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C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1  一般事項  

1

1.1  適用範囲  

1

1.2  目的  

1

1.3  引用規格  

1

1.4  個別規格に規定する事項  

2

1.5  抵抗器の用途による性能分類  

4

2  推奨特性,定格及び試験の厳しさ  

4

2.1  推奨特性  

4

2.2  推奨定格値  

8

2.3  推奨する試験の厳しさ  

9

2.4  供試品の準備  

12

3  品質評価手順  

14

3.1  一般事項  

14

3.2  定義  

14

3.3  検査ロットの構成  

15

3.4  品質認証試験  

15

3.5  品質確認検査  

16

3.6  技術認証手順  

16

3.7  長期保管後の出荷  

16

附属書 A(規定)ジャンパー(0 Ω)抵抗器  

25

附属書 B(参考)文字記号及び略語  

27


 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日

本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 5201-8:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5201 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5201-1

第 1 部:品目別通則

JIS C 5201-2

第 2 部:品種別通則:低電力非巻線固定抵抗器

JIS C 5201-2-1  第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E 
JIS C 5201-2-2  第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4

第 4 部:品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS C 5201-4-1  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 E 
JIS C 5201-4-2  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4-3  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き  評価水準 H 
JIS C 5201-5

第 5 部:品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS C 5201-5-1  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-5-2  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 F 
JIS C 5201-6

第 6 部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-6-1  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  同一抵抗値及

び同一定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-6-2  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  異種抵抗値又

は異種定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-8

第 8 部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器

JIS C 5201-8-1  第 8 部:ブランク個別規格:チップ固定抵抗器  評価水準 E 
JIS C 5201-9

第 9 部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-9-1  第 9-1 部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−

評価水準 EZ


日本工業規格

JIS

 C

5201-8

:2014

(IEC 60115-8

:2009

)

電子機器用固定抵抗器−

第 8 部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器

Fixed resistors for use in electronic equipment-

Part 8: Sectional specification-Fixed surface mount resistors

序文 

この規格は,2009 年に第 2 版として発行された IEC 60115-8 を基に,技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

一般事項 

1.1 

適用範囲 

この規格は,電子機器用表面実装用固定抵抗器について規定する。

この規格は,JIS C 5201-1 を品目別通則とする電子機器用表面実装用固定抵抗器(以下,抵抗器という。

の品種別通則である。

これらの抵抗器は,通常,品種(異なる形状)及び形式(異なる寸法)によって記述し,外部との電気

的接続を得るための電極をもち,主としてプリント配線板に直接取り付けて用いる。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60115-8:2009,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 8: Sectional specification−

Fixed surface mount resistors(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

1.2 

目的 

この規格の目的は,推奨定格及び推奨特性を規定し,JIS C 5201-1 から適切な品質評価手順,試験及び

測定方法を選択し,この品種の抵抗器の一般的要求性能を規定することである。

この規格に基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格の要求性能と同等以上の

水準とする。

1.3 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5005-2:2010  品質評価システム−第 2 部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

注記  対応国際規格:IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of



C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)

JIS C 5062  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)

JIS C 5063  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors,Amendment

1:1967 及び Amendment 2:1977(IDT)

JIS C 5201-1:2011  電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic

specification(MOD)

JIS C 60068-1:1993  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1:1992(IDT)

JIS C 60068-2-20:2010  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T−端子付部品のはんだ

付け性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test

methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)

JIS C 60068-2-58:2006  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の

はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD)(MOD)

JIS C 61340-3-1  静電気−第 3-1 部:静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル(HBM)

の静電気放電試験波形

注記  対応国際規格:IEC 61340-3-1,Electrostatics−Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic

effects−Human body model (HBM) electrostatic discharge test waveforms(IDT)

IEC 61760-1:2006,Surface mounting technology−Part 1: Standard method for the specification of surface

mounting components (SMDs)

1.4 

個別規格に規定する事項 

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い要求事項を規定して

はならない。より厳しい要求事項を規定する場合は,その内容を個別規格の項目に記載し,例えば,注記

などで試験計画の中に明示する。

個別規格には,次の事項を規定し,それぞれの規格値は,この規格の該当する項目から選択することが

望ましい。

1.4.1 

外形図 

識別を容易にし,その他の抵抗器との比較のために,抵抗器を図示する。

1.4.2 

形式及び寸法 

形式及び寸法は,2.1.1 による。

互換性及び取付けに影響する,寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。


3

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

1.4.3 

推奨耐候性カテゴリ 

推奨耐候性カテゴリは,2.1.2 による。

1.4.4 

試験後の抵抗値変化の限界 

試験後の抵抗値変化の限界は,2.1.4 による。

1.4.5 

公称抵抗値範囲 

公称抵抗値範囲は,2.2.1 による。

注記 IECQ の品質認証制度によって個別規格で認証を受けた製品と,この規格の公称抵抗値範囲と

が異なる場合には,次の文章を追加することが望ましい。

“各形式に有効な公称抵抗値範囲は,公称抵抗値の許容差及び抵抗温度係数とともに,IEC

のウェブサイト(http://certificates.iecq.org/)の例に従う。

1.4.6 

公称抵抗値の許容差 

公称抵抗値の許容差は,2.2.2 による。

1.4.7 

抵抗温度係数 

抵抗温度係数は,2.1.3 による。

1.4.8 

定格電力 

定格電力は,2.2.3 による。

取付け条件は,2.4.2 に示す。

個別規格には,70  ℃以外の温度での最高許容電力を,図解又は記述様式のいずれかによる軽減曲線によ

って規定する。全ての折れ点(break point)を試験によって確認する。

1.4.9 

素子最高電圧 

素子最高電圧は,2.2.4 による。

1.4.10  絶縁電圧 

絶縁形抵抗器だけに適用する。

絶縁電圧は,2.2.6 及び JIS C 5201-1 の 2.2.10(絶縁電圧)による。

JIS C 5201-1 の 4.6(絶縁抵抗)に示す試験ジグの寸法が適切でない小形の抵抗器については,個別規格

で規定する。

1.4.11  絶縁抵抗 

絶縁形抵抗器だけに適用する。

絶縁抵抗は,2.2.5 による。

JIS C 5201-1 の 4.6 に示す試験ジグの寸法が適切でない小形の抵抗器については,個別規格で規定する。

1.4.12  表示 

一般に,表面実装用抵抗器本体表面への表示をしない。ただし,抵抗器に表示をする場合には,JIS C 5062

の箇条 3(固定抵抗器の色による表示)に従って抵抗値及び JIS C 5201-1 の 2.4(表示)に規定する残りの

事項を表示する。抵抗器の包装容器には,要求する全ての事項を表示する。

1.4.13  発注情報 

個別規格には,抵抗器を発注する場合に必要となる次の事項を規定する。

−  個別規格の番号及び形式

−  JIS C 5062 による公称抵抗値,公称抵抗値の許容差及び抵抗温度係数

1.4.14  取付け 

個別規格には,IEC 61760-1 の箇条 5(Specification of assembly process conditions)の実装工程条件に基づ



C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

いて,通常に用いる場合の取付方法を規定する。試験及び測定を目的とする取付け(要求がある場合)は,

2.4.2 及び JIS C 5201-1 の 4.31(表面実装用抵抗器の取付け)による。

個別規格には,個別規格を明確にするために回路図,分布曲線,図面,注記などの追加情報(検査手順

によって検証するため,通常必要でない。

)を規定してもよい。

1.5 

抵抗器の用途による性能分類 

使用者が,意図する製品用途に応じて抵抗器の特性を選択することができるように,抵抗器の性能分類

を導入する。

この規格では,抵抗器を搭載する機器(最終製品)の要求する機能,性能及び信頼性の特性の違いを反

映するように,次の二つの水準を設定して,抵抗器の適切な検査及び試験計画を適用できるようにした。

これらの水準間で,用途が重複する可能性があることに注意する。

a)  水準 G  水準 G は,一般的な電子機器用途の抵抗器が対象であり,通常,穏やかな環境条件の下で用

いる。ここでの主要な要求は機能である。適用例は,民生用機器及び電気通信ユーザ端末である。

b)  水準 P  水準 P は,次に示す基準で一つ以上に該当する高性能電子機器の用途に用いる。

−  連続動作

−  厳しい環境での使用

−  長寿命

水準 P の適用例は,業務用機器,電気通信伝送装置,産業用制御装置及び測定機器並びに自動車用

機器(ほとんどが客室以外で動作)である。

水準 P は,信頼性が確立している抵抗器の品質認証を目的とする個別規格に規定することが,適切

である。

抵抗器の性能は,特に指定がない場合には,水準 G とする。

一つの個別規格で用いる水準は,一つだけでなければならない。

推奨特性,定格及び試験の厳しさ 

2.1 

推奨特性 

個別規格に規定する数値は,次の中から選択することが望ましい。

2.1.1 

形式及び寸法 

推奨する形式及び寸法は,

表 1a 及び表 1b による。

なお,形式記号は,JIS C 5201-1 

附属書 JA(形名及び表示)による抵抗器の種類を表す 2 英大文字,

外形寸法(長さと幅との組合せ,又は長さと外径との組合せ)を表す 4 数字の組合せ,及び寸法がメート

ル法表示であることを示す記号“M”で構成する。


5

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 1a−角形抵抗器の推奨形式

単位  mm

形式

(形式記号)

寸法

長さ  L

幅  W

厚さ  T

RR0603M 0.6±0.03 0.3±0.03 0.23±0.03 
RR1005M 1.0±0.05 0.5±0.05 0.35±0.05 
RR1608M 1.6±0.1 0.8±0.1 0.45±0.1 
RR2012M 2.0±0.1 1.25±0.15 0.5

15

.

0

1

.

0


RR3216M 3.2±0.2 1.6±0.15 0.55±0.1 
RR3225M 3.2±0.2 2.5±0.2 0.55±0.1 
RR3245M 3.2±0.2 4.6±0.2 0.55±0.1 
RR4532M 4.6±0.2 3.2±0.2 0.55±0.1 
RR5025M 5.0±0.2 2.5±0.2 0.55±0.2 
RR6332M 6.3±0.2 3.2±0.2 0.55±0.2

角形抵抗器の形状及び寸法を,

図 に示す。

図 1−角形抵抗器の形状及び寸法

表 1b−円筒形抵抗器の推奨形式

単位  mm

形式

(形式記号)

寸法

長さ  L

外径  D

RC1610M 1.6

1

.

0

05

.

0


 1.0

15

.

0

05

.

0


RC2012M 2.0±0.1 1.25

2

.

0

1

.

0


RC2211M 2.2

0

3

.

0

 1.1

0

1

.

0

RC3514M 3.5±0.2 1.4±0.2 
RC5922M 5.9±0.2 2.2±0.2

円筒形抵抗器の形状及び寸法を,

図 に示す。

T



C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

図 2−円筒形抵抗器の形状及び寸法

部品の形式が

図 以外の場合,例えば,表面実装用巻線抵抗器など,個別規格には,抵抗器を適切に記

述するような寸法情報を記載する。

2.1.2 

推奨耐候性カテゴリ 

抵抗器は,JIS C 60068-1 

附属書 A(部品の耐候性カテゴリー)に規定する一般原則に基づいた耐候性

カテゴリに分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験時間は,次の中から選択する。

カテゴリ下限温度(LCT)

:−55  ℃,−40  ℃,−25  ℃及び−10  ℃

カテゴリ上限温度(UCT)

:+85  ℃,+100  ℃,+125  ℃,+155  ℃,+175  ℃及び+200  ℃

高温高湿(定常)の試験時間:10 日,21 日及び 56 日

低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)の試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温

度である。

注記  実装した抵抗器の耐候性能は,プリント配線板,実装方法及び最終塗装の影響を受ける。

2.1.3 

温度による抵抗値変化 

抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界値は,

表 による。


7

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 2−抵抗値変化の限界

抵抗温度係数

抵抗値変化(ΔR/R)の限界

%

カテゴリ下限温度/基準温度

基準温度/カテゴリ上限温度

10

6

/K

a)b)

  記号

c)

−55/

+20

−40/

+20

−25/

+20

−10/

+20

+20/

+85

+20/

+125

+20/

+155

+20/

+175

+20/

+200

±1 000 W ±7.50

±6.00

±4.50

±3.00

±6.50

±10.5

±13.5

±15.5

±18.0

±500 V ±3.75

±3.00

±2.25

±1.50

±3.25

±5.25

±6.75

±7.75

±9.00

±250 U ±1.88

±1.50

±1.13

±0.75

±1.63

±2.63

±3.38

±3.88

±4.50

±100 S ±0.75

±0.60

±0.45

±0.30

±0.65

±1.05

±1.35

±1.55

±1.80

±50 R ±0.375

±0.300

±0.225

±0.150

±0.325

±0.525

±0.675

±0.775

±0.900

±25 Q ±0.188

±0.150

±0.113

±0.075

±0.163

±0.263

±0.338

±0.388

±0.450

±15 P ±0.113

±0.090

±0.068

±0.045

±0.098

±0.158

±0.203

±0.233

±0.270

±10 N ±0.075

±0.060

±0.045

±0.030

±0.065

±0.105

±0.135

±0.155

±0.180

±5 M ±0.038

±0.030

±0.023

±0.015

±0.033

±0.053

±0.068

±0.078

±0.090

±2 L ±0.015

±0.012

±0.009

±0.006

±0.013

±0.021

±0.027

±0.031

±0.036

±1 K ±0.008

±0.006

±0.005

±0.003

±0.007

±0.011

±0.014

±0.016

±0.018

a)

  略号:例えば,“±50”は,“0±50×10

6

/K”を示す。

b)

  温度係数の追加が必要な場合には,個別規格に規定する。

c)

  文字記号は,JIS C 5062 の 5.5(抵抗温度係数の文字記号)による。

表 の各欄は,推奨温度係数及び 2.1.2 のカテゴリ温度範囲に基づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5201-1

の 4.8(温度による抵抗値変化)参照]での抵抗値変化の限界を示す。

2.1.4 

抵抗値変化の限界 

各試験での抵抗値変化の推奨限界値は,

表 3a 及び表 3b による。推奨限界値は,それぞれの安定性クラ

スに対応して規定している。

表 3a−抵抗値変化の限界

安定性

クラス

長期試験

短期試験

JIS C 5201-1

a)

4.23  一連耐候性 
4.24  高温高湿(定常) 
4.25.3  カテゴリ上限

温度での耐久

JIS C 5201-1

a)

4.25.1 70

℃での耐久性

 
 
 

JIS C 5201-1

a)

4.13  短時間過負荷

b)

4.18  はんだ耐熱性 
4.19  温度急変(5 サイクル)
4.21  衝撃

c)

4.22  振動

d)

4.33  耐プリント板曲げ性

1 000 時間

延長 8 000 時間

d)

5

±(5 %R+0.1 Ω)

±(5 %R+0.1 Ω)

±(10 %R+0.1 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

2

±(2 %R+0.1 Ω)

±(2 %R+0.1 Ω)

±(5 %R+0.1 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

1

±(1 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

±(2 %R+0.05 Ω)

±(0.25 %R+0.05 Ω)

0.5

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

±(0.1 %R+0.01 Ω)

0.25

±(0.25 %R+0.05 Ω)

±(0.25 %R+0.05 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(0.05 %R+0.01 Ω)

0.1

±(0.1 %R+0.02 Ω)

±(0.1 %R+0.02 Ω)

±(0.25 %R+0.02 Ω)

±(0.05 %R+0.01 Ω)

0.05

±(0.05 %R+0.01 Ω)

±(0.05 %R+0.01 Ω)

±(0.1 %R+0.01 Ω)

±(0.025 %R+0.01 Ω)

0.025

±(0.025 %R+0.01 Ω)

±(0.025 %R+0.01 Ω)

±(0.05 %R+0.01 Ω)

±(0.01 %R+0.01 Ω)

a)

  JIS C 5201-1 による。

b)

  この試験は,水準 G に分類する抵抗器に適用する。

c)

  この試験は,角形又は円筒形以外の形式に適用する。

d)

  この試験は,水準 P に分類する抵抗器に適用する。



C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 3b−抵抗値変化の限界

安定性 
クラス

JIS C 5201-1

a)

4.19  温度急変

100 サイクル以上

c)

JIS C 5201-1

a)

4.27  単パルス高電圧過

負荷試験

c)

JIS C 5201-1

a)

4.38  静電気放電

b)

JIS C 5201-1

a)

4.39  断続過負荷試験

c)

5

±(1 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

±(2 %R+0.05 Ω)


1

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

0.5 
0.25

±(0.25 %R+0.05 Ω)

0.1 
0.05 
0.025

a)

  JIS C 5201-1 による。

b)

  JIS C 61340-3-1 の人体モデル(HBM)を適用する。水準 P に分類する抵抗器は,正極性 3 回及び負極性 3 回

の放電を,水準 G に分類する抵抗器は,正極性 1 回及び負極性 1 回の放電を適用する。

c)

  この試験は,水準 P に分類する抵抗器に適用する。

2.2 

推奨定格値 

2.2.1 

公称抵抗値 

JIS C 5201-1 の 2.3.2(公称抵抗値の推奨値)による。

推奨値は,JIS C 5063 に規定する E 標準数列とする。

2.2.2 

公称抵抗値の許容差 

抵抗値の推奨許容差は,次による。

±10 %,±5 %,±2 %,±1 %,±0.5 %,±0.25 %,±0.1 %,±0.05 %,±0.02 %,±0.01 %,

0/−30 %,0/−20 %及び 0/−10 %

注記  非対称の許容差(例えば,0/−20 %)は,レーザトリマブル抵抗器に用いている。

2.2.3 

定格電力 P

70

抵抗器を基板に取り付けた状態の周囲温度 70  ℃での定格電力の推奨値は,次による。

0.016 W,0.032 W,0.05 W,0.063 W,0.1 W,0.125 W,0.25 W,0.33 W,0.4 W,0.5 W,0.75 W,1 W,

2 W 及び 3 W

個別規格には,定格電力を負荷する条件を規定する。

負荷軽減情報を提供するために用いる軽減曲線の例を,

図 に示す。

定格電力比(

%

カテゴリ下限温度 70

カテゴリ上限温度

図 3−軽減曲線

推奨動作領域

0

100


9

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

曲線上の全ての折れ点(break point)を試験によって確認する。

2.2.4 

素子最高電圧 U

max

素子最高電圧 U

max

の推奨値は,次による。

12.5 V,15 V,25 V,50 V,75 V,100 V,150 V,200 V,300 V 及び 500 V(直流電圧又は交流電圧の実

効値)

2.2.5 

絶縁抵抗 

絶縁形抵抗器に対する絶縁抵抗は,高温(耐熱性)試験後で 1 GΩ 以上,耐候性試験後で 100 MΩ 以上

とする。

2.2.6 

絶縁電圧 

絶縁形抵抗器に対する絶縁電圧の推奨値は,次による。

75 V,100 V,200 V,300 V 及び 500 V(直流電圧又は交流電圧のピーク値)

2.3 

推奨する試験の厳しさ 

2.3.1 

短時間過負荷 

JIS C 5201-1 の 4.13(短時間過負荷)によるほか,次による。

印加電圧:  個別規格に印加電圧を規定する。推奨値は,定格電圧の 2.5 倍又は素子最高電圧の 2 倍の

いずれか小さい方とする。

印加時間:  個別規格に印加時間を規定する。

推奨値は,0.5 秒,1 秒,2 秒,5 秒及び 10 秒とする。

印加時間は,素子温度の最大値がカテゴリ上限温度より 30  ℃以上高くなるように規定す

る。

取付け:

2.4.2 による。個々の抵抗器の間隔は,これらの抵抗器の最大寸法以上とする。

試験基板は,水平に取り付け,周囲温度 15  ℃∼35  ℃の自由空間に置く。

2.3.2 

はんだ付け性 

JIS C 5201-1 の 4.17(はんだ付け性)によるほか,次による。

はんだ付け性試験は,加速エージングによる前処理を行う。関連する個別規格に規定がない場合は,JIS 

C 60068-2-20 の 4.1.1(試験 Ta:試験方法)に規定するエージング 3a(155  ℃の乾燥加熱 4 時間)を適用

する。加速エージングの後,試料を標準試験状態に 2 時間∼24 時間放置する。

抵抗器のはんだ付け可能な電極表面は,関連する個別規格に規定がない場合には,SnPb はんだ合金及び

鉛フリーはんだの両方に適合する。したがって,はんだ付け性試験は,両方のはんだ合金に対して必要で

ある。

SnPb はんだ合金によるはんだ付け性は,次の厳しさを用いて,JIS C 60068-2-58 の 8.2.1(鉛入りはんだ:

はんだ槽法)のはんだ槽法によって試験を行う。

−  はんだ合金

:Sn60Pb40 又は Sn63Pb37

−  槽の温度

:235  ℃±5  ℃

−  浸せき(漬)時間  :2 秒間±0.2 秒間

鉛フリーはんだ合金は,代表的なはんだ付け工程温度によって分類する[JIS C 60068-2-58 の 4.(鉛フ

リーはんだを使用したはんだ付け工程の分類)参照]

。最も一般的な SnAg,SnAgCu 及び SnAgBi のはんだ

合金は,

群 の“中−高温”に含まれる。鉛フリーはんだによるはんだ付け性は,次の群 の代表的な厳

しさで,JIS C 60068-2-58 の 8.1.1(鉛フリーはんだ:はんだ槽法)のはんだ槽法によって試験を行う。

−  はんだ合金

:Sn96.5Ag3.0Cu0.5


10 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

−  槽の温度

:245  ℃±5  ℃

−  浸せき(漬)時間  :3 秒間±0.3 秒間

2.3.3 

はんだ耐熱性 

JIS C 5201-1 の 4.18(はんだ耐熱性)によるほか,次による。

抵抗器は,関連する個別規格に規定がない場合には,IEC 61760-1 に規定する全てのはんだ付けプロセ

スに耐えることができなければならない。

− SnPb はんだ気相ソルダリング

−  鉛フリーはんだ気相ソルダリング

− SnPb はんだ遠赤外線又は熱風(forced gas convection)ソルダリング

−  鉛フリーはんだ遠赤外線又は熱風(forced gas convection)ソルダリング

− SnPb はんだフローソルダリング

−  鉛フリーはんだフローソルダリング

全てのはんだ付け法に対応するはんだ耐熱性は,JIS C 60068-2-58 の 8.2.1 及び JIS C 60068-2-58 の 8.1.1

の最も厳しい条件で試験を行う。

−  試験方法

:はんだ槽法

−  はんだ合金

:SnPb,SnCu,SnAgCu 又は SnAg のいずれかの合金

−  槽の温度

:260  ℃±5  ℃

−  浸せき(漬)時間  :10 秒間±1 秒間

−  試験回数

:1 回

関連する個別規格で,フローソルダリングを適用除外している抵抗器の場合には,はんだ耐熱性は,JIS 

C 60068-2-58 の 8.2.4(はんだ耐熱性試験のリフロー)及び IEC 61760-1 の箇条 6(Typical process conditions)

の最も厳しいリフロー条件で試験を行う。

−  試験方法

:気相ソルダリング

−  槽の温度

:230  ℃±5  ℃

−  浸せき(漬)時間  :40 秒間±1 秒間

−  試験回数

:3 回。2 回連続する場合の回復時間は,試料の温度が 50  ℃未満に低下するまで

  の時間とする。

関連する個別規格で,フローソルダリング及び気相ソルダリングの適用を除外している抵抗器の場合に

は,はんだ耐熱性は,JIS C 60068-2-58 の 8.2.4 及び JIS C 60068-2-58 の 8.1.2.2(はんだ耐熱試験のリフロ

ー温度プロファイル)の最も厳しいリフロー条件で試験を行う。

−  試験方法

:遠赤外線及び熱風(forced gas convection)ソルダリング

−  予備加熱

:150  ℃∼180  ℃で,120 秒±5 秒

−  ピーク温度

:255  ℃±5  ℃

−  保持時間

:40 秒間±1 秒間  245  ℃以上

  60 秒間∼90 秒間  220  ℃以上

−  試験回数

:3 回。2 回連続する場合の回復時間は,試料の温度が 50  ℃未満に低下するまで

  の時間とする。

2.3.4 

固着性 

JIS C 5201-1 の 4.32.2(固着性:厳しさ)b)によるほか,次による。

関連する個別規格に規定がない場合,抵抗器の本体に加える加圧力は,

表 による。


11

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 4−固着性

形式(形式記号)

加圧力

a)

N

角形

円筒形

RR0603M

− 2

RR1005M

− 3

RR1608M RC1610M

5

RR2012M RC2012M

RC2211M

9

RR3216M 
RR3225M

RC3514M 25

RR3245M 
RR4532M 
RR5025M 
RR6332M

− 45

− RC5922M

90

注記  加圧力は,それぞれの形式の抵抗器の代表的な質量を基に,“加速度

981 m/s

2

(100 G)

”を用いた衝撃試験又はバンプ試験での結果による。

a)

  固着力の許容差は,0/+10 %とする。

2.3.5 

周期的パルス過負荷試験 

JIS C 5201-1 の 4.39(断続過負荷試験)によるほか,次による。

−  パルス電圧

:推奨パルス電圧 は,次の式による。ただし,最高試験電圧は,2U

max

を超えて

はならない。

n

70

15

R

P

U

=

ここに,

P

70

定格電力

R

n

公称抵抗値

U

max

素子最高電圧

−  パルスサイクル数  :0.1 秒間印加及び 2.5 秒間停止を 1 サイクルとして,1 000 サイクル

−  取付け

2.4.2 による。個々の抵抗器の間隔は,これらの抵抗器の最大寸法以上とする。

試験基板は,水平に取り付け,周囲温度 15  ℃∼35  ℃の自由空間に置く。

2.3.6 

静電気放電(ESD 

JIS C 5201-1 の 4.38(静電気放電)によるほか,次による。

−  放電回数:正極性及び負極性放電の回数は,次とし,個別規格に規定しなければならない。

正極性放電:1 回(水準 G の抵抗器の場合)又は 3 回(水準 P の抵抗器の場合)

負極性放電:1 回(水準 G の抵抗器の場合)又は 3 回(水準 P の抵抗器の場合)

注記  対応国際規格では“放電回数:正極性 3 回及び負極性 3 回,極性を換えて印加する。”と規定

されているが,これは水準 P の抵抗器の場合である。水準 G の抵抗器の場合はそれぞれ 1 回

の印加であり,対応国際規格の誤記である。

−  印加電圧:推奨値は,300 V,500 V,800 V,1 000 V,1 500 V,2 000 V,3 000 V 及び 4 000 V とする。

HBM の ESD 感度区分は,適用しない。

2.3.7 

部品の耐溶剤性 

JIS C 5201-1 の 4.29(部品の耐溶剤性)によるほか,次による。

溶剤の温度  :23  ℃±5  ℃(推奨値)又は 50

0

5


12 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

2.3.8 

表示の耐溶剤性 

JIS C 5201-1 の 4.30(表示の耐溶剤性)によるほか,次による。

溶剤の温度  :23  ℃±5  ℃(推奨値)又は 50

0

5

2.4 

供試品の準備 

2.4.1 

乾燥 

JIS C 5201-1 の 4.3(乾燥)の手順 による。

2.4.2 

部品の取付け 

抵抗器は,

図 に示す基本レイアウトの試験基板に取り付ける。

試験基板は,厚さが(1.6±0.1)mm で,公称値 35

μm の厚さの銅はく(箔)からなる導体のガラス布基

材エポキシ樹脂プリント配線板とする。形式記号 RR1005M,又はより小さい寸法の抵抗器については,代

替の基板の厚さ(0.8±0.1)mm を用いてもよい。必要がある場合は,個別規格に異なった材料仕様及びレ

イアウト寸法を含む基本レイアウトを規定する。

規定する領域の裏面及び内部には,

ケルビン接続のための 0.3 mm 幅の配線以外の金属領域は認めない。

  はんだ付け領域 
  非はんだ付け領域(ソルダーレジストで覆う。)

注記 1  寸法は,表 による。 
注記 2 100

mΩ よりも低い公称抵抗値の試料の場合には,図 に示すはんだ付け領域にセンス

端子を付加する。

図 4−機械的,環境的及び電気的試験用の基本レイアウト−ケルビン(端子)接続

25 mm

25 mm


13

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

  はんだ付け領域 
  非はんだ付け領域(ソルダーレジストで覆う。)

図 5−ケルビン(端子)接続用センス端子の取付け 

100 mΩ よりも低い公称抵抗値の試料の場合)

表 5−はんだ付けランド寸法

形式

(形式記号)

X

mm

Y

mm

G

mm

C

mm

K

mm

P

mm

RR0603M

検討中

RR1005M

0.7 0.6 0.5 0.3 0.15 5.0

M

P

RR1608M

1.0 1.1 0.6 0.5 0.2  5.0

RR2012M,RC2211M

1.5 1.3 0.6 2.0 0.2  5.0

RR3216M,RC3514M

2.0 1.6 1.5 2.0 0.2  5.0

RR3225M

2.9 1.6 1.5 2.0 0.2 10.0

RR3245M

5.0 1.6 1.5 5.0 0.2 10.0

RR4532M

3.6 1.8 2.3 5.0 0.2 10.0

RR5025M,RC5922M

2.9 1.8 2.7 5.0 0.2 10.0

RR6332M

3.6 1.8 3.8 5.0 0.2 10.0

注記  寸法許容差: RR1608M の形状寸法を超える形式の場合,±0.1 mm

           RR1608M の形状寸法以下の形式の場合,±0.05 mm

公称抵抗値が 100  Ω 以上で安定性クラス 0.1 %又はより厳しい試験,又は抵抗値測定が必要でない試験

の場合には,

図 に示す試験基板を用いる。


14 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

  はんだ付け領域 
  非はんだ付け領域(ソルダーレジストで覆う。)

注記  寸法は,表 による。

図 6−機械的,環境的及び電気的試験用の基本的なレイアウト

品質評価手順 

3.1 

一般事項 

JIS C 5201-1 の附属書 Q[IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順]による。

3.2 

定義 

3.2.1 

製造の初期工程 

抵抗器の製造の初期工程は,次による。

−  皮膜抵抗器:基板への抵抗皮膜の形成

−  巻線抵抗器:巻芯への抵抗線又は帯線(リボン)の巻付け

−  金属箔抵抗器:基板上への金属はく(箔)の接着

3.2.2 

構造的に類似な部品 

抵抗器の構造的に類似な部品は,次による。

a)  一つ又は幾つかの製造工場で生産している場合は,次による。

−  同じ原材料,製造方法及び品質検査手順を用いる。

−  特定の一つの製造工場が,他の工場での製造分も含めて,製品及び品質に責任をもつ。

多くの製造工場がある場合,製造業者は,主要製造工場及び内部管理責任者(DMR)を指定する。

b)  全ての製造工場が同一の国内監督検査機関(NSI)によって監督されている場合,その機関は,主要

製造工場のある国の国内監督検査機関(NSI)とすることが望ましい。

c)  安定性クラス及び耐候性カテゴリが同じ場合

d)  寸法だけが異なる場合

25 mm

25 mm


15

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

e)  同様の電極形式である場合

上記 c)d)及び e)の場合には,安定性クラス及び/又は耐候性カテゴリの異なる要求を最終測定で別々

に判断するとき,c)だけにおいて異なる抵抗器は,構造的類似とみなす。

構造的に類似な抵抗器は,評価及び故障率の決定だけに用いる。

3.2.3 

評価水準 EZ 

評価水準 EZ は,

“ゼロデフェクト”の導入に関する要求を満足する。不適合品の許容数(合格判定数)

は,c=0 によって規定する評価手順及び現状の製造業務の水準を合わせるために導入する。

したがって,ロットごとに試験するためのサンプルサイズは,JIS C 5005-2 

表 2(サンプル文字)によ

って決定する。

評価水準 EZ は,この規格の個別規格における抵抗器の品質評価に適用する。

3.3 

検査ロットの構成 

検査ロットは,同じ形式の抵抗器で構成する。

抵抗器のある範囲で認証を受ける場合には,抵抗値の内訳は,次に示す試料とする。

− 1/3 は,抵抗器範囲の最低抵抗値

− 1/3 は,臨界抵抗値

− 1/3 は,抵抗器範囲の最高抵抗値

認証を受ける範囲は,個別規格によってカバーする全種類でもよい。臨界抵抗値が認証を受ける範囲外

の場合は,範囲の中央の値(最低抵抗値と最高抵抗値との等比平均値,例えば,1 Ω∼1 MΩ の範囲では 1 kΩ)

をもつ抵抗器を代替に用いる。

一つ以上の抵抗温度係数で認証を受ける場合には,供試品は,異なった温度係数を代表している供試品

を含まなければならない。一般に,低い温度係数は,高い温度係数も代表すると考える。同じように,認

証を受ける最も狭い許容差をもつ異なった抵抗値の供試品を含まなければならない。異なった特性をもっ

ている供試品の割合は,国内監督検査機関(NSI)の承認が必要である。

定期検査が必要な場合には,検査ロットは,期間中に生産した抵抗範囲の極端なもので代表するのが望

ましい。その期間に製造し,同じ公称寸法にもかかわらず,異なった抵抗温度特性をもつ形式は,抵抗温

度特性のための試験を含む副群の場合を除き,集めてもよい。

品質認証で認めた高低の極端な値,又は抵抗値範囲の臨界抵抗値及び抵抗温度特性は,国内監督検査機

関(NSI)によって認証期間中に検査する。

低い値は,現在の最低認証抵抗値(又は認証範囲の中で最も低い値)の 100 %∼200 %とする。

臨界値は,計算値の 80 %∼100 %とする。

高い値は,現在の最高認証抵抗値(又は認証範囲の中で最も高い値)の 70 %∼100 %とする。

供試品は,検査期間の最後の 13 週にわたって集める。

3.4 

品質認証試験 

3.4.1 

定数抜取手順に基づく品質認証 

品質認証試験手順は,JIS C 5201-1 の Q.5(品質認証手順)による。定数抜取手順は,JIS C 5201-1 

Q.5.3(品質認証用試験手順)b)による。

試料は,

3.3 による。必要となる全試料数は,表 の品質認証試験計画にある全ての試料数の合計である。

予備の供試品は,次の場合に用いる。

製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換えは,抵抗値ごとに 1 個,各抵抗温度係数又は温度

特性ごとに 1 個とする。


16 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料を追加する。

水準 G 及び水準 P に分類する抵抗器の品質認証試験計画は,

表 による。各群の試験は,記載の順に従

って実施する。

群 に必要となる全体の供試品は,群 及び群 の試験を行った後に,その他の群に分割する。群 

群 の試験での不適合品は,その他の群に用いない。

1 個の抵抗器が一つの群の全て又は一部の項目で不適合になっても,1 個の不適合品として数える。

不適合数が,各群又は各副群ごとに規定する合格判定数及び総合格判定数以下の場合に,認証は合格と

する。

注記  表 に定数抜取試験計画を示す。これは,各試験群の抜取方法及び許容不適合数の個別規格を

含み,JIS C 5201-1 の箇条 4(試験及び測定手順)及びこの規格の箇条 に規定する個々の試験

とともに,試験条件の全体及び要求性能を示す。

試験が特定の形式だけに,又は特定の製品分類水準だけに適切である場合は,その箇所を

に示す。それぞれの個別規格は,適切な選択をしなければならない。

さらに,

表 には,試験方法,試験条件及び要求性能について個別規格に規定するための選

択内容を示す。

定数抜取試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に規定

する内容と同一とする。

3.4.2 

ロットごとの試験及び定期試験による品質認証 

品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1 の Q.5 による。ロットごとの試験及び定期試験の手順は,JIS C 

5201-1 の Q.5.3 b)による。

ロットごとの試験及び定期試験による品質認証に用いる計画は,3.5 による。

3.5 

品質確認検査 

水準 G 及び水準 P に分類する抵抗器の品質確認検査のためのロットごとの試験及び定期試験の計画は,

表 7a 及び表 7b による。

取り付けた供試品で,取付け後に不適合が見つかった供試品は,一連の試験での許容不適合数を計算す

る場合には,数えない。それらは,予備の供試品と取り替える。

3.6 

技術認証手順 

JIS C 5201-1 の Q.14(技術認証手順)を適用する。

表 6,表 7a 及び表 7b の試験計画を用いる。

3.7 

長期保管後の出荷 

検査水準を S-2 に低減する場合を除いて,JIS C 5201-1 の Q.10(長期保管後の出荷)を適用する。


17

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 6−品質認証試験計画

試験

a)

試験条件 D

b) 

は ND

 b)

n

b)

c

b)

要求性能

a)

群 1 
4.5

抵抗値

ND

0

 
4.5.2 による。

群 2 
4.4.1

外観検査

 
表示(個別規格に規定がある場合)

ND

0

 
4.4.1 による。

4.4.2

寸法(ゲージ法)  適切なジグを用いる。

(試料

中の

20 個)

個別規格の規定による。

群 3 
4.6

絶縁抵抗

 
JIS C 5201-1 の 4.6.1.4 又は 4.6.1.5
による。

ND

50

0

 
R

≧… GΩ

4.7

耐電圧

JIS C 5201-1 の 4.6.1.4 又は 4.6.1.5
による。

電圧:U=1.42U

ins

時間:1 分間

4.7.3 による。

4.13  短時間過負荷 
(水準 G に分類する抵抗

器に適用する。

取付け:2.4.2 によるか又は取付け

しない。 
2.3.1 による。 
電圧:…

形式

時間

… … 
… …

外観

抵抗値

D

(試料

中の

20 個)

 
 
 
 
 
 
 
4.13.3 による。 
個別規格の規定による。

群 

4.17  はんだ付け性

e)

(SnPb はんだ)

2.3.2 による。 
エージング:155  ℃で 4 時間の乾燥
SnPb はんだ(はんだ槽法)で 235  ℃
で 2 秒間

外観

D 40

(半分

試料)

0

 
 
 
4.17.3 による。 
端子表面の 95 %以上が新し
いはんだで覆われている。

4.17  はんだ付け性

e)f)

(鉛フリーはんだ)

2.3.2 による。 
エージング:155  ℃で 4 時間の乾燥
SnAgCu はんだ(はんだ槽法)で
245  ℃で 3 秒間 
外観

(残り

の半

分の

試料)

 
 
 
 
4.17.3 による。 
端子表面の 95 %以上が新し

いはんだで覆われている。

群 5 
4.8

温 度 に よ る 抵 抗 値

変化

 
取付け:2.4.2 によるか又は取付け

しない。

測定順序: 
20  ℃/LCT/20  ℃/UCT/20  ℃ 
抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
 
個別規格の規定による。


18 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 6−品質認証試験計画(続き)

試験

a)

試験条件 D

b) 

は ND

 b)

n

b)

c

b)

要求性能

a)

群 

4.33  耐 プ リ ン ト 板 曲 げ

取付け:2.4.2 による。

曲げ深さ:… mm

回数 
外観

抵抗値

D 20

(半分

試料)

0

試験基板が曲げ状態にある

とき,電気的接続があり,

回路オープンがない。 
4.33.4 による。 
個別規格の規定による。

4.19  温度急変

取付け:2.4.2 による。 
5 サイクル 
T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

外観 
抵抗値

(残り

の半
分の

試料)

 
 
 
 
4.19.3 による。 
個別規格の規定による。

4.21  衝撃 
(角形及び円筒形以外の

抵抗器に適用する。

加速 
パルス時間

波形:正弦半波

厳しさ:3 方向全てに衝撃を与える。
外観

抵抗値

 
 
 
 
4.21.5 による。 
個別規格の規定による。

4.32  固着性 
(角形及び円筒形の抵抗
器に適用する。

取付け:2.4.2 による。 
2.3.4 による。

形式

加圧力

… … 
… …

外観

 
 
 
 
 
4.32.3 による。

4.23  一連耐候性 
−  高温 
−  温湿度サイクル(試験

Db),最初のサイクル

−  低温 
−  減圧

−  温湿度サイクル(試験

Db),残りのサイクル

−  直流負荷 
 
−  最終測定

取付け:2.4.2 による。 
UCT:16 時間 
温度 55  ℃で 1 サイクル 
 
LCT:2 時間 
… kPa,温度 15  ℃∼35  ℃で 1 時間
温度 55  ℃で残りのサイクル 
 
電圧:定格電圧又は最高素子電圧

のいずれか小さい方,1 分間

外観 
抵抗値

(全部

試料)

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.23.8 による。 
個別規格の規定による。

群 7 
4.25.1 70

℃での耐久性

 
取付け:2.4.2 による。

電圧:定格電圧又は最高素子電圧 
のいずれか小さい方 
1.5 時間 ON/0.5 時間 OFF 
試験時間:1 000 時間 
外観

抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
 
 
4.25.1.7 による。 
個別規格の規定による。

4.25.1.8    延長試験 
(水準 P に分類する抵抗

器に適用する。

延長時間は 8 000 時間

検査は 4 000 時間(参考)

抵抗値

 
 
個別規格の規定による。


19

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 6−品質認証試験計画(続き)

試験

a)

試験条件 D

b) 

は ND

 b)

n

b)

c

b)

要求性能

a)

群 8 
4.24  高温高湿(定常)

 
取付け:2.4.2 による。

温度:40  ℃±2  ℃

湿度:

(93±3)%

試験時間:…時間

外観

抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
 
4.24.4 による。 
個別規格の規定による。

群 9 
4.18  はんだ耐熱性

h)

 
2.3.3 による。 
260  ℃で 10 秒間 
外観 
抵抗値

D

20

0

 
 
 
4.18.4 による。 
個別規格の規定による。

4.35  耐炎性

ニードルフレーム試験 
接炎時間 t

a

:10 秒間

(サン

プル中

5 個)

 
許容燃焼時間:<30 秒間

群 10 
4.4.3

寸法(詳細)

D

20

0

 
個別規格の規定による。

4.25.3  カ テ ゴ リ 上 限 温

度での耐久性

取付け:2.4.2 によるか又は取付け

しない。 
試験時間:1 000 時間

外観

抵抗値

 
 
 
4.25.3.7 による。 
個別規格の規定による。

4.14  温度上昇 
(0 Ω ジャンパー及び臨界

抵抗値以下の抵抗器に適

用する。

取付け:2.4.2 による。

(サン

プル中

6 個)

 
個別規格の規定による。

群 11 
4.38  静電気放電

 
取付け:2.4.2 によるか又は取付け
しない。

水準 G に分類する抵抗器:正極性
1 回及び負極性 1 回 
水準 P に分類する抵抗器:正極性 
3 回及び負極性 3 回

形式

印加電圧

… … 
… …

外観

抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.38.4 による。 
個別規格の規定による。

4.29  部品の耐溶剤性 
(個別規格に規定がある

場合)

溶剤:イソプロピルアルコール 
温度:…  ℃

処理時間:5 分間±0.5 分間

外観

(半分

試料)

 
 
 
4.4.1 による。

4.30  表示の耐溶剤性 
(個別規格に規定がある
場合)

溶剤:イソプロピルアルコール

温度:…  ℃ 
処理時間:5 分間±0.5 分間

ラビング材質:脱脂綿

外観

(残り

の半
分の

試料)

 
 
 
 
4.4.1 による。


20 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 6−品質認証試験計画(続き)

試験

a)

試験条件 D

b) 

は ND

 b)

n

b)

c

b)

要求性能

a)

群 12 
4.22  振動 
(水準 P に分類する抵抗

器に適用する。

 
取付け:2.4.2 による。

掃引による耐久性

試料が共振しないような取付け 
周波数範囲:…

振幅:…

外観 
抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
 
 
4.22.4 による。 
個別規格の規定による。

4.39  断続過負荷試験 
(水準 P に分類する抵抗

器に適用する。

取付け:2.4.2 による。 
2.3.5 による。 
電圧:定格電圧の 2.5 倍又は最高素
子電圧の 2 倍のいずれか小さい方 
0.1 秒間 ON/2.5 秒間 OFF 
1 000 サイクル 
外観

抵抗値

 
 
 
 
 
 
4.4.1 による。 
個別規格の規定による。

群 13 
4.19  温度急変 
≧100 サイクル 
(水準 P に分類する抵抗

器に適用する。

 
取付け:2.4.2 によるか又は取付け

しない。

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

形式

サイクル

… … 
… …

外観

抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
 
 
 
 
4.19.3 による。 
個別規格の規定による。

群 14 
4.27  単 パ ル ス 高 電 圧 過

負荷試験

(水準 P に分類する抵抗
器に適用する。

 
取付け:2.4.2 によるか又は取付け

しない。

厳しさ: 
外観

抵抗値

D

20

0

 
 
 
 
4.27.3.7 による。 
個別規格の規定による。

a)

  JIS C 5201-1 による細分箇条番号

b)

  略語の一覧については,附属書 参照

c)

  この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。検査ロッ

トの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全て検査する。抜取水準は,
JIS C 5005-2 の附属書 に従って,部品製造業者が設定することが望ましい。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質水

準を算出するために全て数える。ppm で示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2 の 6.2(SVQL の算出)に規定する

方法によって,累積した検査データから算出する。

d)

  製造業者が,管理限界を超える部品を取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の仕組みを

取り入れる場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

e)

  この試験を受ける抵抗器は,群 1,群 2,群 3,副群 A1,副群 A2 又は副群 B1 の中で測定しないで,群 又は

群 の試料の数に含めない。

f)

  試験は,関連する個別規格が鉛フリーはんだとの両立を明白に除外している場合は,適用しない。

g)

  全ての副群の試験は,1 個以上の不適合品があった場合に繰り返す。繰返し試験で,不適合品がないことを確認

する。繰返し試験中,製品の出荷は継続する。

h)

  この試験の条件は,2.3.3 から関連する選択肢によって置き換えてもよい。


21

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 7a−品質確認検査のための試験計画:ロットごとの試験

試験

a)

試験条件 D

b)

又は

ND

b)

IL

b)

c

b)

要求性能

a)

副群 A1 
4.5

抵抗値

c)

ND

100 %

(個別規格の

規定による。

 
 
4.5.2 による。

副群 A2 
4.4.1

外観検査

d)

 
表示(個別規格に規定がある場合)

ND

S-4

0

 
4.4.1 による。

4.4.2

寸法(ゲージ法)

d)

  適切なジグを用いる。

個別規格の規定による。

副群 B1 
4.7

耐電圧

 
JIS C 5201-1 の 4.6.1.4 又は 4.6.1.5
による。 
電圧:U=1.42U

ins

時間:1 分間

ND

S-3

0

 
 
 
 
4.7.3 による。

4.13  短時間過負荷 
(水準 G に分類する抵抗器

に適用する。

取付け:2.4.2 による,

又は取付けしない。 
2.3.1 による。 
電圧:…

形式

時間

… … 
… …

外観

抵抗値

D

 
 
 
 
 
 
4.13.3 による。 
個別規格の規定による。

副群 B2 

4.17  はんだ付け性

e)

(SnPb はんだ)

2.3.2 による。 
エージング:155  ℃で 4 時間の乾燥
SnPb はんだ(はんだ槽法) 
235  ℃で 2 秒間 
外観

D S-3

0

 
 
 
4.17.3 による。 
端子表面の 95 %以上が新し

いはんだで覆われている。

4.17  はんだ付け性

e)f)

(鉛フリーはんだ)

2.3.2 による。 
エージング:155  ℃で 4 時間の乾燥
SnAgCu は ん だ ( は ん だ 槽 法 )
245  ℃で 3 秒間 
外観

S-3

 
 
 
 
4.17.3 による。 
端子表面の 95 %以上が新し

いはんだで覆われている。

副群 B3 
4.8

温度による抵抗値変

(抵抗温度係数±50×10

6

/K より優れた抵抗器に適用
する。

 
取付け:2.4.2 によるか又は取付け
しない。

測定順序: 
20  ℃/LCT/20  ℃/UCT/20  ℃ 
抵抗値

D

S-3

0

 
 
 
 
 
個別規格の規定による。

注記  表の注は,表 の最後に示す。


22 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 7b−品質確認検査のための試験計画:定期試験

試験

a)

試験条件 D

b)

又は

ND

b)

p

b)

n

b)

c

b)

要求性能

a)

副群 C1

g)

D

3

0

4.33  耐 プ リ ン ト 板 曲 げ

取付け:2.4.2 による。

曲げ深さ:… mm

回数:…回 
外観

抵抗値

20

(半分

試料)

試験基板が曲げ状態にあ

るとき,電気的導通があっ

て,回路オープンがない。
4.33.4 による。 
個別規格の規定による。

4.19  温度急変

取付け:2.4.2 による。 
5 サイクル 
T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

外観

抵抗値

(残り

の半

分の

試料)

 
 
 
 
4.19.3 による。 
個別規格の規定による。

4.21  衝撃 
(角形及び円筒形以外の

抵抗器に適用する。

加速度:… 
パルス時間:…

波形:正弦半波

厳しさ:3 方向全てに各…回の衝
撃を与える。

(合計…回の衝撃)

外観

抵抗値

 
 
 
 
 
4.21.5 による。 
個別規格の規定による。

4.22  振動 
(水準 P に分類する角形
及び円筒形以外の抵抗器

に適用する。

取付け:2.4.2 による。

掃引による耐久性 
試料が共振しないような取付け

周波数範囲:…

振幅:… 
外観

抵抗値

 
 
 
 
 
4.22.4 による。 
個別規格の規定による。

4.32  固着性 
(角形及び円筒形の抵抗
器に適用する。

取付け:2.4.2 による。 
2.3.4 による。

形式

加圧力

… … 
… …

外観

 
 
 
 
 
4.32.3 による。

4.23  一連耐候性 
−  高温 
−  温湿度サイクル(試験

Db),最初のサイクル

−  低温 
−  減圧 
 
−  温湿度サイクル(試験

Db),残りのサイクル

−  直流負荷 
 
−  最終測定

取付け:2.4.2 による。 
UCT:16 時間 
温度 55  ℃で 1 サイクル 
 
LCT:2 時間 
… kPa,温度 15  ℃∼35  ℃で 1 時

温度 55  ℃で残りのサイクル 
 
電圧:定格電圧又は最高素子電圧

のいずれか小さい方,1 分間 
外観

抵抗値

  (全部

試料)

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.23.8 による。 
個別規格の規定による。


23

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 7b−品質確認検査のための試験計画:定期試験(続き)

試験

a)

試験条件 D

b)

又は

ND

b)

p

b)

n

b)

c

b)

要求性能

a)

副群 C2

g)

4.25.1 70

℃での耐久性

 
取付け:2.4.2 による。

電圧:定格電圧又は最高素子電圧
のいずれか小さい方 
1.5 時間 ON/0.5 時間 OFF 
試験時間:1 000 時間 
外観

抵抗値

D

3

20

0

 
 
 
 
 
 
4.25.1.7 による。 
個別規格の規定による。

4.25.1.8    延長試験 
(水準 P に分類する抵抗
器に適用する。

延長時間は,8 000 時間

検査は,4 000 時間(参考) 
抵抗値

12

 
 
個別規格の規定による。

副群 C3

g)

4.18  はんだ耐熱性

h)

 
2.3.3 による。 
260  ℃で 10 秒間 
外観 
抵抗値

D

3

20

0

 
 
 
4.18.4 による。 
個別規格の規定による。

4.35  耐炎性

ニードルフレーム試験

接炎時間:10 秒間

36 (サン

プル中

5 個)

 
 
許容燃焼時間:<30 秒間

副群 D1

g)

4.8

温 度 に よ る 抵 抗 値
変化

 
取付け:2.4.2 による,又は取付け
しない。

測定順序: 
20  ℃/LCT/20  ℃/UCT/20  ℃ 
抵抗値

D

12

20

0

 
 
 
 
 
個別規格の規定による。

副群 D2

g)

4.24  高温高湿(定常)

 
取付け:2.4.2 による。

温度:40  ℃±2  ℃ 
湿度:

(93±3)%

試験時間:…時間

外観 
抵抗値

D

12

20

0

 
 
 
 
 
4.24.4 による。 
個別規格の規定による。

副群 D3

g)

4.4.3

寸法(詳細)

D

36

20

0

 
個別規格の規定による。

4.25.3  カ テ ゴ リ 上 限 温

度での耐久性

取付け:2.4.2 によるか又は取付け

しない。

試験時間:1 000 時間 
外観

抵抗値

 
 
 
4.25.3.7 による。 
個別規格の規定による。

4.14  温度上昇 
(0 Ω ジャンパー及び臨界

抵抗値以下の抵抗器に適
用する。

取付け:2.4.2 による。

(サン

プル中

6 個)

 
 
 
個別規格の規定による。


24 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

表 7b−品質確認検査のための試験計画:定期試験(続き)

試験

a)

試験条件 D

b)

又は

ND

b)

p

b)

n

b)

c

b)

要求性能

a)

群 E

g)

4.38  静電気放電

 
取付け:2.4.2 によるか又は取付け

しない。 
水準 G に分類する抵抗器:正極性
1 回及び負極性 1 回 
水準 P に分類する抵抗器:正極性
3 回及び負極性 3 回

形式

印加電圧

… … 
… …

外観

抵抗値

D

12

20

0

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.38.4 による。 
個別規格の規定による。

4.29  部品の耐溶剤性 
(個別規格に規定がある
場合)

2.3.7 による。 
溶剤:イソプロピルアルコール 
温度:…  ℃

処理時間:5 分間±0.5 分間

外観

(半分

試料)

 
 
 
 
4.4.1 による。

4.30  表示の耐溶剤性 
(個別規格に規定がある
場合)

2.3.8 による。 
溶剤:イソプロピルアルコール 
温度:…  ℃

処理時間:5 分間±0.5 分間

ラビング材質:脱脂綿 
外観

(残り

の半
分の

試料)

 
 
 
 
 
4.4.1 による。

群 F

g)

4.19  温度急変 
≧100 サイクル 
(水準 P に分類する抵抗

器に適用する。

 
取付け:2.4.2 によるか又は取付け

しない。

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

形式

サイクル

… … 
… …

外観

抵抗値

D

36

20

0

 
 
 
 
 
 
 
 
4.19.3 による。 
個別規格の規定による。

群 G

g)

4.27  単 パ ル ス 高 電 圧 過

負荷試験

(水準 P に分類する抵抗

器に適用する。

 
取付け:2.4.2 によるか又は取付け
しない。

厳しさ:…(10/700)

外観 
抵抗値

D

12

20

0

 
 
 
 
4.27.3.7 による。 
個別規格の規定による。

注記  表の注は,表 の最後に示す。


25

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

附属書 A

(規定)

ジャンパー(0 Ω)抵抗器

A.1  個別規格に規定する事項 

ジャンパー(0 Ω)抵抗器(以下,ジャンパー抵抗器という。

)について,1.4 を次のように変更して適用

する。

1.4.7  抵抗温度特性は,ジャンパー抵抗器に適用しない。

1.4.9  素子最高電圧は,最大許容電流 I

max

に置き換える。

A.2  推奨特性 

ジャンパー抵抗器について,2.1 を次のように変更して適用する。

2.1.3  温度による抵抗値変化は,ジャンパー抵抗器に適用しない。 
2.1.4  各試験での抵抗値変化の限界を,最大許容残留抵抗値 R

res max

に置き換える。

A.3  推奨定格 

ジャンパー抵抗器について,2.2 を次のように変更して適用する。

2.2.1  ジャンパー抵抗器の公称抵抗値は,0 Ω である。 
2.2.2  公称抵抗値の許容差を,最大許容残留抵抗値 R

res max

に置き換え,その推奨値は,次の中から選定

する。

  10 mΩ,20 mΩ 及び 50 mΩ

2.2.4  素子最高電圧は,ジャンパー抵抗器に適用しない。代わりに最大許容電流 I

max

を用いる。

A.4  推奨する厳しさ 

ジャンパー抵抗器について,2.3 を次のように変更して適用する。

2.3.1  印加電圧を,次に定義する印加電流に置き換える。

印加電流:個別規格に印加電流を規定する。推奨値は,最大許容電流 I

max

の 2.5 倍とする。

A.5  品質認証のための試験計画 

ジャンパー抵抗器の品質認証について,

表 の試験計画を次のように変更して適用する。

試験条件の欄の定格電圧及び最高素子電圧を,最大許容電流 I

max

に置き換える。

試験条件の欄の抵抗値の要求事項を,最大許容残留抵抗値 R

res max

に置き換える。

次の試験は,ジャンパー抵抗器に適用しない。

4.8

温度による抵抗値変化

4.27  単パルス高電圧過負荷試験

4.38  静電気放電(人体モデル) 

A.6  品質確認検査のための試験計画 

ジャンパー抵抗器の品質確認検査について,

表 7a 及び表 7b の試験計画を次のように変更して適用する。


26 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

試験条件の欄の定格電圧及び最高素子電圧を,最大許容電流 I

max

に置き換える。

試験条件の欄の抵抗値の要求事項を,最大許容残留抵抗値 R

res max

に置き換える。

次の試験は,ジャンパー抵抗器に適用しない。

4.8

温度による抵抗値変化

4.27  単パルス高電圧過負荷試験

4.38  静電気放電(人体モデル) 


27

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

附属書 B

(参考)

文字記号及び略語

この規格で使用する文字記号及び略語は,次による。

B.1  文字記号 

文字記号

文字記号の説明

単位

合格判定数(許容不適合品数) 1

外径 mm

I

max

最大許容電流 A

電極から電極への軸方向に沿って測定した長さ mm

試料数 1

試験周期

P

70

周囲温度 70  ℃での定格電力 W

実測抵抗値

R

ins

絶縁抵抗

R

n

公称抵抗値

R

res

残留抵抗値

R

res max

最大許容残留抵抗値

ΔR

抵抗値変化

ΔR/R

事前の測定値に対する抵抗値変化 %

電圧,例えば試験電圧など V

U

ins

絶縁電圧 V

U

max

素子最高電圧,最大許容電圧 V

U

r

定格電圧

R

P

U

=

70

r

 V

t

a

耐炎試験のさらし時間 s

t

b

耐炎試験のさらし後の燃焼時間 s

高さ(厚さ) mm

T

A

カテゴリ下限温度

T

B

カテゴリ上限温度

幅 mm


28 
C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

B.2  略語 

略語

略語の説明

D

破壊試験

DMR

管理責任者(品質システム管理者)

ESD

静電気放電

HBM

人体モデル,静電気放電試験において静電容量と抵抗値とによって表す。

IL

検査水準

LCT

カテゴリ下限温度

ND

非破壊試験

NSI

国内監督検査機関

RC

円筒形抵抗器の形式,一般的に皮膜抵抗器に用いる。

RR

角形抵抗器の形式,一般的に皮膜抵抗器に用いる。

SPC

統計的工程管理

TA

技術認証

TADD

技術認証申告書

TAS

技術認証スケジュール

TC

温度係数

TCR

抵抗温度係数

UCT

カテゴリ上限温度

参考文献  JIS C 0806-3  自動実装部品の包装−第 3 部:表面実装部品の連続テープによる包装

注記  対応国際規格:IEC 60286-3:2007,Packaging of components for automatic handling−Part 3:

Packaging of surface mount components on continuous tapes(IDT)

JIS C 60068-2-1  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:

A)


29

C 5201-8:2014 (IEC 60115-8:2009)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold

(IDT)

JIS C 60068-2-2  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:

B)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry

heat(IDT)

JIS C 60068-2-6  環境試験方法−電気・電子−第 2-6 部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc:

Vibration (sinusoidal)(IDT)

JIS C 60068-2-13  環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-13:1983,Environmental testing−Part 2: Tests. Test M: Low air

pressure(IDT)

JIS C 60068-2-14  環境試験方法−電気・電子−第 2-14 部:温度変化試験方法(試験記号:N)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14:1984,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N:

Change of temperature 及び Amendment 1:1986(IDT)

JIS C 60068-2-21  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U:

Robustness of terminations and integral mounting devices(IDT)

JIS C 60068-2-30  環境試験方法−電気・電子−第 2-30 部:温湿度サイクル(12+12 時間サイ

クル)試験方法(試験記号:Db)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-30:2005,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db:

Damp heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)(IDT)

JIS C 60068-2-45  環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-45:1980,Environmental testing−Part 2: Tests−Test XA and

guidance: Immersion in cleaning solvents 及び Amendment 1:1993(IDT)

JIS C 60068-2-78  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab:

Damp heat, steady state(IDT)

JIS C 60695-11-5  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針

バーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−

Needle-flame test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

IEC 60027-1,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General 
IEC 60060-1,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements 
IEC 60195,Method of measurement of current noise generated in fixed resistors

IEC 60410,Sampling plans and procedures for inspection by attributes 
IEC 60440,Method of measurement of non-linearity in resistors 
IECQ 01,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ System)−Basic Rules

IECQ 001002-3:2005,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of

procedure−Part 3: Approval procedures