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C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

2

1.0

  適用範囲

2

1.1

  推奨する取付方法

2

1.2

  寸法

2

1.3

  定格及び性能

3

1.4

  引用規格

3

1.5

  表示

3

1.6

  発注情報

3

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.8

  追加情報(非検査目的)

4

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項

4

2

  検査要求事項

4

2.1

  手順

4


C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業

標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 5101-16-1 : 1999 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS C 5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ

ンデンサ

JIS C 5101-2-1

第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS C 5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS C 5101-3-1

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS C 5101-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS C 5101-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS C 5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS C 5101-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS C 5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS C 5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C 5101-13-1

第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS C 5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS C 5101-14-1

第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2

第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

評価水準 DZ


C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

(3)

JIS C 5101-15  

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS C 5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS C 5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS C 5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS C 5101-16-1

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS C 5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS C 5101-17-1

第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS C 5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解チップコンデ

ンサ

JIS C 5101-18-1

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解チップコンデンサ

評価水準 E

JIS C 5101-18-2

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS C 5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS C 5101-20-1

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS C 5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS C 5101-21-1

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS C 5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS C 5101-22-1

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS C 5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS C 5101-23-1

第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデン

サ(予定)

JIS

C

5101-24-1

第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ  評価水準 EZ(予定)

JIS C 5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ(予定)


C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

(4)

JIS C 5101-25-1

第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ  評価水準 EZ(予定)


日本工業規格

JIS

 C

5101-16-1

:2009

(IEC 60384-16-1

:2005

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズド

ポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

評価水準 E 及び EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 16-1 : Blank detail specification :

Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors-

Assessment levels E and EZ

序文

この規格は,2005 年に第 2 版として発行された IEC 60384-16-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格

この規格は,品種別通則 JIS C 5101-16 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規

定したものである。この規格に規定する要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基づいていな

いものとみなし,そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,JIS C 5101-16 の 1.4 に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表の括弧内の数字は,指定の位置に記入する次の

事項と対応している。

個別規格の識別

[1]  個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議  (IEC)  の名称

[2]  個別規格の国内規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC  規格番号,版及び西

暦年

[3]  品目別通則の国内規格番号及び西暦年又は IEC 規格番号,版及び西暦年

[4]  ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別

[5]  コンデンサの品種についての要約説明

[6]  代表的な構造の説明(適用する場合)

注記  コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのこと

を明記する。

[7]  互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内規格若しくは国際規格の


2

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。

[8]  適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準。

注記  個別規格に規定する評価水準は,品種別通則 JIS C 5101-16 の 3.5.4(評価水準)から選定す

る。このブランク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規

定してもよい。

[9]  重要な特性に関する参照データ

  社団法人電子情報技術産業協会

[1] 個別規格番号

[2]

  JIS C 5101-16-1(ブランク個別規格番号)

[4]

  電子機器用固定コンデンサ

[3]

第 1 部:品目別通則:JIS C 5101-1:1998

個別規格の名称 [5]

  固定メタライズドポリプロピレン

フィルム直流コンデンサ

構造の説明

[6]

外形図(

表 1

参照)

[7]

(第三角法) 
 
 
 
(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。

評価水準(複数も可)

E 及び EZ

[8]

性能等級

安定性等級

注記 [1] ∼ [9] は前述の識別による。

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,品質認証電子部品一覧表 
(QPL)  に示されている。*

[9]

注*  この記載は,IEC  電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合に適用する。

1

一般事項

1.0

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-16 を品種別通則とするブランク個別規格で,固定メタライズドポリプロピレン

フィルム直流コンデンサ(以下,コンデンサという。

)の評価水準 E 及び EZ について適用する。

注記

この規格の対応国際規格及びその対応を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-16-1 : 2005

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part16-1 : Blank detail

specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors−Assessment levels E

and EZ (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していること

を示す。

1.1

推奨する取付方法

推奨する取付方法は,JIS C 5101-16 の 1.4.2 による。

1.2

寸法

寸法は,

表 による。


3

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 1−外形寸法記号及び寸法

寸法 (mm)

外形寸法記号

Φ

L H d 

注記 1  外形寸法記号がない場合は,この表 は削除し,寸法は表 に記載してそれを表 とする。 
注記 2  寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。

1.3

定格及び性能

定格及び性能は,次による。

定格静電容量範囲              (

表 による。)

定格静電容量許容差

定格電圧                      (

表 による。)

カテゴリ電圧(適用する場合)  (

表 による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

誘電正接 (tan δ)

絶縁抵抗

表 2−外形寸法に組み合わせた定格静電容量及び定格電圧

定格電圧

カテゴリ電圧

*

外形寸法

外形寸法

外形寸法

外形寸法

定格静電容量 
nF  及び/又は µF

*

  定格電圧と異なる場合。

1.4

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。

これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追

補を含む。

)は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5101-16

:2009  電子機器用固定コンデンサ−第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロ

ピレンフィルム直流コンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-16 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 16 :

Sectional specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric d.c. capacitors (IDT)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410 : 1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.5

表示

コンデンサ及び包装の表示は,品種別通則 JIS C 5101-16 の 1.6 による。

注記  コンデンサ及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。

1.6

発注情報

この規格のコンデンサの発注情報には,

少なくとも次の事項を,

明りょうな文字又は記号によって示す。

a)

定格静電容量


4

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

b)

定格静電容量許容差

c)

定格電圧

d)

製造業者の形名又は個別規格に記載する形名

e)

性能等級及び安定性(必要な場合)

1.7

出荷対象ロットの成績証明書

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。

注記  顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。

1.8

追加情報(非検査目的)

注記  検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項

品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定し,

表 による。

表 3−その他の特性

この表は,品種別通則

JIS C 5101-16

の規定への追加又はより

厳しい性能を規定するために使用する。 

2

検査要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証の手順

品質認証の手順は,品種別通則 JIS C 5101-16 の 3.4 による。

2.1.2

品質確認検査の試験計画

品質確認検査の試験計画(

表 4)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を示す。検査ロットの構成

は,品種別通則 JIS C 5101-16 の 3.5.1 による。


5

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 及び EZ

E EZ

IL

AQL

n

c

細分箇条番号及び試験項目

a)

D 又は

ND

c)

試験条件

c)

要求性能

a)

群 検査(ロットごと)

副群 A0 
4.2.2

  静電容量

4.2.3

  誘電正接

(tan δ)

 

4.2.1

  耐電圧(試験 A)

 

4.2.4

絶縁抵抗(試験 A)

 

ND

 
 
周波数:1 kHz(すべ

ての静電容量値に
適用)

方法: ... 
測定点:1a 
 
 
測定点:1a

 
 

100 %

 d)

 

規定の許容差による。

4.2.3.2

による。

 
 
絶縁破壊又はフラッシオ

ーバがない。ただし,一
時的瞬時破壊はあって

もよい。

4.2.4.3

による。

副群 A1 
4.1

  外観

 
 

4.1

  寸法(ゲージ法)

ND

S-3

2.5%

b)

0

4.1

による。

表示は明りょうとし,その

他は,この規格の 1.5 
よる。

この規格の

表 による。

副群 A2 
4.2.2

  静電容量

4.2.3

  誘電正接

(tan δ)

4.2.1

  耐電圧(試験 A)

 
4.2.4

  絶縁抵抗(試験 A) 

ND

S-3

1.0%

規定の許容差による。

4.2.3.2

による。

絶縁破壊又はフラッシオ

ーバがない。

4.2.4.2

による。

群 検査(ロットごと) 
副群 B1 
4.5

  はんだ付け性

 
 

4.15

  表示の耐溶剤性

(適用する場合)

ND

 
 
エージングは行わな

い。

方法:... 
 
溶剤:... 
溶剤の温度:... 
方法 1

ラビングの材料:... 
後処理時間:...

 
S-3

 
2.5%

b)

 
0

 
 
端子にはんだが良好に付

着しているか,又ははん
だ小球法の場合,

s 以

内にはんだが流れる。

表示は明りょうとする。


6

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

e)

 

E EZ

細分箇条番号及び試験項目

a)

D

又は

ND

c)

試験条件

p n 

p

n

要求性能

a)

群 検査(定期的)

副群 C1 A 
副群 C1 の試料の一部 
4.1

  寸法(詳細)

 
4.3.1

  初期測定

 
 

4.3

  端子強度

4.4

  はんだ耐熱性

4.14

  部品の耐溶剤性

(適用する場合) 
 
 

4.4.2

  最終測定

   
 
 
 
 
 
 
 

D

 
 
 
静電容量 
誘電正接 (tan δ)

C

R

>1 µF : 1 kHz

C

R

≦1 µF : 10 kHz

外観

方法:... 
溶剤:... 
溶剤の温度:...

方法 2:... 
後処理時間:... 
 
外観 
 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接 (tan δ) 

6 9 1

 
6

 
5

 
0

 
 
 
個別規格の規定によ

る。

 
 
 
 
外観に損傷がない。
 
個別規格の規定によ

る。

 
 
 
外観に損傷がない。
表示は明りょうとす

る。

4.3.1

の測定値に対し

てΔC/C は, 
等級 1.1:≦1 %

等級 1.2:≦2 % 
等級 2

:≦3 %

tan

δ の増加は 4.3.1 

測定値に対して

C

R

≦1 µF

等級 1.1:≦0.001

等級 1.2:≦0.002 
等級 2

:≦0.004

C

R

>1 µF:個別規格

による。


7

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

e)

E EZ

細分箇条番号及び試験項目

a)

D

又は

ND

c)

試験条件

p n 

p

n

要求性能

a)

副群 C1 B 
副群 C1 の残りの試料 
4.6.1

  初期測定

 
 
 
4.6

  温度急変

 
 
 
 
 

4.7

  振動

 
 
 
 

4.7.2

  最終測定

4.8

  バンプ(又は 4.9 衝撃)

 
 
 
4.9

  衝撃(又は 4.8  バン

プ)

D

 
静電容量 
誘電正接

(tan δ)

C

R

>1 µF : 1 kHz

C

R

≦1 µF : 10 kHz

T

A

= カ テ ゴ リ 下 限 温

T

B

= カ テ ゴ リ 上 限 温

5  サイクル 
時間 t

1

=30 min

外観

周波数範囲:

... Hz∼... Hz

振幅 0.75 mm 又は加速

度 100 m/s

2

(どちら

か緩い方)

試験時間の合計:6 h

外観 
取付方法:この規格の

1.1

による。

バンプ回数:... 
ピーク速度:... m/s

2

作用時間:... ms

取付方法:この規格の

1.1

による。

ピーク速度:... m/s

2

作用時間:... ms

6 18

1   6

5

0

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

外観に損傷がない。
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。


8

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

e)

E EZ

細分箇条番号及び試験項目

a)

D

又は
ND

c)

試験条件

p n 

p

n

要求性能

a)

4.8.3

又は 4.9.3  最終測定

外観 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗

 

 

 

外観に損傷がない。

4.6.1

の測定値に対し

てΔC/C は, 
等級 1.1:≦1 % 
等級 1.2:≦2 %

等級 2

:≦3 %

tan

  δ

の増加は 4.6.1

の測定値に対して

C

R

≦1 µF

等級 1.1:≦0.001 
等級 1.2:≦0.002

等級 2

:≦0.004

C

R

>1 µF:個別規格

による。

4.2.4.2

の 規 定 値 の

50 %以上

副群 C1 
副群 C1A と C1B とを合わ

せた試料

4.10

  一連耐候性

4.10.2

  高温

 
 
4.10.3

  温湿度サイクル

  (12+12 時間サイクル)

  試験 Db 最初のサイクル

4.10.4

  低温

 
 
4.10.5

  減圧

(個別規格に要求がある場

合)

D

 
 
 
温度:カテゴリ上限温

時間:16 h 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温

時間:2 h 
圧力:8 kPa 
 

6 27

2  6

10 0

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


9

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

e)

E EZ

細分箇条番号及び試験項目

a)

D

又は
ND

c)

試験条件

p n 

p

n

要求性能

a)

4.10.5.3

  最終測定

 
4.10.6

  温湿度サイクル

(12+12 時間サイクル)

試 験 Db 残 り の サ イ ク

4.10.6.2

  最終測定

外観 
 
 
 
 
 
 
外観 
 
 
 
静電容量 
 
 
 
 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗

 

 

 

永久短絡,フラッシ

オーバ又はケース
の有害な変形がな
い。

 
 
 
外観に損傷がない。
表示は明りょうとす

る。

 
4.4.2

4.8.3 又は 4.9.3

の 測 定 値 に 対 し

て,ΔC/C は, 
等級 1.1:≦1 % 
等級 1.2:≦3 %

等級 2

:≦5 %

tan

δ の増加は 4.3.1 

は 4.6.1 の測定値に

対して

C

R

≦1 µF

等級 1.1:≦0.0015

等級 1.2:≦0.003 
等級 2

:≦0.005

C

R

>1 µF:個別規格

による。

4.2.4.2

の 規 定 値 の

50 %以上

副群 C2 
4.11

  高温高湿(定常)

4.11.1

  初期測定

D

 
静電容量 
誘電正接 (tan δ) :

1 kHz

6 15

1  6

10

0


10

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

e)

E EZ

細分箇条番号及び試験項目

a)

D

又は
ND

c)

試験条件

p n 

p

n

要求性能

a)

4.11.3

  最終測定

外観 
 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗

 

 

 

外観に損傷がない。

表示は明りょうとす

る。

4.11.1

の測定値に対

してΔC/C は, 
等級 1.1:≦1 % 
等級 1.2:≦3 %

等級 2

:≦5 %

tan

δ の増加は 4.11.1

の測定値に対して

C

R

≦1 µF

等級 1.1:≦0.001 
等級 1.2:≦0.002

C

R

>1µF:個別規格に

よる。

4.2.4.2

の 規 定 値 の

50 %以上

副群 C3 
4.12

  耐久性

 
 
4.12.1

  初期測定

 
 

4.12.5

  最終測定

D

試験時間

等級 1:2 000 h 
等級 2:1 000 h

静電容量

誘電正接 (tan δ)

C

R

>1 µF :    1 kHz

C

R

≦1 µF : 10 kHz

外観 
 
 
静電容量

3 21

1  6

10

0

 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。
表示は明りょうとす

る。

4.12.1

の測定値に対

してΔC/C は, 
等級 1.1:≦1 %

等級 1.2:≦3 % 
等級 2

:≦5 %


11

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

e)

E EZ

細分箇条番号及び試験項目

a)

D

又は
ND

c)

試験条件

p n 

p

n

要求性能

a)

誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗

 

 

 

tan  δ の増加は 4.12.1

の測定値に対して

C

R

≦1 µF

等級 1.1:≦0.002 
等級 1.2:≦0.004

C

R

>1 µF:個別規格

による。

4.2.4.2

の 規 定 値 の

50 %以上

副群 C4 
4.2.6

  温度特性

(適用する場合)

4.13

  充放電

4.13.1

  初期測定

 
 
 
 
 
4.13.3

  最終測定

D

静電容量 
絶縁抵抗 
 
静電容量 
誘電正接 (tan δ)

C

R

>1 µF :    1 kHz

C

R

≦1 µF : 10 kHz

充電時間:... s

放電時間:... s 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接 (tan δ) 
 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗

3 9

1  6

10

0

 
4.2.6

による。

 
 
 
 
 
 
 
4.13.1

の測定値に対

してΔC/C は,

等級 1.1:≦1 % 
等級 1.2:≦3 % 
等級 2

:≦5 %

tan

δ の増加は 4.13.1

の測定値に対して

C

R

≦1 µF

等級 1.1:≦0.003 
等級 1.2:≦0.005

C

R

>1 µF:個別規格

による。

4.2.4.2

の 規 定 値 の

50 %以上


12

C 5101-16-1

:2009 (IEC 60384-16-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画  評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

e)

E EZ

細分箇条番号及び試験項目

a)

D

又は
ND

c)

試験条件

p n 

p

n

要求性能

a)

副群 C5 
4.2.5

  インダクタンス(適

用する場合)

ND

12

6

1

6

10

0

 
L

≦... mH

  a)

  この細分箇条番号及び要求性能は,箇条 及び品種別通則 JIS C 5101-16 による。

b)

  試料数は,JIS Z 9015-1 

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数

c)

  この表の記号は,次による。

p

:周期(月)

n:試料数,c:合格判定数

D:破壊試験,ND:非破壊試験 
IL:検査水準,AQL:合格品質限界

d)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準

は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するために抜取

試料をすべて検査する。 
  抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質水
準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

e)

  合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。