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C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

ブランク個別規格  

1

個別規格の識別  

1

コンデンサの識別  

1

1

  一般事項  

2

1.0

  適用範囲  

2

1.1

  推奨する取付方法  

2

1.2

  寸法  

2

1.3

  定格及び特性  

3

1.4

  引用規格  

3

1.5

  表示  

4

1.6

  発注情報  

4

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書  

4

1.8

  追加情報(非検査目的)  

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項  

4

2

  検査要求事項  

4

2.1

  手順  

4


C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。

これによって,JIS C 5101-11-1:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

  第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS

C

5101-2-1

  第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

  第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(MnO

2

)電解コンデンサ

JIS

C

5101-3-1

  第 3-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(MnO

2

)電解コンデンサ

評価水準 EZ

JIS

C

5101-4

  第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体(MnO

2

)及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

  第 4-1 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-4-2

  第 4-2 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体(MnO

2

)電解コンデンサ−評価水準

EZ

JIS

C

5101-8

  第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

  第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

  第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

  第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

  第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS

C

5101-11-1

  第 11-1 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく

直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-13

  第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

  第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

  第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

  第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D


C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

(3)

JIS

C

5101-14-2

  第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

  第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15

  第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

  第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

  第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

  第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS

C

5101-17-1

  第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

  第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO

2

)及び非固体電解コ

ンデンサ

JIS

C

5101-18-1

  第 18-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO

2

)電解コン

デンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-18-2

  第 18-2 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準 EZ

JIS

C

5101-20

  第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

  第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

  第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

  第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

  第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

  第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-24-1

  第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ


C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

(4)

JIS

C

5101-25

  第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ

JIS

C

5101-25-1

  第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-26

  第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-26-1

  第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ  評価水準 EZ


日本工業規格

JIS

 C

5101-11-1

:2014

(IEC 60384-11-1

:2008

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 11-1 部:ブランク個別規格:

固定ポリエチレンテレフタレートフィルム

金属はく直流コンデンサ  評価水準 EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 11-1: Blank detail specification-Fixed polyethylene-terephthalate film

dielectric metal foil d.c. capacitors-Assessment level EZ

序文 

この規格は,2008 年に第 2 版として発行された IEC 60384-11-1 を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある事項は,対応国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格 

この規格は,品種別通則 JIS C 5101-11 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限必要な要求事項を規定

したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基づいていないものとみな

し,そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,JIS C 5101-11 の 1.4(個別規格に規定する事項)に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表に記載してある括弧内の数字は,指定の位置に

記入する次の事項と対応している。

個別規格の識別 

(1)

個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議(IEC)の名称

(2)

個別規格の国内規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び西暦

(3)

品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年又は IEC 規格番号,版及び西暦年

(4)

ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別 

(5)

コンデンサの品種についての要約説明

(6)

代表的な構造の説明(適用する場合)

注記  コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合は,個別規格のこの欄にそのことを

明記する。


2

C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

(7)

互換性の上で,重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。

この図は,個別規格の附属書としてもよい。

(8)

適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準

注記  個別規格に規定する評価水準は,JIS C 5101-11 の 3.5.4(評価水準)から選定する。このブラ

ンク個別規格の試験の群構成と同じ場合は,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。

(9)

重要な特性に関する参照データ

例  一般社団法人電子情報技術産業協会

(1)

個別規格番号

(2)

例  電子機器用固定コンデンサ 

第 1 部:品目別通則

(3)

JIS C 5101-1:2010 

例  JIS C 5101-11-1(ブランク個別規格番号)

(4)

個別規格の名称

(5)

例  固定ポリエチレンテレフタレートフィルム 

金属はく直流コンデンサ

構造の説明

(6)

外形図(

表 参照)

(7)

(第三角法)

(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。

評価水準:EZ

(8)

注記  (1)(8):個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。

この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は,品質認証書(Qualification

approval certificate

)に示されている。*

注*  この記載は,IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)の場合に適用する。

(9)

注記  (9)  は,コンデンサの識別による。

一般事項 

1.0 

適用範囲 

この規格は,JIS C 5101-11 を品種別通則とするブランク個別規格で,主に電子機器用の直流回路に用い

る固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ(以下,コンデンサという。

)の評価

水準 EZ について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-11-1:2008

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 11-1: Blank detail

specification

− Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil d.c. capacitors −

Assessment level EZ

(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき“一致している”こ

とを示す。

1.1 

推奨する取付方法 

JIS C 5101-11

の 1.4.2(取付け)による。

1.2 

寸法 

外形寸法記号及び寸法を,

表 に示す。


3

C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

表 1−外形寸法記号及び寸法 

単位  mm

外形寸法記号

寸法

φ

L H d 

注記 1  外形寸法記号がない場合はこの表 を削除し,寸法を表 に記載して,それを表 とする。 
注記 2  寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。

1.3 

定格及び特性 

公称静電容量範囲

表 による。)

公称静電容量許容差

定格電圧

表 による。)

カテゴリ電圧(個別規格に規定がある場合)

表 による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

最大交流電圧(個別規格に規定がある場合)

誘電正接(tan

δ)

絶縁抵抗

表 2−外形寸法と組み合わせた公称静電容量及び定格電圧の値 

定格電圧  V

カテゴリ電圧

a)

  V

公称静電容量

nF

又は

μF

外形寸法

外形寸法

外形寸法

外形寸法

a)

定格電圧と異なる場合。

1.4 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5101-1:2010

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification

(IDT)

JIS C 5101-11:2014

  電子機器用固定コンデンサ−第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタ

レートフィルム金属はく直流コンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-11:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 11:

Sectional specification

−Fixed polyethylene-terephthalate film dielectric metal foil d.c. capacitors

(IDT)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜


4

C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

取検査方式

注記 1  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes

(MOD)

注記 2  JIS Z 9015-1 の本来の対応国際規格は,ISO 2859-1 であるが,IEC 60384-11 は,IEC 

60410:1973

を引用している。この IEC 60410:1973 の 1 回での抜取検査方式は,ISO 2859-1

と同じであるため,IEC 60410:1973 をこの規格では JIS Z 9015-1 の対応国際規格の位置づ

けとした。

1.5 

表示 

コンデンサの本体及び包装への表示は,品種別通則 JIS C 5101-11 の 1.6(表示)による。

コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。

1.6 

発注情報 

この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明瞭な文字又は記号によって,少なくとも次の項目を含ま

なければならない。

a)

公称静電容量

b)

公称静電容量許容差

c)

定格直流電圧

d)

個別規格の番号及び発行年並びにコンデンサの種類

e)

包装形態

1.7 

出荷対象ロットの成績証明書 

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。

注記  購入者からの成績証明書要求の有無を明記する。

1.8 

追加情報(非検査目的)

注記  検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.9 

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項 

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,

表 による。

表 3−その他の特性 

この表は,品種別通則 JIS C 5101-11 の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために用いる。

検査要求事項 

2.1 

手順 

2.1.1 

品質認証の手順 

品質認証の手順は,品種別通則 JIS C 5101-11 の 3.4(品質認証試験)による。

2.1.2 

品質確認検査の試験計画 

品質確認検査の試験計画(

表 4)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を規定する。検査ロットの

構成は,JIS C 5101-11 の 3.5.1(検査ロットの構成)による。


5

C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 EZ 

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

c)

試験条件

a)

試料数及び

合格判定数

c)

要求性能

a)

IL

n c 

群 検査(ロットごと) 
副群 A0 
4.2.2

  静電容量

ND

100 %

d)

個別規格に規定の許容差以

4.2.3

  誘電正接(tan

δ)

周波数:全ての静電容量値

において 1 kHz

4.2.3.2

による。

4.2.1

  耐電圧(試験 A)

方法:… 
測定個所  1a

絶縁破壊又はフラッシオー

バがない。

4.2.4

  絶縁抵抗

(試験 A)

測定個所  1a

4.2.4.2

による。

群 検査(ロットごと) 
副群 A1 
4.1

  外観

ND

S-3

b) 

0

4.1

による。

表示は,明瞭とし,その他は,

この規格の 1.5 による。

副群 A2 
4.1

  寸法(ゲージ法)

e)

ND

S-3

b) 

0

この規格の

表 による。

群 検査(ロットごと) 
副群 B1 
4.5

  はんだ付け性

( 個 別 規 格 に 規 定

がある場合)

ND

加速蒸気エージングなし

方法:…

S-3

b) 

0

端子に,はんだが良好に付着

しているか又ははんだ小

球法の場合は,… s 以内に
はんだが流れる。

4.14

  表示の耐溶剤性

(個別規格に規定

がある場合)

溶剤:…

溶剤の温度:… 
方法 1

ラビング材料:脱脂綿

後処理時間:…

表示は,明瞭とする。


6

C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 EZ(続き) 

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

c)

試験条件

a)

試料数及び

合格判定数

c)

要求性能

a)

p n c 

群 検査(定期的)

副群 C1A 
副群 C1 の試料の一部

D

6

5  0

f)

4.1

  寸法(詳細) 

個別規格の規定による。

4.3.1

  初期測定

静電容量

誘電正接(tan

δ):

  周波数 
  C

N

≦10

μF:1 kHz

  C

N

>10

μF:50 Hz∼

 120

Hz

4.3

  端子強度 

外観

外観に損傷がない。

4.4

  はんだ耐熱性 

方法:...

 

4.4.2

  最終測定

外観

外観に損傷がない。

静電容量

4.3.1

の測定値に対して,

  |ΔC/C|≦2 %

4.13

  部品の耐溶剤性

(個別規格に規定が

ある場合) 

溶剤:... 
溶剤の温度:...

方法 2

後処理時間:...

個別規格の規定による。

副群 C1B 
副群 C1 の試料の一部 
4.6.1

  初期測定

D

静電容量

誘電正接(tan

δ):

周波数

C

N

≦10

μF:1 kHz

C

N

>10

μF:50 Hz∼

 120

Hz

6 5 0

f)

4.6

  温度急変

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

5

サイクル

時間 t

1

=30 min

外観 

外観に損傷がない。

4.7

  振動

取付方法:この規格の 1.1

による。

周波数範囲:... Hz∼... Hz

振幅:0.75 mm 又は加速度:

100 m/s

2

(いずれか緩い

方)

総試験時間:6 h 

4.7.2

  最終測定 

外観

外観に損傷がない。


7

C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 EZ(続き) 

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

c)

試験条件

a)

試料数及び

合格判定数

c)

要求性能

a)

p n c 

副群 C1B(続き) 
4.8

  バンプ

(又は 4.9  衝撃)

取付方法:この規格の 1.1

による。

バンプ回数:... 
ピーク速度:... m/s

2

作用時間:... ms

4.9

  衝撃

(又は 4.8  バンプ)

取付方法:この規格の 1.1
による。

ピーク速度:... m/s

2

作用時間:... ms

4.8.3

又は 4.9.3  最終測

外観

外観に損傷がない。

静電容量

4.6.1

の測定値に対して,

  |ΔC/C|≦5 %

誘電正接(tan

δ)

個別規格の規定による。 

副群 C1 
副群 C1A 及び副群 C1B

を合わせた試料

4.10

  一連耐候性

D

6  10  0

f)

4.10.2

  高温

温度:カテゴリ上限温度

時間:16 h

4.10.3

  温湿度サイクル

(試験 Db)

,最初のサイ

クル

4.10.4

  低温

温度:カテゴリ下限温度 
時間:2 h

4.10.5

  減圧(個別規格

に規定がある場合)

気圧:8 kPa

4.10.5.3

  中間測定

外観

永久破壊,フラッシオーバ又

はケースに異常な変形が

ない。

4.10.6

  温湿度サイクル

後処理時間:1 h∼ h

 

(試験 Db)

,残りのサイ

クル

4.10.6.2

  最終測定

外観

外観に損傷がない。

表示は,明瞭とする。

静電容量

4.4.2

4.8.3 又は 4.9.3 の測定

値に対して,

|

ΔC/C|≦5 %

誘電正接(tan

δ)

a

δ ≦0.01 又は 4.3.1 若しく

は 4.6.1 の測定値の 1.2 倍

のいずれか大きい方の値

以下 

絶縁抵抗

4.2.4.2

の規定値の 50 %以上


8

C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 EZ(続き) 

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

c)

試験条件

a)

試料数及び

合格判定数

c)

要求性能

a)

p n c 

副群 C2 

4.11

  高温高湿(定常)

4.11.1

  初期測定

D

静電容量 
誘電正接(tan

δ):

周波数

C

N

≦10

μF:1 kHz

C

N

>10

μF:50 Hz∼

 120

Hz

後処理時間:1 h∼2 h

6 10

0

f)

4.11.3

  最終測定 

外観

外観に損傷がない。

表示は,明瞭とする。

静電容量

4.11.1

の測定値に対して,

  |ΔC/C|≦5 %

誘電正接(tan

δ)

tan

δ ≦0.01 又は 4.11.1 の測定

値の 1.2 倍のいずれか大き
い方の値以下

絶縁抵抗

4.2.4.2

の規定値の 50 %以上

副群 C3 
4.12

  耐久性

D

試験時間:1 000 h

6 10

0

f)

4.12.1

  初期測定

静電容量

誘電正接(tan

δ):

周波数

C

N

≦10

μF:1 kHz

C

N

>10

μF:50 Hz∼

 120

Hz

後処理時間:1 h∼2 h

4.12.5

  最終測定

外観

外観に損傷がない。 
表示は,明瞭とする。

静電容量

4.12.1

の測定値に対して,

  |ΔC/C|≦5 %

誘電正接(tan

δ)

tan

δ ≦0.01 又は 4.12.1 の測

定値の 1.2 倍のいずれか大

きい方の値以下 

絶縁抵抗

4.2.4.2

の規定値の 50 %以上

副群 C4 
4.2.5

  温度による静電

容量変化(個別規格に

規定がある場合)

ND

静電容量

6 10

0

f)

4.2.5

による。


9

C 5101-11-1

:2014 (IEC 60384-11-1:2008)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 EZ(続き) 

a)

試験の細分箇条番号,試験項目及び試験条件並びに要求性能は,JIS C 5101-11 及びこの規格の箇条 による。

b)

試料数(n)は,JIS Z 9015-1 に規定する

付表 1[サンプル(サイズ)文字]の検査水準(IL)とロットサイ

ズとで割り当てるサンプル文字に従い,

付表 2-A[なみ検査の 1 回抜取方式(主抜取表)]のサンプル文字に

対応する試料数とする。

c)

この表の記号は,次による。

IL

=検査水準,p=検査周期(月)

n=試料数,c=合格判定数(許容不適合数)

D

=破壊試験,ND=非破壊試験

d)

この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するため

に,抜取試料を全て検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するために全て数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

e)

製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の

仕組みを取り入れている場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

f)

不適合が 1 個発生した場合には,新しい試料によって副群の全ての試験を再度行い,新たな不適合が発生し

ないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。