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C 5402-2-6

:2004 (IEC 60512-2-6:2002)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-2-6:2002,Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-6: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2f:

Housing (shell) electrical continuity

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。


C 5402-2-6

:2004 (IEC 60512-2-6:2002)

(2) 

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  引用規格  

1

3.

  一般要求事項  

2

4.

  試験要求事項  

2

5.

  個別規格に規定する事項  

2

 


     

日本工業規格

JIS

 C

5402-2-6

:2004

(IEC 60512-2-6

:2002

)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―

第 2-6 部:導通及び接触抵抗試験―

試験 2f:ハウジング(シェル)の導通性

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements -

Part 2-6: Electrical continuity and contact resistance tests -

Test 2f: Housing (shell) electrical continuity

序文  この規格は,2002 年に第 1 版として発行された IEC 60512-2-6,Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 2-6: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2f: Housing (shell)

electrical continuity

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格であ

る。

なお,この規格では点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

1. 

適用範囲  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)を結合したときに導通するよ

うに設計されたコネクタのハウジング(シェル)間の抵抗を測定するための試験方法について規定する。

この試験は,電磁又は電波障害に対する遮へいを保証するためのものではない。この試験方法は,類似の

部品に用いてもよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide  21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-2-6:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-6:

Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2f: Housing (shell) electrical continuity

(IDT)

2. 

引用規格  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構

成する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定

を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,

その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5402-2-3

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-3 部:導通及び接触抵抗試験−試験 2c:接

触抵抗の変動

備考 IEC 

60512-2-3:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-3:


2

C 5402-2-6

:2004 (IEC 60512-2-6:2002)

     

Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2c: Contact resistance variation

が,この規

格と一致している。

IEC 60512-2-2*:2003

  Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-2: Electrical

continuity and contact resistance tests - Test 2b: Contact resistance - Specified test current method

3. 

一般要求事項  結合したときに導通するように設計された金属製,又は導電性材料若しくは導電性コ

ーティングのハウジング(シェル)をもつコネクタを次のとおり試験する。

−測定は結合したコネクタで行う。

−可動形コネクタは個別規格に規定するとおり短い電線,又はケーブルを接続する。

抵抗は直列に接続したすべての接続箇所を次のように測定する。

−ケーブル編組線及び/又はハウジング(シェル)から取付パネルまで(コネクタの片方が固定形の場

合)

−ケーブル編組線間(両者が可動形コネクタ用の場合)

−取付パネル間(両者が固定形コネクタの場合)

抵抗測定は,IEC 60512-2-2 試験 2b 又は JIS C 5402-2-3 試験 2c によって行う。

4. 

試験要求事項  抵抗値は,個別規格に規定する値を超えてはならない。

5. 

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

試料の取付方法

b)

測定点

c)

試験電流及び使用する試験方法(IEC 60512-2-2 試験 2b 又は JIS C 5402-2-3 試験 2c)

d)

最大許容抵抗値

e)

この試験方法との相違