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C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

(1)

目  次

ページ

序文

1

ブランク個別規格

1

個別規格の識別

1

コンデンサの識別

1

1  一般事項

2

1.0  適用範囲

2

1.1  推奨する取付方法

2

1.2  寸法

2

1.3  定格及び特性

3

1.4  引用規格

3

1.5  表示

4

1.6  発注情報

4

1.7  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8  追加情報

4

1.9  品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

4

2  検査要求事項

4

2.1  手順

4

 


 
C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 5101  電子機器用固定コンデンサの規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ

ンデンサ

JIS

C

5101-2-1  第 2 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム

直流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1  第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1  第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4-2  第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-8-1  第 8 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 1  評価水準 E

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-9-1  第 9 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 2  評価水準 E

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS

C

5101-11-1  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1  第 13 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1  第 14 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E


C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

(3)

JIS

C

5101-15-2  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1  第 16 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ

ンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS

C

5101-17-1  第 17 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ

ルスコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解チップコンデ

ンサ

JIS

C

5101-18-1  第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解チップコンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-18-2  第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1  第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ


 
C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

5101-23-1

:2008

(IEC 60384-23-1

:2006

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 23-1 部:ブランク個別規格:

表面実装用固定メタライズドポリエチレン

ナフタレートフィルム直流コンデンサ

評価水準 EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment−

Part 23-1: Blank detail specification−

Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film

dielectric DC capacitors−

Assessment level EZ

序文

この規格は,2006 年に第 1 版として発行された IEC 60384-23-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格

この規格は,品種別通則 JIS C 5101-23 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規

定したものである。

これらの要求を満足しない個別規格は,

日本工業規格に基づいていないものとみなし,

そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,JIS C 5101-23 の 1.4(個別規格に規定する事項)に基づいて作成する。個別規格の最初の

ページとなるこの規格の 2 ページの表の括弧内の数字は,

指定の位置に記入する次の事項と対応している。

個別規格の識別

(1)  個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議  (IEC)  の名称

(2)  個別規格の日本工業規格番号,発効年及び国内の制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及

び発行年

(3)  品目別通則の日本工業規格番号及び発効年又は IEC 規格番号,版及び発行年

(4)  ブランク個別規格の日本工業規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別

(5)  コンデンサの品種についての要約説明

(6)  代表的な構造の説明(適用する場合)



C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

(7)  互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する日本工業規格又は国際規格の

引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。

(8)  適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準

注記  個別規格に規定する評価水準は,品種別通則 JIS C 5101-23 の 3.5.4(評価水準)から選定す

る。

ブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定して

もよい。

(9)  重要な特性に関する参照データ

例  日本工業標準調査会

(1)

個別規格番号

(2)

例  電子機器用固定コンデンサ

例  JIS C 5101-23-1(ブランク個別規格番号)  (4)

    第 1 部:品目別通則

(3)

個別規格の名称

    JIS C 5101-1:1998

例  表面実装用固定メタライズドポリエチレン

外形図(

表 参照)

    ナフタレートフィルム直流コンデンサ

(5)

(第三角法)

(7) 

構造の説明

(6)

(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。

評価水準(複数も可)

例  EZ (8)

注記  (1)∼(9)  は前述の識別による。

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,
品質認証電子部品一覧表  (QPL)  に示されている。* (9)

注*

この記載は,IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ
の場合に適用する。

1

一般事項

1.0

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-23 を品種別通則とするブランク個別規格で,表面実装用固定メタライズドポリ

エチレンナフタレートフィルム直流コンデンサの評価水準 EZ(以下,コンデンサという。

)について規定

する。

注記 1  この規格は,コンデンサの特性について規定するものであるが,その特性に係る規定は,設

計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を行うことは,意図していない。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-23-1:2006,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 23-1: Blank detail

specification−Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film dielectric DC

capacitors−Assessment level EZ (IDT)

なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示

す。

1.1

推奨する取付方法

JIS C 5101-23 の 1.4.2(取付け)参照。

1.2

寸法

外形寸法記号及び寸法は,

表 による。


3

C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

表 1−外形寸法記号及び寸法

寸法 (mm)

外形寸法記号

L

1

W

1

H

1

L

2

L

3

L

4

注記 1  外形寸法記号がない場合は,この表 を削除し,寸法を表 に記載してそれを表 とする。
注記 2  寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。

1.3

定格及び特性

定格静電容量範囲

表 による。)

定格静電容量許容差

定格電圧

表 による。)

カテゴリ電圧(適用する場合)

表 による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

最大交流電圧(適用する場合)

最大パルス負荷(適用する場合)

誘電正接

絶縁抵抗

表 2−外形寸法に組み合わせる定格静電容量及び定格電圧

定格電圧

カテゴリ電圧

1)

外形寸法

外形寸法

外形寸法

外形寸法

定格静電容量

nF 及び/又は

µF

1)

  定格電圧と異なる場合。

1.4

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5101-1:1998  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: Generic

specification (MOD)

JIS C 5101-23  電子機器用固定コンデンサ−第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリ

エチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-23,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 23:Sectional

specification−Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film dielectric DC capacitors

(IDT)

JIS Z 9015-1:1999  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標

型抜取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)



C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

1.5

表示

コンデンサ及び包装の表示は,品種別通則 JIS C 5101-23 の 1.6(表示)による。

1.6

発注情報

この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明りょうな文字又は記号によって少なくとも次の事項を規

定する。

a)  定格静電容量

b)  定格静電容量許容差

c)  定格電圧

d)  個別規格の番号及び版並びにコンデンサの種類

e)  包装形態

1.7

出荷対象ロットの成績証明書

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。

1.8

追加情報

(非検査目的)

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

注記  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。

表 3−その他の特性

この表は,品種別通則 JIS C 5101-23 の規定への追加又
はより厳しい性能を規定するために使用する。

2

検査要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証の手順は,品種別通則 JIS C 5101-23 の 3.4(品質認証)による。

2.1.2

品質確認検査の試験計画(

表 4)は,サンプリング方法,周期,厳しさ及び要求性能を示す。検査

ロットの構成は,品種別通則 JIS C 5101-23 の 3.5.1(検査ロットの構成)による。


5

C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

表 4−品質確認検査の試験計画

細分箇条番号 
及び試験項目

試験条件

IL

n c 

要求性能

注記 参照)

D

又は

ND

注記 参照)

注記 参照)

注記 参照)

群 検査 
(ロットごと) 

副群 A0 
4.3.2  静電容量 
4.3.3  誘電正接 
 
 
4.3.1  耐電圧(試験 A)* 
 
 
 
4.3.4  絶縁抵抗(試験 A)*

ND

 
周波数:1 kHz(すべて

の 静 電 容 量 値 に 適

用)

方法: ... 
測定点: 1a)* 
 
 
測定点: 1a)*

100 %(注記 参照)

 
規定の許容差による。 
4.3.3.2 による。 
 
 
絶縁破壊又はフラッシオ

ーバがない。ただし,

一時的瞬時破壊はあっ
てもよい。

4.3.4.3 による。

副群 A1 
4.2.1  外観

ND

S-3

注記 2

参照)

0

4.2.2 による。 
表示(適用する場合)は

明りょうで,その他は,
こ の 規 格 の 1.5  に よ
る。

副群 A2 
4.2  寸法(注記 参照)

ND

S-3 (注記 2

参照)

0

この規格の

表 による。

群 検査 
(ロットごと)

副群 B1 
4.7  はんだ付け性 
 
 
4.7.2  最終測定

D

エージングは行わない。
方法:... 
 
外観検査

S-3

注記 2

参照)

0

 
 
 
4.7.2 による。

副群 B2 
4.14  表示の耐溶剤性 
(適用する場合)

注記 6

参照)

D

溶剤:... 
溶剤の温度:... 
方法 1 
ラビングの材料:脱脂綿
後処理時間:...

S-3

注記 2

参照)

0

表示は明りょうとする。

注*

JIS C 5101-1  4.5 及び 4.6 による。



C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

試験条件

試料数

及び合格判定個数 
(許容不適合数)

要求性能

注記 参照)

D

又は

ND

注記 参照)

注記 参照)

注記 参照)

p n  c 

群 C  検査 
(定期的)

副群 C1   
4.6  はんだ耐熱性   
4.6.1  初期測定 
4.6.2  試験条件 
 
 
 
 
 
 
4.6.3  最終測定 
 
 
 
 
 
 
4.13  部品の耐溶剤性 
(適用する場合)

D

方法:... 
静電容量

時間:... 
方 法 1  を 適 用 す る 場

合,浸せき及び引上

げの速さは, 
25 mm/s±2.5 mm/s 
とする。

後処理時間:24 h±2 h 
外観 
静電容量 
 
 
 
 
 
溶剤:...

溶剤の温度:... 
方法 2 
後処理時間:...

3 12  0

注記 7

参照)

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.6.3 による。 
4.6.1 の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2 の場

    |ΔC/C|≦3 %,

  性能等級 3  の場合 
    |ΔC/C|≦5 % 
個別規格の規定による。

副群 C2 

D

3  12

0

4.5  耐プリント板曲げ性 
(電極の接着強度) 
4.5.1  初期測定 
 
 
 
 
 
 
4.5.2  最終測定 

 
 
静電容量 
静電容量(プリント配線

板を曲げた状態)

 
 
 
 
外観

注記 7

参照)

 
 
 
4.5.1 の測定値に対して,
  性能等級 1 及び 2 の場

    |ΔC/C|≦2 %,

  性能等級 3 の場合 
    |ΔC/C|≦5 % 
外観に損傷がない。


7

C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

試験条件

試料数

及び合格判定個数 
(許容不適合数)

要求性能

注記 参照)

D

又は

ND

注記 参照)

注記 参照)

注記 参照)

p n  c 

副群 C3 

D

4.1  取付け 
    (

注記 参照)

4.2.1  外観 
4.3.2  静電容量 
 
4.3.3  誘電正接 
 
 
 
 
 
4.3.4  絶縁抵抗

プ リ ン ト 配 線 板 の 材

質:...**

 
 
 
周波数: 
1 kHz(すべての静電容

量値に適用)

10 kHz,C

R

≦1

µF に適

用 ( 追 加 と し て ,
4.3.3.3 による。)

 
 
外観に損傷がない。 
取付け前の測定値に対して,

    |ΔC/C|≦2 % 
4.3.3.2 による。 

副群 C3.1,副群 C3.3 

副群 C3.4 の最終測定

に対する初期値)

 
 
4.3.4.3 による。

副群 C3.1 

D

6  27

0

4.4  固着性 
4.4.1  中間測定 
4.8  温度急変 
4.8.1  初期測定 
 
4.8.2  試験条件 
 
 
 
4.8.3  中間測定 
4.9  一連耐候性 
4.9.1  初期測定 
 
4.9.2  高温 
 
4.9.3  温湿度サイクル 
(12+12 時間サイクル)

最初のサイクル

4.9.4  低温 
 
4.9.5  温湿度サイクル 
(12+12 時間サイクル)

残りのサイクル

 
外観 
 
行わない。

副群 C3 の測

定値による。

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

5 サイクル 
時間 t

1

=30 min

外観 
 
行わない。

副群 C3 の測

定値による。

温度:カテゴリ上限温度

時間:16 h 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度
時間:2 h

試験槽から取出し後,15

分以内に定格電圧を
1 分間印加する。

注記 7

参照)

 
外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
 

注**  各副群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの副群で用いるプリント配線板材料を個別規

格に規定する。



C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

試験条件

試料数

及び合格判定個数 
(許容不適合数)

要求性能

注記 参照)

D

又は

ND

注記 参照)

注記 参照)

注記 参照)

p n c 

4.9.6  最終測定 

D

外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接: 
    C

R

≦1

µF:10 kHz

 
 
 
    C

R

>1

µF:1 kHz

 
 
 
絶縁抵抗 
 
 
 

外観に損傷がない。 
表示が明りょうである。 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1 及び 2 の場合
    |ΔC/C|≦3 %, 
  性能等級 3 の場合

    |ΔC/C|≦5 % 
誘電正接の増加: 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1≦0.002 5 
  性能等級 2≦0.004 
  性能等級 3≦0.007 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1≦0.003 
  性能等級 2≦0.005

  性能等級 3≦0.007 
4.3.4.3 の値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合

    ≧50 % 
  性能等級 3 の場合 
    ≧25 %

副群 C3.2 

D

6 15

0

4.10  高温高湿(定常) 
4.10.1  初期測定 
 
4.10.2  最終測定 
 
 

 
行わない。

副群 C3 の測

定値による。

外観

静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:

  1 kHz 
 
 
 
 
絶縁抵抗 

 
 
 
外観に損傷がない。 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1 及び 2 の場合
  |ΔC/C|≦7 %,

  性能等級 3 の場合 
  |ΔC/C|≦10 % 
誘電正接の増加: 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1 及び 2 の場合
    ≦0.005

  性能等級 3 の場合 
    ≦0.007 
4.3.4.3 の値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合
    ≧50 % 
  性能等級 3 の場合

    ≧25 %


9

C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

試験条件

試料数

及び合格判定個数 
(許容不適合数)

要求性能

注記 参照)

D

又は

ND

注記 参照)

注記 参照)

注記 参照)

p n  c 

副群 C3.3 

D

3  15

0

4.11  耐久性 
4.11.1  初期測定 
 
4.11.2  試験条件 
 
 
4.11.5  最終測定 
 
 
 
 

 
行わない。

副群 C3 の測

定値による。

4.11.24.11.3 及び 4.11.4

による。

 
外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
 
誘電正接: 
  C

R

≦1

µF:10 kHz

 
 
 
  C

R

>1

µF:1 kHz

 
 
 
絶縁抵抗 

注記 7

参照)

 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
表示が明りょうである。
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1 の場合 
    |ΔC/C|≦5 %,

性能等級 2 及び 3 の場

    |ΔC/C|≦8 %

誘電正接の増加: 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1≦0.003

  性能等級 2≦0.005 
  性能等級 3≦0.007 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1≦0.002 
  性能等級 2≦0.003 
  性能等級 3≦0.005 
4.3.4.3 の値に対して,

性能等級 1 及び 2 の場

    ≧50 % 
  性能等級 3 の場合 
    ≧25 %

副群 C3.4 

D

6

9

0

4.12  充放電 
4.12.1  初期測定 
 
4.12.2  試験条件   
4.12.3  最終測定 

 
行わない。

副群 C3 の測

定値による。

10 000 サイクル 
静電容量 

注記 7

参照)

 
 
 
 
副群 C3 の測定値に対して,

性能等級 1 の場合

    |ΔC/C|≦5 %,

  性能等級 2 の場合 
    |ΔC/C|≦8 %, 
  性能等級 3 の場合

    |ΔC/C|≦10 % 


10 
C 5101-23-1:2008 (IEC 60384-23-1:2006)

表 4−品質確認検査の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

試験条件

試料数

及び合格判定個数 
(許容不適合数)

要求性能

注記 参照)

D

又は

ND

注記 参照)

注記 参照)

注記 参照)

p n c 

 D

誘電正接: 
  C

R

≦1

µF:10 kHz

 
 
 
  C

R

>1

µF:1 kHz

 
 
 
絶縁抵抗

誘電正接の増加: 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1≦0.003

  性能等級 2≦0.005 
  性能等級 3≦0.007 
副群 C3 の測定値に対して,
  性能等級 1≦0.002 
  性能等級 2≦0.003 
  性能等級 3≦0.005 
4.3.4.3  の値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合
    ≧50 %

  性能等級 3 の場合 
    ≧25 %

注記 1  試験の細分箇条番号及び要求性能は,JIS C 5101-23(品種別通則)又はこの規格[JIS C 5101-23-1(ブ

ランク個別規格)

]の箇条 1(一般事項)による。

注記 2  試料数(n):JIS Z 9015-1 に規定の付表 の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従

い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

注記 3  この表の記号は,次による。

 IL

:検査水準

p  :周期(月)

n  :試料数

c  :合格判定個数(許容不良数)

 D

:破壊試験

 ND:非破壊試験

注記 4 100

%検査とは,工程で不適合品を取り除いた後に,100 万個当たりの不良数 (ppm) で示す出荷品質水

準を監視するために,抜取りによる

副群 A0 の検査をすべて行うことをいう。

100 %検査での抜取水準は,部品製造業者が設定する。どのような特性不適合も,不適合として扱い,

不適合品のすべてを数える。ppm 値は,これらの不適合品の累計を用いて算出する。また,抜取試料中
に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とする。

注記 5  製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理 (SPC) 又はそ

の他の仕組みを取り入れている場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

注記 6  この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。 
注記 7  不適合が 1 個発生した場合,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い,新たな不適合が発生

しないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。

注記 8  取付け後に不適合となった試料は,その後に行う試験の許容不適合の計算に加えてはならない。それら

は,予備の試料と置き換える。