C 5160-2-1：2009 (IEC 62391-2-1：2006)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 一般事項 ························································································································· 2
1.0A 適用範囲 ···················································································································· 2
1.1 推奨する取付寸法 ·········································································································· 2
1.2 寸法 ···························································································································· 2
1.3 定格及び特性 ················································································································ 3
1.4 引用規格 ······················································································································ 3
1.5 表示 ···························································································································· 3
1.6 発注情報 ······················································································································ 3
1.7 出荷対象ロットの成績書 ································································································· 4
1.8 追加情報 ······················································································································ 4
1.9 品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 ········································· 4
2 検査要求事項 ··················································································································· 4
2.1 手順 ···························································································································· 4
C 5160-2-1：2009 (IEC 62391-2-1：2006)
（2）
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か
ら，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，
経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5160の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 5160-1 第1部：品目別通則
JIS C 5160-2 第2部：品種別通則−パワー用電気二重層コンデンサ
JIS C 5160-2-1 第2-1部：ブランク個別規格−パワー用電気二重層コンデンサ−評価水準EZ
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日本工業規格 JIS
C 5160-2-1：2009
(IEC 62391-2-1：2006)
電子機器用固定電気二重層コンデンサ−
第2-1部：ブランク個別規格−
パワー用電気二重層コンデンサ−
評価水準EZ
Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment-
Part 2-1 : Blank detail specification-
Electric double-layer capacitors for power application-
Assessment level EZ
序文
この規格は，2006年に第1版として発行されたIEC 62391-2-1を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格にはない事項又は修正した事項である。
ブランク個別規格
この規格は，品種別通則JIS C 5160-2の補足規格で，個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規
定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に基づいていないものとみ
なし，そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，JIS C 5160-2の1.4（個別規格に規定する事項）に基づいて作成する。
個別規格の最初のページとなるこの規格の2ページの表に記載してある括弧内の数字は，次の事項と対
応している。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称
(2) 個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求する追加事項又はIEC規格番号，版及び西暦
年
(3) 品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年又はIEC規格番号，版及び西暦年
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号
コンデンサの識別
(5) コンデンサの品種についての要約説明
(6) 代表的な構造の説明（適用する場合）
注記 コンデンサがプリント回路板用に設計されていない場合には，この欄の中に個別規格の内
容を明確に記載する。
2
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(7) 互換性の上で，重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
図は，個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び／又は評価水準
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会
(1)
個別規格番号
(2)
例 電子機器用固定電気二重層コンデンサ
第1部：品目別通則
(3)
JIS C 5160-1 : 2009
例 JIS C 5160-2-1（ブランク個別規格）
(4)
個別規格の名称
(5)
例 パワー用電気二重層コンデンサ
構造の説明
(6)
外形図（表1参照）
(7)
（第三角法）
評価水準EZ
(8)
注記 (1)〜(8)：個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は，品質認証書 (Qualificatiion
approval certification) に示されている1) 。
注1) この記載は，IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
(9)
注記 (9)：コンデンサの識別を参照。
1
一般事項
1.0A 適用範囲
この規格は，JIS C 5160-1を品目別通則とし，JIS C 5160-2を品種別通則とするブランク個別規格で，パ
ワー用電気二重層コンデンサの評価水準EZについて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 62391-2-1 : 2006，Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment−Part 2-1 :
Blank detail specification−Electric double-layer capacitors for power application−Assessment level
EZ (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示
す。
1.1
推奨する取付寸法
JIS C 5160-2の1.4.2による。
1.2
寸法
外形寸法記号及び寸法は，表1による。
表1−外形寸法記号及び寸法
外形寸法記号
寸法 mm
φ
W
H
d
‐‐‐
注記1 外形寸法記号がない場合は，この表1を削除し，寸法を表2aに記載して，それが表1になる。
注記2 寸法は，最大寸法又は公称寸法，及びその許容差で表す。
3
C 5160-2-1：2009 (IEC 62391-2-1：2006)
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1.3
定格及び特性
定格静電容量範囲（表2a参照）
定格静電容量許容差
定格電圧（表2a参照）
耐候性カテゴリ
定格温度
内部抵抗（表2b参照）
漏れ電流（適用する場合）
表2a−外形寸法に関連する定格静電容量及び電圧値
定格電圧UR
定格静電容量CR
F
外形寸法
外形寸法
外形寸法
外形寸法
外形寸法
表2b−内部抵抗及び漏れ電流値
UR
V
CR
F
内部抵抗
Ω
測定温度：．．．℃
漏れ電流
μA
（適用する場合）
1.4
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）は適用しない。
JIS C 5160-1 : 2009 電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第1部：品目別通則
注記 対応国際規格：IEC 62391-1，Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment
−Part 1 : Generic specification (IDT)
JIS C 5160-2 : 2009 電子機器用固定電気二重層コンデンサ−第2部：品種別通則−パワー用電気二重
層コンデンサ
注記 対応国際規格：IEC 62391-2，Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment
−Part 2 : Sectional specification−Electric double-layer capacitors for power application (IDT)
1.5
表示
コンデンサの本体及び包装への表示は，品種別通則JIS C 5160-2の1.6による。また，コンデンサの本
体及び包装への表示の詳細は，個別規格に規定することが望ましい。
1.6
発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は，明りょうな文字又は記号によって少なくとも，次の項目を
含む。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格直流電圧
d) 個別規格に記載の番号及び版並びにコンデンサの種類
e) 包装形態
4
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1.7
出荷対象ロットの成績書
顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8
追加情報
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び／又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は，表3による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に規定する。
表3−その他の特性
この表には，品種別通則JIS C 5160-2の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために使用
する。
2
検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順は，JIS C 5160-2の3.4による。
2.1.2
品質確認検査の試験計画は，抜取方法，周期，厳しさ及び要求性能を表す（表4参照）。検査ロッ
トの構成は，JIS C 5160-2の3.5.1による。
表4−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数
及び合格判定数b)
要求性能a)
IL
n
c
群A検査（ロットごと）
副群A0
4.4.2 静電容量
4.4.3 内部抵抗
4.4.1 漏れ電流 i)
ND
4.4.2.1による。
直流抵抗：4.4.3.1に
よる。f)
保護抵抗：...Ω
100 % c)
規定する許容差以内
表2bによる。
表2bによる。
副群A1
4.3 外観検査
ND
S-3
d)
0
4.3.2による。
明りょうな表示及び個別規格の規
定による。
副群A2
4.3 寸法（詳細）e)
ND
S-3
d)
0
この規格の表1の規定による。
群B検査（ロットごと）
副群：B1
4.7 はんだ付け性g)
4.7.1 最終測定
D
方法：はんだ槽法（方
法1）
外観検査
S-3
d)
0
端子の75 %以上が，新しいはんだ
で覆われている。
副群：B2
4.13 高温及び低温特
性
ND
段階1：20 ℃
静電容量
内部抵抗
段階2：−25 ℃
静電容量
内部抵抗
S-3
d)
0
段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
4.4.3の規定値の4倍以下
5
C 5160-2-1：2009 (IEC 62391-2-1：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数
及び合格判定数b)
要求性能a)
p
n
c
群C検査（定期的）
副群：C1A
4.3 寸法（詳細）
4.5 端子強度
4.5.1 初期測定
4.5.2 最終測定
4.6 はんだ耐熱性g)
4.6.1 初期測定
4.6.3 最終測定
D
試験方法
試験Ua1(引張強度)
試験Ub（曲げ強度）
静電容量
外観検査
静電容量
試験Tbの方法1a
後処理：...
静電容量
外観検査
静電容量
12
8
0 h)
この規定の表1の規定による。
外観に損傷がなく，表示が明りょ
うである。
4.5.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
外観に損傷がなく，表示が明りょ
うで，電解液の漏れがない。
4.6.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
副群：C1B
副群C1の残りの試料
4.8 温度急変
4.8.1 初期測定
4.8.3 最終測定
4.9 振動
4.9.1 初期測定
4.9.3 最終測定
D
TA：カテゴリ下限
温度
TB：カテゴリ上限
温度
5サイクル
試験時間 t1：...
静電容量
外観検査
静電容量
取付方法：1.4.2参
照
静電容量（4.8.3で
の測定値を使用し
てもよい。）
外観検査
静電容量
12
8
0 h)
外観に損傷がなく，表示が明りょ
うで，電解液の漏れがない。
4.8.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
外観に損傷がなく，表示が明りょ
うで，電解液の漏れがない。
4.9.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
6
C 5160-2-1：2009 (IEC 62391-2-1：2006)
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表4−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数
及び合格判定数b)
要求性能a)
p
n
c
副群C2
4.10 耐久性
4.10.1 初期測定
4.10.3 最終測定
D
期間：カテゴリ上
限温度70 ℃で
1 000 h又はカテ
ゴリ上限温度
60 ℃で2 000 h
電圧：… V
後処理：16 h以上
静電容量
外観検査
静電容量
内部抵抗
6
16
0 h)
外観に損傷がなく，電解液の漏れ
がない。
4.10.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
4.4.3の規定値に対して4倍以下
副群：C3A
4.11 電圧保持
4.11.2 最終測定
4.12 高温貯蔵
4.12.1 初期測定
4.12.3 最終測定
D
充電電圧：…
充電時間：8 h
保持電圧
温度：カテゴリ上
限温度
期間：96 h±4 h
後処理：16 h以上
静電容量
外観検査
静電容量
内部抵抗
6
8
0 h)
充電後，室温で24時間放置後の保
持電圧が充電電圧の80 %以上。
外観に損傷がなく，電解液の漏れ
がない。
4.12.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
4.4.3の規定値に対して2倍以下
副群C3B
4.14 高温高湿（定常）
4.14.1 初期測定
4.14.3 最終測定
D
温度：40 ℃
相対湿度：
90 %RH〜95 %
RH
期間：10日
静電容量
外観
静電容量
内部抵抗
6
8
0 h)
外観に損傷がなく，電解液の漏れ
がない。
4.14.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
4.4.3の規定値に対して4倍以下
7
C 5160-2-1：2009 (IEC 62391-2-1：2006)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表4−品質確認検査の試験計画（続き）
細分箇条番号
及び試験項目a)
D
又は
ND b)
試験条件a)
試料数
及び合格判定数b)
要求性能a)
p
n
c
副群C4
4.13 高温及び低温特
性
D
試料は各温度段階
で測定する。
段階1：20 ℃
静電容量
段階2：カテゴリ
下限温度
静電容量
内部抵抗
段階3：カテゴリ
上限温度
静電容量
内部抵抗
12
8
0 h)
比較用に使用する。
段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
4.4.3の規定値の4倍以下
段階1の測定値に対して
|ΔC/C|≦30 %
4.4.3の規定値の4倍以下
副群C4A
4.15 耐炎性i)
D
耐炎性カテゴリ：
…
12
4
0 h)
4.15.1による。
副群C4B
4.16 圧力弁i)
D
印加電圧：…
12
4
0 h)
4.16.1による。
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は，品種別通則JIS C 5160-2及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は，次による。
p：周期（月），n：試料数，c：合格判定数（許容不適合数），D：破壊試験，ND：非破壊試験，IL：検査水準
c) この検査は，工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は，部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず，ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に，抜取試料をすべて検査する。抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には，このロットは不合
格とするが，不適合品は，品質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検
査データによって算出する。
d) 検査水準及び合格品質水準は，JIS C 5160-2の3.5.3による。
e) 製造業者が，管理限界値を超えるコンデンサを取り除くため，寸法測定に統計的工程管理 (SPC) 又はその他
の仕組みを取り入れている場合は，この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
f) 交流抵抗法は，直流測定法による結果と相関がある場合に用いる。測定方法はJIS C 5160-1の4.6.1による。
g) ねじ端子及び個別規格で設計的にはんだ付けを意図していないことを記載しているその他の端子のコンデン
サには，適用しない。
h) 不適合品が1個発生した場合は，新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い新たな不適合品が発生
しないとき合格とする。再試験の間，製品の出荷は継続してもよい。
i) 適用可能な場合に試験項目を適用する。