 
時間:16 h

温度:カテゴリ下限温度 
時間:2 h 
外観

気圧:8 kPa

外観

後処理:6 h∼24 h

外観

静電容量

誘電正接 
絶縁抵抗

6 27 0

 f)

異常がない。

絶縁破壊又はフラッシオ
ーバがない。

異常がない。 
表示は,明りょうとする。

4.11.6.3

による。

4.11.6.3

による。

4.11.6.3

による。

副群 C2 
4.12  

高温高湿(定常)

4.12.1  

初期測定

4.12.5  

最終測定 

D

静電容量 
後処理:6 h∼24 h

外観

静電容量

誘電正接 
絶縁抵抗

6 15 0

 f)

異常がない。 
表示は,明りょうとする。

4.12.5

による。

4.12.5

による。

4.12.5

による。


8

C 5101-8-1

:2008 (IEC 60384-8-1:2005)

表 6−ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

p n c 

要求性能

a)

副群 C3 
4.13  

耐久性

4.13.1  

初期測定

4.13.4  

最終測定 

D

電圧:.

.V

時間:.

.h

静電容量

後処理:6 h∼24 h 
外観

静電容量 
誘電正接 
絶縁抵抗

3 15 0

 f)

異常がない。 
表示は,明りょうとする。

4.13.4

による。

4.13.4

による。

4.13.4

による。

副群 C4 
4.3  

温度係数及び温度

サイクルによる静電
容量のずれ

ND

前処理:初期乾燥  16 h∼24 h

12 9 0

 f)

 

ΔC/C は,4.3.3 による。

a)

試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条 及び JIS C 5101-8 による。

b)

この表の記号は,次による。

p

=検査周期(月単位)

n=試料数,c=合格判定数,D=破壊試験,ND=非破壊試験,IL=検査水準

c)

この検査は,工程でロット内からすべての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取

水準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するた
めに,抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

d)

試料数(n)は,JIS Z 9015-1 に規定する

付表 の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

e)

製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の仕
組みを取り入れる場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

f)

不適合品が 1 個発生した場合,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い,新たな不適合品が発生

しないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。

g)

この副群は,誘電体材料の調合ロットごとに実施した場合は,省略してもよい。